KR100608327B1 - 비지에이 패키지의 적층 방법 - Google Patents

비지에이 패키지의 적층 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR100608327B1
KR100608327B1 KR1020020084407A KR20020084407A KR100608327B1 KR 100608327 B1 KR100608327 B1 KR 100608327B1 KR 1020020084407 A KR1020020084407 A KR 1020020084407A KR 20020084407 A KR20020084407 A KR 20020084407A KR 100608327 B1 KR100608327 B1 KR 100608327B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
package
solder ball
substrate
semiconductor chip
ball
Prior art date
Application number
KR1020020084407A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20040057640A (ko
Inventor
김선동
Original Assignee
매그나칩 반도체 유한회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 매그나칩 반도체 유한회사 filed Critical 매그나칩 반도체 유한회사
Priority to KR1020020084407A priority Critical patent/KR100608327B1/ko
Publication of KR20040057640A publication Critical patent/KR20040057640A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100608327B1 publication Critical patent/KR100608327B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/10Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers
    • H01L25/105Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/4824Connecting between the body and an opposite side of the item with respect to the body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73215Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/10All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
    • H01L2225/1005All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/1011All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
    • H01L2225/1017All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement the lowermost container comprising a device support
    • H01L2225/1023All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement the lowermost container comprising a device support the support being an insulating substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/10All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
    • H01L2225/1005All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/1011All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
    • H01L2225/1047Details of electrical connections between containers
    • H01L2225/1058Bump or bump-like electrical connections, e.g. balls, pillars, posts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1532Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate
    • H01L2924/1533Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate the connection portion being formed both on the die mounting surface of the substrate and outside the die mounting surface of the substrate
    • H01L2924/15331Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate the connection portion being formed both on the die mounting surface of the substrate and outside the die mounting surface of the substrate being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

본 발명은 비지에이 타입(ball grid array type)의 적층 패키지의 제조 방법에 관해 개시한 것으로서, 볼랜드 및 본드 핑거가 구비된 기판 및 다수의 사이드 패드가 구비된 반도체 칩을 각각 제공하는 단계와, 기판 위에 상기 반도체 칩을 부착시키는 단계와, 본드 핑거와 사이드 패드를 연결시키는 본딩 와이어를 형성하는 단계와, 볼랜드에 제 1솔더 볼을 부착하는 단계와, 제 1솔더 볼 및 본딩 와이어를 덮는 몰딩체를 형성하는 단계와, 기판 저면에 제 2솔더 볼을 부착하는 제 1패키지를 형성하는 단계와, 공정과 동일하게 다 수의 패키지를 제조하는 단계와, 제 1패키지 위에 다 수의 패키지를 적층하는 단계를 포함한다.

