JP2850987B2 - 周波数特性校正装置 - Google Patents
周波数特性校正装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は例えば交流電圧測定装
置或はオシログラフ等の入力回路等に利用して好適な周
波数特性校正装置に関する。
置或はオシログラフ等の入力回路等に利用して好適な周
波数特性校正装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図５に従来の周波数特性校正装置を示
す。図中１は被測定信号ＶX を出力する信号源を示す。
この信号源１は入力端子２に接続され、入力端子２から
被測定信号ＶX を測定装置３に入力する。測定装置３は
この例では交流電圧測定器の場合を示す。
す。図中１は被測定信号ＶX を出力する信号源を示す。
この信号源１は入力端子２に接続され、入力端子２から
被測定信号ＶX を測定装置３に入力する。測定装置３は
この例では交流電圧測定器の場合を示す。
【０００３】つまり入力側に設けた抵抗分圧回路４で適
当な電圧に分圧した被測定電圧をバッファ増幅器５を通
じて実効値変換器６に入力し、実効値変換器６で実効値
波形に変換した信号をＡＤ変換器７でＡＤ変換し、この
ＡＤ変換器７のＡＤ変換出力により表示器８に測定値を
表示させる。
当な電圧に分圧した被測定電圧をバッファ増幅器５を通
じて実効値変換器６に入力し、実効値変換器６で実効値
波形に変換した信号をＡＤ変換器７でＡＤ変換し、この
ＡＤ変換器７のＡＤ変換出力により表示器８に測定値を
表示させる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来の交流電圧測定装
置或はオシログラフのように交流信号を波測定信号とし
て取扱う装置においては、入力側に設けた抵抗分圧回路
４の分圧用抵抗器４Ａ，４Ｂに対して周波数特性校正用
のコンデンサ４Ｃ，４Ｄが並列接続される。周波数特性
校正用のコンデンサ４Ｃと４Ｄの中で何れか一方が可変
コンデンサとされ、この可変コンデンサ（この例では４
Ｃ）の容量値Ｃ1 を調整して入力端子２から測定装置３
を見た周波数特性が、図６に示す曲線Ａ１のように下限
周波数ｆ1 から上限周波数ｆ2 までの間が平坦な特性に
なるように調整している。
置或はオシログラフのように交流信号を波測定信号とし
て取扱う装置においては、入力側に設けた抵抗分圧回路
４の分圧用抵抗器４Ａ，４Ｂに対して周波数特性校正用
のコンデンサ４Ｃ，４Ｄが並列接続される。周波数特性
校正用のコンデンサ４Ｃと４Ｄの中で何れか一方が可変
コンデンサとされ、この可変コンデンサ（この例では４
Ｃ）の容量値Ｃ1 を調整して入力端子２から測定装置３
を見た周波数特性が、図６に示す曲線Ａ１のように下限
周波数ｆ1 から上限周波数ｆ2 までの間が平坦な特性に
なるように調整している。
【０００５】つまり可変コンデンサ４Ｃの容量値Ｃ1 が
大き過ぎる場合は周波数特性は図６に曲線Ａ２に示すよ
うに上限周波数ｆ2 に達する前で利得が低下してしま
う。またコンデンサ４Ｄの容量値Ｃ2 が可変コンデンサ
４Ｃの容量値Ｃ1 に対して大き過ぎる場合は、その周波
数特性は、図６に示す曲線Ａ３の特性となる。従って従
来はコンデンサ４Ｃと可変コンデンサ４Ｄの初期容量を
ほぼ等しい値に設定し、可変コンデンサ４Ｃの値を調整
して適正な周波数特性となるように校正している。
大き過ぎる場合は周波数特性は図６に曲線Ａ２に示すよ
うに上限周波数ｆ2 に達する前で利得が低下してしま
う。またコンデンサ４Ｄの容量値Ｃ2 が可変コンデンサ
４Ｃの容量値Ｃ1 に対して大き過ぎる場合は、その周波
数特性は、図６に示す曲線Ａ３の特性となる。従って従
来はコンデンサ４Ｃと可変コンデンサ４Ｄの初期容量を
ほぼ等しい値に設定し、可変コンデンサ４Ｃの値を調整
して適正な周波数特性となるように校正している。
【０００６】この校正は手動によって行なわれるため校
正に要する手間と時間が多く掛る欠点がある。つまり抵
