JPH0595031A - 試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 同じ種類のパッケージなら入出力ピン仕様が
異なるような様々な被試験デバイスでも一種類の試験用
ボードだけを使用して連続動作加速試験評価を行なえる
ようにする。 【構成】 ボードの接続端子にそれぞれ接続される複数
本の入力ピンと、上記入力端子にそれぞれ接続される複
数本の出力ピンと、これらピンを支持する支持部材と、
上記入，出力ピン間を選択的に接続する接続線とから成
る治具を設け、この治具を、試験用ボードに設けられた
ソケットを介して試験用ボードに実装する。 【効果】 ゲートアレイのような多品種少量生産型のＬ
ＳＩでも同一種類のパッケージならば一種類のボードだ
けで試験でき、試験コストが下がる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、特に多端子の入出力
端子を有する半導体装置のスクリーニング及び加速試験
を行なうための試験装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】一般に半導体装置の製品の信頼性を保証
するために、スクリーニングや、ある環境条件下で加速
試験を行なう。その試験の方法として実際に半導体装置
を動作させながら試験する方法がある。

【０００３】図９にこの従来の試験方法の場合の簡単な
試験回路図を示す。図において、１は環境温度を一定に
保つことができる恒温加速試験装置であり、２はドライ
バー回路、２ａ，２ｂ，…２ｅは半導体デバイス３を動
作させるための信号を与えるドライバー（信号印加手
段）、４ａ，４ｂ，…４ｅは各ドライバー２ａ，２ｂ，
…２ｅとデバイス３の入力端子を接続するための配線で
ある。

【０００４】次に動作について説明する。デバイス３を
動作させるために、ドライバー２ａ，２ｂ，…２ｅから
の入力信号が、それぞれ配線４ａ，４ｂ，…４ｅを通し
て与えられる。そしてボードに実装される全デバイスの
同じ入力端子には同一の信号が与えられ、装置１内の全
デバイスは同一の動作を行なう。

【０００５】図１０はデバイス３を搭載した試験用ボー
ドである。図において、試験用ボード５には加速試験を
行なうための同一デバイス３，３が複数個実装されてい
る。６は試験装置１内のドライバー２ａ，２ｂ…２ｅか
ら信号を受けるためのボード５の端子栓である。この端
子栓６上に設けられた接続端子Ａ〜Ｅを介して、ドライ
バーから受けた信号を各デバイス３に入力する。ボード
５上には端子Ａ〜Ｅと各デバイス３の入力端子を接続す
る配線が形成されている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】従来の半導体恒温加速
試験装置、特にデバイスを搭載する試験ボードは以上の
ように構成されているので、デバイスを収納しているパ
ッケージが同一でも入力端子の位置が異なればそのデバ
イスに適した配線の試験ボードを作成しなければなら
ず、多品種少量生産型のゲートアレイなどでは試験コス
トが増大するなどの問題点があった。

【０００７】例えば、図１１に示すように、デバイス３
の入力端子，，，，に端子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，
Ｅの信号をそれぞれ供給するように配線パターンＰを設
定したボード５を作成した後に、デバイス３に代えて入
力形式の異なる態様のデバイス（例えば入力端子が図の
入力端子６の位置にあるもの）を同一ボードに実装する
と、このボードの配線パターンＰでは入力端子６に入力
信号は供給されず、このボードは使用できない。従って
入力端子６にパターンが接続されたボードを新たに作成
しなければならなかった。

【０００８】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、同じ形状のパッケージならば同
一の試験ボードを使用して連続動作加速試験評価ができ
る試験装置を得ることを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】この発明に係る請求項第
１項の試験装置は、複数の入力端子を有する被試験用デ
バイスが実装され、さらに外部の信号印加手段からの信
号がそれぞれ供給される複数の接続端子が設けられる試
験用ボードを具備し、上記接続端子を上記入力端子の特
定のものに接続して上記被試験用デバイスに信号を供給
し、デバイスの出力状態を試験するようにした試験装置
において、上記接続端子にそれぞれ接続される複数本の
入力ピンと、上記入力端子にそれぞれ接続される複数本
の出力ピンと、これらピンを支持する支持部材と、上記
入，出力ピン間を選択的に接続する接続線とから成る治
具を、上記試験用ボードに着脱自在に設けたものであ
る。

