JP2018504588A5 - - Google Patents
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ある実施形態において、抵抗器の各々は、等しい数の細長いピエゾ抵抗条片を備え、全てのピエゾ条片の寸法は同じである。
本発明はまた、膜2と、上記のように配置された2つの抵抗器対P1、P2とを有する半導体基板(第4の実施形態であり、図14に示される)上に加えられる外部圧力を判定する方法に関する。この方法は、第1の電流源CS1を用いて第1の抵抗器R1及び第4の抵抗器R4の該並列接続に対して第1の所定の電流I1を印加するステップと、第2の電流源CS2を用いて第2の抵抗器R2及び第3の抵抗器R3の該並列接続に対して第2の所定の電流I2を印加するステップと、第1の出力ノードD及び第2の出力ノードB上で第1の差動電圧信号ΔVoutを測定するステップと、
第3の電流源CS3を用いてR5及びR8の該並列接続に対して第3の所定の電流I3を印加するステップと、第4の電流源CS4を用いてR6及びR7の該並列接続に対して第4の所定の電流I4を印加するステップと、第3の出力ノードB2及び第4の出力ノードD2上で第2の差動電圧信号ΔVrefを測定するステップと、
第1の差動電圧信号ΔVoutに対応する値を、第2の差動電圧信号ΔVrefに対応する値で修正するステップと、を含む。
第3の電流源CS3を用いてR5及びR8の該並列接続に対して第3の所定の電流I3を印加するステップと、第4の電流源CS4を用いてR6及びR7の該並列接続に対して第4の所定の電流I4を印加するステップと、第3の出力ノードB2及び第4の出力ノードD2上で第2の差動電圧信号ΔVrefを測定するステップと、
第1の差動電圧信号ΔVoutに対応する値を、第2の差動電圧信号ΔVrefに対応する値で修正するステップと、を含む。
Claims (15)
- 加えられる外部圧力を判定するための半導体圧力センサ(100、200、300、400)であって、
− 膜縁(21)及び膜厚(T)を有し、前記外部圧力に起因して変形するための、半導体基板の一部としての膜(2)、
− 前記膜(2)の第1の辺部(S1)上またはそれに隣接して位置する第1の抵抗器対(P1)であり、前記第1の抵抗器対(P1)が、第1のバイアスノード(A)と第1の出力ノード(D)との間に接続された第1の抵抗器(R1)、及び前記第1のバイアスノード(A)と、前記第1の出力ノード(D)とは異なる第2の出力ノード(B)との間に接続された第2の抵抗器(R2)を備え、前記第2の抵抗器(R2)の抵抗が前記第1の抵抗器(R1)の抵抗に等しい、第1の抵抗器対(P1)、
− 前記第1の出力ノード(D)に接続された、またはそれに接続可能であり、かつ第1の所定の電流(I1)を前記第1の抵抗器(R1)を通して流し、前記第1の出力ノード(D)が第1の出力電圧(Vout−)を帯びるように適合された、第1の電流源(CS1)、
− 前記第2の出力ノード(B)に接続された、またはそれに接続可能であり、かつ第2の所定の電流(I2)を前記第2の抵抗器(R2)を通して流し、前記第2の出力ノード(B)が第2の出力電圧(Vout+)を帯びるように適合された、第2の電流源(CS2)であり、前記第2の所定の電流(I2)が前記第1の所定の電流(I1)と実質的に等しい、第2の電流源(CS2)、
− 測定されるべき前記外部圧力に起因する前記膜(2)の変形を測定するための、第1の方向(X)で配置された、1本以上の第1の細長いピエゾ抵抗条片(8)を備える前記第1の抵抗器(R1)、測定されるべき前記外部圧力に起因する前記膜(2)の変形を測定するための、第2の方向(Y)で配置された、1本以上の第2の細長いピエゾ抵抗条片(9)を備える前記第2の抵抗器(R2)であり、前記第2の方向(Y)が前記第1の方向(X)に対して実質的に垂直である、第1の抵抗器(R1)、第2の抵抗器(R2)、を備え、
− 前記第1及び第2の出力電圧(Vout−、Vout+)が、測定されるべき前記外部圧力を示す第1の差動電圧信号(ΔVout)を形成する、半導体圧力センサ(100、200、300、400)。 - 前記第1の差動電圧信号(ΔVout)を、測定されるべき前記圧力を示す第1の圧力信号に変換するための、第1の差動増幅器を備える第1の読み出し回路を更に備える、請求項1に記載の半導体圧力センサ(100、200、300、400)。
- − 前記第1及び前記第2のピエゾ抵抗条片(8、9)が、nウェル内のp型ドープ領域として形成され、
