JPS63286775A - 傾斜波形発生器用自動校正装置 - Google Patents
傾斜波形発生器用自動校正装置Info
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- JPS63286775A JPS63286775A JP12128787A JP12128787A JPS63286775A JP S63286775 A JPS63286775 A JP S63286775A JP 12128787 A JP12128787 A JP 12128787A JP 12128787 A JP12128787 A JP 12128787A JP S63286775 A JPS63286775 A JP S63286775A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 6
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 235000002595 Solanum tuberosum Nutrition 0.000 description 1
- 244000061456 Solanum tuberosum Species 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000001915 proofreading effect Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は傾斜波形発生器用自動校正装置、特にゲート信
号に同期し、タイミング基準信号に応じた傾きの傾斜信
号を発生する傾斜信号発生器２例えばオシロスコープの
掃引波形の傾きを自動的に校正する装置に関する。
号に同期し、タイミング基準信号に応じた傾きの傾斜信
号を発生する傾斜信号発生器２例えばオシロスコープの
掃引波形の傾きを自動的に校正する装置に関する。
例工ばオシロスコープ等の電気信号を測定する電子機器
では電気信号の時間的変化量等を測定するために２時間
に比例した電圧を発生する掃引波形発生器を備えている
。例えば、オシロスコープでは、上記掃引波形発生器に
よる掃引波形を、陰極線管（ＣＲＴ ）の水平偏向回路
に供給し、被測定信号すなわち上記電気信号に比例した
電圧を上記陰極線管の垂直偏向回路に供給することによ
り。
では電気信号の時間的変化量等を測定するために２時間
に比例した電圧を発生する掃引波形発生器を備えている
。例えば、オシロスコープでは、上記掃引波形発生器に
よる掃引波形を、陰極線管（ＣＲＴ ）の水平偏向回路
に供給し、被測定信号すなわち上記電気信号に比例した
電圧を上記陰極線管の垂直偏向回路に供給することによ
り。
電気信号を測定することができる。
掃引波形発生器は周知の如くアナログ素子から構成され
ており、これらのアナログ素子ではエージング等の長期
的影響や温度変化等の短期的影響によりその特性は変動
する。これらのアナログ素子の特性の変動は、掃引波形
発生器が発生する掃引波形の特性に影響をおよぼし、そ
の結果上記掃引波形による測定値の精度が低下する。
ており、これらのアナログ素子ではエージング等の長期
的影響や温度変化等の短期的影響によりその特性は変動
する。これらのアナログ素子の特性の変動は、掃引波形
発生器が発生する掃引波形の特性に影響をおよぼし、そ
の結果上記掃引波形による測定値の精度が低下する。
このため、掃引波形発生器を備えたオシロスコープ等の
測定器では、測定値の精度を確保し、維持するために掃
引波形の特性を校正し一定の範囲内に保持することが不
可欠である。この校正は。
測定器では、測定値の精度を確保し、維持するために掃
引波形の特性を校正し一定の範囲内に保持することが不
可欠である。この校正は。
掃引波形発生器内に可変抵抗、可変容量等の可変特性素
子を用い、これらの素子の特性を変化させ。
子を用い、これらの素子の特性を変化させ。
基準となる校正信号に掃引波形の特性を合致させること
により行なわれる。これらの校正手段にはいくつかの問
題点がある。すなわち、これらの校正は目視により校正
を評価し、可変特性素子の調整を手動で行なうため校正
時に誤差が含まれる可能性があること、また、前述の如
く校正後も使用環境の長期的、短期的変動により特性が
