KR100239928B1 - 오실로스코프의 수평축 전자눈금 교정하는 방법 및 장치 - Google Patents

오실로스코프의 수평축 전자눈금 교정하는 방법 및 장치 Download PDF

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겐죠 이꾸사와
겐따로 오자와
스스무 모지
히로히사 미따
고우지 후리하따
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오오마츠 시게루
리더 덴시 가부시키 가이샤
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Abstract

본 발명은 오실로스코프의 수평축용의 전자눈금을 교정하는 것이다. 전자눈금인 2개의 커서의 각각에 대하여 수평편향회로의 출력의 전압(VD-CR, VD-CD)을 얻고, 다음에 소인파형 발생기가 발생하고 그리고 수평편향회로의 출력에 나타나는 소인파형의 전압(VD-SW)이, 그것들의 2점의 전압을 통과하는 시간간격(T)을 측정하고, 이 시간이 목표의 시간간격과 일치하도록 소인파형발생기가 발생하는 소인파형의 경사를 조절한다.

Description

오실로스코프의 수평축 전자눈금을 교정하는 방법 및 장치
제1도는 본 발명에 의한 수평축 전자눈금 교정장치를 구비한 오실로스코프의 수평축 회로 부분을 나타낸 블록도,
제2도는 제1도의 시간간격 측정기의 상세를 나타낸 회로도,
제3도는 본 발명에 의한 교정플로우를 나타낸 플로우챠트,
제4도는 본 발명에 의한 교정동작중의 몇개의 파형과, 관면눈금의 수평축부
분과, 관면에서의 1쌍의 커서의 표시를 나타낸 도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 소인파형 발생기 11 : 수평편향회로
12 : 수평편향판 13 : 커서증폭기
14 : 시스템 제어기 15 : D/A 변환기
16 : 검출기 17 : 시간간격 측정기
170, 172 : 비교기 174 : 플립플롭
SW1, SW2, SW3 : 스위치 CR: 기준커서
CD: 델타 커서 GV: 소인파형의 경사지정치
VC : 커서전압 VCR : 기준커서전압
VCD: 델타커서전압 VSW: 소인파형전압
SG: 게이트신호
VD-CR: 기준커서에 관한 콘덴서(C1)의 충전전압
VD-CD: 델타커서에 관한 콘덴서(C2)의 충전전압
VD-SW: 소인파형 VSW에 대응하는 검출기(16)의 출력전압
CK : 클록
본 발명은 오실로스코프의 수평축교정, 특히 수평축용의 전자눈금을 교정하는 방법 및 장치에 관한 것이다.
일반적으로 오실로스코프에서는 수평축 편향회로를 교정함으로써 선택하는 임의의 어느 시간축 레인지(또는 스위프시간)에 있어서 CRT의 관면눈금의 수평축눈금(위치 div 0∼10(제4도를 참조))상의 각 위치가 그 선택한 시간축 레인지에서의 대응하는 시간을 나타내도록 할 필요가 있다.
종래, 이와 같은 수평축교정을 행하는 방법으로서, 일본국 특개소59-148877호 공보(소인파형 발생기용 자동교정장치)에 나타낸 것이 있다. 이 방법에서는 수평축의 교정을 소인파형의 경사를 조절함으로써 행하고 있다. 상세하게는 소인파형발생기의 출력에 생기는 소인전압파형(톱니형상파)의 정(正)경사부분이, 그 파형전압 범위내의 어느 선택한 2점의 전압(관면수평축 눈금상의 대응하는 2점)을 경과하는 시간을 측정한다. 그 다음에 이 경과시간이 선택한 시간축 레인지에서의 목표의 시간차에 일치하도록 소인파형의 정경사부분의 경사를 조절하고 있다.
또, 상기의 방법과 유사한 교정방법으로서, 일본국 특개 소63-106568호 공보(소인파형 발생기용 자동교정장치), 특개소 63-286775호 공보 (경사파형발생기용 자동교정장치)에 개시된 것이 있다.
상기 종래기술은 어느것이나 관면눈금(커서와 같은 전자눈금과 구별하기 위해 "물리눈금"이라 부름)에 대한 소인파형의 교정에 관한 것이다. 물리눈금은 정밀도가 높은 측정을 하는데에는 불편하다. 또, 일본국 특개 소59-148876호 공보(오실로스코프의 수직교정방법 및 장치)에는 수직축용의 전자눈금 즉 커서 (기준커서와 델타(△)로 이루어지는 1쌍의 커서)를 교정하는 기술이 개시되어 있는데, 이것은 오실로스코프의 수평축용의 전자눈금의 교정에 관한 것은 아니다.
