KR100453524B1 - 안경 렌즈 가공 방법, 렌즈 미터, 이 렌즈 미터를 갖는 안경 렌즈 가공장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 렌즈를 손상할 가능성 없이 쉽고 빠르게 임의로 선택된 위치에 마킹을 가능하게 하는 것이다. 본 방법은 안경 렌즈의 광학 특성과 기준 위치를 측정하는 렌즈 측정단계와 상기 렌즈 측정단계에서 구해진 광학 정보에 의거하여 렌즈를 가공하는 가공단계를 포함한다. 그 렌즈 측정단계에서는, 미가공 렌즈에 임의로 선택된 위치를 그 렌즈의 프리즘 값과 같은 광학 특성을 측정하고, 그 측정 결과로부터 광학 중심 위치와 같은 광학 기준 위치를 계산하고, 그 구해진 위치에 마크를 형성하고, 그 마크 위치와 광학 기준 위치 사이의 관계를 다른 장치에 기록, 기록 또는 전송한다. 가공단계에서는, 마크 위치를 검출하여 정하고, 마크 위치와 기억, 기록 또는 전송한 데이터에 의거하여 광학 중심 위치와 같은 기준 위치를 정하여, 렌즈를 가공한다.
Description
본 발명은 안경 렌즈의 프리즘 값을 포함한 광학 특성을 측정하는 렌즈 미터를 사용하여 광학 기준점의 위치를 포함한 광학 정보를 구하는 렌즈 측정단계와, 이 렌즈 측정단계에 의해서 구해진 광학 정보를 가공용 데이터 부분으로서 사용하여 가공하는 가공단계를 포함하는 안경 렌즈 가공방법 및 그 렌즈 미터에 관한 것이다.
안경은, 미가공 안경 렌즈(일반적으로, 소위 원형 형상을 갖는 둥근 렌즈라 함)를 안경 프레임의 형상에 끼워 넣는 형상으로 가공하여 그 가공 렌즈를 안경 프레임에 끼워 넣어 제작된다. 미가공 둥근 렌즈는, 안경 착용자의 눈에 관한 처방 데이터(도수, 난시도수, 좌우 눈 사이의 거리, 기타 데이터), 안경 착용자에 의해 선택된 안경 프레임의 형상과 그 레이아웃 정보의 데이터에 의거하여 렌즈 제작자가 제작 및 공급한다.
렌즈 제작자로부터 공급된 둥근 렌즈의 측정은, 렌즈 미터를 사용하여 제작자에 의해 수행된다. 광학 중심과 원주축(cylinder axis)의 위치를 구하고, 그 위치와 각도를 나타낸 마크를 그 렌즈 위에 형성한다. 이 마크는, 렌즈 가공에서 렌즈 회전축으로서 사용된 지그(jig)로 가공하기 전에 미가공 렌즈에 부착된 렌즈 홀더의 부착 위치와 각도를 나타낸 마크로서 사용된다.
미가공 렌즈의 광학 중심 위치를 구하는 종래의 방법에 따르면, 프리즘 값과 같은 광학 특성이 렌즈 미터를 사용하여 광학 중심에 근접하게 측정된 위치에서 측정된다. 이 측정은, 그 구해진 값이 0이 되는 위치가 발견되기까지 다른 측정 위치에서 행해지고, 그 발견된 위치가 광학 중심 위치로서 결정된다(예, 일본국 실용번호 2569718과 일본국 실개평 1(1989)-135344). 실제 수행에 있어서, 도 14에 도시된 것처럼, 마크 600은, 안경 렌즈의 광학 중심(O.C) 위치에 형성되고, 2개의 마크 600a 및 600b는, 광학 중심의 위치를 통과하여 원주축 등을 나타내는 직선상의 광학 중심 양측 위치에 형성된다. 따라서, 미가공 렌즈는 3개의 마크를 갖는다.
