KR100299201B1 - 광학픽업장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 광학 기록 매체상에 정보 신호를 기록하는 광 픽업 장치에 관한 것이다. 상기 장치는 확산된 광속을 방사하는 광원과, 상기 광원으로부터 방사된 광속이 입사되고 광학 기록 매체상에 광속을 수렴하도록 적응된 대물렌즈와, 상기 광원과 상기 대물렌즈 사이의 광경로상에서 상기 광속이 확산된 광속으로 유지되는 위치에 배치되는 광속 분리 장치와, 상기 광속 분리 장치에 의해 상기 광경로로부터 이탈된 반사된 광속을 검출하는 광 검출 수단과, 상기 광속 분리 장치와 상기 광 검출 수단사이의 광경로상에서 상기 반사된 광속이 수렴된 광속으로 유지되는 위치에 배치된 편광 의존형 광속 분리 장치를 포함하며, 상기 광속 분리 장치는 상기 광학 기록 매체상에 수렴되고 상기 광학 기록 매체에 의해 상기 광경로 바깥으로 반사되는 광속을 가이드하도록 적응된다. 이러한 방법에 의해 정보 신호의 기록 특성이 개선되며, 상기 장치의 소형화 및 단순화가 실현된다.
Description
제1도는 종래의 광 픽업 장치를 도시하는 개략적인 측단면도.
제2도는 본 발명에 따른 광 픽업 장치의 구조를 도시하는 개략 평면도.
제3도는 본 발명에 따른 광 픽업 장치의 구조 변형을 도시하는 개략적인 평면도.
제4도는 제3도에 도시된 광 픽업 장치의 구조를 도시하는 개략적인 측단면도.
제5도는 제1도 내지 제4도에 도시된 광 픽업 장치의 광 검출기의 수광면을 도시하는 평면도.
제6a도 내지 제6c도는 광 픽업 장치를 구성하는 편광 빔 스플리터의 특성을 도시하는 그래프로서, 제6a도는 입사각과 P 편광의 광속의 투과 사이의 관계를 도시하는 그래프이고, 제6b도는 입사각과 S 편광의 광속의 반사율 사이의 관계를 도시하는 그래프이며, 제6c도는 입사각과 광속의 위상 편차 사이의 관계를 도시하는 그래프.
제7도는 본 발명에 따른 광 픽업 장치의 다른 변형을 도시하는 개략적인 측단면도.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
1 : 레이저 다이오드 장치 5 : 편광 빔 스플리터
12 : 광 검출기 17 : 자기 장치
20 : 디스크 기판 21 : 신호 기록층
23 : 광자기 디스크
본 발명은, 광자기 디스크 상에 정보 신호를 기입하고, 광자기 디스크로부터 정보 신호를 판독하기 위한 광 픽업 장치에 관한 것이다. 특히 본 발명은 광원으로부터 방사된 광 빔이 대물 렌즈를 통하여 정보 기록 매체에 방사되고, 정보 기록 매체로부터 반사된 반사 광 빔이 정보 기록 매체 상에 기록된 정보 신호를 판독하는 광 검출 수단에 의해 검출되는 광 픽업 장치에 관한 것이다.
광학 수단에 의해 정보 신호를 기입하기 위한 정보 기록 매체가 제안되고 있다. 이러한 정보 기록 매체의 전형적인 형태인 광자기 디스크는 디스크 기판과 시호 기록층으로 이루어진다. 신호 기록층은, 이것을 큐리 온도 이상으로 가열하고 대응하는 자기장을 인가할 경우, 자화 방향이 반전되는 재료로 구성된다. 광 픽업 장치는 정보 기록 매체 상에 정보 신호를 기입하고, 정보 기록 매체로부터 정보 신호를 판독하기 위해 사용된다.
제 1 도에서, 광 픽업 장치는, 광원으로서 레이저 다이오드 장치(1)와, 레이저 다이오드 소자(1)로부터 방사된 광 빔을 신호 기록층 상에 수렴시키는 대물 렌즈(9)로 이루어진다. 광 픽업 장치는 또한, 신호 기록층 상에 수렴되고, 그로부터 반사되는 광속(light flux)을 검출하는 광 검출기(12)를 갖는다.
레이저 다이오드 장치(1)는 캔형(can-shaped) 패키지를 가지며, 복수의 단자로부터 공급된 광을 방사한다. 레이저 장치(1)는 패키지에 배치된 반도체 칩을 포함하며, 반도체 칩의 활성층의 단자 단부로부터 광을 방사한다. 레이저 다이오드 장치는 점형(point-shaped) 광원이다. 레이저 다이오드 장치(1)로부터 방사된 광속은 편광 빔 스플리터(5) 상에 입사되기 전에 콜리메이터(collimator) 렌즈(7)에 의해 평행하게 된다. 대물 렌즈(9)는 광자기 디스크(23)의 신호 기록층(21)과 디스크 기판(20) 사이의 경계면인 신호 기록면 상에 광속을 수렴시킨다.
