KR100625220B1

KR100625220B1 - 액정셀 검사용 프로브유닛

Info

Publication number: KR100625220B1
Application number: KR1020050028698A
Authority: KR
Inventors: 유병소
Original assignee: (주)큐엠씨
Priority date: 2005-04-06
Filing date: 2005-04-06
Publication date: 2006-09-20

Abstract

본 발명은 다수개의 컨텍패드들이 양 측부가 절곡된 "ㄷ" 형태로 배열된 액정셀에 대하여 정밀한 점등검사를 수행할 수 있는 액정셀 검사용 프로브유닛에 관한 것이다.

이에, 본 발명은 액정셀의 점등검사장치에 설치되며, 다수개의 컨텍패드들이 양 측부가 절곡된 "ㄷ" 형태로 배열된 액정셀의 점등검사에 사용하는 프로브유닛에 있어서, 상기 액정셀의 컨텍패드들과 대응되게 다수개의 프로브핀들이 양 측부가 절곡된 "ㄷ" 형태로 배열된 프로브블럭; 상기 프로브블럭의 위치를 상기 액정셀의 컨텍패드들에 대하여 전,후로 미세하게 조정하는 x축 조정수단; 및 상기 프로브블럭의 위치를 상기 액정셀의 컨텍패드들에 대하여 좌,우로 미세하게 조정하는 y축 조정수단을 포함하여 구성되고; 상기 프로브블럭의 위치를 상기 액정셀의 컨텍패드들에 대하여 상,하로 미세하게 조정하는 z축 조정부와; 상기 프로브블럭의 수평각도를 상기 액정셀의 컨텍패드들에 대하여 중심선을 기준으로 미세하게 조정하도록 하부에 상기 프로브블럭이 힌지핀에 의해 장착되는 블럭홀더와, 상기 프로브블럭에 형성되는 장공을 관통하여 상기 블록홀더에 형성되는 편심핀의 하부 일측에 장착되는 편심축으로 구성되는 각도조정부를; 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

상기와 같은 프로브유닛을 제공함으로써, 다수개의 컨텍패드들이 양 측부가 절곡된 "ㄷ" 형태로 배열된 액정셀의 검사가 가능함은 물론 정밀한 컨텍을 통해 검사의 정확성을 향상시킬 수 있는 효과를 가진다.

프로브핀, 이송블럭, 마이크로헤드, 편심

Description

액정셀 검사용 프로브유닛{LIQUID CRYSTAL DISPLAY SHELL INSPECTION METHOD}

도 1a,b는 본 발명의 일 실시예를 보인 사시도.

도 2는 도 1a의 프로브블럭을 보인 평면도.

※ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

10 : 베이스 11 : 제1이송블럭

12 : 제2이송블럭 13 : 제3이송블럭

14 : 프로브블럭 140 : 프로브핀

141 : 가이드공 21 : 제1마이크로헤드

22 : 제2마이크로헤드 23 : 제3마이크로헤드

30 : 고정노브 31 : 지지판

40 : 편심핀 41 : 편심축

50 : 힌지핀

100 : 액정셀 110 : 컨텍패드

본 발명은 엘씨디 패널의 제조과정에서 액정셀을 점등검사하는데 사용하는 프로브유닛에 관한 것이다.

일반적으로, 엘씨디(LCD, Liquid Crystal Display)란 TV나 컴퓨터등의 모니터에 사용되고 있는 음극선관(CRT, Cathode Ray Tube)을 대체하기 위해 개발된 표시장치로, 경량??박형설계가 용이하고 고화질, 저소비전력 등의 장점을 가지므로 산업에서 널리 이용되고 있다.

특히, 근래에는 휴대폰이나 PDA와 같은 이동통신단말기의 수요가 지속적으로 확산됨에 따라, 그 이동통신단말기에 탑재되는 소형 엘씨디 패널의 시장이 기하급수적으로 팽창하고 있다.

엘씨디 패널은 제조공정에서 색도, 색 얼룩, 콘트라스트 등의 동작상태를 검사하는 점등검사를 거치게 된다. 이때, 이동통신단말기가 점차 고도의 기술과 품질이 요구되는 칼라 엘씨디 패널을 탑재하게 됨에 따라, 정밀한 검사가 필연적으로 수반됨은 물론, 대량생산이 본격화됨에 따라 검사의 효율성 향상이 수반된다.

