KR100716087B1

KR100716087B1 - 슬루율 제한 회로 및 광 디스크 장치

Info

Publication number: KR100716087B1
Application number: KR1020047013935A
Authority: KR
Inventors: 마꼬또 고바야시; 고지 도미오까; 가즈나리 사사끼
Original assignee: 아사히 가세이 마이크로시스템 가부시끼가이샤
Priority date: 2002-05-16
Filing date: 2003-05-16
Publication date: 2007-05-09
Also published as: JP4425786B2; WO2003098798A1; US7203143B2; KR20040087340A; CN1653686A; JPWO2003098798A1; CN100533966C; US20050180299A1

Abstract

슬루율 리미터에 있어서, 차동 증폭기에 의해 생성된 차 신호에 포함되는 워블 신호보다도 급격하게 변화하는 신호를 통과시키지 않도록 슬루율을 제한하고, 이 슬루율로 차 신호를 처리하여 출력한다. 즉, 차 신호 DIFO에 포함되는 워블 신호보다도 급격하게 변화하는 신호를 제거하고, 워블 신호만을 슬루율 리미터로부터 출력시킨다. 또한, DAC로부터 오프셋 전압을 발생시키고, 이 오프셋 전압과, 슬루율 리미터로부터의 워블 신호를 가산기에 의해 가산하여, 이 가산 신호를 슬라이스 레벨로 하여, 비교기에 있어서 차 신호와 비교함으로써, LPP 신호를 재생한다.

워블 신호, 가산 신호, 워블 신호, 슬라이스 레벨, 차 신호

Description

슬루율 제한 회로 및 광 디스크 장치{SLEW RATE LIMITING CIRCUIT AND OPTICAL DISC APPARATUS}

본 발명은, 입력 신호에 그 레벨이 급격하게 변화하는 등의 슬루율(slew rate)이 큰 이상 성분이 포함되어 있는 경우에, 그 이상 성분의 슬루율을 제한하고, 출력 신호에 그 이상 성분이 포함되는 것을 가능한 한 제거하도록 한 슬루율 제한 회로에 관한 것임과 함께, 문서, 화상, 음악 등의 데이터를 광 디스크에 기록하여 재생하는 광 디스크 장치에 관한 것으로, 특히 기록/재생 가능한 광 디스크에 기록되어 있는 워블 신호의 재생 및 LPP(랜드 프리피트) 신호의 검출을 행하기에 적합한 광 디스크 장치에 관한 것이다.

현재, CD, DVD와 같은 재생 전용의 광 디스크 외에, CD-R/DVD-R 등의 추가 기록형, CD-RW/DVD-RW, DVD-RAM 등의 기록 가능한 광 디스크가 있다. 이들의 기록 가능한 광 디스크에의 정보 기록 시에, 종래의 재생 전용 디스크에서 행해지고 있는 재생 신호로부터는, 라이트용의 기준 클럭 신호를 생성할 수 없다.

이 때문에, 기록 가능한 광 디스크는, 도 8에 도시한 바와 같이 구성되어 있다. 도 8은 DVD-R/RW의 디스크면의 일부를 도시한다. 이 광 디스크(이하, DVD-R/RW라고도 표현 : 10) 상에는, 정보를 기록하는 부분인 홈(그루브 : 12)이, 스파 이럴 형상으로, 특정 진폭, 특정 주기로 사행(워블링)하여 형성되어 있다. 이것을 워블이라고 한다. 이 사행한 그루브(12)에 레이저 스폿(13)을 조사했을 때의 반사광을, 도시하지 않은 좌우로 분할된 광 검출기로써 푸시풀 방식으로 검출한다. 이에 의해 광량차가 검출된다. 이 검출된 신호를 워블 신호라고 한다. 이 워블 신호로부터, 라이트용의 기준 클럭 신호가 생성 가능하도록 되어 있다.

그루브(12)에는, 다양한 정보인 다수의 피트 데이터(14)가 기입되도록 되어 있고, 그루브(12)와 그루브(12)와의 사이의 랜드(16)에는, 도 9에도 도시한 바와 같이, 랜드 프리피트(이하, LPP : 18)라고 하는 절결이 형성되어 있다.

또한, CD-R/RW에도 상기와 마찬가지로 워블링한 그루브가 형성되어 있다. CD-R/RW의 워블 신호는, 1 배속 시의 주파수가 22.05㎑±1㎑의 연속 신호이다. CD-R/RW에서는, FM 변조에 의해 워블 신호에 ATIP(Absolute Time In Pregroove)라고 하는 어드레스 정보가 중첩되어 있고, 주파수 대역에 폭이 있다.

한편, DVD-R/RW(10)의 워블 신호는, CD-R/RW와 달리 140.65㎑(1 배속인 경우)의 단일 주파수이고, 어드레스 정보는 중첩되어 있지 않고, LPP(18)로부터 얻어지는 LPP 신호가 어드레스 정보로서 이용된다.

LPP(18)가 형성되는 부분에서 한쪽의 랜드는, 불연속으로 되어 있다. 이 때문에, 그 불연속 부분을 통과할 때에 좌우광 검출기에 들어가는 광량이 급격하게 변화하여, 푸시풀의 결과, 펄스 형상의 신호가 LPP 신호로서 워블 신호에 중첩된다.

도 8에 도시한 바와 같이, LPP(18)에서의 그루브(12)의 외주측에 접속된 부 분(이하, LPP 외주 접속 부분 : 18a)은, 그루브(12)의 워블의 최대 진폭 위치에 정밀하게 중첩되도록 되어 있으며, 최대 3 워블 연속하여 발생한다. 또한, LPP(18)에서의 그루브(12)의 내주측에 접속된 부분(이하, LPP 내주 접속 부분 : 18b)은, 반드시 워블의 최대 진폭 위치에 배치되는 것은 아니며, 워블의 골짜기에 배치되거나, 도중에 배치되는 등으로 변동된다. 그러나, LPP 내주 접속 부분(18b)도, 최대 3 워블 연속하여 발생하는 경우도 있다.

이 때문에, DVD-R/RW(10)에는, 3 주기분의 LPP 외주 접속 부분(18a)에 의한 LPP 신호가 조합하여 어드레스 정보가 기록되어 있다.

이러한 워블 성분과 LPP 성분이 합성된 신호로부터 안정적으로 워블 신호를 추출하여, LPP 신호를 오류가 적게 검출하기 위해, 기록 신호 성분의 누설을 적게 하는 고안이 필요하게 된다. 또한, 최근 CD-R/RW뿐만 아니라, DVD-R/RW에서도 고배속화가 활발해지고 있으며, 고배속 대응으로서, 워블 신호 및 LPP 신호 재생 회로에 이용되는 LPF(Low Pass Filter), BPF(Band Pass Filter)의 주파수 대역이나 LPP 추출 회로를 고배속으로 연동하여 전환하고, 워블 신호 및 LPP 신호의 추출을 행할 필요가 있다.

도 10에, 종래의 광 디스크 장치에서의 워블 신호 및 LPP 신호 재생 회로의 구성을 도시한다. 이후, 워블 신호 및 LPP 신호 재생 회로를, 재생 회로라고 약칭하여 표현하는 경우도 있다.

