JPWO2019207404A5 - - Google Patents
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Claims (5)
- 第1回路と、第2回路と、第3回路と、第1メモリセルと、第2メモリセルと、第3メモリセルと、
第1配線と、第2配線と、第3配線と、第4配線と、第5配線と、を有し、
前記第1回路は、前記第1配線を介して、前記第1メモリセルと、前記第2回路と、に電気的に接続され、
前記第1回路は、前記第4配線を介して、前記第2メモリセルに電気的に接続され、
前記第1回路は、前記第5配線を介して、前記第3メモリセルに電気的に接続され、
前記第2回路は、前記第3回路に電気的に接続され、
前記第3回路は、前記第2配線を介して、前記第1メモリセルと、前記第2メモリセルと、に電気的に接続され、
前記第3回路は、前記第3配線を介して、前記第1メモリセルと、前記第3メモリセルと、に電気的に接続され、
前記第3回路は、入力端子を有し、
前記第1乃至第3メモリセルのそれぞれは、保持ノードを有し、
前記第1メモリセルは、
前記第2配線の電位の変化に応じて、前記第1メモリセルの前記保持ノードの電位を変化させる機能と、
前記第3配線の電位の変化に応じて、前記第1メモリセルの前記保持ノードの電位を変化させる機能と、
前記第1メモリセルの前記保持ノードの電位に応じた電流を、前記第1メモリセルと前記第1配線との間に流す機能と、を有し、
前記第2メモリセルは、
前記第2配線の電位の変化に応じて、前記第2メモリセルの前記保持ノードの電位を変化させる機能と、
前記第2メモリセルの前記保持ノードの電位に応じた電流を、前記第2メモリセルと前記第4配線との間に流す機能を有し、
前記第3メモリセルは、
前記第3配線の電位の変化に応じて、前記第3メモリセルの前記保持ノードの電位を変化させる機能と、
前記第3メモリセルの前記保持ノードの電位に応じた電流を、前記第3メモリセルと前記第5配線との間に流す機能を有し、
前記第1回路は、前記第4配線に流れる電流と、前記第5配線に流れる電流と、に応じた電流を前記第1配線に供給する機能を有し、
前記第2回路は、前記第1配線と前記第2回路との間に流れる第1電流に応じた第1電位を生成して、前記第3回路に対して前記第1電位を出力する機能を有し、
前記第3回路の前記入力端子には、第2電位が入力され、
前記第3回路は、前記第1電位と、前記第2電位と、前記第2配線の電位と、が前記第3回路に入力されることによって、前記第3配線の電位を変化させる機能を有する半導体装置。 - 請求項1において、
前記第3回路は、積分回路を有し、
前記積分回路の出力端子は、前記第3配線に電気的に接続されている半導体装置。 - 請求項1、又は請求項2において、
前記第2回路は、コンパレータと、抵抗素子と、を有し、
前記コンパレータの反転入力端子、又は非反転入力端子の一方は、前記抵抗素子と、前記第1配線と、に電気的に接続され、
前記コンパレータの出力端子は、前記第3回路に電気的に接続されている半導体装置。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか一において、
前記第1メモリセルの前記保持ノードには、第1データに応じた電位が保持され、
前記第2配線の電位の変化量は、第2データに応じた電位差であり、
前記第1電流は、前記第1データと、前記第2データと、の積に応じた電流であり、
前記第2電位は、教師データに応じた電位であり、
前記第3配線の電位の変化量は、更新データに応じた電位差である半導体装置。 - 請求項4において、
複数の前記第1メモリセルと、複数の前記第2メモリセルと、複数の前記第3メモリセルと、複数の前記第3回路と、複数の前記第2配線と、複数の前記第3配線と、を有し、
前記複数の第1メモリセルのそれぞれは、前記第1配線に電気的に接続され、
前記複数の第2メモリセルのそれぞれは、前記第4配線に電気的に接続され、
前記複数の第3メモリセルのそれぞれは、前記第5配線に電気的に接続され、
前記複数の第3回路のそれぞれは、前記複数の第2配線の一を介して、前記複数の第1メモリセルの一と、前記複数の第2メモリセルの一と、に電気的に接続され、
前記複数の第3回路のそれぞれは、前記複数の第3配線の一を介して、前記複数の第1メモリセルの一と、前記複数の第3メモリセルの一と、に電気的に接続され、
前記複数の第1メモリセルの前記保持ノードのそれぞれには、複数の前記第1データに応じた電位が保持され、
前記複数の第2配線のそれぞれには、複数の前記第2データに応じた電位差が入力され、
前記第1電流は、前記複数の第1データと、前記複数の第2データと、の積和に応じた電流であり、
前記複数の第3回路は、前記複数の第3配線のそれぞれに対して、複数の前記更新データに応じた電位差を出力する半導体装置。
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