− 前記第1のバイアスノード(A)が、前記nウェルと電気的に接続されている、請求項1または2に記載の半導体圧力センサ(100、300、400)。 - − 前記膜の第2の辺部(S2)上またはそれに隣接して位置する第2の抵抗器対(P2)であって、前記第2の辺部(S2)が、前記膜(2)の中心から測定されたときに、前記第1の辺部(S1)から実質的にまたは正確に90°の角距離に位置する、第2の抵抗器対(P2)を更に備え、
− 前記第2の抵抗器対(P2)が、前記第1のバイアスノード(A)と前記第2の出力ノード(B)との間で前記第2の抵抗器(R2)と並列に接続された第3の抵抗器(R3)と、前記第1のバイアスノード(A)と前記第1の出力ノード(D)との間で前記第1の抵抗器(R1)と並列に接続された第4の抵抗器(R4)とを備え、
− 前記第3の抵抗器(R3)が、前記第1の方向(X)で配置された、1本以上の細長いピエゾ抵抗条片(10)を備え、前記第4の抵抗器(R4)が、前記第2の方向(Y)で配置された、1本以上の細長いピエゾ抵抗条片(11)を備える、請求項1〜3のいずれか一項に記載の半導体圧力センサ(300、400)。 - − 前記膜(2)の前記第1の辺部(S1)であるが前記膜(2)の外側に配置された第3の抵抗器対(P3)であって、前記第1のバイアスノード(A)と第3の出力ノード(B2)との間に接続された第5の抵抗器(R5)、及び前記第1のバイアスノード(A)と、前記第3の出力ノード(B2)とは異なる第4の出力ノード(D2)との間に接続された第6の抵抗器(R6)を備える、第3の抵抗器対(P3)と、
− 前記第3の出力ノード(B2)に接続され、かつ第3の所定の電流(I3)を前記第5の抵抗器(R5)を通して流し、前記第3の出力ノード(B2)が第3の出力電圧(Vref−)を提供するように適合された、第3の電流源(CS3)と、
− 前記第4の出力ノード(D2)に接続され、かつ第4の所定の電流(I4)を前記第6の抵抗器(R6)を通して流し、前記第4の出力ノード(D2)が第4の出力電圧(Vref+)を提供するように適合された、第4の電流源(CS4)であって、前記第3及び第4の所定の電流(I3、I4)が前記第1の所定の電流(I1)と実質的に等しい、第4の電流源(CS4)と、
− パッケージング応力を測定するための、前記第1の方向(X)で配置された、1本以上の細長いピエゾ抵抗条片を備える前記第5の抵抗器(R5)、及び前記第2の方向(Y)で配置された、1本以上の細長いピエゾ抵抗条片を備える前記第6の抵抗器(R6)と、
− 前記膜(2)の前記第2の辺部(S2)であるが前記膜(2)の外側に配置された第4の抵抗器対(P4)であって、前記第4の抵抗器対(P4)が、前記第1のバイアスノード(A)と前記第4の出力ノード(D2)との間で前記第6の抵抗器(R6)と並列に接続された第7の抵抗器(R7)、及び前記第1のバイアスノード(A)と前記第3の出力ノード(B2)との間で前記第5の抵抗器(R5)と並列に接続された第8の抵抗器(R8)を備え、前記第7の抵抗器(R7)が、前記第1の方向(X)で配置された、1本以上の細長いピエゾ抵抗条片を備え、前記第8の抵抗器(R8)が、前記第2の方向(Y)で配置された、1本以上の細長いピエゾ抵抗条片を備える、第4の抵抗器対(P4)と、を更に備え、
− 前記第5及び第6及び第7及び第8の抵抗器(R5、R6、R7、R8)の前記1本以上のピエゾ抵抗条片が、前記半導体基板上におけるパッケージングによって加えられる応力を測定するためだけに、前記膜厚(T)の少なくとも4.0倍の前記膜縁(21)からの距離で配置されており、
− 前記第3及び第4の出力電圧(Vref−、Vref+)が、前記パッケージ応力を示す第2の差動電圧信号(ΔVref)を形成する、請求項1〜4のいずれか一項に記載の半導体圧力センサ(400)。 - − 前記第1の差動電圧信号(ΔVout)及び前記第2の差動電圧信号(ΔVref)を、前記第1の差動増幅器へと選択的に供給するための多重変換装置、及び/または
− 前記第2の差動電圧信号(ΔVref)を、前記パッケージ応力を示す第2の圧力信号に変換するための、第2の差動増幅器を備える第2の読み出し回路を更に備える、請求項5に記載の半導体圧力センサ(400)。 - 前記抵抗器(R1、R2;R1、R2、R3、R4;R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7、R8)の各々が、直列に接続された少なくとも2本または少なくとも3本のピエゾ抵抗条片を備える、請求項1〜6のいずれか一項に記載の半導体圧力センサ(100、200、300、400)。
