JPH04276561A - 周波数特性校正装置 - Google Patents
周波数特性校正装置Info
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- JPH04276561A JPH04276561A JP3751191A JP3751191A JPH04276561A JP H04276561 A JPH04276561 A JP H04276561A JP 3751191 A JP3751191 A JP 3751191A JP 3751191 A JP3751191 A JP 3751191A JP H04276561 A JPH04276561 A JP H04276561A
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 44
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 12
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は例えば交流電圧測定装
置或はオシログラフ等の入力回路等に利用して好適な周
波数特性校正装置に関する。
置或はオシログラフ等の入力回路等に利用して好適な周
波数特性校正装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図５に従来の周波数特性校正装置を示す
。図中１は被測定信号ＶＸ を出力する信号源を示す。 この信号源１は入力端子２に接続され、入力端子２から
被測定信号ＶＸ を測定装置３に入力する。測定装置３
はこの例では交流電圧測定器の場合を示す。
。図中１は被測定信号ＶＸ を出力する信号源を示す。 この信号源１は入力端子２に接続され、入力端子２から
被測定信号ＶＸ を測定装置３に入力する。測定装置３
はこの例では交流電圧測定器の場合を示す。
【０００３】つまり入力側に設けた抵抗分圧回路４で適
当な電圧に分圧した被測定電圧をバッファ増幅器５を通
じて実効値変換器６に入力し、実効値変換器６で実効値
波形に変換した信号をＡＤ変換器７でＡＤ変換し、この
ＡＤ変換器７のＡＤ変換出力により表示器８に測定値を
表示させる。
当な電圧に分圧した被測定電圧をバッファ増幅器５を通
じて実効値変換器６に入力し、実効値変換器６で実効値
波形に変換した信号をＡＤ変換器７でＡＤ変換し、この
ＡＤ変換器７のＡＤ変換出力により表示器８に測定値を
表示させる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来の交流電圧測定装
置或はオシログラフのように交流信号を波測定信号とし
て取扱う装置においては、入力側に設けた抵抗分圧回路
４の分圧用抵抗器４Ａ，４Ｂに対して周波数特性校正用
のコンデンサ４Ｃ，４Ｄが並列接続される。周波数特性
校正用のコンデンサ４Ｃと４Ｄの中で何れか一方が可変
コンデンサとされ、この可変コンデンサ（この例では４
Ｃ）の容量値Ｃ１ を調整して入力端子２から測定装置
３を見た周波数特性が、図６に示す曲線Ａ１のように下
限周波数ｆ１ から上限周波数ｆ２ までの間が平坦な
特性になるように調整している。
置或はオシログラフのように交流信号を波測定信号とし
て取扱う装置においては、入力側に設けた抵抗分圧回路
４の分圧用抵抗器４Ａ，４Ｂに対して周波数特性校正用
のコンデンサ４Ｃ，４Ｄが並列接続される。周波数特性
校正用のコンデンサ４Ｃと４Ｄの中で何れか一方が可変
コンデンサとされ、この可変コンデンサ（この例では４
Ｃ）の容量値Ｃ１ を調整して入力端子２から測定装置
３を見た周波数特性が、図６に示す曲線Ａ１のように下
限周波数ｆ１ から上限周波数ｆ２ までの間が平坦な