変化するために頻繁に校正を行なう必要があることなど
がある。
により行なわれる。これらの校正手段にはいくつかの問
題点がある。すなわち、これらの校正は目視により校正
を評価し、可変特性素子の調整を手動で行なうため校正
時に誤差が含まれる可能性があること、また、前述の如
く校正後も使用環境の長期的、短期的変動により特性が
変化するために頻繁に校正を行なう必要があることなど
がある。
これらの問題点の対策としては２例えば掃引波形発生器
を構成するアナログ素子として高精度素子を用いて使用
環境の変動に対する掃引波形の特性の変化を小さクシ、
校正の必要性を小さくする方法がある。しかし、この方
法では、高精度素子を用いるための製造コストの上昇と
いう難点があり、また校正時に誤差が含まれる点につい
ては本質的解決策とはならない。そこで、この解決策と
して、掃引波形発生器の発生する掃引波形を自動的に校
正することが必要となる。
を構成するアナログ素子として高精度素子を用いて使用
環境の変動に対する掃引波形の特性の変化を小さクシ、
校正の必要性を小さくする方法がある。しかし、この方
法では、高精度素子を用いるための製造コストの上昇と
いう難点があり、また校正時に誤差が含まれる点につい
ては本質的解決策とはならない。そこで、この解決策と
して、掃引波形発生器の発生する掃引波形を自動的に校
正することが必要となる。
本発明はこのような自動校正を行うため、タイミング基
準信号に応じた傾きの掃引波形を発生する掃引波形発生
器と上記掃引波形に同期した掃引ゲート信号発生器を有
する傾斜信号発生器において、基準パルス発生器と上記
掃引ゲート信号の掃引期間内の基準パルスの数を計数す
る時間測定手段と上記掃引波形の初期電圧と上記掃引波
形の上限電圧の電圧差を測定する手段と該測定結果に応
じて上記タイミング信号を調整し、上記掃引波形を校正
する制御手段を備えたもので、掃引波形の初期電圧と掃
引波形の上限電圧が変動したときでも１校正時に掃引波
形の初期電圧と掃引波形の上限電圧の電圧差を求めるこ
とができるので、誤差を生じることなく、掃引波形発生
器の発生する掃引波形を校正することができる。
準信号に応じた傾きの掃引波形を発生する掃引波形発生
器と上記掃引波形に同期した掃引ゲート信号発生器を有
する傾斜信号発生器において、基準パルス発生器と上記
掃引ゲート信号の掃引期間内の基準パルスの数を計数す
る時間測定手段と上記掃引波形の初期電圧と上記掃引波
形の上限電圧の電圧差を測定する手段と該測定結果に応
じて上記タイミング信号を調整し、上記掃引波形を校正
する制御手段を備えたもので、掃引波形の初期電圧と掃
引波形の上限電圧が変動したときでも１校正時に掃引波
形の初期電圧と掃引波形の上限電圧の電圧差を求めるこ
とができるので、誤差を生じることなく、掃引波形発生
器の発生する掃引波形を校正することができる。
掃引波形発生器の発生する掃引波形を自動的に一校正す
る装置の従来技術としては２例えば、特許出願番号昭６
１−２５１６９１号のようなもの力）ある。
る装置の従来技術としては２例えば、特許出願番号昭６
１−２５１６９１号のようなもの力）ある。
同従来技術はタイミング基準信号に応じた傾きの掃引波
形を発生する掃引波形発生器と上記掃引波形に同期した
掃引ゲート信号発生器を有するオシロスコープにおいて
、基準パルス発生器と上記掃引ゲート信号の掃引期間内
の基準パルスの数をカウント測定し、この測定結果に応
じて前記タイミング基準信号を調整し、上記掃引波形の
傾きを校正する掃引波形発生器用自動校正装置が挙げら
れる。第３図に上記従来技術の実施例のブロック図を示
し、以下第３図を用いて上記従来技術を説明する。
形を発生する掃引波形発生器と上記掃引波形に同期した
掃引ゲート信号発生器を有するオシロスコープにおいて
、基準パルス発生器と上記掃引ゲート信号の掃引期間内
の基準パルスの数をカウント測定し、この測定結果に応
じて前記タイミング基準信号を調整し、上記掃引波形の
傾きを校正する掃引波形発生器用自動校正装置が挙げら
れる。第３図に上記従来技術の実施例のブロック図を示
し、以下第３図を用いて上記従来技術を説明する。
掃引波形発生器あは後述する；；字；制御器３１からの
タイミング基準信号により傾きが調整可能な掃引波形を
発生し、オシロスコープではこの掃引波形を増幅し、陰
