KR100685550B1 - 파장 가변 필터 및 파장 가변 필터의 제조 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (20)
- 제 1 오목부를 갖는 제 1 기판과,상기 제 1 오목부에 대향하는 위치에 개구부를 갖는 가동부(可動部)와, 해당 가동부를 변위 가능하게 지지하는 지지부를 구비하고, 상기 제 1 기판에 접합된 제 2 기판과,상기 개구부에 대응하는 부위에 위치하도록, 상기 가동부에 접합된 광 투과성을 갖는 제 3 기판과,상기 제 1 오목부의 바닥부에 마련된 고정 반사막과,상기 제 3 기판의 상기 제 1 오목부쪽에 마련되고, 상기 고정 반사막에 대하여 간섭용 갭을 사이에 두고 대향 배치된 가동 반사막과,상기 가동부를 상기 제 1 기판에 대하여 변위시킴으로써, 상기 간섭용 갭의 간격을 변경하는 구동부를 구비하고,상기 고정 반사막과 상기 가동 반사막 사이에서 반사를 반복하여, 간섭을 발생시켜 상기 간섭용 갭의 간격에 따른 파장의 광을 외부에 출사할 수 있도록 구성된 것을 특징으로 하는 파장 가변 필터.
- 제 1 항에 있어서,상기 제 3 기판은 상기 가동부의 상기 제 1 기판과 대향하는 쪽 면에 마련되어 있는 파장 가변 필터.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 제 3 기판은 상기 가동부의 상기 제 1 기판과 대향하는 쪽 면에 접합되어 있는 파장 가변 필터.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 제 1 기판의 상기 간섭용 갭과 반대쪽 면과 상기 제 3 기판의 상기 간섭용 갭과 반대쪽 면에, 각각 반사 방지막을 갖는 파장 가변 필터.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 제 1 기판은 상기 제 2 기판에 대향하는 쪽 면에 제 2 오목부를 갖고,상기 구동부는 상기 제 2 오목부의 바닥부와 상기 제 2 기판 사이에 마련된 구동용 갭을 갖고, 해당 구동용 갭을 이용하여 상기 가동부를 상기 제 1 기판에 대하여 변위시키는파장 가변 필터.
- 제 1 오목부를 갖는 제 1 기판과,상기 제 1 오목부에 대향하는 위치에 개구부를 갖는 가동부와, 해당 가동부를 변위 가능하게 지지하는 지지부를 구비하고, 상기 제 1 기판에 접합된 제 2 기판과,상기 개구부에 대응하는 부위에 위치하도록 상기 가동부에 접합된 광 투과성을 갖는 제 3 기판과,상기 제 1 오목부의 바닥부에 마련된 고정 반사막과,상기 제 3 기판의 상기 제 1 오목부쪽에 마련되고, 상기 고정 반사막에 대하여 간섭용 갭을 사이에 두고 대향 배치된 가동 반사막과,상기 가동부에 대향하는 부위에 제 2 오목부를 갖고, 상기 제 2 기판의 상기 제 1 기판과 반대쪽에 접합된 제 4 기판과,상기 제 2 오목부의 바닥부와 상기 제 2 기판 사이에 마련된 구동용 갭을 갖고, 상기 가동부를 상기 제 1 기판에 대하여 변위시킴으로써, 상기 간섭용 갭의 간격을 변경하는 구동부를 구비하고,상기 고정 반사막과 상기 가동 반사막 사이에서 반사를 반복하여, 간섭을 발생시켜 상기 간섭용 갭의 간격에 따른 파장의 광을 외부에 출사할 수 있도록 구성된 것을 특징으로 하는 파장 가변 필터.
- 제 6 항에 있어서,상기 제 1 기판의 상기 제 1 오목부와 반대쪽 면과 상기 제 4 기판의 상기 제 2 오목부와 반대쪽 면에, 각각 반사 방지막을 갖는 파장 가변 필터.
- 제 1, 2, 6, 7 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제 2 기판은 도전성을 갖고,상기 제 2 오목부의 바닥부에 구동 전극이 마련되어 있고,상기 구동부는, 상기 가동부와 상기 구동 전극 사이의 전위차에 의해 생기는 쿨롱력에 의해 상기 가동부를 변위시키도록 구성되어 있는 파장 가변 필터.