特性になるように調整している。
【０００５】つまり可変コンデンサ４Ｃの容量値Ｃ１
が大き過ぎる場合は周波数特性は図６に曲線Ａ２に示す
ように上限周波数ｆ２ に達する前で利得が低下してし
まう。またコンデンサ４Ｄの容量値Ｃ２ が可変コンデ
ンサ４Ｃの容量値Ｃ１ に対して大き過ぎる場合は、そ
の周波数特性は、図６に示す曲線Ａ３の特性となる。従
って従来はコンデンサ４Ｃと可変コンデンサ４Ｄの初期
容量をほぼ等しい値に設定し、可変コンデンサ４Ｃの値
を調整して適正な周波数特性となるように校正している
。
が大き過ぎる場合は周波数特性は図６に曲線Ａ２に示す
ように上限周波数ｆ２ に達する前で利得が低下してし
まう。またコンデンサ４Ｄの容量値Ｃ２ が可変コンデ
ンサ４Ｃの容量値Ｃ１ に対して大き過ぎる場合は、そ
の周波数特性は、図６に示す曲線Ａ３の特性となる。従
って従来はコンデンサ４Ｃと可変コンデンサ４Ｄの初期
容量をほぼ等しい値に設定し、可変コンデンサ４Ｃの値
を調整して適正な周波数特性となるように校正している
。
【０００６】この校正は手動によって行なわれるため校
正に要する手間と時間が多く掛る欠点がある。つまり抵
抗分圧回路４は測定レンジの切替数に対応して設けられ
るから、その数は大きい。従って数多くの抵抗分圧回路
の周波数特性を一個ずつ校正するのは大変な作業となる
。この発明の目的は周波数特性の校正を自動的に行なう
ことができる周波数特性校正装置を提供しようとするも
のである。
正に要する手間と時間が多く掛る欠点がある。つまり抵
抗分圧回路４は測定レンジの切替数に対応して設けられ
るから、その数は大きい。従って数多くの抵抗分圧回路
の周波数特性を一個ずつ校正するのは大変な作業となる
。この発明の目的は周波数特性の校正を自動的に行なう
ことができる周波数特性校正装置を提供しようとするも
のである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明では、抵抗分圧
回路を具備した交流信号測定装置において、抵抗分圧回
路の分圧点に正帰還信号を帰還させる正帰還回路と、こ
の正帰還回路の帰還量を調整する帰還量調整器とメモリ
を内蔵し、このメモリに記憶した校正値により帰還量調
整器を制御し上記正帰還回路の帰還量を制御する制御器
と、校正時に抵抗分圧回路に測定周波数帯域の下限周波
数と上限周波数の２つの信号を与える基準発振器と、こ
の基準信号発振器から与えられる下限周波数の信号の電
圧測定値と、上限周波数の信号の電圧測定値が互に等し
くなる関係を満す校正値を求めてメモリに記憶する校正
値算出装置とによって周波数特性校正装置を構成する。
回路を具備した交流信号測定装置において、抵抗分圧回
路の分圧点に正帰還信号を帰還させる正帰還回路と、こ
の正帰還回路の帰還量を調整する帰還量調整器とメモリ
を内蔵し、このメモリに記憶した校正値により帰還量調
整器を制御し上記正帰還回路の帰還量を制御する制御器
と、校正時に抵抗分圧回路に測定周波数帯域の下限周波
数と上限周波数の２つの信号を与える基準発振器と、こ
の基準信号発振器から与えられる下限周波数の信号の電
圧測定値と、上限周波数の信号の電圧測定値が互に等し
くなる関係を満す校正値を求めてメモリに記憶する校正
値算出装置とによって周波数特性校正装置を構成する。
【０００８】この発明の構成によれば抵抗分圧回路の分
圧点に正帰還信号を与え、この正帰還信号の帰還量を調
整することにより、抵抗分圧回路に並列接続したコンデ
ンサの容量を実質的に変化させたと等価な制御を行なう
ことができる。従って抵抗分圧回路の分圧点に帰還する
正帰還信号の帰還量を制御することにより測定帯域内の
下限周波数の信号でも、上限周波数の信号でも電圧測定
値が等しくなる正帰還量を求めることができる。この正
