KR100549952B1 - 그래픽 카드의 메모리 테스트 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 그래픽 카드의 메모리 테스트 장치에 관한 것으로서, 이를 위하여 본 발명은 그래픽 카드의 칩 슬롯에 끼워지는 테스트 소켓(10)과; 하단부에는 상기 테스트 소켓(10)의 상부면 외주면이 결합되는 소켓 고정틀(20)과; 상기 소켓 고정틀(20)의 내부로 메모리를 삽입시켜 고정하는 클램핑 부재(30)와; 양측의 단부에는 장공(41)을 형성하고, 양 장공(41)의 사이에는 판면을 수직 관통시킨 인서트 홀(42)을 형성한 복수의 제1 프레임(40)과; 양측의 단부에는 장공(51)을 형성하고, 양 장공(51)의 사이에는 가이드 홀(52)을 형성하며, 상기 가이드 홀(52)에 걸쳐 상기 제1 프레임(40)이 이동 가능하게 안착 고정되도록 하는 하나 이상의 제2 프레임(50)과; 그래픽 카드를 고정시킨 고정 프레임(80)에 체결되고, 판면에는 상기 제2 프레임(50)이 이동 가능하게 안착 고정되는 메인 프레임(60)을 포함하는 구성으로 구비하여 그래픽 카드의 교체 시 테스트 소켓(10)을 교체할 필요없이 경제적인 메모리 테스트가 가능토록 하는 것이다.

그래픽 카드, 메모리, 테스트, 테스트 소켓

Description

그래픽 카드의 메모리 테스트 장치{Apparatus for testing memory of graphic card}

도 1과 도 2는 종래의 그래픽 카드 메모리 테스트 장치를 도시한 측면도,

도 3은 본 발명에 따른 그래픽 카드의 메모리 테스트 장치를 도시한 분리 사시도,

도 4는 본 발명에 따른 테스트 소켓과 소켓 고정틀의 결합 구조를 도시한 사시도,

도 5는 본 발명에 따른 제1 프레임에 소켓 고정틀이 결합되는 모습을 도시한 분리 사시도,

도 6은 본 발명에 따른 메인 프레임의 장착 구조를 도시한 사시도,

도 7은 본 발명에 따라 메인 프레임에서 제2 프레임이 이동하는 모습을 도시한 평면도,

도 8은 본 발명에 따라 제2 프레임에서 제1 프레임이 이동하는 모습을 도시한 평면도.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *

10 : 테스트 소켓 11 : 포고 핀

20 : 소켓 고정틀 30 : 클램핑 부재

40 : 제1 프레임 41, 51 : 장공

42 : 인서트 홀 50 : 제2 프레임

52 : 가이드 홀 60 : 메인 프레임

본 발명은 그래픽 카드의 메모리 테스트 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 그래픽 카드에 적용되는 메모리를 테스트하는데 있어 그래픽 카드의 종류에 관계없이 다양한 그래픽 카드에 범용하여 테스트 소켓을 교체하지 않고도 메모리 테스트를 손쉽게 할 수 있도록 하는 그래픽 카드의 메모리 테스트 장치에 관한 것이다.

일반적으로 그래픽 카드는 영상 신호를 생성해서 케이블을 통해 모니터에 전송하는 컴퓨터 전자 부품을 말한다.

이러한 그래픽 카드는 영상이 필요로 되는 개인용 PC나 산업용 기기 등과 같은 분야에서 대단히 폭넓게 사용되고 있으며, 특히 영상의 고화질 구현을 위한 기술의 진보가 지속적으로 이루어지고 있다.

따라서 종전에 비해 현재 사용되는 그래픽 카드에는 다수의 반도체 메모리가 장착되도록 하고 있는 바 이들 메모리의 양산을 위해서는 반드시 메모리가 정상적 으로 작동하는지를 테스트하는 과정을 거쳐야만 한다.

다시 말해 메모리의 내부 회로 특성이나 신뢰성을 미리 검사하는 것으로, 이를 위해서 현재는 조립된 메모리를 소켓에 끼운 다음 고가의 장비를 이용하여 테스트가 이루어지도록 하고 있다.

하지만 이러한 고가의 테스트 장비는 구입 부담이 커 테스트 비용을 증가시키게 되므로 메모리 제조 단가를 상승시키는 비경제적인 단점이 있다.