신호 기록면 상에서, 정보 신호는 나선형으로 연장되는 거의 동심의 기록 트랙 상에 기입된다.
신호 기록면 상에 수렴된 광속은, 신호 기록면 상에 반사되어 대물 렌즈(9)상에 반사된 광원으로 재입사된다. 반사된 광속은 편광 빔 스플리터(5) 상에 재입사되기 전에 평행하게 된다. 편광 빔 스플리터(5) 상에 재입사된 반사된 광속은 3빔 올래스톤 프리즘(3-beam Wollaston prism:11) 상에 입사되도록 대부분 편광 빔 스플리터(5)의 반투과막(semi-transmitting film:6)에 의해 반사된다. 편광 빔 스플리터(5)의 반투과막(6)은, 반사된 광속 중, S편광 성분의 약 95%가, 반투과막(6)에 의해 반사되고, P편광 성분의 약 80%가 반투과막(6)을 통하여 투과하도록 설계된다.
3빔 올래스톤 프리즘 상에 입사된 반사된 광속은 콘덴서 렌즈(22)에 의해 광 검출기(12)의 수광면 상에 수렴되도록 프리즘(11)을 통하여 투과된다.
광 검출기(12)는 복수 개의 수광면을 가지며 패키지 내에 제공된다. 광 검출기(12)는 수광면에 의해 수용된 광속의 밀도를 전기 신호로서 출력하도록 설계된다. 광 검출기(12)로부터 출력된 전기 신호는, 반사된 광속의 광 체적(light volume)의 변화, 편광에서의 변화, 또는 비점수차(astigmatism)의 정도 변화를 검출하는 신호이다.
광자기 디스크(23) 상에 정보 신호를 기입하기 위하여, 광 픽업 장치는 신호 기록층(21)을 국부적으로 가열하도록 레이저 다이오드 장치(1)로부터 방사된 광속을 신호 기록층(21) 상에 수렴시킨다. 이 때, 제 1 도에 도시된 것처럼 자기 장치(17)에 의해 신호 기록층(21)에 외부 저장이 인가된다. 이 때, 신호 기록층(21)상의 광속 수렴의 상태와 신호 기록층(21) 상의 광속의 방사 위치 조정은, 광 검출기 장치(12)로부터 출력된 전기 신호에 기초하여 형성된 다양한 정보를 기초로 조정될 수 있다.
정보 신호는, 레이저 다이오드 소자에 의해 방사된 광속이 신호 기록층(21)상에 수렴되어 방사될 동안, 광 검출기 장치(12)로부터 유도된 정보에 기초하여 광자기 디스크(23)로부터 광 픽업 장치에 의해 판독된다.
반면에 상술의 광 픽업 장치에서, 편광 빔 스플리터(5)는 레이저 다이오드 장치(1)와 대물 렌즈(9) 사이의 광속이 평행하게 되는 광 경로 상의 한 곳에 정렬된다. 3빔 올래스톤 프리즘(11) 또한 편광 빔 스플리터(5)의 반사막(6)에 의해 반사된 평행한 광속이 프리즘(11) 상에 입사되도록 정렬된다.
이는, 수렴 또는 분산되는 광속 내에 정렬된 편광 빔 스플리터(5)가 편광 빔 스플리터(5)의 반사막(6)에서 이중 반사를 형성하기 때문이다. 만일, 반사막(6)에서 이중 반사가 형성된다면, 소위 CN 비가 낮아져 광자기 디스크(23)로부터 정보 신호를 양호하게 판독하는 것이 불가능하게 된다. 편광 빔 스플리터(5)의 반투과막(6)이 입사된 광속 투과에 따른 입사각을 갖기 때문에 이중 반사가 형성되어, 반투과막(6)에서는, 수렴 및 분산 광속의 P편광 성분과 S편광 성분 사이의 위상 편차가 형성된다.
판독 전용 광 픽업 장치에서, 그 구조 및 크기를 줄이기 위해, 빔 스플리터는 수렴 광속인 반사된 광속이 광 디스크로부터 반사되는 광속의 광 경로 상의 한곳에 위치한다. 만일 빔 스플리터가 수렴하는 광속에 정렬될 경우, 레이저 다이오드 장치와 콜리메이터 렌즈(7) 사이의 공간이 효과적으로 이용되며, 수렴 렌즈(22)는 광 픽업 장치의 크기 및 구조를 축소 가능하게 한다. 환언하면, 편광 빔 스플리터(5)를 평행하게 광속 내에 배치한다는 사실이, 광 픽업 장치를보다 간단한 구조 및 소형 크기로 하는데 방해가 될 수도 있다.
