JPWO2017068624A1 - 成膜装置 - Google Patents

成膜装置 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2017068624A1
JPWO2017068624A1 JP2017546290A JP2017546290A JPWO2017068624A1 JP WO2017068624 A1 JPWO2017068624 A1 JP WO2017068624A1 JP 2017546290 A JP2017546290 A JP 2017546290A JP 2017546290 A JP2017546290 A JP 2017546290A JP WO2017068624 A1 JPWO2017068624 A1 JP WO2017068624A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
raw material
inert gas
material solution
reaction
outlet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017546290A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6426298B2 (ja
Inventor
白幡 孝洋
孝洋 白幡
容征 織田
容征 織田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Mitsubishi Electric Industrial Systems Corp
Original Assignee
Toshiba Mitsubishi Electric Industrial Systems Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Mitsubishi Electric Industrial Systems Corp filed Critical Toshiba Mitsubishi Electric Industrial Systems Corp
Publication of JPWO2017068624A1 publication Critical patent/JPWO2017068624A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6426298B2 publication Critical patent/JP6426298B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/4401Means for minimising impurities, e.g. dust, moisture or residual gas, in the reaction chamber
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05BSPRAYING APPARATUS; ATOMISING APPARATUS; NOZZLES
    • B05B12/00Arrangements for controlling delivery; Arrangements for controlling the spray area
    • B05B12/14Arrangements for controlling delivery; Arrangements for controlling the spray area for supplying a selected one of a plurality of liquids or other fluent materials or several in selected proportions to a spray apparatus, e.g. to a single spray outlet
    • B05B12/1472Arrangements for controlling delivery; Arrangements for controlling the spray area for supplying a selected one of a plurality of liquids or other fluent materials or several in selected proportions to a spray apparatus, e.g. to a single spray outlet separate supply lines supplying different materials to separate outlets of the spraying apparatus
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05BSPRAYING APPARATUS; ATOMISING APPARATUS; NOZZLES
    • B05B12/00Arrangements for controlling delivery; Arrangements for controlling the spray area
    • B05B12/16Arrangements for controlling delivery; Arrangements for controlling the spray area for controlling the spray area
    • B05B12/18Arrangements for controlling delivery; Arrangements for controlling the spray area for controlling the spray area using fluids, e.g. gas streams
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05BSPRAYING APPARATUS; ATOMISING APPARATUS; NOZZLES
    • B05B13/00Machines or plants for applying liquids or other fluent materials to surfaces of objects or other work by spraying, not covered by groups B05B1/00 - B05B11/00
    • B05B13/02Means for supporting work; Arrangement or mounting of spray heads; Adaptation or arrangement of means for feeding work
    • B05B13/0278Arrangement or mounting of spray heads
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05BSPRAYING APPARATUS; ATOMISING APPARATUS; NOZZLES
    • B05B14/00Arrangements for collecting, re-using or eliminating excess spraying material
    • B05B14/30Arrangements for collecting, re-using or eliminating excess spraying material comprising enclosures close to, or in contact with, the object to be sprayed and surrounding or confining the discharged spray or jet but not the object to be sprayed
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05BSPRAYING APPARATUS; ATOMISING APPARATUS; NOZZLES
    • B05B7/00Spraying apparatus for discharge of liquids or other fluent materials from two or more sources, e.g. of liquid and air, of powder and gas
    • B05B7/02Spray pistols; Apparatus for discharge
    • B05B7/025Nozzles having elongated outlets, e.g. slots, for the material to be sprayed
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05BSPRAYING APPARATUS; ATOMISING APPARATUS; NOZZLES
    • B05B7/00Spraying apparatus for discharge of liquids or other fluent materials from two or more sources, e.g. of liquid and air, of powder and gas
