KR100199290B1 - 전원선과 선택적으로 연결되는 스위치 수단을 구비한 검사용 회로 기판 - Google Patents

Abstract

본 발명은 하나의 검사용 회로기판을 사용하여 여러 반도체 집적회로 소자를 검사하고자 하는 검사용 회로기판에 관한 것으로서, 패키지 유형이 동일한 제품의 차이점은 Vcc, GND의 위치와 개수만이 다르다는 점에 착안하여 반도체 집적회로 소자가 실장되며 외부와의 전기적 접속을 위한 복수개의 소켓 핀을 갖는 소켓과, 그 소켓 핀과 연결되며 반도체 집적회로 소자의 전기적 특성을 검사하는 데에 필요한 신호가 전달되는 배선 패턴과, 반도체 집적회로 소자의 동작에 필요한 전원을 공급하는 전원 공급 패턴을 갖는 검사용 회로기판에 있어서, 전원 공급 패턴이 복수 개의 핀 각각에 전원을 선택적으로 연결시키는 스위치 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.

Description

전원선과 선택적으로 연결되는 스위치 수단을 구비한 검사용 회로 기판

제1도는 종래 기술에 따른 검사 장비의 개략 블록 회로도.

제2도는 종래 기술에 따른 검사용 회로기판의 개략 평면도.

제3도는 본 발명에 따른 검사용 회로기판의 개략 평면도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 소켓 20 : 스위치

30 : 검사 카드 40 : 제어 장치

42 : 전원 공급 단자 45 : 전원 안정화 장치

50 : 검사장비 본체 60 : 검사용 회로기판

62 : 기판 접속단자 64 , 66 : 제1, 제2 전원단자

65, 67 : 제1, 제2 전원 공급 패턴 70 : 소켓

72 : 소켓 핀 75 : 반도체 집적회로 소자

76 : 소자 리드 80 : 검사 헤드

본 발명은 반도체 집적회로 소자의 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 검사 공정의 관점에서 본 패키지 유형이 동일한 반도체 집적회로 소자 제품의 차이점은 Vcc GND의 위치와 개수가 다르다는 점에 착안하여 반도체 집적회로 소자의 모든 리드와 Vcc, GND 사이에 스위치 수단을 연결하여 Vcc 또는 GND와 연결되어야 하는 리드의 위치와 개수가 변하더라도 스위치 수단의 적절한 온/오프에 의해 동일한 검사용 회로기판을 그대로 사용하여 검사를 진행할 수 있는 구조를 갖는 검사용 회로기판에 관한 것이다.

반도체 집적회로 소자는 전자 산업의 가장 기본적인 소자로서 매우 광범위하게 이용되고 있는 관계로 그 종류가 수천 수만가지이다. 특히 전자 시스템 제조업체들이 반도체 집적회로 소자의 응용 분야를 넓혀 나가고 특정 분야에 적합한 구조와 기능을 갖는 반도체 집적회로 소자를 주문하고 있기 때문에 반도체 집적회로 소자의 제품 수는 급격하게 증가되고 있다. 따라서, 제품 수의 급격한 증가로 인하여 반도체 제조 업체의 검사 부문에서는 생산 제품수 이상의 검사용 회로기판이 필요하게 되고 이로 인하여 다양한 형태의 추가 비용이 발생하게 된다.

또한 제품 수 이상의 검사용 회로기판의 제작으로 인해 비용의 증가는 물론 보관, 관리상의 문제가 발생하고, 소비자(전자 시스템 제조업체; set maker)가 반도체 집적회로 소자의 결함에 대해 항의를 하는 경우에 이에 대한 대응을 위해서 검사용 회로기판의 지속적인 관리가 필요하며, 각각의 반도체 집적회로 소자 별로 별도의 검사용 회로기판을 사용하기 때문에 검사 장비를 설정하고 처리기를 셋업하는 데에 많은 시간이 소요되어 생산성이 저하된다.

그런데, 반도체 집적회로 소자의 제품 수는 헤아릴 수 없이 많지만, 패키지의 형태별로 분류해 보면 몇가지 유형으로 구별이 가능하다. 즉, 제품 수는 많지만 검사 관점에서 본 패키지 유형이 동일한 제품의 차이점은 (+)전원 Vcc와 (-)전원 GND(접지)의 위치와 개수만이 다르다는 점이다.

제1도는 종래 기술에 따른 검사장비의 개략적인 블록 회로도이다. 검사장비(100)는 크게 검사과정 전체를 제어하기 위한 컴퓨터 등의 제어장치(40)와 검사하고자 하는 반도체 집적회로 소자에 전원을 인가하는 전원 안정화 장치(45)를 구비하고 있는 검사장비의 본체(50)와, 검사하고자 하는 반도체 집적회로 소자(75)와 소정의 전도성 배선패턴으로 연결되어 있는 검사용 회로기판(60)이 실장되는 검사 헤드(80)로 이루어져 있다.