미국 특허 제4,771,414호에는 광자기 디스크의 신호 기록면으로부터 반사된 광 빔을 광 검출기로 도입하기 위하여 3빔 올래스톤 프리즘이 사용되는 광 픽업 장치가 기술되어 있다.
[발명의 목적 및 개요]
본 발명의 목적은 양호한 기록 특성을 갖는 정보 기록 매체 상에 정보 신호를 기록할 수 있는 광 픽업 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 그 구조의 단순화 및 크기의 축소가 가능한 광 픽업 장치를 제공하는 것이다.
본 발명에 따르면, 확산된 광속(diffused light flux)을 방사하는 광원과, 상기 광원으로부터 방사된 광속이 입사되고, 상기 광학 기록 매체 상에 상기 광속이 수렴되도록 하는 대물 렌즈와, 상기 광원과 상기 대물 렌즈 사이의 광 경로 상의 상기 광속이 확산된 광속으로 유지되는 위치에 배치되어, 상기 광학 기록 매체 상에 수렴되고, 상기 광학 기록 매체에 의해 반사되는 광속을 상기 광 경로 외측으로 안내(guiding)하는 광속 분리 장치와, 상기 광속 분리 장치에 의해 상기 광 경로 외측으로 안내된 반사 광속을 검출하는 광 검출 수단과, 상기 광속 분리 장치와 상기 광 검출 수단 사이의 광 경로 상의 상기 반사된 광속이 수렴된 광속으로 유지되는 위치에 배치된 광속 분리 장치를 포함하는, 광학 기록 매체 상의 정보 신호 기록용 광 픽업 장치가 제공된다.
본 발명의 상기 및 다른 목적은 하기 서술에 의해 명확하게 될 것이다.
[실시예]
제 2 도에서, 본 발명에 따른 광 픽업 장치는 광원으로서 레이저 다이오드(2)와, 레이저 다이오드(2)에 방사된 광속을 정보 기록 매체로서의 광자기 디스크 상에 수렴하기 위한 대물 렌즈(9)를 포함한다. 또한 광 픽업 장치는 광자기 디스크 상에 수렴되어 그로부터 반사된 광속을 검출하기 위한 광 검출기(13)를 포함한다.
레이저 다이오드(2)는 캔형 패키지(can-shaped:1)에 배치되어 광을 검출하는 복수개의 단자(3)를 통하여 전류를 공급받는다. 레이저 다이오드(2)는 그 단부가 광속을 방사하는 활성층을 갖는 반도체 칩으로 배치된다. 레이저 다이오드(2)는 거의 점형(point-shaped) 광원이다.
레이저 다이오드(2)로부터 방사된 광속은 광속 분할 장치로서 작동되는 편광 빔 스플리터(5) 상에 입사되기 전에 회절격자(4)를 통하여 투과됨으로써 상이한 진행 방향을 갖는 3개의 평행한 광속으로 분리된다. 콜리메이터 렌즈(7) 상에 입사되기 위해 반투과막(6)을 통하여 광속의 약 63%가 투과된다. 콜리메이터 렌즈(7) 상에 입사된 광속은 콜리메이터 렌즈(7)에 의해 평행하게 된다. 평행하게 된 광속은 대물 렌즈(9) 상에 입사되기 전에 평면 반사 거울(8)에 의한 반사에 의해 광 경로에서 약 90°반사된다. 대물 렌즈(9)는 광속을 광자기 디스크의 신호 기록층과 디스크 기판 사이의 경계인 신호 기록면 상에 수렴시킨다.
신호 기록면 상에서, 정보 신호는 나선형으로 연장되는 거의 동심의 기록 트랙에 따라 기입된다. 회절 격차(4)에 의해 분리된 광속은 신호 기록면 상에 방사됨으로써 소위 3빔 시스템으로 알려진 트래킹 오차 검출 시스템을 작동시키기 위한 기록 트랙에 걸치도록 신호 기록면 상에 방사된다. 중앙의 주 빔(main beam)의 방사된 위치와 기록 트랙 사이의 위치 편차(positional deviation)는 신호 기록에 의해 양측 빔의 방사된 광의 체적을 비교함으로써 검출된다.