抗分圧回路４は測定レンジの切替数に対応して設けられ
るから、その数は大きい。従って数多くの抵抗分圧回路
の周波数特性を一個ずつ校正するのは大変な作業とな
る。この発明の目的は周波数特性の校正を自動的に行な
うことができる周波数特性校正装置を提供しようとする
ものである。
正に要する手間と時間が多く掛る欠点がある。つまり抵
抗分圧回路４は測定レンジの切替数に対応して設けられ
るから、その数は大きい。従って数多くの抵抗分圧回路
の周波数特性を一個ずつ校正するのは大変な作業とな
る。この発明の目的は周波数特性の校正を自動的に行な
うことができる周波数特性校正装置を提供しようとする
ものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明では、抵抗分圧
回路を具備した交流信号測定装置において、抵抗分圧回
路の分圧点に正帰還信号を帰還させる正帰還回路と、こ
の正帰還回路の帰還量を調整する帰還量調整器とメモリ
を内蔵し、このメモリに記憶した校正値により帰還量調
整器を制御し上記正帰還回路の帰還量を制御する制御器
と、校正時に抵抗分圧回路に測定周波数帯域の下限周波
数と上限周波数の２つの信号を与える基準発振器と、こ
の基準信号発振器から与えられる下限周波数の信号の電
圧測定値と、上限周波数の信号の電圧測定値が互に等し
くなる関係を満す校正値を求めてメモリに記憶する校正
値算出装置とによって周波数特性校正装置を構成する。
回路を具備した交流信号測定装置において、抵抗分圧回
路の分圧点に正帰還信号を帰還させる正帰還回路と、こ
の正帰還回路の帰還量を調整する帰還量調整器とメモリ
を内蔵し、このメモリに記憶した校正値により帰還量調
整器を制御し上記正帰還回路の帰還量を制御する制御器
と、校正時に抵抗分圧回路に測定周波数帯域の下限周波
数と上限周波数の２つの信号を与える基準発振器と、こ
の基準信号発振器から与えられる下限周波数の信号の電
圧測定値と、上限周波数の信号の電圧測定値が互に等し
くなる関係を満す校正値を求めてメモリに記憶する校正
値算出装置とによって周波数特性校正装置を構成する。
【０００８】この発明の構成によれば抵抗分圧回路の分
圧点に正帰還信号を与え、この正帰還信号の帰還量を調
整することにより、抵抗分圧回路に並列接続したコンデ
ンサの容量を実質的に変化させたと等価な制御を行なう
ことができる。従って抵抗分圧回路の分圧点に帰還する
正帰還信号の帰還量を制御することにより測定帯域内の
下限周波数の信号でも、上限周波数の信号でも電圧測定
値が等しくなる正帰還量を求めることができる。この正
帰還量に制御するための校正値を算出し、この校正値を
メモリに記憶させることにより校正が完了する。
圧点に正帰還信号を与え、この正帰還信号の帰還量を調
整することにより、抵抗分圧回路に並列接続したコンデ
ンサの容量を実質的に変化させたと等価な制御を行なう
ことができる。従って抵抗分圧回路の分圧点に帰還する
正帰還信号の帰還量を制御することにより測定帯域内の
下限周波数の信号でも、上限周波数の信号でも電圧測定
値が等しくなる正帰還量を求めることができる。この正
帰還量に制御するための校正値を算出し、この校正値を
メモリに記憶させることにより校正が完了する。
【０００９】従ってこの発明によれば自動的に周波数特
性の校正を行なうことができる。
性の校正を行なうことができる。
【００１０】
【実施例】図１にこの発明による周波数特性校正装置の
一実施例を示す。図１において図５と対応する部分には
同一符号を付して示す。この発明においては抵抗分圧回
路４の抵抗分圧点Ｐに正帰還信号ｋ．Ｖout を与える正
帰還回路１１を設ける。この正帰還回路１１は分圧点Ｐ
に帰還する正帰還量を変化させることができる帰還量調
整器１１Ａと、バッファ増幅器１１Ｂと直列コンデンサ
１１Ｃとの縦続回路によって構成することができる。
一実施例を示す。図１において図５と対応する部分には
同一符号を付して示す。この発明においては抵抗分圧回
路４の抵抗分圧点Ｐに正帰還信号ｋ．Ｖout を与える正
