JPH077015B2 - 傾斜波形発生器用自動校正装置 - Google Patents
傾斜波形発生器用自動校正装置Info
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- JPH077015B2 JPH077015B2 JP12128787A JP12128787A JPH077015B2 JP H077015 B2 JPH077015 B2 JP H077015B2 JP 12128787 A JP12128787 A JP 12128787A JP 12128787 A JP12128787 A JP 12128787A JP H077015 B2 JPH077015 B2 JP H077015B2
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- sweep waveform
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は例えばオシロスコープ用の掃引波形の傾きを自
動的に校正する装置に関する。
動的に校正する装置に関する。
［発明の概要］ 周知の如くオシロスコープ等の電気信号を測定する電子
機器では電気信号の時間的変化量等を測定するために、
時間に比例した電圧を発生する掃引波形発生器を備えて
いる。オシロスコープでは、上記掃引波形発生器による
掃引波形を、陰極線管（以下CTRと称す）の水平偏向回
路に供給し、一方、被測定電気信号に比例した電圧を上
記CRTの垂直偏向回路に供給することにより、電気信号
を測定することができる。
機器では電気信号の時間的変化量等を測定するために、
時間に比例した電圧を発生する掃引波形発生器を備えて
いる。オシロスコープでは、上記掃引波形発生器による
掃引波形を、陰極線管（以下CTRと称す）の水平偏向回
路に供給し、一方、被測定電気信号に比例した電圧を上
記CRTの垂直偏向回路に供給することにより、電気信号
を測定することができる。
ところで、前記掃引波発生器は通常アナログ素子で構成
されるが、周知のように経年変化及び温度変化によりそ
の特性は変動する。これらのアナログ素子の特性の変動
は、掃引波形発生器が発生する掃引波形に影響をおよぼ
し、その結果CRT管面上には正確な波形が表示されなく
なり測定精度が低下する。
されるが、周知のように経年変化及び温度変化によりそ
の特性は変動する。これらのアナログ素子の特性の変動
は、掃引波形発生器が発生する掃引波形に影響をおよぼ
し、その結果CRT管面上には正確な波形が表示されなく
なり測定精度が低下する。
このため、このようなオシロスコープでは、掃引波形の
特性を校正し一定の範囲内に保持することが不可欠であ
る。この校正は、掃引波形発生器内に可変抵抗、可変容
量等の可変特性素子を用い、これらの素子の特性を変化
させ、基準となる校正信号に掃引波形の特性を合致させ
ることにより行なわれる。これらの校正手段にはいくつ
かの問題点がある。すなわち、これらの校正は目視によ
り校正を評価し、可変特性素子の調整を手動で行なうた
め校正時に誤差が含まれる可能性があること、また、前
述の如く校正後も使用環境の変動により特性が変化する
ために頻繁に校正を行なう必要があることなどがある。
特性を校正し一定の範囲内に保持することが不可欠であ
る。この校正は、掃引波形発生器内に可変抵抗、可変容
量等の可変特性素子を用い、これらの素子の特性を変化
させ、基準となる校正信号に掃引波形の特性を合致させ
ることにより行なわれる。これらの校正手段にはいくつ
かの問題点がある。すなわち、これらの校正は目視によ
り校正を評価し、可変特性素子の調整を手動で行なうた
め校正時に誤差が含まれる可能性があること、また、前
述の如く校正後も使用環境の変動により特性が変化する
ために頻繁に校正を行なう必要があることなどがある。
これらの問題点の対策としては、例えば掃引波形発生器
を構成するアナログ素子として高精度素子を用いて使用
環境の変動に対する掃引波形の特性の変化を小さくし、
校正の必要性を小さくする方法がある。しかし、この方
法では、高精度素子を用いるための製造コストの上昇と
いう難点があり、また校正時に誤差が含まれる点につい