【００１０】この発明に係る請求項第２項の試験装置は
上記治具を、試験用ボードに設けられたソケットを介し
て試験用ボードに実装するようにしたものである。

【００１１】

【作用】治具の入出力ピンを接続する接続線の結線を変
えれば、任意の接続端子の入力信号をデバイスの任意の
入力端子へ供給することができる。

【００１２】また、ソケットを介して治具を装着するよ
うにすれば、何種類かの違う結線がされた治具を用意し
ておくことにより、デバイスの種類が変更されても即応
できる。

【００１３】

【実施例】実施例１．以下この発明の一実施例を図につ
いて説明する。図１は本発明における加速試験装置の試
験用ボードを示した図、図２はボードの配線状態を示す
図、図３は概略試験回路を示す図、図４は信号配線のピ
ンスクランブルを行なう治具を示した図、図５はピン仕
様の異なるデバイスの場合のボードの概略図である。

【００１４】図１において、１１は本発明における試験
用ボード、１２はデバイスを装着するためのＩＣソケッ
ト、１３は被試験用デバイス、１４はボードの接続端子
配線、１５は信号配線のピンスクランブルを行なうため
の治具、１５ａは治具の支持部材、１６はその治具を装
着するソケット、１７は治具における装置１のドライバ
ー側の入力ピン、１８は被試験用デバイス側の出力ピ
ン、１９は入力ピン１７と出力ピン１８とを結線する接
続線である。

【００１５】ピンスクランブル用治具１５の結線１９は
被試験用デバイスのピン仕様ごとに変わる。これを、図
２に基づいて詳しく説明する。図に示すように、端子栓
６Ａの接続端子Ａ〜Ｂはそれぞれ配線１４，ソケット１
６を介して治具１５の対応する入力ピン１７に接続され
る。また出力ピン１８はソケット１６，配線Ｐ１を介し
てデバイス１３の対応する端子（〜）に接続され
る。すなわち、治具１５のすべての入，出力ピン１７，
１８に予めプリント配線されたボード１１が使用され
る。この時、ボード１１に実装するデバイス１３の入力
端子が図中の○で囲まれた場所、すなわち，，，
，であったとすれば、図のように接続線１９で入力
ピン１７と出力ピン１８を結線する。よって入力信号
は、端子Ａ→入力端子，端子Ｂ→入力端子，端子Ｃ
→入力端子，端子Ｄ→入力端子，端子Ｅ→入力端子
へと印加される。尚、共にボード１１に実装される同
一機能のデバイス１３の各同じ番号の入力端子へは同一
の入力信号が印加されるよう配線されている。次に、入
力端子の場所がデバイス１３と違うデバイス１３Ａ，１
３Ａを実装したとすれば（このデバイス１３Ａ，１３Ａ
では（ ）内の○印の番号が入力端子であるとす
る。）、が入力端子なので、この入力端子に端子Ｄ
の入力信号を印加したいとすると、入力端子への接続
線１９が点鎖線（１９ａ）に示すように入力端子へ結
線された治具を用いればよい。（図５に対応する）。し
たがって１種類のボードだけを使用して、接続線１９の
結線を変えるだけで、同一形状のデバイスであれば、入
力端子の位置が違うものでも試験することができる。す
なわち、何種類ものボードを作成したり、使用しなくて
もよくなる。尚、Ｖは電源端子、Ｇはグランド端子であ
り、デバイスの端子３が電源入力端子であるならばこれ
とＶ端子が接続されるよう結線される。デバイスの端子
６がグランド端子ならＧ端子と結線される。

【００１６】図３において１は加速試験装置、２０はド
ライバー回路、２０ａ，２０ｂ…２０ｅはデバイス１３
を動作させるために信号を与えるドライバーである。

【００１７】図４は、図１のスクランブルソケット１６
にそう入するピンスクランブル用治具の未結線の概略図
である。どちらか一方側に配列されたピン（ここでは被
試験用デバイス側１８）の数はパッケージの入出力ビン
数と同じあるいは全ピン数と同じである。

【００１８】加速試験装置１のドライバー２０から試験
用ボード１１の接続端子配線１４，ピンスクランブル用
治具１５の結線１９を経て被試験用デバイス１３の入力
端子（図１，図２ではNo. ，，，，）に信号
が伝えられ、デバイス１３が動作する。