極線管（ＣＲＴ）の水平偏向回路に供給している。オシ
ロスコープにおいては。
タイミング基準信号により傾きが調整可能な掃引波形を
発生し、オシロスコープではこの掃引波形を増幅し、陰
極線管（ＣＲＴ）の水平偏向回路に供給している。オシ
ロスコープにおいては。
掃引波形発生器３４は他の回路と掃引波形との同期をと
るために、掃引波形の立ち上りの期間を示す掃引ゲート
信号を同時に発生する。Ｈ≠≠制御器３１は
。
るために、掃引波形の立ち上りの期間を示す掃引ゲート
信号を同時に発生する。Ｈ≠≠制御器３１は
。
＃構擦≠キ〒掃引波形発生器３４が発生する掃引波形の
傾きを決定するタイミング基準信号を供給するために、
Ｄ／Ａ変換器３３にタイミング基準デジタルワードを設
定する。このタイミング基準デジタルワードはオシロス
コープの操作者の設定したタイムベース・スイッチや、
掃引速度調整つまみなどの設定値に従ってシステム制御
器３１により決定される。Ｄ／Ａ変換器３３は→タイミ
ング基準デジタルワードを電圧に変換し、これをタイミ
ング基準信号として掃引波形発生器３４に供給する。
傾きを決定するタイミング基準信号を供給するために、
Ｄ／Ａ変換器３３にタイミング基準デジタルワードを設
定する。このタイミング基準デジタルワードはオシロス
コープの操作者の設定したタイムベース・スイッチや、
掃引速度調整つまみなどの設定値に従ってシステム制御
器３１により決定される。Ｄ／Ａ変換器３３は→タイミ
ング基準デジタルワードを電圧に変換し、これをタイミ
ング基準信号として掃引波形発生器３４に供給する。
半森中鯰制御器３１は、またタイムベース・スイッチな
どの設定値に従ってタイミング基準デジタルワードと同
時に制御信号を掃引波形発生器具に供給する。掃引波形
発生器３４が、タイミング基準信号を抵抗器を介して定
電流に変換し、これを電流源として利用した場合、この
制御信号に応じて掃引波形発生器内の電流振幅及び容量
の特性を変更し、掃引波形の傾きを決定する。
どの設定値に従ってタイミング基準デジタルワードと同
時に制御信号を掃引波形発生器具に供給する。掃引波形
発生器３４が、タイミング基準信号を抵抗器を介して定
電流に変換し、これを電流源として利用した場合、この
制御信号に応じて掃引波形発生器内の電流振幅及び容量
の特性を変更し、掃引波形の傾きを決定する。
基準パルス発生器３５は一定の周期を持つパルス信号を
発生させ、ＡＮＤゲート３６に供給する。
発生させ、ＡＮＤゲート３６に供給する。
ＡＮＤ ゲート３６にはもう一方の入力として掃引ゲー
ト信号が供給され、ＡＮＤゲートの出力は基準パルス数
測定器に供給される。基準パルス数測定器は掃引ゲート
信号発生中の基準パルス数を計数し、その結果をデジタ
ルワード形式の測定データとして、≠叱六九制御器３１
に供給する。
ト信号が供給され、ＡＮＤゲートの出力は基準パルス数
測定器に供給される。基準パルス数測定器は掃引ゲート
信号発生中の基準パルス数を計数し、その結果をデジタ
ルワード形式の測定データとして、≠叱六九制御器３１
に供給する。
社念示二制御器３１はこの測定データを用いて。
掃引波形発生器が発生する掃引波形の傾きを求め。
掃引波形の傾きを校正する。この校正時のタイミング基
準デジタルワードを校正データとして２校正データメ°
モリ３２に記憶させ、窒＃＃＝制御器はタイムベース変
更時等はこの校正データを用いてタイミング基準デジタ
ルワードをＤ／Ａ変換器３３に供給する。
準デジタルワードを校正データとして２校正データメ°
モリ３２に記憶させ、窒＃＃＝制御器はタイムベース変
更時等はこの校正データを用いてタイミング基準デジタ
ルワードをＤ／Ａ変換器３３に供給する。
第４図は第３図の装置の動作を示す波形図である。掃引
波形発生器３４がトリガ信号の入力により。
波形発生器３４がトリガ信号の入力により。
タイミング基準信号及び制御信号に応じた掃引信号４１
及び掃引ゲート信号４２を発生する。この掃引ゲート信
号４２は掃引波形４１の上昇期間と完全に同期している
。基準パルス発生器３５が発生した周波数が既知の基準
パルス４３はＡＮＤゲート３６により掃引ゲート信号４
２との論理積がとられ、その出力信号４４は基準パルス
数測定器３７に入力されろ。基準パルス数測定器３７は
ＡＮＤゲートの出力信号内の基準パルスの数を測定し、
