CN216250005U - 一种用于ddr2存储器的高温动态老炼试验系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，包括老炼板、转接头、控制板及上位机；待测DDR2存储器安装在老炼板上，转接头的一端与老炼板连接；转接头的另一端与控制板连接；控制板还与上位机连接；安装有待测DDR2存储器的老炼板设置在高温试验区，控制板设置在常温区；上位机，用于对控制板的上电及下电进行控制，并对回检信号进行显示；本实用新型通过转接头将老炼板与控制板相接，实现对老炼板与控制板的分区设置，避免了控制器陪练，突破了试验温度的限制；待测器件更换时，对老炼板与控制板进行成套更换，实现对待测期间进行高温动态老炼的测试要求，确保了实验温度的达标，保证了测试结果的准确性。

Description

一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统

技术领域

本实用新型属于电子元器件可靠性筛选技术领域，特别涉及一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统。

背景技术

根据GJB548B《微电子器件试验方法和程序》第1015.1节中老炼试验规定，老炼试验用于剔除有隐患的器件或剔除那些有制造缺隐的器件，所述器件的失效与时间和应力有关，未经老炼试验的器件在正常使用条件下会早期失效；老炼试验能够使半导体器件在规定的条件下工作，以揭示随时间和应力变化的电气失效模式的等效筛选条件。

DDR2存储器等高端复杂存储器自身具有低电压电源、差分信号输入及高主频等特性，长期以来由于受制于现有老炼平台的技术状态，无法满足各项老炼筛选要求；目前，现有的老炼试验设备多采用静态老炼或个别单元读写验证老炼方式，且处于试用阶段。

现有的试验方案，由于控制器陪练问题，导致试验温度很难突破85℃大关；故急需开发一种可靠性高、成本低的高温动态老炼方案。

实用新型内容

针对现有技术中存在的技术问题，本实用新型提供了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，以解决现有的老炼试验设备，无法满足对DDR2存储器进行动态老炼试验，试验温度较低，可靠性较差的技术问题。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

本实用新型提供了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，包括老炼板、转接头、控制板及上位机；

待测DDR2存储器安装在老炼板上，转接头的一端与老炼板连接；转接头的另一端与控制板连接；控制板还与上位机连接；

安装有待测DDR2存储器的老炼板设置在高温试验区，控制板设置在常温区；

上位机，用于对控制板的上电及下电进行控制，并对回检信号进行显示。

进一步的，老炼板上设置有测试夹具模块，待测DDR2存储器安装在测试夹具模块上。

进一步的，老炼板上还设置有第一金手指接口，所述第一金手指接口，用于与转接头2相连。

进一步的，转接头采用PCB板。

进一步的，控制板上设置有第二金手指接口；所述第二金手指接口，用于与转接头相连。

进一步的，老炼板设置在烘箱的高温试验区；其中，烘箱的高温试验区的温度为25-150℃。

进一步的，控制板设置在烘箱的常温区。

进一步的，上位机中设置有触摸显示屏；所述触摸显示屏，用于对控制板上电或下电控制的指令输入，以及对回检信息的显示。

本实用新型还提供了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，包括若干试验子系统及上位机；

每个试验子系统包括老炼板、转接头及控制板，待测DDR2存储器安装在老炼板上；转接头的一端与老炼板连接，转接头的另一端与控制板连接；

若干试验子系统中的控制板之间采用级联后与上位机相连；

其中，每个试验子系统中的老炼板设置在高温试验区，控制板设置在常温区。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：

本实用新型提供了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，通过转接头将老炼板与控制板相接，将安装有待测DDR2存储器的老炼板设置在高温试验区，将控制板设置在常温区，实现对老炼板与控制板的分区设置，避免了控制器陪练，突破了试验温度的限制；待测器件更换时，对老炼板与控制板进行成套更换，解决了现有设备资源不足的问题，实现对待测期间进行高温动态老炼的测试要求，确保了实验温度的达标，保证了测试结果的准确性；本实用新型结构简单，成本低，可靠性强。

