KR100587439B1 - 발광 다이오드 및 발광 소자를 배열하기 위한 방법 및 장치 - Google Patents

발광 다이오드 및 발광 소자를 배열하기 위한 방법 및 장치 Download PDF

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도요다 고세이 가부시키가이샤
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    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Abstract

측정 후에, 발광 소자는 측정 순서대로 (1),...로 번호가 임시 부여되고 임시 팔렛 상에 연속적으로 배열된다. 이 작동과 동시에, 측정된 광도 데이타는 임시 번호(1),...와 관련되어 컴퓨터 시스템에 입력된다. 컴퓨터 시스템에 있어서, 측정된 광도 데이타는 인접 발광 소자의 광도치가 실질적으로 균등하게 되도록 소정의 알고리즘에 따라 재배열되어, 임시 번호 (1),...가 재배열된 데이타에 따라 메모리 상에서 재배열된다. 재배열된 데이타는 컴퓨터 시스템에서 로봇으로 송신되어, 임시 팔렛 상의 발광 소자는 테이핑 상에 배열된다.
LED/발광 소자, 특성치 측정 유닛, 임시 보유 유닛, 특성치 기억 유닛, 배열 순서 계산 유닛, 이동 배열 유닛

Description

발광 다이오드 및 발광 소자를 배열하기 위한 방법 및 장치{METHOD AND APPARATUS FOR ARRANGING LIGHT-EMITTING DIODES AND LIGHT-EMITTING ELEMENTS}
도1은 발명의 제1 실시예에 따라 LED를 배열하기 위한 방법을 도시하는 전방도.
도2은 발명의 제2 실시예에 따라 발광 소자를 배열하기 위한 방법을 도시하는 전방도.
도3은 발명의 제3 실시예에 따라 발광 소자를 배열하기 위한 장치의 전체 구성을 도시하는 사시도.
도4는 관련 기술에 따라 LED를 공급하는 방법의 예를 도시하는 전방도.
도5는 관련 기술에 따라 발광 소자를 공급하는 방법의 예를 도시하는 전방도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
1: LED
6: 팔렛
8: 발광 소자
12: 리드
13 : 발광부
27 : 컴퓨터 시스템
본 발명은 그 전체 내용이 본원에서 참조되는 일본 특허 출원 제2002-201358호에 근거한 것이다.
본 발명은 디스플레이 등의 인접 발광 다이오드(LED) 또는 발광 소자의 특성이 실질적으로 균등하게 되도록 공급될 발광 다이오드 또는 발광 소자를 배열하기 위한 방법 및 장치에 관한 것이다.
부수적으로는, 본 명세서에 있어서, 발광 다이오드는 그 자체로 "발광 소자"로 지칭되고 LED 칩이 장착되는 렌즈 시스템 또는 봉합 수지와 같은 광학 장비를 구비한 집적 장비는 "발광 다이오드" 또는 "LED"로 지칭된다.
제조된 LED의 특성이 검사된 후에, LED는 검사 순서 또는 무작위로 배열되어 소비자에게 공급된다. 예컨대, 도4에서 도시된 테이핑(taping)은 공급 방법으로 사용된다. 이 방법에 있어서, 특성 검사 결과는 임의의 특성(예컨대, 광도)에 의해 소정의 등급으로 순위가 매겨진다. 동일한 순위의 LED(11)는 발광부(13)에서 연장된 리드(12)를 통해 주름진 보드 테이프(14) 상에 놓인다. 리드(12)는 LED(11)가 고정되도록 위로부터 감압 접착 테이프(15)에 의해 주름진 보드 테이프(14) 상에 고착된다. "순위를 매긴다"라는 용어는 임의의 특성치에 대해 임의의 폭으로 발광 소자/LED를 분류한다는 것을 의미한다.
방법은 발광 소자의 단계에 또한 적용된다. 즉, 발광 소자의 특성 검사의 결과로서 동일한 순위의 발광 소자(18)는 도5에 도시된 바와 같이 배열된 복수의 오목부(17)를 갖는 팔렛(16) 상에 놓인다.
그러나, 각 순위는 상당히 광범위하다. 이에 따라, 동일한 광도 순위의 복수의 LED가 사용을 위해 배열되는 경우에, 높은 광도 순위의 LED와 낮은 광도 순위의 LED가 상호 인접하게 배열되기 때문에 광도가 다양하다는 단점이 존재할 수도 있다. 이러한 경우에, 전체적으로 광도의 균형을 맞추기 위해서 높은 광도의 LED에 저항기가 인가되어야 한다. 이는 매우 곤란하다. 동일한 일은 방출광의 파장 및 순전압과 같은 특성치에서도 발생한다. 동일한 순위의 LED 또는 발광 소자가 사용을 위해 배열되는 경우에도, 인접 LED/발광 소자의 특성이 다양하기 때문에 불균일한 외관이 광 방출의 편차에 의해 유발된다는 문제가 있다.
따라서, 발명의 목적은 인접 LED/발광 소자의 특성을 편차없이 실질적으로 균등하게 하도록 LED 및 발광 소자를 배열하기 위한 방법 및 장치를 제공하는 것이다. 부수적으로, 발명은 제조되지만 정렬되지 않은 발광 소자/LED의 배열에 적용될 수도 있고 미리 순위가 매겨진 발광 소자/LED의 배열에 적용될 수도 있다.
