JPWO2020090508A1 - 自動分析装置 - Google Patents

Abstract

サンプル分注システムの配管内部の流体温度を安定させることにより、安定して高精度な分注性能を維持する。サンプルプローブ２０を用いてサンプル分注位置にあるサンプルを分注するサンプル分注システムと、サンプル分注システムを制御する装置制御部２６とを有する自動分析装置において、装置制御部は、サンプルがサンプル分注位置に運ばれてくるまでの待機状態においては第１動作シーケンス４０により、サンプル分注位置にあるサンプルを分注する分析状態においては第２動作シーケンス３０により、サンプル分注システムを動作させ、第１動作シーケンスの１サイクルにおいてサンプルプローブの内部洗浄を行う時間は、第２動作シーケンスの１サイクルにおいてサンプルプローブの内部洗浄を行う時間よりも短く設定されている、または第１動作シーケンスは、複数サイクルに１回の割合でサンプルプローブの内部洗浄を行うよう設定されている。

Description

本発明はサンプル分注システムを備える自動分析装置に関する。

臨床検査用の自動分析装置は、分析に使用する被検試料（以下、サンプルという）がサンプル搬送機構によりサンプル分注位置に搬送された後、装置が備えるサンプル分注システムにより吸引し、分析部に吐出することにより、サンプルの分析を行う。

サンプル分注システムでは、あるサンプルを分注した後、異なるサンプルを吸引する場合にはサンプル間のコンタミネーションを防ぐため、サンプルプローブの内部洗浄（以下、内洗ともいう）を行う。内洗時には、サンプル分注システムの配管に接続されている高圧ポンプを利用して配管内部にイオン交換水を注入し、排出する。このようにサンプルプローブの内部洗浄を行うと、配管内部の流体の一部または全部が入れ替えられるため、配管内部の流体温度が不安定になる。具体的には、注入する流体（イオン交換水）の温度とサンプル分注システム周辺の温度との間に温度差がある場合、配管内部の流体温度が安定するまでに一定の時間を必要とする。

サンプル分注性能を向上するには、サンプル分注システムの配管内部の流体温度が安定していることが重要である。配管内部の流体の体積は流体温度に依存しており、温度が上昇すると体積は膨張し、逆に温度が下がると体積は収縮する。もしサンプル分注動作中に流体温度が変化すると配管内部の流体に体積変化が生じ、分注性能に悪影響を及ぼすことになる。特に、サンプル吐出量が小さい場合には、その影響は無視できないものとなる。特許文献１ではこの温度変化による悪影響を緩和するため、サンプルプローブの内部洗浄動作終了から配管内部の流体温度が安定するまでの時間帯について、サンプル分注動作を制限する技術が開示されている。

特開２０１２−１５００２３号公報

特許文献１の技術では、流体温度が不安定な時間帯のサンプル分注動作を制限することにより、分析動作が停滞し、自動分析装置の処理能力の低下につながるおそれがある。

本発明は、サンプル分注システムの配管内部の流体温度を安定させることにより、自動分析装置への分析依頼状況や検体吐出量の設定などに応じてサンプル分注動作に制限をかけることなく、安定して高精度な分注性能を維持することのできる自動分析装置を提供することを目的とする。

サンプルプローブを用いてサンプル分注位置にあるサンプルを分注するサンプル分注システムと、サンプル分注システムを制御する装置制御部とを有する自動分析装置において、装置制御部は、サンプルがサンプル分注位置に運ばれてくるまでの待機状態においては第１動作シーケンスにより、サンプル分注位置にあるサンプルを分注する分析状態においては第２動作シーケンスにより、サンプル分注システムを動作させ、第１動作シーケンスの１サイクルにおいてサンプルプローブの内部洗浄を行う時間は、第２動作シーケンスの１サイクルにおいてサンプルプローブの内部洗浄を行う時間よりも短く設定されている、または第１動作シーケンスは、複数サイクルに１回の割合でサンプルプローブの内部洗浄を行うよう設定されている。

本発明によれば、待機状態での配管内流体の平衡温度を、分析状態での配管内流体の平衡温度に近づけることによりサンプル分注動作中の流体温度の変化量を低減でき、安定して高精度な分注性能を維持することができる。