검사 헤드(80)에는 검사 카드(30)가 있는데, 많은 수의 리드를 갖는 반도체 집적회로 소자를 적절하게 검사하기 위해서 필요한 수 만큼의 검사 카드, 예컨대 256개의 카드(30a, 30b, 30c, …, 30n)가 형성되어 있다. 이 검사 카드(30)는 제어 장치(40)를 통해서 검사장비의 본체(50)로부터 공급되는 검사용 신호를 반도체 집적회로 소자(75)에 전달하기도 하고 반도체 집적회로 소자(75)에서 나오는 출력을 본체(50)로 보내서 검사 결과를 판정하게 한다. 각각의 검사 카드(30)에는 구동부와 비교부가 있다. 구동부는 검사 장비에 반도체 집적회로 소자(75)로 신호를 전송하는 신호 입력용으로 사용되고, 비교부는 반도체 집적회로 소자(75)에서 출력되는 신호를 검사 장비로 보내기 위한 신호 출력용으로 사용된다.

검사용 회로기판(60)의 기판 접속단자(62)는 검사 카드(30)와 연결되어 있고, 이 기판 접속단자(62)는 다시 소정의 전도성 패턴(도시 아니함)을 통해서 소켓(70)의 소켓핀(72)과 연결되어 있다. 소켓(70)에 실장되어 반도체 집적회로 소자(75)의 핀 수가, 예컨대 제1도에 나타낸 것처럼 28핀이라면, 256개의 검사 카드(30) 중에서 반도체 집적회로 소자(75)를 검사하는 데에 적합한 신호를 입/출력하기 위한 검사 카드(30)를 기판 접속단자(62)에 연결한 다음, 제어장치(40)를 통해서 이것을 입력으로 사용할 것인지 출력으로 사용할 것인지 결정하기 위해서 검사 카드(30)의 구동부 또는 비교부를 인에이블(enable)시킨다.

장비 본체((50)의 전원 안정화 장치(45)는 반도체 집적회로 소자(75)의 동작에 필요한 전원을 공급하기 위한 것이다. 그런데, 전원 안정화 장치(45)에서 공급되는 전원 신호는 검사 카드(30)를 거치지 않고 검사용 회로기판의 전원 공급단자(64, 66)에 직접 연결되어 있다. 그 이유는 첫째, 전원 안정화 장치의 전류 구동능력이 검사 카드의 구동부의 정격 전류보다 훨씬 크기 때문이며, 둘째, 전원 공급단자의 수는 반도체 집적회로 소자의 핀 수에 비해 턱없이 작아서(예를 들어서, 4개의 전원 공급단자를 사용) 모든 반도체 집접회로 소자의 핀에 전원 공급단자를 연결한 다음 검사장비의 제어장치(40)에서 어떤 핀에 전원을 공급할 것인지 선택하는 것이 불가능하기 때문이다.

따라서, 종래 이러한 전원 단자 Vcc와 GND와 연결되는 제1, 제2 전원 공급 패턴(65, 67)은 제2도에 도시된 것과 같이 검사용 회로기판 상에 고정되어 있다. 제2도는 종래 기술에 따른 검사용 회로기판의 개략 평면도인데, 보통 전기적인 특성을 검사하고자 하는 반도체 집적회로 소자는 소켓(10)에 실장되어서 검사용 회로기판과 연결된다. 소켓(10)의 여러 핀에는 제2도에 나타낸 직류 전원 Vcc, GND가 검사장비의 전원 안정화 장치에서 공급될 뿐만 아니라 검사용 신호도 검사 헤드이 검사 카드를 통해 공급되지만 도면을 간단하게 하기 위해서 전원만 도시하였다.

제2도에 도시한 것처럼 Vcc와 GND는 기판 상에서 고정된 배선을 통해 소켓의 단자와 연결되기 때문에 반도체 집적회로 소자 제품 당 최소한 한 개의 검사용 회로기판이 필요하게 되며 이로 인해 앞에서 설명한 바와 같은 비용, 관리, 생산성 측면에서 많은 문제점이 생기게 된다.

따라서 본 발명의 목적은 동일한 유형의 패키지 제품별로 다른 Vcc, GND 배선을 선택할 수 있는 응용회로를 검사용 회로기판에 구현하기 위한 것이다.