이에 미국공개특허 2003/0101391를 통해서는 도 1에서와 같이 마더 보드(1)에 인터페이스된 테스트 픽쳐(2)에 복수의 그래픽 칩(4)이 끼워질 수 있도록 하는 테스트 소켓(3)이 구비되도록 하는 구성으로 그래픽 카드에 실장되는 그래픽 칩(4)의 불량 여부를 테스트하기 위한 구성을 제안하고 있으나 이러한 장비는 전술한 바와 같이 실제 적용 그래픽 카드와는 관계없이 별도로 그래픽 칩(4)의 테스트를 위해 구비하게 되는 장비이므로 실제 그래픽 카드에 적용했을 때와는 불가피하게 검사 조건에 차이가 있어 노이즈 등과 같은 환경 특성을 제대로 구현하지 못하는 단점이 있어 테스트 정확도가 떨어지고 품질 문제를 발생시키는 폐단이 있다.

또한 한국공개특허 제2002-096840호(명칭:그래픽 메모리 테스트 장치)에서는 컴퓨터의 주기판에 장착되는 그래픽 보드를 사용하여 직접 메모리를 테스트할 수 있도록 하고 있다.

즉 도 2에서와 같이 메인보드(5) 상에 구비되는 그래픽 메모리 슬롯(5a)에는 인터페이스 보드(6)가 끼워지도록 하고, 인터페이스 보드(6)에 구비되는 슬롯(6a)에는 그래픽 보드(7)가 끼워지도록 하며, 그래픽 보드(7)에는 메모리(9)가 장착되 는 부위에 테스트 소켓(8)이 실장되도록 한 후 이 테스트 소켓(8)에 메모리(9)를 실장시켜 메모리 테스트가 이루어지도록 하는 것이다.

하지만 실제 사용 환경 조건 즉 메인보드(5)와 그래픽 보드(7)를 동시에 구비하고, 그래픽 보드(7)에 테스트 소켓(8)을 장착하여 이 테스트 소켓(8)에 메모리(9)가 끼워지도록 함에 의해 테스트를 수행하게 되나 메모리(9)가 삽입되는 테스트 소켓(8)은 그래픽 보드(7)에 통상 솔더링 등에 의해 견고하게 고정되어 있게 되므로 그래픽 보드(7)를 다른 사양으로 변경하는 경우에는 테스트 소켓(8) 또한 교체시켜야 하므로 대단히 비경제적인 폐단이 초래된다.

다시말해 그래픽 보드용 메모리의 테스트 공정은 통상 일정 주기(약 6개월)로 그래픽 보드(7)를 교체하는 과정에 불가피하게 테스트 소켓(8)을 동시에 교체해주어야만 하므로 그래픽 보드(7)에 비해 상당히 고가인 테스트 소켓(8)의 교체는 비용 부담을 가중시키게 될 뿐만 아니라 메모리의 제품 경쟁력을 저하시키는 문제가 있다.

따라서 본 발명은 상술한 종래 기술의 문제점들을 해결하기 위하여 발명된 것으로서, 본 발명의 목적은 테스트 소켓을 소켓 보드에서 자유 자재로 이동이 가능하게 구비되도록 하여 비록 그래픽 카드가 교체되더라도 테스트 소켓을 지속적으로 사용하면서 정확하고 안정된 메모리 테스트가 되도록 하는 그래픽 카드의 메모리 테스트 장치를 제공하는데 있다.

이와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 그래픽 카드의 칩 슬롯에 끼워지도록 저면으로 다수의 포고 핀이 하향 돌출되고, 상부면에는 메모리에 형성되는 포고 핀과 전기적으로 접속이 이루어지도록 단자를 형성한 테스트 소켓과; 메모리의 맞춤 끼움이 가능하게 수직으로 관통되는 통형상이고, 하단부에는 상기 테스트 소켓의 상부면 외주면이 결합되는 소켓 고정틀과; 상기 소켓 고정틀의 내부로 메모리를 삽입하는 동시에 이탈 방지되게 고정시키는 클램핑 부재와; 양측의 단부에는 장공을 형성하고, 양 장공의 사이에는 판면을 수직으로 관통시켜 상기 소켓 고정틀이 삽입 가능하도록 인서트 홀을 형성한 복수의 제1 프레임과; 양측의 단부에는 장공을 형성하되 상기 제1 프레임의 장공과는 직각의 방향으로 형성되고, 양 장공의 사이에는 가이드 홀을 형성하며, 가이드 홀에 걸쳐 한 쌍의 상기 제1 프레임이 이동 가능하게 안착 고정되도록 하는 하나 이상의 제2 프레임과; 그래픽 카드를 고정시킨 고정 프레임의 상부면으로부터 소정의 높이로 상향 돌출시킨 복수의 보스 상단부에 체결 수단을 이용하여 외주연 모서리부가 체결되고, 판면에는 가이드 홀을 형성하여 가이드 홀의 주연부에 걸쳐 상기 제2 프레임이 이동 가능하게 안착 고정되는 메인 프레임을 포함하는 구성이다.