帰還量に制御するための校正値を算出し、この校正値を
メモリに記憶させることにより校正が完了する。
圧点に正帰還信号を与え、この正帰還信号の帰還量を調
整することにより、抵抗分圧回路に並列接続したコンデ
ンサの容量を実質的に変化させたと等価な制御を行なう
ことができる。従って抵抗分圧回路の分圧点に帰還する
正帰還信号の帰還量を制御することにより測定帯域内の
下限周波数の信号でも、上限周波数の信号でも電圧測定
値が等しくなる正帰還量を求めることができる。この正
帰還量に制御するための校正値を算出し、この校正値を
メモリに記憶させることにより校正が完了する。
【０００９】従ってこの発明によれば自動的に周波数特
性の校正を行なうことができる。
性の校正を行なうことができる。
【００１０】
【実施例】図１にこの発明による周波数特性校正装置の
一実施例を示す。図１において図５と対応する部分には
同一符号を付して示す。この発明においては抵抗分圧回
路４の抵抗分圧点Ｐに正帰還信号ｋ．Ｖｏｕｔ を与え
る正帰還回路１１を設ける。この正帰還回路１１は分圧
点Ｐに帰還する正帰還量を変化させることができる帰還
量調整器１１Ａと、バッファ増幅器１１Ｂと直列コンデ
ンサ１１Ｃとの縦続回路によって構成することができる
。
一実施例を示す。図１において図５と対応する部分には
同一符号を付して示す。この発明においては抵抗分圧回
路４の抵抗分圧点Ｐに正帰還信号ｋ．Ｖｏｕｔ を与え
る正帰還回路１１を設ける。この正帰還回路１１は分圧
点Ｐに帰還する正帰還量を変化させることができる帰還
量調整器１１Ａと、バッファ増幅器１１Ｂと直列コンデ
ンサ１１Ｃとの縦続回路によって構成することができる
。
【００１１】帰還量調整器１１Ａはこの例ではＤＡ変換
器を利用した場合を示す。ＤＡ変換器の基準電圧入力端
子ＲＥＦにバッファ増幅器５の出力側から被測定信号又
は後述する校正用の下限周波数の信号又は上限周波数の
信号が正帰還信号として与えられ、この正帰還信号の帰
還量が調整されてバッファ増幅器１１Ｂに同相信号で出
力され、バッファ増幅器１１Ｂと、直列コンデンサ１１
Ｃとを介して抵抗分圧回路４の分圧点Ｐに正帰還される
。
器を利用した場合を示す。ＤＡ変換器の基準電圧入力端
子ＲＥＦにバッファ増幅器５の出力側から被測定信号又
は後述する校正用の下限周波数の信号又は上限周波数の
信号が正帰還信号として与えられ、この正帰還信号の帰
還量が調整されてバッファ増幅器１１Ｂに同相信号で出
力され、バッファ増幅器１１Ｂと、直列コンデンサ１１
Ｃとを介して抵抗分圧回路４の分圧点Ｐに正帰還される
。
【００１２】帰還量調整器１１Ａの帰還量を調整するに
はこの帰還量調整器１１Ａを構成するＤＡ変換器のディ
ジタル入力端子ＤＩＮに入力するディジタル信号によっ
て調整される。ディジタル入力端子ＤＩＮに与えるディ
ジタル信号は制御器１２から与えられる。制御器１２に
はメモリＭが設けられ、メモリＭに校正値を記憶させ、
この校正値を帰還量調整器１１Ａに与える。
はこの帰還量調整器１１Ａを構成するＤＡ変換器のディ
ジタル入力端子ＤＩＮに入力するディジタル信号によっ
て調整される。ディジタル入力端子ＤＩＮに与えるディ
ジタル信号は制御器１２から与えられる。制御器１２に
はメモリＭが設けられ、メモリＭに校正値を記憶させ、
この校正値を帰還量調整器１１Ａに与える。
【００１３】校正値は校正値算出装置１３で算出されて
メモリＭに記憶される。校正値の算出は校正モードにお
いて行なわれる。校正モードにおいては制御器１２が基
準信号発生器１４に起動信号を与え、基準信号発生器１
４から測定装置３の測定可能な周波数帯域の下限周波数
ｆ１ と、上限周波数ｆ２ を持つ信号Ｓ１ とＳ２
を発生する。校正モードではモード切替スイッチＳＷ１