이 재생 회로(20)는, 4 분할 센서(21)와, OP 증폭기(23, 24)와, 입출력측에 HPF(High Pass Filter : 26, 27, 28, 29)가 접속된 AGC(Auto Gain Controller : 31, 32)와, 주파수 가변형 LPF가 부착된 게인 가변의 차동 증폭기(34)와, 오버 레벨 리미터(36)와, BPF(38)와, 레벨 홀드부(40)와, DAC(Digital Analog Converter : 42)와, 가산기(44)와, 입출력측에 HPF(46, 47)가 접속된 AGC(49)와, 2치화 비교기(51, 52)를 구비하여 구성되어 있다.

도 8에 도시한 바와 같이 광디스크(10) 상에 레이저 스폿(13)이 조사되면, 이 반사광은, 도 10에 A, B, C, D로 나타낸 바와 같이 4 분할된 4 분할 센서(21) 위에 스폿상을 형성한다. 여기서, 4 분할 센서(21)는, 워블 신호 및 LPP 신호를 재생하기 위해, 우선 픽업한 A, B, C, D 신호를 원주 방향으로 가산한 A+D 신호와 B+C 신호를 생성한다. A+D 신호는, 도면 상에 화살표 Y1로 나타내는 그루브(12)의 진행 방향 좌측(AD 측)의 신호이고, B+C 신호는, 우측(BC 측)의 신호이다.

A+D 신호와 B+C 신호는, HPF(26, 27)에 입력되고, 여기서 DC 오프셋 성분이 제거된 후, AGC(31, 32)에 입력된다. AGC(31, 32)에서는, RF 성분이나 동상 노이즈 성분을 제거하기 때문에, A+D 신호와 B+C 신호의 쌍방의 진폭이 일정하게 된다. 이 진폭이 일정하게 된 A+D 신호와 B+C 신호는, HPF(28, 29)를 통하여 차동 증폭기(34)에 입력된다.

차동 증폭기(34)에서는, A+D 신호와 B+C 신호와의 차가 취해짐과 함께, 설정된 게인 및 주파수 가변 LPF에 의해 처리되고, 차 신호 DIFO가 얻어진다.

이 차동 증폭기(34)에 의한 처리에서는, A+D 신호와 B+C 신호와의 차가 취해지는 것에 의해, 피트 데이터(14)가 상쇄되어 없어짐과 함께, A+D 신호와 B+C 신호와의 각각에 포함되는 워블 신호 및 LPP 신호의 게인이 높아져 강조된다.

이 차동 증폭기(34)로부터 출력되는 차 신호 DIFO는, 오버 레벨 리미터(36)로써 LPP 신호 성분이 제거되어, 워블 신호 성분만으로 된다. 이 워블 신호(37)는, BPF(38)를 통하여 레벨 홀드부(40) 및 HPF(46)로 출력된다. 그리고, HPF(46)로부터 AGC(49) 및 HPF(47)의 회로를 거쳐, DC 오프셋 성분 및 노이즈 등이 제거됨과 함께, 일정 진폭으로 된다. 이에 의해 워블 신호(54)가 재생된다.

이 워블 신호(54)는, 2치화 비교기(51)에 입력되고, 슬라이스 레벨 V1과의 비교에 의해 2치화되어, 2치화 워블 신호(56)로 된다.

또한, 상기의 오버 레벨 리미터(36)의 리미트값 SLL은 다음과 같이 생성된다. 즉, BPF(38)의 출력 레벨의 피크 및 보텀이, 레벨 홀드부(40)에 의해 홀드(피크 홀드 및 보텀 홀드)된다. 이 각 홀드값에, 가산기(44)에 의해, DAC(42)로부터 출력되는 소정의 직류의 오프셋 전압이 인가됨으로써, 리미트값 SLL이 생성된다.

이 리미트값 SLL은, 2치화 비교기(52)의 슬라이스 레벨 V2로서도 이용된다. 즉, 슬라이스 레벨 V2는 각각에 오프셋 전압이 인가된 피크 홀드값 또는 보텀 홀드값으로 된다. 이후, 피크 홀드값 및 보텀 홀드값이라고 하지만, 이들 값에는 오프셋 전압이 인가되는 것으로 한다.

그 슬라이스 레벨 V2가, 2치화 비교기(52)에 있어서, 차 신호 DIFO와 비교됨으로써, 2치화된 LPP 신호(58)가 재생된다. 이 재생시에, 2치화 비교기(52)에 입력되는 슬라이스 레벨 V2를, 피크 홀드값으로 할지, 보텀 홀드값으로 할지는, 차 신호 DIFO에 포함되는 LPP 성분의 극성에 따른다. 예를 들면, 도 11의 (a)에 도시한 바와 같이, LPP 외주 접속 부분(18a)에 의한 LPP 신호 P1, P2에 대해서는, 상향 의 펄스 형상으로 나오므로, 피크 홀드값 PL을 이용한다. 픽업에 따라 극성이 반대인 경우, LPP 내주 접속 부분(18b)에 의한 LPP 신호 P3, P4에 대해서는, 하향의 펄스 형상으로 나오므로, 보텀 홀드값 BL을 이용한다.

즉, 도 11의 (a)에 도시한 바와 같이, 오버 레벨 리미터(36)에서는, 피크 홀드값 PL에 의해, 차 신호 DIFO에 중첩된 펄스 형상의 LPP 신호 P1, P2가 제거된다. 또한, 보텀 홀드값 BL에 의해, 차 신호 DIFO에 중첩된 펄스 형상의 LPP 신호 P3, P4가 제거된다. 이 처리에 의해, 도 11의 (b)에 도시하는 워블 신호(37)가 오버 레벨 리미터(36)로부터 출력된다.

또한, 2치화 비교기(52)에서는, 도 11의 (a)에 도시한 바와 같이, 차 신호 DIFO가 피크 홀드값 PL과 비교되어, 피크 홀드값 PL로부터 밀려나온 LPP 신호 P1, P2가 검출되고, 2치화된 LPP 신호(58)로 된다. 이 종류의 종래의 광 디스크 장치로서, 예를 들면 일본 특개평7-296395호 공보 및 일본 특개2002-216363호 공보에 기재된 것이 있다.

그러나, 종래의 광 디스크 장치에서는, 다음과 같은 문제가 있다. 광 디스크(10)의 LPP 내주 접속 부분(18b)이, 워블의 진폭의 중심 부근에 존재하는 경우, 도 11의 (a)에 도시한 바와 같이, 그 중심 부근의 LPP 내주 접속 부분(18b)의 LPP 신호 P3, P4는 차 신호 DIFO의 진폭 중심 C1의 부근으로부터 돌출된다. 이 LPP 신호 P3, P4를, 보텀 홀드값 BL에 의해 제거했다고 해도, 도 11의 (b)에 P3a, P4a로 도시한 바와 같이, LPP 신호 P3, P4의 성분이 취해지지 않는다.

이 LPP 신호 성분 P3a, P4a가 워블 신호(37)에 악영향을 미치고, AGC(49)로 부터의 워블 신호(54)를 2치화 비교기(51)에 의해 2치화한 경우에, 시간축을 따라 신호가 요동하는 지터가 발생한다. 즉, 지터 성능이 열화하게 된다.