    • B05B7/02Spray pistols; Apparatus for discharge
    • B05B7/08Spray pistols; Apparatus for discharge with separate outlet orifices, e.g. to form parallel jets, i.e. the axis of the jets being parallel, to form intersecting jets, i.e. the axis of the jets converging but not necessarily intersecting at a point
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05BSPRAYING APPARATUS; ATOMISING APPARATUS; NOZZLES
    • B05B7/00Spraying apparatus for discharge of liquids or other fluent materials from two or more sources, e.g. of liquid and air, of powder and gas
    • B05B7/24Spraying apparatus for discharge of liquids or other fluent materials from two or more sources, e.g. of liquid and air, of powder and gas with means, e.g. a container, for supplying liquid or other fluent material to a discharge device
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/4412Details relating to the exhausts, e.g. pumps, filters, scrubbers, particle traps
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/453Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating passing the reaction gases through burners or torches, e.g. atmospheric pressure CVD
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45519Inert gas curtains
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45523Pulsed gas flow or change of composition over time
    • C23C16/45525Atomic layer deposition [ALD]
    • C23C16/45544Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus
    • C23C16/45548Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus having arrangements for gas injection at different locations of the reactor for each ALD half-reaction
    • C23C16/45551Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus having arrangements for gas injection at different locations of the reactor for each ALD half-reaction for relative movement of the substrate and the gas injectors or half-reaction reactor compartments
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45563Gas nozzles
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45563Gas nozzles
    • C23C16/45565Shower nozzles
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45563Gas nozzles
    • C23C16/45574Nozzles for more than one gas
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45595Atmospheric CVD gas inlets with no enclosed reaction chamber
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/458Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
    • C23C16/4582Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs
    • C23C16/4583Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially horizontally
    • C23C16/4586Elements in the interior of the support, e.g. electrodes, heating or cooling devices
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/12Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
    • C23C18/125Process of deposition of the inorganic material
    • C23C18/1275Process of deposition of the inorganic material performed under inert atmosphere
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/12Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
    • C23C18/125Process of deposition of the inorganic material
    • C23C18/1279Process of deposition of the inorganic material performed under reactive atmosphere, e.g. oxidising or reducing atmospheres

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Nozzles (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

本発明は、付着した反応生成物を簡単に除去する構造を有する成膜装置を提供することを目的とする。そして、本発明の成膜装置は、ミスト噴射ヘッド部(100)の底面に取り外し可能に設けられる底板(21)を備えている。底板21は、ミスト噴射ヘッド部(100)の底面への取り付け時に、原料溶液噴出口(15)、反応材料噴出口(16,17)及び不活性ガス噴出口(192〜194)に対応する領域に原料溶液用開口部(35)、反応材料用開口部(36,37)及び不活性ガス用開口部(392〜394)を有している。

Description

この発明は、基板上に膜を成膜する成膜装置に関するものである。
基板上に膜を成膜する方法として、化学気相成長(CVD(Chemical Vapor Deposition))法がある。しかしながら、化学気相成長法では真空下での成膜が必要な場合が多くなり、真空ポンプなどに加えて、大型の真空容器を用いる必要な場合がある。さらに、化学気相成長法では、コストの観点等から、成膜される基板として大面積のものを採用することが困難である、という問題があった。そこで、大気圧下における成膜処理が可能なミスト法が、注目されている。
ミスト法を利用した成膜装置等に関する従来技術として、例えば特許文献1に係る技術が存在している。
特許文献1に係る技術では、ミスト噴射用ノズル等を含むミスト噴射ヘッド部の底面に設けられる原料溶液噴出口及び反応材料噴出口から、大気中に配置されている基板に対してミスト化された原料溶液及び反応材料が噴射されている。当該噴射により、基板上には所定膜が成膜される。なお、反応材料は原料溶液との反応に寄与する材料を意味する。
国際公開第2013/038484号
