KR100362871B1 - 디지털 시험치구를 이용한 자동 시험장치 - Google Patents

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Abstract

1. 청구 범위에 기재된 발명이 속한 기술분야:
디지털 시험치구를 이용한 자동시험장치
2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제:
디지털 시험치구를 이용하여 고장이 발생한 진단모듈에 대한 에러를 비트(bit)별로 진단한다.
3. 발명의 해결방법의 요지:
표시부와 자동시험프로그램을 구비하고 있으며, 상기 자동시험프로그램에 따라 진단모듈에 대한 에러의 유무를 검사하는 전반적인 동작을 제어하는 컴퓨터와; 상기 진단신호의 입력에 대응하여 시험접속신호를 발생하는 주제어반과; 상기 시험접속신호에 대응하여 고정슬롯에 임의의 진단모듈이 삽입되어 있는가를 검사하여 삽입되어 있으면 삽입신호를 발생하고 이를 상기 주제어반으로 인가하고 상기 진단모듈에 대한 정보를 저장하고 있으며, 상기 진단모듈에 대한 진단비트를 발생한 후 상기 진단모듈에 발생되는 고장진단비트를 상기 주제어반으로 인가하는 치구제어반과; 상기 진단비트와 고장진단비트를 버퍼링하는 버퍼와; 상기 버퍼링된 진단비트를 상기 진단모듈로 인가하고 상기 고장진단비트를 상기 버퍼로 인가하는 신호제어반과; 상기 진단모듈에 대한 클럭을 공급하여 동기를 맞추고, 상기 진단모듈에 필요한 각종 데이터를 공급하는 클럭/톤 발생반으로 이루어짐을 특징으로 한다.
4. 발명의 중요한 용도:
기능단위로 나뉘어지는 진단모듈의 고장진단에 이용된다.