또한, 워블 신호의 진폭 변동에 의해, LPP 외주 접속 부분(18a)의 LPP 신호를 차 신호 DIFO로부터 제거하기 위한 최적의 슬라이스 레벨 V2가 변화한 경우, 예를 들면 도 11의 (b)에 도시하는 피크 홀드값 PL에 의한 슬라이스 레벨 V2가 변화한 경우, 부호 P1a로 나타낸 바와 같이, LPP 신호 P1 성분의 잔여가 발생한다. 이러한 LPP 신호 잔여 성분 P1a가 발생하여, 그 잔여량이 변화하는 것도 지터 성능의 악화로 이어진다. 또한, LPP 신호 잔여 성분 P1a는, BPF(38) 후의 워블 신호의 진폭을 변화시키는 요인으로도 된다.

또한, LPP 신호(58)를 재생할 때에, 노이즈나 워블 신호 성분의 변동에 의해서, 도 11의 (a)에 도시한 바와 같이, 워블 신호 성분에 피크 홀드값 PL(슬라이스 레벨 V2)을 돌출한 펄스 성분 P5가 존재하면, 이 펄스 P5를, 도 11의 (c)에 도시한 바와 같이, LPP 신호(58a)로서 검출하는 오류 검출이 발생한다.

이 LPP 오류 검출을 방지하기 위해, 종래의 광 디스크 장치에서는, 슬라이스 레벨 V2로 되는 리미트값 SLL을 어느 정도 여유를 갖는 값으로 설정할 필요가 있다. 그러나, 여유를 갖게 하면, 상기한 바와 같이 LPP 신호 잔여 성분 P1a를 워블 신호에 남기게 되어, 지터 성능을 악화시키게 된다. 슬라이스 레벨 V2와 오버 레벨 리미터(36)의 리미트값 SLL을 별도로 하는 방법도 생각할 수 있지만, 이 방법으로는 회로 규모가 커진다.

특히, 기록 후의 광 디스크(10)에서는, 각 A, B, C, D 신호에, 도 8에 도시 하는 피트 데이터(14)인 마크부(12a)와 언마크부(12b)와의 반사율의 차이로부터 RF 성분이 포함되면, 이 RF 성분에 의한 노이즈나 마크 유무에 따라 워블 신호 및 LPP 신호의 진폭이 변화하여, 최적의 리미트값 SLL을 얻을 수 없다. 이 때문에, 슬라이스 레벨 V2도 변화한다.

상기한 바와 같은 이유에 의해, 워블 신호(54), 2치화 워블 신호(56) 및 LPP 신호(58)를 적정하게 재생하는 것이 곤란했다.

본 발명은, 이러한 과제를 감안하여 이루어진 것으로, 회로 규모를 크게 하지 않고, 워블 신호 및 LPP 신호를 적정하게 재생할 수 있는 슬루율 제한 회로 및 광 디스크 장치를 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.

<발명의 개시>

본 발명의 제1 관점에 따른 슬루율 제한 회로는, 게이트에 입력 신호가 입력되는 MOS 트랜지스터와, 이 MOS 트랜지스터의 소스측에 MOS 트랜지스터와 직렬로 접속되는 제1 전류원과, 상기 MOS 트랜지스터의 드레인측에 MOS 트랜지스터와 직렬로 접속되는 제2 전류원과, 상기 MOS 트랜지스터의 소스와 기준 전위와의 사이에 접속되는 캐패시터를 구비한 것을 특징으로 한다.

이것에 따르면, 입력 전압의 레벨이 급격히 증가할 때, 즉 입력 전압이 통상보다도 큰 슬루율로 증가(또는 감소)하는 경우, MOS 트랜지스터가 온 상태로 되고, 출력 전압(기준 전위)이 제2 전류원과 제1 전류원과 차 및 캐패시터의 용량값으로 결정되는 슬루율로 증가(또는 감소)한다. 이 슬루율은, 출력 전압이 단위 시간으로 증가(또는 감소)하는 정도이므로, 입력 전압의 레벨이 급격히 증가(또는 감소) 해도, 출력 전압에서는, 그 급격한 증가(또는 감소) 레벨이 억제된다. 즉, 입력 전압의 급격한 증가(또는 감소) 레벨을 제거할 수 있다.

또한, 본 발명의 제2 관점에 따른 슬루율 제한 회로는, 제1 관점에 있어서, 상기 제1 전류원 및 제2 전류원은, 그 중 어느 한쪽 또는 양쪽이 가변 전류원으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 슬루율을 가변할 수가 있어, 임의의 값으로 설정할 수 있다.

또한, 본 발명의 제3 관점에 따른 슬루율 제한 회로는, 제1 관점에 있어서, 상기 캐패시터는, 그 용량값이 가변 가능하게 되는 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 슬루율을 가변할 수 있어, 임의의 값으로 설정할 수 있다.

또한, 본 발명의 제4 관점에 따른 광 디스크 장치는, 디스크의 내주로부터 외주로, 나선 형상으로, 소정 주기로 사행하여 형성된 정보 기록용 트랙과, 이 트랙 사이에 트랙에 접속되어 형성된 어드레스 정보 재생용의 트랙간부를 갖는 광 디스크로부터, 상기 트랙의 사행 정보인 워블 신호와, 상기 트랙간부에 의한 어드레스 신호를 재생하는 광 디스크 장치에서, 상기 트랙을 광으로 주사하는 것에 의해 2계통의 신호를 검출하는 분할형 광 센서와, 상기 분할형 광 센서에 의해 검출된 2계통의 검출 신호의 차분을 취하는 것에 의해, 상기 워블 신호 및 상기 어드레스 신호를 포함하는 차 신호를 생성하는 차동 증폭기와, 상기 워블 신호보다도 급격하게 변화하는 신호를 통과시키지 않도록 제한한 슬루율로, 상기 차 신호를 처리하는 슬루율 리미터를 구비한 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 차 신호가 슬루율 리미터를 통과할 때에, 차 신호에 포함되는 워 블 신호보다도 급격하게 변화하는 신호는 제거된다. 즉, 차 신호에 워블 신호와 함께 포함되는 어드레스 신호 및 노이즈 성분은 제거되므로, 워블 신호만을 슬루율 리미터로부터 출력시킬 수 있다.

또한, 본 발명의 제5 관점에 따른 광 디스크 장치는, 제4 관점에 있어서, 상기 슬루율 리미터의 출력 신호가 입력되고, 통과 주파수 대역이 가변인 대역 통과 필터를 구비한 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 대역 통과 필터의 통과 주파수 대역을 워블 신호만을 통과시키는 대역으로 하는 것에 의해, 보다 적정하게 워블 신호를 재생할 수 있다.