上述したように、従来の成膜装置を用いた成膜処理は、ミスト化された原料溶液と反応材料とを反応させた反応生成物を得た後、大気中(大気圧下)で基板上に所定膜を形成する処理である。このため、従来の成膜装置は長時間使用すると、基板加熱による上昇気流により、ミスト噴射ヘッド部100の底面に反応生成物が徐々に付着する。付着した反応生成物を除去するため、ミスト噴射ヘッド部の底面を定期的に洗浄する必要があるが、洗浄に手間を要するという問題点があった。
本発明では、上記のような問題点を解決し、付着した反応生成物を簡単に除去する構造を有する成膜装置を提供することを目的とする。
この発明に係る成膜装置は、ミスト化された原料溶液を大気中に噴射することにより、基板に対して膜を成膜する成膜処理を実行する成膜装置であって、前記基板が載置される載置部と、前記載置部に載置されている前記基板の上面に対向して設けられ、底面に原料溶液噴出口及び排気口を有し、前記原料溶液噴出口より前記原料溶液を噴射し、前記排気口から排気処理を行うミスト噴射ヘッド部と、前記ミスト噴射ヘッド部の底面に取り外し可能に設けられる底板とを備え、前記底板は前記成膜処理の実行を妨げない態様で前記ミスト噴射ヘッド部の底面に取り付けられることを特徴とする。
請求項1記載の本願発明である成膜装置は、ミスト噴射ヘッド部の底面に取り外し可能な底板を設けることにより、底板を洗浄することにより底板に付着した反応生成物を簡単に除去することができる効果を奏する。
さらに予め底板を複数準備し、複数の底板のうち一の底板を洗浄している間に洗浄済みの他の底板を利用することにより、底板を洗浄しつつ成膜装置の使用を継続することができる効果を奏する。
この発明の目的、特徴、局面、及び利点は、以下の詳細な説明と添付図面とによって、より明白となる。
この発明の実施の形態1である成膜装置のミスト噴射ヘッド部を示す断面図である。 図1のA−A断面構造を示す断面図である。 実施の形態1のミスト噴射ヘッド部を底面側から見た平面図である。 実施の形態1のベースプレート部の外観構造等を示す説明図である。 この発明の実施の形態2である成膜装置のミスト噴射ヘッド部を示す断面図である。 図5のC−C断面構造を示す断面図である。 実施の形態2のミスト噴射ヘッド部を底面側から見た平面図である。 実施の形態2のベースプレート部の外観構造等を示す説明図である。
以下、この発明をその実施の形態を示す図面に基づいて具体的に説明する。
<実施の形態1>
(全体構成)
図1は、この発明の実施の形態1である成膜装置の主要構成部であるミスト噴射ヘッド部100及びその周辺を示す断面図である。図2は図1のA−A断面構造を示す断面図である。なお、図1及び図2並びに以降で示す図3〜図8において、それぞれXYZ直交座標軸を併記している。また、図2においては底板21の図示を省略している。
実施の形態1の成膜装置は、ミスト噴射ヘッド部100により、ミスト化された原料溶液を大気中に噴射することにより、基板23に対して膜を成膜する。つまり、成膜装置は、大気中での成膜処理であるミスト法により、基板23上に所望の膜を成膜する装置である。
具体的に、原料溶液は、図示されていない容器に収容されており、当該容器において、超音波振動を利用して、原料溶液はミスト化される。そして、ミスト化された原料溶液は、キャリアガスと共に、図示していない経路を通って、ミスト噴射ヘッド部100へと搬送される。
加熱器でもある載置部24上には、基板23が配置されている。つまり、載置部24は、基板23の加熱が可能である。そして、基板23の上方に、ミスト噴射ヘッド部100が配置される。
すなわち、基板23の上面とミスト噴射ヘッド部100の底面(正確には底板21の下面)が所定距離隔てて対向するように配置される。ここで、成膜処理時には、ミスト噴射ヘッド部100の底面と基板23の上面との間隔は、0.1mm〜50mm程度に設定される。なお、ミスト噴射ヘッド部100及び基板23は、大気圧下に配置されている。ここで、ミスト噴射ヘッド部100の底面と基板23の上面との間に形成される空間を、「反応空間」と称することとする。
載置部24によって所定の温度で加熱されている基板23に対して、ミスト噴射ヘッド部100は、ミスト化された原料溶液を噴射する。これにより、基板23の上面に所望の膜が、成膜される。なお、成膜処理のときには、載置部24は、水平方向(XY平面内で規定される所定方向)に移動する。または、ミスト噴射ヘッド部100は、上記水平方向に移動する。
以下、ミスト噴射ヘッド部100の構成について、図を用いて具体的に説明する。
図1に示すように、ミスト噴射ヘッド部100は、原料溶液噴射用ノズル部N1と、2つの反応材料噴射用ノズル部N2及びN3と、排気用ノズル部N4と、ベースプレート部20と、底板21とを有する。
図1に示すように、反応材料噴射用ノズル部N3、原料溶液噴射用ノズル部N1、反応材料噴射用ノズル部N2及び排気用ノズル部N4は、当該順に、X方向に沿って並んで配設されている。なお、図1で示す構成と異なり、反応材料噴射用ノズル部N2、原料溶液噴射用ノズル部N1、反応材料噴射用ノズル部N3及び排気用ノズル部N4は、当該順に、X方向に沿って並んで配設されていても良い。
また、原料溶液噴射用ノズル部N1と反応材料噴射用ノズル部N2及びN3とは不活性ガス噴射部82及び83を介して設けられているが、反応材料噴射用ノズル部N2の側面と排気用ノズル部N4の側面との間には、所定の距離だけ離れている。つまり、原料溶液噴射用ノズル部N1と反応材料噴射用ノズル部N2及びN3とは、不活性ガス噴射部82及び83を介してX方向(水平方向)に沿って隙間無く配設されているが、排気用ノズル部N4は、他のノズル部N1〜N3とは、X方向に離れて(空間を隔てて)配置されている。
上記のように、原料溶液噴射用ノズル部N1、反応材料噴出用ノズル部N2及びN3並びに排気用ノズル部N4は、水平方向(X方向)に並んで配置されている。ここで、少なくとも排気用ノズル部N4は、ミスト噴射ヘッド部100の最外側(図1では右端(+X方向))に位置している。
(原料溶液噴射用ノズル部N1)
まず、原料溶液噴射用ノズル部N1の構成について説明する。
原料溶液噴射用ノズル部N1は、ミスト化された原料溶液を底面に形成された原料溶液噴出口15から噴射するノズルである。原料溶液噴射用ノズル部N1には、内部に空洞部11(第1の空洞部)が形成されている。また、原料溶液噴射用ノズル部N1の上面には、原料溶液供給部1が配設されている。上記で述べた通り、ミスト噴射ヘッド部100の外部において、原料溶液はミスト化される。ミスト化された原料溶液は、キャリアガスと共に、図示していない経路を通って、原料溶液供給部1へと搬送される。原料溶液供給部1から得られるミスト化された原料は、原料溶液噴射用ノズル部N1内の空洞部11へと充満する(供給される)。
また、原料溶液噴射用ノズル部N1の空洞部11内において、両側面部に、複数の整流部6(第1の整流部)が配設されている。当該整流部6は、整流板であり、原料溶液供給部1から供給されたミスト化された原料溶液の、空洞部11内の流れを整えることができる。具体的には、空洞部11内において互いに対向する両側面からXY平面に沿って、平面視して矩形状の複数の整流部6がそれぞれの形成高さを交互に変えながら配設される。複数の整流部6はそれぞれ対向する側面に達することなく、対向する側面との間に隙間が形成されるように構成される。
複数の整流部6の下方に空洞部11の主要部が設けられる。複数の整流部6の上方の(空洞部11の)小空間は、複数の整流部6により形成される隙間を通じて、空洞部11(の主要部)と接続されており、空洞部11は、後述する原料溶液排出部41に接続されている。
原料溶液排出部41は、空洞部11において、一方の側面部(図1では左(−X方向)側の側面)に配設されている。また、原料溶液排出部41は、原料溶液噴射用ノズル部N1(空洞部11)の底面から離れた位置において、配設されている。
一方、前述したように、ミスト噴射ヘッド部100の底面、つまりミスト噴射ヘッド部100の基板23の上面に対応する面において、原料溶液噴出口15が配設されている。ここで、原料溶液噴出口15から、後述する底板21の原料溶液用開口部35を介してミスト化された原料溶液が基板23の上面に対して噴出される。
ミスト噴射ヘッド部100内には、Z方向に延びる通路61が配設されている。そして、原料溶液排出部41は、通路61を介して、原料溶液噴出口15と接続されている。
図3は、底板21を取り外した状態における、ミスト噴射ヘッド部100を基板23の配設側(−Z方向側)から見た平面図である。つまり、図3は、ミスト噴射ヘッド部100の底面構造を示す平面図である。同図に示すように、ミスト噴射ヘッド部100の底面はX方向(第2の方向)及びY方向(第1の方向)で規定される矩形状を呈している。
図3に示すように、原料溶液噴出口15は、平面視して長手方向をY方向(第1の方向)とした細長い開口穴であるスリット状を呈している。なお、原料溶液噴出口15の開口部の幅(図3のX方向の寸法)は、0.1mm〜10mm程度である。
原料溶液噴射用ノズル部N1では、ミスト化された原料溶液は、原料溶液供給部1から、空洞部11内に供給される。そして、当該原料溶液は、複数の整流部6により整流され、複数の整流部6の上方の小空間に充満した後、空洞部11へと導かれ、空洞部11において充満する。その後、ミスト化された原料溶液は、原料溶液排出部41から、通路61を介して、原料溶液噴出口15へと導かれる。そして、ミスト化された原料溶液は、原料溶液噴出口15から、基板23の上面に向けて、噴出される。
(反応材料噴射用ノズル部N2及びN3)