발명은 LED를 배열하는 방법을 제공하며, 상기 방법은 LED 상에서 특성 측정을 수행함으로써 LED의 소정의 특성치를 달성하여 LED에 따라 측정된 특성치를 기억하는 단계와, 특성치를 기억한 후에 LED를 임시 보유하는 단계와, 소정의 개수의 LED가 수집되는 시점에서 인접 LED의 소정의 특성치를 실질적으로 균등하게 하도록 소정 개수의 LED를 재배열하는 단계를 포함한다.
이 방법에 있어서, LED의 모든 특성치는 그 값이 균등하게 되도록 요구되는 LED의 (방출광의 파장, 광도, 및 순전압과 같은) 특성중 하나의 값이 측정된 후에 LED에 따라 기억된다. 그런 후, LED는 임시 보유되어 소정 개수의 LED가 수집되는 시점에서 인접 LED의 특성치가 실질적으로 균등하게 되도록 재배열된다.
이에 따라, 소비자 또는 다음 공정으로 공급된 LED가 배열 순서대로 사용되는 경우에, LED가 인접 LED의 특성치와 실질적으로 균등하게 되도록 배열되기 때문에 인접 LED는 편차없이 균일한 방식으로 빛을 방출할 수 있다.
이 방식으로, 인접 LED의 특성이 실질적으로 균등하게 형성되기 때문에, 특성에 대해 편차없이 LED를 배열하기 위한 방법이 제공될 수 있다.
발명에 따른 LED를 배열하기 위한 방법에 있어서, 바람직하게는, 인접 LED는 하나의 LED의 특성치가 다른 LED보다 크지 않도록 배열된다.
이에 따라, LED는 최소 특성치에서 최대 특성치로 배열되어, 인접 LED의 특성치 사이의 차이는 전체적으로 최소화된다. 이 방식으로, 인접 LED의 특성이 실질적으로 균등하게 되기 때문에, 특성에 대해 편차없이 LED를 배열하기 위한 방법이 제공될 수 있다.
본 발명은 발광 소자를 배열하는 방법을 또한 제공하며, 상기 방법은 상기 방법은 발광 상에서 특성 측정을 수행함으로써 발광 소자의 소정의 특성치를 달성하여 발광 소자에 따라 측정된 특성치를 기억하는 단계와, 특성치를 기억한 후에 발광 소자를 임시 보유하는 단계와, 소정의 개수의 발광 소자가 수집되는 시점에서 인접 발광 소자의 소정의 특성치를 실질적으로 균등하게 하도록 소정 개수의 발광 소자를 재배열하는 단계를 포함한다.
이 방법에서, 발광 소자의 모든 특성치는 그 값이 균등하게 되도록 요구되는 발광 소자의 (방출광의 파장, 광도, 및 순전압과 같은) 특성중 하나의 값이 측정된 후에 발광 소자에 따라 기억된다. 그런 후, 발광 소자는 임시 보유되어 소정 개수의 발광 소자가 수집되는 시점에서 인접 발광 소자의 특성치가 실질적으로 균등하게 되도록 재배열된다.
이에 따라, 소비자 또는 다음 공정으로 공급된 발광 소자가 배열 순서대로 사용되는 경우에, 발광 소자가 인접 발광 소자의 특성치와 실질적으로 균등하게 되도록 하게 되도록 문에 인접 발광 소자는 편차없이 균일한 방식으로 빛을 방출할 수 있다.
이 방식으로, 인접 발광 소자의 특성이 실질적으로 균등하게 되기 때문에, 특성에 대해 편차없이 발광 소자를 배열하기 위한 방법이 제공될 수 있다.
발명에 따른 발광 소자를 배열하기 위한 방법에 있어서, 바람직하게는, 인접 발광 소자는 하나의 발광 소자의 특성치가 다른 발광 소자보다 크지 않도록 배열된다.
이에 따라, 발광 소자는 최소 특성치에서 최대 특성치로 배열되어, 인접 발광 소자의 특성치 사이의 차이는 전체적으로 최소화된다. 이 방식으로, 인접 발광 소자의 특성이 실질적으로 균등하게 되기 때문에, 특성에 대해 편차없이 발광 소자를 배열하기 위한 방법이 제공될 수 있다.
발명은 LED를 배열하는 장치를 추가로 제공하며, 상기 장치는 LED 상에서 특성 측정을 수행함으로써 LED의 소정의 특성치를 획득하는 특성치 측정 유닛, 측정 순서대로 LED에 번호를 부여하면서 특성 측정될 LED를 임시 보유하는 임시 보유 유닛, LED의 번호와 관련된 LED의 특성치를 기억하기 위한 특성치 기억 유닛, LED의 인접한 것의 특성치 사이의 차이가 모든 LED에 걸쳐 최소화되도록 컴퓨터에 의해 LED의 배열 순서를 재형성하는 배열 순서 계산 유닛, 및 LED를 임시 보유 유닛에서 규칙적 공급 유닛으로 이동시키고 배열 순서 계산 유닛에 의해 재형성된 배열 순서에 따라 LED를 배열하는 이동 배열 유닛을 포함한다.