이에 따라, 엘씨디 패널의 생산공정에 있어서 여러개의 소형 엘씨디 패널을 한 줄로 병렬 배열한 스틱형 패널을 도입하여, 여러개의 엘씨디 셀(커팅되기 전의 소형 엘씨디 패널)을 동시에 검사함으로써, 검사시간을 획기적으로 단축하는 방법이 시도되고 있다.

한편, 소형 엘씨디 패널은 STN, TFT형 엘씨디 패널이 주종을 이루고 있으며, 대형 엘씨디 패널과 마찬가지로 구동 IC가 실장된 FPC(Flexible Printed Circuit)가 연결되어 작동된다. 최근에는 구동 IC를 전량 수입에 의존하는 FPC에 실장하지 않고 엘씨디 패널에 직접 실장하는 COG(Chip On Glass) 기술을 개발하여 제조원가를 획기적으로 절감하고 있다.

한편, COG 기술을 적용한 엘씨디 패널은 구동 IC의 실장으로 인해 다수개의 컨텍패드들이 "ㄷ" 형태로 배열됨으로써, 이에 사용되는 프로브블럭은 "ㅣ" 형태로 배열된 종래 타입에 비하여 3방향에서 프로브핀을 동시에 접촉시켜야 한다.

즉, 종래의 프로브블럭은 프로브핀들이 "ㅣ" 형태로 배열됨으로써, 위와 같이 컨텍패드들이 양 측부가 절곡된 "ㄷ" 형태로 배열된 패널의 검사시 데이터 및 게이트 라인의 모든 전극에 일괄 접촉하여 정밀한 점등검사를 수행할 수 없는 문제점이 있었다.

이에, 본 발명은 상술한 바와 같은 종래의 제반 문제점을 해소하기 위해 안출된 것으로, 그 목적은 다수개의 컨텍패드들이 양 측부가 절곡된 "ㄷ" 형태로 배열된 액정셀에 대하여 정밀한 점등검사를 수행할 수 있도록 한 액정셀 검사용 프로브유닛을 제공함에 있다.

상기와 같은 목적을 이루기 위한 본 발명의 일 양상에 따른 프로브유닛은, 액정셀의 점등검사장치에 설치되며, 다수개의 컨텍패드들이 양 측부가 절곡된 "ㄷ" 형태로 배열된 액정셀의 점등검사에 사용하는 프로브유닛에 있어서, 상기 액정셀의 컨텍패드들과 대응되게 다수개의 프로브핀들이 양 측부가 절곡된 "ㄷ" 형태로 배열된 프로브블럭; 상기 프로브블럭의 위치를 상기 액정셀의 컨텍패드들에 대하여 전,후로 미세하게 조정하는 x축 조정수단; 및 상기 프로브블럭의 위치를 상기 액정셀의 컨텍패드들에 대하여 좌,우로 미세하게 조정하는 y축 조정수단을 포함하여 구성되고; 상기 프로브블럭의 위치를 상기 액정셀의 컨텍패드들에 대하여 상,하로 미세하게 조정하는 z축 조정부와; 상기 프로브블럭의 수평각도를 상기 액정셀의 컨텍패드들에 대하여 중심선을 기준으로 미세하게 조정하도록 하부에 상기 프로브블럭이 힌지핀에 의해 장착되는 블럭홀더와, 상기 프로브블럭에 형성되는 장공을 관통하여 상기 블록홀더에 형성되는 편심핀의 하부 일측에 장착되는 편심축으로 구성되는 각도조정부를; 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

삭제

상술한 본 발명의 양상은 첨부된 도면을 참조하여 설명되는 실시예들을 통하여 더욱 명백해질 것이다. 이하에서는 바람직한 실시예를 통해 당업자가 본 발명을 용이하게 이해하고 재현할 수 있도록 상세히 설명하기로 한다.

도 1a,b는 본 발명의 일 실시예를 보인 사시도이고, 도 2는 도 1a의 배면도이다. 본 실시예에 따른 프로브유닛은 점등검사장치에 설치되며, 다수개의 컨텍패드(110)들이 양 측부가 절곡된 "ㄷ" 형태로 조밀하게 배열된 액정셀(100)을 검사할 수 있도록 구성된다.