次に、反応材料噴射用ノズル部N2及びN3(第1及び第2の反応材料噴射用ノズル部)構成について説明する。なお、反応材料噴射用ノズル部N2及びN3は噴射する第1及び第2の反応材料が互いに独立している点及び形成位置を除き、同一構成であるため、以下では反応材料噴射用ノズル部N2を中心に、適宜、反応材料噴射用ノズル部N3の説明を付記して説明する。
なお、反応材料噴射用ノズル部N2及びN3間において、複数の整流部7及び8、反応材料供給部2及び3、空洞部12及び13、反応材料排出部42及び43、通路62及び63、並びに反応材料噴出口16及び17(第1及び第2の反応材料噴出口)が互いに対応する関係となる。なお、反応材料噴射用ノズル部N2及びN3で用いる第1及び第2の反応材料は同じ、または相違していても良い。
反応材料噴射用ノズル部N2は、原料溶液との反応に寄与する反応材料(例えば、酸化剤)を基板23に対して噴出するノズルである。反応材料噴射用ノズル部N2には、内部に空洞部12(第2の空洞部)が形成されている。また、反応材料噴射用ノズル部N2の上面には、反応材料供給部2が配設されている。反応材料(第1の反応材料)は、反応材料噴射用ノズル部N2外から、反応材料供給部2を介して、空洞部12内へと供給される。一方、反応材料噴射用ノズル部N3において、反応材料(第2の反応材料)は、反応材料噴射用ノズル部N3外から、上面に設けられる反応材料供給部3を介して、空洞部13内へと供給される。
ここで、第1及び第2の反応材料は、気体であっても液体であっても良い。液体の場合には、超音波振動等を利用してミスト化された液体(反応材料)が、キャリアガスと共に、図示していない経路を通って、反応材料噴射用ノズル部N2(N3)内へと搬送される。反応材料供給部2(3)から得られる第1の反応材料(第2の反応材料)は、反応材料噴射用ノズル部N2(N3)内の空洞部12(13)へと充満する(供給される)。
また、反応材料噴射用ノズル部N2の空洞部12内において、複数の整流部7(第2の整流部)が配設されている。当該整流部7は、整流板であり、反応材料供給部2から供給された反応材料の、主として空洞部12内の流れを整えることができる。具体的には、空洞部12内において互いに対向する両側面からXY平面に沿って、平面視して矩形状の複数の整流部7がそれぞれの形成高さを交互に変えながら配設される。複数の整流部7はそれぞれ対向する側面に達することなく、対向する側面との間に隙間が形成されるように構成される。
反応材料噴射用ノズル部N2(N3)において、複数の整流部7(8)の上方の(空洞部12の)小空間と、空洞部12(13)の主要部とは、複数の整流部7(8)により形成される隙間を通じて接続されている。また、上記小空間は、反応材料供給部2(3)と接続されており、空洞部12(13)は、後述する反応材料排出部42(43)に接続されている。
反応材料排出部42は、空洞部12において、一方の側面部(図1では左(−X方向)側の側面)に配設されている。また、反応材料排出部42は、反応材料噴射用ノズル部N2(空洞部12)の底面から離れた位置において、配設されている。
一方、ミスト噴射ヘッド部100は、ミスト噴射ヘッド部100の底面、つまりミスト噴射ヘッド部100の基板23に面する側において、反応材料噴出口16が配設されている。ここで、反応材料噴出口16(17)から、底板21の反応材料用開口部36(37)を介して反応材料が基板23の上面に対して噴出される。
ミスト噴射ヘッド部100内には、Z方向に沿って通路62(63)が配設されている。そして、反応材料排出部42(43)は、通路62(63)を介して、反応材料噴出口16(17)と接続されている。図3に示すように、反応材料噴出口16及び17はそれぞれ、平面視して長手方向をY方向(第1の方向)とした細長い開口穴であるスリット状を呈している。なお、反応材料噴出口16及び17それぞれの開口部の幅(図3のX方向の寸法)は、0.1mm〜10mm程度である。
反応材料噴射用ノズル部N2(N3)では、反応材料は、反応材料供給部2(3)から、空洞部12(13)内に供給される。そして、当該反応材料は、複数の整流部7(8)により整流され、複数の整流部7(8)上の小空間に充満した後、空洞部12(13)の主要部へと導かれ、空洞部12(13)において充満する。その後、反応材料は、反応材料排出部42(43)から、通路62(63)を介して、反応材料噴出口16(17)へと導かれる。そして、反応材料は、反応材料噴出口16から、底板21の反応材料用開口部36を介して基板23の上面に向けて、噴出される。
(排気用ノズル部N4)
次に、排気用ノズル部N4の構成について説明する。
排気用ノズル部N4は、排気処理を行うノズルである。排気用ノズル部N4は、原料溶液噴射用ノズル部N1が原料溶液を噴出している流量(Q1)と、反応材料噴出用ノズル部N2(N3)が反応材料を噴出している流量(Q2及びQ3)と、の和以上の流量(Q4)で、排気処理を行う。つまり、{排気流量Q4≧原料溶液の噴出流量Q1+反応材料の噴出流量Q2+Q3}である。
排気用ノズル部N4には、内部に空洞部14(第3の空洞部)が形成されている。また、排気用ノズル部N4の上面には、排気物出口部4が配設されている。排気物出口部4は、排気用ノズル部N4の上面に配設されており、具体的には、後述する排気物導入部44より上方に配設されており、排気物を空洞部14から排気用ノズル部N4外へと排出する。
ここで、排気物とは、反応空間からの反応残渣等である。排気物出口部4は、図示していない経路を介して、図示していない排気ポンプに接続されている。つまり、排気物は、排気物出口部4及び上記経路を介して、排気用ノズル部N4から上記排気ポンプへと吸引される。
また、排気用ノズル部N4の空洞部14内において、複数の整流部9(第3の整流部)が配設されている。当該整流部9は、整流板であり、排気物出口部4から排出するための排気物の、主として空洞部14内の流れを整えることができる。具体的には、空洞部14内において互いに対向する両側面からXY平面に沿って、平面視して矩形状の複数の整流部9がそれぞれの形成高さを交互に変えながら配設される。複数の整流部9はそれぞれ対向する側面に達することなく、対向する側面との間に隙間が形成されるように構成される。
複数の整流部9の配設により、空洞部14は、排気用ノズル部N4の空洞部14を、複数の小空間に区画する。ここで、隣接する小空間同士は、複数の整流部9により形成される小さい隙間を介して接続される。複数の小空間には、排気用ノズル部N4の最上部に位置する(空洞部14の)小空間が含まれ、複数の整流部9の下方が空洞部14の主要部となる。ここで、複数の整流部9上方の小空間は、排気物出口部4と接続されており、空洞部14(の主要部)は、後述する排気物導入部44に接続されている。
排気物導入部44は、空洞部14において、上記他方の側面部に配設されている。また、排気物導入部44は、排気用ノズル部N4の空洞部14の底面から離れた位置において、配設されている。
一方、ミスト噴射ヘッド部100は、ミスト噴射ヘッド部100の底面、つまり反応材料噴射用ノズル部N2の底面において、排気口18が配設されている。ここで、排気口18は、反応空間に対して排気処理を行う。
ミスト噴射ヘッド部100内には、Y方向に沿って通路64が配設されている。そして、排気物導入部44は、通路64を介して、排気口18と接続されている。図3に示すように、排気口18は平面視して長手方向をY方向(第1の方向)とした細長い開口穴であるスリット状を呈している。なお、排気口18の開口部の幅(図3のX方向の寸法)は、0.1mm〜10mm程度である。
(不活性ガス噴射部)
実施の形態1のミスト噴射ヘッド部100の端部(図1の左(−X方向)側端部)において、不活性ガス噴射部81は枠部30または枠部30に隣接する領域に配設されている。
さらに、ミスト噴射ヘッド部100は、不活性ガス噴射部81に加え、原料溶液噴射用ノズル部N1,反応材料噴射用ノズル部N3間に不活性ガス噴射部82、原料溶液噴射用ノズル部N1,反応材料噴射用ノズル部N2間に不活性ガス噴射部83を設けたことを特徴としている。
不活性ガス噴射部81は主として不活性ガス供給部51、通路71及び不活性ガス噴出口191より構成され、不活性ガス噴射部82は主として不活性ガス供給部52、通路72及び不活性ガス噴出口192(第2の不活性ガス噴出口)より構成され、不活性ガス噴射部83は主として不活性ガス供給部53、通路73及び不活性ガス噴出口193(第1の不活性ガス噴出口)により構成される。
図2に示すように、不活性ガス噴射部82において、外部から不活性ガス供給部52に導入される不活性ガスは通路72を介して、ミスト噴射ヘッド部100(不活性ガス噴射部82)の底面に形成される不活性ガス噴出口192から底板21の不活性ガス用開口部392を介して噴出される。不活性ガス供給部51及び53も不活性ガス供給部52と同様、通路71及び73を介して、ミスト噴射ヘッド部100(不活性ガス噴射部81及び83)の底面に形成される不活性ガス噴出口191及び193から不活性ガスを噴出する(不活性ガス噴出口193においては底板21の不活性ガス用開口部393を介して不活性ガスが噴出される)。なお、不活性ガスとしては窒素,アルゴン等が考えられる。
不活性ガス供給部51〜53は不活性ガス噴出口191〜193に連通しているが、不活性ガス供給部51〜53それぞれの開口面積は、不活性ガス噴出口191〜193それぞれの開口面積以上に設定すること望ましい。
さらに、不活性ガス噴出口191〜193により不活性ガスを噴出している流量は、原料溶液噴出口15により原料溶液を噴出している流量及び反応材料噴出口16及び17により反応材料を噴出している流量それぞれ以下に設定することが望ましい。