その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。

自動分析装置の概略構成図である。 サンプル分注システムの構成例である。 内洗動作による配管内流体の温度変化を表す模式図である。 内洗動作による配管内流体の温度変化を表す模式図である。 内洗動作による配管内流体の温度変化を表す模式図である。 内洗動作による配管内流体の温度変化を表す模式図である。 待機状態で内洗を実施しない場合の配管内流体の温度変化を表す模式図である。 待機状態と分析状態のそれぞれにおける１サイクル中の動作を表す図である。 待機状態の内洗時間の違いによる温度変化を表す模式図である。 待機状態の内洗頻度の違いによる温度変化を表す模式図である。 待機状態の各内洗頻度に応じた平衡温度を表す模式図である。 待機状態の内洗動作のタイミングと分注動作中の温度変化量を表す模式図である。 待機状態の内洗動作を１サイクル中に複数回実施する場合の内洗動作のタイミングと温度変化量を表す模式図である。

以下、本発明の実施形態を、添付図面を参照して説明する。なお、以下に説明する実施例は本発明の実施の形態の一つであり、この形態に限定されるものではない。

図１に自動分析装置の概略構成図を示す。自動分析装置はサンプルと試薬とを反応させる反応容器１を環状に配列した反応ディスク２と、各種試薬を収納する試薬ボトル３を架設した試薬保冷庫４と、サンプルを収納するサンプルカップ５と、サンプルカップ５を収容するサンプルラック６と、サンプルラック６をサンプル分注位置まで搬送するサンプル搬送機構７とを備え、サンプルはサンプル分注機構８で吸引され、反応ディスク２上の反応容器１に分注される。サンプル分注機構の分注後、サンプルプローブ洗浄槽９でサンプルプローブの洗浄が行われる。

試薬は第１試薬分注機構１０または第２試薬分注機構１２により試薬ボトル３から吸引され、サンプルが既に分注された反応容器１にそれぞれ分注される。サンプルと試薬との混合液は撹拌機構１６，１７で撹拌される。反応容器１内の反応液の吸光度を反応ディスク外周に設置した分光光度計１４で測定し、さらに測定データを元に装置制御部２６（図２参照）が検査結果を算出してオペレータに報告する。分析が終了した反応容器１は反応容器洗浄機構１５により洗浄され、再利用される。

図２にサンプル分注システムの構成例を示す。サンプル分注機構８は、サンプルの吸引および吐出を行うサンプルプローブ２０と、それを支持するサンプリングアーム２１を備え、サンプルプローブ２０はサンプルカップ５と反応容器１との間を往復しながら分注を実施する。サンプルプローブ２０は配管２２を介してシリンジポンプ２３と接続されており、配管内部にはイオン交換水が充填されている。なお、シリンジポンプ２３は流体の体積変化を制御する機能を持ち、配管内部のイオン交換水を駆動してサンプルプローブ２０からサンプルの吸引および吐出を行う。

このとき、あるサンプルを分注した後に別の異なるサンプルを吸引する場合には、サンプル間のコンタミネーションを回避するためにサンプルプローブ２０の内洗を実施する。これに対して、同じサンプルを続けて分注する場合には内洗は実施されない。配管２２には高圧ポンプ２４が接続されており、サンプルプローブ２０の内洗を行う際には電磁弁２５を開放し、高圧ポンプ２４からイオン交換水を配管内部に注入する。注入されたイオン交換水はサンプルプローブ２０内部を洗浄し、サンプルプローブ洗浄槽９にて排出される。これらの動作は自動分析装置の装置制御部２６で制御される。

一般的に自動分析装置においては、１つの測定対象サンプルに対して複数の項目を測定する場合がほとんどである。すなわち、１つのサンプルから依頼された項目数分の分注動作を実施している間は内洗が実施されず、次の（異なる）サンプルを分注する前に内洗動作が実行されるため、サンプルプローブの内洗動作は、複数サイクルに１回の頻度で実行されることになる。

図３は内洗動作が実施された場合におけるサンプル分注システムの配管内流体の温度変化の模式図である。内洗動作前（時刻Ｔ１以前）の配管内部の流体温度が配管周辺の環境温度Ａと等しい状態を考える。内洗動作中（時刻Ｔ１〜Ｔ２）では配管内部に高圧ポンプ２４から温度Ａ_２のイオン交換水が注入されることにより、配管内部の流体温度は温度Ａ_１まで低下する。内洗動作終了後（時刻Ｔ２以降）、配管内流体の温度は配管周辺からの熱影響を受け徐々に上昇し、時刻Ｔ３には再び配管周辺の環境温度に達して安定する。

