KR100596054B1 - 유리기판의 검사시스템 - Google Patents
유리기판의 검사시스템 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100596054B1 KR100596054B1 KR1020020067196A KR20020067196A KR100596054B1 KR 100596054 B1 KR100596054 B1 KR 100596054B1 KR 1020020067196 A KR1020020067196 A KR 1020020067196A KR 20020067196 A KR20020067196 A KR 20020067196A KR 100596054 B1 KR100596054 B1 KR 100596054B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- glass substrate
- motion
- transfer
- air
- inspection
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68714—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
- H01L21/68742—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by a lifting arrangement, e.g. lift pins
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2201/00—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
- G02F2201/58—Arrangements comprising a monitoring photodetector
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2203/00—Function characteristic
- G02F2203/69—Arrangements or methods for testing or calibrating a device
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Immunology (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
Claims (19)
- 유리기판의 이송라인에 인라인으로 설치되는 베이스프레임과;상기 베이스프레임의 상부에 상기 유리기판의 이송라인과 정렬되는 상기 유리기판의 이송위치와 검사위치 사이를 운동할 수 있도록 설치되는 모션프레임과;상기 유리기판의 이송위치와 검사위치 사이에서 상기 모션프레임을 운동시키는 작동수단과;상기 모션프레임의 전방에 상기 모션프레임의 운동에 의하여 상기 유리기판의 이송위치와 검사위치 각각에 정렬될 수 있도록 설치되며, 상기 유리기판의 이송위치에서 상기 유리기판의 이송라인으로부터 상기 유리기판을 인수하여 이송시키는 메인이송수단과;상기 모션프레임의 후방에 상기 모션프레임의 운동에 의하여 상기 메인이송수단이 상기 유리기판의 검사위치에 정렬될 때 상기 유리기판의 이송위치에 정렬될 수 있도록 설치되고, 상기 유리기판의 이송위치에서 상기 유리기판의 이송라인으로부터 상기 유리기판을 인수하여 이송시키는 서브이송수단과;상기 메인이송수단의 후방에 상기 유리기판을 조명할 수 있도록 설치되는 복수의 형광램프와, 상기 메인이송수단과 형광램프 사이에 암흑의 배경시야를 형성할 수 있도록 설치되며 상기 형광램프와 정렬되는 복수의 투광창이 형성되어 있는 백스크린과, 상기 백스크린의 투광창을 통한 상기 형광램프의 빛을 선택적으로 차단하는 복수의 셔터수단으로 구성되는 제1 조명수단을 포함하는 유리기판의 검사시스템.
- 제 1 항에 있어서, 상기 작동수단은 상기 모션프레임을 직선왕복운동시키는 Y축리니어모션액츄에이터로 구성되고, 상기 Y축리니어모션액츄에이터는 상기 베이스프레임에 장착되어 구동력을 제공하는 서보모터와, 상기 서보모터의 구동에 의하 여 회전할 수 있도록 장착되는 리드스크루와, 상기 모션프레임에 상기 리드스크루를 따라 나사운동할 수 있도록 장착되는 볼부시와, 상기 베이스프레임에 대하여 상기 모션프레임의 직선왕복운동을 가이드하는 리니어모션가이드로 구성되는 유리기판의 검사시스템.
- 제 1 항에 있어서, 상기 메인이송수단은,상기 모션프레임의 전방에 경사지게 설치되는 프론트슬랜트림과;상기 프론트슬랜트림의 하부에 상기 유리기판의 하단을 지지하여 이송할 수 있도록 설치되는 프론트컨베이어와;상기 프론트슬랜트림으로부터 상기 유리기판을 공기의 블로잉에 의하여 부양시키는 에어플로팅수단으로 구성되는 유리기판의 검사시스템.
- 제 3 항에 있어서, 상기 에어플로팅수단은,상기 프론트슬랜트림의 전방에 상기 유리기판의 이송방향을 따라 수평으로 설치되며, 상기 유리기판의 후면에 공기를 분출하는 다수의 노즐구멍이 길이방향을 따라 형성되어 있는 복수의 에어블로잉파이프와;상기 프론트슬랜트림에 대하여 상기 복수의 에어블로잉파이프 각각을 상하로 승강운동시키는 복수의 에어슬라이드실린더로 구성되는 유리기판의 검사시스템.
- 제 3 항에 있어서, 상기 메인이송수단의 프론트슬랜트림에 상기 유리기판의 이송을 감지하여 상기 프론트컨베이어의 작동을 제어할 수 있도록 상기 유리기판의 이송방향을 따라 설치되는 제1 센서와 제2 센서를 더 구비하는 유리기판의 검사시스템.
- 제 3 항 또는 제 4 항에 있어서, 상기 프론트슬랜트림의 상부에 상기 유리기판의 상단을 지지하여 안내할 수 있도록 설치되는 가이드수단을 더 구비하는 유리기판의 검사시스템.