Description

디지털 시험치구를 이용한 자동시험장치
본 발명은 자동시험장치에 관한 것으로, 특히 디지털 시험치구를 이용하여 고장이 발생한 진단모듈에 대한 에러를 비트(bit)별로 진단하는 장치에 관한 것이다.
일반적으로 각각 고유한 기능을 수행하는 많은 모듈로 이루어지는 교환기와 같은 시스템은 각 모듈들의 복합적인 동작에 의해 수행된다. 그러므로 이러한 시스템에서의 임의 모듈에 이상이 발생되면 고장의 정도에 따라 전체적인 기능이 중지될 수도 있게 된다. 이에 따라 시스템내의 각 모듈의 동작상태를 정확하게 진단할 수 있는 기술이 요구되어 왔다.
그리고 숙련된 기술자가 진단 대상모듈을 시스템에 연결된 상태에서 시스템의 외부로 이탈시켜 시험장치나 오실로스코우프에 연결한 후 해당 모듈의 회로도나 동작파형도를 참조하면서 고장난 부위를 검사함으로써 고장을 진단하여 왔다. 그러나 이와 같은 진단방식은 숙련된 기술자가 없는 경우에는 고장난 모듈의 진단을 수행할 수 없으며, 또한 진단시 해당하는 모듈을 시스템에 직접 연결하여 수행되므로 고장수리시에도 시스템이 없으면 불가능해진다.
이러한 문제점을 해결하기 위한 자동시험장치가 제1도에 나타나 있다.
제1도를 참조하여 자동시험장치의 동작을 개략적으로 설명한다.
컴퓨터100은 직렬입출력인터페이스(SIO)를 통하여 시험기300의 주제어반210으로 진단신호를 인가한다. 상기 주제어반210은 상기 진단신호의 입력에 대응하여 시험접속신호를 발생하고 시험접속반240으로 인가한다. 상기 시험접속반240은 상기 시험접속신호에 대응하여 임의의 슬롯(slot)에 진단모듈이 삽입되어 있는가를 검사하여 삽입되어 있으면 삽입신호를 발생하고 이를 상기 주제어반210으로 인가한다. 상기 주제어반210은 상기 삽입신호를 감지하고 클럭/톤 발생반220을 제어하여 진단모듈에 클럭을 공급하고 동기를 맞추어준다. 그리고 교환반23O을 제어하여 상기 진단모듈에 필요한 톤 또는 코드등을 제공한다. 이후 상기 진단모듈에서 발생된 신호는 상기 시험접속반240으로 인가된 후 상기 주제어반210을 통하여 사기 컴퓨터100으로 인가된다. 상기 컴퓨터100은 상기 진단모듈에서 발생된 신호를 입력하여 고장인가 아닌가를 체크하여 이를 모니터(도시하지 않음)를 통하여 표시한다.
그런데, 시험해야 할 진단모듈 만큼 슬롯이 필요하므로 자동시험장치의 크기가 커지며, 각 진단모듈에 국한된 기능 시험만을 수행하므로 고장진단의 탐지율이 저조하였다.
따라서 본 발명의 목적은 디지털 시험치구를 이용하여 고정 슬롯에 진단모듈을 장착하고 비트별로 진단모듈의 고장을 탐지하는 자동시험장치를 제공함에 있다.
이하 본 발명을 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
제2도는 본 발명에 따른 디지털 시험치구를 이용하여 진단모듈에 대하여 비트별로 고장탐지를 위한 자동시험장치이다.
제2도를 참조하여 자동시험장치의 동작을 설명한다.
컴퓨터100은 직렬입출력인터페이스(SIO)를 통하여 시험기400의 주제어반210으로 진단신호를 인가한다. 상기 주제어반210은 상기 진단신호의 입력에 대응하여 시험접속신호를 발생하고 치구제어반300으로 인가한다. 상기 치구제어반300은 상기 시험접속신호에 대응하여 고정슬롯(slot)에 임의의 진단모듈510이 삽입되어 있는가를 검사하여 삽입되어 있으면 삽입신호를 발생하고 이를 상기 주제어반210으로 인가한다. 그리고 상기 치구제어반300은 진단모듈에 대한 정보를 저장하고 있으며, 상기 진단모듈510에 대한 진단비트를 버퍼530으로 인가한다. 상기 버퍼530은 상기진단비트를 버퍼링한 뒤 신호제어반520을 통하여 상기 진단모듈510으로 인가한다. 상기 주제어반210은 상기 삽입신호를 감지하고 클럭/톤 발생반220을 제어하여 진단모듈에 클럭을 공급하고 동기를 맞추어준다. 그리고 교환반240을 제어하여 상기 진단모듈510에 필요한 톤 또는 코드등을 제공한다. 이후 상기 진단모듈510에서 발생된 고장진단비트는 상기 신호제어반520과 버퍼530을 통하여 상기 치구제어반300으로 인가된다. 상기 치구제어반300은 상기 진단고장비트를 입력받아 상기 진단모듈510이 고장인지 아닌지를 판단하여 상기 주제어반210으로 인가한다. 상기 주제어반210은 상기 진단모듈510에 대한 고장유무의 결과를 직렬입출력인터페이스 (SIO)를 통하여 상기 컴퓨터100로 인가한다. 상기 컴퓨터100은 상기 진단모듈510에 대한 고장유무의 결과를 상기 표시부를 통하여 출력한다.
상술한 바와 같이 본 발명은 디지털 시험치구를 이용하여 고정 슬롯에 진단모듈을 장착하고 비트별로 진단모듈의 고장을 탐지하는 자동시험장치를 제공함으로써, 시험해야 할 진단모듈 만큼 슬롯이 필요하므로 자동시험장치의 크기를 줄이며, 각 진단모듈에 국한된 기능 시험만을 수행하므로 저조한 고장진단의 탐지율에 대한 향상시키는 장점이 있다.
제1도는 종래 자동시험장치를 나타내는 구성도의 블럭 구성도.
제2도는 본 발명에 따른 디지털 시험치구를 이용한 자동시험장치를 나타내는 구성도.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
100 : 컴퓨터 210 : 주제어반
220 : 클릭/톤 발생반 230 : 교환반
240 : 시험접속반 300 : 치구 제어반
400 : 디지털 시험기 510 : 진단모듈
520 : 신호제어반 530 : 버퍼
500 : 디지털 시험치구

Claims (1)

  1. 기능단위로 나뉘어지는 진단모듈에 대한 에러를 디지털 시험치구를 이용하여 자동으로 진단하는 장치에 있어서,
    표시부와 자동시험프로그램을 구비하고 있으며, 상기 자동시험프로그램에 따라 상기 진단모듈에 대한 에러의 유무를 검사하는 전반적인 동작을 제어하는 컴퓨터와;
    상기 진단신호의 입력에 대응하여 시험접속신호를 발생하는 주제어반과;
    상기 시험접속신호에 대응하여 고정슬롯에 임의로 진단모듈이 삽입되어 있는가를 검사하여 삽입되어 있으면 삽입신호를 발생하고 이를 상기 주제어반으로 인가하고 상기 진단모듈에 대한 정보를 저장하고 있으며, 상기 진단모듈에 대한 진단비트를 발생한 후 상기 진단모듈에 발생되는 고장진단비트를 상기 주제어반으로 인가하는 치구제어반과;
    상기 진단비트와 고장진단비트를 버퍼링하는 버퍼와;
    상기 버퍼링된 진단비트를 상기 진단모듈로 인가하고 상기 고장진단비트를 상기 버퍼로 인가하는 신호제어반과;
    상기 진단모듈에 대한 클럭을 공급하여 동기를 맞추고, 상기 진단모듈에 필요한 각종 데이터를 공급하는 클럭/톤 발생반으로 이루어짐을 특징으로 하는 장치.
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