しかしながら、配管内流体の温度が配管周辺の環境温度に一致するために必要な時間（Ｔ２〜Ｔ３）は長く、内洗動作が実施される時間間隔のほうが短いことが常であるため、実際には図３のような温度変化にはならない。流体温度が周辺環境温度まで上昇する前に次の内洗動作が実施されることにより、配管周辺の環境温度Ａにまで至らない。

配管内流体の温度について、内洗による温度下降分をＴ_ｄｏｗｎとし、内洗後次の内洗が実施されるまでの時間経過による温度上昇分をＴ_ｕｐとする。配管内流体の温度変化はＴ_ｄｏｗｎとＴ_ｕｐの大小関係により異なる挙動を示す。図４に示すＴ_ｕｐ＜Ｔ_ｄｏｗｎの場合には、配管内流体の平均温度は徐々に下降する。逆に、図５に示すような配管内の温度が予め低く、短時間であっても配管内温度が急激に増加するような状態や、測定項目数が多く次の内洗時間までの間隔が長い状態ではＴ_ｕｐ＞Ｔ_ｄｏｗｎの関係となり、配管内流体の平均温度は徐々に上昇していく。そして、図６に示すようにＴ_ｕｐ＝Ｔ_ｄｏｗｎの状態となったとき、配管内流体の平均温度は一定値を示すようになる。本明細書では、これを平衡温度と定義する。

自動分析装置では、基準となる１サイクルの動作を繰り返し行うことで分析を実施する。分析実施時におけるサンプル分注システムの状態は、測定対象のサンプルがサンプル分注位置まで運ばれてくるまでの待機状態と、サンプル分注位置にあるサンプルを分注する分析状態とに大別され、待機状態の後に分析状態に移行する。

待機状態において内洗動作を実施しないとすると、長時間内洗が実施されないことにより、図３で示したような配管内流体の温度が周辺環境温度に一致する状況が生じうる。図７に、待機状態で内洗動作を実施しない場合において、待機状態から分析状態へ移行する時の配管内流体の温度変化（模式図）を示す。待機状態では配管内流体の温度は周辺環境温度に一致しているので、１検体目の分注動作では温度変化はなく、良好な結果が得られる。しかし、２検体目の分注を実行する前にキャリーオーバー回避のため内洗動作が実施されると、新たに配管内に注入されたイオン交換水は周囲の高温状態に反応し、急速に温度が上昇するため、２検体目の分注動作中の温度変化量は他の分注動作時と比べて相対的に大きくなり、結果として分析性能が悪化する。したがって、待機状態であっても内洗動作を実施し、待機状態における配管内流体の平衡温度を分析状態における平衡温度にできる限り近づけることで、待機状態から分析状態に移行した場合の温度変化の影響を小さくする必要がある。

ところで、先述のように自動分析装置は、基準となる１サイクルの動作を繰り返し行うことが基本であるが、分析状態では通常１つのサンプルに対し複数の項目の測定を実施するため、測定項目数に応じた回数だけ１つのサンプルから分注動作を実施する、すなわち内洗動作が実施されるのは複数サイクルに１回のみである。このため、待機状態において毎サイクル、分析状態と同じ内洗動作を実施してしまうと、待機状態における平衡温度と分析状態における平衡温度との間に差が生じ、待機状態から分析状態に移行したあとの最初の分注動作における温度変化が顕著になる。そのため、この待機状態と分析状態との平衡温度の差を可能な限り減らすことが求められる。そこで、装置制御部は、待機状態においてサンプル分注システムを動作させる動作シーケンスと分析状態においてサンプル分注システムを動作させる動作シーケンスとにおいて、その両者における内洗動作を異ならせる。

