JPWO2021075254A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7147990B2 (ja) * 2019-07-29 2022-10-05 株式会社島津製作所 イオン化装置
CN121367112A (zh) * 2025-12-23 2026-01-20 联影越质科学仪器(武汉)有限公司 检测设备的参数调整方法、装置、设备、介质和程序产品

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7846152B2 (en) * 2004-03-24 2010-12-07 Amo Manufacturing Usa, Llc. Calibrating laser beam position and shape using an image capture device
JP4775821B2 (ja) * 2005-08-12 2011-09-21 株式会社島津製作所 質量分析装置
WO2007097023A1 (ja) 2006-02-27 2007-08-30 Shimadzu Corporation 質量分析装置
JP2007257851A (ja) * 2006-03-20 2007-10-04 Shimadzu Corp 質量分析装置
JP5359924B2 (ja) * 2010-02-18 2013-12-04 株式会社島津製作所 質量分析装置
JP5502717B2 (ja) * 2010-12-20 2014-05-28 株式会社東芝 重粒子線治療用重粒子イオン発生装置
US9673029B2 (en) 2013-03-15 2017-06-06 Micromass Uk Limited Automated tuning for MALDI ion imaging
EP2815838B1 (en) 2013-04-26 2016-09-28 Mitsubishi Electric Corporation Curvature control device and laser processing machine
CN103499335B (zh) * 2013-09-10 2015-06-10 紫光股份有限公司 一种三维测距方法及其装置
CN104765128B (zh) * 2015-04-21 2017-01-11 长春理工大学 机载激光通信系统环境离焦自适应补偿方法
AU2017207276A1 (en) * 2016-01-11 2018-07-26 Elemental Scientific Lasers, Llc Simultaneous pattern-scan placement during sample processing
CN109073593B (zh) 2016-04-18 2021-06-18 株式会社岛津制作所 质谱分析装置
CN109642889B (zh) 2016-08-24 2021-08-10 株式会社岛津制作所 成像质谱分析装置
CN109961438A (zh) * 2019-04-08 2019-07-02 武汉华工激光工程有限责任公司 一种光斑图像分析方法及装置
CN110132150A (zh) * 2019-05-10 2019-08-16 公安部第三研究所 可见光源光斑尺寸测试的系统及其方法

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