Description

비지에이 패키지의 적층 방법{method for stacking ball grid array package}
1은 종래 기술에 따른 비지에이 패키지의 적층 방법을 설명하기 위한 단면도.
도 2a 내지 도 2g는 본 발명에 따른 단품의 비지에이 패키지를 제조하는 방법을 설명하기 위한 단면도.
도 3은 본 발명에 따른 비지에이 패키지의 적층 방법을 설명하기 위한 단면도.
도 4는 본 발명의 제 2실시예에 따른 단품의 비지에이 패키지를 제조하는 방법을 설명하기 위한 단면도.
도 5는 본 발명의 제 2실시예에 따른 제 1 또는 제 2솔더 볼의 단면도.
도 6은 본 발명의 제 3실시예에 따른 단품의 비지에이 패키지의 단면도.
본 발명은 반도체 패키지의 제조 방법에 관한 것이며, 더욱 구체적으로는 비지에이 타입(ball grid array type)의 적층 패키지의 제조 방법에 관한 것이다.
반도체 산업에서 집적회로에 대한 패키징 기술은 소형화에 대한 요구 및 실장 신뢰성을 만족시키기 위해 지속적으로 발전되고 있다. 예컨데, 소형화에 대한 요구는 칩 크기에 근접한 패키지에 대한 기술 개발을 이루었으며, 실장 신뢰성에 대한 요구는 실장 작업의 효율성 및 실장후의 기계적/전기적 신뢰성을 향상시킬 수 있는 패키징 기술에 대한 중요성을 부각시키고 있다. 상기 패키지의 소형화를 이룬 예로서, 비지에이 패키지를 들 수 있다.
도 1은 종래 기술에 따른 비지에이 패키지의 적층 방법을 설명하기 위한 단면도이다.
종래 기술에 따른 비지에이 패키지는, 도 1에 도시된 바와 같이, 반도체 칩(1)이 필름 타입의 제 1기판(3) 위에 실장되고 반도체 칩(1)의 센터 패드(1a)들이 본딩 와이어(11)를 통해 기판(3)의 센터 윈도우(center window)(4)를 통해 금속배선(도시되지 않음)으로 전기적으로 연결되며, 반도체 칩(1)과 금속 와이어(11) 및 금속배선이 형성된 제 1기판(3)의 일부가 몰딩재(7)로 봉지되어 외부로부터 보호된다. 이때, 반도체 칩(1)과 제 1기판(3) 사이에 접착층(5)이 개재되어 이들 간의 접착력을 향상시킨다.
상기 구조를 가진 종래 기술에 따른 비지에이 타입 패키지를 적층하는 방법을 알아본다.
먼저, 제 1기판(3) 위에 접착층(5)을 개재시켜 반도체 칩(1)을 부착시킨다. 이어, 반도체 칩(1)의 센터 패드(1a)와 제 1기판의 배선을 연결시키는 본딩 와이어(11)를 형성한다. 그런 다음, 본딩 와이어(11)를 보호하기 위해, 센터 윈도 우(4)를 덮는 몰딩체(7)를 형성한 다음, 상기 기판 상의 배선 상에 솔더 플럭스(sold flux)를 바르고 제 1솔더 볼(9)을 부착시킨다. 이 후, 싱귤레이션(singulation)을 통해 단품의 제 1비지에이 패키지(Ⅰ) 제조를 완료한다.
이어, 상기 제 1비지에이 패키지(Ⅰ)는 제 2기판(20) 위에 부착되며, 제 2기판(20)의 저면에 제 2솔더 볼(22)을 부착시킨다.
그런 다음, 상기 공정과 동일하게 제 2, 제 3 및 제 4비지에이 패키지(Ⅱ)(Ⅲ)(Ⅳ)를 각각 제조한 다음, 상기 결과의 제 1비지에이 패키지(Ⅰ) 위에 제 2비지에이 패키지(Ⅱ)를 적층시키고, 상기 결과의 제 2비지에이 패키지 위에 제 3비지에이 패키지(Ⅲ)를 적층시킨 다음, 상기 결과의 제 3비지에이 패키지 위에 제 4비지에이 패키지(Ⅳ)를 적층시킨다.
도 1에서, 미설명된 도면부호 12는 제 2비지에이 패키지(Ⅱ)에 부착된 제 3솔더 볼을 나타낸 것이고, 도면부호 14는 제 3비지에이 패키지(Ⅲ)에 부착된 제 4솔더 볼을 나타낸 것이다.
그러나, 종래의 기술에서는 반도체 칩이 노출되어 기계적 강도가 약하게 되고, 기판으로 필름 타입을 사용함으로서 전체적인 패키지의 기계적 강도가 약하다. 또한, 사이드 패드를 가진 반도체 칩인 경우 적용이 어려운 문제점이 있었다.
이에 본 발명은 상기 종래의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 기계적 강도를 강화시킬 수 있으며, 사이드 패드를 가진 반도체 칩에도 적용할 수 있는 비 지에이 패키지의 적층 방법을 제공함에 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 비지에이 패키지의 적층 방법은 볼랜드 및 본드 핑거가 구비된 기판 및 다수의 사이드 패드가 구비된 반도체 칩을 각각 제공하는 단계와, 기판 위에 상기 반도체 칩을 부착시키는 단계와, 본드 핑거와 사이드 패드를 연결시키는 본딩 와이어를 형성하는 단계와, 볼랜드에 제 1솔더 볼을 부착하는 단계와, 제 1솔더 볼 및 본딩 와이어를 덮는 몰딩체를 형성하는 단계와, 기판 저면에 제 2솔더 볼을 부착하는 제 1패키지를 형성하는 단계와, 공정과 동일하게 다 수의 패키지를 제조하는 단계와, 제 1패키지 위에 다 수의 패키지를 적층하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 제 1및 제 2솔더 볼은 중심에는 유동성 있는 코어로 채우고, 상기 코어 외부에는 리드 솔더가 감싸는 구조를 가진다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2a 내지 도 2g는 본 발명의 제 1실시예에 따른 단품의 비지에이 패키지를 제조하는 방법을 설명하기 위한 단면도이다.