図８に、本実施例における分析状態と待機状態それぞれにおける動作シーケンスの１サイクルでの概略図を示す。この例では、待機状態の動作シーケンス４０における内洗時間ｔｂを、分析状態の動作シーケンス３０における内洗時間ｔａよりも短く設定する（ｔｂ＜ｔａ）。待機状態と分析状態との動作シーケンスの１サイクルの時間はどちらも同じである。分析状態では１サイクルの中で分注動作３１および内洗動作３２が実施されるが、待機状態では分注動作は実施されず、内洗動作４２のみ実施される。内洗動作４２以外の待機動作４１，４３ではサンプル分注システムの各機構は停止している。また、分析状態の動作シーケンス３０の分注動作３１は、具体的にはサンプリングアーム２１の吸引位置への移動動作３３、サンプルプローブ２０の吸引動作３４、サンプリングアーム２１の吐出位置への移動動作３５、サンプルプローブ２０の吐出動作３６、サンプリングアーム２１の洗浄位置への移動動作３７を含んでいる。この例では、サイクルの開始から内洗動作が実施されるまでの時間ｔｃは、待機状態と分析状態とで同じとされている。

図９に待機状態での内洗時間ｔｂが異なる場合における分析実行時の配管内流体の温度変化（概略図）を示す。図９においては、待機状態の内洗時間ｔｂ（ｔ２）が分析状態の内洗時間ｔａ（ｔ１）と同じ場合の温度変化５１と待機状態の内洗時間ｔｂ（ｔ３）が分析状態の内洗時間ｔａ（ｔ１）よりも短い場合の温度変化５２とをあわせて示している。待機状態の内洗時間ｔｂ（ｔ２）が分析状態の内洗時間ｔａ（ｔ１）と同じに設定する場合、両状態の平衡温度差（Ｂ−Ｄ）が大きいことから、分析状態に移行した最初の測定における分注動作中の温度変化が大きくなる。一方、待機状態の内洗時間ｔｂ（ｔ３）が分析状態の内洗時間（ｔ１）よりも短く設定する場合、内洗時間（ｔ２）のときと比較して、待機状態での平衡温度が上昇するため、分析状態との平衡温度差（Ｂ−Ｃ）が小さくなる。これによって分析状態に移行した最初の測定における分注動作中の温度変化をより低減することができるため、測定結果の安定化が図られる。ただし、内洗時間ｔｂが極端に短いと、先述したとおり待機状態における平衡温度が周辺環境温度Ａに一致し、実質的に内洗動作を実行していない状況になる可能性がある。このため、内洗時間は待機状態と分析状態の平衡温度を近づける効果のある範囲で設定する必要がある。分析状態の平衡温度を決定する分析の依頼のされ方（１サンプルあたりの分注回数、分析状態での内洗頻度）を事前に知ることができないため、一意に最適な内洗時間を決定できるわけではないが、内洗時間ｔｂを短くすることにつれ対数的に待機状態の平衡温度は、周辺環境温度Ａに漸近するため、待機状態での内洗時間ｔｂを分析状態での内洗時間ｔａの５０％として設定すれば、実質的な内洗不実施状態を回避しつつ、十分に待機状態の平衡温度を分析状態の平衡温度に近づける目的を達成できる。

すなわち、待機状態の平均温度を分析状態の平衡温度に近づけられればよいので、待機状態での内洗時間ｔｂを分析状態の内洗時間ｔａよりも一定程度短く設定することで効果は得られる。例えば、内洗時間ｔａの８０％としてもよい。一方、待機状態での内洗時間ｔｂが分析状態の内洗時間ｔａの０％であると内洗を行わないことに相当し、待機状態での内洗時間ｔｂをこのように極端に短く設定した場合にも効果が失われる。したがって、待機状態の内洗時間ｔｂは分析状態の内洗時間ｔａの２０％以上８０％以下の範囲とすることが望ましい。

また、分析状態の平衡温度は装置を使用する施設の運用状況に依存するため一義的には決まらない。様々な施設の運用状況においても適度な効果が得られるように内洗時間を設定するという観点からは、先に述べたように待機状態での内洗時間ｔｂを分析状態の内洗時間ｔａの５０％またはその近傍とすることが望ましい。例えば、待機状態の内洗時間ｔｂを分析状態の内洗時間ｔａの４０％以上６０％以下の範囲に設定する。