- 제 8 항에 있어서,상기 제 2 기판과 상기 구동 전극 사이의 적어도 한쪽 면에, 절연 처리가 실시되어 있는 파장 가변 필터.
- 제 1, 2, 6, 7 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제 3 기판은 적외광 및 적외광보다 단파장의 광을 투과 가능한 것인 파 장 가변 필터.
- 제 1, 2, 6, 7 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제 3 기판은 상기 개구부를 포함하도록 해당 개구부를 덮고 있는 파장 가변 필터.
- 제 1, 2, 6, 7 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제 2 기판은 실리콘으로 구성되어 있는 파장 가변 필터.
- 제 1, 2, 6, 7 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 가동부는 평면에서 보아 대략 원형을 이루고 있는 파장 가변 필터.
- 제 1, 2, 6, 7 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 가동부와 상기 지지부는 일체적으로 형성되어 있는 파장 가변 필터.
- 제 1, 2, 6, 7 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 고정 반사막 및 상기 가동 반사막은 각각 다층막인 파장 가변 필터.
- 제 1, 2, 6, 7 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 가동 반사막은 절연막인 파장 가변 필터.
- 한쪽 면에 형성된 제 1 오목부와 제 2 오목부를 갖는 제 1 기판과, 상기 제 1 오목부에 대향하는 위치에 개구부를 갖는 가동부와, 해당 가동부를 변위 가능하게 지지하는 지지부를 구비하고, 상기 제 1 기판에 접합된 제 2 기판과, 상기 개구부에 대응하는 부위에 위치하도록, 상기 가동부에 접합된 광 투과성을 갖는 제 3 기판과, 상기 제 1 오목부의 바닥부에 마련된 고정 반사막과, 상기 제 3 기판의 상기 제 1 오목부쪽에 마련되고, 상기 고정 반사막에 대하여 간섭용 갭을 사이에 두고 대향 배치된 가동 반사막과, 상기 제 2 오목부의 바닥부와 상기 제 2 기판 사이에 마련된 구동용 갭을 갖고, 해당 구동용 갭을 이용하여, 상기 가동부를 상기 제 1 기판에 대하여 변위시킴으로써, 상기 간섭용 갭의 간격을 변경하는 구동부를 구비하고, 상기 고정 반사막과 상기 가동 반사막 사이에서 반사를 반복하여, 간섭을 발생시켜 상기 간섭용 갭의 간격에 따른 파장의 광을 외부에 출사할 수 있도록 구 성된 파장 가변 필터의 제조 방법으로서,제 1 기판용 기재에 상기 제 1 오목부 및 상기 제 2 오목부를 형성하여 상기 제 1 기판을 형성하는 공정과,상기 제 1 오목부의 바닥부에 상기 고정 반사막을 형성하는 공정과,제 2 기판용 기재와 상기 제 1 기판을 접합하는 공정과,상기 제 2 기판용 기재에 대하여 제거 처리를 행하여 소정의 부위를 제거함으로써, 상기 개구부를 갖는 상기 가동부 및 상기 지지부를 형성하여 상기 제 2 기판을 형성하는 공정과,상기 제 3 기판에 상기 가동 반사막을 형성하는 공정과,상기 가동부에서의 상기 제 1 기판과 반대쪽의 상기 개구부에 대응하는 부위에, 상기 가동 반사막과 상기 고정 반사막이 서로 대향하도록, 상기 제 3 기판을 접합하는 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 파장 가변 필터의 제조 방법.