또, 상기한 소인파형교정에서는 소인파형발생기의 출력에 생기는 소인파형에 의거하여 그 경사의 조절을 행하고 있다.
바꿔말하면, 그 소인파형을 입력으로서 받는 수평편향회로의 출력을 교정에 사용하고 있지는 않다. 따라서, 그 종래기술에 의하여 교정한 소인파형의 소인속도가 수평소인회로의 특성의 변동(예를 들면, 온도변동, 전원전압변동, 전자부품의 경년변화 등에 기인하는 특성변동)에 의하여, 사용시간축 레인지에서의 물리눈금과 일치하지 않게 될 가능성이 있다.
따라서, 본 발명의 목적은 물리눈금보다도 정밀도가 높은 측정이 가능한 오실로스코프의 수평축용의 전자눈금을 직접 교정하는 방법 및 장치를 제공하는 것이다. 또, 본 발명의 다른 목적은 수평축전자눈금을 간단하게 또한 정밀도 좋게 교정하는 것이다. 또한 본 발명의 다른 목적은 물리눈금과 피측정신호의 표시파형에 의거하는 측정정밀도 보다도 높은 정밀도의 측정을 가능하게 하는 것이다.
상기 목적을 실현하기 위하여, 본 발명에서는 CRT의 수평축 전자눈금을 직접 교정하도록 한다.
상세하게는 오실로스코프의 수평축용의 전자눈금을 교정하는 본 발명의 교정방법은 가)수평축용의 적어도 2개의 제1 및 제2의 전자눈금에 대하여 그 전자눈금의 상기 오실로스코프의 관면상의 표시장치에 상당하는 값의 제1 및 제2의 전자눈금 신호를 결정하는 단계와, 나) 상기 제1 및 제2의 전자눈금신호를 점차, 수평편향회로에 인가하여, 그 회로의 출력으로부터 제1편향출력과 제2편향출력을 각각 얻는 단계와, 다) 조절가능한 경사의 소인용 파형부분을 가지는 소인파형을 발생하는 단계와, 라) 그 소인파형을 상기 수평편향회로에 인가하여, 그 수평편향 회로로부터의 상기 소인파형에 응답한 제3편향회로 출력을 얻는 단계와, 마) 상기 제3편향회로출력의 상기 소인용파형부분에 대응하는 부분이, 상기 제1편향출력의 값을 취하는 시점과 상기 제2편향출력의 값을 취하는 시점과의 사이의 시간간격치를 얻는 단계와, 바) 그 측정시간간격과, 상기 제1 및 제2의 전자눈금의 상기 표시위치간의 목표의 시간간격에 응답하여, 상기 소인파형의 상기 경사를 조절하는 단계로 구성한다.
또 본 발명의 교정장치는 A) 수평편향회로와, B) 상기 표시관면에 표시하는 수평축용의 적어도 2개의 제1 및 제2의 전자눈금에 대하여 그 제1 및 제2의 전자눈금의 상기 오실로스코프의 관면상의 표시위치에 상당하는 값의 제1 및 제2의 전자눈금신호를 발생하는 전자눈금신호 발생수단과, (C) 조절가능한 경사의 소인용 파형부분을 가지는 소인파형을 발생하는 소인파형 발생수단을 구비한 오실로스코프에 있어서, 가) 상기 수평편향회로의 출력을 검출하는 검출수단과, 나) 그 검출수단으로부터의 출력을 받도록 접속한 시간간격측정수단에 있어서, 상기 제1 및 제2의 전자눈금신호를 순차, 상기 수평편향회로에 인가했을 때에 얻어지는 상기 검출수단의 출력으로부터의 제1검출출력과 제2검출출력을 각각 받고, 그리고 상기 소인파형을 상기 수평편향회로에 인가했을 때 얻어지는 상기 검출수단으로부터의 상기 소인파형에 응답한 제3검출출력을 받아, 상기 제3검출출력의 상기 소인용 파형부분에 대응하는 부분이, 상기 제1검출출력의 값을 취하는 시점과 상기 제2검출출력의 값을 취하는 시점과의 사이의 시간간격을 나타내는 측정시간 간격신호를 발생하는 시간간격 측정수단, 및 다) 제어수단으로서, 상기 측정시간 간격의 값과, 상기 제1및 제2의 전자눈금의 상기 표시위치간의 목표시간 간격치에 응답하여 상기 소인파형의 상기 경사를 조절하기 위하여 상기 소인파형 발생수단에 인가해야 할 제어신호를 발생하는 제어수단으로 구성한다.
