KR100490262B1

KR100490262B1 - 비동기 전송모드 적응 계층용 칩 테스트 방법

Info

Publication number: KR100490262B1
Application number: KR10-2000-0065725A
Authority: KR
Inventors: 김영호
Original assignee: 엘지전자 주식회사
Priority date: 2000-11-07
Filing date: 2000-11-07
Publication date: 2005-05-17
Also published as: KR20020035923A

Abstract

본 발명은 비동기 전송모드 적응 계층용 칩(AALx ASIC)을 테스트(test)하는 방법에 관한 것으로서, 비동기 전송모드 셀(ATM Cell:Asyncronous Transfer Mode Cell) 데이터 발생용 외부 장비를 사용하지 않고 FIFO 메모리를 이용해서 호스트(host)가 ATM 적응 계층용 칩(ATM Adaptation Layer Chip: AALx ASIC)을 테스트하는 방법에 관한 것이다.

본 발명에서는, 호스트가 테스트용 송신 메모리(Tx_FIFO)에 원하는 VCI,VPI 값을 포함한 셀 데이터를 순차적으로 기록해주고, 이 기록된 데이터를 AALx칩이 수신하여 가공 및 루핑(Looping)을 통한 AALx 형태 데이터 형식으로 변환하고, 변환된 데이터를 테스트용 수신 메모리(Rx_FIFO)에 기록해 주면, 호스트가 수신 메모리(Rx_FIFO)에 기록된 값을 읽어서 송신 메모리(Tx_FIFO)의 값고 비교한 결과로부터 데이터를 검증함으로써 AALx 전용 칩의 H/W 및 F/W를 테스트한다.

Description

비동기 전송모드 적응 계층용 칩 테스트 방법{TESTING METHOD FOR ASYNCRONOUS TRANSFER MODE ADAPTATION LAYER CHIP}

본 발명은 비동기 전송모드 적응 계층용 칩(AALx ASIC)을 테스트(test)하는 방법에 관한 것으로서, AALx ASIC을 테스트함에 있어 비동기 전송모드 셀(ATM Cell:Asyncronous Transfer Mode Cell) 데이터 발생용 외부 장비를 사용하지 않고 테스트 전용의 FIFO 메모리를 이용해서 호스트(Host)가 ATM 적응 계층용 칩(ATM Adaptation Layer Chip: AALx ASIC)을 테스트하는 방법에 관한 것이다.

특히 본 발명은 호스트가 테스트용 송신 메모리(Tx_FIFO)에 원하는 VCI,VPI 값을 포함한 셀 데이터를 순차적으로 기록해주고, 이 기록된 데이터를 AALx칩이 수신하여 가공 및 루핑(Looping)을 통한 AALx 형태 데이터 형식으로 변환하고, 변환된 데이터를 테스트용 수신 메모리(Rx_FIFO)에 기록해 주면, 호스트가 수신 메모리(Rx_FIFO)에 기록된 값을 읽어서 그 데이터를 검증함으로써 AALx 전용 칩(AALx ASIC)을 테스트하는 수순으로 비동기 전송모드 적응 계층용 칩을 테스트하는 방법에 관한 것이다.

종래에 AALx 전용 칩(ASIC)을 테스트하는 방법은 외부 장비를 이용해서 ATM 셀 데이터를 생성하고, 외부 장비를 이용해서 생성된 ATM 셀 데이터를 인터페이스를 통해 AALx 전용 칩에서 수신하여 AALx 형태의 데이터로 가공 및 루핑 처리한 다음, 이 데이터를 다시 인터페이스를 통해서 외부 장비로 송신하여 검증함으로써 AALx 전용 칩의 F/W(Firm Ware)와 H/W(Hard Ware)를 검증하였다.

도1에 종래 방법에 따른 AALx 전용 칩 테스트 장비의 구성을 나타내었다.

AALx 칩(101)은 외부 인터페이스(FIFO)(102)를 통해서 ATM 셀 발생기(103)와 같은 외부 장비에 연결되고, 호스트(104)에도 연결되어 제어를 받게 되며, 또한 VP/VC 인터페이스(Virtual Path/Virtual Channel)로 연결되어 있다.

이와같이 구성된 테스트 장치에 따른 AALx 칩(101)의 테스트는 다음과 같이 수행된다.

먼저, ATM 셀 발생기(103)에서 발생된 ATM 셀의 형태를 가진 데이터가 외부 인터페이스(102)를 통해서 수신되고, 이 데이터는 AALx 칩(101)에서 AALx 형태로 처리하여 순수 데이터만을 메모리에 저장한다.