ては本質的解決策とはならない。そこで、この解決策と
して、掃引波形発生器の発生する掃引波形を自動的に校
正することが必要となる。
を構成するアナログ素子として高精度素子を用いて使用
環境の変動に対する掃引波形の特性の変化を小さくし、
校正の必要性を小さくする方法がある。しかし、この方
法では、高精度素子を用いるための製造コストの上昇と
いう難点があり、また校正時に誤差が含まれる点につい
ては本質的解決策とはならない。そこで、この解決策と
して、掃引波形発生器の発生する掃引波形を自動的に校
正することが必要となる。
本発明はこのように自動校正を行うため、タイミング基
準信号に応じた傾きの掃引波形を発生する掃引波形発生
器と上記掃引波形に同期した掃引ゲート信号発生器を有
する傾斜信号発生器において、基準パルス発生器と上記
掃引ゲート信号の掃引期間内の基準パルスの数を計数す
る掃引時間の実測手段と上記掃引波形の初期電圧と上記
掃引波形の上限電圧の電圧差を実測する手段と該測定結
果に応じて上記タイミング信号を調整し、上記掃引波形
を校正する制御手段を備えたもので、掃引波形の初期電
圧と掃引波形の上限電圧が変動したときでも、校正時に
掃引波形の初期電圧と掃引波形の上限電圧の電圧差を求
めることができるので、誤差を生じることなく、掃引波
形発生器の発生する掃引波形を校正することができる。
準信号に応じた傾きの掃引波形を発生する掃引波形発生
器と上記掃引波形に同期した掃引ゲート信号発生器を有
する傾斜信号発生器において、基準パルス発生器と上記
掃引ゲート信号の掃引期間内の基準パルスの数を計数す
る掃引時間の実測手段と上記掃引波形の初期電圧と上記
掃引波形の上限電圧の電圧差を実測する手段と該測定結
果に応じて上記タイミング信号を調整し、上記掃引波形
を校正する制御手段を備えたもので、掃引波形の初期電
圧と掃引波形の上限電圧が変動したときでも、校正時に
掃引波形の初期電圧と掃引波形の上限電圧の電圧差を求
めることができるので、誤差を生じることなく、掃引波
形発生器の発生する掃引波形を校正することができる。
［従来の技術］ 掃引波形発生器の発生する掃引波形を自動的に校正する
装置の従来技術としては、例えば、第３図及び特開昭59
−148877に示すようなものがある。
装置の従来技術としては、例えば、第３図及び特開昭59
−148877に示すようなものがある。
第３図に示す第１の従来技術はタイミング基準信号に応
じた傾きの掃引波形を発生する掃引波形発生器と上記掃
引波形に同期した掃引ゲート信号発生器を有するオシロ
スコープにおいて、基準パルス発生器と上記掃引ゲート
信号の掃引期間内の基準パルスの数をカウント測定し、
この測定結果に応じて前記タイミング基準信号を調整
し、上記掃引波形の傾きを校正する掃引波形発生器用自
動校正装置が挙げられる。他の従来例は例えば、特開昭
59−148877号公報に示されるように、タイミング基準信
号に応じた傾きの掃引波形発生器と、上記掃引波形が異
なる所定直流レベル間を通過する時間を測定する時間測
定手段と、該時間測定手段の測定結果に応じて上記タイ
ミング基準信号を調整し、上記掃引波形の傾きを校正す
る制御手段とを備えた掃引波形発生器用自動校正装置が
挙げられる。
じた傾きの掃引波形を発生する掃引波形発生器と上記掃
引波形に同期した掃引ゲート信号発生器を有するオシロ
スコープにおいて、基準パルス発生器と上記掃引ゲート
信号の掃引期間内の基準パルスの数をカウント測定し、
この測定結果に応じて前記タイミング基準信号を調整
し、上記掃引波形の傾きを校正する掃引波形発生器用自
動校正装置が挙げられる。他の従来例は例えば、特開昭
59−148877号公報に示されるように、タイミング基準信
号に応じた傾きの掃引波形発生器と、上記掃引波形が異
なる所定直流レベル間を通過する時間を測定する時間測
定手段と、該時間測定手段の測定結果に応じて上記タイ
ミング基準信号を調整し、上記掃引波形の傾きを校正す
る制御手段とを備えた掃引波形発生器用自動校正装置が
挙げられる。
以下第３図のブロック図を用いて上記第１の従来技術を
説明する。
説明する。
掃引波形発生器34は後述する制御器31からのタイミング
基準信号により傾きが調整可能な掃引波形を発生し、オ