- 제 6 항에 있어서, 상기 가이드수단은,상기 프론트슬랜트림의 상부에 승강운동할 수 있도록 상기 유리기판의 이송방향을 따라 수평으로 장착되는 서포트바와;상기 서포트바의 하부에 샤프트를 중심으로 회전하여 상기 유리기판의 상단을 지지할 수 있도록 장착되는 다수의 테이퍼롤러와;상기 프론트슬랜트림에 대하여 상기 서포트바를 승강운동시키는 복수의 에어슬라이드실린더로 구성되는 유리기판의 검사시스템.
- 제 3 항 또는 제 4 항에 있어서, 상기 프론트슬랜트림의 한쪽에 상기 유리기판의 일측단을 클램핑할 수 있도록 설치되는 클램핑수단을 더 구비하는 유리기판의 검사시스템.
- 제 8 항에 있어서, 상기 클램핑수단은,상기 프론트슬랜트림의 한쪽에 피봇을 중심으로 회전하여 상기 유리기판의 일측단을 클램핑할 수 있도록 장착되어 있는 캐처핑거와;상기 프론트슬랜트림에 장착되고, 상기 유리기판을 클램핑할 수 있도록 상기 피봇을 중심으로 상기 캐처핑거를 회전시키는 실린더로드를 갖는 에어실린더로 구성되는 유리기판의 검사시스템.
- 제 1 항에 있어서, 상기 서브이송장치는,상기 모션프레임의 후방에 경사지게 설치되는 리어슬랜트림과;상기 리어슬랜트림의 하부에 상기 유리기판의 하단을 지지하여 이송할 수 있도록 설치되는 리어컨베이어와;상기 리어슬랜트림의 전방에 상기 유리기판의 이송방향을 따라 수평으로 설치되며, 상기 유리기판의 후면에 공기를 분출하는 다수의 노즐구멍이 길이방향을 따라 형성되어 있는 복수의 에어블로잉파이프와;상기 리어슬랜트림에 상기 유리기판을 감지하여 상기 리어컨베이어의 작동을 제어할 수 있도록 상기 유리기판의 이송방향을 따라 설치되는 제1 센서와 제2 센서로 구성되는 유리기판의 검사시스템.
- 삭제
- 제 1 항에 있어서, 상기 셔터수단은,상기 형광램프와 백스크린 사이에 상기 백스크린의 투광창을 열고 닫을 수 있도록 장착되는 셔터와;상기 백스크린의 투광창을 차단하는 폐쇄위치와 개방하는 개방위치 사이에서 상기 셔터를 운동시키는 에어실린더로 구성되는 유리기판의 검사시스템.
- 제 1 항에 있어서, 상기 메인이송수단의 전방에 설치되어 상기 유리기판에 대하여 순광을 투사하는 제2 조명수단을 더 포함하는 유리기판의 검사시스템.
- 제 13 항에 있어서, 상기 제2 조명수단은,상기 메인이송수단의 전방에 배치되는 복수의 할로겐램프와;상기 메인이송수단에 상기 할로겐램프를 X축방향으로 운동시킬 수 있도록 설치되는 X축리니어모션가이드와, 상기 X축리니어모션가이드에 상기 할로겐램프를 Y축방향으로 운동시킬 수 있도록 설치되는 Z축리니어모션가이드를 갖는 직교좌표운동수단으로 구성되는 유리기판의 검사시스템.
- 제 14 항에 있어서, 상기 X축리니어모션가이드는,상기 메인이송수단의 하부에 X축방향으로 장착되는 가이드바와;상기 가이드바를 따라 슬라이딩운동할 수 있도록 장착되는 로워슬라이드와;상기 메인이송수단의 상부에 상기 가이드바와 평행하도록 X축방향으로 장착되는 가이드레일과;상기 가이드레일을 따라 슬라이딩운동할 수 있도록 장착되는 어퍼슬라이드와;상기 로워슬라이드와 어퍼슬라이드에 연결되는 모션포스트로 구성되는 유리기판의 검사시스템.
- 제 14 항에 있어서, 상기 Z축리니어모션가이드는,상기 X축리니어모션가이드를 구성하는 모션포스트를 따라 장착되는 가이드레일과;상기 가이드레일을 따라 승강운동할 수 있도록 장착되어 있는 슬라이드와;상기 슬라이드에 고정되고, 상기 복수의 할로겐램프가 탑재되는 캐리지로 구성되는 유리기판의 검사시스템.
- 제 14 항 또는 제 16 항에 있어서, 상기 복수의 할로겐램프는 상기 캐리지에 다자유도운동할 수 있도록 장착되는 선형의 할로겐램프와 원형의 할로겐램프로 이 루어지는 유리기판의 검사시스템.