또한, 본 발명의 제6 관점에 따른 광 디스크 장치는, 제5 관점에 있어서, 상기 대역 통과 필터의 통과 대역은, 상기 광 디스크의 회전수에 따라 가변 설정되는 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 분할형 광 센서에 의한 검출 후의 노이즈 성분과 워블 신호/어드레스 신호는, 광 디스크의 회전수에 의존하여 상이하지만, 회전수에 따라, 대역 통과 필터의 통과 대역을 가변 설정하는 것에 의해, 슬루율 리미터로부터 출력되는 워블 신호에 잔류하는 노이즈 성분을 제거하여, 최적으로 워블 신호만을 통과시킬 수 있다.

또한, 본 발명의 제7 관점에 따른 광 디스크 장치는, 제4 관점에 있어서, 전압을 발생시키고, 이 전압의 값이 가변인 가변 전압 발생 수단과, 상기 슬루율 리미터의 출력 신호에 상기 전압을 가산하는 가산기와, 상기 가산기의 출력 신호를 슬라이스 레벨로 하여, 상기 차 신호와 비교하는 것에 의해 상기 어드레스 신호를 재생하는 비교기를 구비한 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 가산기로부터 출력되는 슬라이스 레벨은, 차 신호로부터 추출한 워블 신호와 대략 동일한 형상으로 동기한 파형으로 되므로, 슬라이스 레벨 전체를, 전압에 의해 상하로 변화시킴으로써, 차 신호에 포함되는 워블 신호의 파형에 대략 일치시켜 배치할 수 있다. 이러한 슬라이스 레벨을 차 신호와 비교하면, 워블 신호로부터 펄스 형상으로 돌출된 어드레스 신호를 적정하게 검출하여 재생할 수 있다.

또한, 본 발명의 제8 관점에 따른 광 디스크 장치는, 제4 관점에 있어서, 상기 슬루율 리미터에서의 슬루율은, 상기 광 디스크의 회전수가 빠를수록 큰 값으로 설정되는 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 광 디스크의 회전수가 빠르게 되어, 분할형 광 센서에 의해 검출되는 워블 신호의 상승/하강의 변화율이 커져도, 슬루율 리미터로부터 적정하게 워블 신호를 출력시킬 수 있다.

또한, 본 발명의 제9 관점에 따른 광 디스크 장치는, 제4 관점에 있어서, 상기 차동 증폭기의 게인은, 가변이고, 상기 차 신호에 포함되는 상기 워블 신호/상기 어드레스 신호의 진폭에 따라 상기 게인이 가변 설정되는 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 차 신호에 있어서, 디스크 타입의 차이에 따른 상기한 워블 신호/어드레스 신호의 진폭을 슬루율 리미터의 값에 맞도록 변경할 수 있다.

또한, 본 발명의 제10 관점에 따른 광 디스크 장치는, 제4 관점에 있어서, 상기 차동 증폭기의 게인은, 가변이고, 상기 광 디스크의 회전수에 따라 설정되는 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 분할형 광 센서에 의한 검출 후의 워블 신호/어드레스 신호는, 광 디스크의 회전수에 의존하여 대역이 상이하지만, 회전수에 따라, 차동 증폭기의 게인값이나 슬루율 리미터의 값을 가변 설정하는 것에 의해, 워블 신호 및 어드레스 신호를 최적으로 검출하여, 차 신호에 포함시킬 수 있다.

또한, 본 발명의 제11 관점에 따른 광 디스크 장치는, 디스크의 내주로부터 외주로, 나선 형상으로, 소정 주기로 사행하여 형성된 정보 기록용의 트랙과, 이 트랙 사이에 트랙에 접속되어 형성된 어드레스 정보 재생용의 트랙간부를 갖는 광 디스크로부터, 상기 트랙의 사행 정보인 워블 신호와, 상기 트랙간부에 의한 어드레스 신호를 재생하는 광 디스크 장치에서, 상기 트랙을 광으로 주사하는 것에 의해 2계통의 신호를 검출하는 분할형 광 센서와, 상기 분할형 광 센서에 의해 검출된 2계통의 검출 신호의 차분을 취하는 것에 의해, 상기 워블 신호 및 상기 어드레스 신호를 포함하는 차 신호를 생성하는 차동 증폭기와, 게이트에 상기 차 신호가 입력되는 MOS 트랜지스터, 이 MOS 트랜지스터의 소스측에 MOS 트랜지스터와 직렬로 접속되는 제1 전류원, 상기 MOS 트랜지스터의 드레인측에 MOS 트랜지스터와 직렬로 접속되는 제2 전류원, 상기 MOS 트랜지스터의 소스 단자와 출력 단자와의 사이에 접속되는 캐패시터를 갖고, 상기 차 신호를 처리하는 슬루율 제한 회로를 구비한 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 차 신호가 슬루율 제한 회로를 통과할 때에, 제1 관점의 작용 설명의 이유에 의해, 차 신호에 포함되는 워블 신호보다도 급속하게 변화하는 신호는 제거된다. 즉, 차 신호에 워블 신호와 함께 포함되는 어드레스 신호 및 노이즈 성분은 제거되므로, 워블 신호만을 슬루율 제한 회로로부터 출력시킬 수 있다.

또한, 본 발명의 제12 관점에 따른 광 디스크 장치는, 제11 관점에 있어서, 상기 슬루율 제한 회로의 제1 전류원 및 제2 전류원은, 그 중 어느 하나 또는 양방이 가변 전류원으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 슬루율이 임의로 설정 가능하므로, 슬루율 제한 회로에 의해 차 신호에 포함되는 워블 신호보다도 급격하게 변화하는 신호를 적정하게 제거할 수 있다.

또한, 본 발명의 제13 관점에 따른 광 디스크 장치는, 제11 관점에 있어서, 상기 슬루율 제한 회로의 캐패시터는, 그 용량값이 가변 가능하게 되는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명의 제14 관점에 따른 광 디스크 장치는, 제11 관점에 있어서, 상기 슬루율 제한 회로의 출력 단자로부터의 출력 신호가 입력되어, 통과 주파수 대역이 가변인 대역 통과 필터를 구비한 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 대역 통과 필터의 통과 주파수 대역을 워블 신호만을 통과시키는 대역으로 함으로써, 보다 적정하게 워블 신호를 재생할 수 있다.

또한, 본 발명의 제15 관점에 따른 광 디스크 장치는, 제14 관점에 있어서, 상기 대역 통과 필터의 통과 대역은, 상기 광 디스크의 회전수에 따라 가변 설정되는 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 분할형 광 센서에 의한 검출 후의 노이즈 성분과 워블 신호/어드레스 신호는, 광 디스크의 회전수에 의존하여 상이하지만, 회전수에 따라, 대역 통과 필터의 통과 대역을 가변 설정하는 것에 의해, 슬루율 제한 회로로부터 출력되는 워블 신호에 잔류하는 노이즈 성분을 제거하여, 최적으로 워블 신호만을 통과시킬 수 있다.