シロスコープではこの掃引波形を増幅し、CRTの水平偏
向回路に供給している。オシロスコープにおいては、掃
引波形発生器34は他の回路と掃引波形との同期をとるた
めに、掃引波形の立ち上りの期間を示す掃引ゲート信号
を同時に発生する。制御器31は掃引波形発生器34が発生
する掃引波形の傾きを決定するタイミング基準信号を供
給するために、D/A変換器33にタイミング基準デジタル
値を設定する。このタイミング基準デジタル値はオシロ
スコープの操作者の設定したタイムベース・スイッチ
や、掃引速度調整つまみなどの設定値に従って制御器31
により決定される。D/A変換器33はタイミング基準デジ
タル値を電圧に変換し、これをタイミング基準信号とし
て掃引波形発生器34に供給する。
基準信号により傾きが調整可能な掃引波形を発生し、オ
シロスコープではこの掃引波形を増幅し、CRTの水平偏
向回路に供給している。オシロスコープにおいては、掃
引波形発生器34は他の回路と掃引波形との同期をとるた
めに、掃引波形の立ち上りの期間を示す掃引ゲート信号
を同時に発生する。制御器31は掃引波形発生器34が発生
する掃引波形の傾きを決定するタイミング基準信号を供
給するために、D/A変換器33にタイミング基準デジタル
値を設定する。このタイミング基準デジタル値はオシロ
スコープの操作者の設定したタイムベース・スイッチ
や、掃引速度調整つまみなどの設定値に従って制御器31
により決定される。D/A変換器33はタイミング基準デジ
タル値を電圧に変換し、これをタイミング基準信号とし
て掃引波形発生器34に供給する。
制御器31は、またタイムベース・スイッチなどの設定値
に従ってタイミング基準デジタル値と同時に制御信号を
掃引波形発生器34に供給する。掃引波形発生器34は、D/
A変換器33からのタイミング基準信号を図示しない抵抗
器を介して定電流に変換し、これを電流源として利用し
た場合、前記制御信号に応じて掃引波形発生器内の電流
振幅及び容量の特性を変更し、掃引波形の傾きを決定す
る。
に従ってタイミング基準デジタル値と同時に制御信号を
掃引波形発生器34に供給する。掃引波形発生器34は、D/
A変換器33からのタイミング基準信号を図示しない抵抗
器を介して定電流に変換し、これを電流源として利用し
た場合、前記制御信号に応じて掃引波形発生器内の電流
振幅及び容量の特性を変更し、掃引波形の傾きを決定す
る。
基準パルス発生器35は一定の周期を持つパルス信号を発
生させ、ANDゲート36に供給する。ANDゲート36にはもう
一方の入力として掃引ゲート信号が供給され、ANDゲー
ト36の出力は基準パルス数測定器37に供給される。基準
パルス数測定器37は掃引ゲート信号発生中の基準パルス
数を計数し、その結果をデジタル値形式の測定データと
して、制御器31に供給する。
生させ、ANDゲート36に供給する。ANDゲート36にはもう
一方の入力として掃引ゲート信号が供給され、ANDゲー
ト36の出力は基準パルス数測定器37に供給される。基準
パルス数測定器37は掃引ゲート信号発生中の基準パルス
数を計数し、その結果をデジタル値形式の測定データと
して、制御器31に供給する。
制御器31はこの測定データを用いて、掃引波形発生器34
が発生する掃引波形の傾きを求め、掃引波形の傾きを校
正する。この校正時のタイミング基準デジタル値を校正
データとして、校正データメモリ32に記憶させ、制御器
31はタイムベース変更時等はこの校正データを用いてタ
イミング基準デジタル値をD/A変換器33に供給する。
が発生する掃引波形の傾きを求め、掃引波形の傾きを校
正する。この校正時のタイミング基準デジタル値を校正
データとして、校正データメモリ32に記憶させ、制御器
31はタイムベース変更時等はこの校正データを用いてタ
イミング基準デジタル値をD/A変換器33に供給する。
第４図は第３図の装置の動作を示す波形図である。掃引
波形発生器34がトリガ信号の入力により、タイミング基
準信号及び制御信号に応じた掃引信号41及び掃引ゲート
信号42を発生する。この掃引ゲート信号42は掃引波形41
の上昇期間と完全に同期している。基準パルス発生器35
が発生した周波数が既知の基準パルス43はANDゲート36
により掃引ゲート信号42との論理積がとられ、その出力