が接点Ｂ側に切替られ、基準信号発生器１４から出力
される下限周波数ｆ１ の信号Ｓ１ 又は上限周波数ｆ
２ の信号Ｓ２ を被測定信号ＶＸ の代りに抵抗分圧
回路４に入力する。
メモリＭに記憶される。校正値の算出は校正モードにお
いて行なわれる。校正モードにおいては制御器１２が基
準信号発生器１４に起動信号を与え、基準信号発生器１
４から測定装置３の測定可能な周波数帯域の下限周波数
ｆ１ と、上限周波数ｆ２ を持つ信号Ｓ１ とＳ２
を発生する。校正モードではモード切替スイッチＳＷ１
が接点Ｂ側に切替られ、基準信号発生器１４から出力
される下限周波数ｆ１ の信号Ｓ１ 又は上限周波数ｆ
２ の信号Ｓ２ を被測定信号ＶＸ の代りに抵抗分圧
回路４に入力する。
【００１４】校正値算出装置１３及び制御器１２は例え
ばマイクロコンピュータによって構成され、制御器１２
によって基準信号発生器１４は下限周波数ｆ１ を発振
する状態と、上限周波数ｆ２ を発振する状態として切
替制御される。校正値を算出する手順として例えばメモ
リＭに初期設定値Ｄｍ を設定すると共に、基準信号発
生器１４は下限周波数ｆ１ を発振する状態に制御し、
この下限周波数ｆ１ を持つ信号Ｓ１ を分圧点Ｐから
、バッファ増幅器５を通じて実効値変換器６に入力し、
実効値波形に変換してＡＤ変換器７に入力し、ディジタ
ル値に変換する。ＡＤ変換器７でＡＤ変換したディジタ
ル値を、校正値算出装置１３に入力し、校正値算出装置
１３の内部メモリに下限周波数ｆ１ に対する利得Ａ（
図３，図６参照）として一時記憶する。これにより下限
周波数ｆ１ に対する利得Ａの取込が終了する。
ばマイクロコンピュータによって構成され、制御器１２
によって基準信号発生器１４は下限周波数ｆ１ を発振
する状態と、上限周波数ｆ２ を発振する状態として切
替制御される。校正値を算出する手順として例えばメモ
リＭに初期設定値Ｄｍ を設定すると共に、基準信号発
生器１４は下限周波数ｆ１ を発振する状態に制御し、
この下限周波数ｆ１ を持つ信号Ｓ１ を分圧点Ｐから
、バッファ増幅器５を通じて実効値変換器６に入力し、
実効値波形に変換してＡＤ変換器７に入力し、ディジタ
ル値に変換する。ＡＤ変換器７でＡＤ変換したディジタ
ル値を、校正値算出装置１３に入力し、校正値算出装置
１３の内部メモリに下限周波数ｆ１ に対する利得Ａ（
図３，図６参照）として一時記憶する。これにより下限
周波数ｆ１ に対する利得Ａの取込が終了する。
【００１５】下限周波数ｆ１ の利得Ａの取込が終了し
た時点で、制御器１２は基準信号発生器１４に発振周波
数を上限周波数ｆ２ に切替る制御信号を与える。基準
信号発生器１４は上限周波数ｆ２ を発振し、抵抗分圧
回路４に上限周波数ｆ２ を持つ信号Ｓ２ を与える。 信号Ｓ２ はバッファ増幅器５と実効値変換器６を通じ
てＡＤ変換器７に入力され上限周波数ｆ２ に対する利
得Ｂ（図３，図６参照）に相当する電圧をＡＤ変換する
。このＡＤ変換値は表示器８に上限周波数ｆ２ の利得
Ｂとして表示されると共に、校正値算出装置１３に取込
まれる。
た時点で、制御器１２は基準信号発生器１４に発振周波
数を上限周波数ｆ２ に切替る制御信号を与える。基準
信号発生器１４は上限周波数ｆ２ を発振し、抵抗分圧
回路４に上限周波数ｆ２ を持つ信号Ｓ２ を与える。 信号Ｓ２ はバッファ増幅器５と実効値変換器６を通じ
てＡＤ変換器７に入力され上限周波数ｆ２ に対する利
得Ｂ（図３，図６参照）に相当する電圧をＡＤ変換する
。このＡＤ変換値は表示器８に上限周波数ｆ２ の利得
Ｂとして表示されると共に、校正値算出装置１３に取込
まれる。
【００１６】校正値算出装置１３は前回取込んだ下限周
波数ｆ１ に対する利得Ａと上限周波数に対する利得Ｂ
とを比較し、｜Ｂ−Ａ｜＜Ｌ（Ｌは許容値）であれば初
