KR100324326B1 - 입력 버퍼 회로 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 입력 버퍼 회로에 관한 것으로, 전원전압(VCC)을 측정이 용이한 전압 레벨로 분압하는 전압 분배부와, 상기 전압 분배부를 통해 입력받은 전원전압(VCC)과 기준전압(VREF)을 비교하여 출력하는 차동 증폭부와, 인에이블 신호(EN)에 의해 상기 전압 분배부 및 차동 증폭부의 동작을 각각 온/오프 시키는 엔모스 트랜지스터(MN7,MN8)와; 인에이블 신호(EN)가 '로우'일 때 고전압 출력신호(HVDD)가 출력되지 않게 하는 피모스 트랜지스터(MP3)와; 상기 차동 증폭부 또는 피모스 트랜지스터(MP3)의 출력을 입력받아 반전하여 고전압 출력신호(HVDD)를 출력하는 인버터(INV2)와, 대기모드 제어신호(RSTB)를 반전 출력하는 인버터(INV1)와; 상기 인버터(INV1)를 통해 출력되는 전압에 의해 전원전압(VDD)을 공급 또는 차단하는 피모스 트랜지스터(MP1)와; 상기 피모스 트랜지스터(MP1)를 통해 인가되는 전압을 동작전압으로 하여 TTL레벨의 입력신호를 반전 출력하는 인버터부와; 상기 인버터(INV1)의 출력 전압에 의해 온/오프 되어 인버터부의 출력을 온/오프 시키는 엔모스 트랜지스터(MN2)와, 전원전압(VCC)의 레벨에 따라 인버터의 트랜지션 영역을 변형시키는 트랜지션 전환부로 구성하여 전원전압의 레벨을 검출하여 버퍼의 트랜지션 레벨을 전원전압의 레벨에 따라 고전압용과 저전압용으로 가변할 수 있도록 함으로써, 와이드 전압(2.7∼5V)용 메모리 칩에 적용할 수 있는 효과가 있다.
Description
본 발명은 입력 버퍼에 관한 것으로, 특히 대부분 노아 게이트 형태를 취하고 있는 입력 버퍼에 있어서, 상기 노아 게이트의 천이점(transition point)이 전원전압(VCC) 변화에 따라 적절히 대응하지 못하기 때문에 와이드 전압(2.7∼5V)용 메모리 칩에 적용하지 못하였으나 전원전압에 따라 입력 버퍼의 트랜지션 영역을 조절하여 와이드 전압에 대응할 수 있도록 하는 입력 버퍼 회로에 관한 것이다.
도1은 종래 입력 버퍼 회로의 예를 보인 회로도로서, 이에 도시된 바와 같이 대기모드 제어신호(RSTB)를 반전 출력하는 인버터(INV1)와; 상기 인버터(INV1)를 통해 출력되는 전압에 의해 전원전압(VDD)을 공급 또는 차단하는 피모스 트랜지스터(MP1)와; 상기 피모스 트랜지스터(MP1)를 통해 인가되는 전압을 동작전압으로 하여 TTL레벨의 입력신호를 반전 출력하는 인버터부(1)와; 상기 인버터(INV1)의 출력 전압에 의해 온/오프 되어 인버터부(1)의 출력을 온/오프 시키는 엔모스 트랜지스터(MN2)로 구성된 것으로, 이의 동작 및 작용을 설명하면 다음과 같다.
일단, 상기 도1은 인버터 형태의 대표적인 입력 버퍼 회로로서, 기본적으로 TTL 입력에 대한 버퍼의 개념은 TTL 입력이 2.2V 이상이면 로직 '하이', 0.8V 이하이면 로직 '로우'로 인식하는 것이다.
따라서, 도1과 같은 회로에서는 TTL 입력이 2.2V이면 출력(out)은 '로우'레벨이 되고, 0.8V이면 출력(out)은 '하이'레벨로 된다.
한편, 대기모드 제어신호(RSTB)는 대기모드(standby mode)에서 버퍼를 오프시켜서 전류소모가 없도록 하기 위한 것으로, '하이'가 입력되면 피모스 트랜지스터(MP1)는 턴온되고 엔모스 트랜지스터(MN2)는 오프되어 인버터부(1)를 통해 정상적인 버퍼의 역할을 하는 동작모드(active mode)로 전환된다.