본 발명에서는 상기 오실로스코프의 1개 또는 그 이상의 시간축레인지에 있어서, 상기 제1 및 제2의 전자눈금의 교정을 행하도록 할 수가 있다. 또, 1개 또는 그 이상의 소인파형 발생기의 소인파형의 각각에 관하여 상기 제1 및 제2의 전자눈금의 교정을 행하도록 할 수도 있다.
이하, 본 발명의 실시예에 관하여 도면을 참조하여 설명한다.
제1도는 본 발명의 교정회로를 짜 넣은 오실로스코프의 수평축회로를 나타낸것이다. 이 수평축회로에는 소인파형(통상은 톱니 형상파)발생기(10)와 수평편향회로(11)와 CRT의 1쌍의 수평편향판(12)이 있다. 또, 1쌍의 전자눈금, 즉 기준커서(CR)와 델타커서(CD)를 위한 커서증폭기(13)가 있다. 커서를 교정하기 위하여 시스템 제어기(14)와, D/A 변환기(15)와, 검출기(16)와, 시간간격측정기(17)(상세하게는 제2도에 나타낸다)를 설치하고 있다.
상세하게는 소인파형발생기(10)는 소인을 개시하기 위한 트리거입력과, 생성한 소인파형(VSW)을 스위치(SW1)의 단자(a)에 보내는 출력과, 소인파형의 경사를 지정하는 스위치(SW2)의 단자(a)로부터의 신호(GV)를 받는 입력을 가지고 있다. 이 발생기(10)는 주지의 구성의 것으로서, 각종 소인속도(예, 10ns/div ∼0.5s/div 까지의 24가지의 다른 소인시간)의 소인파형을 생성하기 때문에 도시생략했으나, 일예로서 3개의 콘덴서(즉, 100pF, 1000pF, 1㎌)와 12개의 저항기(즉, 500Ω, 1kΩ, 2.5kΩ, 5kΩ, 10kΩ, 25kΩ, 50kΩ, 100kΩ, 250kΩ, 500kΩ, 1MΩ, 2.5MΩ)를 구비하고 있다. 본 실시예에서는 상기한 24가지의 시간축 레인지를 3개의 그룹으로 나누고 그리고, 각 그룹을 1개의 시간축레인지를 선택하여 교정을 행한다. 즉 3개의 소인시간레인지(본 예에서는 후기하는 바와 같이 2MHz의 클록을 시간간격 측정에 사용하기 위하여, 10ns/div∼0.5㎲/div에 대해서는 50㎲/div; 1㎲/div∼0.5ms/div에 대해서는 0.5ms/div; 1ms/div∼0.5s/div에 대해서는 1ms/div)로 교정을 행한다.
또, 소인파형 발생기(10)는 경사지정입력(GV)의 크기에 비례한 크기의 충전전류를 상기의 콘덴서에 공급하는 전류원(도시생략)도 구비하고 있다.
커서증폭기(13)는 스위치(SW2)의 단자(b)로부터의 커서설정전압(VC) (기준커서에는 VCR, 델타커서에는 VCD)을 받는 입력과, 받은 입력전압을 게인(GC)으로 증폭한 것을 스위치(SW1)의 단자(b)에 인가하는 출력을 구비하고 있다.
수평편향회로(11)에는 스위치(SW1)의 출력에 접속한 입력과, 이 입력을 게인(GH)으로 증폭한 평형형의 1쌍의 편향전압을 발생하는 출력을 가지고 있다. 이 출력은 CRT의 1쌍의 수평편향판(12)에 각각 접속되어 있다.
다음에, 검출기(16)는 차동증폭기로 구성하고 이것은 평형형의 편향전압출력을 받는 1쌍의 입력을 구비하고, 또 그 1쌍의 편향전압간의 차이전압(예 ; -50∼+50볼트)에 비례한 전압을 불평형형식으로 발생하는 출력을 가지고 있다.
이 검출기(16)의 출력에 접속한 입력을 가지는 시간간격측졍기(17)는 시스템 제어기(14)로부터의 제어신호를 받는 입력을 가지고, 그리고 측정한 시간간격을 나타내는 신호를 라인(L1)에 보내는 출력을 가지고 있다.
제2도에는 상기한 측정기(17)의 상세한 회로를 나타내고 있다. 도면에서 알 수 있는 바와 같이, 스위치(SW3)와 2개의 콘덴서(C1, C2)와, 2개의 비교기(170, 172)와 플립플롭(174)으로 이루어진 구성이다. SW3은 검출기(16)로부터의 출력을 받는 입력단자와, 3개의 출력단자(a, b, c)와 그리고 제어기(14)에 라인(L2)을 거쳐 접속한 전환제어입력을 가지고 있다. 단자(a)와 접지와의 사이에는 기준커서 (CR)에 관한 전압을 축적하기 위한 콘덴서(C1)가 접속되고, 그리고 단자(C)와 접지와의 사이에는 델타커서(CD)에 관한 전압을 축적하기 위한 콘덴서(C2)가 있다.