보다 상세하게는, 액정셀(100)의 컨텍패드(110)들과 대응되게 프로브핀(140)들이 배열된 프로브블럭(14)과, 상기 프로브블럭의 위치를 상기 액정셀의 컨텍패드들에 대하여 전,후로 미세하게 조정하는 x축 조정부와, 상기 프로브블럭의 위치를 상기 액정셀의 컨텍패드들에 대하여 좌,우로 미세하게 조정하는 y축 조정부로 구성 된다.

본 실시예에 따른 x축 조정부와 y축 조정부는 x,y축에 대하여 각각 이동이 가능하게 설치되는 제1,2이송블럭(11)(12)과, 상기 이송블럭을 각 방향으로 미세하게 이동시키는 제1,2마이크로헤드(21)(22) 및 고정수단으로 구성된다.

이를 위해, 점등검사장치에 고정되는 베이스(10)와, 상기 베이스상에 x축 방향으로 슬라이드 가능하게 설치되는 제1이송블럭(11)과, 상기 제1이송블럭상에 y축 방향으로 슬라이드 가능하게 설치되는 제2이송블럭(12)이 구비된다.

또한, 제1이송블럭(11)에는 제1마이크로헤드(21)가 설치되고, 제2이송블럭(12)에는 제2마이크로헤드(22)가 설치된다. 각 마이크로헤드는 공지된 바와 같이 회전방향 및 회전량에 따라 끝부분에 구비된 니들(미부호)이 전,후로 움직이도록 구성되며, 제1마이크로헤드(21)에 구비된 니들의 단부는 베이스(10)측의 대응면에 밀착되고, 제2마이크로헤드(22)에 구비된 니들의 단부는 제1이송블럭(11)의 대응면에 밀착된다.

이에 따라, 제1이송블럭(11)은 제1마이크로헤드(21)의 회전시 그 회전량에 따라 베이스(10)상에서 x축 방향으로 이동하며, 제2이송블럭(12)은 제2마이크로헤드(22)의 회전시 그 회전량에 따라 상기 제1이송블럭상에서 y축 방향으로 이동하게 된다.

한편, 각 이송블럭의 위치를 고정하기 위한 고정수단으로, 본 실시예에서는 나사의 체결력과 면의 마찰력을 이용한 고정노브(30)와 지지판(31)을 사용한다. 즉 도 1b에 도시된 바와 같이 베이스(10)에 지지판(31)을 고정하여 제1이송블럭 (11)의 측면 일부를 커버하고, 상기 제1이송블럭에 고정노브(30)를 나선결합하여 상기 지지판을 조이면, 그 조임력에 의해 상기 제1이송블럭의 위치가 고정 및 해제된다.

이에 따라, "ㄷ" 형태로 배열된 컨텍패드들에 프로브핀을 접촉시키는 컨텍과정에서 상기 프로브핀이 구비된 프로브블럭의 위치를 x,y축으로 미세하게 조정할 수 있으므로, 정확한 컨텍을 통해 검사의 정밀성을 향상시킬 수 있다. 아울러, 프로브핀(140)의 접촉시 전기신호의 효과적인 전달을 위해 일정량(대략 40um)의 오버드라이브(Over Drive)를 실시하는데, 그 과정에서 프로브핀과 컨텍패드의 손상을 방지할 수 있다.

또한, 프로브블럭(14)의 위치를 액정셀(100)의 컨텍패드들(110)에 대하여 상,하로 미세하게 조정하는 z축 조정부가 구비된다. 상기 z축 조정부는 하부에 프로브블럭(14)이 장착되며 제2이송블럭(12)에 z축 방향으로 슬라이드 가능하게 설치되는 제3이송블럭(13)과, 상기 제3이송블럭을 미세하게 이동시키는 제3마이크로헤드(23) 및 고정수단으로 구성된다. 상기 고정수단은 상술한 x,y축 조정부의 고정수단과 동일하게 구성된다.