測定データをデジタルワード形式でシステム制御器３１
に入力する。
及び掃引ゲート信号４２を発生する。この掃引ゲート信
号４２は掃引波形４１の上昇期間と完全に同期している
。基準パルス発生器３５が発生した周波数が既知の基準
パルス４３はＡＮＤゲート３６により掃引ゲート信号４
２との論理積がとられ、その出力信号４４は基準パルス
数測定器３７に入力されろ。基準パルス数測定器３７は
ＡＮＤゲートの出力信号内の基準パルスの数を測定し、
測定データをデジタルワード形式でシステム制御器３１
に入力する。
システム制御器３１はこの測定データをもとに掃引波形
の傾きを算出する。基準パルスの周波数をｆ、基準パル
スの計数値をｎ、掃引波形の初期電圧をＶ。、掃引波形
の上限電圧なＶ、とすれば、掃引ゲート時間Ｔは１／
ｆ−ｎ （Ｓ）となるので、掃引波形の傾きＳは次式に
より求まる。
の傾きを算出する。基準パルスの周波数をｆ、基準パル
スの計数値をｎ、掃引波形の初期電圧をＶ。、掃引波形
の上限電圧なＶ、とすれば、掃引ゲート時間Ｔは１／
ｆ−ｎ （Ｓ）となるので、掃引波形の傾きＳは次式に
より求まる。
Ｓ ＝ （Ｖｌ−ｖｏ） ／Ｔ ・・・・・・・・・
・・・・・・ （１）この結果より、テ千手中制御器は
タイミュ・グ基準デジタルワードを適宜変更し、適正な
傾き・、り掃引波形を発するタイミング基準デジタルワ
ードを求めることができるので、掃引波形の傾きを自動
的に校正することができるものである。
・・・・・・ （１）この結果より、テ千手中制御器は
タイミュ・グ基準デジタルワードを適宜変更し、適正な
傾き・、り掃引波形を発するタイミング基準デジタルワ
ードを求めることができるので、掃引波形の傾きを自動
的に校正することができるものである。
前述の従来技術では掃引波形の初期電圧と掃引波形の上
限電圧を一定で既知と仮定することにより最小規模の回
路構成で掃引波形の傾きを自動的に校正することを実現
しているが、掃引波形発生器は一般にその構成上、使用
温度等の使用環境の変動により掃引波形の初期電圧と掃
引波形の上限電圧が変動することがある。この掃引波形
の初期電圧と掃引波形の上限電圧の変動は掃引波形の傾
きを求める際の誤差となる。本発明はこれらの欠点を解
決するため、掃引波形の初期電圧と掃引波形の上限電圧
の変動による誤差を生じない掃引波形発生器用自動校正
装置を提供することにある。
限電圧を一定で既知と仮定することにより最小規模の回
路構成で掃引波形の傾きを自動的に校正することを実現
しているが、掃引波形発生器は一般にその構成上、使用
温度等の使用環境の変動により掃引波形の初期電圧と掃
引波形の上限電圧が変動することがある。この掃引波形
の初期電圧と掃引波形の上限電圧の変動は掃引波形の傾
きを求める際の誤差となる。本発明はこれらの欠点を解
決するため、掃引波形の初期電圧と掃引波形の上限電圧
の変動による誤差を生じない掃引波形発生器用自動校正
装置を提供することにある。
本発明は上記目的を達成するため、タイミング基準信号
に応じた傾きの掃引波形を発生する掃引波形発生器と上
記掃引波形に同期した掃引ゲート信号発生器を有する傾
斜信号発生器において、基準パルス発生器と上記掃引ゲ
ート信号の掃引期間内の基準パルスの数を計数すること
によって掃引波形が発生している時間を求める時間測定
手段と上記掃引波形の初期電圧と上期掃引波形の上限電
圧の電圧差を測定する手段と該測定結果に応じて上記タ
イミング信号を調整し、上記掃引波形を校正する制御手
段を備えたものである。
に応じた傾きの掃引波形を発生する掃引波形発生器と上
記掃引波形に同期した掃引ゲート信号発生器を有する傾
斜信号発生器において、基準パルス発生器と上記掃引ゲ
ート信号の掃引期間内の基準パルスの数を計数すること
によって掃引波形が発生している時間を求める時間測定
手段と上記掃引波形の初期電圧と上期掃引波形の上限電
圧の電圧差を測定する手段と該測定結果に応じて上記タ
イミング信号を調整し、上記掃引波形を校正する制御手
段を備えたものである。
その結果、掃引波形の初期電圧と掃引波形の上限電圧が
変動したときでも２校正時に掃引波形の初期電圧と掃引
波形の上限電圧の電圧差を求めることができるので、誤
差を生じることなく、掃引波形発生器の発生する掃引波
形を校正することができる。
変動したときでも２校正時に掃引波形の初期電圧と掃引