비교기(170)는 콘덴서(C1)의 상측의 단자에 접속한 반전입력단자와, 검출기(16)의 출력에 접속한 비반전입력단자를 가지고, 그리고 출력에는 비반전입력단자의 입력쪽이 반전입력단자의 입력보다도 클 때, 정(+)의 전압을 발생한다. 한편, 비교기(172)는 콘덴서(C2)의 상측의 단자에 접속한 반전입력단자와 검출기(16) 출력에 접속한 비반전입력단자를 가지고, 그리고 출력에는 비반전입력단자의 입력의 쪽이 반전입력단자의 입력보다도 클 때 정(+)의 전압을 발생한다. 다음의 플립플롭(174)은 비교기(170)의 출력에 접속한 세트단자(S)와 비교기(172)의 출력에 접속한 리세트단자(R)와, 그리고 세트되고 나서 리세트 될때까지의 사이에 정(+)의 전압(이것은 측정시간 간격을 나타내는 게이트신호(SG)를 구성)을 발생하는 출력을 가지고 있다. 이 출력은 제어기(14)에 접속한 라인(L1)에 접속되어 있다.
제1도로 되돌아가서, 시스템제어기(14)에 관하여 설명하면, 이것은 마이크로컴퓨터(CPU)와, 이것에 접속한 프로그래머블 인터벌 타이머(TM)(예; 도시바 82C654)로 구성한 것이고, 이 제어기는 이하에 설명하는 교정 플로우를 실행하는 프로그램을 내장하고 있고, 그리고 데이터 및 제어신호의 입·출력을 위한 단자를 구비하고 있다. 상세하게는 상기의 측정기(17)의 출력에 라인(L1)을 거쳐 접속한 입력단자와 그 측정기의 SW3의 제어입력단자에 라인(L2)을 거쳐 접속한 출력단자와, D/A 변환기(15)의 입력에 라인(L3)을 거쳐 접속한 출력단자와, SW1의 전환제어입력에 라인(L4)을 거쳐 접속한 출력단자와, SW2의 전환제어 입력에 라인 (L5)을 거쳐 접속한 출력단자이다. 상기의 인터벌 타이머(TM)는 마이크로 컴퓨터에 내장된 클록(도시생략)으로부터의 클록신호(CK)를 받는 입력과, 그리고 라인(L1)의 신호를 게이트신호로서 받는 입력을 가지고 있다.
다음에, 본 발명에 의한 커서교정의 동작에 관하여 설명한다. 또한, 이하의 설명에서는 1개의 시간축 레인지에서의 교정에 대하여 설명한다. 본 발명에 의한 교정동작은 크게 나누어 3개의 기간으로 나누어져 있다. 제1의 기간은 커서 생성기간이고, 이 기간중 2개의 커서전압의 각각을 생성하고 그리고 검출(16)의 출력에 나타나는 그 대응의 출력전압을 기억한다. 제2의 기간은 소인파형 생성기간이다. 제3의 기간은 측정/계산기간이고, 2개의 커서사이에 있어서의 그 생성소인 파형에서의 경과시간의 측정 및 그 측정결과에 따라 소인파형의 경사에 관하여 재계산하는 기간이다.
제3도의 교정플로우를 나타낸 플로우챠트와 제4도를 참조하여 상세하게 설명하면 교정플로우는 스텝 140에서 개시한다. 이 스텝에서는 커서교정을 행할 때의 시간축 레인지와, 기준커서(CR) 및 델타커서(CD)(제4도에 나타냄)의 각 표시위치와, 그 때의 타이머가 카운트해야 할 예정(목표)의 카운트수(다음의 스텝 147에서 사용)를 결정한다. 설명의 형편상, 일예로서 교정시의 시간축 레인지는 1ms/div, 커서(CR과 CD)의 표시위치(수평편향 입력전압 좌표상의 위치)는 제4도에 나타내고 있는 바와 같이 수평축눈금상의 div(눈금) 1과 div9의 위치로 한다. 카운트하는클록(2MHz)의 주기는 0.5㎲이고, 또 타이머(TM)의 목표게이트 시간폭이 8ms가 되기때문에 목표카운트수(CTT)는 10진의 16000이다. 또한, 제4도에서는 커서(CR과 CD)는 이해하기 쉽게 하기 위하여 관면눈금의 div 1과 div 9의 위치에 일치시켜 나타내고 있으나, 이들 관면표시위치로부터 어긋나 표시되어 있어도 좋다. 이와 같은 어긋남(수평편향 입력전압좌표상의 위치와 관면표시좌표상의 위치와의 어긋남)에는 커서증폭기(13)의 게인(GC)을 조절함으로써 처리할 수 있다. 필요한 것은 이들 커서가 수평편향회로(11)에 대한 입력전압의 좌표에 있어서의 div 1과 div 9의 위치에 생기는 것이다.