进一步的，通过设置带有触摸屏的上位机，实现对控制板的有效控制、回检信号显示。

本实用新型所述的用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，实现对DDR2存储器的全新、可靠的老炼技术方式，适用于规模较小的检测站及生产厂家，满足对所述待测器件的筛选需求。

附图说明

图1为实施例1所述的老炼试验系统中老炼板与控制板的连接顶视图；

图2为实施例1所述的老炼试验系统中老炼板与控制板的连接侧视图；

图3为实施例2所述的老炼试验系统结构框图。

其中，1老炼板，2转接头，3控制板，4上位机。

具体实施方式

为了使本实用新型所解决的技术问题，技术方案及有益效果更加清楚明白，以下具体实施例，对本实用新型进行进一步的详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

实施例1

如附图1、2所示，本实施例1提供了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，包括老炼板1、转接头2、控制板3及上位机；待测DDR2存储器安装在老炼板1上，转接头2的一端与老炼板1连接，转接头2的另一端与控制板3连接；控制板3还与上位机连接。

本实施例1中，安装有待测DDR2存储器的老炼板1设置在高温试验区，控制板3设置在常温区；老炼板1上设置有测试夹具模块，待测DDR2存储器安装在测试夹具模块上；老炼板1上还设置有第一金手指接口；所述第一金手指接口，用于与转接头2相连；本实施例1中，通过在老炼板1上设置第一金手指接口，实现将老炼板1与转接头2的匹配连接，完成与后置控制板3的电源及信号输入、输出传递。

本实施例1中，老炼板1设置在烘箱的高温试验区；其中，烘箱的高温试验区的温度为25-150℃；转接头2采用PCB板；控制板3上设置有第二金手指接口；所述第二金手指接口，用于与转接头2相连；控制板3设置在烘箱的常温区；通过在控制板3上设置第二金手指接口，实现将控制板3与转接头2的匹配连接，完成对相应通道的电源控制、对应器件老炼激励控制、数据判断回传及工位状态回检等功能。

上位机，用于对控制板3的上电及下电进行控制，并对回检信号进行显示；优选的，上位机中设置有触摸显示屏；所述触摸显示屏，用于对控制板上电或下电控制的指令输入，以及对回检信息的显示，实现可视化操作。

工作原理及使用方法：

利用本实施例1所述的用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，对待测DDR2存储器进行老炼试验时，具体过程如下：

将待测DDR2存储器安装在老炼板1上，并将老炼板1置于高温试验区环境中；将控制板3置于常温区；

利用转接头2将老炼板1与控制板3连接，并将控制板3与上位机相连；

利用上位机向控制板发布上电命令；控制板3按照预设固定程序设置进行初始化等一系列工作；待测DDR2存储器被控制板3激励正常读、写工作，控制板将写入数据与读出数据进行对比后输出结果，判断是否正常工作，得到试验结果，并回传上位机进行显示。

本实施例1中，通过转接头将老炼板与控制板对接，实现了老炼板与控制板的分区放置，再由上位机完成对整体信号发生系统、通道电源系统控制及对应老炼工位状态回检等功能；通过对应控制板完成对各通道电源控制、对应器件老炼激励控制、数据判断回传、工位状态回检，并通过触摸屏上位机进行显示控制。

本实施例1所述的用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，通过转接头将老炼板与控制板相接，将安装有待测DDR2存储器的老炼板设置在高温试验区，将控制板设置在常温区，实现对老炼板与控制板的分区设置，避免了控制器陪练，突破了试验温度的限制；待测器件更换时，对老炼板与控制板进行成套更换，解决了现有设备资源不足的问题，实现对待测期间进行高温动态老炼的测试要求，确保了实验温度的达标，保证了测试结果的准确性；结构简单，成本低，可靠性强。

实施例2

如附图3所示，本实施例2提供了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，包括若干试验子系统及上位机4；每个试验子系统包括老炼板1、转接头2及控制板3，待测DDR2存储器安装在老炼板1上；转接头2的一端与老炼板1连接，转接头2的另一端与控制板3连接；若干试验子系统中的控制板3依次级联相接后，与上位机4相连；其中，每个试验子系统中的老炼板1设置在高温试验区，控制板3设置在常温区。