이 방법에서, 발명에 따라 LED를 배열하기 위한 장치에 있어서, 그 값이 균등하게 되도록 요구되는 LED의 (방출광의 파장, 광도, 및 순전압과 같은) 특성중 하나의 값은 특성치 측정 유닛에 의해 측정되고 LED는 임시 번호를 LED에 각각 부여하면서 임시 보유 유닛에 의해 보유된다. LED의 특성치가 임시 번호에 관련되어 특성치 기억 유닛에 의해 기억되기 때문에, LED의 배열 순서는 인접 LED의 특성치 사이의 차이가 전체적으로 최소되도록 배열 순서 계산 유닛에 의해 재형성된다. LED는 임시 기억 유닛에서 규칙적 공급 유닛(테이핑, 팔렛, 시트등)으로 이동되어 이동 배열 유닛에 의해 배열 순서에 따라 배열된다.
이에 따라, 소비자 또는 다음 공정으로 공급된 LED가 공급 유닛에서 배열 순서로 사용되는 경우에, LED가 인접 LED의 특성치를 실질적으로 균등하게 하도록 배열되기 때문에 인접 LED는 편차없이 균일한 방식으로 빛을 방출할 수 있다.
이 방식으로, 인접 LED의 특성이 실질적으로 균등하게 되기 때문에, 특성에 대해 편차없이 LED를 배열하기 위한 장치가 제공될 수 있다.
발명에 따른 LED를 배열하기 위한 장치에 있어서, 바람직하게는, 인접 LED는 하나의 LED의 특성치가 다른 LED보다 크지 않도록 배열된다.
이에 따라, LED는 최소 특성치에서 최대 특성치로 배열되어, 인접 LED의 특성치 사이의 차이는 전체적으로 최소화된다. 이 방식으로, 인접 LED의 특성이 실질적으로 균등하게 되기 때문에, 특성에 대해 편차없이 LED를 배열하기 위한 장치가 제공될 수 있다.
발명은 발광 소자를 배열하는 장치를 추가로 제공하고, 상기 장치는 발광 소자 상에서 특성 특정을 수행함으로써 발광 소자의 소정의 특성치를 획득하는 특성치 측정 유닛, 측정 순서대로 발광 소자에 번호를 부여하면서 특성 측정될 발광 소자를 임시 보유하는 임시 보유 유닛, 발광 소자의 번호와 관련된 발광 소자의 특성치를 기억하기 위한 특성치 기억 유닛, 발광 소자의 인접한 것의 특성치 사이의 차이가 모든 발광 소자에 걸쳐 최소화되도록 컴퓨터에 의해 발광 소자의 배열 순서를 재형성하기 위한 배열 순서 계산 유닛, 및 발광 소자를 임시 보유 유닛에서 규칙적 공급 유닛으로 이동시키고 배열 순서 계산 유닛에 의해 재형성된 배열 순서에 따라 발광 소자를 배열하는 이동 배열 유닛을 포함한다.
이 방법에 있어서, 발명에 따라 발광 소자를 배열하기 위한 장치에 있어서, 그 값이 균등하게 되도록 요구되는 발광 소자의 (방출광의 파장, 광도, 및 순전압과 같은) 특성중 하나의 값은 특성치 측정 유닛에 의해 측정되고 발광 소자는 임시 번호가 발광 소자에 각각 부여되면서 임시 보유 유닛에 의해 보유된다. 발광 소자의 특성치가 임시 번호에 관련되어 특성치 기억 유닛에 의해 기억되기 때문에, 발광 소자의 배열 순서는 인접 발광 소자의 특성치 사이의 차이가 전체적으로 최소화되도록 배열 순서 계산 유닛에 의해 재형성된다. 발광 소자는 임시 기억 유닛에서 규칙적 공급 유닛(테이핑, 팔렛, 시트등)으로 이동되어 이동 배열 유닛에 의해 배열 순서에 따라 배열된다.
이에 따라, 소비자 또는 다음 공정으로 공급된 발광 소자가 공급 유닛에서 배열 순서로 사용되는 경우에, 발광 소자가 인접 발광 소자의 특성치를 실질적으로 균등하게 하도록 배열되기 때문에 인접 발광 소자는 편차없이 균일한 방식으로 빛을 방출할 수 있다.
이 방식으로, 인접 발광 소자의 특성이 실질적으로 균등하게 되기 때문에, 특성에 대해 편차없이 발광 소자를 배열하기 위한 장치가 제공될 수 있다.
발명에 따른 발광 소자를 배열하기 위한 장치에 있어서, 바람직하게는, 인접 발광 소자는 하나의 발광 소자의 특성치가 다른 발광 소자보다 크지 않도록 배열된다.
이에 따라, 발광 소자는 최소 특성치에서 최대 특성치로 배열되어, 인접 발광 소자의 특성치 사이의 차이는 전체적으로 최소화된다. 이 방식으로, 인접 발광 소자의 특성이 실질적으로 균등하게 되기 때문에, 특성에 대해 편차없이 발광 소자를 배열하기 위한 장치가 제공될 수 있다.
발명의 실시예가 도면을 참조하여 이후에 기술될 것이다.
제1 실시예
발명의 제1 실시예는 도1을 참조하여 먼저 기술될 것이다. 도1은 발명의 제1 실시예에 따라 LED를 배열하기 위한 방법을 도시하는 전방도이다.
최종 산물로서의 LED(1a, 1b, 1c, 1d,...)의 광도, 순전압, 및 색도와 같은 특성은 특성 검사 유닛에 의해 검사된다. 그런 후, LED(1a, 1b, 1c, 1d,...)는 임시 보유 위치에 연속적으로 배열된다. 소정 개수의 LED가 수집되면, LED는 인접 LED의 광도치가 실질적으로 균등하게 되도록 재배열된다. 즉, LED는 LED의 광도가 실질적으로 균등하게 되도록 컴퓨터에 기억된 LED의 광도치에 근거하여 소정의 알고리즘에 따라 순서대로 정렬된다.