이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면에 의하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.

도 3은 본 발명에 따른 테스트 장치의 분리된 구조를 도시한 사시도이다.

즉 본 발명은 크게 테스트 소켓(10)과 소켓 고정틀(20)과 클램핑 부재(30)와 제1 프레임(40)과 제2 프레임(50)과 메인 프레임(60)으로 이루어지는 구성이다.

테스트 소켓(10)은 상기 도면 및 도 4에서와 같이 그래픽 카드의 칩 슬롯에 끼워질 수 있도록 구비되는 실장 메모리에서와 같이 저면에 다수의 포고 핀(11)이 하향 돌출되도록 하고, 상부면에는 저면측 포고 핀(11)과 동일 수직선상에 전기적으로 연결되도록 한 단자가 형성되도록 한 구성이다.

소켓 고정틀(20)은 테스트 소켓(10)을 고정시키기 위한 구성으로서, 수직으로 관통시킨 통형 부재로 관통시킨 내부에는 실장하고자 하는 메모리의 삽입이 가능하도록 메모리보다는 큰 사이즈로서 내경을 형성하고, 하단부에는 테스트 소켓(10)의 상부면 외주면이 스크류 체결에 의해서 결합되며, 상단부는 양측으로 외주면이 연장되게 하여 판면에 수직으로 관통시킨 복수의 픽스 홀이 형성되도록 한 구성이다.

클램핑 부재(30)는 메모리를 소켓 고정틀(20)의 내부로 삽입시켜 테스트 소켓(10) 상부면에 형성한 단자에 메모리의 포고 핀이 전기적으로 접속되게 한 상태에서 유동이 방지되도록 하는 메모리 고정 수단이다. 이러한 클램핑 부재(30)에는 도시한 바와 같이 양측으로 걸림수단(31)이 형성되도록 하고, 클램핑 부재(30)가 삽입되는 소켓 고정틀(20)의 내주면에는 걸림수단(31)이 걸려질 수 있도록 하는 그루브(미도시)가 형성되도록 하여 이들간 결합에 의해서 크램핑 부재(30)가 소켓 고정틀(20)에서 견고하게 고정되는 상태가 유지될 수 있도록 한다.

제1 프레임(40)은 소켓 고정틀(20)을 고정시키기 위한 구성으로서, 소켓 고 정틀(20)의 외경보다는 미세하게 큰 폭으로 길이가 길게 형성되도록 한 평판의 고정부재이며, 통상 그래픽 카드에 실장되는 메모리의 갯수만큼 구비되도록 한다. 이러한 복수의 제1 프레임(40)은 형상이 조금씩 다를 수 있으나 길이 방향의 양 끝단부에 각각 장공(41)을 형성하고, 이들 장공(41) 사이의 판면에는 소켓 고정틀(20)이 삽입될 수 있도록 인서트 홀(42)을 형성하며, 인서트 홀(42)의 내주면 양측에는 도 5에서와 같이 소켓 고정틀(20)의 상단부 외주면을 외측으로 연장시킨 부위가 안착되도록 하는 걸림턱(43)이 형성되도록 한다. 이러한 걸림턱(43)에 소켓 고정틀(20)의 상단부를 얹힌 상태에서 스크류 체결에 의해 양 구성이 견고하게 결합되도록 한다.

제2 프레임(50)은 제1 프레임(40)을 고정시키기 위한 구성으로서, 제2 프레임(50)은 제1 프레임(40)을 확대한 형상과 유사한 형상으로써 하나 이상의 갯수로서 이루어지도록 한다.