なお、不活性ガス噴射部82及び83は形成位置及び用いる反応材料を除く全体構成は同一である。
さらに、図2に示すように、Y方向両端部に設けられた2つの不活性ガス供給部55に導入される不活性ガスが、それぞれ通路75を介してミスト噴射ヘッド部100の底面に形成された2つの不活性ガス噴出口195から噴出される。
このように、不活性ガス噴出口195は、上述した枠部30または枠部30に隣接する領域に配設されている。
上述した構成により、不活性ガス噴射部81〜83の不活性ガス供給部51〜53及び不活性ガス供給部55を介して、ミスト噴射ヘッド部100の外部から送られてきた不活性ガスは、ミスト噴射ヘッド部100内へ供給される。通路71〜73及び通路75は、ミスト噴射ヘッド部100内に配設されており、当該供給された不活性ガスは、通路71〜73及び通路75内を伝搬する。不活性ガス噴出口191〜193及び不活性ガス噴出口195は、ミスト噴射ヘッド部100の底面(基板23に面する側)に配設されており、不活性ガス噴出口191〜193及び不活性ガス噴出口195から、不活性ガスが基板23の上面に向けて噴射される。
図4は、底板21を取り外した状態におけるベースプレート部20をY方向から視た外観構造等を示す説明図である。同図(a) は、ミスト噴射ヘッド部100を左側面(−X方向)から視た側面図であり、(b) は正面(+Y方向)から視た正面図である。なお、図4(a) のB−B断面構造が図1で示す断面図となる。
上述したように、排気用ノズル部N4は、他のノズル部N1〜N3とは、X方向に離れて配置されている。したがって、排気用ノズル部N4と他のノズル部N1〜N3との間には、吹き抜け部58が生じる。そこで、ミスト噴射ヘッド部100は、ベースプレート部20を備えている。ベースプレート部20は、吹き抜け部58を、基板23配置側から塞いでいる(図1,図3,図4(b) 参照)。そして、ベースプレート部20の上面上に排気用ノズル部N4が設けられる。
図1、図3及び図4(b) に示すように、実施の形態1のミスト噴射ヘッド部100のベースプレート部20には、不活性ガス供給部54(図4(b) 参照)と、通路74(図1,図3参照)と、複数の不活性ガス噴出口194(第3の不活性ガス噴出口)とが設けられている。
ベースプレート部20において、不活性ガス供給部54を介して、ミスト噴射ヘッド部100の外部から送られてきた不活性ガスは、ベースプレート部20へ供給される。通路74は、ベースプレート部20内に配設されており、当該供給された不活性ガスは、通路74内を伝搬する。複数の不活性ガス噴出口194は、ベースプレート部20の底面(基板23に面する側)に配設されており、複数の不活性ガス噴出口194から、底板21の不活性ガス用開口部394を介して不活性ガスが基板23の上面に向けて噴射される。
図3に示すように、不活性ガス噴出口191〜194はそれぞれ、平面視して長手方向をY方向(第1の方向)とした細長い開口穴であるスリット状である。一方、不活性ガス噴出口195は、平面視して長手方向をX方向(第2の方向)とした細長い開口穴であるスリット状である。なお、不活性ガス噴出口191〜195それぞれの開口部の幅(不活性ガス噴出口191〜194は図5及び図6のX方向の寸法、不活性ガス噴出口195は図5及び図6のY方向側の寸法)は、0.1mm〜10mm程度である。
したがって、不活性ガス噴出口192(第2の不活性ガス噴出口)は原料溶液噴出口15と反応材料噴出口17(第2の反応材料噴出口)との間に設けられ、不活性ガス噴出口193(第1の不活性ガス噴出口)は原料溶液噴出口15と反応材料噴出口16(第1の反応材料噴出口)との間に設けられる。すなわち、実施の形態1のミスト噴射ヘッド部100において、不活性ガス噴出口193及び192は、原料溶液噴出口15と反応材料噴出口16及び17との間に設けられることを特徴としている。
さらに、図1及び図4(b) に示す実施の形態1のベースプレート部20には、内部において、温度調節機構22が配設されている。温度調節機構22は、ベースプレート部20において、温度の調整を行うことができる。具体的には、温度調節機構22を構成する穴部に冷媒、ヒーターを設けることにより実現する。
図1及び図3に示すように、反応材料噴出口17、原料溶液噴出口15、反応材料噴出口16及び排気口18は、当該順に、X方向に配置されている。なお、図とは異なるが、反応材料噴出口16、原料溶液噴出口15、反応材料噴出口17及び排気口18は、当該順に、X方向に配置されていても良い。
以上の説明したように、実施の形態1のミスト噴射ヘッド部100では、原料溶液噴射用ノズル部N1の底面、反応材料噴射用ノズル部N2及びN3の底面、並びにベースプレート部20の底面が面一になるように構成される。したがって、原料溶液噴出口15、反応材料噴出口16及び17、不活性ガス噴出口192〜194はミスト噴射ヘッド部100における面一の底面に設けられることになる。
また、図3を参照して、ミスト噴射ヘッド部100は、基板23に面している側(底面)において、ミスト噴射ヘッド部100の枠部30を有する。枠部30は、ミスト噴射ヘッド部100の底面の縁近傍の部分であり、ミスト噴射ヘッド部100の底面内部側を周囲から取り囲むように、縁取られている部分である。そして、図1から分かるように、枠部30は、底板21の底面より、基板23側に突出している。この突出長は例えば0.1から10mmに設定される。
つまり、枠部30により、反応空間は囲繞されている。ただし、枠部30の端部と基板23の上面とは、接触していない。
反応空間に、ミスト噴射ヘッド部100の原料溶液噴出口15並びに反応材料噴出口16及び17から、底板21を介して、ミスト化された原料溶液並びに2つの反応材料が噴射されると、加熱されている基板23上において、原料溶液と2つの反応材料とが反応し、基板23の上面に所望の膜が成膜される。なお、反応空間内の反応残渣等は、排気用ノズル部N4により、反応空間から排除される。
また、実施の形態1のミスト噴射ヘッド部100では、原料溶液噴射用ノズル部N1内及び反応材料噴射用ノズル部N2,N3内それぞれにおいても、ベースプレート部20と同様、温度調節機構22が配設されている。
(底板21)
実施の形態1の成膜装置は、ミスト噴射ヘッド部100の底面に取り外し可能に設けられる底板21を備えたことを特徴としている。この際、底板21は成膜装置による成膜処理の実行を妨げない態様でミスト噴射ヘッド部100の底面に取り付けられる。
なお、底板21の厚みは例えば1.0〜1.5mm程度に設定され、底板21のミスト噴射ヘッド部100の底面への取り付けはネジ留め等が考えられる。
具体的には、図1に示すように、底板21は、ミスト噴射ヘッド部100の底面への取り付け時に、原料溶液噴出口15、反応材料噴出口16及び17並びに不活性ガス噴出口192〜194に対応する領域に原料溶液用開口部35、反応材料用開口部36及び37並びに不活性ガス用開口部392〜394を有している。
原料溶液用開口部35は原料溶液噴出口15に対応する領域に、平面視して長手方向をY方向(第1の方向)とした細長い開口穴であるスリット状で形成される。すなわち、底板21の取り付け時において原料溶液用開口部35は原料溶液噴出口15と平面視合致して同一形状で形成される。
反応材料用開口部36及び37はそれぞれ反応材料噴出口16及び17に対応する領域に、平面視して長手方向をY方向(第1の方向)とした細長い開口穴であるスリット状で形成される。すなわち、底板21の取り付け時において反応材料用開口部36及び37は反応材料噴出口16及び17と平面視合致した同一形状で形成される。
不活性ガス用開口部392〜394はそれぞれ不活性ガス噴出口192〜194に対応する領域に、平面視して長手方向をY方向(第1の方向)とした細長い開口穴であるスリット状で形成される。すなわち、底板21の取り付け時において不活性ガス用開口部392〜394は不活性ガス噴出口192〜194と平面視合致した同一形状で形成される。
したがって、底板21の取り付け時に、原料溶液噴出口15、反応材料噴出口16及び17並びに不活性ガス噴出口192〜194に関し、底板21によって実施の形態1の成膜装置による成膜処理が影響を受けることはない。
また、排気口18、不活性ガス噴出口191及び195はミスト噴射ヘッド部100の最外側に設けられているため、底板21はミスト噴射ヘッド部100の底面への取り付け時に、排気口18、不活性ガス噴出口191及び195を覆うことなく、排気口18等の近傍に配置される。
したがって、底板21の取り付け時に、排気口18、不活性ガス噴出口191及び195に関し、底板21によって実施の形態1の成膜装置による成膜処理が影響を受けることはない。
上述したように、底板21のミスト噴射ヘッド部100の底面への取り付け時は、図3で示すミスト噴射ヘッド部100の底面の枠部30内において、排気口18及び不活性ガス噴出口191を覆うことなく、排気口18近傍から不活性ガス噴出口191近傍にかけて、底板21が配置される。
したがって、成膜装置による成膜処理の実行を妨げない態様でミスト噴射ヘッド部100の底面に底板21を取り付けることができる。
また、底板21は耐腐食性を有する材料により構成される。具体的には、底板21はステンレス、あるいは、アルマイトやフッ素系樹脂等の耐腐食性及び耐熱性のコーティングを施した材料により構成される。
(効果等)
実施の形態1の成膜装置はミスト噴射ヘッド部100の底面に取り外し可能な底板21を設けることにより、底板21を洗浄することにより底板21に付着した反応生成物を簡単に除去することができる。