예컨대, 도1에 도시된 LED(1b, 1d)의 광도치가 각각 100mcd 및 101mcd인 경우에, 2개의 LED(1b, 1c)는 메모리에서 상호 인접하게 되도록 컴퓨터 메모리에 따라 허구로 재배열된다. 모든 LED의 배열 순서가 결정되면, LED는 배열 순서에 따라 실제로 배열되도록 도1에 도시된 바와 같이 테이핑된다. 예컨대, 이 방식으로 테이핑된 LED는 LED(1a)의 광도가 101.5mcd이고 LED(1b)의 광도가 100mcd이고 LED(1c)의 광도가 101mcd이고 LED(1d)의 광도가 101.8mcd이고, ..., 즉, 인접한 LED 사이의 광도차가 1.5mcd 미만이도록 배열된다. 이에 따라, 이 방식으로 테이핑된 LED가 소비자에게 공급될 때, LED는 인접 LED의 광도치를 편차없이 실질적으로 균등하게 하도록 배열 순서의 시작점에서 LED(1a)의 순으로 디스플레이 등에 배열될 수 있다.
순전압, 색도(방출광의 파장) 등의 편차뿐만아니라 광도의 편차는 LED가 전 술된 바와 같은 동일한 방식으로 배열되는 경우에 방지될 수 있다.
전술된 바와 같이, 제1 실시예에 따라 LED를 배열하는 방법에 있어서, 인접한 LED의 특성은 편차없이 실질적으로 균등하게 될 수 있다.
부수적으로, LED를 배열하기 위한 방법은 다음과 같이 변경될 수도 있다. 즉, LED는 소정의 특성(예컨대, 광도)에 의해 순위가 매겨질 수 있다. 그런 후, 동일한 순위의 LED는 특성 검사 순서대로 (1), (2), (3), (4), (5), (6),..으로 임시적으로 번호가 매겨지고 임시 보유 위치에 연속적으로 배열된다. 동일한 순위의 소정 개수의 LED가 수집되는 경우에, LED는 인접 LED의 광도치를 실질적으로 균등하게 하도록 재배열된다.
제2 실시예
다음, 발명의 제2 실시예는 도2를 참조하여 기술될 것이다. 도2은 발명의 제2 실시예에 따라 발광 소자를 배열하기 위한 방법을 도시하는 평면도이다.
최종 산물로서의 발광 소자(LED칩; 8a, 8b, 8c, 8d,...)의 광도, 순전압, 및 색도와 같은 특성은 특성 검사 유닛에 의해 검사된다. 그런 후, 발광 소자(8a, 8b, 8c, 8d,...)는 임시 팔렛에 연속 배열된다. 소정 개수의 발광 소자가 수집되는 경우에, 발광 소자는 인접 발광 소자의 광도치가 실질적으로 균등하게 되도록 재배열된다. 즉, 발광 소자는 인접 발광 소자의 광동가 실질적으로 균등하게 되도록 컴퓨터에 기억된 발광 소자의 광도치에 근거하여 소정의 알고리즘에 따라 순서대로 정렬된다.
그런 후, 발광 소자(8a, 8b, 8c, 8d,...)는 결정된 배열 순서에 따라 규칙적 인 팔렛(6)의 오목부(7)에 연속적으로 수용된다. 사용되는 경우에, 발광 소자(8a, 8b, 8c, 8d,...)는 정렬 순서에 따라 도2에 도시된 화살표의 방향으로 사용된다. 제1 열의 발광 소자의 사용이 완료된 후에, 제2 열의 발광 소자의 사용이 제2열의 선두에서부터 시작된다. 이 방식으로, 인접 발광 소자의 광도치는 발광 소자 사이에서 광도의 편차가 발생하지 않도록 실질적으로 균등하게 될 수 있다.
순전압, 색도(방출광의 파장) 등의 편차 뿐만아니라 광도의 편차는 발광 소자가 전술된 바와 같은 동일한 방식으로 배열되는 경우에 방지될 수 있다.
전술된 바와 같이, 제2 실시예에 따라 발광 소자를 배열하는 방법에 있어서, 인접한 발광 소자의 특성은 편차없이 실질적으로 균등하게 될 수 있다.
부수적으로, 발광 소자를 배열하기 위한 방법은 다음과 같이 변경될 수도 있다. 즉, 발광 소자는 소정의 특성(예컨대, 광도)에 의해 순위가 매겨질 수 있다. 그런 후, 동일한 순위의 발광 소자는 특성 검사 순서대로 (1), (2), (3), (4), (5), (6),..으로 임시적으로 번호가 매겨지고 임시 보유 위치에 연속적으로 배열된다. 동일한 순위의 소정 개수의 발광 소자가 수집되는 경우에, 발광 소자는 인접 발광 소자의 광도치가 실질적으로 균등하게 되도록 재배열된다.
제3 실시예
다음, 발명의 제3 실시예는 도3를 참조하여 기술될 것이다. 도3은 발명의 제3 실시예에 따라 발광 소자를 배열하기 위한 장치의 전체 구성을 도시하는 사시도이다.