그러나, 프리즘 값이 0인 위치가 발견되도록 렌즈 미터를 사용하여 광학 중심에 근접하다고 생각한 위치에서 프리즘 값 등을 시각적으로 측정하는 것은 충분한 숙련 없이는 매우 복잡하고 어렵다. 정확한 위치를 발견해내는데는 오랜 시간이 걸린다. 더욱이, 플라스틱 렌즈의 경우에, 렌즈가 가공 테이블에서 이동되므로 그렌즈가 긁히지 않도록 충분한 주의를 해야 한다.
본 발명은, 상술한 배경하에 주어진 것으로, 렌즈가 긁힐 염려없이 쉽고 빠르게 임의로 선택된 측정점에서 마킹을 가능하게 하는 안경 렌즈 가공방법을 제공하고, 그 렌즈 미터를 제공하는데 그 목적이 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예로서 안경 렌즈 가공 방법을 나타낸 도면,
도 2는 본 발명의 일 실시예로서 렌즈 미터의 정면도,
도 3은 본 발명의 일 실시예로서 렌즈 미터의 측면도,
도 4는 본 발명의 일 실시예로서 렌즈 미터의 내부 구성을 나타낸 도면,
도 5는 광원을 나타낸 도면,
도 6은 타겟 판을 나타낸 도면,
도 7 및 도 8은 디스플레이 장치의 실시예를 나타낸 도면,
도 9는 마킹 동작을 나타낸 도면,
도 10은 렌즈에 형성된 마크의 실시예를 나타낸 도면,
도 11은 마킹부의 확대도,
도 12는 렌즈 홀더를 렌즈에 블록킹하는 동작을 나타낸 도면,
도 13은 렌즈에 블록킹된 렌즈 홀더를 나타낸 도면,
도 14는 종래의 마킹예를 나타낸 도면.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*
1 : 렌즈 미터 2 : 렌즈 미터 본체
6 : 마킹부 11 : 정보 처리부
18 : 렌즈
본 발명의 일부 국면에 의하면, 임의로 선택된 측정점에 형성된 마크 위치와 광학 중심 위치를 포함한 광학 기준점의 위치 사이의 관계를 나타낸 상대적 위치 데이터가 보존되어 있다. 따라서, 그 마크 위치가 렌즈를 가공하기 위해 검출되고 상기 상대적인 위치가 판독될 경우, 그 검출된 위치에 관련한 광학 중심 위치 등의 위치가 바로 알려질 수 있다. 블록킹 위치는, 상술한 것처럼 구해진 정보에 의거하여 결정될 수 있고, 렌즈 홀더는 미가공 렌즈를 가공할 수 있도록 부착될 수 있다. 본 발명의 방법에 의하면, 마크를 임의로 선택한 위치에서 간단히 형성하는 렌즈 측정단계로 충분하다. 렌즈 미터를 사용하여 서로 다른 위치에서 프리즘 값 등을 측정하고 그 측정에 의해 구해진 값이 0인 위치를 발견하는 등의 복잡한 동작이 반드시 필요하지 않다. 그러므로, 마크를 빨리 형성할 수 있고, 렌즈가 가공 테이블에서 움직이지 않으므로 렌즈 긁힘이 형성될 가능성이 없다.
이하, 도면을 참조하여, 본 발명의 안경 렌즈 가공 방법과 일부 실시예에 따른 렌즈 미터를 설명하겠다.