期設定値Ｄｍ を校正値として決定する。｜Ｂ−Ａ｜＞
Ｌであれば初期設定値Ｄｍ の値を修正し、再度利得の
測定を行なう。初期設定値Ｄｍ の値の修正は、初回の
利得測定値ＡとＢがＢ−Ａ＜Ｏであれば、高い周波数側
で減衰量が大きいことからこの状態は図６に示した曲線
Ａ２の状態に相当するからコンデンサ４Ｄの値が適正値
より小さくコンデンサ４Ｃの値が大きい状態にあること
が解る。
波数ｆ１ に対する利得Ａと上限周波数に対する利得Ｂ
とを比較し、｜Ｂ−Ａ｜＜Ｌ（Ｌは許容値）であれば初
期設定値Ｄｍ を校正値として決定する。｜Ｂ−Ａ｜＞
Ｌであれば初期設定値Ｄｍ の値を修正し、再度利得の
測定を行なう。初期設定値Ｄｍ の値の修正は、初回の
利得測定値ＡとＢがＢ−Ａ＜Ｏであれば、高い周波数側
で減衰量が大きいことからこの状態は図６に示した曲線
Ａ２の状態に相当するからコンデンサ４Ｄの値が適正値
より小さくコンデンサ４Ｃの値が大きい状態にあること
が解る。
【００１７】従ってこの場合にはコンデンサ４Ｃの値を
小さくする方向に校正を行なえばよい。このように校正
するには正帰還量を大きくする方向に制御すればよい。 つまり正帰還量を大きくすると、分圧点Ｐには正帰還回
路１１から電流ｉ１ が流れ込む。この電流ｉ１ は直
列コンデンサ４Ｃを流れて正帰還回路１１と電流の授受
を行なう。
小さくする方向に校正を行なえばよい。このように校正
するには正帰還量を大きくする方向に制御すればよい。 つまり正帰還量を大きくすると、分圧点Ｐには正帰還回
路１１から電流ｉ１ が流れ込む。この電流ｉ１ は直
列コンデンサ４Ｃを流れて正帰還回路１１と電流の授受
を行なう。
【００１８】コンデンサ４Ｃに電流ｉ１ が流れ、コン
デンサ４Ｄには正帰還回路１１側から電流が流れないと
すると、この場合にはコンデンサ４Ｃがコンデンサとし
て見えるようになりコンデンサ４Ｃの容量値Ｃ１ を小
さくしたと等価になる。｜Ｂ−Ａ｜＞Ｏであれば、図６
に示した曲線Ａ３の状態にあるものと考えられる。この
場合はコンデンサ４Ｄの値が適正値より大きいことを意
味している。よってコンデンサ４Ｄに正帰還回路１１か
ら電流ｉ２ が流れるように校正すればよい。このため
には正帰還を１より小さくすればよい。つまり正帰還回
路１１からの帰還量を小さくすると、分圧点Ｐの振幅の
方が大きくなる。この結果分圧点Ｐから直列コンデンサ
１１Ｃに電流ｉ２ が流れ出す。電流ｉ２ はコンデン
サ４Ｄを流れるためコンデンサ４Ｄがコンデンサとして
見える状態となる。この結果としてコンデンサ４Ｄの容
量値を小さくしたと等価に校正したことになる。
デンサ４Ｄには正帰還回路１１側から電流が流れないと
すると、この場合にはコンデンサ４Ｃがコンデンサとし
て見えるようになりコンデンサ４Ｃの容量値Ｃ１ を小
さくしたと等価になる。｜Ｂ−Ａ｜＞Ｏであれば、図６
に示した曲線Ａ３の状態にあるものと考えられる。この
場合はコンデンサ４Ｄの値が適正値より大きいことを意
味している。よってコンデンサ４Ｄに正帰還回路１１か
ら電流ｉ２ が流れるように校正すればよい。このため
には正帰還を１より小さくすればよい。つまり正帰還回
路１１からの帰還量を小さくすると、分圧点Ｐの振幅の
方が大きくなる。この結果分圧点Ｐから直列コンデンサ
１１Ｃに電流ｉ２ が流れ出す。電流ｉ２ はコンデン
サ４Ｄを流れるためコンデンサ４Ｄがコンデンサとして
見える状態となる。この結果としてコンデンサ４Ｄの容
量値を小さくしたと等価に校正したことになる。
【００１９】この説明を直列コンデンサ１１Ｃを用いて
説明する。正帰還量が１の場合には分圧点Ｐに入力され
る帰還電圧ｋ・Ｖｏｕｔ と出力電圧Ｖｏｕｔ はｋ・
Ｖｏｕｔ ＝Ｖｏｕｔ となる。このために直列コンデ
ンサ１１Ｃの両端ＰとＱは同一電位で信号の波形に従っ