また別の実施の形態として、待機状態での内洗頻度を変更してもよい。図１０に、待機状態の内洗頻度を異ならせた場合の温度変化（概略図）を示す。図１０においては例として、待機状態において１サイクルに１回内洗を実施した場合の温度変化５１と、２サイクルに１回内洗を実施した場合の温度変化５３をあわせて示している。なお、この例では、待機状態と分析状態で内洗時間は同じ（ｔ１）とする。図１０に示されるように、内洗頻度を減らすことで、待機状態の平衡温度は高くなるため、この場合も図９で示した場合と同様に、待機状態と分析状態の平衡温度差（Ｂ−Ｅ）を小さくできる。なお、図１０においては２サイクルに１回の内洗の場合を示したが、３サイクルに１回、４サイクルに１回など、２サイクル以上に１回の内洗頻度であってもよい。ただし、内洗頻度の決定は内洗時間の決定と同様に、待機状態と分析状態の平衡温度を近づけることを目的とするものであるが、分析の依頼のされ方（１サンプルあたりの分注回数、即ち分析状態での内洗頻度）を事前に知ることができないため、一意に最適値を決定できるわけではない。このため、内洗時間の決定同様に、実質的に内洗していない状況となるほど、内洗頻度を低下させてはいけない。

待機状態での内洗時間あるいは内洗頻度を決定するための手法の一つとして、自動分析装置で実際に測定された結果を統計処理することにより、分析状態での配管内流体の平均的な平衡温度を求め、待機状態の最適な内洗頻度あるいは内洗時間を決定することができる。図１１に待機状態の内洗頻度の違いによる平衡温度の違い（概略図）を示す。なお、この例では、内洗時間は待機状態と分析状態とで同じにしている。図１１に示されるように、内洗頻度が少ないほど、平衡温度は高くなり、周辺環境温度に近づく。そこで、図１１に示されるような、待機状態における内洗頻度ごとの平衡温度のデータを予め装置に登録しておく。自動分析装置で実際に測定した分析状態での配管内流体の温度を統計処理することにより、分析状態の配管内流体の平均的な平衡温度を推定した後、予め用意した待機状態での内洗頻度と平衡温度との関係を登録したデータベースを参照し、分析状態と待機状態の平衡温度差を最も小さくするように待機状態の内洗頻度を決定することで、装置全体としての最適な待機状態での内洗頻度を決定することができる。なお、図１１では内洗頻度が異なる場合の平衡温度を示したが、内洗時間が異なる場合も図１１と同様に、内洗時間が短くなればなるほど平衡温度が周辺環境温度に近づく関係となり、装置内に予め待機状態での内洗時間と平衡温度との関係を登録したデータベースを記憶しておくことは可能であるため、同じ手法を適用できる。なお、内洗時間あるいは内洗頻度のいずれかを設定するに限られず、その双方を設定して分析状態と待機状態の平衡温度差を小さくするようにしてもよい。このとき、待機状態での内洗時間と内洗頻度との組み合わせと平衡温度との関係を登録したデータベースを予め記憶することにより、精度よく決定することが可能になる。

図８に示した動作シーケンスは、サイクルの開始から内洗動作が実施されるまでの時間ｔｃを待機状態と分析状態とで等しくしている例である。これに対して、待機状態の１サイクルにおける内洗動作の開始タイミングを早めるよう設定することで、待機状態から分析状態に移行して最初の分注動作中の温度変化量を小さくすることができる。図１２は、待機状態の１サイクルで内洗動作のタイミングが異なる２つの場合における動作シーケンスと、それぞれにおける温度変化（概略図）を示している。ＣａｓｅＡとＣａｓｅＢでは分析状態における動作シーケンスは同一であるが、待機状態における内洗動作を、ＣａｓｅＡではサイクル開始直後に実施し、ＣａｓｅＢではサイクル終了直前に実施するよう設定している。ＣａｓｅＡの温度変化は実線で示される温度変化６０であり、ＣａｓｅＢの温度変化は破線で示される温度変化６１である。図１２に示すように、ＣａｓｅＡにおける分注動作中の温度変化量αは、ＣａｓｅＢにおける分注動作中の温度変化量βよりも小さくなる。これは、待機状態のサイクルの最初に内洗を実施することにより、分注が実施されるまでの時間が確保されるため、分注動作時に温度変化が激しい領域を回避することができるためである。このように、待機状態のサイクルでの内洗開始タイミングを分析状態のサイクルでの内洗開始タイミングよりも早める、究極的には待機状態におけるサイクルの開始から内洗動作が実施されるまでの時間を０とすることで、続く分注動作中の温度変化量を最小とすることが可能になる。図１２では、待機状態の内洗時間を分析状態の内洗時間よりも短くする例について示しているが、待機状態の内洗頻度を複数回に１回とする場合においても同様の効果が得られる。