信号44は基準パルス数測定器37に入力される。基準パル
ス数測定器37はANDゲートの出力信号内の基準パルスの
数を測定し、測定データをデジタル値形式でシステム制
御器31に入力する。
波形発生器34がトリガ信号の入力により、タイミング基
準信号及び制御信号に応じた掃引信号41及び掃引ゲート
信号42を発生する。この掃引ゲート信号42は掃引波形41
の上昇期間と完全に同期している。基準パルス発生器35
が発生した周波数が既知の基準パルス43はANDゲート36
により掃引ゲート信号42との論理積がとられ、その出力
信号44は基準パルス数測定器37に入力される。基準パル
ス数測定器37はANDゲートの出力信号内の基準パルスの
数を測定し、測定データをデジタル値形式でシステム制
御器31に入力する。
制御器31はこの測定データをもとに掃引波形の傾きを算
出する。基準パルスの周波数をｆ、基準パルスの計数値
をｎ、掃引波形の初期電圧をV0、掃引波形の上限電圧を
V1とすれば、掃引ゲート時間Ｔは1/f・ｎ（Ｓ）となる
ので、掃引波形の傾きＳは次式により求まる。
出する。基準パルスの周波数をｆ、基準パルスの計数値
をｎ、掃引波形の初期電圧をV0、掃引波形の上限電圧を
V1とすれば、掃引ゲート時間Ｔは1/f・ｎ（Ｓ）となる
ので、掃引波形の傾きＳは次式により求まる。
Ｓ＝｛V1−V0｝/T・・・・・・（１） この結果より、制御器31はタイミング基準デジタル値を
適宜変更し、適正な傾きの掃引波形を発するタイミング
基準デジタルワードを求めることができるので、掃引波
形の傾きを自動的に校正することができるものである。
適宜変更し、適正な傾きの掃引波形を発するタイミング
基準デジタルワードを求めることができるので、掃引波
形の傾きを自動的に校正することができるものである。
次に、第２の従来例について特開昭59−148877号公報の
図面に沿って簡単に説明する。掃引波形発生器はタイミ
ング基準信号に応じて掃引波形及び該掃引波形に同期し
た掃引ゲート信号を発生するが、この掃引波形の傾きは
上記タイミング基準信号の電圧レベルにより決まる。シ
ステム制御器はデジタル値を発生してD/A変換器に供給
し、D/A変換により得られる電圧レベルは、タイミング
基準信号、後述する比較基準信号１もしくは比較基準信
号２として用いられる。比較器は基準選択器で発生する
基準選択信号に従ってマルチプレクサにより選択される
比較基準信号１もしくは比較基準信号２の電圧レベルと
掃引波形の電圧レベルを比較し、電圧レベルが一致した
時に、マーカを出力する。
図面に沿って簡単に説明する。掃引波形発生器はタイミ
ング基準信号に応じて掃引波形及び該掃引波形に同期し
た掃引ゲート信号を発生するが、この掃引波形の傾きは
上記タイミング基準信号の電圧レベルにより決まる。シ
ステム制御器はデジタル値を発生してD/A変換器に供給
し、D/A変換により得られる電圧レベルは、タイミング
基準信号、後述する比較基準信号１もしくは比較基準信
号２として用いられる。比較器は基準選択器で発生する
基準選択信号に従ってマルチプレクサにより選択される
比較基準信号１もしくは比較基準信号２の電圧レベルと
掃引波形の電圧レベルを比較し、電圧レベルが一致した
時に、マーカを出力する。
時間間隔測定システムは掃引ゲート信号及び比較器のマ
ーカ出力を夫々開始及び停止信号として、これらの信号
の立上り縁でトリガし、開始から停止までの時間間隔を
測定してデジタル値形式の測定データとしてシステム制
御器に供給する。
ーカ出力を夫々開始及び停止信号として、これらの信号
の立上り縁でトリガし、開始から停止までの時間間隔を
測定してデジタル値形式の測定データとしてシステム制
御器に供給する。
この実施例では、システム制御器がデジタルワードをD/
A変換器に供給し、タイミング基準信号を掃引発生器
に、また比較基準信号１及び比較基準信号２をD/A変換
器に設定した後に、トリガ信号が入力されることによ
り、掃引信号の開始から掃引信号の電圧レベルが比較基
準電圧１の電圧レベルと一致するまでの時間差である第
１経過時間と、掃引信号の開始から掃引信号の電圧レベ
ルが比較基準電圧２の電圧レベルと一致するまでの時間
差である第２経過時間を測定することができる（詳しい