て変化する。従ってＰ点とＱ点には電位差が発生するこ
とがなく、この状態では直列コンデンサ１１Ｃに電流は
全く流れないから直列コンデンサ１１Ｃは全く介在しな
いのと等価に見ることができ、インピーダンスは周波数
に関係なくほぼ０と見ることができる。
説明する。正帰還量が１の場合には分圧点Ｐに入力され
る帰還電圧ｋ・Ｖｏｕｔ と出力電圧Ｖｏｕｔ はｋ・
Ｖｏｕｔ ＝Ｖｏｕｔ となる。このために直列コンデ
ンサ１１Ｃの両端ＰとＱは同一電位で信号の波形に従っ
て変化する。従ってＰ点とＱ点には電位差が発生するこ
とがなく、この状態では直列コンデンサ１１Ｃに電流は
全く流れないから直列コンデンサ１１Ｃは全く介在しな
いのと等価に見ることができ、インピーダンスは周波数
に関係なくほぼ０と見ることができる。
【００２０】これに対して正帰還量が≠１でない場合に
は直列コンデンサ１１Ｃに電流ｉ１ 又はｉ２ が流れ
ることになる。このように電流ｉ１ 又はｉ２ が流れ
ることにより、電流ｉ１ 又はｉ２ が流れたコンデン
サ１１Ｃと４Ｄ又は１１Ｃと４Ｃがコンデンサとして見
えるようになり、電流ｉ１ 又はｉ２ が流れたコンデ
ンサの容量値は小さくなったと等価に見える。
は直列コンデンサ１１Ｃに電流ｉ１ 又はｉ２ が流れ
ることになる。このように電流ｉ１ 又はｉ２ が流れ
ることにより、電流ｉ１ 又はｉ２ が流れたコンデン
サ１１Ｃと４Ｄ又は１１Ｃと４Ｃがコンデンサとして見
えるようになり、電流ｉ１ 又はｉ２ が流れたコンデ
ンサの容量値は小さくなったと等価に見える。
【００２１】従って正帰還量を大きくするとコンデンサ
４Ｃの容量値を小さくすることができ、正帰還量を小さ
くするとコンデンサ４Ｄの容量値を大きくする方向に校
正することができる。これを数式で説明する。基準信号
発生器１４から与えられる信号Ｓ１ 又はＳ２ の電圧
をＶｉｎ、分圧点Ｐから出力される電圧をＶｏｕｔ 、
抵抗器４Ａと４Ｂの抵抗値をＲ１ ，Ｒ２ 、コンデン
サ４Ｃと４Ｄの容量値をＣ１ ，Ｃ２ 、直列コンデン
サ１１Ｃの容量値をＣ３ 、正帰還回路１１から帰還さ
れた帰還電圧をｋ・Ｖｏｕｔ （ｋは帰還量調整器１１
Ａに与えられるディジタル値によって決まる定数）、Ｓ
はラプラス変換演算子とすると、 Ｖｏｕｔ ＝｛Ｒ１／ （Ｒ１＋Ｒ２） ｝・｛（
１＋Ｓτ１）／（１＋Ｓτ１）｝Ｖｉｎ …（１）
τ１ ＝｛Ｒ１・Ｒ２／（Ｒ１＋Ｒ２） ｝・｛ Ｃ
１ ＋ Ｃ２ ＋ Ｃ３ （１−ｋ）｝ …（２
） τ２ ＝Ｒ２ ・Ｃ２
…（３）となる。周波数特性が平坦に
なるように校正するには（２）式と（３）式で示される
τ１ とτ２ を等しくすればよい。
４Ｃの容量値を小さくすることができ、正帰還量を小さ
くするとコンデンサ４Ｄの容量値を大きくする方向に校
正することができる。これを数式で説明する。基準信号
発生器１４から与えられる信号Ｓ１ 又はＳ２ の電圧
をＶｉｎ、分圧点Ｐから出力される電圧をＶｏｕｔ 、
抵抗器４Ａと４Ｂの抵抗値をＲ１ ，Ｒ２ 、コンデン
サ４Ｃと４Ｄの容量値をＣ１ ，Ｃ２ 、直列コンデン
サ１１Ｃの容量値をＣ３ 、正帰還回路１１から帰還さ
れた帰還電圧をｋ・Ｖｏｕｔ （ｋは帰還量調整器１１
Ａに与えられるディジタル値によって決まる定数）、Ｓ
はラプラス変換演算子とすると、 Ｖｏｕｔ ＝｛Ｒ１／ （Ｒ１＋Ｒ２） ｝・｛（
１＋Ｓτ１）／（１＋Ｓτ１）｝Ｖｉｎ …（１）
τ１ ＝｛Ｒ１・Ｒ２／（Ｒ１＋Ｒ２） ｝・｛ Ｃ
１ ＋ Ｃ２ ＋ Ｃ３ （１−ｋ）｝ …（２
） τ２ ＝Ｒ２ ・Ｃ２
…（３）となる。周波数特性が平坦に
なるように校正するには（２）式と（３）式で示される
τ１ とτ２ を等しくすればよい。
【００２２】τ２ ＝τ２ より
ｋ＝１＋（Ｃ１／Ｃ３）−（Ｒ２
／Ｒ１）・（Ｃ２／Ｃ３） …（