제3 실시예에 따른 발광 소자를 배열하기 위한 장치(20)는 부품 이송기(21) 를 구비한다. 부품 이송기(21)에서 이송된 발광 소자(8)는 부품 이송기(21)의 공급 라인(22)을 통해 검사단(23)에 하나씩 놓인다. 검사단(23)에 놓인 발광 소자(8)의 광도는 검사단(23) 주위에 배치된 검사 센서(24)에 의해 측정된다. 검사 센서(24)는 특성치 측정 유닛과 등가물이다.
측정 후에, 발광 소자(8)는 측정 순서대로 (1), (2), (3), (4),... 번호를 매기면서 임시 팔렛(25) 상에 연속적으로 배열된다. 임시 팔렛(25)은 임시 보유 유닛과 등가물이다. 임시 보유 작동과 동시에, 측정된 광도 데이타(26)는 임시 번호(1), (2), (3), (4),...와 관련되어 컴퓨터 시스템(27)에 입력된다.
컴퓨터 시스템(27)에 있어서, 측정된 광도 데이타(26)는 인접 발광 소자(8)의 광도치가 실질적으로 균등하게 되도록 소정의 알고리즘에 따라 재배열되어, 임시 번호 (1), (2), (3), (4),...는 재배열된 데이타(26)에 따라 컴퓨터 시스템(27)의 메모리 상에서 재배열된다. 그런 후, 재배열된 데이타는 컴퓨터 시스템(27)에서 로봇(28)으로 송신되어, 임시 팔렛(25) 상의 발광 소자(8)는 테이핑(80) 상에 배열된다. 컴퓨터 시스템(27)은 특성치 기억 유닛 및 배열 순서 계산 유닛과 등가물이다.
로봇(28)은 먼저 임시 팔렛(25) 상의 임시 번호(49)의 위치에서 발광 소자(8)를 취출하고 발광 소자(8)를 테이핑(30)의 헤드(번호 1의 위치) 상에 놓는다. 그런 후, 로봇(28)은 임시 번호(10)의 위치에서 발광 소자(8)를 취출하고 발광 소자(8)를 테이핑(30)의 번호 9의 위치에 높는다. 또한, 로봇(28)은 임시 번호(32)의 위치에서 발광 소자(8)를 취출하고 발광 소자(8)를 테이핑(30)의 번호(3)의 위치에 놓는다. 작동은 이 방식으로 반복되어, 발광 소자(8)는 연속적으로 배열된다. 로봇(28)은 이송 배열 유닛과 등가물이다. 테이핑(30)은 규칙적인 공급 유닛과 등가물이다.
그 결과, 임시 팔렛(25) 상에서 임시 번호 (49), (10), (32), (2), (54),...의 위치에 위치된 발광 소자(8)는 테이핑(30) 상의 번호(1, 2, 3, 4, 5,...)의 위치에 배열된다. 이에 따라, 소비자 또는 다음 공정에서 사용되는 경우에, 테이핑(30) 상에 배열된 발광 소자(8)는 배열 순서로 사용된다. 이 방식으로, 인접 발광 소자(8)의 광도치가 실질적으로 균등하게 되도록 인접 발광 소자(8)가 배열되기 때문에 발광 소자(8)는 편차없이 균일한 방식으로 빛을 방출할 수 있다.
전술된 바와 같이, 제3 실시에에 따른 발광 소자를 배열하기 위한 장치(20)에 있어서, 인접 발광 소자(8)의 광도치는 편차없이 실질적으로 균등하게 된다. 발광 소자를 배열하기 위한 장치(20)는 제 실시예에서 기술되고, LED를 배열하기 위한 장치는 전술된 바와 같이 동일한 작동 및 효과가 획득될 수 있도록 거의 동일한 구성으로 제조될 수 있다.
부수적으로, 발광 소자를 배열하기 위한 장치는 다음과 같이 변경될 수도 있다. 즉, 발광 소자는 소정의 특성(예컨대, 광도)으로 순서가 매겨진다. 그런 후, 동일한 순위의 발광 소자는 특성 검사 순서로 (1), (2), (3), (4), (5), (6),...으로 임시로 번호가 부여되고 임시 보유 위치에 연속적으로 배열된다. 동일한 순위의 소정 갯수의 발광 소자가 수집될 때, 발광 소자는 인접 발광 소자의 광도치가 실질적으로 균등하게 되도록 재배열된다.
제3 실시예는 발광 소자(8)가 부품 이송기(21)에 의해 이송되는 경우를 도시하지만, 발명은 본 실시예에 제한되지 않는다. 대안적으로, 테이핑된(taped up) 발광 소자(8)가 사용될 수도 있고, 또는 조작자에 의해 수동으로 이송된 발광 소자(8)가 사용될 수도 있다. 발광 소자를 소비자 또는 다음 공정에 공급하기 위한 유닛은 테이핑(30)에 제한되지 않는다. 대안적으로, 팔렛, 시트 등이 사용될 수도 있다.
LED/발광 소자를 배열하기 위한 방법의 다른 단계 및 LED/발광 소자를 배열하기 위한 장치의 기타 부분의 구성, 형상, 개수, 재료, 크기, 접속 관계 등은 실시예에의 제한되지 않는다.
전술된 바와 같이, 발명에 따른 LED를 배열하기 위한 방법은 LED 상에서 특성 측정을 수행함으로써 LED의 소정의 특성치를 달성하여 LED에 따라 측정된 특성치를 기억하는 단계와, 특성치를 기억한 후에 LED를 임시 보유하는 단계와, 소정 개수의 LED가 수집되는 시점에서 인접 LED의 소정의 특성치를 실질적으로 균등하게 하도록 소정 개수의 LED를 재배열하는 단계를 포함한다.
