KR930022799A - 교환시스템의 호처리 기능시험 장치 및 그 제어방법 - Google Patents

교환시스템의 호처리 기능시험 장치 및 그 제어방법 Download PDF

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KR930022799A
KR930022799A KR1019920007054A KR920007054A KR930022799A KR 930022799 A KR930022799 A KR 930022799A KR 1019920007054 A KR1019920007054 A KR 1019920007054A KR 920007054 A KR920007054 A KR 920007054A KR 930022799 A KR930022799 A KR 930022799A
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KR1019920007054A
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Inventor
강성민
Original Assignee
정용문
삼성전자 주식회사
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Publication of KR930022799A publication Critical patent/KR930022799A/ko

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Abstract

교환시스템의 호처리 기능시험 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 특히 디지탈 교환시스템 내의 디지탈 관련 기본호(call) 및 특수 기능을 자동적으로 시험하는 장치 및 그 제어방법에 관한 것이다.
상기의 시험장치는 외부와의 디지탈 통신을 실행하는 DLI(18)를 가지고 있으며, 상기 DLI(18)을 통해 입력되는 이벤트를 처리하여 그에대한 응답신호를 출력하는 디지탈 교환기(20)와, 디지탈 호처리 관련 기능에 대한 테스트 코드값과, 상기 테스트 코드값에 대응한 표준화 코드값을 저장하고 있으며, 입력 테스트 키에 대응한 테스트 코드값을 전송하고 수신되는 응답코드를 표준화 코드와 비교하여 시험결과의 이상 유무를 판단 표시하는 컴퓨터(22)와, 상기 컴퓨터(22)로 부터 전송되어지는 테스트 코드값을 상기 피시험 디지탈 교환기(20)의 신호 방식으로 변환하여 전송하고, 상기 피시험 디지탈 교환기(20)로 부터 송신되는 응답코드 신호를 상기 컴퓨터(20)로 전송하는 DLI(26)로 구성되어있다.

Description

교환시스템의 호처리 기능시험 장치 및 그 제어방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 교환 시스템의 호처리 기능시험 장치의 블럭도, 제3도는 본 발명에 따른 교환시스템의 호처리 기능시험 제어흐름도.

Claims (3)

  1. 교환 시스템의 호처리 기능시험 장치에 있어서, 외부와의 디지탈 통신을 실행하는 DLI(18)를 가지고 있으며, 상기 DLI(18)를 통해 입력되는 이벤트를 처리하여 그에대한 응답신호를 출력하는 디지틀 교환기(20)와, 디지탈 호처리 관련 기능에 대한 테스트 코드값과, 상기 테스트 코드 값에 대응한 표준화 코드값을 저장하고 있으며, 입력 테스트 키에 대응한 테스트 코드값을 전송하고 수신되는 응답코드를 표준화 코드와 비교하여 시험결과의 이상 유무를 판단 표시하는 컴퓨터(22)와, 상기 컴퓨터(22)로 부터 전송되어지는 테스트 코드값을 상기 피시험 디지탈 교환기(20)의 신호 방식으로 변환하여 전송하고, 상기 피시험 디지탈 교환기(20)의 신호 방식으로 변환하여 전송하고, 상기 피시험 디지탈 교환기(20)로부터 송신되는 응답코드 신호를 상기 컴퓨터(20)로 전송하는 DLI(26)로 구성함을 특징으로 하는 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 컴퓨터(22)는 직렬 입출력 장치를 가지고 있으며, 테스트 코드 및 응답코드를 상기 직렬 입출력장치를 통해 상기 DLI(26)과 송수신함을 특징으로 하는 장치.
  3. 교환 시스템의 호처리 기능 시험 제어방법에 있어서, 입력키에 대응한 테스트 코드값을 교환기로 전송하고, 상기 교환기로부터 전송되는 응답코드를 수신 저장하는 과정과, 수신된 응답코드와 표준화 코드를 비교하여 동일시에는 정상처리하고, 다를 때에는 에러처리하는 검증과정으로 이루어짐을 특징으로 하는 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920007054A 1992-04-25 교환시스템의 호처리 기능시험 장치 및 그 제어방법 KR930022799A (ko)

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KR930022799A true KR930022799A (ko) 1993-11-24

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100362871B1 (ko) * 1995-12-29 2003-02-07 삼성탈레스 주식회사 디지털 시험치구를 이용한 자동 시험장치

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100362871B1 (ko) * 1995-12-29 2003-02-07 삼성탈레스 주식회사 디지털 시험치구를 이용한 자동 시험장치

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