다음에 스텝 141에서 오실로스코프를 X-Y 표시모드에 세트한다. 이 모드에 세트되면, CPU는 도시생략한 제어신호에 의하여 소인을 정지시킨다. 다음에, 스템 142에서 기준 커서(CR)의 생성/인가/충전을 위하여 라인 L4에 2진 "1", 라인 L5에 2진 "1", 라인 L2에 2진 "0" 출력함으로써 SW1을 b측으로 SW2를 b측으로, SW3을 a측으로 전환한다. 이와 동시에, 눈금 div 1에 대응하는 디지탈 전압치 (16진의 199H이고, 0.5볼트를 나타낸다.)를 라인(L3)에 발생한다. 이에 의하여, D/A변환기(15)에 의하여 변환된 아날로그 전압 즉 0.5볼트가 SW2, 증폭기(13), SW1를 거쳐 편향회로(11)에 가해지고 그리고 이 회로의 검출기(16)에 의한 검출출력의 전압을, SW3을 거쳐 콘덴서(C1)에 충전에 의하여 축적시킨다. 이 충전이 완료하는 소정의 시간이 경과하고나서, 라인 L2에 2진 "1"을 생성하여 SW3을 b측으로 전환한다. 여기에서 콘덴서(C1)에 충전된 전압은VD-CR(예 ; -1.8볼트)로 한다.
다음의 스텝 143에서는 델타커서(CD)의 상기와 같은 처리를 위하여, 라인 L2에 2진 "10"을 출력하여 SW3을 C측으로 전환한다. 또, 이것과 동시에, 눈금 div 9에 대응하는 디지탈전압치(16진의 E66H이고,4.5볼트를 나타낸다)를 라인 L3에 발생한다. 이에 의하여, 상기와 마찬가지로 D/A 변환기(15)에 의하여 변환된 아날로그전압 즉 4.5볼트가 SW2, 증폭기(13), SW1을 거쳐 편향회로(11)에 가해지고, 그리고 이 회로의 검출기(16)에 의한 검출출력의 전압을 SW3을 거쳐 콘덴서(C2)에 충전에 의하여 축적시킨다. 이 충전이 완료하는 소정의 시간이 경과하고나서, 라인 2에 2진 "1"을 생성하여 SW3을 b측으로 전환한다. 콘덴서 (C2)에 충전된 전압은 VD-CD(예 ; +1.8볼트)로 나타낸다. 또한, 제4도에서는 각 커서를 세로방향의 점선으로서 나타내고 있으나, 이와 같이 표시시키려면 수직편향회로(도시생략)에 계단형상의 램프파형을 입력하는 것도 필요하다.
다음에, 스텝 144에서 소인의 준비를 위하여, 라인 L4에 2진 "0", 라인 L5에 2진 "0"을 발생하여, SW1과 SW2를 양쪽 모두 a측으로 한다. 다음에, 목표의 게이트 폭 (또는 목표의 카운트)이 얻어진다고 예상되는 소인파형의 디지탈의 경사치(GV)를, 라인 L3에 생성한다. 이 디지탈치는 변환기(15)가 아날로그치로 변환한 후, 발생기(10)에 인가한다. 그 다음, 스텝 145에서, 소인을 개시시키기 위하여, 도시생략한 CPU의 제어신호에 의하여 소인모드를 AUTO에 세트하고, 또 수평축 모드를 A소인에 세트한다(본 발명을 채용한 오실로스코프에서는 A소인발생기와 B소인발생기의 2개를 구비하고 있다). 이에 의하여, 소인파형전압(VSW)이 발생하여 SW1을 거쳐 편향회로(11)에 가해지고, 그리고 이 회로의 출력전압을 나타낸검출기(16)의 검출출력전압 VD-SW(예 ; -2.7∼+2.7볼트)이 측정기(17)의 비교기(170,172)의 비반전입력에 가해진다. 전압 VD-CR, VD-CD, VD-SW가 제4도에 나타낸 관계에 있을 때, 플립플롭(174)은 수평편향전압 좌표상의 div 1에 상당하는 위치에서 "High"가 되고, 그리고 그 좌표상의 div 9에 상당하는 위치에서 "Low"가 되는 게이트 신호(SG)를 발생한다. 이 게이트신호는 라인 L1을 거쳐 제어기 (14)의 타이머(TM)에 가해진다.
