KR100353978B1 - 피시비 기판의 전기적 검사용 지그에 대한 호환장치 - Google Patents
피시비 기판의 전기적 검사용 지그에 대한 호환장치 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 PCB기판에 대한 전기적 검사를 할 때 사용하는 지그에 관한 것으로, 데디케이트형 검사기에 사용되는 지그와 유니버샬형 검사기에 사용되는 지그 사이에 데디케이트형 지그의 핀과 유니버샬형 지그에 설치되어 있는 핀의 간격을 조절하는 연결지그를 설치하여 유니버샬형 검사기와 데디케이트형 검사기가 호환되도록 하여서 된 것으로서, 구조가 간단하여 제작이 용이하고 지그에 사용되는 핀을 분리하여 제활용할수가 있기 때문에 지그 제작비용이 저렴하며, 또한 기판에 인쇄된 회로의 피치에 관계없이 전기적 검사를 할 수가 있는 유용한 발명인 것이다.
Description
본 발명은 PCB기판에 대한 전기적 검사를 할 때 사용하는 지그에 관한 것으로, 장비가격이 저렴한 데디케이트형 지그에 유니버샬형 지그를 변경그리드(GRID)를 이용하여 호환되게 함으로서, 지그의 제작 가격을 최소로 절감할 수 있도록 하는 한편 지그를 호환되게 함으로서, 측정기기의 종류에 상관없이 제품을 측정할 수 있도록 하는데 그 목적이 있는 것이다.
일반적으로 PCB기판을 전기적 검사를 할 때 사용되는 기기가 데디게이트형 (DEDICATE TYPE)과 유니버샬형(UNIVERSAL TYPE)의 기기가 주로 사용되고 있는 바, 상기 전자의 데디게이트형 검사기는 핀의 보유수가 2048-16384내외이고, 사용지그는 레캡터(RECEPTER)와 스프링프로브(SPRING PROBE)를 사용하나, 사용되는 모델당 지그의 제작비가 고가인 단점이 있으며, 또한 프로브의 재사용이 불가능함으로서 불필요한 원자재의 낭비가 심한 문제점이 있었다.
한편 후자의 유니버샬형은 핀 수가 30,000- 100,000내외로서 지그는 플레이트와 프로브를 사용하고 모델당 지그의 제작비용이 약 40만원내외로서 지그의 제작비용을 저렴하나 핀의 피치가 0.5mm이하로는 불가능하여 고밀도의 회로는 검사를 할 수가 없는 문제점이 있었다.
즉 상기 두가지의 검사 기기를 비교하면 다음과 같다.
상기와 같이 기존 종래의 검사기에 사용되는 지그는 각각 전용의 지그를 제작하여 사용함으로서 호환성이 없는 단점이 있으며, 이로 인하여 각각의 지그를 제작한 다음 전용으로 사용하기 때문에 각각의 지그를 보관함으로서 불필요한 지그 보관용 공간을 요하였으며, 또한 각각의 지그를 제작함으로서 불필요한 제작비를 지출하게 되는 문제점이 있었다.
즉 종래에 사용되어온 지그중 데디케이트형 지그는 지그의 판넬에 핀을 설치할 때 판넬에 핀을 체결한 다음 핀의 하단부를 납땜을 하거나 랩핑을 하여 고정함으로서, 핀을 재활용 할 수가 없는 단점이 있으며, 이로 인하여 고가인 핀의 낭비가 심하여 불필요한 지출을 초래하게 되는 요인이 되었다.
한편 유니버샬형 지그는 지그를 이루고 있는 판넬에 핀을 조립할 경우 재활용 가능하게 설치함으로서, 핀으로 인한 비용을 절감할 수 있도록 하였으나, 장비가 고가인 단점이 있으며, 또한 지그에 설치되는 핀과 핀 사이의 간격이 넓어 회로의 간격이 조밀한 기판은 측정할 수가 없는 문제점이 이었다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 발명한 것으로서, 여결용 지그를 제작하되 연결용 지그에 설치되는 핀을 상단부는 간격이 좁고 하단부는 간격이 넓게 설치하여 기존에 사용되고 있는 유니버샬형과 데디케이트형의 지그 사이에 호환용 지그를 설치하여 유니버샬형과 데디케이트형의 검사기에 호환용으로 사용할 수 있도록 한 것으로서, 이하 본 발명을 첨부된 도면에 의하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1 은 본 발명의 개략 측 단면도
도 2 는 본 발명의 요부 확대 단면도
도 3 은 본 발명의 사용상태를 보인 개략 측면도
** 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 **
1. 연결지그 2. 상판 3. 중간판
4. 하판 5. 고정봉 6. 나사축
7. 너트 8. 핀 9. 삽입공
10. 지그 11. 돌출부 12. 요홈부
데디케이트형 검사기에 사용되는 지그와 유니버샬형 검사기에 사용되는 지그 사이에 데디케이트형 지그의 핀과 유니버샬형 지그에 설치되어 있는 핀의 간격을 조절하는 연결지그를 설치하여 유니버샬형 검사기와 데디케이트형 검사기가 호환되도록 하여서 된 것이다.