도 1에 도시된 것처럼, 일 실시예의 안경 렌즈 가공방법은, 렌즈 측정단계와 렌즈 가공단계를 포함한다. 렌즈 측정단계에서는, 소정 처방에 의거한 렌즈 제작자에 의해 공급된 둥근 렌즈를 사용하여, 도수와 같은 광학 특성을 렌즈 미터를 사용하여 측정하여 확인하고, 광학 중심과 원주축과 같은 광학 기준점의 위치를 구하고, 그 위치와 각도를 나타낸 마크를 렌즈 상에 형성하고 그 위치 데이터를 보존한다. 렌즈 가공단계는, 렌즈 가공시에 회전축으로서 사용된 지그인 렌즈 홀더를 가공하기 전에 렌즈에 부착하고서 렌즈를 가공하는 렌즈 홀더를 블록킹하는 단계를 포함한다. 렌즈 측정단계에서 형성된 마크는, 렌즈 홀더의 블록킹 단계에서 블록킹 위치를 결정하는데 사용된다. 렌즈 가공단계는 종래의 안경 렌즈 가공장치를 사용하여 수행되므로, 렌즈 가공단계를 상세히 설명하지 않겠다. 이하 안경 렌즈 가공방법과 상술한 렌즈 미터를 더 설명하겠다.
도 2 및 도 3에 도시된 것처럼, 검사용 렌즈를 놓기 위한 측정 테이블(3)은, 렌즈 미터(1)의 정면부에 설치된다. (렌즈 미터(1)의 내부 위치에 있는) 측정 테이블(3) 뒤에, 미가공 렌즈(18)(도 4)의 위치를 설정하는 것을 돕기 위한 시료 위치 설정부(4)가 설치되어 있다. 그 측정 테이블(3) 보다 위에는 렌즈 홀딩부(5)가 설치되어 있다. 이 렌즈 홀딩부(5) 뒤에는, 검사용 렌즈의 광축을 마킹하는 마킹부(6)가 설치되어 있다. 본체(2)의 상부 정면에는, 스위치와 전원을 갖는 동작 패널부(7), 측정점의 상대적인 위치와 검사용 렌즈의 광학 중심을 표시하는 디스플레이 장치(8) 및 동작 결과를 표시하는 또 다른 디스플레이장치(9)가 설치되어 있다.
본체(2)의 내부에는, 측정용 광학계(10)와 정보 처리부(11)(도 4)가 포함되어 있다. 도 4는 본 발명의 실시예로서 렌즈 미터의 내부 구성을 나타낸 도면으로, 측정용 광학계(10)와 정보 처리부(11)를 구비한다. 도 4에서, 도면부호 13은, 초고휘도의 광을 방출하는 4개의 발광 다이오드(LED)로 구성된 렌즈 미터의 광원을 의미한다. 도 5는 광원(13)을 나타낸 도면이다. 도 5에 도시된 것처럼, 4개의 LED(13a)는, 후술할 계산을 간단화하도록 인접장치로부터 동일 거리로 이격된 위치에 배치되어 있다. 도면부호 14는, 집광 렌즈를 나타내고 각 LED(13a)로부터의 광선은 평행한 광선으로 정렬된다. 이는 LED(13a)가 집광 렌즈(14)의 초점에 설치되어 있다는 것을 의미한다.
도면부호 15는 타겟 판이다. 도 6은 타겟 판(15)을 나타낸 도면이다. 도 6에 도시된 것처럼, 타겟 판(15)은 N형상의 슬릿 패턴(15a)을 갖고, 펄스 모터(17)에 의해 타겟 판을 이동할 수 있도록 그 집광 렌즈(12)와 시준 렌즈(16) 사이에 설치되었다. 시준 렌즈(16)는, 검사용 렌즈(18)에 광원의 상을 형성하고, 그 슬릿 패턴(15a)의 상을 형성하는 광선을 검사용 렌즈(18)에 의해 조합된 효과에 의해 평행 광선으로 정렬하는 기능을 갖는다.
검사용 렌즈(18)는, 측정 테이블(3)에서 렌즈의 광학 중심이 측정용 광학계 의 중심 위치와 같은 위치에 놓이도록 설치된다. 도면부호 19는 대물렌즈를 나타내고 시준렌즈(16)와 검사용 렌즈(18)에 의해 정렬된 패턴(15a)의 평행 광선은 패턴(15a) 상을 형성하도록 초점이 맞추어진다. 도면부호 20은, 대물렌즈(19)의 초점에 설치된 전하결합소자(CCD)의 영상 센서를 나타내고, 패턴 위치를 검출한다.