다음에 스텝 146에서 제어기(14)내의 타이머(TM)에 게이트신호(SG)의 하이기간 (T)동안 클록(CK)을 카운트시켜, 2진의 측정카운트치(CTT)를 얻는다. 이 카운트치(CTM)와 상기의 2진의 목표카운트치(CTT)와의 차가, 규격치 이내인지의 여부를 판정한다. 본 예에서는 그 허용차는 2진의 ±1이다. 만일, 이 허용차내에 없을때, 다음의 스텝에서 카운트치의 차가 허용차내에 들어가는 방향으로, 새로운 디지탈(GV)치를 산출한다. 이후, 스텝 141로 되돌아가고, 그리고 그 새로운 디지탈(GV)치를 사용하여 이상에 설명한 처리를 반복한다.
스텝 147에서 YES가 되었을 때, 그 때의 디지탈(GV)치가 최종적인 소인파형의 경사치가 되고, 그리고 본 교정은 종료한다. 이상, 1개의 시간축 레인지에서의 커서교정이다. 상기한 3개의 시간축레이지의 나머지의 2개, 즉 0.5ms/div, 50㎲/div의 각각으로 교정하려면 제4도의 교정 플로우를 반복하면 좋다.
상기의 교정처리를 행하면, 기준커서와 델타커서 즉 1쌍의 전자눈금의 각 수평전압간의 차이가, 상기 교정이 유효한 시간축레인지의 각각에서의 시간차를 정밀도 높게 나타내게 된다. 그 결과, 실제의 측정에 있어서, 커서를 사용한 수치판독에 있어서는, 기준커서와 델타커서의 관면표시위치를 측정하고 싶은 부분의 양단에 배치했을 때 그 1쌍의 커서용의 CPU내의 디지탈 전압치의 차이로부터 그들 커서간의 시간을 정밀도 좋게 산출할 수가 있다. 또한, 이 판독치는 관면눈금과 표시파형에 의거한 판독보다 정밀도가 높다.
이상으로 본 발명의 일실시예에 대하여 설명했으나, 다음과 같은 변경도 가능하다.
먼저 첫째로, 교정에 사용하는 시간축 레인지는 증감시킬 수가 있다. 필요하면 오실로스코프의 시간축레인지의 모두에 대하여 본 발명의 교정을 실시하여도 좋다. 둘째로, 소인 발생기를 2개이상 구비한 오실로스코프에서는 소인발생기의 각각에 대하여 본 발명의 교정을 행하도록 할 수가 있다. 예를 들면, 앞에 언급한 바와 같이, B소인발생기(지연 소인용)에 대해서도 교정을 반복할 수가 있다. 셋째로, 커서(CR와 CD)의 교정용의 위치로서, 소인파형의 선형성이 높은 부분에서 교정을 행하기 위하여 div1과 div9를 사용했으나, 그 외의 위치로 변화시키는 것도 가능하다. 넷째로 시간간격(T)의 측정방법은 T를 나타낸 정보를 가진 신호 등이 얻어지면, 예시한 방법 이외의 방법으로도 가능하다. 다섯째로 커서의 수는 2이상으로 할 수도 있고, 그 경우의 그것들의 임의의 2개를 교정하면 좋다.
이상 설명한 본 발명에 의하면, 수평축용의 전자눈금을 정밀도 높게 교정할수가 있다. 또, 전자눈금을 직접 교정하기 위하여 전자눈금을 사용한 수치판독등의 측정의 정밀도를 높게할 수가 있다.