- 제 16 항에 있어서, 상기 복수의 할로겐램프가 탑재되어 있는 상기 캐리지가 견인력의 제거시 그 자리에 고정될 수 있도록 붙잡는 홀딩수단을 더 포함하는 유리기판의 검사시스템.
- 제 18 항에 있어서, 상기 홀딩수단은,상기 캐리지의 상부에 일단이 연결되는 와이어와;상기 X축리니어모션가이드를 구성하는 모션포스트의 상부에 상기 와이어를 감아걸어 가이드할 수 있도록 장착되는 풀리와;상기 모션포스트의 하부에 상기 모션포스트와 평행하도록 장착되며, 상기 와이어의 타단이 연결되는 실린더로드를 갖는 에어실린더와;상기 에어실린더의 실린더로드가 전진 또는 후퇴되는 것에 따라 상기 에어실린더의 공기압력을 제어하는 레귤레이터로 구성되는 유리기판의 검사시스템.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020020067196A KR100596054B1 (ko) | 2002-10-31 | 2002-10-31 | 유리기판의 검사시스템 |
TW092130249A TWI250277B (en) | 2002-10-31 | 2003-10-30 | Glass substrate inspecting system |
CNB2003101156678A CN1237341C (zh) | 2002-10-31 | 2003-10-31 | 玻璃基板的检查系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020020067196A KR100596054B1 (ko) | 2002-10-31 | 2002-10-31 | 유리기판의 검사시스템 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20040038300A KR20040038300A (ko) | 2004-05-08 |
KR100596054B1 true KR100596054B1 (ko) | 2006-07-03 |
Family
ID=34270520
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020020067196A KR100596054B1 (ko) | 2002-10-31 | 2002-10-31 | 유리기판의 검사시스템 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100596054B1 (ko) |
CN (1) | CN1237341C (ko) |
TW (1) | TWI250277B (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105891221A (zh) * | 2016-06-12 | 2016-08-24 | 佛山市联智新创科技有限公司 | 一种导光板检查机构 |
KR20220114706A (ko) * | 2021-02-09 | 2022-08-17 | 주식회사 지원오토 | 복층유리 제조시스템의 유리 검사장치 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100648468B1 (ko) * | 2004-07-28 | 2006-11-24 | 주식회사 디이엔티 | 다종 유리 기판 검사 장치 및 검사 방법 |
KR100717969B1 (ko) * | 2004-11-01 | 2007-05-14 | 주식회사 에이디피엔지니어링 | 기판 외관 검사 장치 |
TWI393875B (zh) * | 2004-09-27 | 2013-04-21 | Olympus Corp | 基板檢測裝置之固持器及基板檢測裝置 |
KR100804978B1 (ko) * | 2006-06-22 | 2008-02-20 | 삼성코닝정밀유리 주식회사 | 유리기판 면취면의 결함 검사장치 |
CN103411788A (zh) * | 2013-08-20 | 2013-11-27 | 西北工业大学 | 一种用于汽车挡风玻璃的通用夹持装置 |
CN105319224B (zh) * | 2014-06-30 | 2019-11-15 | 安瀚视特控股株式会社 | 玻璃板制造方法以及玻璃板制造装置 |
US10441174B2 (en) * | 2016-02-17 | 2019-10-15 | Tesseract Health, Inc. | Sensor and device for lifetime imaging and detection applications |
CN109668831B (zh) * | 2019-01-24 | 2021-04-02 | 合肥工业大学 | 一种液晶显示屏缺陷自动光学检测仪器圆带传输装置 |
CN111189854B (zh) * | 2020-04-13 | 2020-08-07 | 征图新视(江苏)科技股份有限公司 | 玻璃盖板自动检测系统缺陷分层检测方法 |
CN113466262B (zh) * | 2021-08-18 | 2024-02-23 | 上海麟图智能科技有限公司 | 一种用于检测手表盖板玻璃外观缺陷的设备及其使用方法 |
CN114705687B (zh) * | 2022-03-24 | 2024-10-01 | 石家庄旭新光电科技有限公司 | 一种液晶玻璃基板半成品检验系统及检验方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10132706A (ja) * | 1996-11-01 | 1998-05-22 | Micronics Japan Co Ltd | 液晶表示パネルの検査装置 |
KR19990064648A (ko) * | 1999-04-23 | 1999-08-05 | 정문술 | 엘씨디(lcd)핸들러 |
JPH11288097A (ja) * | 1998-04-03 | 1999-10-19 | Nippon Densan Shinpo Kk | 露光装置 |
KR20020046160A (ko) * | 2000-12-08 | 2002-06-20 | 무네유키 가코우 | 기판반송장치 및 방법 |
KR20020065104A (ko) * | 2001-02-05 | 2002-08-13 | 메카텍스 (주) | 패널 공급장치 |
KR20020068906A (ko) * | 2001-02-23 | 2002-08-28 | 아이티에스테크놀러지 주식회사 | 기판 자동검사장치 |
KR20020083291A (ko) * | 2001-04-26 | 2002-11-02 | 주식회사 엘지이아이 | 액정표시장치 글래스 검사장비 |