정보 처리부(11)는, 제어 지지체, 신호처리회로, 디스플레이 구동회로, 광원 구동회로, 펄스 모터 구동회로, 수치계산회로 및 프린터 구동회로로 이루어진 장치와 상호 동작하여 소정 프로그램에 따라 그 광학계를 제어하고, 광학 중심 위치 계산과 같은 계산을 수행하고, 광학 중심의 상대적인 위치와 그 마킹의 데이터를 제공하여 기억하고, 그 데이터를 소정 기록매체에 기록하거나 그 데이터를 컴퓨터와 같은 기타 장치에 전송하는 기능을 갖는다.
상술한 구성을 갖는 렌즈 미터에서, 시준렌즈(16)와 대물렌즈(19) 사이에 놓인 검사용 렌즈(18)의 도수(굴절력)에 의해 각 4개의 LED(13a)로부터 영상 센서(20)에 형성된 상기 패턴의 편위량, 타겟 판이 이동된 후 타겟 판(15)의 이동량 및 그 이동 후의 상기 편위량이 수치계산회로에 의해 계산하는데 사용된다. 계산 결과로서, 구면 굴절력, 원주 굴절력, 축방향, 프리즘 굴절력 및 기저 방향과 같은 검사용 렌즈의 광학 특성을 구하여 표시할 수 있다.
측정점의 프리즘 값은, 그 패턴의 중심 좌표를 구하여서 측정할 수 있다. 검사용 렌즈(18)가 측정 테이블(3)에 설치될 경우 패턴의 중심 좌표는, (x1, y1)로서 나타내고, 검사용 렌즈(18)가 그 측정 테이블(3)에 설치되어 있지 않을 경우 패턴의 중심 좌표는 (x0, y0)로서 나타낸다. (x1-x0)를 새로운 x 좌표로서 사용하고, (y1-y0)를 새로운 y 좌표로서 사용하여 새로운 좌표를 형성할 경우, 새로운 좌표에서 (x1, y1)는, 검사용 렌즈(18) 측정점에서의 그 프리즘 값 P 그 자체를 나타낸다. 그 프리즘 값 P의 x 성분과 y 성분을 각각 Px와 Py로 나타낼 경우, P, Px, Py와 프리즘의 기저 방향으로의 각도인 θ 사이의 관계를 다음 식으로 나타낸다.
상기 식에서, k는 비례상수를 나타낸다.
정보 처리부(11)에서, 측정점 위치와 검사용 렌즈의 광학 중심 위치 사이의 관계는, 상술한 것처럼 이하에 설명된 계산에 의해 구해진 측정점에서 그 프리즘 값으로부터 구해진다. 이 프리즘 값을 P로 나타내고, 렌즈 도수를 D로 나타내고 측정점 위치와 광학 중심 위치 사이의 거리를 δ로 나타낼 경우, 이들 값 사이의 관계는 δ=10P/D로서 나타낸다. X 방향과 Y 방향으로의 거리 δ 성분은, δx와 δy로 각각 나타내고, X 방향과 Y 방향으로의 프리즘 값 P 성분은, 각각 Px와 Py로 나타낼 경우, 이들 값 사이의 관계는 δx=10Px/Dx와 δy=10PyDy로 나타낼 수 있다.
상술한 것처럼 구해진 프리즘 값 P, X 방향(Px)과 Y방향(Py)의 프리즘 값 P 성분, 프리즘의 기저방향의 각도 θ, 검사용 렌즈의 구면 굴절력과 원주 굴절력은디스플레이 장치(9)에 표시된다. 측정점 위치와 광학 중심 위치 사이의 관계는, 디스플레이 장치(8)에 표시된다. 이들 값은, 이들 값이 필요한 경우 나중의 단계에서 렌즈 가공시에 사용되도록 정보 처리부에 의해 기억되고, 소정 기록매체에 기록되거나 다른 장치에 전송된다.