본 발명의 제 1실시예에 따른 비지에이 패키지의 적층 방법은, 도 2a에 도시된 바와 같이, 먼저 볼랜드(102) 및 본드 핑거(101)가 각각 구비된 기판(100)과 다수의 사이드(side) 패드(미도시)가 구비된 반도체 칩(110)을 각각 제공한다. 이때, 상기 볼랜드(102)는 기판(100)의 탑(top)부분과 버텀(bottom) 부분에 연결되도록 형성되며, 이후의 공정에서 상기 탑부분 및 버텀 부분에 솔더 볼이 부착된다. 또한, 상기 본드 핑거(101)는 이 후의 공정에서 본딩 와이어에 의해 반도체 칩의 칩패드와 연결된다.
이어, 도 2b에 도시된 바와 같이, 상기 기판(100) 위에 반도체 칩(110)을 부착시킨 다음, 도 2c에 도시된 바와 같이, 상기 반도체 칩(110)의 칩패드와 기판(100)의 본드 핑거(101)를 전기적으로 연결시키는 본딩 와이어(120)을 형성한다.
그런 다음, 도 2d에 도시된 바와 같이, 상기 기판의 볼랜드(102) 상에 솔더 플럭스(미도시)를 바르고 제 1솔더 볼(122)을 정렬한 다음, 리플로우(reflow) 공정을 거쳐 제 1솔더 볼(122)을 부착시킨다.
이 후, 도 2e에 도시된 바와 같이, 상기 반도체 칩, 본딩 와이어 및 제 1솔더 볼을 덮는 몰딩체(114)를 형성한다. 이때, 상기 몰딩체(114) 공정은 제 1솔더 볼(122)의 높이와 동일하게, 또는 제 1솔더 볼(122)의 높이보다 두껍게 형성한다.
이어, 도 2f에 도시된 바와 같이, 그라인딩(grinding) 공정으로 제 1솔더 볼(122)을 오픈시킨다.
그런 다음, 도 2g에 도시된 바와 같이, 상기 기판 이면(반도체 칩이 부착된 면의 반대면)의 볼랜드(102)에 솔더 플럭스를 바르고 제 2솔더 볼(124)을 정렬한 다음, 리플로우 공정을 거쳐 제 2솔더 볼(124)을 부착시켜 단품의 제 1비지에이 패키지(Ⅴ) 제조 공정을 완료한다.
도 3은 본 발명의 제 1실시예에 따른 비지에이 패키지의 적층 방법을 설명하 기 위한 단면도이다.
이 후, 상기 공정과 동일한 방법으로 단품의 제 2, 제 3 및 제 4비지에이 패키지(Ⅵ)(Ⅶ)(Ⅷ)를 제조한다.
이어, 상기 제 1비지에이 패키지(Ⅴ) 위에 제 2비지에이 패키지(Ⅵ)를 적층시킨다. 그런 다음, 상기 결과의 제 2비지에이 패키지(Ⅵ) 위에 제 3비지에이 패키지(Ⅶ)를 적층시킨다. 계속해서, 상기 결과의 제 3비지에이 패키지(Ⅶ) 위에 제 4비지에이 패키지(Ⅷ)를 적층시킨다.
도 4는 본 발명의 제 2실시예에 따른 단품의 비지에이 패키지를 제조하는 방법을 설명하기 위한 단면도이다.
본 발명의 제 2실시예에 따른 단품의 비지에이 패키지 제조 방법은, 본 발명의 제 1실시예와 동일 방법으로 형성되며, 솔더 볼 대신 외부의 압력이나 힘에 의해 유동성 있는(flexible) 특성을 가진 제 1및 제 2솔더 볼(212)(224)을 사용한다.
도 5는 본 발명의 제 2실시예에 따른 제 1 또는 제 2솔더 볼의 단면도이다.
상기 유동성있는 제 1 또는 제 2솔더 볼은, 도 5에 도시된 바와 같이, 중심에는 유동성있는 코어(core)(a)로 채우고, 상기 코어(a) 외부에는 리드 솔더(b)가 감싸고 있다.
상기 유동성있는 제 1솔더 볼(212)을 형성한 후, 몰딩체(214) 형성 공정에서 몰딩 다이(미도시)의 압력에 의해 제 1솔더 볼(212)이 수축되는 현상이 발생되나, 몰딩 공정이 완료된 다음에는 원래의 상태로 복귀된다.
본 발명의 제 2실시예에서는 유동성 있는 제 1 및 제 2솔더 볼(212)(214)을 이용함으로써, 별도의 그라인딩 공정이 불필요하다.
도 6은 본 발명의 제 3실시예에 따른 단품의 비지에이 패키지의 단면도이다.
본 발명의 제 3실시예에 따른 단품의 제 1비지에이 패키지(Ⅸ)는, 도 6에 도시된 바와 같이, 센터 패드를 가진 반도체 칩(310) 및 센터 윈도우(303)를 가진 기판(300)을 적용한 것이다.
미설명된 도면 부호 301은 볼랜드를, 314 및 314a는 몰딩체를, 322 및 324는 제 1및 제 2솔더 볼을 각각 나타낸 것이다.
이상에서와 같이, 본 발명은 사이드 패드가 구비된 반도체 칩을 적용시켜 적층 패키지를 제조 가능하다.
또한, 본 발명에서는 유동성있는 솔더 볼을 사용함으로써, 몰딩 공정 시 기존의 비지에이 패키지보다 기계적 강도가 강하며, 그라인딩 공정이 블필요하다. 따라서, 공정이 단순화된다.
기타, 본 발명은 그 요지를 일탈하지 않는 범위에서 다양하게 변경하여 실시할 수 있다.