신호 기록면 상에 수렴된 광속은 신호 기록면에 의해 반사됨으로써, 반사된 광속으로서 대물 렌즈(9) 상에 재입사된다. 따라서 대물 렌즈(9) 상에 재입사된 반사된 광속은 평면 반사 거울(8)을 통하여 콜리메이터 렌즈(7) 상에 재입사되도록 평행하게 된다. 콜리메이터 렌즈(7) 상에 재입사된 반사된 광속은 편광 빔 스플리터(5) 상에 다시 입사되는 수렴된 광속으로 수렴된다.
빔 스플리터(5) 상에 재입사된 수렴된 광속인 반사된 광속은 편광 빔 스플리터(5)의 반투과막(6)에서 거의 S 편광 상태이다. 제 6a 도의 그래프에서, 광속이, 편광 빔 스플리터(5) 상에 0 °의 입사각, 즉, 직각의 입사각으로 입사되고, 반투과막(6) 상에 45 °의 입사각으로 입사하면, P 편광 성분의 약 68%가 반투과막(6)을 통하여 투과된다. 제 6b 도의 그래프에서, 광속이 편광 빔 스플리터(5) 상에 0 ° 의 입사각으로 입사하면, S 편광 성분의 약 67%가 반투과막(6)에 의해 반사된다. 제 6a 도 내지 제 6c 도의 그래프에서, 곡선 a, b, c, d 및 e는 각각 입사된 광속의 770nm, 780nm, 790nm, 800nm 및 810nm의 파장에 대한 특성을 도시한다.
반투과막(6)의 반사는 편광 방향만에 대한 의존도가 낮으며, 반사는 제 6b 도의 그래프에 도시된 것처럼 광속의 입사각만에 대한 의존도가 낮다. 따라서 편광 빔 스플리터(5) 상에 입사된 반사 광속이 광속을 수렴할지라도, 반사된 광속에는 이중 반사가 형성되지 않는다. 즉, 반투과막(6)에서 P편광 성분과 S편광 성분 사이의 위상 편차는 제 6c 도에 도시된 것처럼 입사각의 변동에도 불구하고 증가하지 않는다.
반투과막(6)에 의해 반사된 광속은 레이저 다이오드(2)와 대물 렌즈(9) 사이에서 광 경로 외측으로 유도됨으로써 편광 의존 광속 분리 장치인 3빔 올래스톤 프리즘(11) 상에 입사되기 전에 원통형 렌즈(10)를 통하여 투과된다.
원통형 렌즈(10)는 이를 통하여 투과된 광속에 비점 수차를 형성하는 원통면을 갖는다. 원통형 렌즈(10)는 그 한쪽이 평면이고 다른 쪽이 원통형이지만 상기 평면인 쪽은 광 검출기(13)의 위치에 따라 볼록 또는 오목하게 할 수 있다.
3빔 올래스톤 프리즘(11)은 그 각각이 수정, 금홍석, 또는 방해석의 동축 결정이며 사각 프리즘을 형성하도록 서로 연결된 한 쌍의 삼각 프리즘에 의해 형성된다. 삼각 프리즘의 결정축 방향은 광학 축에는 직각이며 서로 45 °의 각도로 교차된다. 3빔 올레스톤 프리즘(11) 상에 입사된 반사된 광속은 3빔 올레스톤 프리즘(11)의 외측부에 거의 직각으로 입사됨으로써, 2개의 삼각 프리즘의 연결면을 통하여 비스듬히 투과된다. 결과적으로, 반사된 광속은 삼각 프리즘의 연결면을 통하여 투과될 때 편광 방향에 따라서 따른 방향으로 반사되므로 반사된 광속은 프리즘(11)에 의해 3개의 광속으로 분리된다.
즉, 3빔 올레스톤 프리즘(11)을 통하여 입사 및 투과된 반사된 광속은 원통형 렌즈(10)에 의해 비점수차를 갖게 되는 동시에 편광 방향의 편차에 따라 상이한 진행 방향을 갖는 3개의 광속으로 분리된다.
3빔 올래스톤 프리즘(11)을 통하여 투과된 반사된 광속은, 광 검출기(13) 상에 수렴된다. 제 5 도에서, 광 검출기(13)는 제 1 내지 제 8 수광부(13a, 13b, 13c, 13d, 13e, 13f, 13g, 13h)로 구성되어 있으며 패키지(12) 내에 포함된다. 광 검출기(13)는, 수광부(13a 내지 13h)에 의해 수용된 광속의 광 밀도를, 수광면(13a 내지 13h)과 관련된 복수 개의 단자(14)로 출력되는 전기 신호로서의 광 검출 신호로 변환시키도록 적용된다. 광 검출기(13) 상에 수렴된 광속은, 회절 격차(4)에 의해 분리되어 편광 방향에 따라 3빔 올레스톤 프리즘(11)에 의해 분리되도록 반사된 광속이다. 이러한 광속의 광 밀도에 대응하는 광 검출 신호는 광 검출기(13)의 출력 신호로 형성된다. 제 1 내지 제 4 수광면(13a 내지 13d)은, 반사된 광속의 중앙을 분할하는 방식, 즉, 주 빔의 광 축 상에 배열된 하나의 수광면을, 각각의 수광면의 단면이 중앙에 광 축을 갖는 네 개의 동일한 부분들고 분할하는 방식으로, 서로 인접 배치된다. 상기 제 1 내지 제 4 수광면(13a 내지 13d)은, 제 1 및 제 3 수광면(13a, 13c)을 통과하는 방향과 제 2 및 제 4 수광면(13b, 14d)을 통과하는 방향이 원통형 렌즈(10)에 의해 형성된 비점수차의 방향과 일직선이 되도록 배치된다.
제 5 및 제 6 수광면(13e, 13f)은 제 1 내지 제 4 수광면(13a 내지 13d)을 합친 크기를 가지며, 제 1 내지 제 4 수광면(13a 내지 13d)의 양측에 배치된다. 상기 제 5 및 제 6 수광면(13e, 13f)과 제 1 내지 제 4 수광면(13a 내지 13d)은 회절격자(4)에 의해 분리되어 반투과막(6)에 의해 반사된 광속의 광 수렴 포인트에 대응한다.
제 7 및 제 8 수광면(13g, 13h)은 제 1 내지 제 4 수광면(13a 내지 13d)을 합친 크기를 가지며, 제 5 및 제 6 수광면(13e, 13f)이 교차하는 방향과 직각인 제 7 및 제 8 수광면(13g, 13h)이 교차하는 방향으로, 제 1 내지 제 4 수광면(13a 내지 13d)의 양측에 배치된다. 상기 제 7 및 제 8 수광면(13g, 13h)과 제 1 내지 제 4 수광면(13a 내지 13d)은, 반투과막(6)에 의해 반사되고 회절 격자(4)에 의해 분리된 광속의 광 수렴 포인트에 대응한다.
광 검출 수단에 의해, 반사된 광속의 광 체적 변화, 편광 상태의 변화, 또는 비점수차의 변화는, 상술의 광 검출 신호에 의해 검출된다.
즉, 상기 광 검출 신호에 의해 G-H인 3빔 올래스톤 프리즘(9)에 의해 분리된 광속에 대응하는 광 검출 신호의 편차 신호는 광자기 신호 상에 기입된 정보 신호의 판독 신호를 나타내는데, 상기 G는 제 7 수광면(13g)에 의한 광 검출 신호이며, 상기 H는 제 8 수광면(13h)에 의한 광 검출 신호이다.
반면에 상기 광 검출 신호에 의해, E-F인 회절 격자(4)에 의해 분리된 광 검출 신호의 편차 신호는 기록 트랙으로부터 주 빔의 이탈을 표시하는 소위 트래킹 오차 신호를 표시하는데, 상기 E는 제 5 수광면(13e)에 의한 광 검출 신호이며, 상기 F는 제 6 수광면(13f)에 의한 광 검출 신호이다.
그 외에, 수광면에 의해 수용된 광속은 원통형 렌즈(10)를 통과함으로써 광자기 디스크의 신호 기록면 상에 광속의 디포커싱(defocusing)에 대응하는 비점수차를 갖게 된다. 따라서, 비점수차가 형성되는 방향으로 배치된 수광면에 의한 광 검출 신호의 합 신호와, 비점수차가 형성되는 방향에 직각인 방향으로 배치된 수광면에 의한 광 검출 신호의 합 신호 사이의 편차, 즉, (A+C)-(B+D)는, 광자기 디스크의 신호 기록면 상에 형성된 디포커싱의 정도를 표시하는 소위 포커싱 오차 신호를 표시한다(상기 A, B, C 및 D는 각각 제 1 내지 제 4 수광면(3a 내지 13d)에 의한 광 검출 신호를 표시한다).
상술의 광 픽업 장치에서, 원통형 렌즈(10)와 3빔 올래스톤 프리즘(11) 사이의 관련 위치는 제 3 도 및 제 4 도에 도시된 것처럼 바꿀 수 있다. 이 경우 편광 빔 스플리터(5)의 반사막(6)에 의해 반사된 광속은 광 검출기(13)의 수광면 상에 수렴되기 전에 3빔 올래스톤 프리즘(11) 및 원통형 렌즈(10)를 통하여 부과된다.
광 픽업 장치에 의해 정보 신호를 광자기 디스크 상에 기입할 때, 레이저 다이오드(2)에 의해 방사된 광속은 제 4 도에 도시된 것처럼 신호 기록면(21)을 국부적으로 가열하여 디스크 기판(20)과 광자기 디스크(23)의 신호 기록층(21) 사이의 경계면인 신호 기록면 상에 수렴된다. 동시에 자기 헤드 장치(17)에 의해 신호 기록층(21) 상에는 외부 자장이 인가된다. 대물 렌즈(9)는 신호 기록층(6) 상의 광속 수렴 상태나 신호 기록층 상의 광속 방사 위치를 조절하기 위하여 광 검출기(13)에 의해 형성된 트래킹 오차 신호 또는 포커싱 오차 신호와 같은 여러 제어 신호에 따라 이동되도록 구동된다.
정보 신호는 레이저 다이오드(2)에 의해 방사된 광속이 신호 기록층(21) 상에 수렴될 동안 광 검출기(13)로부터 얻어진 신호를 기초로 하여 광 픽업 장치에 의해 광자기 디스크(23)로부터 판독된다.
본 발명에 따른 광 픽업 장치는 상술의 실시예에 한정되지 않는다. 따라서 제 7 도에 도시된 것처럼 그 위에 반투과막(16)을 수반한 평판(15) 대신에 대물 렌즈(9)와 광 검출기(13) 사이에서 광 경로에 비스듬한 위치로 편광 빔 스플리터(5)가 배치된다.
즉, 상기 광 픽업 장치에서, 레이저 다이오드(2)로부터 방사된 광속은 처음에 회절 격차(4)를 통하여 투과되어 대물 렌즈(9) 상에 입사되기 전에 평판(15)의 반투과막(16)에 의해 반사된다. 광속은 대물 렌즈(9)에 의해 디스크 기판(20)과 광자기 디스크(22)의 신호 기록면(21) 사이의 경계면인 신호 기록면 상에 수렴된다.
신호 기록면 상에 수렴된 광속은 대물 렌즈(9) 상에 반사된 광속으로서 입사되기 전에 신호 기록면에 의해 반사된다. 대물 렌즈(9) 상에 재입사된 반사된 광속은 반투과막(16) 상에 수렴된 광속의 형태로 재입사된다. 반투과막(16) 상에 재입사된 반사된 광속은 3빔 올래스톤 프리즘(11) 상에 입사되기 전에 반투과막(16)을 통하여 부분적으로 투과된다. 수렴될 동안 3빔 올래스톤 프리즘(11)을 통하여 투과된 반사된 광속은 마지막으로 광 검출기(13)의 수광면 상에 수렴된다.
제 7 도에 도시된 광 픽업 장치에서는, 반사된 광속이 평판(15)을 통하여 투과될 때 비점수차를 받게되므로 상기 실시예의 광 픽업 장치에 제공된 것과 같은 원통형 렌즈를 구비할 필요가 없다. 광 픽업 장치의 대물 렌즈는 소위 유한 시스템(finite system) 특성을 가지므로 상기 실시예의 광 픽업 장치에 사용된 것과 같은 콜리메이터 렌즈를 제공할 필요가 없다.
본 발명에 따른 상기 광 픽업 장치에서, 광속이 확산된 광속으로 남게되는 광 경로 상의 한 위치에 배치된 광속 분할 장치에 의해 광속을 정보 신호 기록 매체 상에 수렴하는 대물 렌즈와 확산된 광속을 방사하는 광원 사이의 광 경로를 벗어난 광속은 정보 신호 기록 매체 상에 수렴되어 이에 의해 반사된 광원이며, 수렴하는 광속이다. 따라서 반사된 광속은 반사된 광속을 검출하도록 적용된 광 검출기 상에 최종적으로 수렴되도록 수렴될 동안 광속 분할 장치에 따라 편광을 통하여 투과된다.
결과적으로 광 픽업 장치에 의해, 광원으로부터 방사된 광속을 평행하게 하는 콜리메이터 렌즈와 광원 사이의 빈 공간이 효과적으로 이용된다. 그 외에 본 발명인 광 픽업 장치는, 광 검출기의 광속 입사 측에 수렴 렌즈를 구비할 필요가 없다.
반면, 본 발명에 따른 광 픽업 장치에서는, 광속 분리 장치에서 광속 반사가 이중 반사를 방지하기 위해 적절히 설정된다.
Claims (4)
- 광학 기록 매체 상에 정보 신호를 기록하는 광 픽업 장치에 있어서, 발산하는 광빔을 방사하는 광원과, 상기 광원으로부터 방사된 상기 광빔이 입사되고, 상기 광학 기록 매체 상에 상기 광빔을 수렴시키는 대물 렌즈와, 상기 광원과 상기 대물 렌즈 사이의 제 1 광 경로를 따라 있는 위치에 배열된 편광 빔 스플리터로서, 상기 발산하는 광범이 상기 대물 렌즈를 통해서 전파되기 전에 상기 편광 빔 스플리터는 상기 광원으로부터 상기 발산하는 광빔을 수신하고, 상기 편광 빔 스플리터는, 상기 광 기록 매체에 수렴하며 상기 광 기록 매체에 의해 반사된 반사 광빔을 상기 제 1 광 경로로부터 제 2 광 경로로 편향시키는, 편광 빔 스플리터와, 상기 편광 빔 스플리터에 의해 상기 제 2 광 경로로 편향된 상기 반사 광빔을 검출하는 광 검출 수단과, 상기 편광 빔 스플리터와 상기 대물 렌즈사이에 배열된 편광 장치로서, 상기 편광 장치는 상기 편광 빔 스플리터로부터 상기 편광 장치에 입사하는 각 빔의 광 경로를 실질적으로 90도의 각으로 편향시키는, 편광 장치와, 세개의 광빔을 발생하는 프리즘으로서, 각 광빔은 상기 편광 빔 스플리터로부터 상기 반사된 광빔에 따라 다른 편광을 가지며, 상기 프리즘은 상기 편광 빔 스플리터와 상기 광 검출 수단사이에서 상기 제 2 광 경로상에 상기 반사된 광빔의 수렴점에 배열되는, 프리즘과, 상기 편광 빔 스플리터와 상기 프리즘사이에 상기 제 2 광 경로상에 배열된 광학 소자로서, 상기 광학 소자는 상기 편광 빔 스플리터로부터 상기 반사된 광빔에 비점 수차를 발생시키고, 상기 편광 빔 스플리터로부터 상기 반사된 광빔을 상기 광 검출 수단상에 수렴시키는, 광학 소자를 포함하는, 광학 기록 매체 상에 정보 신호를 기록하는 광 픽업 장치.
- 광학 기록 매체 상에 정보 신호를 기록하는 광 픽업 장치에 있어서, 광학 기록 매체 상에 발산하는 광빔을 방사하는 광원과, 상기 광원으로부터 방사된 상기 광빔이 입사되고, 상기 광학 기록 매체 상에 상기 광빔을 수렴시키는 대물 렌즈와, 상기 광원과 상기 대물 렌즈 사이의 제 1 광 경로를 따라 있는 위치에 배열된 편광 빔 스플리터로서, 상기 발산하는 광빔이 상기 대물 렌즈를 통해서 전파되기 전에 상기 편광 빔 스플리터는 상기 광원으로부터 상기 발산하는 광빔을 수신하고, 상기 편광 빔 스플리터는, 상기 광 기록 매체에 수렴하며 상기 광 기록 매체에 의해 반사된 반사 광빔을 상기 제 1 광 경로로부터 제 2 광 경로로 편향시키는, 편광 빔 스플리터와, 상기 편광 빔 스플리터에 의해 상기 제 2 광 경로로 편향된 상기 반사 광빔을 검출하는 광 검출 수단과, 상기 편광 빔 스플리터와 상기 대물 렌즈사이에 배열된 편광 장치로서, 상기 편광 장치는 상기 편광 빔 스플리터로부터 상기 편광 장치에 입사하는 각 빔의 광 경로를 실질적으로 90도의 각으로 편향시키는, 편광 장치와, 세개의 광빔을 발생하는 프리즘으로서, 각 광빔은 상기 편광 빔 스플리터로부터 상기 반사된 광빔에 따라 다른 편광을 가지며, 상기 프리즘은 상기 편광 빔 스플리터와 상기 광 검출 수단사이에서 상기 제 2 광 경로상에 상기 반사된 광빔의 수렴점에 배열되는, 프리즘과, 상기 프리즘과 상기 광 검출 수단사이에 상기 제 2 광 경로상에 배열된 광학 소자로서, 상기 광학 소자는 상기 프리즘과 상기 편광 빔 스플리터로부터 상기 반사된 광빔에 비점 수차를 발생시키고, 상기 반사된 광빔을 상기 광 검출 수단상에 수렴시키는, 광학 소자를 포함하는, 광학 기록 매체 상에 정보 신호를 기록하는 광 픽업 장치.
- 광학 기록 매체 상에 정보 신호를 기록하는 광 픽업 장치에 있어서, 광학 기록 매체 상에 발산하는 광빔을 방사하는 광원과, 상기 광원으로부터 방사된 상기 광빔이 입사되고, 상기 광학 기록 매체 상에 상기 광빔을 수렴시키는 대물 렌즈와, 상기 광원과 상기 대물 렌즈 사이의 제 1 광 경로를 따라 있는 위치에 배열된 편광 빔 스플리터로서, 상기 발산하는 광빔이 상기 대물 렌즈를 통해서 전파되기 전에 상기 편광 빔 스플리터는 상기 광원으로부터 상기 발산하는 광빔을 수신하고, 상기 편광 빔 스플리터는, 상기 광 기록 매체에 수렴하며 상기 광 기록 매체에 의해 반사된 반사 광빔을 상기 제 1 광 경로로부터 제 2 광 경로로 편향시키는, 편광 빔 스플리터와, 상기 편광 빔 스플리터에 의해 상기 제 2 광 경로로 편향된 상기 반사된 광 빔을 검출하는 광 검출 수단과, 상기 편광 빔 스플리터와 상기 대물 렌즈사이에 배열된 편광 장치로서, 상기 편광 장치는 상기 편광 빔 스플리터로부터 상기 편광 장치에 입사하는 각 빔의 광 경로를 실질적으로 90도의 각으로 편향시키는, 편광 장치와, 세개의 광빔을 발생하는 프리즘으로서, 각 광빔은 상기 편광 빔 스플리터로부터 상기 반사된 광빔에 따라 다른 편광을 가지며, 상기 프리즘은 상기 편광 빔 스플리터와 상기 광 검출 수단사이에서 상기 제 2 광 경로상에 상기 편광 빔 스플리터로부터 상기 반사된 광빔의 수렴하는 광 경로에 배열되는, 프리즘과, 상기 편광 빔 스플리터와 상기 프리즘사이에 상기 제 2 광 경로상에 배열된 광학 소자로서, 상기 광학 소자는 상기 편광 빔 스플리터로부터 상기 반사된 광빔에 비점 수차를 발생시키고, 상기 편광 빔 스플리터로부터 상기 반사된 광빔을 상기 광 검출 수단상에 수렴시키는, 광학 소자를 포함하는, 광학 기록 매체 상에 정보 신호를 기록하는 광 픽업 장치.
- 광학 기록 매체 상에 정보 신호를 기록하는 광 픽업 장치에 있어서, 발산하는 광빔을 방사하는 광원과, 상기 광원으로부터 방사된 상기 광빔이 입사되고, 상기 광학 기록 매체 상에 상기 광빔을 수렴시키는 대물 렌즈와, 상기 광원과 상기 대물 렌즈 사이의 제 1 광 경로를 따라 있는 위치에 배열된 편광 빔 스플리터로서, 상기 발산하는 광빔이 상기 대물 렌즈를 통해서 전파되기 전에 상기 편광 빔 스플리터는 상기 광원으로부터 상기 발산하는 광빔을 수신하고, 상기 편광 빔 스플리터는, 상기 광 기록 매체에 수렴하며 상기 광 기록 매체에 의해 반사된 반사 광빔을 상기 제 1 광 경로로부터 제 2 광 경로로 편향시키는, 편광 빔 스플리터와, 상기 편광 빔 스플리터에 의해 상기 제 2 광 경로로 편향된 상기 반사된 광빔을 검출하는 광 검출 수단과, 상기 편광 빔 스플리터와 상기 대물 렌즈사이에 배열된 편광 장치로서, 상기 편광 장치는 상기 편광 빔 스플리터로부터 상기 편광 장치에 입사하는 각 빔의 광 경로를 실질적으로 90도의 각으로 편향시키는, 편광 장치와, 세개의 광빔을 발생하는 프리즘으로서, 각 광빔은 상기 편광 빔 스플리터로부터 상기 반사된 광빔에 따라 다른 편광을 가지며, 상기 프리즘은 상기 편광 빔 스플리터와 상기 광 검출 수단사이에서 상기 제 2 광 경로상에 상기 편광 빔 스플리터로부터 상기 반사된 광빔을 수렴하는 광 경로에 배열되는, 프리즘과, 상기 프리즘과 상기 광 검출 수단사이에 상기 제 2 광 경로상에 배열된 광학 소자로서, 상기 광학 소자는 상기 프리즘과 상기 편광 빔 스플리터로부터 상기 반사된 광빔에 비점 수차를 발생시키고, 상기 반사된 광빔을 상기 광 검출 수단에 수렴시키는, 광학 소자를 포함하는, 광학 기록 매체 상에 정보 신호를 기록하는 광 픽업 장치.
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