また、他の実施の形態として、図１３に示すように、待機状態の内洗動作を１サイクルの間で複数回実施するよう設定してもよい（ＣａｓｅＣ）。待機状態における内洗動作を複数回に分割する場合、１サイクル中の内洗動作の合計時間（ｔｂ１＋ｔｂ２＋ｔｂ３）が、分析状態における内洗時間ｔａを下回るように設定する。図１３では、（ｔｂ１＋ｔｂ２＋ｔｂ３）＝ｔｂ（ＣａｓｅＡの内洗時間）＜ｔａ（分析状態における内洗時間）とした例を示している。ＣａｓｅＡとＣａｓｅＣではどちらの内洗時間も同じであるため、平衡温度はどちらも同じＨになることが期待できるが、破線で示されるＣａｓｅＡの温度変化６０の振幅をδ、実線で示されるＣａｓｅＢの温度変化６２の振幅をγとすると、γ＜δとすることができる。このように、１サイクル中の内洗動作の合計時間（ｔｂ１＋ｔｂ２＋ｔｂ３）を適切に設定することにより、待機状態と分析状態の平衡温度を近づけることが可能となり、かつ内洗動作を１サイクルで分割して実施することにより、内洗動作によって生じる配管内流体の温度変化の振幅を小さくすることができ、結果として分析結果の安定性を確保できる。図１３では、待機状態の内洗時間の合計時間を分析状態の内洗時間よりも短くする例を説明したが、待機状態の内洗頻度を複数回に１回とする場合においても同様の効果が得られ、この場合は待機状態の内洗時間の合計時間を分析状態の内洗時間と同じまたは短く設定すればよい。

１：反応容器、２：反応ディスク、３：試薬ボトル、４：試薬保冷庫、５：サンプルカップ、６：サンプルラック、７：サンプル搬送機構、８：サンプル分注機構、９：サンプルプローブ洗浄槽、１０：第１試薬分注機構、１１：第１試薬プローブ洗浄槽、１２：第２試薬分注機構、１３：第２試薬プローブ洗浄槽、１４：分光光度計、１５：反応容器洗浄機構、１６，１７：撹拌機構、１８，１９：撹拌機構用洗浄槽、２０：サンプルプローブ、２１：サンプリングアーム、２２：配管、２３：シリンジポンプ、２４：高圧ポンプ、２５：電磁弁、２６：装置制御部、３０：分析状態の動作シーケンス、３１：分注動作、３２：内洗動作、３３，３５，３７：移動動作、３４：吸引動作、３６：吐出動作、４０：待機状態の動作シーケンス、４１，４３：待機動作、４２：内洗動作、５１，５２，５３，６０，６１，６２：温度変化。

Claims (13)