Claims (10)

  1. (2회 정정) 관면을 가지는 오실로스코프의 수평축용의 전자눈금을 교정하는 교정방법으로서,
    가) 수평축용의 적어도 제1 및 제2의 각각 수평축 방향으로 가동하는 전자눈금(CR, CD)에 대하여, 상기 전자눈금의 상기 오실로스코프의 관면상의 표시위치(div1, div9)에 상당하는 값의 제1 및 제2의 전자눈금신호(VCR, VCD)를 결정하는 단계(140)와,
    나) 상기 제1 및 제2의 전자눈금신호를 순차적으로, 수평방향회로(11)에 인가하여, 그 회로의 출력으로부터 제1편향출력(VD-CR)과 제2편향출력(VD-CD)을 각각 얻는 단계 (141,142,143)와,
    다) 조절가능한 경사의 소인용 파형부분을 가지는 소인파형(VSW)을 발생하는 단계(144 )와,
    라) 상기 소인파형을 상기 수평편향회로에 인가하여, 그 수평편향회로로부터의 상기 소인파형에 응답한 제3편향출력(VD-SW)을 얻는 단계(145)와,
    마) 상기 제3편향출력의 상기 소인용파형부분에 대응하는 부분이, 상기 제1편향출력의 값을 취하는 시점과 상기 제2편향출력의 값을 취하는 시점과의 사이의 시간간격치(CTM)를 측정하는 단계(146)와,
    바) 상기 측정시간 간격치와, 상기 제1 및 제2의 전자눈금의 상기 표시위치간의 목표의 시간간격치(CTT)에 응답하여 상기 소인파형의 상기 경사를 조절하는 단계(147,148)로 이루어지는 수평축 전자눈금 교정방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 수평축은 상기 오실로스코프의 소인모드에 있어서의 시간축인 것을 특징으로 하는 교정방법.
  3. (정정) 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2의 전자눈금은 기준커서(CR)와 델타커서(CD)인 것을 특징으로 하는 교정방법.
  4. (2회 정정) 제1항에 있어서, 상기 오실로스코프의 적어도 1개의 시간축레인지에 있어서, 상기 제1 및 제2의 전자눈금의 교정을 행하는 것을 특징으로 하는 교정방법.
  5. (2회정정) 제1항에있어서, 적어도 1개의 소인파형발생기(10)가 발생하는 소인파형의 각각에 관하여, 상기 제1 및 제2의 전자눈금의 교정을 행하는 것을 특징으로 하는 교정방법.
  6. (2회 정정) 표시관면을 가지는 오실로스코프에 있어서, A) 수평편향회로(11)와, B) 상기 표시관면에 표시하는 수평축용의 적어도 제1 및 제2의 각각에 수평축 방향으로 가동하는 전자눈금 (CR, CD)에 대하여, 그 전자눈금의 상기 오실로스코프의 관면상의 표시위치(div 1, div 9)에 상당하는 값의 제1 및 제2의 전자눈금신호(VCR, VCD)를 발생하는 전자눈금 신호발생수단과 C) 조절가능한 경사의 소인용파형부분을 가지는 소인파형(VSW)을 발생하는 소인파형 발생수단(10)을 구비한 오실로스코프에 있어서, 수평축용의 전자눈금을 교정하는 교정장치가
    가) 상기 수평편향회로의 출력을 검출하는 검출수단(16)과,
    나) 그 검출수단으로부터의 출력을 받도록 접속한 시간간격측정수단(17)에 있어서, 상기 제 1및 제2의 전자눈금신호를 순차, 상기 수평편향회로에 인가했을때 얻어지는 상기 검출수단으로부터의 제1검출출력(VD-CR)과 제2검출출력(VD-CD)을 각각 받고, 그리고 상기 소인파형을 상기 수평편향회로에 인가했을 때 얻어지는 상기 검출수단으로부터의 제3검출출력(VD-SW)을 받고, 상기 제3검출출력의 상기 소인용파형부분에 대응하는 부분이 상기 제1검출출력의 값을 취하는 시점과 상기 제2검출출력의 값을 취하는 시점과의 사이의 시간간격(T)을 나타내는 측정시간 간격신호(SG)를 발생하는 시간간격 측정수단(17)과,
    다) 제어수단(14)에 있어서, 상기 측정시간 간격의 값(CTM)과, 상기 제1 및 제2의 전자눈금의 상기 표시위치간의 목표시간간격치(CTT)에 응답하여, 상기 소인파형의 상기 경사를 조절하기 위하여 상기 소인파형발생수단에 인가해야 할 제어신호(GV)를 발생하는 제어수단을 구비한 것을 특징으로 하는 수평축 전자눈금의 교정장치.
  7. (정정) 제6항에 있어서, 상기 시간간격측정수단(17)은 상기 제1검출출력과 상기 제2검출출력을 기억하기 위한 제1과 제2의 기억수단(C1,C2)과, 상기 제3검출출력과, 상기 제1기억수단에 기억한 상기 제1검출출력을 비교하여, 상기 제3검출출력의 크기가 상기 제1검출출력 보다도 커졌을 때에 제1의 신호를 발생하는 제1의 비교수단(170)과, 상기 제3검출출력과 상기 제2기억수단에 기억한 상기 제2검출출력을 비교하여, 상기 제3검출출력의 크기가 상기 제2검출출력 보다도 커졌을 때 제2의 신호를 발생하는 제2의 비교수단(172)과, 상기 제1 및 제2의 비교수단에 접속되고 있고, 상기 제1신호의 발생시점으로부터 상기 제2신호의 발생시점까지의 길이의 펄스(SG)를 발생하는 플립플롭(174)을 구비하고, 상기 제어수단(14)은, 소정의 주파수의 클록(CK)을 발생하는 클록발생기와, 그 클록과 상기 플립플롭으로부터의 상기 펄스를 받아, 상기 펄스의 기간중에 생기는 상기 클록의 수를 카운트하는 카운터수단(TM)을 구비하고 잇는 것을 특징으로 하는 교정장치.