또한, 본 발명의 제16 관점에 따른 광 디스크 장치는, 제11 관점에 있어서, 전압을 발생시키고, 이 전압의 값이 가변인 가변 전압 발생 수단과, 상기 슬루율 제한 회로의 출력 신호에 상기 전압을 가산하는 가산기와, 상기 가산기의 출력 신호를 슬라이스 레벨로 하여, 상기 차 신호와 비교하는 것에 의해 상기 어드레스 신호를 재생하는 비교기를 구비한 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 가산기로부터 출력되는 슬라이스 레벨은, 차 신호로부터 추출한 워블 신호와 대략 동일 형상으로 동기한 파형으로 되므로, 슬라이스 레벨 전체를, 전압에 의해 상하로 변화시킴으로써, 차 신호에 포함되는 워블 신호의 파형에 대략 일치시켜 배치할 수 있다. 이러한 슬라이스 레벨을 차 신호와 비교하면, 워블 신호로부터 펄스 형상으로 돌출된 어드레스 신호를 적정하게 검출하여 재생할 수 있다.

또한, 본 발명의 제17 관점에 따른 광 디스크 장치는, 제11 관점에 있어서, 상기 슬루율 제한 회로에서의 슬루율은, 상기 광 디스크의 회전수가 빠를수록 큰 값으로 설정되는 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 광 디스크의 회전수가 빠르게 되어, 분할형 광 센서에 의해 검출되는 워블 신호의 상승/하강의 변화율이 커져도, 슬루율 제한 회로로부터 적정하게 워블 신호를 출력시킬 수 있다.

또한, 본 발명의 제18 관점에 따른 광 디스크 장치는, 제11 관점에 있어서, 상기 차동 증폭기의 게인은, 가변이고, 상기 차 신호에 포함되는 상기 워블 신호/상기 어드레스 신호의 진폭에 따라 상기 게인이 가변 설정되는 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 차 신호에 있어서, 디스크 타입의 차이에 의한 상기한 워블 신호/어드레스 신호의 진폭을 슬루율 제한 회로의 값에 맞도록 변경할 수 있다.

또한, 본 발명의 제19 관점에 따른 광 디스크 장치는, 제11 관점에 있어서, 상기 차동 증폭기의 게인은, 가변이고, 상기 광 디스크의 회전수에 따라 설정되는 것을 특징으로 한다.

이에 의해, 분할형 광 센서에 의한 검출 후의 워블 신호/어드레스 신호는, 광 디스크의 회전수에 의존하여 대역이 상이하지만, 회전수에 따라, 차동 증폭기의 게인값이나 슬루율 제한 회로의 값을 가변 설정하는 것에 의해, 워블 신호 및 어드레스 신호를 최적으로 검출하여, 차 신호에 포함시킬 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 광 디스크 장치의 워블 신호 및 LPP 신호 재생 회로의 구성을 도시하는 블록도.

도 2는 상기 광 디스크 장치의 워블 신호 및 LPP 신호 재생 회로에서의 각 신호를 도시하는 도면.

도 3은 상기 광 디스크 장치의 워블 신호 및 LPP 신호 재생 회로에서의 슬루율 리미터의 제1 구성예를 도시하는 도면.

도 4는 상기 제1 구성예의 슬루율 리미터에 있어서의 입력 전압과 출력 전압과의 파형도.

도 5는 상기 광 디스크 장치의 워블 신호 및 LPP 신호 재생 회로에서의 슬루율 리미터의 제2 구성예를 도시하는 도면.

도 6은 본 실시예의 효과를 검증했을 때의 파형도.

도 7은 도 6에 도시하는 소정 구간의 확대도.

도 8은 광 디스크의 구성을 도시하는 도면.

도 9는 광 디스크에서의 그루브, 랜드 및 LPP의 확대도.

도 10은 종래의 광 디스크 장치의 워블 신호 및 LPP 신호 재생 회로의 구성을 도시하는 블록도.

도 11은 종래의 광 디스크 장치의 워블 신호 및 LPP 신호 재생 회로에서의 각 신호를 도시하는 도면.

<발명을 실시하기 위한 최량의 형태>

이어서, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대하여 설명한다. 또, 이하의 설명에서 참조하는 각 도면에서는, 다른 도면과 동등 부분은 동일 부호로 도시되어 있다.

도 1에 도시하는 본 실시예의 워블 신호 및 LPP 신호 재생 회로(60)의 특징 구성은, 도 10에 도시한 재생 회로(20)의 오버 레벨 리미터(36)를 대신하여, 슬루율 리미터(슬루율 제한 회로 : 61)를 이용한 점에 있다. 또한, 도 10에 도시한 레벨 홀드부(40)를 벗어나, 도 1에 도시한 바와 같이, 슬루율 리미터(61)의 신호 출력단과 가산기(44)를 접속하고, 또한 슬루율 리미터(61)의 출력측에 접속되는 BPF(38a)로서 주파수 대역 가변형의 것을 이용한 점에 있다.

즉, 본 실시예의 재생 회로(60)는, 4 분할 센서(21)와, OP 증폭기(23, 24)와, 입출력측에 HPF(26, 27, 28, 29)가 접속된 AGC(31, 32)와, 주파수 가변형 LPF 첨부된 게인 가변인 차동 증폭기(34)와, 슬루율 리미터(61)와, BPF(38a)와, DAC(42)와, 가산기(44)와, 입출력측에 HPF(46, 47)가 접속된 AGC(49)와, 2치화 비교기(51, 52)를 구비하여 구성되어 있다.

슬루율 리미터(61)는, DVD-R/RW(10)의 회전수에 따라, 슬루율(출력 신호의 상승/하강의 변화율)을 변화시키는 것이 가능하게 되어 있고, 차동 증폭기(34)로부터 출력되는 차 신호 DIFO에 포함되는 워블 신호를 통과시키고, LPP 신호를 통과시키지 않도록 슬루율을 제한한다. 이 제한은, 회전수가 빠를수록 슬루율을 크게 하도록 행해진다. 또한, 슬루율은, 회전수에 따른 변경을 행하기 위해, 예를 들면 125∼2000㎷/㎲로서 125㎷의 간격으로 지정할 수 있게 되어 있다.

이와 같이 슬루율을 제한하는 것에 의해, 도 2의 (a)에 도시하는 차 신호 DIFO에 포함되는 LPP 신호 P1∼P4를 통과시키지 않고, 도 2의 (b)에 도시하는 워블 신호(63)의 성분만을 통해 출력하는 것이 가능하게 되어 있다. 또, 슬루율 처리에 서는, 도 2의 (a)에 도시하는 차 신호 DIFO의 워블 성분에 중첩된 수염 형상의 진폭 성분도, 도 2의 (b)에 도시한 바와 같이 제거된다. 그 진폭 성분은, 종래예에서 설명한 바와 같이 RF 성분에 의한 노이즈나 마크 유무에 따라 급격하게 변화하는 진폭이지만, 상기한 바와 같이, 슬루율을 제한한 경우, 급격하게 변화하는 진폭 성분은 통과할 수 없어, 제거된다.

이러한 슬루율 리미터(61)의 회로 구성의 예를 도 3에 도시한다. MOS 트랜지스터 Q1과, 정전류 I1을 흘리기 위한 전류원(1)과, 정전류 I2를 흘리기 위한 전류원(2)과, MOS 트랜지스터 Q1의 부하로 되는 캐패시터 C1로 이루어진다.