그러나, 대기모드 제어신호(RSTB)로 '로우'가 입력되면 피모스 트랜지스터(MP1)는 턴오프되고, 엔모스 트랜지스터(MN2)는 턴온되어 버퍼를 오프시키는 대기모드(standby mode)로 전환하게 된다.
상기, TTL 입력(input)에 따른 출력레벨을 정리하면 다음 표1과 같이 된다.
입력 레벨(input) | 트랜지스터 상태 | 출력(out) |
2.2V | MP1 → on | L |
MN1 → on | ||
MP2 → off | ||
MN2 → off | ||
0.8V | MP1 → on | H |
MN1 → off | ||
MP2 → on | ||
MN2 → off |
다음, 도 2는 전원전압(VCC)이 3V 일때의 도1에 대한 시뮬레이션 결과를 보인 상태도로서, 입력이 0.8V일 때는 '하이'레벨이고, 2.2V 일 때는 '로우'레벨을 나타내고, 그 중간의 트랜지션 영역에서의 레벨의 천이 과정을 잘 보여준다.
다음 도 3은 종래 입력 버퍼에 의한 TTL 입력신호와 전원전압(VCC) 특성을 보인 그래프로서, 전원전압(VCC)이 2.7V에서 5.5V로 움직일 동안 TTL 입력신호에 대한 천이영역은 1.1V에서 2.2V까지 광범위하게 움직이는 것을 알 수 있다.
즉, 천이영역의 최하전압(VIL)은 1.1V이고, 최고전압(VIH)은 2.2V로 마진(margin)을 갖지 못한다.
이와 같이, 상기 종래의 기술에 있어서 입력 버퍼는 인버터의 트랜지션 영역을 이용해서 TTL 입력을 검출하기 때문에 좁은 트랜지션 영역의 범위를 넘어가는 VCC 레벨에 대해서는 TTL 레벨이 모두 '로우'로 인식될 수 있어 와이드 전원전압을 사용하는 칩에서 사용하기에는 적합하지 못한 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 창출한 것으로, 전원전압의 레벨을 검출하여 버퍼의 트랜지션 레벨을 전원전압의 레벨에 따라 고전압용과 저전압용으로 가변할 수 있도록 하는 입력 버퍼 회로를 제공함에 그 목적이 있다.
도 1은 종래 입력 버퍼 회로의 예를 보인 회로도.
도 2는 전원전압이 3V 일때의 도1에 대한 시뮬레이션 결과를 보인 상태도.
도 3은 종래 입력 버퍼에 의한 TTL 입력신호와 전원전압 특성을 보인 그래프도.
도 4는 본 발명에 의한 입력 버퍼의 구성을 보인 블록도.
도 5는 상기 도4에서 각 블록의 세부 구성을 보인 회로도.
도 6은 본 발명에 의한 저전원전압에서의 TTL 입력신호에 대한 트랜지션 영역의 특성을 보인 그래프도.
도 7은 본 발명에 의한 고전원전압에서의 TTL 입력신호에 대한 트랜지션 영역의 특성을 보인 그래프도.
***도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명***
10 : 버퍼부 20 : 전압 검출부
10a : 트랜지션 전환부 20a : 전압 분배부
20b : 차동 증폭부 MP1∼MP5 : 피모스 트랜지스터
MN1∼MN8 : 엔모스 트랜지스터 INV1,INV2 : 인버터
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은 전원전압(VCC)을 측정이 용이한 전압 레벨로 분압하는 전압 분배부와, 상기 전압 분배부를 통해 입력받은 전원전압(VCC)과 기준전압(VREF)을 비교하여 출력하는 차동 증폭부와, 인에이블 신호(EN)에 의해 상기 전압 분배부 및 차동 증폭부의 동작을 각각 온/오프 시키는 엔모스 트랜지스터(MN7,MN8)와; 인에이블 신호(EN)가 '로우'일 때 고전압 출력신호(HVDD)가 출력되지 않게 하는 피모스 트랜지스터(MP3)와; 상기 차동 증폭부 또는 피모스 트랜지스터(MP3)의 출력을 입력받아 반전하여 고전압 출력신호(HVDD)를 출력하는 인버터(INV2)와, 대기모드 제어신호(RSTB)를 반전 출력하는 인버터(INV1)와; 상기 인버터(INV1)를 통해 출력되는 전압에 의해 전원전압(VDD)을 공급 또는 차단하는 피모스 트랜지스터(MP1)와; 상기 피모스 트랜지스터(MP1)를 통해 인가되는 전압을 동작전압으로 하여 TTL레벨의 입력신호를 반전 출력하는 인버터부와; 상기 인버터(INV1)의 출력 전압에 의해 온/오프 되어 인버터부의 출력을 온/오프 시키는 엔모스 트랜지스터(MN2)와, 전원전압(VCC)의 레벨에 따라 인버터의 트랜지션 영역을 변형시키는 트랜지션 전환부로 구성한 것을 특징으로 한다.