波形の上限電圧の電圧差を求めることができるので、誤
差を生じることなく、掃引波形発生器の発生する掃引波
形を校正することができる。
第１図は本発明の一実施例のブロック図であり。
以下第１図を用いて説明する。
掃引波形発生器１４はタイミング基準信号により顛きが
調整可能な掃引波形を発生し、オシロスコープではこの
掃引波形を増幅し、陰極線管（ＣＲＴ ）の水平偏向回
路に供給している。オシロスコープにおいては、掃引波
形発生器は他の回路と掃・；１波形との同期をとるため
に、掃引波形の立ち上りの期間を示す掃引ゲート信号２
２を同時に発生する。
調整可能な掃引波形を発生し、オシロスコープではこの
掃引波形を増幅し、陰極線管（ＣＲＴ ）の水平偏向回
路に供給している。オシロスコープにおいては、掃引波
形発生器は他の回路と掃・；１波形との同期をとるため
に、掃引波形の立ち上りの期間を示す掃引ゲート信号２
２を同時に発生する。
システム制御器１１は例えばマイクロプロセッサと周辺
回路により構成され、掃引波形発生器１４が発生する掃
引波形の傾きを決定するタイミング基準信号を供給する
ために、Ｄ／Ａ変換器１３にタイミング基準デジタルワ
ードな設定する。このタイミング基準デジタルワードは
オシロスコープの操作者の設定したタイムベース・スイ
ッチや、掃引速度調整つまみなどの設定値に従ってシス
テム制御器１１により決定される。Ｄ／Ａ変換器１３は
タイミング基準デジタルワードを電圧に変換し、これを
タイミング基準信号として掃引波形発生器１４に供給す
る。
回路により構成され、掃引波形発生器１４が発生する掃
引波形の傾きを決定するタイミング基準信号を供給する
ために、Ｄ／Ａ変換器１３にタイミング基準デジタルワ
ードな設定する。このタイミング基準デジタルワードは
オシロスコープの操作者の設定したタイムベース・スイ
ッチや、掃引速度調整つまみなどの設定値に従ってシス
テム制御器１１により決定される。Ｄ／Ａ変換器１３は
タイミング基準デジタルワードを電圧に変換し、これを
タイミング基準信号として掃引波形発生器１４に供給す
る。
システム制御器１１は、またタイムベースブ スイッチ
などの設定値に従ってタイミング基準デジタルワードと
同時に制御信号を掃引波形発生器１４に供給する。掃引
波形発生器１４が、タイミ〉′グ基準信号を抵抗器を介
して定電流に変換し、これを電流源として利用した場合
、この制御信号に応じて掃引波形発生器内の電流振幅及
び容量の特性を変更し、掃引波形の傾きを決定する。
などの設定値に従ってタイミング基準デジタルワードと
同時に制御信号を掃引波形発生器１４に供給する。掃引
波形発生器１４が、タイミ〉′グ基準信号を抵抗器を介
して定電流に変換し、これを電流源として利用した場合
、この制御信号に応じて掃引波形発生器内の電流振幅及
び容量の特性を変更し、掃引波形の傾きを決定する。
基準パルス発生器１５は一定の周期を持つパルス信号を
発生させ、ＡＮＤ ゲート１６に供給する。
発生させ、ＡＮＤ ゲート１６に供給する。
ＡＮＤゲート１６にはもう一方の入力として掃引ゲート
信号が供給され、ＡＮＤゲートの出力は基準パルス数測
定器に供給される。基準パルス数測定器は基準パルス数
を計数し、その結果をデジタルワード形式の測定データ
として、＃＝＝太制御器１１に供給する。
信号が供給され、ＡＮＤゲートの出力は基準パルス数測
定器に供給される。基準パルス数測定器は基準パルス数
を計数し、その結果をデジタルワード形式の測定データ
として、＃＝＝太制御器１１に供給する。
Ａ／Ｄ変換器１８は掃引波形発生器１４が発生した掃引
波形の電圧をＡ／Ｄ変換し、掃引波形電圧デジタルデー
タとしてｐ芋；制御器１１に供給する。
波形の電圧をＡ／Ｄ変換し、掃引波形電圧デジタルデー
タとしてｐ芋；制御器１１に供給する。
；；≠二制御器１Ｊはこれら測定データを用いて。
掃引波形発生器が発生する掃引波形の傾きを求め。
掃引波形の傾きを校正する。この校正時のタイミング基
準デジタルワードな校正データとして２校正データメモ
リ１２に記憶させ、亭≠芋千制御器はタイムベース変更
時等はこの校正データを用いてタイミング基準デジタル
ワードなり／Ａ変換器１３に供給する。
準デジタルワードな校正データとして２校正データメモ
リ１２に記憶させ、亭≠芋千制御器はタイムベース変更
時等はこの校正データを用いてタイミング基準デジタル