動作等は前述の文献参照）。システム制御器はこの第１
経過時間と第２経過時間及び既知の比較基準信号１と比
較基準信号２の電圧レベルをもとに次のように掃引波形
の傾きＳを求めることができる。
A変換器に供給し、タイミング基準信号を掃引発生器
に、また比較基準信号１及び比較基準信号２をD/A変換
器に設定した後に、トリガ信号が入力されることによ
り、掃引信号の開始から掃引信号の電圧レベルが比較基
準電圧１の電圧レベルと一致するまでの時間差である第
１経過時間と、掃引信号の開始から掃引信号の電圧レベ
ルが比較基準電圧２の電圧レベルと一致するまでの時間
差である第２経過時間を測定することができる（詳しい
動作等は前述の文献参照）。システム制御器はこの第１
経過時間と第２経過時間及び既知の比較基準信号１と比
較基準信号２の電圧レベルをもとに次のように掃引波形
の傾きＳを求めることができる。
｛（基準比較電圧２）−（比較基準電圧１）｝／｛（第
２経過時間）−（第１経過時間）｝＝Ｓ・・・・（１） この値を基にしてシステム制御器は掃引波形発生器を構
成する素子等の特性を算出し、この結果からタイミング
基準信号を調整し、所望の掃引波形の傾きを校正する。
２経過時間）−（第１経過時間）｝＝Ｓ・・・・（１） この値を基にしてシステム制御器は掃引波形発生器を構
成する素子等の特性を算出し、この結果からタイミング
基準信号を調整し、所望の掃引波形の傾きを校正する。
［発明が解決しようとする課題］ 前述の第１の従来技術では掃引波形の初期電圧と掃引波
形の上限電圧を一定で既知と仮定することにより最小規
模の回路構成で掃引波形の傾きを自動的に校正すること
を実現しているが、掃引波形発生器は一般にその構成
上、使用温度等の使用環境の変動により掃引波形の初期
電圧と掃引波形の上限電圧が変動することがある。この
掃引波形の初期電圧と掃引波形の上限電圧の変動は掃引
波形の傾きを求める際の誤差となる。また、第２の従来
技術では通常の自動校正機能を持たないオシロスコープ
に対して基準選択器、マルチプレクサ及び比較器といっ
た素子の追加が不可欠であるため、製造コストが上昇
し、また比較器の精度が校正の精度に直接影響を及ぼす
ため非常に高精度の比較器が必要であるという問題点が
ある。本発明はこれらの第１及び第２の従来例の欠点を
解決するために、掃引波形の初期電圧と掃引波形の上限
電圧の変動による誤差を生じないとともにより低価格、
かつ高精度な素子を必要としない掃引波形発生器用自動
校正器を提供することを目的とする。
形の上限電圧を一定で既知と仮定することにより最小規
模の回路構成で掃引波形の傾きを自動的に校正すること
を実現しているが、掃引波形発生器は一般にその構成
上、使用温度等の使用環境の変動により掃引波形の初期
電圧と掃引波形の上限電圧が変動することがある。この
掃引波形の初期電圧と掃引波形の上限電圧の変動は掃引
波形の傾きを求める際の誤差となる。また、第２の従来
技術では通常の自動校正機能を持たないオシロスコープ
に対して基準選択器、マルチプレクサ及び比較器といっ
た素子の追加が不可欠であるため、製造コストが上昇
し、また比較器の精度が校正の精度に直接影響を及ぼす
ため非常に高精度の比較器が必要であるという問題点が
ある。本発明はこれらの第１及び第２の従来例の欠点を
解決するために、掃引波形の初期電圧と掃引波形の上限
電圧の変動による誤差を生じないとともにより低価格、
かつ高精度な素子を必要としない掃引波形発生器用自動
校正器を提供することを目的とする。
［課題を解決するための手段］ 本発明は上記目的を達成するため、タイミング基準信号
に応じた傾きの掃引波形を発生する掃引波形発生器と上
記掃引波形に同期した掃引ゲート信号発生器を有する傾
斜信号発生器において、基準パルス発生器と上記掃引ゲ
ート信号の掃引期間内の基準パルスの数を計数すること
によって掃引波形が発生している時間を求める時間測定
手段と上記掃引波形の初期電圧と上記掃引波形の上限電
圧の電圧差を測定する手段と該測定結果に応じて上記タ
イミング信号を調整し、上記掃引波形を校正する制御手
段を備えたものである。
に応じた傾きの掃引波形を発生する掃引波形発生器と上
記掃引波形に同期した掃引ゲート信号発生器を有する傾