이하, 본 발명에 따른 일실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 4는 본 발명에 의한 입력 버퍼의 구성을 보인 블록도로서, 이에 도시한 바와 같이 전원전압(VCC)이 소정전압 이상인지 이하인지를 검출하여 버퍼부(10)에 출력하는 전압 검출부(20)와; 전원전압의 레벨에 따라 고전압용 또는 저전압용으로 사용할 수 있도록 가변되는 버퍼부(10)로 구성된다.
다음, 도 5는 상기 버퍼부(10) 및 전압 검출부(20)의 상세 내부 구성을 보인 회로도로서, 먼저 상기 버퍼부(10)는 대기모드 제어신호(RSTB)를 반전 출력하는 인버터(INV1)와; 상기 인버터(INV1)를 통해 출력되는 전압에 의해 전원전압(VDD)을 공급 또는 차단하는 피모스 트랜지스터(MP1)와; 상기 피모스 트랜지스터(MP1)를 통해 인가되는 전압을 동작전압으로 하여 TTL레벨의 입력신호를 반전 출력하는 인버터부(1)와; 상기 인버터(INV1)의 출력 전압에 의해 온/오프 되어 인버터부(1)의 출력을 온/오프 시키는 엔모스 트랜지스터(MN2)로 구성된 입력버퍼에 있어서, 전원전압(VCC)의 레벨에 따라 인버터의 트랜지션 영역을 변형시키는 트랜지션 전환부(10a)를 더 포함하여 구성한다.
다음, 상기 전압 검출부(20)는 전원전압(VCC)을 측정이 용이한 전압 레벨로 분압하는 전압 분배부(20a)와; 상기 전압 분배부(20a)를 통해 입력받은 전원전압(VCC)과 기준전압(VREF)을 비교하여 출력하는 차동 증폭부(20b)와; 인에이블 신호(EN)에 의해 상기 전압 분배부(20a) 및 차동 증폭부(20b)의 동작을 각각 온/오프 시키는 엔모스 트랜지스터(MN7,MN8)와; 인에이블 신호(EN)가 '로우'일 때 고전압 출력신호(HVDD)가 출력되지 않게 하는 피모스 트랜지스터(MP3)와; 상기 차동 증폭부(20b) 또는 피모스 트랜지스터(MP3)의 출력을 입력받아 반전하여 고전압 출력신호(HVDD)를 출력하는 인버터(INV2)로 구성한 것으로, 이와 같이 구성한 본 발명의 동작 및 작용을 첨부한 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
일단, 전압 검출부(20)는 '하이'레벨의 인에이블 신호(EN)가 인가될 때 전원전압(VCC)이 일정 전압 이상 올라가면 엔모스 트랜지스터(MN5)가 턴온되고, 이에 따라 인버터(INV2)의 입력레벨이 '로우'로 떨어지게 되어 그 출력 즉, 고전압 검출신호(HVDD)를 '로우'에서 '하이'로 천이시킨다.
이에 따라 '하이'로 천이된 고전압 검출신호(HVDD)는 버퍼부(10)의 트랜지션 전환부(10a)의 엔모스 트랜지스터(MN4)에 입력되어 인버터부(1)의 트랜지션 영역을 고전압에 맞게 변형시키게 된다.