-
2002
- 2002-10-31 KR KR1020020067196A patent/KR100596054B1/ko active IP Right Grant
-
2003
- 2003-10-30 TW TW092130249A patent/TWI250277B/zh not_active IP Right Cessation
- 2003-10-31 CN CNB2003101156678A patent/CN1237341C/zh not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10132706A (ja) * | 1996-11-01 | 1998-05-22 | Micronics Japan Co Ltd | 液晶表示パネルの検査装置 |
JPH11288097A (ja) * | 1998-04-03 | 1999-10-19 | Nippon Densan Shinpo Kk | 露光装置 |
KR19990064648A (ko) * | 1999-04-23 | 1999-08-05 | 정문술 | 엘씨디(lcd)핸들러 |
KR20020046160A (ko) * | 2000-12-08 | 2002-06-20 | 무네유키 가코우 | 기판반송장치 및 방법 |
KR20020065104A (ko) * | 2001-02-05 | 2002-08-13 | 메카텍스 (주) | 패널 공급장치 |
KR20020068906A (ko) * | 2001-02-23 | 2002-08-28 | 아이티에스테크놀러지 주식회사 | 기판 자동검사장치 |
KR20020083291A (ko) * | 2001-04-26 | 2002-11-02 | 주식회사 엘지이아이 | 액정표시장치 글래스 검사장비 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105891221A (zh) * | 2016-06-12 | 2016-08-24 | 佛山市联智新创科技有限公司 | 一种导光板检查机构 |
CN105891221B (zh) * | 2016-06-12 | 2018-12-28 | 惠州安嵘光电产品有限公司 | 一种导光板检查机构 |
KR20220114706A (ko) * | 2021-02-09 | 2022-08-17 | 주식회사 지원오토 | 복층유리 제조시스템의 유리 검사장치 |
KR102485468B1 (ko) | 2021-02-09 | 2023-01-06 | 주식회사 지원오토 | 복층유리 제조시스템의 유리 검사장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI250277B (en) | 2006-03-01 |
TW200412430A (en) | 2004-07-16 |
CN1237341C (zh) | 2006-01-18 |
CN1501075A (zh) | 2004-06-02 |
KR20040038300A (ko) | 2004-05-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100596054B1 (ko) | 유리기판의 검사시스템 | |
US6359686B1 (en) | Inspection system for sheet material | |
CN101407283B (zh) | 衬底输送装置 | |
KR100596050B1 (ko) | 유리기판의 이송시스템 | |
TWI393878B (zh) | 面板檢測裝置及檢測面板的方法 | |
KR101720008B1 (ko) | 제품의 분류 장치 | |
JP2010101691A (ja) | 樹脂成型品の外観検査装置及びその外観検査方法 | |
CN218554832U (zh) | 一种光学掩模版基板缺陷检验系统 | |
KR100756519B1 (ko) | 글라스 절단 시스템 및 절단 위치 검사 방법 | |
CN110823912A (zh) | 基于机器视觉的瓷环涂层缺陷检测系统及检测方法 | |
KR101704473B1 (ko) | 윈도우 글라스 검사장치 | |
KR100596048B1 (ko) | 유리기판의 에지 검사시스템 | |
CN113567360B (zh) | 一种兼容多款产品的色差光泽检测装置及其操作方法 | |
KR100804978B1 (ko) | 유리기판 면취면의 결함 검사장치 | |
KR100535563B1 (ko) | 틸팅 이송 라인스캔 검사방법 | |
KR100690210B1 (ko) | 모니터 패널용 글라스의 복합 표면검사 시스템 | |
KR100490952B1 (ko) | 스테이지 방식을 갖는 다목적 광학 검사용 디스플레이패널 이송장치 | |
KR100444251B1 (ko) | 오토 프로브 유닛용 패널 캐리어의 액정패널 자동파지장치 | |
JP2012182273A (ja) | ガラス基板インライン検査方法及びその装置 | |
CN210059028U (zh) | 全方位缺陷检测设备 | |
KR100516070B1 (ko) | 틸팅 이송 라인스캔 검사 시스템 | |
KR20200062417A (ko) | 기판 검사 장치 및 기판 검사 방법 | |
CN110491814A (zh) | 一种工件自动传输装置及其自动传输方法 | |
KR20040050782A (ko) | 음극선관용 패널 검사시스템 및 그 방법 | |
CN220795076U (zh) | 一种玻璃瓶检测设备 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130327 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140311 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150302 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160329 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170329 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180329 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190325 Year of fee payment: 14 |