이렇듯 제2 프레임(50)은 제1 프레임(40)과 같이 서로 대응되는 양측단부로 각각 장공(51)을 형성하고, 이 장공(51)들 사이의 판면에는 가이드 홀(52)이 형성되도록 하며, 이때의 가이드 홀(52)은 적어도 소켓 고정틀(20)의 외경보다는 큰 폭으로 형성되도록 하되 가이드 홀(52)의 외주연 양측단부에 걸쳐 한 쌍의 제1 프레임(40)이 각각 장공(41)을 통해 체결 수단(70)에 의해서 체결되도록 한다.

한편 제2 프레임(50)에 형성되는 장공(51)은 제1 프레임(40)에 형성되는 장공(41)과는 직각의 방향으로 형성되도록 하는 것이 가장 바람직하다.

메인 프레임(60)은 평판의 형상으로 이루어지는 구성으로, 판면에는 수직으 로 관통시킨 가이드 홀(61)을 형성하고, 이 가이드 홀(61)의 외주연부에서 제2 프레임(50)이 체결 수단(70)에 의해서 체결되도록 하며, 외주연 끝단부는 도 6에서와 같이 그래픽 카드를 고정시킨 고정 프레임(80)으로부터 상향 돌출시킨 복수의 보스(81)에 체결 수단(70)에 의해서 체결되어 견고하게 고정되도록 한다. 이러한 메인 프레임(60)에는 특히 가이드 홀(61)의 서로 대응되는 방향의 외주연부 일부를 상부면이 하향 요입되도록 하여 이 하향 요입된 부위로 제2 프레임(50)의 장공(51)을 형성한 양측단부가 이동 가능하게 얹어져서 고정될 수 있도록 하는 것이 보다 바람직하다.

상기한 구성에 따른 본 발명의 조립 및 작용에 대해서 보다 상세하게 살펴보면 다음과 같다.

전술한 바와 같이 본 발명은 우선 종래와 마찬가지로 메인 보드에 인터페이스 기판을 이용하여 그래픽 카드와 전기적으로 연결되게 함으로써 실제의 환경과 동일한 조건을 갖도록 한다.

이때 그래픽 카드를 고정하는 고정 프레임(80)에는 상부면 외측단부로 소정의 높이로서 다수의 보스(81)가 상향 돌출되도록 하고 있는 바 이 보스(81)들에 메인 프레임(60)이 얹혀지도록 하면서 메인 프레임(60)의 상부로부터 체결 수단(70)을 이용하여 보스(81)와 견고한 결합이 이루어지도록 한다.

메인 프레임(60)이 고정되면 메인 프레임(60)의 가이드 홀(61)을 걸쳐서 제2 프레임(50)이 얹혀지도록 하며, 이때 메인 프레임(60)의 가이드 홀(61)에서 서로 대응되는 외주연부의 상부면을 소정의 높이로 하향 요입시키게 되면 이 부위로 제2 프레임(50)의 장공(51)이 형성된 부위를 안착시켜 이동이 가능하게 구비시킬 수가 있게 된다.

즉 도 7에서와 같이 제2 프레임(50)은 메인 프레임(60)에서 장공(51)을 통해 체결 수단(70)을 이용하여 체결 고정시키기 전에 장공(51)의 방향으로 소정의 길이를 수평 방향으로 이동시킬 수가 있다.

이렇게 고정시킨 제2 프레임(50)에는 다시 도 8에서와 같이 제1 프레임(40)이 얹혀지도록 하되 제1 프레임(40)도 제2 프레임(50)이 메인 프레임(60)에 얹혀질 때와 유사하게 제1 프레임(40)의 판면에 형성된 인서트 홀(42)에 걸쳐서 제1 프레임(40)의 장공(41)을 통해 체결 수단(70)을 체결시켜 제2 프레임(50)에 견고하게 고정될 수 있도록 한다.

제1 프레임(50)까지 얹혀진 상태에서 제1 프레임(40)의 인서트 홀(42)에는 하단부에 테스트 소켓(10)이 제거된 얼라인용 소켓(미도시)을 결합한다. 얼라인용 소켓은 별도의 구성으로 구비할 수도 있으나 소켓 고정틀(20)로부터 테스트 소켓(10)만을 제거한 구성으로도 형성이 가능하다.