本实施例2中，每个试验子系统中的老炼板1上设置有测试夹具模块，待测DDR2存储器安装在测试夹具模块上；老炼板1上还设置有第一金手指接口；所述第一金手指接口，用于与转接头2相连。

老炼板1设置在烘箱的高温试验区；其中，烘箱的高温试验区的温度为25-150℃；转接头2采用PCB板；控制板3上设置有第二金手指接口；所述第二金手指接口，用于与转接头2相连；控制板3设置在烘箱的常温区。

上位机4，用于对控制板3的上电及下电进行控制，并对回检信号进行显示；优选的，上位机中设置有触摸显示屏；所述触摸显示屏，用于对控制板上电或下电控制的指令输入，以及对回检信息的显示。

本实用新型是一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，可靠性高、成本低，适用于规模较小的元器件检测站及生产厂家；实现对此类高端复杂存储器的全新、可靠的老炼技术方式，解决多年来此类器件的筛选难题；本实用新型中，通过转接头将老炼板与控制板对接，做到分区放置；待测器件种类更换时，采用对控制板及老炼板对应成套更换的方式，达到解决现有设备资源不足，无法对此类待测器件进行高温动态老炼和小系统方案，由于控制器耐温问题而导致试验温度不达标的问题。

本实用新型所述的用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，针对性强，有效解决了DDR2存储器高温动态老炼问题设计；将控制板和老炼板通过转接头连接，达到控制板与老炼板温度分区目的，设备稳定性及可维护性均较好；可通过整体更换控制板及老炼板的方式进行器件型号切换，技术难度较低，投入成本低，操作方案简便，可维护性强，易于大规模使用；技术路线固化后，其他需要复杂控制器才能实现老炼试验的大规模集成电路，都可依托所述的试验系统进行控制器与老炼器件的温度分区通讯，实现高温动态老炼工作，有效解决控制器需要陪炼而引起的可靠性下降，效费比不高的问题。

上述实施例仅仅是能够实现本实用新型技术方案的实施方式之一，本实用新型所要求保护的范围并不仅仅受本实施例的限制，还包括在本实用新型所公开的技术范围内，任何熟悉本技术领域的技术人员所容易想到的变化、替换及其他实施方式。

Claims (9)

1.一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，包括老炼板(1)、转接头(2)、控制板(3)及上位机；

待测DDR2存储器安装在老炼板(1)上，转接头(2)的一端与老炼板(1)连接；转接头(2)的另一端与控制板(3)连接；控制板(3)还与上位机连接；

安装有待测DDR2存储器的老炼板(1)设置在高温试验区，控制板(3)设置在常温区；

上位机，用于对控制板(3)的上电及下电进行控制，并对回检信号进行显示。

2.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，老炼板(1)上设置有测试夹具模块，待测DDR2存储器安装在测试夹具模块上。

3.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，老炼板(1)上还设置有第一金手指接口；所述第一金手指接口，用于与转接头(2)相连。

4.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，转接头(2)采用PCB板。

5.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，控制板(3)上设置有第二金手指接口；所述第二金手指接口，用于与转接头(2)相连。

6.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，老炼板(1)设置在烘箱的高温试验区；其中，烘箱的高温试验区的温度为25-150℃。

7.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，控制板(3)设置在烘箱的常温区。

8.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，上位机中设置有触摸显示屏；所述触摸显示屏，用于对控制板上电或下电控制的指令输入，以及对回检信息的显示。

9.一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，包括若干试验子系统及上位机(4)；

每个试验子系统包括老炼板(1)、转接头(2)及控制板(3)，待测DDR2存储器安装在老炼板(1)上；转接头(2)的一端与老炼板(1)连接，转接头(2)的另一端与控制板(3)连接；

若干试验子系统中的控制板(3)依次级联相接后，与上位机(4)相连；

其中，每个试验子系统中的老炼板(1)设置在高温试验区，控制板(3)设置在常温区。

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