４）（４）式を満たすｋを帰還量調整器１１Ａに与える
ことにより抵抗分圧回路４の周波数特性を平坦にするこ
とができる。制御の方法を図２と図３にフローチャート
で示す。図２及び図３にＤＡ変換器とあるは帰還量調整
器１１Ａを指す。またＦＳはこのＤＡ変換器のフルスケ
ール出力値、Ｄｍ は下限周波数ｆ１ の利得を測定す
る場合に、メモリＭに設定する設定値、Ｄｎ は上限周
波数ｆ２ の利得を測定する場合に、メモリＭに設定す
る設定値である。
／Ｒ１）・（Ｃ２／Ｃ３） …（
４）（４）式を満たすｋを帰還量調整器１１Ａに与える
ことにより抵抗分圧回路４の周波数特性を平坦にするこ
とができる。制御の方法を図２と図３にフローチャート
で示す。図２及び図３にＤＡ変換器とあるは帰還量調整
器１１Ａを指す。またＦＳはこのＤＡ変換器のフルスケ
ール出力値、Ｄｍ は下限周波数ｆ１ の利得を測定す
る場合に、メモリＭに設定する設定値、Ｄｎ は上限周
波数ｆ２ の利得を測定する場合に、メモリＭに設定す
る設定値である。
【００２３】メモリＭに適正な校正値を書込むことによ
り通常の測定状態に切替られ、交流電圧等の測定が行な
われる。図４にこの発明の変形実施例を示す。この例で
は帰還量調整器１１Ａに与える交流信号を抵抗分圧回路
４の入力側から取出した場合を示す。このように構成し
ても図１の構成と同様の作用効果を得ることができる。
り通常の測定状態に切替られ、交流電圧等の測定が行な
われる。図４にこの発明の変形実施例を示す。この例で
は帰還量調整器１１Ａに与える交流信号を抵抗分圧回路
４の入力側から取出した場合を示す。このように構成し
ても図１の構成と同様の作用効果を得ることができる。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれば
抵抗分圧回路４の周波数特性を平坦にする校正を自動的
に行なわせることができる。よって抵抗分圧回路４を多
数装備した測定装置において、入力回路の校正を短時間
に済ませることができ便利である。
抵抗分圧回路４の周波数特性を平坦にする校正を自動的
に行なわせることができる。よって抵抗分圧回路４を多
数装備した測定装置において、入力回路の校正を短時間
に済ませることができ便利である。
【図１】この発明の一実施例を説明するための接続図。
【図２】この発明の動作を説明するためのフローチャー
ト。
ト。
【図３】図２と同様のフローチャート。
【図４】この発明の変形実施例を示す接続図。
【図５】従来の技術を説明するための接続図。
【図６】従来の技術の動作を説明するためのグラフ。
１ 信号源
２ 入力端子
３ 測定装置
４ 抵抗分圧回路
５ バッファ増幅器
６ 実効値変換器
７ ＡＤ変換器
８ 表示器
１１ 正帰還回路
１１Ａ 帰還量調整器
１２ 制御器
１３ 校正値算出装置
１４ 基準信号発生器
Claims (1)
- 【請求項１】 被測定交流信号を抵抗分圧回路で取出
し、この抵抗分圧回路で分圧された被測定交流信号を実
効値変換器によって実効値に変換し、被測定交流信号の
実効値を測定すると共に、上記抵抗分圧回路の分圧抵抗
器に並列接続したコンデンサの容量を調整し、入力回路
の周波数特性を校正する機能を具備した電圧測定器にお
いて、上記抵抗分圧回路に被測定交流信号の代りに測定
周波数帯域の下限周波数及び上限周波数を持つ基準交流
信号を与える基準信号発生器と、上記抵抗分圧回路の分
圧点に入力信号を正帰還させる正帰還回路と、この正帰
還回路の帰還量を調整する帰還量調整器と、校正時に上
記基準発振器から与えられる測定周波数帯域の下限周波
数と上限周波数の実効値変換値が等しくなる校正値を求
める校正値算出装置とによって構成した周波数特性校正