따라서 얼라인용 소켓을 이용한 얼라인은 수직으로 관통한 홀을 통해 가시적으로 확인하면서 관통홀과 그래픽 카드의 메모리 실장 위치인 칩 슬롯이 동일 수직선상에 위치되도록 하는 것이다.

즉 제1 프레임(40)에 얼라인용 소켓을 인서트 홀(42)에 끼워 단순히 얹혀지게 한 상태에서 도 7 및 도 8에서와 같이 제1 프레임(40)과 제2 프레임(50)을 상호 교차하는 직선 방향으로 이동시켜 정확한 얼라인 위치에 오게 되면 얼라인된 위치 에서 얼라인용 소켓을 제거하고 이미 테스트 소켓(10)이 결합된 소켓 고정틀(20)을 제1 프레임(40)의 인서트 홀(42)에 삽입한 후 스크류 체결에 의해 견고하게 고정되도록 한다.

이와 같은 방식으로 그래픽 카드에 형성되는 칩 슬롯의 갯수만큼 복수로 구비되는 제1 프레임(40)에 테스트 소켓(10)이 결합된 소켓 고정틀(20)을 결합시킨다.

따라서 그래픽 카드의 칩 슬롯에 테스트 소켓(10)이 결합되게 소켓 고정틀(20)을 고정시킨 상태에서 소켓 고정틀(20)을 제1 프레임(40)에 스크류 체결하고, 제1 프레임(40)은 양측단부의 장공(41)을 통해 체결 수단(70)을 이용하여 제2 프레임(50)에 고정되도록 하고, 제2 프레임(50)은 다시 제1 프레임(40)과 마찬가지로 장공(51)을 통해 체결 수단(70)을 이용하여 메인 프레임(60)에 고정되도록 하는 것이다.

이와 같이 하여 메인 프레임(60)에는 하나 이상의 제2 프레임(50)이 구비되고, 각 제2 프레임(50)에는 한 쌍의 제1 프레임(40)이 고정되도록 하며, 하나의 제1 프레임(40)에는 하나의 테스트 소켓(10)을 결합한 소켓 고정틀(20)이 결합되므로 그래픽 카드에 구비되는 메모리의 실장 갯수에 상관없이 거의 모든 그래픽 카드에 적용되는 메모리의 정상 및 불량 여부를 평가할 수가 있다.

다시 말해 고정 프레임에 그래픽 카드를 고정시킨 후 그래픽 카드로부터 소정의 높이를 이격시킨 높이에 메인 프레임(60)을 고정시켜 이 메인 프레임(60)에서 제1 프레임(40)과 제2 프레임(50)을 서로 수평선상에서 직각의 방향으로 이동시켜 제1 프레임(40)에서 소켓 고정틀(20)에 고정되는 테스트 소켓(10)이 정확히 그래픽 카드의 칩 슬롯에 결합시킨 상태로 제1 프레임(40)과 제2 프레임(50)이 견고하게 고정되도록 하여 그래픽 카드에 실장될 메모리의 성능 평가가 용이하게 이루어질 수 있도록 하는 것이다.

한편 전기와 같이 그래픽 카드의 칩 슬롯에 테스트 소켓(10)을 결합시킨 상태에서 소켓 고정틀(20)의 내부로 메모리를 삽입한 후 클램핑 부재(20)를 소켓 고정틀(20)의 내부로 삽입시켜 메모리의 유동 및 이탈이 방지되도록 한다.

이때 클램핑 부재(20)는 소켓 고정틀(20)의 내부에 삽입된 메모리가 테스트 소켓(10)의 상부면으로 형성한 단자와 안정되게 접속이 이루어질 수 있도록 하는 기능도 동시에 하게 된다.

이상과 같이 칩 슬롯에 테스트 소켓(10)이 전기적으로 접속된 상태로 제1 프레임(40)과 제2 프레임(50)이 고정되도록 하면 클램핑 부재(20)의 결합 및 분리와 메모리의 지속적인 교체를 통해 그래픽 카드용 메모리의 성능 평가가 원활하게 이루어질 수 있도록 한다.