- 한쪽 면에 형성된 제 1 오목부와 제 2 오목부를 갖는 제 1 기판과, 상기 제 1 오목부에 대향하는 위치에 개구부를 갖는 가동부와, 해당 가동부를 변위 가능하게 지지하는 지지부를 구비하고, 상기 제 1 기판에 접합된 제 2 기판과, 상기 개구부에 대응하는 부위에 위치하도록, 상기 가동부에 접합된 광 투과성을 갖는 제 3 기판과, 상기 제 1 오목부의 바닥부에 마련된 고정 반사막과, 상기 제 3 기판의 상 기 제 1 오목부쪽에 마련되고, 상기 고정 반사막에 대하여 간섭용 갭을 사이에 두고 대향 배치된 가동 반사막과, 상기 제 2 오목부의 바닥부와 상기 제 2 기판 사이에 마련된 구동용 갭을 갖고, 해당 구동용 갭을 이용하여, 상기 가동부를 상기 제 1 기판에 대하여 변위시킴으로써, 상기 간섭용 갭의 간격을 변경하는 구동부를 구비하고, 상기 고정 반사막과 상기 가동 반사막 사이에서 반사를 반복하여, 간섭을 발생시켜 상기 간섭용 갭의 간격에 따른 파장의 광을 외부에 출사할 수 있도록 구성된 파장 가변 필터의 제조 방법으로서,제 1 기판용 기재에 상기 제 1 오목부 및 상기 제 2 오목부를 형성하여 상기 제 1 기판을 형성하는 공정과,상기 제 1 오목부의 바닥부에 상기 고정 반사막을 형성하는 공정과,상기 제 3 기판에 상기 가동 반사막을 형성하는 공정과,제 2 기판용 기재의 상기 개구부가 되는 부위에 대응하는 부위에, 상기 가동 반사막이 상기 제 3 기판의 상기 제 2 기판용 기재와 반대쪽에 위치하도록, 상기 제 3 기판을 접합하는 공정과,상기 제 2 기판용 기재와 상기 제 1 기판을 상기 가동 반사막과 상기 고정 반사막이 서로 대향하도록 접합하는 공정과,상기 제 2 기판용 기재에 대하여 제거 처리를 행하여 소정의 부위를 제거함으로써, 상기 개구부를 갖는 상기 가동부 및 상기 지지부를 형성하여 상기 제 2 기판을 형성하는 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 파장 가변 필터의 제조 방법.
- 제 1 오목부를 갖는 제 1 기판과, 상기 제 1 오목부에 대향하는 위치에 개구부를 갖는 가동부와, 해당 가동부를 변위 가능하게 지지하는 지지부를 구비하고, 상기 제 1 기판에 접합된 제 2 기판과, 상기 개구부에 대응하는 부위에 위치하도록, 상기 가동부에 접합된 광 투과성을 갖는 제 3 기판과, 상기 제 1 오목부의 바닥부에 마련된 고정 반사막과, 상기 제 3 기판의 상기 제 1 오목부쪽에 마련되고, 상기 고정 반사막에 대하여 간섭용 갭을 사이에 두고 대향 배치된 가동 반사막과, 상기 가동부에 대향하는 부위에 제 2 오목부를 갖고, 상기 제 2 기판의 상기 제 1 기판과 반대쪽에 접합된 제 4 기판과, 상기 제 2 오목부의 바닥부와 상기 제 2 기판 사이에 마련된 구동용 갭을 갖고, 상기 가동부를 상기 제 1 기판에 대하여 변위시킴으로써, 상기 간섭용 갭의 간격을 변경하는 구동부를 구비하고, 상기 고정 반사막과 상기 가동 반사막 사이에서 반사를 반복하여, 간섭을 발생시켜 상기 간섭용 갭의 간격에 따른 파장의 광을 외부에 출사할 수 있도록 구성된 것을 특징으로 하는 파장 가변 필터의 제조 방법으로서,제 4 기판용 기재에 상기 제 2 오목부를 형성하여 상기 제 4 기판을 형성하는 공정과,제 2 기판용 기재와 상기 제 4 기판을 접합하는 공정과,상기 제 2 기판용 기재에 대하여 제거 처리를 행하여 소정의 부위를 제거함으로써, 상기 개구부를 갖는 상기 가동부 및 상기 지지부를 형성하여 제 2 기판을 형성하는 공정과,상기 제 3 기판에 상기 가동 반사막을 형성하는 공정과,상기 가동부에서의 상기 제 1 기판과 반대쪽의 상기 개구부에 대응하는 부위에, 상기 제 3 기판을 접합하는 공정과,제 1 기판용 기재에 상기 제 1 오목부를 형성하여 상기 제 1 기판을 형성하는 공정과,상기 제 1 오목부의 바닥부에 상기 고정 반사막을 형성하는 공정과,상기 제 1 기판과 상기 제 2 기판을, 상기 고정 반사막과 상기 가동 반사막이 서로 대향하도록 접합하는 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 파장 가변 필터의 제조 방법.