帰還回路１１を設ける。この正帰還回路１１は分圧点Ｐ
に帰還する正帰還量を変化させることができる帰還量調
整器１１Ａと、バッファ増幅器１１Ｂと直列コンデンサ
１１Ｃとの縦続回路によって構成することができる。
【００１１】帰還量調整器１１Ａはこの例ではＤＡ変換
器を利用した場合を示す。ＤＡ変換器の基準電圧入力端
子ＲＥＦにバッファ増幅器５の出力側から被測定信号又
は後述する校正用の下限周波数の信号又は上限周波数の
信号が正帰還信号として与えられ、この正帰還信号の帰
還量が調整されてバッファ増幅器１１Ｂに同相信号で出
力され、バッファ増幅器１１Ｂと、直列コンデンサ１１
Ｃとを介して抵抗分圧回路４の分圧点Ｐに正帰還され
る。
器を利用した場合を示す。ＤＡ変換器の基準電圧入力端
子ＲＥＦにバッファ増幅器５の出力側から被測定信号又
は後述する校正用の下限周波数の信号又は上限周波数の
信号が正帰還信号として与えられ、この正帰還信号の帰
還量が調整されてバッファ増幅器１１Ｂに同相信号で出
力され、バッファ増幅器１１Ｂと、直列コンデンサ１１
Ｃとを介して抵抗分圧回路４の分圧点Ｐに正帰還され
る。
【００１２】帰還量調整器１１Ａの帰還量を調整するに
はこの帰還量調整器１１Ａを構成するＤＡ変換器のディ
ジタル入力端子ＤＩＮに入力するディジタル信号によっ
て調整される。ディジタル入力端子ＤＩＮに与えるディ
ジタル信号は制御器１２から与えられる。制御器１２に
はメモリＭが設けられ、メモリＭに校正値を記憶させ、
この校正値を帰還量調整器１１Ａに与える。
はこの帰還量調整器１１Ａを構成するＤＡ変換器のディ
ジタル入力端子ＤＩＮに入力するディジタル信号によっ
て調整される。ディジタル入力端子ＤＩＮに与えるディ
ジタル信号は制御器１２から与えられる。制御器１２に
はメモリＭが設けられ、メモリＭに校正値を記憶させ、
この校正値を帰還量調整器１１Ａに与える。
【００１３】校正値は校正値算出装置１３で算出されて
メモリＭに記憶される。校正値の算出は校正モードにお
いて行なわれる。校正モードにおいては制御器１２が基
準信号発生器１４に起動信号を与え、基準信号発生器１
４から測定装置３の測定可能な周波数帯域の下限周波数
ｆ1 と、上限周波数ｆ2 を持つ信号Ｓ1 とＳ2 を発生す
る。校正モードではモード切替スイッチＳＷ1 が接点Ｂ
側に切替られ、基準信号発生器１４から出力される下限
周波数ｆ1 の信号Ｓ1 又は上限周波数ｆ2 の信号Ｓ2 を
被測定信号ＶX の代りに抵抗分圧回路４に入力する。
メモリＭに記憶される。校正値の算出は校正モードにお
いて行なわれる。校正モードにおいては制御器１２が基
準信号発生器１４に起動信号を与え、基準信号発生器１
４から測定装置３の測定可能な周波数帯域の下限周波数
ｆ1 と、上限周波数ｆ2 を持つ信号Ｓ1 とＳ2 を発生す
る。校正モードではモード切替スイッチＳＷ1 が接点Ｂ
側に切替られ、基準信号発生器１４から出力される下限
周波数ｆ1 の信号Ｓ1 又は上限周波数ｆ2 の信号Ｓ2 を
被測定信号ＶX の代りに抵抗分圧回路４に入力する。
【００１４】校正値算出装置１３及び制御器１２は例え
ばマイクロコンピュータによって構成され、制御器１２
によって基準信号発生器１４は下限周波数ｆ1 を発振す
る状態と、上限周波数ｆ2 を発振する状態として切替制
御される。校正値を算出する手順として例えばメモリＭ
に初期設定値Ｄm を設定すると共に、基準信号発生器１
４は下限周波数ｆ1 を発振する状態に制御し、この下限
周波数ｆ1 を持つ信号Ｓ1 を分圧点Ｐから、バッファ増
幅器５を通じて実効値変換器６に入力し、実効値波形に
変換してＡＤ変換器７に入力し、ディジタル値に変換す
る。ＡＤ変換器７でＡＤ変換したディジタル値を、校正
値算出装置１３に入力し、校正値算出装置１３の内部メ
モリに下限周波数ｆ1 に対する利得Ａ（図３，図６参
照）として一時記憶する。これにより下限周波数ｆ1 に
対する利得Ａの取込が終了する。
ばマイクロコンピュータによって構成され、制御器１２
によって基準信号発生器１４は下限周波数ｆ1 を発振す