1. サンプルプローブを用いてサンプル分注位置にあるサンプルを分注するサンプル分注システムと、
   前記サンプル分注システムを制御する装置制御部とを有し、
   前記装置制御部は、サンプルが前記サンプル分注位置に運ばれてくるまでの待機状態においては第１動作シーケンスにより、前記サンプル分注位置にあるサンプルを分注する分析状態においては第２動作シーケンスにより、前記サンプル分注システムを動作させ、
   前記第１動作シーケンスの１サイクルにおいて前記サンプルプローブの内部洗浄を行う時間は、前記第２動作シーケンスの１サイクルにおいて前記サンプルプローブの内部洗浄を行う時間よりも短く設定されている自動分析装置。
2. 請求項１において、
   前記第１動作シーケンスの１サイクルにおいて前記サンプルプローブの内部洗浄を行う時間は、前記第２動作シーケンスの１サイクルにおいて前記サンプルプローブの内部洗浄を行う時間の２０％以上８０％以下に設定されている自動分析装置。
3. 請求項１において、
   前記第１動作シーケンスは、複数サイクルに１回の割合で前記サンプルプローブの内部洗浄を行うよう設定されている自動分析装置。
4. 請求項１において、
   前記装置制御部は、前記第１動作シーケンスの１サイクルにおいて前記サンプルプローブの内部洗浄を行う時間である内洗時間と前記内洗時間で前記サンプルプローブの内部洗浄を行った場合の前記サンプル分注システムの配管内流体の平衡温度との関係を登録したデータベースを予め記憶しており、
   前記装置制御部は、分析状態における前記サンプル分注システムの配管内流体の温度を実測して、分析状態における配管内流体の平均的な平衡温度を推定し、前記データベースを参照して前記第１動作シーケンスの１サイクルにおいて前記サンプルプローブの内部洗浄を行う時間を決定する自動分析装置。
5. 請求項１において、
   前記第１動作シーケンスの１サイクルの時間と前記第２動作シーケンスの１サイクルの時間とは等しく、
   前記第１動作シーケンスの１サイクルにおいて前記サンプルプローブの内部洗浄を開始するタイミングは、前記第２動作シーケンスの１サイクルにおいて前記サンプルプローブの内部洗浄を開始するタイミングよりも早いタイミングに設定されている自動分析装置。
6. 請求項５において、
   前記第１動作シーケンスは、１サイクルの開始直後に前記サンプルプローブの内部洗浄を行うよう設定されている自動分析装置。
7. 請求項１において、
   前記第１動作シーケンスは、１サイクルに複数回、前記サンプルプローブの内部洗浄を行うよう設定され、
   前記第１動作シーケンスの１サイクルにおいて複数回、前記サンプルプローブの内部洗浄を行う時間の合計時間は、前記第２動作シーケンスの１サイクルにおいて前記サンプルプローブの内部洗浄を行う時間よりも短く設定されている自動分析装置。
8. サンプルプローブを用いてサンプル分注位置にあるサンプルを分注するサンプル分注システムと、
   前記サンプル分注システムを制御する装置制御部とを有し、
   前記装置制御部は、サンプルが前記サンプル分注位置に運ばれてくるまでの待機状態においては第１動作シーケンスにより、前記サンプル分注位置にあるサンプルを分注する分析状態においては第２動作シーケンスにより、前記サンプル分注システムを動作させ、
   前記第１動作シーケンスは、複数サイクルに１回の割合で前記サンプルプローブの内部洗浄を行うよう設定されている自動分析装置。
9. 請求項８において、
   前記第１動作シーケンスの１サイクルにおいて前記サンプルプローブの内部洗浄を行う時間は、前記第２動作シーケンスの１サイクルにおいて前記サンプルプローブの内部洗浄を行う時間よりも短く設定されている自動分析装置。
10. 請求項８において、
    前記装置制御部は、前記第１動作シーケンスで前記サンプルプローブの内部洗浄を行う内洗頻度と前記内洗頻度で前記サンプルプローブの内部洗浄を行った場合の前記サンプル分注システムの配管内流体の平衡温度との関係を登録したデータベースを予め記憶しており、
    前記装置制御部は、分析状態における前記サンプル分注システムの配管内流体の温度を実測して、分析状態における配管内流体の平均的な平衡温度を推定し、前記データベースを参照して前記第１動作シーケンスで前記サンプルプローブの内部洗浄を行う頻度を決定する自動分析装置。
11. 請求項８において、
    前記第１動作シーケンスの１サイクルの時間と前記第２動作シーケンスの１サイクルの時間とは等しく、
    前記第１動作シーケンスの１サイクルにおいて前記サンプルプローブの内部洗浄を開始するタイミングは、前記第２動作シーケンスの１サイクルにおいて前記サンプルプローブの内部洗浄を開始するタイミングよりも早いタイミングに設定されている自動分析装置。
12. 請求項１１において、
    前記第１動作シーケンスは、１サイクルの開始直後に前記サンプルプローブの内部洗浄を行うよう設定されている自動分析装置。
13. 請求項８において、
    前記第１動作シーケンスは、１サイクルに複数回、前記サンプルプローブの内部洗浄を行うよう設定され、
    前記第１動作シーケンスの１サイクルにおいて複数回、前記サンプルプローブの内部洗浄を行う時間の合計時間は、前記第２動作シーケンスの１サイクルにおいて前記サンプルプローブの内部洗浄を行う時間と同じあるいは短く設定されている自動分析装置。

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