이 방법에 있어서, LED의 모든 특성치는 그 값이 균등하게 되도록 요구되는 LED의 (방출광의 파장, 광도, 및 순전압과 같은) 특성중 하나의 값이 측정된 후에 LED에 따라 기억된다. 그런 후, LED는 임시 보유되어 소정 개수의 LED가 수집되는 시점에서 인접 LED의 특성치가 실질적으로 균등하게 되도록 재배열된다.
이에 따라, 소비자 또는 다음 공정으로 공급된 LED는 배열 순서대로 사용되는 경우에, LED가 인접 LED의 특성치와 실질적으로 균등하게 되도록 배열되기 때문 에 인접 LED는 편차없이 균일한 방식으로 빛을 방출할 수 있다.
이 방식으로, 인접 LED의 특성이 실질적으로 균등하게 되기 때문에, 특성에 대해 편차없이 LED를 배열하기 위한 방법이 제공될 수 있다.
발명에 따른 LED를 배열하기 위한 방법에 있어서, 바람직하게는, 인접 LED는 하나의 LED의 특성치가 다른 LED보다 크지 않도록 배열된다.
이에 따라, LED는 최소 특성치에서 최대 특성치로 배열되어, 인접 LED의 특성치 사이의 차이는 전체적으로 최소화된다. 이 방식으로, 인접 LED의 특성이 실질적으로 균등하게 되기 때문에, 특성에 대해 편차없이 LED를 배열하기 위한 방법에 제공될 수 있다.
발명에 따라 발광 소자를 배열하는 방법은 발광 소자 상에서 특성 측정을 수행함으로써 발광 소자의 소정의 특성치를 획득하여 발광 소자에 따라 측정된 특성치를 기억하는 단계와, 특성치를 기억한 후에 발광 소자를 임시 보유하는 단계와, 소정 개수의 발광 소자가 수집되는 시점에서 인접 발광 소자의 소정의 특성치를 실질적으로 균등하게 하도록 소정 개수의 발광 소자를 재배열하는 단계를 포함한다.
이 방법에서, 발광 소자의 모든 특성치는 그 값이 균등하게 되도록 요구되는 발광 소자의 (방출광의 파장, 광도, 및 순전압과 같은) 특성중 하나의 값이 측정된 후에 발광 소자에 따라 기억된다. 그런 후, 발광 소자는 임시 보유되어 소정 개수의 발광 소자가 수집되는 시점에서 인접 발광 소자의 특성치가 실질적으로 균등하게 되도록 재배열된다.
이에 따라, 소비자 또는 다음 공정으로 공급된 발광 소자가 배열 순서대로 사용되는 경우에, 발광 소자가 인접 발광 소자의 특성치를 실질적으로 균등하게 하도록 배열되기 때문에 인접 발광 소자는 편차없이 균일한 방식으로 빛을 방출할 수 있다.
이 방식으로, 인접 발광 소자의 특성이 실질적으로 균등하게 되기 때문에, 특성에 대해 편차없이 발광 소자를 배열하기 위한 방법이 제공될 수 있다.
발명에 따른 발광 소자를 배열하기 위한 방법에 있어서, 바람직하게는, 인접 발광 소자는 하나의 발광 소자의 특성치가 다른 발광 소자보다 크지 않도록 배열된다.
이에 따라, 발광 소자는 최소 특성치에서 최대 특성치로 배열되어, 인접 발광 소자의 특성치 사이의 차이는 전체적으로 최소화된다. 이 방식으로, 인접 발광 소자의 특성이 실질적으로 균등하게 되기 때문에, 특성에 대해 편차없이 발광 소자를 배열하기 위한 방법에 제공될 수 있다.
발명에 따른 LED를 배열하는 장치는 LED 상에서 특성 측정을 수행함으로써 LED의 소정의 특성치를 획득하는 특성치 측정 유닛, 측정 순서대로 LED에 번호를 부여하면서 특성 측정될 LED를 임시 보유하는 임시 보유 유닛, LED의 번호와 관련된 LED의 특성치를 기억하기 위한 특성치 기억 유닛, LED의 인접한 것의 특성치 사이의 차이가 모든 LED에 걸쳐 최소화하도록 컴퓨터에 의해 LED의 배열 순서를 재형성하는 배열 순서 계산 유닛, 및 LED를 임시 보유 유닛에서 규칙적 공급 유닛으로 이동시키고 배열 순서 계산 유닛에 의해 재형성된 배열 순서에 따라 LED를 배열하는 이동 배열 유닛을 포함한다.
이 방법에서, 발명에 따라 LED를 배열하기 위한 장치에 있어서, 그 값이 균등하게 되도록 요구되는 LED의 (방출광의 파장, 광도, 및 순전압과 같은) 특성중 하나의 값은 특성치 측정 유닛에 의해 측정되고 LED는 임시 번호에 LED가 각각 부여하면서 임시 보유 유닛에 의해 보유된다. LED의 특성치가 임시 번호에 관련되어 특성치 기억 유닛에 의해 기억되기 때문에, LED의 배열 순서는 인접 LED의 특성치 사이의 차이가 전체적으로 최소되기 때문에 배열 순서 계산 유닛에 의해 재형성된다. LED는 임시 기억 유닛에서 규칙적 공급 유닛(테이핑, 팔렛, 시트등)으로 이동되어 이동 배열 유닛에 의해 배열 순서에 따라 배열된다.