도 7과 도 8은 측정점과 검사용 렌즈의 광학 중심의 상대적 위치를 표시하는 디스플레이 장치(8)의 실시예를 나타낸 도면이다. 도 7에 도시된 실시예에서, 다수의 발광 다이오드(LED)(22)는, 예를 들면, 인접 다이오드 사이의 거리가 1mm가 되도록 X 방향과 Y 방향으로 배치된다. X축과 Y축의 교차부분에 설치된 다이오드는, 원형 형상이고, 다른 다이오드는 직사각형 형상이다. X방향 Px의 프리즘 값 P 성분과 검사용 렌즈(이점 쇄선의 원으로 도 7에 도시됨)의 측정점(도 7에서 원형 LED의 위치)에서의 렌즈 도수에 의거하여, 검사용 렌즈의 측정점에 대해 X방향으로의 검사용 렌즈의 광학 중심 위치(O.C으로 도 7에 도시됨) 성분은, X축상에 프리즘 값 DPxi로서 나타내어져 있다. 검사용 렌즈의 측정점에 대해 Y방향으로 검사용 렌즈의 광학 중심 위치 성분은, Y축상에 프리즘 값 DPyi로서 나타내어져 있다.
수평 방향으로의 렌즈 도수가 음일 경우, DPx는 Px 부호를 역으로 하여 구해진 값인 -Px가 된다. 그 도수가 양일 경우, DPx는 Px가 된다. 이와 유사하게, 수직방향으로의 렌즈 도수가 음일 경우, DPy는 Py의 부호를 역으로 하여 구해진 값인 -Py가 된다. 그 도수가 양일 경우, DPy는 Py가 된다. 수평방향으로의 렌즈 도수가 0일 경우, DPx는 0이 되고, 수직방향으로의 렌즈 도수가 0일 경우 DPy는 0이 된다.그 이유는, 수평방향으로 또는 수직방향으로의 렌즈 도수가 0일 경우, 수평방향 또는 수직방향으로의 어떠한 위치도 각각 광학 중심일 수 있기 때문이다.
상술한 것처럼, 디스플레이 장치가 교차 형태의 LED 표시에 관한 프리즘 값으로서 검사용 렌즈의 측정점에 대해 검사용 렌즈의 광학 중심 위치를 나타낸 값 DPx와 DPy를 표시할 경우, 측정을 위한 광학계의 중심에 대해 광학 중심 위치의 편위는, 검사용 렌즈가 매우 큰 도수일 경우 매우 정확하게 표시될 수 있다.
도 8에 도시된 실시예에서, 검사용 렌즈(이점 쇄선의 원으로 도 8에 도시됨)측정점(도 8에서 원형 LED의 위치)에서의 X 방향 Px과 Y 방향 Py의 프리즘 값의 성분과 측정점에서의 렌즈 도수에 의거하여, 검사용 렌즈의 측정 위치에 대해 검사용 렌즈의 광학 중심 위치(O.C로 도 8에 도시됨)의 X방향으로의 성분은 거리 δx로서 X축상에 나타내어진다. 검사용 렌즈의 측정 위치에 대해 검사용 렌즈의 광학 중심 위치의 성분은 거리 δy로서 Y축 상에 나타내어진다.
