JPWO2021003292A5 - - Google Patents

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JPWO2021003292A5
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Claims (22)

  1. ウエハヒータアセンブリであって、
    窒化物を含むヒータ基板であって、その中に埋め込まれた少なくとも1つの加熱要素を含み、第1表面を有するヒータ基板、および、
    ヒータ基板の第1表面に関連する非多孔質性最外層であって、ケービアイト結晶構造を有する希土類(RE)ジシリケート(RESi)を含み、REはYbおよびYの1つであり、第1表面とは反対側の露出表面を含み、露出表面は加熱のためにウエハに接触するように構成された非多孔質性最外層、を含むウエハヒータアセンブリ。
  2. 非多孔質性最外層の希土類ジシリケートは、イッテルビウムジシリケート(YbSi)を含む請求項1に記載のウエハヒータアセンブリ。
  3. 非多孔質性最外層の少なくとも50体積%は、ケービアイト結晶構造を有する希土類ジシリケートを含む、または非多孔質性最外層の少なくとも95体積%は、ケービアイト結晶構造を有する希土類ジシリケートを含む請求項1に記載のウエハヒータアセンブリ。
  4. 最外層のX線回折は、ケービアイト020強度の95%未満のケービアイト001ピーク強度を示す請求項1に記載のウエハヒータアセンブリ。
  5. ヒータ基板と非多孔質性最外層との間に位置する界面であって、5体積%以下の空隙率を含む界面をさらに含む請求項1に記載のウエハヒータアセンブリ。
  6. ヒータ基板は、少なくとも10体積%のβ-窒化ケイ素(β-Si)、または少なくとも50体積%のβ-窒化ケイ素(β-Si)、または少なくとも90体積%のβ-窒化ケイ素(β-Si)を含む請求項1に記載のウエハヒータアセンブリ。
  7. ヒータ基板のX線回折スペクトルは、β-窒化ケイ素(β-Si)200ピーク強度の95%未満であるβ-窒化ケイ素(β-Si)101ピーク強度を示す請求項1に記載のウエハヒータアセンブリ。
  8. 非多孔質性最外層の平均粒径は、0.1μm(マイクロメートル)から100μm(マイクロメートル)、または非多孔質性最外層の平均粒径は、0.1μm(マイクロメートル)から10μm(マイクロメートル)である請求項1に記載のウエハヒータアセンブリ。
  9. 最外層の厚さは、0.5mmから10mmである請求項8に記載のウエハヒータアセンブリ。
  10. ヒータ基板の平均粒径は、0.05μm(マイクロメートル)から5μm(マイクロメートル)である請求項1に記載のウエハヒータアセンブリ。
  11. ヒータ基板の厚さは、少なくとも5mmである請求項10に記載のウエハヒータアセンブリ。
  12. ヒータ基板の窒化物は、窒化ケイ素、窒化アルミニウム、およびそれらの組み合わせからなる群から選択される請求項1に記載のウエハヒータアセンブリ。
  13. ヒータ基板は、熱膨張係数調整剤を含む請求項1に記載のウエハヒータアセンブリ。
  14. ウエハヒータアセンブリを形成する方法であって、
    少なくとも1つの添加物と、窒化ケイ素、窒化アルミニウム、およびそれらの組み合わせからなる群から選択される窒化物とを含む第1層材料を準備する工程;
    第1層材料を少なくとも1つの加熱要素に適用し、それによってプレラミネートを形成する工程であって、ドライプレス、冷間静水圧プレス、ロール成形、またはテープキャスティングに続くラミネート、およびこれらの組み合わせを含む工程;および、
    1500℃から1900℃の温度でプレラミネートを焼結する工程;を含むウエハヒータアセンブリを形成する方法。
  15. 少なくとも1つの添加物は、希土類酸化物、アルカリ土類酸化物、アルミナ、シリカ、リチウム化合物、フッ素化合物、炭化ケイ素、窒化ホウ素、耐火金属、または耐火金属化合物からなる群から選択される請求項14に記載の方法。
  16. 第1層材料は、60から99モル%の窒化物を含む請求項14に記載の方法。
  17. 窒化物は、少なくとも窒化ケイ素を含み、窒化ケイ素は、85から100重量%のα相窒化ケイ素と、1重量%以下の不可避不純物を含み、残部がβ相窒化ケイ素である請求項16に記載の方法。
  18. 第1層材料は、1~10モル%の希土類酸化物を含み、希土類酸化物は、セリウム(Ce)、ジスプロシウム(Dy)、エルビウム(Er)、ユーロピウム(Eu)、ガドリニウム(Gd)、ホルミウム(Ho)、ランタン(La)、ルテチウム(Lu)、ネオジム(Nd)、プラセオジム(Pr)、プロメチウム(Pm)、サマリウム(Sm)、スカンジウム(Sc)、テルビウム(Tb)、ツリウム(Tm)、イッテルビウム(Yb)、イットリウム(Y)、およびそれらの組み合わせの酸化物である請求項16に記載の方法。
  19. 第1層材料は、0モル%より大きく20モル%までのシリカを含む請求項18に記載の方法。
  20. 第1層材料は、1から30重量%の有機材料を含む請求項19に記載の方法。
  21. 第1層材料は、0.5から15体積%の熱膨張係数調整剤を含む請求項19に記載の方法。
  22. さらに、焼結工程の前に、150℃から650℃の温度でプレラミネートを熱処理する工程を含む請求項14に記載の方法。
JP2021577977A 2019-07-01 2020-07-01 腐食保護層を有するマルチゾーンシリコン窒化物ウエハヒータアセンブリ、並びにその製造方法および使用方法 Pending JP2022538888A (ja)

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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220415694A1 (en) * 2021-06-29 2022-12-29 Asm Ip Holding B.V. Electrostatic chuck, assembly including the electrostatic chuck, and method of controlling temperature of the electrostatic chuck

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3488373B2 (ja) * 1997-11-28 2004-01-19 京セラ株式会社 耐食性部材
JPH11260534A (ja) * 1998-01-09 1999-09-24 Ngk Insulators Ltd 加熱装置およびその製造方法
JP2000173749A (ja) * 1998-12-03 2000-06-23 Ngk Spark Plug Co Ltd セラミックヒータ用発熱抵抗体及びセラミックヒータ並びにセラミックヒータの製造方法
US6423949B1 (en) * 1999-05-19 2002-07-23 Applied Materials, Inc. Multi-zone resistive heater
US6645649B2 (en) * 2000-10-31 2003-11-11 Kyocera Corporation Surface-coated sintered body of silicon nitride
US6682821B2 (en) * 2001-12-28 2004-01-27 Kyocera Corporation Corrosion-resistant ceramics
US9945036B2 (en) * 2011-03-22 2018-04-17 General Electric Company Hot corrosion-resistant coatings and components protected therewith
US10094236B2 (en) * 2013-03-15 2018-10-09 General Electric Company Recession resistant ceramic matrix composites and environmental barrier coatings
US9890089B2 (en) * 2014-03-11 2018-02-13 General Electric Company Compositions and methods for thermal spraying a hermetic rare earth environmental barrier coating
EP3377318A1 (en) * 2015-11-16 2018-09-26 Coorstek Inc. Corrosion-resistant components and methods of making
KR102384436B1 (ko) * 2016-11-16 2022-04-12 쿠어스 테크, 인코포레이티드 내부식성 부품 및 제조 방법

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