JPWO2019220259A5 - 記憶装置 - Google Patents
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- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims 3
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 2
Claims (5)
- メモリセルアレイと、
周辺回路と、を有し、
前記メモリセルアレイは、m×n個(m、nは1以上の整数)のメモリセルと、n本の第1配線と、
n本の第2配線と、m本の第3配線と、m本の第4配線と、を有し、
前記m×n個のメモリセルは、行列状に配置され、
前記メモリセルのそれぞれは、前記第1乃至第4配線と電気的に接続され、
前記メモリセルのそれぞれは、第1トランジスタおよび第2トランジスタを有し、
前記第1トランジスタのソースまたはドレインの一方は、前記第1配線と電気的に接続され、
前記第1トランジスタのソースまたはドレインの他方は、前記第2トランジスタのゲートと電気的に接続され、
前記第1トランジスタのゲートは、前記第3配線と電気的に接続され、
前記第2トランジスタのソースまたはドレインの一方は、前記第2配線と電気的に接続され、
前記第2トランジスタのソースまたはドレインの他方は、前記第4配線と電気的に接続され、
前記第1トランジスタおよび前記第2トランジスタは、nチャネル型トランジスタであり、
前記第1トランジスタおよび前記第2トランジスタは、チャネル形成領域に金属酸化物を有し、
前記周辺回路は、第1回路と、第2回路と、コントローラと、を有し、
前記第1回路は、前記第1配線および前記第2配線と電気的に接続され、
前記第1回路は、前記メモリセルにデータを書き込む機能、および、前記メモリセルからデータを読み出す機能を有し、
前記第2回路は、前記第3配線および前記第4配線と電気的に接続され、
前記第2回路は、前記第3配線および前記第4配線を駆動する機能を有し、
前記コントローラは、前記第1回路および前記第2回路を制御する機能を有し、
前記第1回路は、前記第1配線および前記第2配線に、第一電位または第二電位を供給し、
前記第2回路は、前記第4配線に、前記第一電位または前記第二電位を供給し、
前記第2回路は、前記第3配線に、前記第一電位または第三電位を供給する、記憶装置。 - メモリセルアレイと、
周辺回路と、を有し、
前記メモリセルアレイは、m×n個(m、nは1以上の整数)のメモリセルと、n本の第1配線と、
n本の第2配線と、m本の第3配線と、m本の第4配線と、を有し、
前記m×n個のメモリセルは、行列状に配置され、
前記メモリセルのそれぞれは、前記第1乃至第4配線と電気的に接続され、
前記メモリセルのそれぞれは、第1トランジスタおよび第2トランジスタを有し、
前記第1トランジスタのソースまたはドレインの一方は、前記第1配線と電気的に接続され、
前記第1トランジスタのソースまたはドレインの他方は、前記第2トランジスタのゲートと電気的に接続され、
前記第1トランジスタのゲートは、前記第3配線と電気的に接続され、
前記第2トランジスタのソースまたはドレインの一方は、前記第2配線と電気的に接続され、
前記第2トランジスタのソースまたはドレインの他方は、前記第4配線と電気的に接続され、
前記第1トランジスタおよび前記第2トランジスタは、nチャネル型トランジスタであり、
前記第1トランジスタおよび前記第2トランジスタは、チャネル形成領域に金属酸化物を有し、
前記周辺回路は、第1回路と、第2回路と、コントローラと、を有し、
前記第1回路は、前記第1配線および前記第2配線と電気的に接続され、
前記第1回路は、前記メモリセルにデータを書き込む機能、および、前記メモリセルからデータを読み出す機能を有し、
前記第2回路は、前記第3配線および前記第4配線と電気的に接続され、
前記第2回路は、前記第3配線および前記第4配線を駆動する機能を有し、
前記コントローラは、前記第1回路および前記第2回路を制御する機能を有し、
前記コントローラは、シリアル・ペリフェラル・インタフェースの機能を有し、
前記第1回路は、前記第1配線および前記第2配線に、第一電位または第二電位を供給し、
前記第2回路は、前記第4配線に、前記第一電位または前記第二電位を供給し、
前記第2回路は、前記第3配線に、前記第一電位または第三電位を供給する、記憶装置。 - メモリセルアレイと、
周辺回路と、を有し、
前記メモリセルアレイは、m×n個(m、nは1以上の整数)のメモリセルと、n本の第1配線と、
n本の第2配線と、m本の第3配線と、m本の第4配線と、を有し、
前記m×n個のメモリセルは、行列状に配置され、
前記メモリセルのそれぞれは、前記第1乃至第4配線と電気的に接続され、
前記メモリセルのそれぞれは、第1トランジスタおよび第2トランジスタを有し、
前記第1トランジスタのソースまたはドレインの一方は、前記第1配線と電気的に接続され、
前記第1トランジスタのソースまたはドレインの他方は、前記第2トランジスタのゲートと電気的に接続され、
前記第1トランジスタのゲートは、前記第3配線と電気的に接続され、
前記第2トランジスタのソースまたはドレインの一方は、前記第2配線と電気的に接続され、
前記第2トランジスタのソースまたはドレインの他方は、前記第4配線と電気的に接続され、
前記第1トランジスタおよび前記第2トランジスタは、nチャネル型トランジスタであり、
前記第1トランジスタおよび前記第2トランジスタは、チャネル形成領域に金属酸化物を有し、
前記周辺回路は、第1回路と、第2回路と、コントローラと、ページバッファと、を有し、
前記第1回路は、前記第1配線および前記第2配線と電気的に接続され、
前記ページバッファは、データを一時的に記憶する機能を有し、
前記コントローラは、前記ページバッファにデータを書き込む機能、および、前記ページバッファからデータを読み出す機能を有し、
前記第1回路は、前記ページバッファから読み出したデータを、前記メモリセルに書き込む機能、および、前記メモリセルから読み出したデータを、前記ページバッファに書き込む機能を有し、
前記第2回路は、前記第3配線および前記第4配線と電気的に接続され、
前記第2回路は、前記第3配線および前記第4配線を駆動する機能を有し、
前記コントローラは、前記第1回路および前記第2回路を制御する機能を有し、
前記コントローラは、シリアル・ペリフェラル・インタフェースの機能を有し、
前記第1回路は、前記第1配線および前記第2配線に、第一電位または第二電位を供給し、
前記第2回路は、前記第4配線に、前記第一電位または前記第二電位を供給し、
前記第2回路は、前記第3配線に、前記第一電位または第三電位を供給する、記憶装置。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか一項において、
前記メモリセルのそれぞれは、容量素子を有し、
前記容量素子の一方の電極は、前記第2トランジスタのゲートと電気的に接続され、
前記容量素子の他方の電極は、所定の電位が供給される配線と電気的に接続される、記憶装置。 - 請求項1乃至請求項4のいずれか一項において、
前記第1回路および前記第2回路は、半導体基板に形成されたトランジスタを有し、
前記第1トランジスタおよび前記第2トランジスタは、前記半導体基板の上方に積層して形成される、記憶装置。
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