る状態と、上限周波数ｆ2 を発振する状態として切替制
御される。校正値を算出する手順として例えばメモリＭ
に初期設定値Ｄm を設定すると共に、基準信号発生器１
４は下限周波数ｆ1 を発振する状態に制御し、この下限
周波数ｆ1 を持つ信号Ｓ1 を分圧点Ｐから、バッファ増
幅器５を通じて実効値変換器６に入力し、実効値波形に
変換してＡＤ変換器７に入力し、ディジタル値に変換す
る。ＡＤ変換器７でＡＤ変換したディジタル値を、校正
値算出装置１３に入力し、校正値算出装置１３の内部メ
モリに下限周波数ｆ1 に対する利得Ａ（図３，図６参
照）として一時記憶する。これにより下限周波数ｆ1 に
対する利得Ａの取込が終了する。
【００１５】下限周波数ｆ1 の利得Ａの取込が終了した
時点で、制御器１２は基準信号発生器１４に発振周波数
を上限周波数ｆ2 に切替る制御信号を与える。基準信号
発生器１４は上限周波数ｆ2 を発振し、抵抗分圧回路４
に上限周波数ｆ2 を持つ信号Ｓ2 を与える。信号Ｓ2 は
バッファ増幅器５と実効値変換器６を通じてＡＤ変換器
７に入力され上限周波数ｆ2 に対する利得Ｂ（図３，図
６参照）に相当する電圧をＡＤ変換する。このＡＤ変換
値は表示器８に上限周波数ｆ2 の利得Ｂとして表示され
ると共に、校正値算出装置１３に取込まれる。
時点で、制御器１２は基準信号発生器１４に発振周波数
を上限周波数ｆ2 に切替る制御信号を与える。基準信号
発生器１４は上限周波数ｆ2 を発振し、抵抗分圧回路４
に上限周波数ｆ2 を持つ信号Ｓ2 を与える。信号Ｓ2 は
バッファ増幅器５と実効値変換器６を通じてＡＤ変換器
７に入力され上限周波数ｆ2 に対する利得Ｂ（図３，図
６参照）に相当する電圧をＡＤ変換する。このＡＤ変換
値は表示器８に上限周波数ｆ2 の利得Ｂとして表示され
ると共に、校正値算出装置１３に取込まれる。
【００１６】校正値算出装置１３は前回取込んだ下限周
波数ｆ1 に対する利得Ａと上限周波数に対する利得Ｂと
を比較し、｜Ｂ−Ａ｜＜Ｌ（Ｌは許容値）であれば初期
設定値Ｄm を校正値として決定する。｜Ｂ−Ａ｜＞Ｌで
あれば初期設定値Ｄm の値を修正し、再度利得の測定を
行なう。初期設定値Ｄm の値の修正は、初回の利得測定
値ＡとＢがＢ−Ａ＜Ｏであれば、高い周波数側で減衰量
が大きいことからこの状態は図６に示した曲線Ａ２の状
態に相当するからコンデンサ４Ｄの値が適正値より小さ
くコンデンサ４Ｃの値が大きい状態にあることが解る。
波数ｆ1 に対する利得Ａと上限周波数に対する利得Ｂと
を比較し、｜Ｂ−Ａ｜＜Ｌ（Ｌは許容値）であれば初期
設定値Ｄm を校正値として決定する。｜Ｂ−Ａ｜＞Ｌで
あれば初期設定値Ｄm の値を修正し、再度利得の測定を
行なう。初期設定値Ｄm の値の修正は、初回の利得測定
値ＡとＢがＢ−Ａ＜Ｏであれば、高い周波数側で減衰量
が大きいことからこの状態は図６に示した曲線Ａ２の状
態に相当するからコンデンサ４Ｄの値が適正値より小さ
くコンデンサ４Ｃの値が大きい状態にあることが解る。
【００１７】従ってこの場合にはコンデンサ４Ｃの値を
小さくする方向に校正を行なえばよい。このように校正
するには正帰還量を大きくする方向に制御すればよい。
つまり正帰還量を大きくすると、分圧点Ｐには正帰還回
路１１から電流ｉ1 が流れ込む。この電流ｉ1 は直列コ
ンデンサ４Ｃを流れて正帰還回路１１と電流の授受を行
なう。
小さくする方向に校正を行なえばよい。このように校正
するには正帰還量を大きくする方向に制御すればよい。
つまり正帰還量を大きくすると、分圧点Ｐには正帰還回
路１１から電流ｉ1 が流れ込む。この電流ｉ1 は直列コ
ンデンサ４Ｃを流れて正帰還回路１１と電流の授受を行
なう。
【００１８】コンデンサ４Ｃに電流ｉ1 が流れ、コンデ
ンサ４Ｄには正帰還回路１１側から電流が流れないとす
ると、この場合にはコンデンサ４Ｃがコンデンサとして
見えるようになりコンデンサ４Ｃの容量値Ｃ1 を小さく
したと等価になる。｜Ｂ−Ａ｜＞Ｏであれば、図６に示
した曲線Ａ３の状態にあるものと考えられる。この場合