본 발명의 또 다른 목적은 하나의 검사용 회로기판을 사용하여 패키지 유형이 동일한 여러 제품을 검사할 수 있는 검사용 회로기판을 제공하는 것이다.

이러한 목적을 달성하기 위해서 본 발명에 따른 검사용 회로기판은 검사하고자 하는 반도체 집적회로 소자의 모든 리드와 전원 공급단자가 스위치 수단을 통해 연결되도록 하고, 이 스위치 수단을 닫느냐 여느냐에 따라 반도체 집적회로 소자의 리드에 전원을 선택적으로 인가할 수 있는 것을 특징으로 한다.

이하 도면을 참조로 본 발명을 상세하게 설명한다.

제3도는 본 발명에 따른 검사용 회로기판의 개랴적인 구성을 나타내는 평면도이다. 검사하고자 하는 반도체 집적회로 소자가 실장되는 소켓(10)에 있는 단자에는 Vcc 또는 GND와 선택적으로 연결될 수 있는 스위치(20) 및 이 스위치(20)와 전원선 사이에 연결되어 있는 배선패턴으로 구성된 응용 회로가 연결되어 있다. 제2도의 예에서와 같이 핀 7은 GND, 핀 14는 Vcc에 연결되고 이에 더하여 핀 1이 Vcc에 연결되고 핀 8이 GND와 연결되어야 한다면, 핀 8과 연결된 스위치(20)를 GND와 연결된 배선과 연결하여 주고 핀 1과 연결된 스위치는 Vcc와 연결된 배선과 연결되도록 스위치(20)를 선택한다. 나머지 핀 2~6, 핀 9~13과 연결된 스위치(20)에 대해서는 모두 Vcc, GND와 연결되지 않도록 오프(off)시키고, 검사 장비에서 입출력되는 신호를 받도록 검사 헤드의 검사 카드의 구동부 또는 비교부에 연결한다.

따라서 하나의 핀이 3가지 상태 중 어떤 단자와 연결되는지를 결정하여 스위치(20)를 적절하게 조작하면 하나의 검사용 회로기판으로 동일 패키지 유형 전제품의 검사가 가능하게 된다.

스위치(20)는 사람이 수작업으로 온/오프 시키는 수동 스위치일 수도 있고, 소켓의 핀이 어떤 단자와 연결되어야 하는 가를 미리 검사용 주 프로그램에 입력시켜서 검사 시스템에 의해 자동으로 온/오프가 되도록 할 수도 있다. 어떤 경우이든지, 작업자가 제품의 검사를 위한 셋업 단계에서 해당 제품에 대한 Vcc, GND를 선택하여야 하며 어떤 핀을 어떻게 선택하여 스위치를 온/오프 시켜야 하는지는 시스템을 통해 화면화하여 작업자가 확인하여 점검할 수 있도록 하는 것이 바람직하다.

이상 설명한 바와 같인 본 발명에 따르면 검사용 회로기판에 Vcc 또는 GND와 선택적으로 연결될 수 있는 응용회로를 만들어서 필요에 따라 소켓의 핀을 Vcc 또는 GND에 연결함으로써 하나의 검사용 회로기판을 사용하고서도 패키지 유형이 동일한 여러 반도체 집적회로 소자를 검사하는 것이 가능하다.

Claims (3)

1. 반도체 집적회로 소자가 실장되며 외부와의 전기적 접속을 위한 복수개의 소켓 핀을 갖는 소켓과, 상기 소켓 핀과 연결되며 상기 반도체 집적회로 소자의 전기적 특성을 검사하는 데에 필요한 신호가 전달되는 배선패턴과, 상기 반도체 집적회로 소자의 동작에 필요한 전원을 공급하는 전원 공급 패턴을 갖는 검사용 회로기판에 있어서, 상기 전원 공급 패턴은 상기 복수개의 핀 각각에 상기 전원을 선택적으로 연결시키는 스위치 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 검사용 회로기판.
2. 제1항에 있어서, 상기 검사용 회로기판은, 검사용 신호 및 전원을 상기 반도체 집적회로 소자에 공급하는 본체를 구비하는 검사장비의 검사 헤드에 실장되며, 상기 검사 헤드는 상기 검사용 신호가 입출력되는 복수의 검사 카드를 구비하며, 상기 검사 카드 각각은 상기 검사용 회로기판의 배선패턴과 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 검사용 회로기판.
3. 제2항에 있어서, 상기 검사 카드 각각은 상기 검사장비에서 검사용 신호가 상기 반도체 집적회로 소자에 입력되도록 하는 구동부와 상기 반도체 집적회로 소자의 출력이 검사장비로 입력되도록 하는 비교부를 구비하는 것을 특징으로 하는 검사용 회로기판.