상술한 것처럼, 디스플레이 장치가 교차 형태의 LED 표시에 관한 거리로서 측정용 렌즈의 측정점에 대해 X 방향과 Y방향으로 검사용 렌즈의 광학 중심의 위치의 성분을 표시할 경우, 측정용 광학계의 중심에 대해 광학 중심 위치의 편위는, 검사용 렌즈가 매우 작은 도수일 경우 매우 정확히 표시될 수 있다. 프리즘 값을 구하는 방법의 일 예는, 상기 실시예에서 설명되었다. 프리즘 값을 구하는 방법은, 슬릿 패턴과 영상 센서의 구성에 따라 다르다. 따라서, 그 프리즘 값은, 일본국 특개소 60(1985)-17335 및 US 4,180,325에 기재된 방법과 같은 다른 종래 방법에 따라 구해질 수 있다. 상기 실시예에서, 교차 배열을 갖는 LED 표시는, 디스플레이장치(8)로서 사용된다. 물론, 액정 디스플레이와 음극선관 디스플레이와 같은 X 좌표 및 Y 좌표를 갖는 다른 디스플레이 장치를 사용하여도 된다.
프리즘 값의 측정과 광학 중심 위치의 계산을 완료한 경우, 렌즈에 마크를 형성한다. 마킹의 경우, 제 1 마크(60)는, 도 10에 도시된 것처럼 마킹 레버(6a)를 동작시켜 프리즘 값의 측정 위치에 형성되고, 검사용 렌즈가 도 9에 도시된 것처럼 프리즘 값의 측정 위치에 고정된다. 제 1 마크(60)를 통과한 직선상에, 원주축의 방향을 나타내기 위한 제 2 마크(60a)와 제 3 마크(60b) 및 마크의 수직 위치를 인식하기 위한 제 4 마크(60c)가 동시에 형성된다. 그 위치간의 관계는 미리 정해지고 이미 알려진 것이다. 일반적으로, 본 실시예에서 마크들이 광학 중심의 위치에 형성될 필요가 없지만, 대신에 검사용 렌즈가 임의로 선택된 적당한 위치에 형성되고, 제 1 마크가 검사용 렌즈가 설치되는(자유로운 마킹) 위치에 의해 결정된 측정 위치에 형성되므로, 상기 마크들의 위치는 광학 중심 위치 O.C와 다르다.
도 11에 도시된 것처럼, 마킹 동작을 검출하기 위한 스위치(6b)는, 마크가 형성되는 순간에 스위치(6b)가 동작하도록 마킹부(6)에 설치된다. 그 스위치(6b)가 동작할 경우, 마크 위치를 측정 위치로서 사용하여 구해진 프리즘 값과 그 프리즘 값으로부터 계산된 측정 위치와 검사용 렌즈의 광학 중심 위치 사이의 관계는 정보 처리부(11)에 의해 기억되고, 필요한 경우, 소정 기록매체에 기록되거나 다음 단계에서 렌즈 가공시에 그 정보를 사용하도록 또 다른 장치에 전송된다.
상술한 것처럼 마크 위에 미가공 렌즈(18)를 형성하기 위해서, 렌즈 홀더는 다음 단계에서 가공을 위해 부착된다. 도 12에 도시된 것처럼, 렌즈 홀더(20) 부착장치에 의해 홀딩된 렌즈 홀더(30)는, 렌즈를 고정하기 위해 테이블(40)에 고정되고 접착판(30a)과 접착에 의해 부착된 렌즈(18) 표면에 압착된다. 이러한 방법으로, 도 13에 도시된 것처럼, 렌즈 홀더는 렌즈(18)에 부착된다.
이 경우에, 렌즈(18)로의 렌즈 홀더(30) 부착 위치는, 가공시에 회전 중심 위치이고, 이 위치는 가공을 위한 기준 위치로서 사용된다. 일반적으로, 렌즈 홀더는, 광학 중심의 위치에 부착된다. 또한, 렌즈의 원주축이 렌즈 홀더(30)의 회전 방향으로 기준 위치를 향하여 상대적인 소정 방향으로 연장하도록 렌즈 홀더가 부착될 필요가 있다. 이를 위해, 상기 마킹 동작에 의해 형성된 마크는 검출되어 그 위치가 정해진다. 즉, 렌즈 홀더(20) 부착장치의 기준 위치에 관련한 마크의 위치는 정해진다. 도면에 도시되지 않았지만, 마크의 위치는 렌즈 홀더(20) 부착장치에 설치된 영상 처리장치에 의해 정해진다.