ワードなり／Ａ変換器１３に供給する。
第２図は第１図の装置の動作を示す波形図である。掃引
波形器１４がトリガ信号の入力により、タイミング基準
信号及び制御信号に応じた掃引信号２ｇＪＬび掃引ゲー
ト信号２２を発生する。この掃引ゲート信号２２は掃引
波形２１の上昇期間と完全に同期している。基準パルス
発生器１５が発生した周波数が既知の基準パルス２３は
ＡＮＤゲート１６により掃引ゲート信号２２との論理積
がとられ、その出力信号２４は基準パルス数測定器１７
に入力される。基準パルス数測定器１７はＡＮＤゲート
の出力信号内の基準パルスの数を測定する。このパルス
数は掃引信号を発生している時間のデータとなる。この
測定データはデジタルワード形式でシステム制御器Ｊ１
に入力する。
波形器１４がトリガ信号の入力により、タイミング基準
信号及び制御信号に応じた掃引信号２ｇＪＬび掃引ゲー
ト信号２２を発生する。この掃引ゲート信号２２は掃引
波形２１の上昇期間と完全に同期している。基準パルス
発生器１５が発生した周波数が既知の基準パルス２３は
ＡＮＤゲート１６により掃引ゲート信号２２との論理積
がとられ、その出力信号２４は基準パルス数測定器１７
に入力される。基準パルス数測定器１７はＡＮＤゲート
の出力信号内の基準パルスの数を測定する。このパルス
数は掃引信号を発生している時間のデータとなる。この
測定データはデジタルワード形式でシステム制御器Ｊ１
に入力する。
システム制御器１１は、この測定データの入力に合わせ
て、掃引波形の初期電圧と掃引波形の上限電圧の電圧差
の測定を行なう。すなわち、９９ＩＰ勘制御器１１はＡ
／Ｄ変換器１８から供給される掃引波形電圧デジタルデ
ータな入力して、掃引波形の初期電圧値ＶＤＯと掃引波
形の上限電圧ＶＤＩを求める。
て、掃引波形の初期電圧と掃引波形の上限電圧の電圧差
の測定を行なう。すなわち、９９ＩＰ勘制御器１１はＡ
／Ｄ変換器１８から供給される掃引波形電圧デジタルデ
ータな入力して、掃引波形の初期電圧値ＶＤＯと掃引波
形の上限電圧ＶＤＩを求める。
；；芋零制御器１１はこれらの測定データをもとに掃引
波形の傾きを算出する。基準パルスの周波数をｆ、掃引
ゲート内の基準パルスの計数値をｎとし、Ａ／Ｄ変換器
１８によるん４変換時の誤差が十分小さいものとすれば
ＨｖＤＯ”” ｖ、 ＋ ｖＤｌ ”” ｖ、となり、
掃引ゲート時間Ｔは Ｔ ＝ １／ ｆ−ｎ （ｓｅｃ ）となるので、掃
引波形の傾きＳは次式により求まる。
波形の傾きを算出する。基準パルスの周波数をｆ、掃引
ゲート内の基準パルスの計数値をｎとし、Ａ／Ｄ変換器
１８によるん４変換時の誤差が十分小さいものとすれば
ＨｖＤＯ”” ｖ、 ＋ ｖＤｌ ”” ｖ、となり、
掃引ゲート時間Ｔは Ｔ ＝ １／ ｆ−ｎ （ｓｅｃ ）となるので、掃
引波形の傾きＳは次式により求まる。
Ｓ ＝ （ＶＤＩ ＶＤＯ）／ Ｔ （■Ｏ１ｔ／
ｓｅｃ ）この結果より、亭亨呼テ唖ＩＪ御器１１はタ
イミング基準デジタルワードな適宜変更し、適正な傾き
の掃引波形を発するタイミング基準デジタルワードを求
めることができるので、掃引波形の傾きを自動的に校正
することができる。
ｓｅｃ ）この結果より、亭亨呼テ唖ＩＪ御器１１はタ
イミング基準デジタルワードな適宜変更し、適正な傾き
の掃引波形を発するタイミング基準デジタルワードを求
めることができるので、掃引波形の傾きを自動的に校正
することができる。
なお２以上の説明では掃引信号発生時間の計測には基準
パルス発生器１５．ＡＮＤゲー）１６．基準パルス数測
定器１７等を用いる例を示した゛が、掃引ゲート信号を
直接用いても良い。
パルス発生器１５．ＡＮＤゲー）１６．基準パルス数測
定器１７等を用いる例を示した゛が、掃引ゲート信号を
直接用いても良い。
ら、掃引波形の初期電圧と掃引波形の上限電圧の変動に
よる誤差を生じない信頼性の高い掃引波形を提供するこ
とができる。
よる誤差を生じない信頼性の高い掃引波形を提供するこ
とができる。
第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図は第１
図の装置の動作を示す波形図１第３図は従来技術の一実
施例のプロンク図、第４図は第３図の装置の動作を示す
波形図である。 １１：亭＝芋５制御器、１４：掃引波形発生器、１７：
