KR100832802B1 - 기판 처리 장치 및 그의 구동 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (10)
- 삭제
- 기판 처리 장치에 있어서:기판을 지지하는 다수의 리프트 핀들과;상기 기판이 안착되고, 상기 리프트 핀들이 업 다운되도록 관통되는 다수의 핀 홀들과, 상부 공기를 진공 흡입하기 위한 다수의 진공 홀들이 형성된 석정반과;상기 석정반 내부에 형성되어 상기 진공 홀들을 연결하고 상기 석정반 상부의 공기를 진공 흡입하는 글루브 라인들과;상기 글루브 라인들을 통해 상기 석정반 상부의 공기를 진공 흡입하고, 상기 리프트 핀들을 업 다운시키는 구동 장치 및;상기 리프트 핀들에 상기 기판이 로딩되면, 상기 구동 장치를 제어하여 상기 리프트 핀들을 상기 석정반과 일정 간격 위치까지 1 차 다운시키고, 이어서 상기 리프트 핀들을 상기 1 차로 다운시킨 속도보다 낮은 속도로 2 차 다운시켜서 상기 석정반 상부 표면에 상기 기판을 안착시키는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
- 제 2 항에 있어서,상기 구동 장치는;상기 제어부의 제어를 받아서 상기 1 차 및 상기 2 차 다운시, 상기 리프트 핀들을 서로 다른 속도로 업 다운시키는 적어도 하나의 서보 모터 및;상기 제어부의 제어를 받아서 상기 글루브 라인들을 통해 상기 석정반 상부의 공기를 진공 흡입하는 진공 펌프를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 구동 장치는;상기 진공 펌프의 구동 상태에 따른 상기 석정반 상부의 공기를 진공 흡입하도록 조절하는 레귤레이터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
- 제 2 항에 있어서,상기 기판 처리 장치는;상기 기판이 상기 석정반 상부 표면에 안착된 후, 상기 기판의 하부면에 앰보싱이 발생되는지를 감지하는 센서를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
- 제 5 항에 있어서,상기 제어부는 상기 센서로부터 상기 기판의 하부면에 앰보싱 발생이 감지되면, 상기 일정 간격 위치의 레벨을 조절하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
- 삭제
- 기판 처리 장치의 리프트 핀 구동 방법에 있어서:상기 리프트 핀의 업 상태에서 기판이 로딩되면, 상기 기판이 안착되는 석정반 상부의 공기를 진공 흡입하고;설정된 레벨까지 상기 리프트 핀을 1 차적으로 다운시키고; 이어서상기 리프트 핀을 상기 1 차적으로 다운할 때보다 낮은 속도로 2 차적으로 다운시켜서 상기 기판을 석정반에 안착시키는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치의 리프트 핀 구동 방법.
- 제 8 항에 있어서,상기 기판이 상기 석정반에 안착되면, 상기 기판에 앰보싱이 발생되었는지를 판별하는 것을 더 포함하는 기판 처리 장치의 리프트 핀 구동 방법.
- 제 9 항에 있어서,상기 기판에 앰보싱이 발생되면, 상기 레벨을 조절하는 것을 더 포함하는 기판 처리 장치의 리프트 핀 구동 방법.
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20130140394A (ko) * | 2012-06-14 | 2013-12-24 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 |
CN107870461A (zh) * | 2017-12-18 | 2018-04-03 | 武汉华星光电技术有限公司 | 基板加工平台及其支撑装置 |
CN111025705A (zh) * | 2019-12-31 | 2020-04-17 | 武汉华星光电技术有限公司 | 托盘及具有该托盘的机台 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020079540A (ko) * | 2001-04-12 | 2002-10-19 | 다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤 | 기판유지장치, 기판처리장치 및 기판테두리 세정장치 |
KR20060050860A (ko) * | 2004-08-31 | 2006-05-19 | 도쿄 오카 고교 가부시키가이샤 | 기판 설치 스테이지 및 기판의 흡착 및 박리 방법 |
JP2006284667A (ja) | 2005-03-31 | 2006-10-19 | Toppan Printing Co Ltd | カラーフィルタ基板の加熱・冷却方法 |
-
2006
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020079540A (ko) * | 2001-04-12 | 2002-10-19 | 다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤 | 기판유지장치, 기판처리장치 및 기판테두리 세정장치 |
KR20060050860A (ko) * | 2004-08-31 | 2006-05-19 | 도쿄 오카 고교 가부시키가이샤 | 기판 설치 스테이지 및 기판의 흡착 및 박리 방법 |
JP2006284667A (ja) | 2005-03-31 | 2006-10-19 | Toppan Printing Co Ltd | カラーフィルタ基板の加熱・冷却方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20130140394A (ko) * | 2012-06-14 | 2013-12-24 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 |
KR101927429B1 (ko) * | 2012-06-14 | 2018-12-10 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 |
CN107870461A (zh) * | 2017-12-18 | 2018-04-03 | 武汉华星光电技术有限公司 | 基板加工平台及其支撑装置 |
CN111025705A (zh) * | 2019-12-31 | 2020-04-17 | 武汉华星光电技术有限公司 | 托盘及具有该托盘的机台 |
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