즉, 버퍼는 하나이지만 전원전압(VCC)의 레벨에 따라 이를 검출하여 고전압 검출신호(HVDD)에 의해 버퍼의 트랜지션 영역을 조절함으로써, 저전압용 버퍼와 고전압용 버퍼를 모두 가진것과 같은 효과를 얻게 한다.
다음, 도 6과 도 7은 본 발명에 의한 TTL 입력신호와 전원전압(VCC)의 특성을 보인 그래프로서, 먼저 도 6은 전압 검출부(20)의 고전압 출력신호(HVDD)가 '로우'인 상태로서, 전원전압(VCC)이 2.7V∼3.7V 범위에 있을 경우로 종래와 동일한 결과를 갖는 것을 알 수 있다.
다음, 도 7은 전원전압(VCC)이 3.7V 이상에서 5.5V 까지일 경우의 시뮬레이션 결과로서, 전원전압(VCC)이 5.5V에서도 종래와는 달리 입력버퍼의 천이영역이 1.55V 근처에 있는 것을 알 수 있다.
즉, 최고전압(VIH)이 1.55V로서 TTL 입력신호에 대한 충분한 마진을 가질 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명 입력 버퍼 회로는, 전원전압의 레벨을 검출하여 버퍼의 트랜지션 레벨을 전원전압의 레벨에 따라 고전압용과 저전압용으로 가변할 수 있도록 함으로써, 와이드 전압(2.7∼5V)용 메모리 칩에 적용할 수 있는 효과가 있다.
Claims (3)
- 전원전압(VCC)을 측정이 용이한 전압 레벨로 분압하는 전압 분배부와, 상기 전압 분배부를 통해 입력받은 전원전압(VCC)과 기준전압(VREF)을 비교하여 출력하는 차동 증폭부와, 인에이블 신호(EN)에 의해 상기 전압 분배부 및 차동 증폭부의 동작을 각각 온/오프 시키는 엔모스 트랜지스터(MN7,MN8)와; 인에이블 신호(EN)가 '로우'일 때 고전압 출력신호(HVDD)가 출력되지 않게 하는 피모스 트랜지스터(MP3)와; 상기 차동 증폭부 또는 피모스 트랜지스터(MP3)의 출력을 입력받아 반전하여 고전압 출력신호(HVDD)를 출력하는 인버터(INV2)와, 대기모드 제어신호(RSTB)를 반전 출력하는 인버터(INV1)와; 상기 인버터(INV1)를 통해 출력되는 전압에 의해 전원전압(VDD)을 공급 또는 차단하는 피모스 트랜지스터(MP1)와; 상기 피모스 트랜지스터(MP1)를 통해 인가되는 전압을 동작전압으로 하여 TTL레벨의 입력신호를 반전 출력하는 인버터부와; 상기 인버터(INV1)의 출력 전압에 의해 온/오프 되어 인버터부의 출력을 온/오프 시키는 엔모스 트랜지스터(MN2)와, 전원전압(VCC)의 레벨에 따라 인버터의 트랜지션 영역을 변형시키는 트랜지션 전환부로 구성한 것을 특징으로 하는 입력 버퍼 회로.
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Families Citing this family (2)
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Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19980069505A (ko) * | 1997-02-28 | 1998-10-26 | 문정환 | 클럭 신호 입력 버퍼 |
KR19980077450A (ko) * | 1997-04-18 | 1998-11-16 | 윤종용 | 전원 전압의 레벨을 검출하기 위한 회로를 갖는 반도체 메모리 장치 |
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---|---|---|---|---|
KR19980069505A (ko) * | 1997-02-28 | 1998-10-26 | 문정환 | 클럭 신호 입력 버퍼 |
KR19980077450A (ko) * | 1997-04-18 | 1998-11-16 | 윤종용 | 전원 전압의 레벨을 검출하기 위한 회로를 갖는 반도체 메모리 장치 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101062265B1 (ko) | 2007-11-26 | 2011-09-06 | 가부시키가이샤 리코 | 강압형 스위칭 레귤레이터 |
US9496874B2 (en) | 2014-10-10 | 2016-11-15 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Receiver circuit and signal receiving method thereof |
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