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3751191A JP2850987B2 (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | 周波数特性校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3751191A JP2850987B2 (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | 周波数特性校正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04276561A true JPH04276561A (ja) | 1992-10-01 |
| JP2850987B2 JP2850987B2 (ja) | 1999-01-27 |
Family
ID=12499563
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3751191A Expired - Fee Related JP2850987B2 (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | 周波数特性校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2850987B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006238658A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Micro Space Kk | 電圧検出回路及びランプ駆動回路 |
| JP2009204398A (ja) * | 2008-02-27 | 2009-09-10 | Yokogawa Electric Corp | 波形測定装置 |
| JP2016114562A (ja) * | 2014-12-17 | 2016-06-23 | 日置電機株式会社 | 電圧入力抵抗部の周波数特性補正構造および部品搭載基板ならびに測定装置 |
| WO2021182082A1 (ja) * | 2020-03-13 | 2021-09-16 | 日本電産リード株式会社 | クランプ式交流電圧プローブ |
-
1991
- 1991-03-04 JP JP3751191A patent/JP2850987B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006238658A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Micro Space Kk | 電圧検出回路及びランプ駆動回路 |
| JP2009204398A (ja) * | 2008-02-27 | 2009-09-10 | Yokogawa Electric Corp | 波形測定装置 |
| JP2016114562A (ja) * | 2014-12-17 | 2016-06-23 | 日置電機株式会社 | 電圧入力抵抗部の周波数特性補正構造および部品搭載基板ならびに測定装置 |
| WO2021182082A1 (ja) * | 2020-03-13 | 2021-09-16 | 日本電産リード株式会社 | クランプ式交流電圧プローブ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2850987B2 (ja) | 1999-01-27 |
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