이에 따라, 소비자 또는 다음 공정으로 공급된 LED가 공급 유닛에서 배열 순서로 사용되는 경우에, LED가 인접 LED의 특성치를 실질적으로 균등하게 하도록 배열되기 때문에 인접 LED는 편차없이 균일한 방식으로 빛을 방출할 수 있다.
이 방식으로, 인접 LED의 특성이 실질적으로 균등하게 되기 때문에, 특성에 대해 편차없이 LED를 배열하기 위한 장치가 제공될 수 있다.
발명에 따른 LED를 배열하기 위한 장치에 있어서, 바람직하게는, 인접 LED는 하나의 LED의 특성치가 다른 LED보다 크지 않도록 배열된다.
이에 따라, LED는 최소 특성치에서 최대 특성치로 배열되어, 인접 LED의 특성치 사이의 차이는 전체적으로 최소화된다. 이 방식으로, 인접 LED의 특성이 실질적으로 균등하게 되기 때문에, 특성에 대해 편차없이 LED를 배열하기 위한 장치가 제공될 수 있다.
발명에 따른 발광 소자를 배열하는 장치는 발광 소자 상에서 특성 특정을 수행함으로써 발광 소자의 소정의 특성치를 획득하는 특성치 측정 유닛, 측정 순서대로 발광 소자에 번호를 부여하면서 특성 측정될 발광 소자를 임시 보유하는 임시 보유 유닛, 발광 소자의 번호와 관련된 발광 소자의 특성치를 기억하기 위한 특성치 기억 유닛, 발광 소자의 인접한 것의 특성치 사이의 차이가 모든 발광 소자에 걸쳐 최소화되도록 컴퓨터에 의해 발광 소자의 배열 순서를 재형성하기 위한 배열 순서 계산 유닛, 및 발광 소자를 임시 보유 유닛에서 규칙적 공급 유닛으로 이동시키고 배열 순서 계산 유닛에 의해 재형성된 배열 순서에 따라 발광 소자를 배열하는 이동 배열 유닛을 포함한다.
이 방법에 있어서, 발명에 따라 발광 소자를 배열하기 위한 장치에 있어서, 그 값이 균등하게 되도록 요구되는 발광 소자의 (방출광의 파장, 광도, 및 순전압과 같은) 특성중 하나의 값은 특성치 측정 유닛에 의해 측정되고 발광 소자는 임시 번호가 발광 소자에 각각 부여되면서 임시 보유 유닛에 의해 보유된다. 발광소자의 특성치가 임시 번호에 관련되어 특성치 기억 유닛에 의해 기억되기 때문에, 발광 소자의 배열 순서는 인접 발광 소자의 특성치 사이의 차이가 전체적으로 최소화되도록 배열 순서 계산 유닛에 의해 재형성된다. 발광 소자는 임시 보유 유닛에서 규칙적 공급 유닛(테이핑, 팔렛, 시트등)으로 이동되어 이동 배열 유닛에 의해 배열 순서에 따라 배열된다.
이에 따라, 소비자 또는 다음 공정으로 공급된 발광 소자가 공급 유닛에서 배열 순서로 사용되는 경우에, 발광 소자가 인접 발광 소자의 특성치를 실질적으로 균등하게 하도록 배열되기 때문에 인접 발광 소자는 편차없이 균일한 방식으로 빛 을 방출할 수 있다.
이 방식으로, 인접 발광 소자의 특성이 실질적으로 균등하게 되기 때문에, 특성에 대해 편차없이 발광 소자를 배열하기 위한 장치가 제공될 수 있다.
발명에 따른 발광 소자를 배열하기 위한 장치에 있어서, 바람직하게는, 인접 발광 소자는 하나의 발광 소자의 특성치가 다른 발광 소자보다 크지 않도록 배열된다.
이에 따라, 발광 소자는 최소 특성치에서 최대 특성치로 배열되어, 인접 발광 소자의 특성치 사이의 차이는 전체적으로 최소화된다. 이 방식으로, 인접 발광 소자의 특성이 실질적으로 균등하게 되기 때문에, 특성에 대해 편차없이 발광 소자를 배열하기 위한 장치가 제공될 수 있다.
본 발명의 LED/발광 소자 배열 방법 및 장치를 제공함으로써, LED/발광 소자가 인접 LED/발광 소자의 특성치를 실질적으로 균등하게 하도록 배열되기 때문에 LED/인접 발광 소자는 편차없이 균일한 방식으로 빛을 방출할 수 있고, 인접 발광 소자의 특성이 실질적으로 균등하게 되기 때문에 특성에 대해 편차없이 발광 소자를 배열할 수 있다.

Claims (9)

  1. 소정 개수의 LED를 배열하는 방법이며,
    특성 측정에서 측정된 상기 LED 각각의 특성치를 기억하는 단계와,
    상기 특성치를 기억한 후에 상기 LED를 임시 보유하는 단계와,
    각 인접 LED의 상기 특성치를 균등하게 하도록 상기 LED를 재배열하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 LED 배열 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 인접 LED 각각은 하나의 LED의 특성치가 다른 LED보다 크지 않도록 배열되는 것을 특징으로 하는 LED 배열 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 LED가 측정되고 임시 보유된 후에, 소정 개수의 LED는 각 인접 LED의 상기 특성치를 균등하게 하도록 재배열되는 것을 특징으로 하는 LED 배열 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 특성치는 상기 LED의 광도인 것을 특징으로 하는 LED 배열 방법.