斜信号発生器において、基準パルス発生器と上記掃引ゲ
ート信号の掃引期間内の基準パルスの数を計数すること
によって掃引波形が発生している時間を求める時間測定
手段と上記掃引波形の初期電圧と上記掃引波形の上限電
圧の電圧差を測定する手段と該測定結果に応じて上記タ
イミング信号を調整し、上記掃引波形を校正する制御手
段を備えたものである。
［作用］ その結果、掃引波形の初期電圧と掃引波形の上限電圧が
変動したときでも、校正時に掃引波形の初期電圧と掃引
波形の上限電圧の電圧差を求めることができるので、誤
差を生じることなく、安価な回路で掃引波形発生器の発
生する掃引波形を校正することができる。
変動したときでも、校正時に掃引波形の初期電圧と掃引
波形の上限電圧の電圧差を求めることができるので、誤
差を生じることなく、安価な回路で掃引波形発生器の発
生する掃引波形を校正することができる。
［実施例］ 第１図は本発明の一実施例のブロック図であり、以下第
１図を用いて説明する。
１図を用いて説明する。
掃引波形発生器14はタイミング基準信号により傾きが調
整可能な掃引信号を発生し、オシロスコープではこの掃
引信号を増幅し、CRTの水平偏向回路に供給している。
周知の如くオシロスコープにおいては、掃引波形発生器
は他の回路と掃引波形との同期をとるために、掃引波形
の立ち上りの期間を示す掃引ゲート信号22を同時に発生
する。
整可能な掃引信号を発生し、オシロスコープではこの掃
引信号を増幅し、CRTの水平偏向回路に供給している。
周知の如くオシロスコープにおいては、掃引波形発生器
は他の回路と掃引波形との同期をとるために、掃引波形
の立ち上りの期間を示す掃引ゲート信号22を同時に発生
する。
制御器11は例えばマイクロプロセッサと周辺回路により
構成され、掃引波形発生器14が発生する掃引信号の傾き
を決定するタイミング基準信号を供給するため、D/A変
換器13にタイミング基準デジタル値を設定する。このタ
イミング基準デジタル値はオシロスコープの操作者の設
定したタイムベース・スイッチや、掃引速度調整つまみ
などの設定値に従って制御器11により決定される。D/A
変換器13はタイミング基準デジタル値を電圧に変換し、
これをタイミング基準信号として掃引波形発生器14に供
給する。
構成され、掃引波形発生器14が発生する掃引信号の傾き
を決定するタイミング基準信号を供給するため、D/A変
換器13にタイミング基準デジタル値を設定する。このタ
イミング基準デジタル値はオシロスコープの操作者の設
定したタイムベース・スイッチや、掃引速度調整つまみ
などの設定値に従って制御器11により決定される。D/A
変換器13はタイミング基準デジタル値を電圧に変換し、
これをタイミング基準信号として掃引波形発生器14に供
給する。
制御器11は、またタイムベース・スイッチなどの設定値
に従ってタイミング基準デジタル値と同時に制御信号を
掃引波形発生器14に供給する。掃引波形発生器14は、こ
のタイミング基準信号を図示しない抵抗器を介して定電
流に変換し、これを電流源として利用する。この場合、
前記制御信号に応じて掃引波形発生器内の電流振幅及び
容量の特性を変更し、掃引波形の傾きを決定することが
できる。
に従ってタイミング基準デジタル値と同時に制御信号を
掃引波形発生器14に供給する。掃引波形発生器14は、こ
のタイミング基準信号を図示しない抵抗器を介して定電
流に変換し、これを電流源として利用する。この場合、
前記制御信号に応じて掃引波形発生器内の電流振幅及び
容量の特性を変更し、掃引波形の傾きを決定することが
できる。
基準パルス発生器15は一定の周期を持つパルス信号を発
生させ、ANDゲート16に供給する。ANDゲート16にはもう
一方の入力として掃引ゲート信号22が供給され、ANDゲ
ート16の出力は基準パルス数測定器17に供給される。基
準パルス数測定器17は基準パルス数を計数し、その結果
をデジタル値形式の測定データとして、制御器11に供給
する。
生させ、ANDゲート16に供給する。ANDゲート16にはもう
一方の入力として掃引ゲート信号22が供給され、ANDゲ
ート16の出力は基準パルス数測定器17に供給される。基
準パルス数測定器17は基準パルス数を計数し、その結果