마크 위치가 정해질 경우, 렌즈 측정단계에서 구해지고 계산 전송된 데이터, 즉 마크 위치와 광학 중심 위치 사이의 관계를 나타낸 데이터가 판독되어 광학 중심 위치가 정해진다. 렌즈 홀더(30)는, 상술한 것처럼 정해진 렌즈(18)의 광학 중심 위치에 부착된다. 렌즈 홀더(30)가 부착된 렌즈는 안경 렌즈를 가공하기 위한 종래의 장치에 설정되어 처리된다.
상술한 것처럼, 본 발명의 방법은, 안경 렌즈의 광학 특성과 기준 위치를 측정하는 렌즈 측정단계와, 이 렌즈 측정단계에서 구해진 광학 정보에 의거하여 렌즈를 가공하는 가공단계를 포함한다. 렌즈 측정단계에서는, 렌즈의 프리즘 값과 같은 광학 특성을 미가공 렌즈에서 임의로 선택된 위치를 측정 위치로서 사용하여 측정하고, 광학 중심의 위치와 같은 광학 기준 위치를 측정 결과로부터 계산하고, 그 구해진 위치에 마크를 형성하고, 마크 위치와 광학 기준 위치사이의 관계를 다른 장치에 기억시키고, 기록하거나 전송한다. 상기 가공단계에서는, 마크 위치를 검출하여 정하고, 광학 중심 위치와 같은 기준 위치를 기억시키고, 레코딩하거나 전송한 마크와 데이터의 위치에 의거하여 정해져, 그 렌즈는 가공된다. 상술한 것처럼, 본 발명의 안경 렌즈 가공방법에 의하면, 렌즈에 손상을 형성할 가능성 없이 쉽고 빠르게 임의로 선택된 위치에 마크를 형성할 수 있다. 이를 위해 사용된 렌즈 미터는 동일한 장점을 갖는다.
Claims (5)
- 안경 렌즈의 프리즘 값을 포함한 광학 특성을 측정하는 렌즈 미터를 사용하여 광학 기준점의 위치를 포함하는 광학 정보를 구하는 단계를 포함한 렌즈 측정단계와, 렌즈 측정단계에서 구해진 광학 정보를 처리 데이터 부분으로서 사용하여 가공하는 가공단계를 포함한 안경 렌즈 가공방법에 있어서,상기 렌즈 측정단계는,렌즈의 프리즘 값을 포함하는 광학 특성을, 미가공 렌즈에서 임의로 선택된 점을 측정점으로서 사용하여 측정하는 측정단계와,미가공 렌즈의 광학 중심 위치를 포함한 광학 기준점의 위치를 상기 측정단계에서 구한 데이터에 의거하여 계산하는 계산단계와,측정점 또는 그 측정점에 대한 소정의 상대적인 위치에 형성된 점에 마크를 형성하는 단계와,상기 계산단계에서 구해진 광학 중심의 위치를 포함하는, 마크 위치와 광학 기준점 위치 사이의 관계를 나타낸 상대적 위치의 데이터를 처리하는 데이터 처리단계와,그 데이터를 기억매체 또는 기록매체 내에 그 데이터를 판독할 수 있도록 판독하거나 보존하도록 그 데이터 가공단계에서 구해진 상대적 위치 데이터를 나중의 단계에 전송하는 보존단계를 포함한 것을 특징으로 하는 안경 렌즈 가공방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 가공단계는,미가공 렌즈의 마크를 검출하여 그 마크의 위치를 측정하는 단계와,상기 보존단계에서 보존된 상대적 위치 데이터를 판독하는 단계와,상기 구해진 상대적인 위치 데이터에 의거한 미가공 렌즈의 광학 중심 위치와 상기 측정된 마크의 위치를 포함하는 광학 기준점의 위치를 정하는 단계와,상기 정해진 광학 기준점의 위치를 기준점으로서 사용하여 그 가공을 위한 필요한 처리를 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 안경 렌즈 가공방법.