はコンデンサ４Ｄの値が適正値より大きいことを意味し
ている。よってコンデンサ４Ｄに正帰還回路１１から電
流ｉ2 が流れるように校正すればよい。このためには正
帰還を１より小さくすればよい。つまり正帰還回路１１
からの帰還量を小さくすると、分圧点Ｐの振幅の方が大
きくなる。この結果分圧点Ｐから直列コンデンサ１１Ｃ
に電流ｉ2 が流れ出す。電流ｉ2 はコンデンサ４Ｄを流
れるためコンデンサ４Ｄがコンデンサとして見える状態
となる。この結果としてコンデンサ４Ｄの容量値を小さ
くしたと等価に校正したことになる。
ンサ４Ｄには正帰還回路１１側から電流が流れないとす
ると、この場合にはコンデンサ４Ｃがコンデンサとして
見えるようになりコンデンサ４Ｃの容量値Ｃ1 を小さく
したと等価になる。｜Ｂ−Ａ｜＞Ｏであれば、図６に示
した曲線Ａ３の状態にあるものと考えられる。この場合
はコンデンサ４Ｄの値が適正値より大きいことを意味し
ている。よってコンデンサ４Ｄに正帰還回路１１から電
流ｉ2 が流れるように校正すればよい。このためには正
帰還を１より小さくすればよい。つまり正帰還回路１１
からの帰還量を小さくすると、分圧点Ｐの振幅の方が大
きくなる。この結果分圧点Ｐから直列コンデンサ１１Ｃ
に電流ｉ2 が流れ出す。電流ｉ2 はコンデンサ４Ｄを流
れるためコンデンサ４Ｄがコンデンサとして見える状態
となる。この結果としてコンデンサ４Ｄの容量値を小さ
くしたと等価に校正したことになる。
【００１９】この説明を直列コンデンサ１１Ｃを用いて
説明する。正帰還量が１の場合には分圧点Ｐに入力され
る帰還電圧ｋ・Ｖout と出力電圧Ｖout はｋ・Ｖout ＝
Ｖout となる。このために直列コンデンサ１１Ｃの両端
ＰとＱは同一電位で信号の波形に従って変化する。従っ
てＰ点とＱ点には電位差が発生することがなく、この状
態では直列コンデンサ１１Ｃに電流は全く流れないから
直列コンデンサ１１Ｃは全く介在しないのと等価に見る
ことができ、インピーダンスは周波数に関係なくほぼ０
と見ることができる。
説明する。正帰還量が１の場合には分圧点Ｐに入力され
る帰還電圧ｋ・Ｖout と出力電圧Ｖout はｋ・Ｖout ＝
Ｖout となる。このために直列コンデンサ１１Ｃの両端
ＰとＱは同一電位で信号の波形に従って変化する。従っ
てＰ点とＱ点には電位差が発生することがなく、この状
態では直列コンデンサ１１Ｃに電流は全く流れないから
直列コンデンサ１１Ｃは全く介在しないのと等価に見る
ことができ、インピーダンスは周波数に関係なくほぼ０
と見ることができる。
【００２０】これに対して正帰還量が≠１でない場合に
は直列コンデンサ１１Ｃに電流ｉ1 又はｉ2 が流れるこ
とになる。このように電流ｉ1 又はｉ2 が流れることに
より、電流ｉ1 又はｉ2 が流れたコンデンサ１１Ｃと４
Ｄ又は１１Ｃと４Ｃがコンデンサとして見えるようにな
り、電流ｉ1 又はｉ2 が流れたコンデンサの容量値は小
さくなったと等価に見える。
は直列コンデンサ１１Ｃに電流ｉ1 又はｉ2 が流れるこ
とになる。このように電流ｉ1 又はｉ2 が流れることに
より、電流ｉ1 又はｉ2 が流れたコンデンサ１１Ｃと４
Ｄ又は１１Ｃと４Ｃがコンデンサとして見えるようにな
り、電流ｉ1 又はｉ2 が流れたコンデンサの容量値は小
さくなったと等価に見える。
【００２１】従って正帰還量を大きくするとコンデンサ
４Ｃの容量値を小さくすることができ、正帰還量を小さ
くするとコンデンサ４Ｄの容量値を大きくする方向に校
正することができる。これを数式で説明する。基準信号
発生器１４から与えられる信号Ｓ1 又はＳ2 の電圧をＶ
in、分圧点Ｐから出力される電圧をＶout 、抵抗器４Ａ
と４Ｂの抵抗値をＲ1 ，Ｒ2 、コンデンサ４Ｃと４Ｄの
容量値をＣ1 ，Ｃ2 、直列コンデンサ１１Ｃの容量値を
Ｃ3 、正帰還回路１１から帰還された帰還電圧をｋ・Ｖ
out （ｋは帰還量調整器１１Ａに与えられるディジタル
値によって決まる定数）、Ｓはラプラス変換演算子とす