입력 전압 Vin의 레벨이, 도 4에 부호 a1, a2로 나타낸 바와 같이 급격하게 증가한 경우, MOS 트랜지스터 Q1이 온 상태로 되어, 출력 전압 Vout이 정전류 I2와 정전류 I1의 차(I2-I1), 및 캐패시터 C1의 용량값 C1로 결정되는 슬루율로 증가한다. 한편, 입력 전압 Vin의 레벨이, 부호 b1, b2로 나타낸 바와 같이 급격하게 감소한 경우, MOS 트랜지스터 Q1이 오프 상태로 되고, 출력 전압 Vout이, 정전류 I1과 용량값 C1로 결정되는 슬루율로 감소하도록 되어 있다.

따라서, 입력 전압 Vin에 생성하는 펄스 형상의 노이즈 성분 a1, b1과 b2, a2는 대략 제거되어, 대략 입력 전압 Vin만을 출력 전압 Vout으로서 출력할 수 있다. 즉, 슬루율 리미터(61)는, 도 2의 (a)에 도시한 LPP 신호 P1∼P4를 제거하고, 도 2의 (b)에 도시한 대략 워블 신호(63)만을 출력한다.

이 외, 슬루율 리미터(61)로서, 도 5에 도시한 바와 같이, 도 3의 회로에 출력 전압 Vout의 레벨을 보정하는 출력 레벨 보정 회로(5)를 추가한 회로를 이용해 도 된다. 출력 레벨 보정 회로(5)는, 연산 증폭기 OP1과, N형의 MOS 트랜지스터 Q2와, 전류원(6)으로 구성되어 있다. 또한, 연산 증폭기 OP1은, MOS 트랜지스터 Q2와 전압 종동기(voltage follower)를 구성하고 있다.

이러한 슬루율 리미터(61)의 전단에 접속되는 차동 증폭기(34)는, HPF(28, 29)로부터 입력되는 A+D 신호와 B+C 신호는, 기록된 비트에 의한 RF 성분의 진폭이 일정해지도록, AGC(오토 게인 콘트롤)한 후, 차를 취하고, 워블/LPP 성분을 생성한다. 이 출력은, 디스크 타입에 따라 상이하므로, 최적의 게인을 선택할 수 있도록, 예를 들면 0.66/1.33/2.66배의 게인값이 설정되어 있다.

또한, 회전수에 따라, 그 게인값이 선택됨으로써, 슬루율 리미터(61)의 값의 변경 폭을 적게 하여, 워블/LPP 성분을 최적으로 검출 가능하도록 되어 있다.

또한, 슬루율 리미터(61)의 후단에 접속되는 BPF(38a)는, 입력 클럭이나 레지스터에 의한 주파수 전환에 의해, 회전수에 맞추어 주파수 대역의 변경이 가능하게 되어 있다. 이 주파수 대역의 선택에 의해 워블 신호(63)로부터 워블 성분을 최적으로 검출 가능하도록 이루어져 있다.

또한, 가산기(44)에 의해, 슬루율 리미터(61)로부터 출력되는 워블 신호(63)에, DAC(42)로부터의 직류의 오프셋 전압 V3을 가산함으로써, 2치화 비교기(52)의 슬라이스 레벨 V2a를 생성하도록 되어 있다.

이 슬라이스 레벨 V2a는, 오프셋 전압 V3에 의해, 예를 들면 25㎷ 간격으로 0∼375㎷까지 가변할 수 있게 되어 있다. 이와 같이 슬라이스 레벨 V2a는, 차 신호 DIFO로부터 워블 성분을 추출한 워블 신호(63)에 기초하여 생성한 것이므로, 도 2의 (c)에 도시한 바와 같이, 차 신호 DIFO에 포함되는 정현파 형상의 워블 성분과 대략 동일 형상으로 동기한 파형으로 된다. 따라서, 슬라이스 레벨 V2a를, 오프셋 전압 V3에 의해 상하로 변화시킴으로써, 워블 성분의 파형에 대략 일치시켜 배치할 수 있게 되어 있다.

이러한 구성의 광 디스크 장치에서의 재생 회로(60)에 의해, DVD-R/RW(10)로부터 워블 신호 및 LPP 신호를 재생하는 동작을 설명한다.

단, DVD-R/RW(10)에의 정보의 기록 후에는, AGC(31, 32)를 동작시켜, A+D 신호 및 B+C 신호의 진폭을 일정하게 하지만, AGC(31, 32)의 출력 레벨 검출 회로의 반응 속도는 LPP 신호에는 영향을 받지 않도록 하는 대역으로 하고, 또한 루프 필터에 의해 대역 제한이 걸리게 되는 것으로 한다. 또한, 정보의 기록 전에는, AGC(31, 32)가 포화할 가능성이 있으므로, AGC(31, 32)를 고정 게인으로 전환하여 사용하고, AGC(31, 32)의 전후의 HPF26∼29로 DC 성분을 제거하여, 충분한 동작 범위를 확보해 두는 것으로 한다.

우선, 4 분할 센서(21)에 의해 픽업된 A, B, C, D 신호가 원주 방향으로 가산됨으로써 A+D 신호와 B+C 신호가 생성된다. 이 A+D 신호와 B+C 신호는, HPF(26, 27)에 입력되고, 여기서 DC 오프셋 성분이 제거된 후, AGC(31, 32)에 있어서, 쌍방의 진폭이 일정하게 된다. 이 진폭이 일정하게 된 A+D 신호와 B+C 신호는, HPF(28, 29)를 통하여 차동 증폭기(34)에 입력된다. 차동 증폭기(34)에서는, A+D 신호와 B+C 신호와의 차가 취해짐과 함께, 설정 게인 및 주파수 가변 LPF로 처리됨으로써, 차 신호 DIFO가 얻어진다.

이 차 신호 DIFO는, 슬루율 리미터(61)에 의해 도 2의 (a)에 도시하는 LPP 성분 P1∼P4가 제거된다. 이에 의해 나머지 도 2의 (b)에 도시하는 워블 신호(63)가, 가산기(44) 및 BPF(38a)에 출력된다. 가산기(44)에서는, 워블 신호(63)에 오프셋 전압 V3이 가산되고, 도 2의 (c)에 도시하는 슬라이스 레벨 V2a가 얻어진다. 이 슬라이스 레벨 V2a가, 2치화 비교기(52)에 있어서, 차 신호 DIFO와 비교됨으로써 2치화된 LPP 신호(58b)가 재생된다.

한편, BPF(38a)에서는, 워블 신호(63)에 남은 노이즈 등의 불요 성분이 제거된 후, HPF(46)로부터 AGC(49) 및 HPF(46)의 회로에서, DC 오프셋 성분 및 노이즈 등이 제거됨과 함께 일정 진폭으로 된다. 이에 의해, 워블 신호(54b)가 재생된다. 이 워블 신호(54b)는, 2치화 비교기(51)에 입력되고, 슬라이스 레벨 V1과의 비교에 의해 2치화됨으로써, 2치화 워블 신호(56b)가 재생된다.

또, 상기에서는, 4 분할 센서(21)로써 2계통의 신호를 검출하도록 했지만, 다른 분할형 광 센서로써 2계통의 신호를 검출하도록 해도 된다.