Claims (2)

  1. 볼랜드 및 본드 핑거가 구비된 기판 및 다수의 사이드 패드가 구비된 반도체 칩을 각각 제공하는 단계와,
    상기 기판 위에 상기 반도체 칩을 부착시키는 단계와,
    상기 본드 핑거와 상기 사이드 패드를 연결시키는 본딩 와이어를 형성하는 단계와,
    상기 볼랜드에 제 1솔더 볼을 부착하는 단계와,
    상기 반도체 칩, 제 1솔더 볼 및 본딩 와이어를 덮는 몰딩체를 형성하되, 상기 제 1솔더 볼의 상부가 노출되도록 형성하는 단계와,
    상기 기판 저면에 제 2솔더 볼을 부착하는 제 1패키지를 형성하는 단계와,
    상기 공정과 동일하게 다 수의 패키지를 제조하는 단계와,
    상기 제 1패키지 위에 상기 다 수의 패키지를 적층하는 단계를 포함하고,
    상기 제 1솔더 볼은 중심에는 유동성 있는 코어로 채우고, 상기 코어 외부에는 리드 솔더가 감싸는 것을 특징으로 하는 비지에이 패키지의 적층 방법.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 제 2솔더 볼은 중심에는 유동성 있는 코어로 채우고, 상기 코어 외부에는 리드 솔더가 감싸는 것을 특징으로 하는 비지에이 패키지의 적층 방법.
KR1020020084407A 2002-12-26 2002-12-26 비지에이 패키지의 적층 방법 KR100608327B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020020084407A KR100608327B1 (ko) 2002-12-26 2002-12-26 비지에이 패키지의 적층 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020020084407A KR100608327B1 (ko) 2002-12-26 2002-12-26 비지에이 패키지의 적층 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20040057640A KR20040057640A (ko) 2004-07-02
KR100608327B1 true KR100608327B1 (ko) 2006-08-04

Family

ID=37350201

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020020084407A KR100608327B1 (ko) 2002-12-26 2002-12-26 비지에이 패키지의 적층 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100608327B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8759958B2 (en) 2009-02-20 2014-06-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor package and method of manufacturing the same

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100669830B1 (ko) 2004-11-16 2007-04-16 삼성전자주식회사 이방성 도전막을 이용한 적층 패키지
KR100674411B1 (ko) * 2005-09-29 2007-01-29 삼성전기주식회사 코어볼을 이용한 반도체 패키지 및 그 제조방법
KR100722634B1 (ko) * 2005-10-06 2007-05-28 삼성전기주식회사 고밀도 반도체 패키지 및 그 제조 방법
US7749882B2 (en) 2006-08-23 2010-07-06 Micron Technology, Inc. Packaged microelectronic devices and methods for manufacturing packaged microelectronic devices
KR100817073B1 (ko) * 2006-11-03 2008-03-26 삼성전자주식회사 휨방지용 보강부재가 기판에 연결된 반도체 칩 스택 패키지
KR20110076604A (ko) * 2009-12-29 2011-07-06 하나 마이크론(주) Pop 패키지 및 그 제조 방법
KR101740483B1 (ko) 2011-05-02 2017-06-08 삼성전자 주식회사 고정 부재 및 할로겐-프리 패키지간 연결부를 포함하는 적층 패키지
KR101923535B1 (ko) 2012-06-28 2018-12-03 삼성전자주식회사 패키지 온 패키지 장치 및 이의 제조 방법