- 前記抵抗器(R1、R2;R1、R2、R3、R4;R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7、R8)の各々が、等しい数の細長いピエゾ抵抗条片(8、9;8、9、10、11)を備え、全てのピエゾ条片の寸法が同じである、請求項1〜7のいずれか一項に記載の半導体圧力センサ(100、200、300、400)。
- 各抵抗器対(P1;P1、P2;P1、P2、P3、P4)のレイアウトが、前記第1及び第2の出力ノード(D、B)への電気的相互接続のための第1及び第2の引出領域(6a、6c)と、前記第1のバイアスノード(A)への電気的相互接続のための第3の引出領域(6b)とを更に備え、前記第3の引出領域(6b)が、前記第1の引出領域と前記第2の引出領域との間に位置する、請求項7または8に記載の半導体圧力センサ(100、200、300、400)。
- − 前記基板が、CMOSウエハであり、
− 前記膜が(100)平面内に位置し、前記ピエゾ抵抗素子のうちの少なくとも1つが、<110>方向に配向される、請求項1〜9のいずれか一項に記載の半導体圧力センサ(100、200、300、400)。 - 前記膜が、正方形状または円形状を有する、請求項10に記載の半導体圧力センサ(100、200、300、400)。
- 請求項1〜11のいずれか一項に記載の半導体圧力センサ(100、200、300、400)を備える、半導体デバイス。
- 半導体基板に加えられる外部圧力を判定する方法(1500)であって、前記半導体基板が、
− 前記外部圧力に起因して変形するように配置され、膜縁(21)及び膜厚(T)を有する膜(2)、
− 前記膜(2)の第1の辺部(S1)上またはそれに隣接して位置する第1の抵抗器対(P1)であり、前記第1の抵抗器対(P1)が、第1のバイアスノード(A)と第1の出力ノード(D)との間に接続された第1の抵抗器(R1)、及び前記第1のバイアスノード(A)と、前記第1の出力ノード(D)とは異なる第2の出力ノード(B)との間に接続された第2の抵抗器(R2)を備え、前記第2の抵抗器(R2)の抵抗が前記第1の抵抗器(R1)の抵抗に等しい、第1の抵抗器対(P1)、
− 測定されるべき前記外部圧力に起因する前記膜(2)の変形を測定するための、第1の方向(X)で配置された、1本以上の第1の細長いピエゾ抵抗条片(8)を備える前記第1の抵抗器(R1)、測定されるべき前記外部圧力に起因する前記膜(2)の変形を測定するための、第2の方向(Y)で配置された、1本以上の第2の細長いピエゾ抵抗条片(9)を備える前記第2の抵抗器(R2)であり、前記第2の方向(Y)が前記第1の方向(X)に対して実質的に垂直である、第1の抵抗器(R1)、第2の抵抗器(R2)、を備え、
前記方法が、
− 第1の電流源(CS1)を前記第1の出力ノード(D)に接続するステップ(1501)であり、前記第1の電流源が、第1の所定の電流(I1)を前記第1の抵抗器(R1)を通して流し、前記第1の出力ノード(D)が第1の出力電圧(Vout−)を帯びるように適合された、ステップ(1501)、
− 第2の電流源(CS2)を前記第2の出力ノード(B)に接続するステップ(1502)であり、前記第2の電流源が、第2の所定の電流(I2)を前記第2の抵抗器(R2)を通して流し、前記第2の出力ノード(B)が第2の出力電圧(Vout+)を帯びるように適合され、前記第2の所定の電流(I2)が前記第1の所定の電流(I1)と実質的に等しい、ステップ(1502)、
− 測定されるべき前記外部圧力の指標として、前記第1及び第2の出力ノード(B、D)上で第1の差動電圧信号(ΔVout)を得るステップ(1503)、を含む、方法。 - 前記基板が、請求項4に記載の第2の抵抗器対(P2)を更に備える、請求項13に記載の方法。
- 前記基板が、請求項5に記載の第3及び第4の抵抗器対(P3、P4)を更に備え、
前記方法が、
− 第3の電流源(CS3)を用いて、第3の所定の電流(I3)を、前記第5の抵抗器(R5)及び前記第8の抵抗器(R8)の前記並列接続に印加するステップと、
− 第4の電流源(CS4)を用いて、第4の所定の電流(I4)を、前記第6の抵抗器(R6)及び前記第7の抵抗器(R7)の前記並列接続に印加するステップと、
− 前記第3及び第4の出力ノード(B2、D2)上で第2の差動電圧信号(ΔVref)を測定するステップと、
− 前記第1の差動電圧信号(ΔVout)に対応する値を、前記第2の差動電圧信号(ΔVref)に対応する値で修正するステップと、を更に含む、請求項14に記載の方法。
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