한편 하나의 그래픽 카드를 이용한 메모리 성능 평가는 앞서 명시한 바와 같이 통상 약 6개월에 걸쳐 다른 그래픽 카드로 교체를 하게 되는데 이렇게 그래픽 카드를 교체하게 될 때에도 본 발명에서는 제1 프레임(40)으로부터 테스트 소켓(10)을 결합한 소켓 고정틀(20)만을 분리하기만 하면 간단히 그래픽 카드를 교체한 후 얼라인하는 최초의 방식대로 재설정하기만 하면 된다.

즉 본 발명에서는 이전에 사용하던 테스트 소켓(10)을 교체한 그래픽 카드에 도 그대로 사용할 수가 있으므로 종전과 같은 고가의 테스트 소켓(10)을 다시 구입해야하는 부담을 해소할 수가 있게 된다.

한편 상기한 설명에서 많은 사항이 구체적으로 기재되어 있으나, 그들은 발명의 범위를 한정하는 것이라기보다는 바람직한 실시예의 예시로서 해석되어야 한다.

따라서 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 의하여 정하여 질 것이 아니고 특허 청구범위에 기재된 기술적 사상에 의해 정하여져야 한다.

상술한 바와 같이 본 발명에 의하면 메모리 성능 평가를 위해 그래픽 카드의 칩 슬롯에 반드시 결합해야 하는 테스트 소켓(10)을 그래픽 카드에 고정시키지 않고서도 다양한 그래픽 카드에 착탈 가능하게 구비되도록 하여 그래픽 카드 교체에 따른 고가의 테스트 소켓(10)의 구비 부담을 대폭적으로 절감시키므로써 그래픽 카드의 메모리 성능 평가의 효율성 및 경제성을 향상시키도록 하는 것이다.

Claims (5)

1. 그래픽 카드의 칩 슬롯에 끼워지도록 저면으로 다수의 포고 핀이 하향 돌출되고, 상부면에는 메모리에 형성되는 포고 핀과 전기적으로 접속이 이루어지도록 단자를 형성한 테스트 소켓과;

   메모리의 맞춤 끼움이 가능하게 수직으로 관통되는 통형상이고, 하단부에는 상기 테스트 소켓의 상부면 외주면이 결합되는 소켓 고정틀과;

   상기 소켓 고정틀의 내부로 메모리를 삽입하는 동시에 이탈 방지되게 고정시키는 클램핑 부재와;

   양측의 단부에는 장공을 형성하고, 양 장공의 사이에는 판면을 수직으로 관통시켜 상기 소켓 고정틀이 삽입 가능하도록 인서트 홀을 형성한 복수의 제1 프레임과;

   양측의 단부에 장공을 형성하되 상기 제1 프레임의 장공과는 직각의 방향으로 형성되고, 양 장공의 사이에는 가이드 홀을 형성하며, 가이드 홀에 걸쳐 한 쌍의 상기 제1 프레임이 이동 가능하게 안착 고정되도록 하는 하나 이상의 제2 프레임과;

   그래픽 카드를 고정시킨 고정 프레임의 상부면으로부터 소정의 높이로 상향 돌출시킨 복수의 보스 상단부에 체결 수단을 이용하여 외주연 모서리부가 체결되고, 판면에는 가이드 홀을 형성하여 가이드 홀의 주연부에 걸쳐 상기 제2 프레임이 이동 가능하게 안착 고정되는 메인 프레임;

   을 포함하는 구성인 그래픽 카드의 메모리 테스트 장치.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 클램핑 부재에는 양측으로 걸림수단이 형성되도록 하여 상기 소켓 고정틀의 내주면에 형성한 그루브에 이탈이 방지되게 걸려지도록 하는 그래픽 카드의 메모리 테스트 장치.
3. 제 1 항에 있어서, 상기 제1 프레임에는 인서트 홀의 내주면 양측으로 상기 소켓 고정틀의 상단부 외주면을 외측으로 연장시킨 부위가 스크류 체결되는 걸림턱을 형성한 그래픽 카드의 메모리 테스트 장치.
4. 제 1 항에 있어서, 상기 하나 이상의 제2 프레임에는 한 쌍의 제1 프레임이 구비되는 그래픽 카드의 메모리 테스트 장치.
5. 제 1 항에 있어서, 상기 메인 프레임에는 한 쌍의 제2 프레임이 구비되는 그래픽 카드의 메모리 테스트 장치.

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