さらに、予め底板21を複数準備し、複数の底板21のうち一の底板を洗浄している間に、洗浄済みの他の底板を利用することにより、一の底板を洗浄しつつ成膜装置の使用を継続することができる。
さらに、実施の形態1の成膜装置は、底板21に原料溶液用開口部35、反応材料用開口部36及び37並びに不活性ガス用開口部392〜394を設けることにより、底板21の取り付け時において成膜処理を妨げることなく、底板21に付着した反応生成物を簡単に除去することができる。
また、底板21は、ミスト噴射ヘッド部100の底面への取り付け時に、排気口18、不活性ガス噴出口191及び195を覆うことなく配置されるため、底板21の取り付け時に排気処理を含む成膜処理に影響を与えることはない。
加えて、実施の形態1のミスト噴射ヘッド部100の底面に形成される原料溶液噴出口15、反応材料噴出口16及び17並びに不活性ガス噴出口191〜194は、第1の方向(Y方向)を長手方向としたスリット状に形成される。そして、底板21の原料溶液用開口部35、反応材料用開口部36及び37並びに不活性ガス用開口部392〜394は、底板21のミスト噴射ヘッド部100の底面への取り付け時において、原料溶液噴出口15、反応材料噴出口16及び17並びに不活性ガス噴出口192〜194と平面視合致した同一形状で形成される。したがって、大面積の基板23に対して、均等に、ミスト化された原料溶液を噴霧することができる。
さらに、載置部24またはミスト噴射ヘッド部100は、水平方向に移動可能である。したがって、大面積の基板23の全面に対しても、本実施の形態に係る成膜装置(ミスト噴射ヘッド部100)を用いた成膜処理が可能となる。
例えば、ミスト噴射ヘッド部100をX方向に移動させつつ、成膜装置による成膜処理を行うことにより、基板23の上面上に均一にミスト化された原料溶液等を噴射することができる。
また、反応材料噴出口16(17)をスリット状で形成することにより、大面積の基板23の上面に対して、均等に、反応材料を噴霧することができる。
加えて、排気口18をスリット状で形成することにより、より広範囲に亘って、排気処理が可能となる。また、原料溶液等が排気口18へ向かうX方向の流れを、均等にすることができる。
さらに、耐腐食性を有する材料により底板21を構成することにより、洗浄処理を行った後の底板21の再利用を容易にすることができる。
加えて、実施の形態1のミスト噴射ヘッド部100は、不活性ガス噴射部83(第1の不活性ガス噴射部)は原料溶液噴射用ノズル部N1と反応材料噴射用ノズル部N2との間に設けられ、不活性ガス噴射部82(第2の不活性ガス噴射部)は原料溶液噴出口15と反応材料噴射用ノズル部N3との間に設けられる。
上記構成の実施の形態1のミスト噴射ヘッド部100は、原料溶液噴射用ノズル部N1、反応材料噴射用ノズル部N2及びN3及び不活性ガス噴射部82及び83の組み合わせにより、不活性ガス噴出口193及び192は、原料溶液噴出口15と反応材料噴出口16及び17との間に設けられることを特徴としている。
このため、実施の形態1の成膜装置において、底板21を介した不活性ガス噴出口192及び193からの不活性ガスの噴出により、底板21の原料溶液用開口部35付近並びに反応材料用開口部36及び37付近それぞれへの反応生成物の付着を低減することができ。その結果、底板21の洗浄をより簡単に行うことができる効果を奏する。
さらに、実施の形態1の成膜装置では、不活性ガス供給部51〜53それぞれの開口面積を、不活性ガス噴出口191〜193それぞれの開口面積以上、すなわち、不活性ガス噴出口191〜193それぞれの開口面積を不活性ガス供給部51〜53それぞれの開口面積以下に設定することにより、不活性ガス噴出口191等と不活性ガス供給部51との間に圧力差を設定することができ、成膜時に不活性ガスを基板23上面上に均一に広げることができる効果を奏する。
加えて、実施の形態1の成膜装置において、不活性ガス噴出口192及び193により不活性ガスを噴出している流量を、原料溶液噴出口15により原料溶液を噴出している流量及び反応材料噴出口16及び17により反応材料を噴出している流量それぞれ以下に設定している。
このため、実施の形態1の成膜装置は、不活性ガスの噴出によって、原料溶液と反応材料との反応を阻害する現象を抑制することができる。
さらに、実施の形態1による成膜装置のミスト噴射ヘッド部100は、原料溶液噴射用ノズル部N1を有している。そして、原料溶液噴射用ノズル部N1は、空洞部11内に、空洞部11の底面より離れた位置において、一方の側面側に原料溶液排出部41が配設されている。
したがって、原料溶液噴射用ノズル部N1内の空洞部11で、原料溶液と残留水分とが反応し、パーティクルが生成されたとしても、当該パーティクルは、空洞部11における、底面から原料溶液排出部41までの間の領域に、トラップされる。つまり、空洞部11における当該領域は、パーティクルトラップとして機能し、当該領域内には、パーティクルが捕獲され、原料溶液排出部41、通路61及び原料溶液噴出口15へと搬送されることを防止できる。よって、各部分41,61,15(35)において、パーティクルが付着し、目詰まりが発生することも防止できる。
また、上記と異なり、複数の整流部6の配設を省略することもできるが、原料溶液噴射用ノズル部N1内の空洞部11には、複数の整流部6が配設されている。
したがって、空洞部11内におけるミスト化された原料溶液の流れを整えることができ、パーティクルトラップとして機能している上記領域における、パーティクルの捕獲をより確実にする。
なお、複数の整流部6のうち最下段の整流部6が取り付けられている側面部と、原料溶液排出部41が配設されている側面とは同じである(両方共、一方の側面部(左側)に配設されている)。よって、液滴等が、一方の側面部を伝って、原料溶液排出部41へと流れることも防止できる。
また、上記と異なり、反応材料噴射用ノズル部N2及びN3の配設を省略することもできるが、ミスト噴射ヘッド部100は、反応材料噴射用ノズル部N2及びN3を有している。したがって、大気中における成膜処理における、反応促進が可能となる。また、多種多様の膜を成膜することもできる。
さらに、実施の形態1のミスト噴射ヘッド部100は、二つの反応材料噴射用ノズル部N2,N3を有する。ここで、原料溶液噴射用ノズル部N1は、反応材料噴射用ノズル部N2(第1の反応材料噴射用ノズル部)と反応材料噴射用ノズル部N3(第2の反応材料噴射用ノズル部)とにより、側方から挟まれている。
したがって、反応空間に、異なる反応材料を噴出することができる。よって、基板23上に多種の膜を成膜することが可能となる。また、反応材料噴射用ノズル部N2,N3から同じ反応材料を噴出させた場合には、基板23上における所望の膜の成膜速度を向上させることができる。
また、反応材料噴射用ノズル部N2,N3はそれぞれ温度調節機構22を有している。したがって、例えば、反応材料噴射用ノズル部N2,N3内に溜まった液滴を蒸発させることができる。よって、当該蒸発した反応材料を、反応材料噴射用ノズル部N2,N3から噴射させる反応材料として、利用することができる。
なお、原料溶液噴射用ノズル部N1においても、温度調節機構22が配設されている。したがって、例えば、原料溶液のミスト状態を維持することができる。つまり、原料溶液噴射用ノズル部N1から噴射される原料溶液の液滴が大きくなり、大きな液滴となった原料溶液が基板23の上面に滴下されることを防止できる。
また、ベースプレート部20の底面には、基板23に対して不活性ガスを噴射する複数の不活性ガス噴出口194(第3の不活性ガス噴出口)が配設されている。したがって、ベースプレート部20の下方に存する原料溶液等を基板23の上面上に押し付けることが可能となる。したがって、原料溶液等の利用効率を向上させることができる。
また、ベースプレート部20は、温度調節機構22を有している。したがって、反応空間における、原料溶液等のミスト状態の維持が可能となる。また、ベースプレート部20における液滴の付着を防止できる。さらに、基板23上における成膜反応の促進を図ることもできる。
また、ミスト噴射ヘッド部100の枠部30または枠部30の近傍において、基板23に対して不活性ガスを噴射する不活性ガス噴出口191,195が配設されている。したがって、不活性ガスにより、反応空間を囲繞することができ、反応空間から原料溶液等が拡散することを抑制することができる。
また、反応材料噴射用ノズル部N2(N3)は、空洞部12(13)内に、空洞部12の底面より離れた位置において、一方の側面側に反応材料排出部42(43)が配設されている。
したがって、反応材料噴射用ノズル部N2(N3)内の空洞部12(13)で、反応材料と大気とが反応し、パーティクルが生成されたとしても、当該パーティクルは、空洞部12における、底面から反応材料排出部42(43)までの間の領域に、トラップされる。つまり、空洞部12(13)における当該領域は、パーティクルトラップとして機能し、当該領域内には、パーティクルが捕獲され、反応材料排出部42(43)、通路62(63)及び反応材料噴出口16(17)へと搬送されることを防止できる。よって、各部分42,62,16(36)(43,63,17(37))において、パーティクルが付着し、目詰まりが発生することも防止できる。
また、上記と異なり、複数の整流部7の配設を省略することもできるが、反応材料噴射用ノズル部N2(N3)内の空洞部12(13)には、複数の整流部7(8)が配設されている。