ると、 Ｖout ＝｛R1／ (R1＋R2) ｝・｛(1＋Ｓτ1)／(1＋Ｓτ1)｝Ｖin …（１） τ1 ＝｛R1・R2/(R1＋R2) ｝・｛ C1 ＋ C2 ＋ C3 (1−ｋ）｝ …（２） τ2 ＝Ｒ2 ・Ｃ2 …（３） となる。周波数特性が平坦になるように校正するには
（２）式と（３）式で示されるτ1 とτ2 を等しくすれ
ばよい。
４Ｃの容量値を小さくすることができ、正帰還量を小さ
くするとコンデンサ４Ｄの容量値を大きくする方向に校
正することができる。これを数式で説明する。基準信号
発生器１４から与えられる信号Ｓ1 又はＳ2 の電圧をＶ
in、分圧点Ｐから出力される電圧をＶout 、抵抗器４Ａ
と４Ｂの抵抗値をＲ1 ，Ｒ2 、コンデンサ４Ｃと４Ｄの
容量値をＣ1 ，Ｃ2 、直列コンデンサ１１Ｃの容量値を
Ｃ3 、正帰還回路１１から帰還された帰還電圧をｋ・Ｖ
out （ｋは帰還量調整器１１Ａに与えられるディジタル
値によって決まる定数）、Ｓはラプラス変換演算子とす
ると、 Ｖout ＝｛R1／ (R1＋R2) ｝・｛(1＋Ｓτ1)／(1＋Ｓτ1)｝Ｖin …（１） τ1 ＝｛R1・R2/(R1＋R2) ｝・｛ C1 ＋ C2 ＋ C3 (1−ｋ）｝ …（２） τ2 ＝Ｒ2 ・Ｃ2 …（３） となる。周波数特性が平坦になるように校正するには
（２）式と（３）式で示されるτ1 とτ2 を等しくすれ
ばよい。
【００２２】τ2 ＝τ2 より ｋ＝１＋（C1／C3）−（R2／R1）・（C2／C3) …（４） （４）式を満たすｋを帰還量調整器１１Ａに与えること
により抵抗分圧回路４の周波数特性を平坦にすることが
できる。制御の方法を図２と図３にフローチャートで示
す。図２及び図３にＤＡ変換器とあるは帰還量調整器１
１Ａを指す。またＦＳはこのＤＡ変換器のフルスケール
出力値、Ｄm は下限周波数ｆ1 の利得を測定する場合
に、メモリＭに設定する設定値、Ｄn は上限周波数ｆ2
の利得を測定する場合に、メモリＭに設定する設定値で
ある。
により抵抗分圧回路４の周波数特性を平坦にすることが
できる。制御の方法を図２と図３にフローチャートで示
す。図２及び図３にＤＡ変換器とあるは帰還量調整器１
１Ａを指す。またＦＳはこのＤＡ変換器のフルスケール
出力値、Ｄm は下限周波数ｆ1 の利得を測定する場合
に、メモリＭに設定する設定値、Ｄn は上限周波数ｆ2
の利得を測定する場合に、メモリＭに設定する設定値で
ある。
【００２３】メモリＭに適正な校正値を書込むことによ
り通常の測定状態に切替られ、交流電圧等の測定が行な
われる。図４にこの発明の変形実施例を示す。この例で
は帰還量調整器１１Ａに与える交流信号を抵抗分圧回路
４の入力側から取出した場合を示す。このように構成し
ても図１の構成と同様の作用効果を得ることができる。
り通常の測定状態に切替られ、交流電圧等の測定が行な
われる。図４にこの発明の変形実施例を示す。この例で
は帰還量調整器１１Ａに与える交流信号を抵抗分圧回路
４の入力側から取出した場合を示す。このように構成し
ても図１の構成と同様の作用効果を得ることができる。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれば
抵抗分圧回路４の周波数特性を平坦にする校正を自動的
に行なわせることができる。よって抵抗分圧回路４を多
数装備した測定装置において、入力回路の校正を短時間
に済ませることができ便利である。
抵抗分圧回路４の周波数特性を平坦にする校正を自動的
に行なわせることができる。よって抵抗分圧回路４を多
数装備した測定装置において、入力回路の校正を短時間
に済ませることができ便利である。
【図１】この発明の一実施例を説明するための接続図。
【図２】この発明の動作を説明するためのフローチャー
ト。
ト。
【図３】図２と同様のフローチャート。
【図４】この発明の変形実施例を示す接続図。
【図５】従来の技術を説明するための接続図。
【図６】従来の技術の動作を説明するためのグラフ。
１ 信号源 ２ 入力端子 ３ 測定装置 ４ 抵抗分圧回路 ５ バッファ増幅器 ６ 実効値変換器 ７ ＡＤ変換器 ８ 表示器 １１ 正帰還回路 １１Ａ 帰還量調整器 １２ 制御器 １３ 校正値算出装置 １４ 基準信号発生器