  8. (2회 정정) 제6항에 있어서, 상기 오실로스코프의 적어도 1개의 시간축레인지에 있어서, 상기 제1 및 제2의 전자눈금의 교정을 행하는 것을 특징으로 하는 교정장치.
  9. (2회 정정) 제6항에 있어서, 적어도 1개의 소인파형발생기(10)의 소인파형의 각각에 관하여 상기 제1 및제2의 전자눈금의 교정을 행하는 것을 특징으로 하는 교정장치.
  10. (2회 정정) 표시관면을 가지는 오실로스코프에 있어서,
    가) 수평편향회로(1)와
    나) 상기 표시관면에 표시하는 수평축용 적어도 제1 및 제2의 각각 수평축방향으로 가동하는 전자눈금(CR, CD)에 대하여 그 전자눈금의 상기 오실로스코프의 관면상의 표시위치(div1, div9)에 상당하는 값의 제1 및 제2의 전자눈금신호(VCR, VCD)를 발생하는 전자눈금 신호발생수단(14,15,13)과,
    다) 조절가능한 경사의 소인용파형부분을 가지는 소인파형(VSW)을 발생하는 소인파형발생수단(10)과,
    라) 상기 수평편향회로의 출력을 검출하는 검출수단(16)과,
    마) 그 검출수단으로부터의 출력을 받도록 접속한 시간간격측정수단(17)에 있어서, 상기 제1 및 제2의 전자눈금신호를 순차, 상기 수평편향회로에 인가했을 때에 얻어지는 상기 검출수단으로부터의 제1검출출력(VD-CR)과 제2검출출력 (VD-CD)을 각각 받고, 그리고 상기 소인파형을 상기 수평편향회로에 인가했을 때 얻어지는 상기 검출수단으로부터의 제3검출출력(VD-SW)을 받아, 상기 제3검출출력의 상기 소인용파형부분에 대응하는 부분이, 상기 제1검출출력의 값을 취하는 시점과 상기 제2검출출력의 값을 취하는 시점과의 사이의 시간간격(T)을 나타내는 측정시간 간격신호(SG)를 발생하는 시간간격 측정수단(17)과,
    바) 제어수단(14)에 있어서, 상기 측정시간간격의 값(CTM)과, 상기 제1 및 제2의 전자눈금의 상기 표시위치간의 목표시간간격치(CTT)에 응답하여 상기 소인파형의 상기 경사를 조절하기 위하여 상기 소인파형 발생수단에 인가해야 할 제어신호(GV)를 발생하는 제어수단을 구비한 오실로스코프.
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3335730B2 (ja) * 1993-10-08 2002-10-21 リーダー電子株式会社 音像表示装置
DE19856384A1 (de) * 1998-12-07 2000-06-08 Siemens Ag Verfahren und Schaltungsanordnung zur Regelung des Arbeitspunktes einer Kathodenstrahlröhre
US20040033600A1 (en) * 2001-03-21 2004-02-19 Palli Subba Reddy Ecdysone receptor-based inducible gene expression system

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3840302A (en) * 1971-06-01 1974-10-08 D Brunton Oscilloscope presentation of sheet profile from a scanning gage
US4196629A (en) * 1978-10-23 1980-04-08 Philips Gerald J Fiber optic machinery performance monitor
US4540982A (en) * 1982-05-17 1985-09-10 Tektronix, Inc. Delay compensation method and apparatus for digital display systems
JPS5926070A (ja) * 1982-08-02 1984-02-10 Iwatsu Electric Co Ltd ストレ−ジオシロスコ−プ
US4553091A (en) * 1983-02-07 1985-11-12 Tektronix, Inc. Automatic vertical calibration method and system for an oscilloscope
US4581585A (en) * 1983-02-07 1986-04-08 Tektronix, Inc. Apparatus and method for automatically calibrating a sweep waveform generator
JPS63106568A (ja) * 1986-10-24 1988-05-11 Hitachi Denshi Ltd 掃引波形発生器用自動校正装置
JPH077015B2 (ja) * 1987-05-20 1995-01-30 日立電子株式会社 傾斜波形発生器用自動校正装置

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