그리고 호스트(104)는 상기 저장된 데이터를 액세스하여 AALx 칩의 수신부분이 제대로 동작하고 있는지를 확인한다.

한편, AALx 칩(101)에서는 상기 데이터를 가공 및 루핑(looping)(101a)하여 ATM 셀 데이터를 만들고, 이렇게 만들어진 ATM 셀 데이터를 외부 인터페이스(102)를 통해서 외부 장비인 ATM 셀 발생기(103)로 송신하고, ATM 셀 발생기(103)는 상기 송신된 데이터를 수신하여 이 수신한 값이 정확한 데이터인지의 여부를 확인하는 방법으로 AALx 칩(101)의 송신부분이 잘 동작하고 있는지를 확인한다.

또한, 외부 인터페이스(102)를 통해 외부 장비(103)로부터 수신한 ATM 셀을 테스트 하고자 하는 AALx 칩(101)에서 원하는 값으로 VPI,VCI 변환하고, 이 변환된 데이터를 외부 인터페이스(102)를 통해서 외부 장비(103)로 보내주면, 외부 장비에서 상기 데이터가 제대로 수신되는지를 검사함으로써 AALx 칩(101)이 올바르게 동작하고 있는지의 여부를 판단할 수 있게 된다.

상기한 바와같이 종래에는 AALx 전용 칩(AALx ASIC)(101)의 F/W와 H/W를 검증하기 위해서 별도의 ATM 셀 발생기와 같은 외부 장비를 부가해야 하고, 이 외부 장비와의 인터페이스(FIFO)를 통해서 송수신되는 데이터에 대한 검증을 통해 AALx 칩(101)의 F/W와 H/W가 올바르게 작동하는지의 여부를 판단하는 방법이다.

따라서, 종래 기술에 따르면 AALx 전용 칩을 테스트하기 위해서는 반드시 ATM 셀을 송수신할 수 있는 외부장비가 필요한 문제점이 있다.

본 발명은 AALx 전용 칩을 테스트할 때 별도의 ATM 셀 발생기와 같은 외부 장비를 필요로 하지 않고, AALx 전용 칩(ASIC) 외부에 테스트 전용의 송신 메모리(Tx_FIFO)와 수신 메모리(Rx_FIFO)를 사용해서 호스트가 상기 FIFO 메모리에 데이터를 기록하거나 또는 여기에 기록된 데이터 처리에 대한 AALx 칩의 응답 데이터를 수신하여, AALx 칩이 올바르게 작동하고 있는지의 여부를 검증할 수 있도록 한 비동기 전송모드 적응 계층용 칩 테스트 방법을 제안한다.

본 발명의 비동기 전송모드 적응 계층용 칩(AALx ASIC) 테스트 방법은, 호스트에서 테스트용 송신 메모리(Tx_FIFO)에 원하는 VCI/VPI 값을 포함하는 셀 데이터를 순차적으로 기록하는 단계와, 상기 기록된 데이터를 AALx 전용 칩에서 수신하는 단계와, 상기 수신된 데이터를 가공 및 루핑(looping)시켜 AALx 형태의 데이터 형식으로 변환하는 단계와, 상기 변환된 데이터를 테스트용 수신 메모리(Rx_FIFO)에 기록하는 단계와, 호스트에서 상기 수신 메모리(Rx_FIFO)에 기록된 데이터를 읽어서 검증하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 AALx 전용 칩 테스트 방법이다.

본 발명의 비동기 전송모드 적응 계층용 칩 테스트 방법에서는, 테스트용 송신 FIFO와 수신 FIFO를 인터페이스로 하여 호스트를 AALx ASIC에 연결하고, 호스트에서 테스트용 송신 FIFO에 VPI,VCI를 포함하는 적당한 AALx 형태의 데이터를 기록해 주고, 이 값을 AALx 전용 칩이 적절하게 가공해서 다시 수신 FIFO에 기록해 주고, 호스트가 이 수신 FIFO에 기록된 값을 읽어서 송신 FIFO의 값과 비교한 결과로부터 AALx의 기능을 확인하는 방법으로서, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 실시예로서 상세하게 설명하면 다음과 같다.

도2는 본 발명에 따른 AALx 전용 칩 테스트 장치의 구성을 나타낸 도면으로서, AALx 칩(201)은 외부 인터페이스(FIFO)(202)에 연결됨과 함께, 호스트(203)와 테스트용 송/수신 메모리(Tx_FIFO/Rx_FIFO)(204)를 통해서 연결되고, VP/VC 인터페이스(Virtual Path/Virtual Channel)로 연결되어 있다.