基準パルス数測定器、１８： Ａ／Ｄ変換器９２１：掃
引波形、２２：掃引ゲート信号 ２７ ； ＄単パルス
。 ＼４．ニレブ 第１ワ 第２Ｌ ２２ｆｆ −一−レー γ３１づ
図の装置の動作を示す波形図１第３図は従来技術の一実
施例のプロンク図、第４図は第３図の装置の動作を示す
波形図である。 １１：亭＝芋５制御器、１４：掃引波形発生器、１７：
基準パルス数測定器、１８： Ａ／Ｄ変換器９２１：掃
引波形、２２：掃引ゲート信号 ２７ ； ＄単パルス
。 ＼４．ニレブ 第１ワ 第２Ｌ ２２ｆｆ −一−レー γ３１づ
Claims (1)
- １、タイミング基準信号に応じた傾きの傾斜信号を発生
する傾斜信号発生器において、基準パルス発生器と前記
傾斜信号の発生時間幅を測定する手段と前記傾斜波形の
初期電圧と前記傾斜波形の上限電圧を測定する手段と該
測定結果に応じて前記傾斜波の傾きを求め前記タイミン
グ基準信号を調整し、上記傾斜波形を校正する制御手段
を備えたことを特徴とする傾斜波形発生器用自動校正装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12128787A JPH077015B2 (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | 傾斜波形発生器用自動校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12128787A JPH077015B2 (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | 傾斜波形発生器用自動校正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63286775A true JPS63286775A (ja) | 1988-11-24 |
| JPH077015B2 JPH077015B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=14807523
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12128787A Expired - Lifetime JPH077015B2 (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | 傾斜波形発生器用自動校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH077015B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5410245A (en) * | 1992-07-31 | 1995-04-25 | Leader Electronics Corp. | Method and apparatus for calibrating electronic scales for the horizontal axis |
| CN114299855A (zh) * | 2021-07-02 | 2022-04-08 | 友达光电股份有限公司 | 斜波电压产生器及显示面板 |
-
1987
- 1987-05-20 JP JP12128787A patent/JPH077015B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5410245A (en) * | 1992-07-31 | 1995-04-25 | Leader Electronics Corp. | Method and apparatus for calibrating electronic scales for the horizontal axis |
| CN114299855A (zh) * | 2021-07-02 | 2022-04-08 | 友达光电股份有限公司 | 斜波电压产生器及显示面板 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH077015B2 (ja) | 1995-01-30 |
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