상기 제1,2,3이송블럭의 사이에는 크로스롤러가이드(미부호)가 설치되어, 각 블럭의 이동시 발생되는 소음 및 진동을 최소화한다. 상기 크로스롤러가이드는 업계에서 널리 사용되는 이송기구로써 당업자라면 용이하게 설치할 수 있다.

이에 따라, 점등검사장치에 다수개의 액정셀이 일렬로 형성된 스틱형 패널을 거치하고, 다수개의 프로브유닛을 설치하여 상기 액정셀을 동시에 검사하고자 하는 경우, z축 조정부를 통해 각 프로브유닛에 구비된 프로브핀의 높이를 동일하게 셋팅할 수 있으므로 검사의 정확성을 향상시킬 수 있다.

또한, 프로브블럭(14)의 수평각도를 액정셀(100)의 컨텍패드(110)들에 대하여 중심선을 기준으로 미세하게 조정하는 각도조정부가 구비되며, 도 2는 도 1a의 프로브블럭을 보인 평면도이다.

도시된 바와 같이 상기 각도조정부는 블럭홀더(15)를 포함하여 구성되며, 프로브블럭(14)이 제3이송블럭(13)과 상기 프로브블럭을 연결하는 상기 블럭홀더의 하부에 장착되고, 상기 블럭홀더에 구비된 힌지핀(50)을 지점으로 회전이 가능하게 구성된다.

또한, 상기 블럭홀더에는 힌지핀(50)과 동일선상에 편심핀(40)이 구비되고, 상기 편심핀의 하부에는 편심축(41)이 형성되며, 상기 편심축은 프로브블럭에 형성된 가이드공(141)에 삽입된다.

즉, 편심핀(40)의 회전시 편심축(41)이 상기 편심핀의 중심선을 지점으로 회전되며, 그에 따라 프로브블럭(14)이 힌지핀(50)을 지점으로 회전된다. 이때, 프로브블럭(14)의 앞부분은 편심축(41)의 회전방향과 반대방향으로 회전된다.

위와 같이, 본 실시예에 따른 프로브유닛은 다수개의 컨텍패드들이 "ㄷ" 형태로 조밀하게 배열된 액정셀의 검사시, 상기 컨텍패드에 대하여 프로브블럭의 위치를 x,y,z축 방향으로 정밀하게 이동시킴과 동시에 수평각도를 조정할 수 있으므로, 신속하고 정확한 위치셋팅을 통해 검사의 정밀성을 향상시킬 수 있게 된다.

상술한 바와 같이, 본 발명은 프로브블럭의 위치를 다양한 방향으로 조정할 수 있으므로, 다수개의 컨텍패드들이 양 측부가 절곡된 "ㄷ" 형태로 배열된 액정셀의 검사가 가능함은 물론 정밀한 컨텍을 통해 검사의 정확성을 향상시킬 수 있는 효과를 가진다.

한편, 본 발명은 도면에 도시된 실시예들을 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.

Claims

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액정셀의 점등검사장치에 설치되며, 다수개의 컨텍패드들이 양 측부가 절곡된 "ㄷ" 형태로 배열된 액정셀의 점등검사에 사용하는 프로브유닛에 있어서,

상기 액정셀의 컨텍패드들과 대응되게 다수개의 프로브핀들이 양 측부가 절곡된 "ㄷ" 형태로 배열된 프로브블럭;

상기 프로브블럭의 위치를 상기 액정셀의 컨텍패드들에 대하여 전,후로 미세하게 조정하는 x축 조정수단; 및

상기 프로브블럭의 위치를 상기 액정셀의 컨텍패드들에 대하여 좌,우로 미세하게 조정하는 y축 조정수단을 포함하여 구성되고;

상기 프로브블럭의 위치를 상기 액정셀의 컨텍패드들에 대하여 상,하로 미세하게 조정하는 z축 조정부와;

상기 프로브블럭의 수평각도를 상기 액정셀의 컨텍패드들에 대하여 중심선을 기준으로 미세하게 조정하도록 하부에 상기 프로브블럭이 힌지핀에 의해 장착되는 블럭홀더와, 상기 프로브블럭에 형성되는 장공을 관통하여 상기 블록홀더에 형성되는 편심핀의 하부 일측에 장착되는 편심축으로 구성되는 각도조정부를;

더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 액정셀 검사용 프로브유닛.