- 제 1 오목부를 갖는 제 1 기판과, 상기 제 1 오목부에 대향하는 위치에 개구부를 갖는 가동부와, 해당 가동부를 변위 가능하게 지지하는 지지부를 구비하고, 상기 제 1 기판에 접합된 제 2 기판과, 상기 개구부에 대응하는 부위에 위치하도록, 상기 가동부에 접합된 광 투과성을 갖는 제 3 기판과, 상기 제 1 오목부의 바닥부에 마련된 고정 반사막과, 상기 제 3 기판의 상기 제 1 오목부쪽에 마련되고, 상기 고정 반사막에 대하여 간섭용 갭을 사이에 두고 대향 배치된 가동 반사막과, 상기 가동부에 대향하는 부위에 제 2 오목부를 갖고, 상기 제 2 기판의 상기 제 1 기판과 반대쪽에 접합된 제 4 기판과, 상기 제 2 오목부의 바닥부와 상기 제 2 기판 사이에 마련된 구동용 갭을 갖고, 상기 가동부를 상기 제 1 기판에 대하여 변위 시킴으로써, 상기 간섭용 갭의 간격을 변경하는 구동부를 구비하고, 상기 고정 반사막과 상기 가동 반사막 사이에서 반사를 반복하여, 간섭을 발생시켜 상기 간섭용 갭의 간격에 따른 파장의 광을 외부에 출사할 수 있도록 구성된 것을 특징으로 하는 파장 가변 필터의 제조 방법으로서,제 4 기판용 기재에 상기 제 2 오목부를 형성하여 상기 제 4 기판을 형성하는 공정과,상기 제 3 기판에 제 3 오목부를 형성하고, 해당 제 3 오목부 내에 상기 가동 반사막을 형성하는 공정과,제 2 기판용 기재의 상기 개구부가 되는 부위에 대응하는 부위에, 상기 가동 반사막과 상기 제 2 기판용 기재가 대향하도록 상기 제 3 기판을 접합하는 공정과,제 2 기판용 기재와 상기 제 4 기판을 상기 제 3 기판과 상기 제 2 오목부가 대향하도록 접합하는 공정과,상기 제 2 기판용 기재에 대하여 제거 처리를 행하여 소정의 부위를 제거함으로써, 상기 개구부를 갖는 상기 가동부 및 상기 지지부를 형성하여 제 2 기판을 형성하는 공정과,제 1 기판용 기재에 상기 제 1 오목부를 형성하여 상기 제 1 기판을 형성하는 공정과,상기 제 1 오목부의 바닥부에 상기 고정 반사막을 형성하는 공정과,상기 제 1 기판과 상기 제 2 기판을 상기 고정 반사막과 상기 가동 반사막이 서로 대향하도록 접합하는 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 파장 가변 필터의 제조 방법.
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KR20090125087A (ko) * | 2007-02-20 | 2009-12-03 | 퀄컴 엠이엠스 테크놀로지스, 인크. | 마이크로전자기계 시스템〔mems〕의 에칭장치 및 에칭 방법 |
US7719752B2 (en) * | 2007-05-11 | 2010-05-18 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | MEMS structures, methods of fabricating MEMS components on separate substrates and assembly of same |
CN101802985A (zh) * | 2007-09-14 | 2010-08-11 | 高通Mems科技公司 | 用于微机电系统生产的蚀刻工艺 |
JP5076843B2 (ja) * | 2007-11-29 | 2012-11-21 | セイコーエプソン株式会社 | 光学デバイス、波長可変フィルタモジュール、および光スペクトラムアナライザ |
US7944604B2 (en) | 2008-03-07 | 2011-05-17 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Interferometric modulator in transmission mode |
JP5386856B2 (ja) * | 2008-06-03 | 2014-01-15 | 株式会社Sumco | 貼り合わせウェーハの製造方法 |
EP2344416B1 (en) * | 2008-11-07 | 2020-08-05 | Cavendish Kinetics, Inc. | Plurality of smaller mems devices to replace a larger mems device |
JP5428805B2 (ja) * | 2009-11-30 | 2014-02-26 | セイコーエプソン株式会社 | 干渉フィルター、光センサー、および光モジュール |
JP5273025B2 (ja) * | 2009-11-30 | 2013-08-28 | セイコーエプソン株式会社 | 波長可変干渉フィルター、その製造方法、測色センサー、および測色モジュール |
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JP2011191555A (ja) * | 2010-03-15 | 2011-09-29 | Seiko Epson Corp | 光フィルターの製造方法、分析機器および光機器 |
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US20120056855A1 (en) * | 2010-09-03 | 2012-03-08 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Interferometric display device |
JP5845588B2 (ja) * | 2011-02-09 | 2016-01-20 | セイコーエプソン株式会社 | 波長可変干渉フィルター、光モジュール、光分析装置および波長可変干渉フィルターの製造方法 |
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JP5747623B2 (ja) * | 2011-04-11 | 2015-07-15 | セイコーエプソン株式会社 | 波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び電子機器 |