즉, 본 발명에서는 AALx 전용 칩을 테스트할 수 있도록 테스트용 송신 메모리(Test Tx_FIFO)(204a)와, 테스트용 수신 메모리(Test Rx_FIFO)(204b)를 두고, 이 테스트용 송수신 메모리를 이용해서 AALx ASIC의 H/W와 F/W를 검증하는 것이다.

상기 AALx 전용 칩 테스트 장치에 따른 본 발명의 AALx ASIC 테스트 순서를 도3에 나타내었다.

먼저, 첫번째 단계(301)에서 호스트(203)는 테스트를 위해서 원하는 VPI, VCI를 포함한 적당한 AALx 형태의 53바이트 데이터 값들을 프로그래밍하여 송신 메모리(Tx_FIFO)(204a)에 순차적으로 기록해 준다.

다음 단계(302)에서 AALx 전용 칩 즉, AALx ASIC(201)은 상기 송신 메모리(Tx_FIFO)에 호스트가 기록해 놓은 값을 수신하고, 수신된 AALx 형태의 데이터 값을 원하는 PCM값이나 순수한 페이로드(payload)의 값으로 변환시켜 준다(단계 303).

이 단계 까지가 송신부분(Tx Part)이며, 송신부분에서 변환시켜 준 상기 PCM값이나 페이로드 값을 읽어서 송신부분의 H/W와 F/W에 대한 검증을 할 수 있게 된다.

한편, AALx 전용 칩(201)의 최종단에서 상기 PCM값이나 페이로드 값을 루핑(201a)시키면, 이미 변환된 PCM값이나 순수 페이로드 값을 AALx 전용 칩(201)의 수신부분에서 다시 원하는 VPI,VCI가 부가된 AALx 형태로 변환하여 테스트용 수신 메모리(Rx_FIFO)(204b)에 기록해 주게 된다(단계 304).

이와같이 테스트용 수신 메모리(Rx_FIFO)(204b)에 하나의 셀이 다 기록되면 호스트(203)는 테스트용 수신 메모리(Rx_FIFO)에 기록된 값을 읽어서 상기 송신 메모리(Tx_FIFO)의 값과 같은지를 판별함으로써, AALx 전용 칩(201)의 H/W와 F/W를 검증할 수 있게 되는 것이다(단계 305).

상기한 바와같이 본 발명에 따르면, 테스트용 송신 FIFO에 VPI,VCI를 포함하는 적당한 AALx 형태의 데이터를 호스트가 기록해 주고, 이 값을 AALx 전용 칩이 적절하게 가공해서 다시 수신 FIFO에 기록해 주고, 호스트가 이 수신 FIFO에 기록된 값을 읽어서 송신 FIFO의 값과 비교한 결과로부터 AALx의 기능을 확인하는 비동기 전송모드 적응 계층용 칩 테스트 방법이다.

본 발명의 비동기 전송모드 적응 계층용 칩 테스트 방법은 별도의 ATM 셀 데이터 생성을 위한 외부 장비가 필요하지 않다.

또한, 본 발명의 비동기 전송모드 적응 계층용 칩 테스트 방법은 별도의 ATM 셀 데이터 생성을 위한 외부 장비없이, 테스트용 송신 FIFO 및 수신 FIFO를 이용해서 AALx 전용 칩(AALx ASIC)에 ATM 셀 데이터를 보내주고 또 AALx 전용 칩에서 처리된 데이터를 받아서 비교하는 동작으로 AALx 전용 칩의 H/W 및 F/W를 검증할 수 있게 된다.

도1은 종래의 외부 장비를 이용한 AALx 칩 테스트 방법을 설명하기 위한 칩 테스트 장비의 블럭도

도2는 본 발명의 AALx 칩 테스트 방법을 설명하기 위한 칩 테스트 장비의 블록도

도3은 본 발명의 AALx 칩 테스트 순서를 나타낸 플로우차트

Claims

호스트에서 테스트용 송신 메모리(Tx_FIFO)에 원하는 VCI/VPI 값을 포함하는 셀 데이터를 순차적으로 기록하는 단계와;

상기 기록된 데이터를 AALx 전용 칩이 수신하고, 상기 수신된 데이터를 가공 및 루핑(looping)시켜 AALx 형태의 데이터 형식으로 변환하며, 상기 AALx 형식으로 변환된 데이터를 테스트용 수신 메모리(Rx_FIFO)에 기록하는 단계와;

상기 호스트에서 상기 수신 메모리(Rx_FIFO)에 기록된 데이터를 읽어서 상기 송신 메모리에 기록된 셀 데이터와의 비교를 수행한 후, 그 비교결과에 따라 AALx 전용 칩의 하드웨어 및 펌 웨어를 검증하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 AALx 전용 칩 테스트 방법.