  5. 발광 소자를 배열하는 방법이며,
    특성 측정에서 측정된 상기 발광 소자 각각의 특성치를 기억하는 단계와,
    상기 특성치를 기억한 후에 상기 발광 소자를 임시 보유하는 단계와,
    각 인접 발광 소자의 상기 특성치를 균등하게 하도록 상기 발광 소자를 재배열하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 소자 배열 방법.
  6. 제5항에 있어서, 상기 인접 발광 소자의 각각은 하나의 발광 소자의 특성치가 다른 발광 소자보다 크지 않도록 배열되는 것을 특징으로 하는 발광 소자 배열 방법.
  7. 제5항에 있어서, 소정 개수의 발광 소자는 상기 발광 소자가 측정되고 임시 보유된 후에 각 인접 발광 소자의 특성치를 균등하게 하도록 재배열되는 것을 특징으로 하는 발광 소자 배열 방법.
  8. 제5항에 있어서, 상기 특성치는 상기 발광 소자의 강도인 것을 특징으로 하는 발광 소자 배열 방법.
  9. 발광 소자를 배열하는 방법이며,
    복수의 발광 소자의 측정된 특성치를 기억하는 단계와,
    발광 소자의 배열 순서를 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 소자 배열 방법.
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007065414A (ja) * 2005-08-31 2007-03-15 Sharp Corp バックライト製造方法
JP5161488B2 (ja) * 2007-05-28 2013-03-13 パナソニック株式会社 Led発光パネル、発光ダイオードの配置方法、プログラム
DE102010009718A1 (de) * 2010-03-01 2011-09-01 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zur Gruppierung oder Kennzeichnung von Lumineszenzdiodenbauelementen und Lumineszenzdiodenbauelement
JP5627537B2 (ja) * 2011-05-27 2014-11-19 三菱電機株式会社 部品供給装置、部品供給方法、および部品検査装置
TW201330684A (zh) * 2012-01-06 2013-07-16 Lextar Electronics Corp 照明電路與具有其之照明裝置
JP5745104B2 (ja) * 2012-01-17 2015-07-08 パイオニア株式会社 電子部品移送装置および電子部品移送方法
WO2013108368A1 (ja) * 2012-01-17 2013-07-25 パイオニア株式会社 電子部品実装装置および電子部品実装方法
JP5789680B2 (ja) * 2012-01-17 2015-10-07 パイオニア株式会社 電子部品実装装置および電子部品実装方法
CN105101196B (zh) * 2014-05-06 2018-11-02 阿里巴巴集团控股有限公司 一种用户账户管理方法及装置
CN109830447B (zh) * 2019-01-17 2020-11-27 深圳赛意法微电子有限公司 半导体晶圆芯片分选方法、半导体产品的封装方法及系统
US20220165627A1 (en) * 2020-11-23 2022-05-26 Cree Fayetteville, Inc. Methods and systems for component analysis, sorting, and sequencing based on component parameters and devices utilizing the methods and systems

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4367932A (en) * 1979-10-23 1983-01-11 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Exposure control system
JP2765771B2 (ja) 1991-08-07 1998-06-18 ローム株式会社 半導体記憶装置の試験方法
JPH08255820A (ja) 1995-01-20 1996-10-01 Sanyo Electric Co Ltd 半導体ペレットのマウント方法及びぺレット選択装置
US5567937A (en) * 1995-07-10 1996-10-22 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Night vision device wavelength test pattern
JPH09319332A (ja) * 1996-05-27 1997-12-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd Led表示装置およびled表示方法
JP3772466B2 (ja) * 1997-06-09 2006-05-10 コニカミノルタフォトイメージング株式会社 固体走査型光書込みヘッドを備えた画像形成装置及び光書込みヘッドの光量測定方法
US6433809B1 (en) * 1999-01-25 2002-08-13 Fuji Photo Film Co., Ltd. Method of controlling light intensity in image exposure apparatus
JP2001024226A (ja) 1999-07-07 2001-01-26 Nec Saitama Ltd 発光ダイオード及びそれを用いた表示回路
US6473062B1 (en) * 2000-03-22 2002-10-29 Storage Technology Corporation Intelligent light source
JP2001038960A (ja) 1999-07-30 2001-02-13 Canon Inc 発光アレー装置、その製造方法、光走査装置、および画像形成装置
US6344641B1 (en) * 1999-08-11 2002-02-05 Agilent Technologies, Inc. System and method for on-chip calibration of illumination sources for an integrated circuit display
FI110211B (fi) * 1999-12-31 2002-12-13 Nokia Corp Valaistusolosuhteiden mittaus
US7202613B2 (en) * 2001-05-30 2007-04-10 Color Kinetics Incorporated Controlled lighting methods and apparatus
US6618123B2 (en) * 2000-10-20 2003-09-09 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Range-finder, three-dimensional measuring method and light source apparatus
US20030034282A1 (en) * 2001-08-16 2003-02-20 Fmc Technologies, Inc. Method and system for generating background color for optical sorting apparatus
US6753897B2 (en) * 2001-12-26 2004-06-22 Xerox Corporation Adaptive light emitting diode bar equalization
JP2004034457A (ja) * 2002-07-02 2004-02-05 Konica Minolta Holdings Inc 画像記録装置、管理装置、カラープルーフ作成システム、コンピュータプログラム製品、及び画像記録装置の光量補正方法

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JP2004047620A (ja) 2004-02-12
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