をデジタル値形式の測定データとして、制御器11に供給
する。
A/D変換器18は掃引波形発生器14が発生した掃引信号電
圧をA/D変換し、掃引波形電圧デジタルデータとして制
御器11に供給する。
圧をA/D変換し、掃引波形電圧デジタルデータとして制
御器11に供給する。
制御器11はこれら測定データを用いて、掃引波形発生器
が発生する掃引波形の傾きを求め、掃引波形の傾きを校
正する。この校正時のタイミング基準デジタル値を校正
データとして、校正データメモリ12に記憶させ、制御器
11はタイムベース変更時等はこの校正データを用いてタ
イミング基準デジタル値をD/A変換器13に供給する。
が発生する掃引波形の傾きを求め、掃引波形の傾きを校
正する。この校正時のタイミング基準デジタル値を校正
データとして、校正データメモリ12に記憶させ、制御器
11はタイムベース変更時等はこの校正データを用いてタ
イミング基準デジタル値をD/A変換器13に供給する。
第２図は第１図の装置の動作を示す波形図である。掃引
波形発生器14がトリガ信号の入力により、タイミング基
準信号及び制御信号に応じた掃引信号21及び掃引ゲート
信号22を発生する。この掃引ゲート信号22は掃引信号21
の上昇期間と完全に同期している。基準パルス発生器15
が発生した周波数が既知の基準パルス23はANDゲート16
により掃引ゲート信号22との論理積がとられ、その出力
信号24は基準パルス数測定器17に入力される。基準パル
ス数測定器17はANDゲートの出力信号内の基準パルスの
数を測定する。このパルス数は掃引信号を発生している
時間のデータとなる。この測定データはデジタル値形式
で制御器11に入力する。
波形発生器14がトリガ信号の入力により、タイミング基
準信号及び制御信号に応じた掃引信号21及び掃引ゲート
信号22を発生する。この掃引ゲート信号22は掃引信号21
の上昇期間と完全に同期している。基準パルス発生器15
が発生した周波数が既知の基準パルス23はANDゲート16
により掃引ゲート信号22との論理積がとられ、その出力
信号24は基準パルス数測定器17に入力される。基準パル
ス数測定器17はANDゲートの出力信号内の基準パルスの
数を測定する。このパルス数は掃引信号を発生している
時間のデータとなる。この測定データはデジタル値形式
で制御器11に入力する。
制御器11は、この測定データの入力に合わせて、掃引波
形の初期電圧と掃引波形の上限電圧の電圧差の測定を行
なう。すなわち、制御器11はA/D変換器18から供給され
る掃引波形に対応した電圧デジタルデータを入力して、
掃引波形の初期電圧値VD0と掃引波形の上限電圧VD1を求
める。
形の初期電圧と掃引波形の上限電圧の電圧差の測定を行
なう。すなわち、制御器11はA/D変換器18から供給され
る掃引波形に対応した電圧デジタルデータを入力して、
掃引波形の初期電圧値VD0と掃引波形の上限電圧VD1を求
める。
制御器11はこれらの測定データをもとに掃引波形の傾き
を算出する。基準パルスの周波数ｆ、掃引ゲート内の基
準パルスの計数値をｎとし、A/D変換器18によるA/D変換
時の誤差が十分小さいものとすれば、VD0＝V0、VD1＝V1
となり、掃引ゲート時間Ｔは Ｔ＝1/f・ｎ（sec） となるので、掃引波形の傾きＳは次式により求まる。
を算出する。基準パルスの周波数ｆ、掃引ゲート内の基
準パルスの計数値をｎとし、A/D変換器18によるA/D変換
時の誤差が十分小さいものとすれば、VD0＝V0、VD1＝V1
となり、掃引ゲート時間Ｔは Ｔ＝1/f・ｎ（sec） となるので、掃引波形の傾きＳは次式により求まる。
Ｓ＝｛VD1-VD0｝/T（Volt/sec） この結果より、制御器11はタイミング基準デジタルワー
ドを適宜変更し、適正な傾きの掃引波形を発するタイミ
ング基準デジタル値を求めることができるので、掃引波
形の傾きを自動的に校正することができる。
ドを適宜変更し、適正な傾きの掃引波形を発するタイミ
ング基準デジタル値を求めることができるので、掃引波
形の傾きを自動的に校正することができる。
なお、以上の説明では掃引信号発生時間の計測には基準
パルス発生器15、ANDゲート16、基準パルス数測定器17
等を用いる例を示したが、掃引ゲート信号を直接用いて