したがって、空洞部12(13)内における反応材料の流れを整えることができ、パーティクルトラップとして機能している上記領域における、パーティクルの捕獲をより確実にする。なお、空洞部12において、複数の整流部7(8)のうち最下段の整流部7(8)が取り付けられている側面部と、反応材料排出部42(43)が配設されている側面とは同じである(両方共、一方の側面部(左側の側面部)に配設されている)。よって、液滴等が、一方の側面部を伝って、反応材料排出部42(43)へと流れることも防止できる。
また、上記と異なり、排気用ノズル部N4の配設を省略することもできるが、ミスト噴射ヘッド部100は、排気用ノズル部N4を有している。したがって、排気用ノズル部N4へと移動する、原料溶液及び反応材料の流れを作り出すことができる。よって、反応空間における原料溶液等の流れが乱れることを防止でき、成膜される膜の膜質を向上させることができる。また、反応空間から外側に原料溶液等が拡散することを抑制することができる。
また、排気処理において、{排気流量Q4≧原料溶液の噴出流量Q1+反応材料の噴出流量Q2+Q3}を満足するように流量が制御される。したがって、反応空間内に噴射された、原料溶液及び2つの反応材料が、反応空間内の上記流れをより確実にすることができる。また、原料溶液及び2つの反応材料が、反応空間から外側に拡散することを確実に防止できる。
また、反応材料噴射用ノズル部N3、原料溶液噴射用ノズル部N1、反応材料噴射用ノズル部N2及び排気用ノズル部N4は、X方向(水平方向)に並んで配置されており、少なくとも排気用ノズル部N4は、ミスト噴射ヘッド部100の最外側に位置している。
したがって、反応空間において、原料溶液及び2つの反応材料は、ミスト噴射ヘッド部100の最外側まで移動する。したがって、原料溶液及び反応材料と基板23とが接触する領域が、最大となり、反応空間における原料溶液等の未反応を最小化にすることができる。
また、排気用ノズル部N4は、空洞部14内に、空洞部14の底面より離れた位置において、他方の側面側に排気物導入部44が配設されている。
したがって、排気物導入部44から空洞部14内に取り込まれた排気物は、空洞部14における、底面から排気物導入部44までの間の領域に、トラップされる。つまり、空洞部14における当該領域は、パーティクルトラップとして機能し、当該領域内には、粒径の大きな排気物が捕獲され、排気物出口部4より先に、粒径が大きな排気物が流れることを防止できる。これにより、排気ポンプに配設されるフィルターの寿命を長くすることができる。
また、上記と異なり、複数の整流部9の配設を省略することもできるが、排気用ノズル部N4内の空洞部14には、複数の整流部9が配設されている。
したがって、排気物出口部4より先に、粒径が大きな排気物が流れることをより確実に防止することができる。これにより、排気ポンプに配設されるフィルターの寿命をより長くすることができる。
また、ミスト噴射ヘッド部100は、吹き抜け部58を基板23側から塞ぐベースプレート部20を有している。したがって、排気用ノズル部N4を他のノズル部N1〜N3から離して配置させたとしても、反応空間から吹き抜け部58へと、原料溶液等が流れることを防止できる。また、ミスト噴射ヘッド部100における、排気用ノズル部N4及び他のノズル部N1〜N3の組み立てが容易となる。
また、ミスト噴射ヘッド部100の枠部30は、基板23側に突出している。したがって、反応空間を囲繞することができ、反応空間から原料溶液等が拡散することを抑制することができる。
<実施の形態2>
図5は実施の形態2である成膜装置におけるミスト噴射ヘッド部100Bの構成を示す断面図である。図6は図5のC−C断面構造を示す断面図である。また、図6においては底板21Bの図示を省略している。
図7は、底板21Bを取り外した状態における、ミスト噴射ヘッド部100Bの底面構造を示す平面図である。図8は、底板21Bを取り外した状態におけるベースプレート部20BをY方向から視た外観構造等を示す説明図である。図8において、同図(a) は、ミスト噴射ヘッド部100Bを左側面(−X方向)から視た側面図であり、(b) は正面(+Y方向)から視た正面図である。なお、図8(a) のD−D断面構造が図5で示す断面図となる。
実施の形態1であるミスト噴射ヘッド部100では、2つの反応材料噴射用ノズル部N2,N3を有していた。一方、実施の形態2によるミスト噴射ヘッド部100Bでは、反応材料噴射用ノズル部N3Bを一つに集約し、反応材料噴射用ノズル部N3Bの底面に設けられた反応材料噴出口16B及び17Bから、第1及び第2の反応材料が噴出される構成を実現している。さらに、反応材料噴射用ノズル部N3Bの底面に設けられた原料溶液噴出口15Bからミスト化された原料溶液が噴出される構成を実現している。そして、実施の形態2の成膜装置では、底板21に代えて底板21Bをミスト噴射ヘッド部100Bの底面に取り付けている。
実施の形態1のミスト噴射ヘッド部100と実施の形態2のミスト噴射ヘッド部100Bとでは、主として、反応材料噴射用ノズル部N2及びN3が反応材料噴射用ノズル部N3Bに置き換わった点、原料溶液噴射用ノズル部N1が原料溶液噴射用ノズル部N1Bに置き換わった点が異なる。以下では、実施の形態2のミスト噴射ヘッド部100Bに関し、実施の形態1のミスト噴射ヘッド部100と異なる構成部分を中心に説明を行い、実施の形態1と同様な構成部分は同一符号を付し説明を適宜省略する。
図5に示すように、ミスト噴射ヘッド部100Bは、反応材料噴射用ノズル部N3Bと、原料溶液噴射用ノズル部N1Bと、排気用ノズル部N4とを有する。図5に示すように、反応材料噴射用ノズル部N3B、原料溶液噴射用ノズル部N1B及び排気用ノズル部N4は、当該順に、X方向(水平方向)に沿って並んで配設されている。
また、原料溶液噴射用ノズル部N1Bの側面と反応材料噴射用ノズル部N3Bの側面とは接触している。しかしながら、原料溶液噴射用ノズル部N1Bの側面と排気用ノズル部N4の側面との間には、所定の距離だけ離れている。つまり、反応材料噴射用ノズル部N3Bと原料溶液噴射用ノズル部N1BとはX方向に隣接しているが、排気用ノズル部N4は、他のノズル部N1,N3Bとは、X方向に離れて配置されている。
上記のように、反応材料噴射用ノズル部N3B,原料溶液噴射用ノズル部N1B及び排気用ノズル部N4は、X方向(水平方向)に並んで配置されている。ここで、少なくとも排気用ノズル部N4は、ミスト噴射ヘッド部100Bの最外側(図5では右端(+X方向側))に位置している。
載置部24により所定の温度で加熱されている基板23の上面に対して、ミスト噴射ヘッド部100Bは、ミスト化された原料溶液等を噴射する。これにより、基板23の上面に所望の膜が、成膜される。なお、成膜処理のときには、載置部24は、水平方向(XY平面内)に移動する。または、ミスト噴射ヘッド部100Bは、当該水平方向に移動する。
(原料溶液噴射用ノズル部N1B及び反応材料噴射用ノズル部N3B)
以下、原料溶液噴射用ノズル部N1B及び反応材料噴射用ノズル部N3Bの構成について説明する。
原料溶液噴射用ノズル部N1Bは、ミスト化された原料溶液を、反応材料噴射用ノズル部N3Bの底面に形成された原料溶液噴出口15Bから底板21Bの原料溶液用開口部35Bを介して噴射するノズルである。原料溶液噴射用ノズル部N1Bには、内部に空洞部11(一方の空洞部)及び空洞部12B(他方の空洞部)が形成されている。また、原料溶液噴射用ノズル部N1Bの上面には、実施の形態1の原料溶液噴射用ノズル部N1と同様、原料溶液供給部1が配設されている。
また、原料溶液噴射用ノズル部N1Bの空洞部11内において、実施の形態1の原料溶液噴射用ノズル部N1と同様、一方の側面部には、複数の整流部6(第1の整流部)が配設されている。
複数の整流部6の下方に空洞部11が設けられる。複数の整流部6の上方の小空間は、複数の整流部7により形成される隙間を通じて、空洞部11と接続されており、空洞部11は、原料溶液排出部41Bに接続されている。
原料溶液排出部41Bは、空洞部11において、一方の側面部(図1では左(−X方向)側の側面)に配設されている。また、原料溶液排出部41Bは、原料溶液噴射用ノズル部N1B(空洞部11)の底面から離れた位置において、配設されている。
一方、原料溶液噴射用ノズル部N1Bではなく、反応材料噴射用ノズル部N3Bの底面に原料溶液噴出口15Bが形成されている。すなわち、実施の形態2のミスト噴射ヘッド部100Bでは、反応材料噴射用ノズル部N3Bの底面に設けられた原料溶液噴出口15Bから、底板21Bの原料溶液用開口部35Bを介してミスト化された原料溶液が基板23の上面に対して噴出される。
そして、反応材料噴射用ノズル部N3には内部に通路61B(第1の内部通路)が配設されている。原料溶液噴射用ノズル部N1Bに設けられた原料溶液排出部41Bは、反応材料噴射用ノズル部N3Bに設けられた通路61Bを介して、原料溶液噴出口15Bと接続されている。
図7に示すように、ミスト噴射ヘッド部100Bの底面はX方向(第2の方向)及びY方向(第1の方向)で規定される矩形状を呈している。そして、原料溶液噴出口15Bは、平面視して長手方向をY方向(第1の方向)とした細長い開口穴であるスリット状を呈している。なお、原料溶液噴出口15Bの開口部の幅(図7のX方向の寸法)は、0.1mm〜10mm程度である。
原料溶液噴射用ノズル部N1Bでは、ミスト化された原料溶液は、原料溶液供給部1から、空洞部11内に供給される。そして、当該原料溶液は、複数の整流部6により整流され、複数の整流部6の上方の小空間に充満した後、空洞部11へと導かれ、空洞部11において充満する。その後、ミスト化された原料溶液は、原料溶液排出部41Bから、反応材料噴射用ノズル部N3Bの通路61Bを介して、原料溶液噴出口15Bへと導かれる。そして、ミスト化された原料溶液は、原料溶液噴出口15Bから、底板21Bの原料溶液用開口部35Bを介して基板23の上面に向けて、噴出される。