JP5786424B2 (ja) * | 2011-04-11 | 2015-09-30 | セイコーエプソン株式会社 | 波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び電子機器 |
JP6119090B2 (ja) * | 2011-09-27 | 2017-04-26 | セイコーエプソン株式会社 | 光学フィルターデバイス、光学モジュール、及び電子機器 |
JP6244616B2 (ja) * | 2012-08-30 | 2017-12-13 | セイコーエプソン株式会社 | 波長可変干渉フィルター、光学モジュール、電子機器、および波長可変干渉フィルターの製造方法 |
JP2014182170A (ja) | 2013-03-18 | 2014-09-29 | Seiko Epson Corp | 封止構造、干渉フィルター、光学モジュール、及び電子機器 |
FI125690B (en) * | 2013-06-18 | 2016-01-15 | Teknologian Tutkimuskeskus Vtt Oy | Mirror for Fabry-Perot interferometer and method for its manufacture |
KR20160018869A (ko) | 2013-07-03 | 2016-02-17 | 인피닉스, 인크. | Ss-oct 시스템에 대한 파장-튜닝가능 수직 캐비티 표면 방출 레이저 |
TWI502176B (zh) * | 2013-09-23 | 2015-10-01 | Ind Tech Res Inst | 可調式濾光元件及其製作方法 |
CA2931252A1 (en) * | 2013-11-26 | 2015-06-04 | Inphenix, Inc. | Wavelength tunable mems-fabry perot filter |
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Family Cites Families (18)
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US5269723A (en) * | 1992-01-27 | 1993-12-14 | Bender Gene R | Vehicle air freshener |
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US5407642A (en) * | 1993-06-14 | 1995-04-18 | Lord; Paul J. | Clip mount air freshener assembly |
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US6123906A (en) * | 1996-04-16 | 2000-09-26 | Farmer; Mike | Air freshening device for automobiles |
JPH11160635A (ja) * | 1997-11-21 | 1999-06-18 | Nikon Corp | 光学素子及びその製造方法並びにそれを用いた装置 |
AU764799B2 (en) * | 1997-12-29 | 2003-08-28 | Coretek, Inc. | Microelectromechanically tunable, confocal, vertical cavity surface emitting laser and fabry-perot filter |
US6197263B1 (en) * | 1999-01-22 | 2001-03-06 | Eugene D. Blount | Automobile air freshener |
US6590710B2 (en) * | 2000-02-18 | 2003-07-08 | Yokogawa Electric Corporation | Fabry-Perot filter, wavelength-selective infrared detector and infrared gas analyzer using the filter and detector |
JP2002174721A (ja) | 2000-12-06 | 2002-06-21 | Yokogawa Electric Corp | ファブリペローフィルタ |
US6341039B1 (en) | 2000-03-03 | 2002-01-22 | Axsun Technologies, Inc. | Flexible membrane for tunable fabry-perot filter |
US6400738B1 (en) * | 2000-04-14 | 2002-06-04 | Agilent Technologies, Inc. | Tunable Fabry-Perot filters and lasers |
US6808276B2 (en) * | 2001-05-08 | 2004-10-26 | Axsun Technologies, Inc. | Suspended high reflectivity coating on release structure and fabrication process therefor |
JP2003149436A (ja) * | 2001-11-12 | 2003-05-21 | Nikon Corp | 光学薄膜体及びその製造方法 |
US20030202922A1 (en) * | 2002-04-25 | 2003-10-30 | Mike Farmer | Wedge air freshener |
JP2004212680A (ja) * | 2002-12-27 | 2004-07-29 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光変調素子アレイ及びその製造方法 |
JP2005025020A (ja) * | 2003-07-04 | 2005-01-27 | Seiko Epson Corp | 波長可変干渉フィルタ及びその製造方法 |
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