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｇ０１Ｒ 35/00 Ｇ０１Ｒ 35/00 Ｅ
Claims (1)
- 【請求項１】 被測定交流信号を抵抗分圧回路で取出
し、この抵抗分圧回路で分圧された被測定交流信号を実
効値変換器によって実効値に変換し、被測定交流信号の
実効値を測定すると共に、上記抵抗分圧回路の分圧抵抗
器に並列接続したコンデンサの容量を調整し、入力回路
の周波数特性を校正する機能を具備した電圧測定器にお
いて、上記抵抗分圧回路に被測定交流信号の代りに測定
周波数帯域の下限周波数及び上限周波数を持つ基準交流
信号を与える基準信号発生器と、上記抵抗分圧回路の分
圧点に入力信号を正帰還させる正帰還回路と、この正帰
還回路の帰還量を調整する帰還量調整器と、校正時に上
記基準発振器から与えられる測定周波数帯域の下限周波
数と上限周波数の実効値変換値が等しくなる校正値を求
める校正値算出装置とによって構成した周波数特性校正
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3751191A JP2850987B2 (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | 周波数特性校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3751191A JP2850987B2 (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | 周波数特性校正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04276561A JPH04276561A (ja) | 1992-10-01 |
| JP2850987B2 true JP2850987B2 (ja) | 1999-01-27 |
Family
ID=12499563
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3751191A Expired - Fee Related JP2850987B2 (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | 周波数特性校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2850987B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006238658A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Micro Space Kk | 電圧検出回路及びランプ駆動回路 |
| JP5239395B2 (ja) * | 2008-02-27 | 2013-07-17 | 横河電機株式会社 | 波形測定装置 |
| JP6527691B2 (ja) * | 2014-12-17 | 2019-06-05 | 日置電機株式会社 | 電圧入力抵抗部の周波数特性補正構造および部品搭載基板ならびに測定装置 |
| US20230127522A1 (en) * | 2020-03-13 | 2023-04-27 | Nidec Read Corporation | Clamp-type ac voltage probe |
-
1991
- 1991-03-04 JP JP3751191A patent/JP2850987B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04276561A (ja) | 1992-10-01 |
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