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0613541A (ja) * 1992-03-02 1994-01-21 Motorola Inc 積層可能な三次元マルチチップ半導体デバイスとその製法
JPH06268101A (ja) * 1993-03-17 1994-09-22 Hitachi Ltd 半導体装置及びその製造方法、電子装置、リ−ドフレ−ム並びに実装基板
KR19990086915A (ko) * 1998-05-30 1999-12-15 김영환 비지에이 반도체 패키지 및 그 제조방법
KR20010004610A (ko) * 1999-06-29 2001-01-15 김영환 트랜스퍼 몰드형 칩 사이즈 패키지 및 그의 제조 방법
JP2002170906A (ja) 2000-12-04 2002-06-14 Fujitsu Ltd 半導体装置及び半導体装置の製造方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0613541A (ja) * 1992-03-02 1994-01-21 Motorola Inc 積層可能な三次元マルチチップ半導体デバイスとその製法
JPH06268101A (ja) * 1993-03-17 1994-09-22 Hitachi Ltd 半導体装置及びその製造方法、電子装置、リ−ドフレ−ム並びに実装基板
KR19990086915A (ko) * 1998-05-30 1999-12-15 김영환 비지에이 반도체 패키지 및 그 제조방법
KR20010004610A (ko) * 1999-06-29 2001-01-15 김영환 트랜스퍼 몰드형 칩 사이즈 패키지 및 그의 제조 방법
JP2002170906A (ja) 2000-12-04 2002-06-14 Fujitsu Ltd 半導体装置及び半導体装置の製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8759958B2 (en) 2009-02-20 2014-06-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor package and method of manufacturing the same

Also Published As

Publication number Publication date
KR20040057640A (ko) 2004-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5095074B2 (ja) パッケージ積層構造
US8076770B2 (en) Semiconductor device including a first land on the wiring substrate and a second land on the sealing portion
US4974057A (en) Semiconductor device package with circuit board and resin
US6713857B1 (en) Low profile stacked multi-chip semiconductor package with chip carrier having opening and fabrication method of the semiconductor package
KR100477020B1 (ko) 멀티 칩 패키지
JP5227501B2 (ja) スタックダイパッケージ及びそれを製造する方法
KR100510556B1 (ko) 초박형 반도체 패키지 및 그 제조방법
US20060292743A1 (en) Stacked die in die BGA package
US6724090B2 (en) Multi-chip package and method for manufacturing the same
KR20050119414A (ko) 에지 패드형 반도체 칩의 스택 패키지 및 그 제조방법
WO2006020452A1 (en) Low profile, chip-scale package and method of fabrication
US8164189B2 (en) Multi-chip semiconductor device
US8169089B2 (en) Semiconductor device including semiconductor chip and sealing material
CN101872757A (zh) 凹穴芯片封装结构及使用其的层叠封装结构
KR100608327B1 (ko) 비지에이 패키지의 적층 방법
KR100673379B1 (ko) 적층 패키지와 그 제조 방법
KR100788341B1 (ko) 칩 적층형 반도체 패키지
KR100443516B1 (ko) 적층 패키지 및 그 제조 방법
JPH10335366A (ja) 半導体装置
KR100610916B1 (ko) 반도체패키지
KR100437821B1 (ko) 반도체 패키지 및 그 제조방법
KR101096441B1 (ko) 박형 패키지 및 이를 이용한 멀티 패키지
JPH0810746B2 (ja) メモリーモジュール
KR100351925B1 (ko) 적층형 반도체 패키지
KR100279249B1 (ko) 적층형패키지및그의제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130620

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140618

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150617

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160620

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170626

Year of fee payment: 12

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180618

Year of fee payment: 13

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190619

Year of fee payment: 14