も良い。
パルス発生器15、ANDゲート16、基準パルス数測定器17
等を用いる例を示したが、掃引ゲート信号を直接用いて
も良い。
［発明の効果］ 本発明によれば、校正時に掃引波形の初期電圧と掃引波
形の上限波形の電圧差を測定することができることか
ら、掃引波形の初期電圧と掃引波形の上限電圧の変動に
よる誤差を生じない信頼性の高い掃引波形を提供するこ
とができる。
形の上限波形の電圧差を測定することができることか
ら、掃引波形の初期電圧と掃引波形の上限電圧の変動に
よる誤差を生じない信頼性の高い掃引波形を提供するこ
とができる。
第１図は本発明の一実施例のブロック図。第２図は第１
図の装置の動作を示す波形図。第３図は従来技術の一実
施例のブロック図。第４図は第３図の装置の動作を示す
波形図である。 11……制御器、14……掃引波形発生器、17……基準パル
ス数測定器、18……A/D変換器、21……掃引波形、22…
…掃引ゲート信号、23……基準パルス
図の装置の動作を示す波形図。第３図は従来技術の一実
施例のブロック図。第４図は第３図の装置の動作を示す
波形図である。 11……制御器、14……掃引波形発生器、17……基準パル
ス数測定器、18……A/D変換器、21……掃引波形、22…
…掃引ゲート信号、23……基準パルス
Claims (1)
- 【請求項１】タイミング基準信号に応じた傾きの傾斜信
号を発生する傾斜信号発生器において、基準パルス発生
器と前記傾斜信号の発生時間幅を測定する手段と前記傾
斜波形の初期電圧と前記傾斜波形の上限電圧を測定する
手段と該測定結果に応じて前記傾斜波の傾きを求め前記
タイミング基準信号を調整し、上記傾斜波形を校正する
制御手段を備えたことを特徴とする傾斜波形発生器用自
動校正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12128787A JPH077015B2 (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | 傾斜波形発生器用自動校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12128787A JPH077015B2 (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | 傾斜波形発生器用自動校正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63286775A JPS63286775A (ja) | 1988-11-24 |
| JPH077015B2 true JPH077015B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=14807523
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12128787A Expired - Lifetime JPH077015B2 (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | 傾斜波形発生器用自動校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH077015B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR960006301B1 (ko) * | 1992-07-31 | 1996-05-13 | 주식회사코오롱 | 열수가용성 폴리에스테르의 제조방법 |
| TWI797664B (zh) * | 2021-07-02 | 2023-04-01 | 友達光電股份有限公司 | 斜波電壓產生器及顯示面板 |
-
1987
- 1987-05-20 JP JP12128787A patent/JPH077015B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63286775A (ja) | 1988-11-24 |
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