이러한 본 실시예의 광 디스크 장치의 워블 신호 및 LPP 신호 재생 회로(60)에 따르면, 슬루율 리미터(61)에서, 차동 증폭기(34)에 의해 생성된 차 신호 DIFO에 포함되는 워블 신호보다도 급격하게 변화하는 신호를 통과시키지 않도록 슬루율을 제한하고, 이 슬루율로 차 신호 DIFO를 처리하여 출력하도록 했다. 이와 같이 처리함으로써, 차 신호 DIFO가 슬루율 리미터(61)를 통과할 때에, 차 신호 DIFO에 포함되는 워블 신호보다도 급격하게 변화하는 신호는 제거된다. 즉, 차 신호 DIFO에 워블 신호와 함께 포함되는 어드레스 신호 및 노이즈 성분이 제거되므로, 워블 신호만을 슬루율 리미터(61)로부터 출력시킬 수 있다. 따라서, 워블 신호를 적정하게 재생할 수 있다.

또한, 슬루율 리미터(61)의 출력 신호가 입력되고, 주파수 대역을 제한하여 통과시키기 위한 통과 대역이 가변인 BPF(38a)를 구비했으므로, BPF(38a)의 통과 주파수 대역을 워블 신호만을 통과시키는 대역으로 하는 것에 의해, 보다 적정하게 워블 신호를 재생할 수 있다.

또한, DAC(42)로부터 오프셋 전압 V3을 발생시키고, 이 오프셋 전압 V3과, 슬루율 리미터(61)로부터의 워블 신호(63)를 가산기(44)에 의해 가산하고, 이 가산 신호를 슬라이스 레벨 V2a로 하여, 비교기(52)에 있어서 차 신호 DIFO와 비교하는 것에 의해, LPP 신호(58b)를 재생하도록 하였다. 가산기(44)로부터 출력되는 슬라이스 레벨 V2a는, 차 신호 DIFO로부터 추출한 워블 신호와 대략 동일 형상으로 동기한 파형으로 되므로, 슬라이스 레벨 V2a 전체를, 전압에 의해 상하로 변화시킴으로써, 차 신호 DIFO에 포함되는 워블 신호의 파형에 대략 일치시켜 배치할 수 있다. 이러한 슬라이스 레벨 V2a를 차 신호 DIFO와 비교하면, 워블 신호로부터 펄스 형상으로 돌출된 LPP 신호(58b)를 적정하게 검출할 수 있다.

또한, 슬루율 리미터(61)에서의 슬루율을, 광 디스크(10)의 회전수가 빠를수록 큰 값으로 설정하도록 했으므로, 광 디스크(10)의 회전수가 빠르게 되어, 분할형 광 센서에 의해 검출되는 워블 신호의 상승/하강의 변화율이 커져도, 슬루율 리미터(61)로부터 적정하게 워블 신호를 출력시킬 수 있다.

또한, 차동 증폭기(34)에 있어서, 그 증폭기 게인을 변화시키도록 했으므로, 디스크 타입에 따른 차 신호 진폭의 차를 흡수하거나, 필요한 슬루율 설정값을 적게 하거나 할 수 있다.

또한, BPF(38a)의 통과 대역을, 광 디스크(10)의 회전수에 따라 변화시킴으로써, 슬루율 리미터(61)로부터 출력되는 워블 신호(63)에 잔류하는 노이즈 성분을 제거하여, 최적으로 워블 신호만을 통과시킬 수 있다.

이들 효과의 검증 결과인 파형도를, 도 6의 (a)∼(f) 및 도 7의 (a)∼(f)에 도시한다. 단, 도 7은, 도 6에 도시하는 구간(71)의 확대도이다. 이들 도 6 및 도 7에 있어서, (a)에 도시하는 파형은, 차동 증폭기(34)로부터 출력되는 차 신호 DIFO이다. (b)에 도시하는 파형은, 도 10에 도시한 종래 구성에 있어서 차동 증폭기(34)로부터의 차 신호 DIFO를 오버 레벨 리미터(36)를 이용하지 않고 직접 BPF(38)를 통해 얻은 워블 신호(이하, 제1 종래 워블 신호)와, 도 10에 도시한 오버 레벨 리미터(36)를 개재한 후, BPF(38)로부터 얻은 워블 신호(이하, 제2 종래 워블 신호)와, 도 1에 도시한 본 실시예 구성에서 슬루율 리미터(61)를 개재한 후 BPF(38a)로부터 얻은 워블 신호(이하, 본 발명 워블 신호)의 3개의 신호 파형(73)을 비교한 상태를 도시하는 것이다.

(c)에 도시하는 파형은, 제1 종래 워블 신호와 이상적인 워블 신호와의 주기의 차의 파형(75)이다. (d)에 도시하는 파형은, 제2 종래 워블 신호와 이상적인 워블 신호와의 주기의 차의 파형(77)이다. (e)에 도시하는 파형은, 본 발명 워블 신호와 이상적인 워블 신호와의 주기의 차의 파형(79)이다.

(f)는, 상기의 차의 파형(75, 77, 79)의 표준 편차를 취하여, 이상적인 워블 신호의 주기로 나눈 지터비(%)를 나타내는 파형(75a, 77a, 79a)이다.

이 결과대로, (f)에 도시하는 지터비(%)는, 1에 가까운 본 발명 구성에 의해 얻어진 파형(79a)이 가장 좋다는 것을 알 수 있다. 이 때문에, LPP 신호(58b)의 검출에서도, 검출하기 쉽도록 DAC(42)에 의한 오프셋량을 최적화하면 되므로, 워블 신호에의 영향은 고려할 필요가 없는 것을 알 수 있다.

또한, 본 광 디스크 장치에서는, 종래와 같이 슬라이스 레벨과 오버 레벨 리미터의 리미트값을 별도로 함으로써 규모가 커지는 구성은 취하지 않고, 종래의 구성 요소인 레벨 홀드부(40)도 이용하지 않으므로, 그 만큼, 회로 규모를 작게 하는 것이 가능하게 된다.

본 슬루율 제한 회로를 채용하는 것에 의해, 종래 회로와 같이 다이오드를 사용하지 않으므로, 그 만큼, 종래 회로에 비교하여 구성 부품의 개수를 감소시킬 수 있다. 또, 종래 회로와 같이 다이오드를 사용하지 않으므로, CMOS 집적 회로로 구성하는데 적합하다. 또한, 본 슬루율 제한 회로는, MOS 트랜지스터를 사용하고 있으므로, 입력 임피던스를 매우 높게 할 수 있고, 이에 따라 입력측에 버퍼 회로 등을 설치할 필요가 없다.

본 광 디스크 장치에 의하면, 슬루율 리미터에서, 차동 증폭기에 의해 생성된 차 신호에 포함되는 워블 신호보다도 급격하게 변화하는 신호를 통과시키지 않도록 슬루율을 제한하고, 이 슬루율로 차 신호를 처리하여 출력한다. 이 처리에 의해, 차 신호가 슬루율 리미터를 통과할 때에, 차 신호에 포함되는 워블 신호보다 도 급격하게 변화하는 신호는 제거된다. 즉, 차 신호에 워블 신호와 함께 포함되는 어드레스 신호 및 노이즈 성분이 제거되므로, 워블 신호만을 슬루율 리미터로부터 출력시킬 수 있다. 따라서, 워블 신호를 적정하게 재생할 수 있다.