- 측정을 위해 렌즈에서 임의로 선택된 점을 측정점으로 사용하여 렌즈의 프리즘 값을 포함한 광학 특성을 측정하는 광학 특성 측정부와,그 측정점에 또는 그 측정점에 대한 소정의 상대적인 위치에 형성된 점에 마크를 형성하는 마킹부와,상기 광학 특성 측정부에서 구해진 데이터에 의거하여 미가공 렌즈의 광학 중심의 위치를 포함한 광학 기준점의 위치를 계산하는 계산기능과, 그 마크의 위치와 상기 계산기능에 의해 구해진 광학 중심 위치를 포함한 광학 기준점의 위치 사이의 관계를 나타내는 상대적 위치 데이터를 제공하는 데이터 처리기능과, 그 데이터를 판독하도록 기억매체 또는 기록매체에 데이터를 판독하고 그 데이터를 보존하도록 상기 데이터 처리기능에 의해 구해진 상대적인 위치 데이터를 나중의 단계로 전송하는 데이터 보존기능을 수행하도록 구성된 정보 처리부를 구비한 것을 특징으로 하는 렌즈 미터.
- 청구항 3에 기재된 렌즈 미터를 구비한 것을 특징으로 하는 안경 렌즈 가공장치.
- 삭제
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000376392A JP4145012B2 (ja) | 2000-12-11 | 2000-12-11 | 眼鏡レンズ加工方法及びレンズメータ |
JPJP-P-2000-00376392 | 2000-12-11 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020046206A KR20020046206A (ko) | 2002-06-20 |
KR100453524B1 true KR100453524B1 (ko) | 2004-10-20 |
Family
ID=18845256
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2001-0077729A KR100453524B1 (ko) | 2000-12-11 | 2001-12-10 | 안경 렌즈 가공 방법, 렌즈 미터, 이 렌즈 미터를 갖는 안경 렌즈 가공장치 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6750959B2 (ko) |
EP (1) | EP1213574B1 (ko) |
JP (1) | JP4145012B2 (ko) |
KR (1) | KR100453524B1 (ko) |
CN (1) | CN1184504C (ko) |
AT (1) | ATE341754T1 (ko) |
DE (1) | DE60123558T2 (ko) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4145012B2 (ja) * | 2000-12-11 | 2008-09-03 | Hoya株式会社 | 眼鏡レンズ加工方法及びレンズメータ |
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- 2000-12-11 JP JP2000376392A patent/JP4145012B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
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- 2001-11-05 AT AT01126225T patent/ATE341754T1/de not_active IP Right Cessation
- 2001-11-05 EP EP01126225A patent/EP1213574B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-11-05 DE DE60123558T patent/DE60123558T2/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-12-10 US US10/006,677 patent/US6750959B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-12-10 KR KR10-2001-0077729A patent/KR100453524B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2001-12-11 CN CNB011435526A patent/CN1184504C/zh not_active Expired - Fee Related
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CN1359019A (zh) | 2002-07-17 |
JP2002172549A (ja) | 2002-06-18 |
US20020097389A1 (en) | 2002-07-25 |
JP4145012B2 (ja) | 2008-09-03 |
ATE341754T1 (de) | 2006-10-15 |
CN1184504C (zh) | 2005-01-12 |
US6750959B2 (en) | 2004-06-15 |
KR20020046206A (ko) | 2002-06-20 |
DE60123558D1 (de) | 2006-11-16 |
EP1213574A3 (en) | 2003-03-12 |
EP1213574B1 (en) | 2006-10-04 |
DE60123558T2 (de) | 2007-06-21 |
EP1213574A2 (en) | 2002-06-12 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
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GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |