KR100278477B1 - 광학현미경 - Google Patents

Abstract

본 발명은 검사대상체의 특정 부위 형상을 일정 배율로 확대하여 그 상태를 확인 또는 검사하는데 사용되는 광학현미경에 관한 것이다.

본 발명에 따른 광학현미경은 대안렌즈부의 일측 단부에 설치되어 리플렉터 커버와, 내부에 보조배율렌즈가 구비되어 있고 상기 리플렉터 커버의 내측에서 상기 대안렌즈부의 단부에 연이어 설치되는 보조배율부 및 상기 리플렉터 커버의 내측과 상기 보조배율부의 외측 사이에 위치되어 광을 공급하는 램프를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.

따라서, 본 발명에 의하면, 램프가 리플렉터 커버의 내측과 보조배율부의 외측 사이에 위치됨에 따라 램프로부터 공급된 광이 직접 또는 난반사되어 보조배율렌즈로 유입되지 않고, 요구되는 광만이 보조배율부를 통해 대안렌즈부로 유동하게 되어 해상도가 향상되고, 또 결합 길이의 축소에 의해 보조배율부의 하측 공간이 확대되어 검사작업이 용이한 효과가 있다.

Description

광학현미경

본 발명은 광학현미경에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 검사대상체의 특정 부위 형상을 일정 배율로 확대하여 그 상태를 확인 또는 검사하는데 사용되는 광학현미경에 관한 것이다.

일반적인 광학현미경은 육안으로 식별이 불가능한 검사대상체의 특정 부위를 일정 배율로 확대하고, 그 상태를 확인 또는 검사하는데 사용된다.

상술한 바와 같이, 검사대상체의 특정 부위를 확대하기 위해서는, 먼저 구성요소인 램프를 통해 대물렌즈 하측에 위치되는 검사대상체 상에 광을 공급하고, 이렇게 공급되어 반사되는 광은 대물렌즈와 보조배율부 및 대안렌즈부로 유도되어 작업자로 하여금 확인하기 용이한 형상으로 확대 표현된다.

이러한 광학현미경의 종래 기술에 대하여 첨부된 도1 내지 도5를 참조하여 설명하기로 한다.

종래의 광학현미경(10)은, 도1과 도2에 도시된 바와 같이, 대안렌즈부(12)의 하측 단부에 보조배율렌즈(14)가 구비된 보조배율부(16)가 위치되고, 이 보조배율부(16)는 어뎁터(18)와 리플렉터 커버(20)에 의해 대안렌즈부(12) 하측 단부에 설치된다.

그리고, 상술한 리플렉터 커버(20)의 내측과 보조배율부(16)의 하측에는, 도2에 도시된 바와 같이, 인가되는 전원에 의해 광을 공급하는 램프(22)가 설치되어 있으며, 이 램프(22)의 하측으로 대물렌즈부를 통해 유도되는 광로의 길이를 보상하는 경통(도면의 단순화를 위하여 생략함)이 설치된 구성으로 이루어진다.

한편, 상술한 램프(22)는, 도3 내지 도5에 도시된 바와 같이, 소정의 굵기와 길이를 갖는 관을 원 형상으로 굴곡시키고, 양측 단부를 상측으로 굴곡시킨 후 다시 하측과 일부 포개지는 형상으로 굴곡시켜 형성된다.

또한, 상술한 램프(22)의 양측 단부에는 전원선(24)과 각각 연결되는 접점부(26)가 형성되어 있으며, 이들 접점부(26)는 연결된 전원선(24)이 대물렌즈와 보조배율렌즈(14) 사이에서 대물렌즈부를 통해 유도되는 광에 영향을 주지 않도록 상호 접촉되지 않는 한도 내에서 상기 램프(22)의 단부에 연이어 하측의 원 형상으로 형성되어 있다.

따라서, 이렇게 형성된 램프(22)의 측부 형상은, 도4에 도시된 바와 같이, 상측과 하측이 상호 포개어지는 형상의 이중 구조로 형성되고, 이러한 이중 구조의 램프(22)에 의해 상기 리플렉터 커버(20)의 두께 또한 연장 형성된다.

그러나, 상술한 바와 같이, 램프(22)가 리플렉터 커버(20)의 내측과 보조배율부(16)의 하측에 위치됨에 따라 보조배율부(16)의 보조배율렌즈(14)가 램프(22)로부터 공급된 광에 직접 또는 간접적으로 노출되어 보조배율렌즈(14)를 통해 대안렌즈부(12)로 유도됨에 따라 검사대상체(도면의 단순화를 위하여 생략함)로부터 반사되어 유도되는 광과 섞여 상이 뚜렷하게 표현되지 않는 문제가 있었다.

또한, 상술한 구성 중 램프(22)의 접점부에 의한 이중 구조의 형상과 이 형상의 램프(22)가 보조배율부(16) 하측에 연이어 설치되는 구성에 의해 대안렌즈부(12)와 대물렌즈부 사이의 간격이 필요 이상으로 길게 형성되고, 이에 따라 대물렌즈부 하측의 작업공간이 협소하게 되어 검사작업을 수행하기 어려운 문제가 있었다.

그리고, 상술한 램프(22)를 포함하여 보조배율부(16) 및 리플렉터 커버(20)의 형상이 복잡하여 조립하기가 어렵고, 조립 및 해체에 따른 설비 복원시간이 지연되는 문제가 있었다.

본 발명의 목적은, 검사대상체로부터 반사된 것을 제외한 램프로부터 공급된 광이 직접 또는 간접적으로 보조배율렌즈에 영향을 미치지 않도록 하여 대물렌즈부를 통해 표현되는 형상을 선명하게 형성하도록 하는 광학현미경을 제공함에 있다.

또한, 램프의 설치에 따른 대안렌즈부와 대물렌즈부 사이의 간격을 축소시켜 대물렌즈부 하측의 작업공간을 확장시킴으로써 검사작업이 용이하도록 하고, 조립되는 구성을 단순화시켜 조립 및 해체에 따른 설비 복원시간을 단축하도록 하는 광학현미경을 제공함에 있다.

도1은 종래 광학현미경의 구성 및 결합 관계를 나타낸 분해 사시도이다.

도2는 도1의 각 구성이 조립된 상태를 나타낸 단면도이다.

도3은 도1의 램프를 나타낸 평면도이다.

도4는 도3의 A 방향에서 화살표 방향으로 바라본 램프의 측면도이다.

도5는 도3에 도시된 램프의 저면도이다.

도6은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학현미경의 구성 및 결합 관계를 나타낸 분해 사시도이다.

도7은 도6의 각 구성이 조립된 상태를 나타낸 단면도이다.

도8은 도6의 램프를 나타낸 평면도이다.

도9는 도8의 B 방향에서 화살표 방향으로 바라본 램프의 측면도이다.

※ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

10, 30: 광학현미경 12, 32: 대안렌즈부

14, 36: 보조배율렌즈 16, 38: 보조배율부

18: 어뎁터 20, 34: 리플렉터 커버

22, 40: 램프 24, 42: 전원선

26, 44: 접점부 46: 관통홀

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 광학현미경은 단관 형상으로 상측 내벽이 대안렌즈부의 일측 단부에 설치되며 개방된 하측 직경이 상측에 비해 넓게 형성된 리플렉터 커버와, 내부에 보조배율렌즈가 구비되어 있으며 상기 리플렉터 커버의 내측에서 상기 대안렌즈부의 단부에 연이어 설치되는 보조배율부 및 상기 리플렉터 커버의 내측벽과 상기 보조배율부의 외측벽 사이에 위치되는 램프를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.

또한, 상기 대안렌즈부 하측 단부의 외벽에 수나사부를 형성하고, 상기 리플렉터 커버의 상측 내벽에 상기 수나사부와 짝을 이루는 암나사부를 형성하고, 상기 보조배율부의 측벽에 상기 암나사부와 짝을 이루는 수나사부를 형성하여 상기 대안렌즈부와 상기 리플렉터 커버와 상기 보조배율부는 상호 나사결합하는 구성으로 형성할 수 있다.

그리고, 상기 리플렉터 커버의 측벽 소정 위치에 전원선이 외측에서 상기 램프와 연결되도록 관통홀을 형성함이 바람직하고, 상기 리플렉터 커버 내벽에 상기 램프를 고정시키도록 하는 고정수단을 구비하여 이루어진다.

한편, 상기 램프는 상기 보조배율부의 단부 하측으로 돌출되지 않도록 소정 굵기와 길이를 갖는 단일의 환형고리 형상으로 제작함이 바람직하다.

이하, 본 발명의 구체적인 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도6 내지 도9는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학현미경의 구성 및 설치 관계를 나타낸 도면으로서, 종래와 동일한 부분에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.

본 발명에 따른 광학현미경(30)은, 도6에 도시된 바와 같이, 대안렌즈부(32)의 단부 외벽에 수나사부가 형성되어 있고, 이 대안렌즈부(32)의 하측 단부에는 리플렉터 커버(34)가 설치된다.

이렇게 설치되는 리플렉터 커버(34)는 단관 형상으로 상측 내벽에 상술한 수나사부와 짝을 이루는 암나사부가 형성되어 있고, 리플렉터 커버(34)의 개방된 하측부 직경은 상측부에 비해 넓게 형성된다.

또한, 상술한 리플렉터 커버(34)의 내측으로 보조배율렌즈(36)가 구비된 보조배율부(38)가 설치되며, 이 보조배율부(38)의 외벽에는 리플렉터 커버(34)의 상측 내벽에 형성된 암나사부와 짝을 이루는 수나사부가 형성되어 있고, 이 보조배율부(38)의 상측 단부는, 도7에 도시된 바와 같이, 리플렉터 커버(34)와의 나사 결합시 대안렌즈부(32)의 하측 단부에 연장된 형상으로 놓이게 된다.

그리고, 리플렉터 커버(34)의 내벽과 보조배율부(38)의 외벽 사이에는, 도8에 도시된 바와 같이, 소정 두께와 길이로 단일의 환형고리 형상으로 제작되어 검사대상체에 광을 공급하도록 형성된 램프(40)가 통상의 고정수단에 의해 고정 설치된다.

한편, 상술한 램프(40)의 양측 단부에는 전원선(42)과 각각 연결되는 접점부(44)가 형성되어 있으며, 이 접점부(42)는 상호 접촉되지 않는 한도 내에 근접 위치된다.

그리고, 상술한 리플렉터 커버(34)의 일측에는 관통홀(46)이 형성되어 있으며, 이 관통홀(46)을 통해 상술한 전원선(42)이 외측으로부터 관통하여 램프(40)의 각 단부에 연결되어 이루어진다.

이러한 구성의 광학현미경(30)에 의하면, 대안렌즈부(32)의 하측 단부에 연결 설치되는 구성은 램프(40)가 리플렉터 커버(34)의 내측과 보조배율부(38)의 외측 사이에 위치됨에 따라 램프(40)로부터 공급되는 광이 직접 또는 난반사 등의 간접적인 요인으로 인해 보조배율렌즈(36)로 유입되는 것이 방지된다.

또한, 램프(40)가 리플렉터 커버(34)와 보조배율부(38) 사이에 설치됨에 따라 대안렌즈부(32)와 대물렌즈부 사이의 간격이 축소되어 대물렌즈부 하측의 작업공간이 확장되며, 또 조립되는 구성이 단순하여 조립 및 해체가 용이하도록 형성되어 있다.

따라서, 본 발명에 의하면, 램프가 보조배율부의 측벽에 위치됨에 따라 램프로부터 공급된 광이 보조배율렌즈로 유입되는 것을 방지하게 됨으로써 검사대상체로부터 반사된 광만이 대안렌즈부로 유도되어 형성되는 상이 선명하게 표현되는 효과가 있다.

또한, 램프의 삽입 설치에 따른 대안렌즈부와 대물렌즈부 사이의 간격이 축소되어 대물렌즈 하측으로 작업공간이 확장됨에 따라 검사작업이 용이하고, 구성의 단순화에 의해 조립 및 해체가 용이하여 설비 복원시간이 단축되는 효과가 있다.

이상에서 본 발명은 기재된 구체예에 대해서만 상세히 설명되었지만 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.

Claims (3)

1. 단관 형상으로 상측 내벽이 대안렌즈부의 일측 단부와 설치되며 개방된 하측 직경이 상측에 비해 넓게 형성되고, 상기 상측 단부로부터 상기 하측으로 관통되는 관통홀이 형성된 리플렉터 커버와; 내부에 보조배율렌즈가 구비되어 있으며, 상기 하측 직경이 상측에 비해 넓게 형성된 리플렉터 커버에 의해 소정 공간을 갖도록 상기 리플렉터 커버의 내측에서 상기 대안렌즈부의 단부에 연이어 설치되는 보조배율부; 및 상기 리플렉터 커버의 내측벽과 상기 보조배율부의 외측벽 사이에 형성된 소정 공간에 설치되고, 상기 리플렉트 커버의 관통홀을 통하여 전원을 공급하는 전원선이 연결되는 램프를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 현미경.
2. 제1항에 있어서, 상기 리플렉터 커버 내벽에 상기 램프를 고정시키도록 하는 고정 수단이 구비됨을 특징으로 하는 상기 광학 현미경.
3. 제1항에 있어서, 상기 램프는 상기 보조배율부의 단부 하측으로 돌축되지 않도록 소정 굵기와 길이를 갖는 단일의 환형고리 형상으로 제작됨을 특징으로 하는 상기 광학 현미경.

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