Claims

게이트에 입력 신호가 입력되는 MOS 트랜지스터와,

상기 MOS 트랜지스터의 소스측에 MOS 트랜지스터와 직렬로 접속되는 제1 전류원과,

상기 MOS 트랜지스터의 드레인측에 MOS 트랜지스터와 직렬로 접속되는 제2 전류원과,

상기 MOS 트랜지스터의 소스와 기준 전위와의 사이에 접속되는 캐패시터를 포함하고,

상기 입력 신호의 파형이 증가하는 경우에는, 상기 MOS 트랜지스터의 출력 전압을 상기 제1 전류원에 대한 제2 전류원의 전류값의 차분과 상기 캐패시터의 용량값으로 결정되는 슬루율로 증가시키고, 상기 입력 신호의 파형이 감소하는 경우에는, 상기 MOS 트랜지스터의 출력 전압을 상기 제1 전류원의 전류값과 상기 캐패시터의 용량값으로 결정되는 슬루율로 감소시키는 것을 특징으로 하는 슬루율 제한 회로.
제1항에 있어서, 상기 제1 전류원 및 제2 전류원은 그 중 어느 한쪽 또는 양쪽이 가변 전류원으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 슬루율 제한 회로.
제1항에 있어서, 상기 캐패시터는 그 용량값이 가변 가능하게 되어 있는 것을 특징으로 하는 슬루율 제한 회로.
제1항에 있어서, 상기 MOS 트랜지스터의 소스와 출력 단자와의 사이에 접속되는 출력 레벨 보정 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 슬루율 제한 회로.
디스크의 내주로부터 외주로, 나선 형상으로, 소정 주기로 사행하여 형성된 정보 기록용의 트랙과, 상기 트랙 사이에 트랙에 접속되어 형성된 어드레스 정보 재생용의 트랙간부를 갖는 광 디스크로부터, 상기 트랙의 사행 정보인 워블 신호와, 상기 트랙간부에 의한 어드레스 신호를 재생하는 광 디스크 장치로서,

상기 트랙을 광으로 주사하는 것에 의해 2계통의 신호를 검출하는 분할형 광 센서와,

상기 분할형 광 센서에 의해 검출된 2계통의 검출 신호의 차분을 취하는 것에 의해, 상기 워블 신호 및 상기 어드레스 신호를 포함하는 차 신호를 생성하는 차동 증폭기와,

상기 워블 신호보다도 급격하게 변화하는 신호를 통과시키지 않도록 제한한 슬루율로, 상기 차 신호를 처리하는 슬루율 리미터를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제5항에 있어서, 상기 슬루율 리미터의 출력 신호가 입력되고, 통과 주파수 대역이 가변인 대역 통과 필터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제6항에 있어서, 상기 대역 통과 필터의 통과 대역은 상기 광 디스크의 회전수에 따라 가변 설정되는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제5항에 있어서,

전압을 발생시키고, 상기 전압의 값이 가변인 가변 전압 발생 수단과,

상기 슬루율 리미터의 출력 신호에 상기 전압을 가산하는 가산기와,

상기 가산기의 출력 신호를 슬라이스 레벨로 하여, 상기 차 신호와 비교하는 것에 의해 상기 어드레스 신호를 재생하는 비교기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제5항에 있어서, 상기 슬루율 리미터에서의 슬루율은 상기 광 디스크의 회전수가 빠를수록 큰 값으로 설정되는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제5항에 있어서, 상기 차동 증폭기의 게인은 가변이고, 상기 차 신호에 포함되는 상기 워블 신호/상기 어드레스 신호의 진폭에 따라 상기 게인이 가변 설정되는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
디스크의 내주로부터 외주로, 나선 형상으로, 소정 주기로 사행하여 형성된 정보 기록용의 트랙과, 상기 트랙 사이에 트랙에 접속되어 형성된 어드레스 정보 재생용의 트랙간부를 갖는 광 디스크로부터, 상기 트랙의 사행 정보인 워블 신호와, 상기 트랙간부에 의한 어드레스 신호를 재생하는 광 디스크 장치로서,

상기 트랙을 광으로 주사하는 것에 의해 2계통의 신호를 검출하는 분할형 광 센서와,

상기 분할형 광 센서에 의해 검출된 2계통의 검출 신호의 차분을 취하는 것에 의해, 상기 워블 신호 및 상기 어드레스 신호를 포함하는 차 신호를 생성하는 차동 증폭기와,

게이트에 상기 차 신호가 입력되는 MOS 트랜지스터, 상기 MOS 트랜지스터의 소스측에 MOS 트랜지스터와 직렬로 접속되는 제1 전류원, 상기 MOS 트랜지스터의 드레인측에 MOS 트랜지스터와 직렬로 접속되는 제2 전류원, 상기 MOS 트랜지스터의 소스 단자와 기준 전위와의 사이에 접속되는 캐패시터를 갖고, 상기 차 신호를 처리하는 슬루율 제한 회로를 포함하고,

상기 슬루율 제한 회로는, 상기 차 신호의 파형이 증가하는 경우 상기 MOS 트랜지스터의 출력 전압을 상기 제1 전류원에 대한 제2 전류원의 전류값의 차분과 상기 캐패시터의 용량값으로 결정되는 슬루율로 증가시키고, 상기 차 신호의 파형이 감소하는 경우 상기 MOS 트랜지스터의 출력 전압을 상기 제1 전류원의 전류값과 상기 캐패시터의 용량값으로 결정되는 슬루율로 감소시키는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제11항에 있어서, 상기 슬루율 제한 회로의 제1 전류원 및 제2 전류원은 그 중 어느 한쪽 또는 양쪽이 가변 전류원으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제11항에 있어서, 상기 슬루율 제한 회로의 캐패시터는 그 용량값이 가변 가능하게 되는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제11항에 있어서, 상기 슬루율 제한 회로의 출력 단자로부터의 출력 신호가 입력되고, 통과 주파수 대역이 가변인 대역 통과 필터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제14항에 있어서, 상기 대역 통과 필터의 통과 대역은 상기 광 디스크의 회전수에 따라 가변 설정되는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제11항에 있어서,

전압을 발생시키고, 그 전압의 값이 가변인 가변 전압 발생 수단과,

상기 슬루율 제한 회로의 출력 신호에 상기 전압을 가산하는 가산기와,

상기 가산기의 출력 신호를 슬라이스 레벨로 하여, 상기 차 신호와 비교하는 것에 의해 상기 어드레스 신호를 재생하는 비교기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제11항에 있어서, 상기 슬루율 제한 회로에서의 슬루율은 상기 광 디스크의 회전수가 빠를수록 큰 값으로 설정되는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제11항에 있어서, 상기 차동 증폭기의 게인은 가변이고, 상기 차 신호에 포함되는 상기 워블 신호/상기 어드레스 신호의 진폭에 따라 상기 게인이 가변 설정되는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.
제11항에 있어서, 상기 MOS 트랜지스터의 소스와 출력 단자와의 사이에 접속되는 출력 레벨 보정 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 디스크 장치.