상기 연결지그(1)는 상판(2)과 수개의 중간판(3)및 하판(4)으로 분리되게 구성하되 각 판체(2)(3)(4)의 상부 모서리측에 고정봉(5)을 삽입한 다음 고정봉(5)의 상부에서 나사축(6)을 삽입하여 고정봉(5)과 각 판체(2)(3)(4)를 관통되게 한 다음 하단에서 폴리프로필렌으로 된 너트(7)로 고정하며, 상판(2)과 수개의 중간판(3)및 하판(4)의 중간부에 핀(8)이 삽입되는 삽입공(9)을 형성하되 상, 중, 하판(2)(3)(4)의 삽입공을 다단식으로 일측으로 단차지게 형성하여 상판(2)에 돌출되는 핀의 피치는 데디케이트형 지그의 피치에 맞게 하고 하판(4)에 돌출 되는 핀의 피치는 유니버샬형 지그의 피치에 맞도록 하여서 된 것이다.
상기와 같이 수개의 핀이 일정한 간격으로 체결되어 있는 데디케이트형과 유니버샬형 지그(10)의 하단 전후 양측에 돌출부(11)를 형성하고 연결지그(1)의 전후 양측에는 요홈부(12)를 형성하여 연결지그(1)가 데디케이트형과 유니버샬형 지그(10)사이에 체결되도록 하여서 된 것이다.
상기와 같이 된 본 발명의 작용을 설명하면 다음과 같다.
초소형의 기판에 대하여 전기적 검사를 하고자 할 때 유니버샬형 검사기나 데디케이트형 검사기를 이용하여 기판의 전기적 검사를 하고자 할 때 먼저 기판에맞는 연결지그(1)를 제작한다. 이때 연결지그(1)의 상판(2)에서 삽입되는 핀(8)은 피치의 간격을 넓으나 중간판(3)과 하단(4)에 형성되어 있는 삽입공(9)이 일측으로 단차지게 이동되어 있는 상태로 형성되어 있기 때문에 핀이 삽입되면서 일측으로 기울어지게 되고, 이로 인하여 하판(4)의 저면으로 돌출 되는 핀의 피치가 좁게 구성되는 것이다.
상기와 같이 연결지그(1)를 제작한 다음 이 열결지그를 데디케이트형 지그와 유니버샬형 지그의 사이에 설치하면 기판의 간격과 같은 지그의 핀이 연결지그의 상부에 위치하게 되고, 이 상태에서 연결지그의 하단부는 간격이 좁거나 넓게 구성되기 때문에 기판의 피치에 상관없이 검사를 할 수가 있는 것이다.
이상과 같이 본 발명은 상단부는 간격이 좁고 하단부는 간격이 넓게 핀을 설치하여 기존에 사용되고 있는 유니버샬형과 데디케이트형의 지그 사이에 연결용 지그를 설치하여 유니버샬형과 데디케이트형의 검사기에 호환용으로 사용할 수 있도록 한 것으로서, 구조가 간단하여 제작이 용이하고 지그에 사용되는 핀을 분리하여 제활용할수가 있기 때문에 지그 제작비용이 저렴하며, 또한 기판에 인쇄된 회로의 피치에 관계없이 전기적 검사를 할 수가 있는 유용한 발명인 것이다.상기에서는 본 발명을 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있다.
Claims (3)
- 삭제
- 연결지그(1)는 상판(2)과 수개의 중간판(3)및 하판(4)으로 분리되게 구성하되 각 판체(2)(3)(4)의 상부 모서리측에 고정봉(5)을 삽입한 다음 고정봉(5)의 상부에서 나사축(6)을 삽입하여 고정봉(5)과 각 판체(2)(3)(4)를 관통되게 한 다음 하단에서 폴리프로필렌으로 된 너트(7)로 고정하며, 상판(2)과 수개의 중간판(3)및 하판(4)의 중간부에 핀(8)이 삽입되는 삽입공(9)을 형성하되 상, 중, 하판(2)(3)(4)의 삽입공을 다단식으로 일측으로 단차지게 형성하여 상판(2)에 돌출 되는 핀의 피치는 데디케이트형 지그의 피치에 맞게 하고, 하판(4)에 돌출 되는 핀의 피치는 유니버샬형 지그의 피치에 맞도록 하여서 된 것을 특징으로 하는 피시비 기판의 전기적 검사용 지그에 대한 호환장치.
- 데디케이트형과 유니버샬형 지그(10)의 하단 전후 양측에 돌출부(11)를 형성하고 연결지그(1)의 전후 양측에는 요홈부(12)를 형성하여 연결지그(1)가 데디케이트형과 유니버샬형 지그(10)사이에 체결되도록 하여서 된 것을 특징으로 하는 피시비 기판의 전기적 검사용 지그에 대한 호환장치.
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