【００１９】異なるピン仕様のデバイス１３Ａを試験す
る場合は図５に示すように、治具１５の接続線１９を結
線変更してそのデバイス１３Ａの入力端子仕様に合った
結線がされた治具１５をソケット１６に装着するだけで
よい。

【００２０】実施例２．なお、上記実施例ではピンスク
ランブル用治具１５のドライバー側ピン１７と被試験用
デバイス側のピン１８が１対１で対応し結線されていた
が同じタイミング波形の仕様の入力ピンのデバイス１３
Ｂであれば同一のドライバーから信号を受けとればよい
から、図６に示すように同じ仕様のピンのみを集めて結
線したピンスクランブル用治具１５をボードのソケット
１６に装着すればよい。

【００２１】実施例３．上記実施例では、デバイスのパ
ッケージピン数が少ない場合を示したが、パッケージピ
ン数が多いデバイス１３Ｃの場合でも、図７に示すよう
に複数個のピンスクランブルソケット１６を試験ボード
１１上に配置して、パッケージのピン数に合わせればよ
い。

【００２２】実施例４．また図８に示すように、ピンス
クランブルソケット１６を２段以上設置しドライバー側
からの信号を初段のピンスクランブル１６ａで同一タイ
ミング波形の信号を次段のピンスクランブル１６ｂ，１
６ｃに振り分けてデバイス１３Ｄに供給するようにすれ
ば、試験ボードの接続端子１４の数が少なくてすむ。

【００２３】実施例５．また入力信号だけでなく電源，
接地に対しても、治具の結線を変えることで、パッケー
ジの任意のピンに供給できることは言うまでもない。

【００２４】

【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、ボード
の接続端子にそれぞれ接続される複数本の入力ピンと、
上記入力端子にそれぞれ接続される複数本の出力ピン
と、これらピンを支持する支持部材と、上記入，出力ピ
ン間を選択的に接続する接続線とから成る治具を、上記
試験用ボードに着脱自在に設けたので、入出力ピン仕様
の異なるデバイスであっても、１種類のボードで試験が
でき、試験コストを安くできる。

【００２５】また、上記治具を、試験用ボードに設けら
れたソケットを介して試験用ボードに実装するようにし
たので、試験時にはデバイス毎のピン仕様に合った結線
をした上記治具を何種類か用意しておけば、デバイスの
変更により治具を交換するだけでよい。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明による試験ボードを示す図である。

【図２】試験ボードの配線を示す図である。

【図３】この発明による試験回路概略図である。

【図４】この発明による試験ボードに使用する配線スク
ランブル治具の概略図である。

【図５】パッケージピン仕様が異なった場合の試験ボー
ド平面図である。

【図６】この発明による他の実施例を示す試験用ボード
平面図である。

【図７】この発明による他の実施例を示す試験用ボード
平面図である。

【図８】この発明による他の実施例を示す試験用ボード
平面図である。

【図９】従来の試験回路概略図である。

【図１０】従来の試験用ボード平面図である。

【図１１】従来の試験ボードの配線を示す図である。

【符号の説明】

１１ 試験用ボード １３，１３Ａ〜１３Ｄ 被試験用デバイス １５ 治具 １６ ソケット １７ 入力ピン １８ 出力ピン １９ 接続線

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の入力端子を有する被試験用デバイ
   スが実装され、さらに外部の信号印加手段からの信号が
   それぞれ供給される複数の接続端子が設けられる試験用
   ボードを具備し、上記接続端子を上記入力端子の特定の
   ものに接続して上記被試験用デバイスに信号を供給し、
   デバイスの出力状態を試験するようにした試験装置にお
   いて、上記接続端子にそれぞれ接続される複数本の入力
   ピンと、上記入力端子にそれぞれ接続される複数本の出
   力ピンと、これらピンを支持する支持部材と、上記入，
   出力ピン間を選択的に接続する接続線とから成る治具
   を、上記試験用ボードに着脱自在に設けたことを特徴と
   する試験装置。
2. 【請求項２】 上記治具は、試験用ボードに設けられた
   ソケットを介して試験用ボードに実装されることを特徴
   とする請求項第１項記載の試験装置。