さらに、原料溶液噴射用ノズル部N1Bは空洞部11の下方に空洞部12Bを有し、空洞部12Bは、図5及び図8(b) に示すように、原料溶液との反応に寄与する第1の反応材料を供給する反応材料供給部2Bと接続されており、空洞部12Bは、後述する反応材料排出部42Bに接続されている。
反応材料排出部42B(第1の反応材料排出部)は、空洞部12Bにおいて、一方の側面部(図1では左(−X方向)側の側面)に配設されている。また、反応材料排出部42Bは、反応材料噴射用ノズル部N2(空洞部12B)の底面から離れた位置において、配設されている。
一方、反応材料噴射用ノズル部N3B内には通路62B(第2の内部通路)が配設されている。そして、原料溶液噴射用ノズル部N1Bに設けられた反応材料排出部42Bは、反応材料噴射用ノズル部N3Bに設けられた通路62Bを介して、反応材料噴射用ノズル部N3Bの底面に設けられた反応材料噴出口16B(第1の反応材料噴出口)と接続されている。
一方、反応材料噴射用ノズル部N3Bは、主として原料溶液との反応に寄与する第2の反応材料を基板23に対して噴出するノズルである。反応材料噴射用ノズル部N3Bには、内部に一つの空洞部13Bが形成されている。図5に示すように、空洞部13Bは、反応材料噴射用ノズル部N3B内において、上方(+Z方向)に配設されている。具体的には、反応材料噴射用ノズル部N3B内において、上部側には一方の空洞部13Bが設けられる。ここで、空洞部13Bは他の空間から独立して形成される空間である。
図5及び図8(b) に示すように、空洞部13Bにおいて、Y方向の側面には、反応材料供給部3Bが配設されている。第2の反応材料は、反応材料噴射用ノズル部N3B外から、一方の反応材料供給部3Bを介して、一方の空洞部13B内へと供給される。
ここで、上述した第1及び第2の反応材料は、気体であっても液体であっても良い。液体の場合には、超音波振動等を利用してミスト化された液体(反応材料)が、キャリアガスと共に、図示していない経路を通って、原料溶液噴射用ノズル部N1Bあるいは反応材料噴射用ノズル部N3B内へと搬送される。
反応材料供給部3Bから出力される第2の反応材料は、反応材料噴射用ノズル部N3B内の空洞部13Bへと充満する(供給される)。
なお、図5では図示を省略しているが、原料溶液噴射用ノズル部N1Bの空洞部12B及び反応材料噴射用ノズル部N3Bの空洞部13B内において、実施の形態1で説明した機能・作用(つまり、空洞部12B,13B内における反応材料の流れを整え、反応材料と大気とが反応し、パーティクルが生成されたとしても、当該パーティクルが、空洞部12B,13Bの底面から反応材料排出部42B,43Bまでの間の領域に、トラップされることを促進する機能・作用)を有する整流部が配設されていても良い。
また、空洞部13Bにおいて、X方向の側面には、反応材料排出部43が配設されている。ここで、一方の反応材料排出部43は、洞部13Bの底面から離れた位置において、配設されている。
反応材料噴射用ノズル部N3Bの底面において、反応材料噴出口16B及び17Bが配設されている。ここで、空洞部12Bから供給される第1の反応材料が反応材料噴出口16Bから底板21Bの反応材料用開口部36Bを介して、空洞部13Bから供給される第2の反応材料が反応材料噴出口17Bから底板21Bの反応材料用開口部37Bを介して、それぞれ基板23の上面に対して噴出される。
ミスト噴射ヘッド部100B(図5の構成例では、反応材料噴射用ノズル部N3B)内には、通路62B及び通路63が配設されている。そして、原料溶液噴射用ノズル部N1Bと反応材料噴射用ノズル部N3Bとの隣接配置により、反応材料排出部42Bは、通路62Bを介して反応材料噴出口16Bと接続される。一方、反応材料噴射用ノズル部N3B内において、反応材料排出部43Bは、通路63を介して、反応材料噴出口17Bと接続されている。
さらに、図5に示すように、反応材料噴射用ノズル部N3Bの底面において、原料溶液を基板23に対して噴出する原料溶液噴出口15Bが配設されている。実施の形態2では、原料溶液排出部41Bと原料溶液噴出口15Bと接続する通路61Bは、反応材料噴射用ノズル部N3B内に配設されている。
よって、実施の形態2のミスト噴射ヘッド部100Bでは、反応材料噴射用ノズル部N3Bの基板23に面する側において、反応材料噴出口17B、原料溶液噴出口15B及び反応材料噴出口16Bが、当該順にX方向(水平方向)に配設されている。ここで、図7に示すように、各反応材料噴出口17B,16B及び原料溶液噴出口15Bは、平面視して長手方向をY方向とした細長い開口穴であるスリット状を呈している。なお、反応材料噴出口17B,16B及び原料溶液噴出口15B開口部の幅(図7のX方向の寸法)は、0.1mm〜10mm程度である。
原料溶液噴射用ノズル部N1Bから排出される反応材料(第1の反応材料)は、原料溶液噴射用ノズル部N1Bにおいて、反応材料供給部2Bから、空洞部12B内に供給される。そして、第1の反応材料は、空洞部12Bに充満した後、反応材料排出部42Bから反応材料噴射用ノズル部N3Bに排出される。その後、反応材料噴射用ノズル部N3Bの内部に通路62Bを介して、反応材料噴射用ノズル部N3Bの底面に設けられた反応材料噴出口16Bへと導かれる。そして、第1の反応材料は、一方の反応材料噴出口16Bから、底板21Bの反応材料用開口部36Bを介して基板23の上面に向けて、噴出される。
一方、反応材料噴射用ノズル部N3Bにおいて、反応材料(第2の反応材料)は、反応材料供給部3Bから、空洞部13B内に供給される。そして、第2の反応材料は、空洞部13Bに充満した後、反応材料排出部43から、通路63を介して、反応材料噴出口17Bへと導かれる。
図5及び図7に示すように、反応材料噴出口17B、原料溶液噴出口15B、反応材料噴出口16B及び排気口18は、当該順に、X方向(水平方向)に配置されている。
排気用ノズル部N4は、他のノズル部N3B,N1Bとは、X方向に離れて配置されている。したがって、排気用ノズル部N4と他のノズル部N3B,N1Bとの間には、吹き抜け部58が生じる。そこで、本実施の形態においても、ミスト噴射ヘッド部100Bは、ベースプレート部20Bを備えている。ベースプレート部20Bは、反応材料噴射用ノズル部N3Bの底面下から排気用ノズル部N4の底面下にかけても配置されることにより、吹き抜け部58を、基板23配置側から塞いでいる(図5,図7及び図8(b) 参照)。
なお、基板23に対して不活性ガスを噴射できるように、本実施の形態に係るベースプレート部20Bにおいても、実施の形態1と同様、不活性ガス供給部54と、通路74と、複数の不活性ガス噴出口194とが設けられている。さらに、実施の形態2のベースプレート部20Bには、実施の形態1と同様に、温度調節機構22が配設されている。
また、実施の形態2では、反応材料噴射用ノズル部N3B内においても、温度調節機構22が配設されている。なお、ミスト噴射ヘッド部100Bでは、原料溶液噴射用ノズル部N1Bに対する温度調整は、ベースプレート部20B配設されている温度調節機構22の一部が行っている。
なお、実施の形態2においても、ミスト噴射ヘッド部100Bは、基板23に面している側(底面)において、枠部30を有する。さらに、図5に示すように、実施の形態1と同様に、実施の形態2においても、ミスト噴射ヘッド部100Bには、不活性ガス噴射部81の不活性ガス供給部51、通路71及び不活性ガス噴出口191や不活性ガス供給部55、通路75及び不活性ガス噴出口195が設けられている。
反応空間に、ミスト化された原料溶液と反応材料とが噴射されると、加熱されている基板23上において、原料溶液と反応材料とが反応し、基板23の上面に所望の膜が成膜される。なお、反応空間内の反応残渣等は、排気用ノズル部N4により、反応空間から排除される。
(不活性ガス噴出口192B及び193B等)
実施の形態2のミスト噴射ヘッド部100Bの端部(図5の−X方向側端部)において、実施の形態1と同様、不活性ガス噴射部81は枠部30または枠部30に隣接する領域に配設されている。さらに、ミスト噴射ヘッド部100Bの反応材料噴射用ノズル部N3Bの内部に不活性ガス噴射部82B及び83Bが形成されている。
不活性ガス噴射部81は主として不活性ガス供給部51、通路71及び不活性ガス噴出口191より構成され、不活性ガス噴射部82Bは主として不活性ガス供給部52B、通路72B及び不活性ガス噴出口192Bより構成され、不活性ガス噴射部83Bは主として不活性ガス供給部53B、通路73B及び不活性ガス噴出口193Bにより構成される。
図5に示すように、不活性ガス噴射部82Bは、反応材料噴射用ノズル部N3B内において、空洞部13Bの下方に配設され、不活性ガス噴射部83Bの主要部(不活性ガス供給部53B付近の通路73B)は不活性ガス噴射部82Bの主要部(不活性ガス供給部52B付近の通路72B)の下方に形成されている。ここで、不活性ガス噴射部82B及び83Bはそれぞれ他の空間から独立して形成される空間である。
図5、図6及び図8(b) に示すように、不活性ガス噴射部82B及び83Bにおいて、Y方向の側面には、不活性ガス供給部52B及び53Bが配設されている。不活性ガス供給部52B及び53Bは反応材料噴射用ノズル部N3B内に形成された通路72B及び73Bを介して反応材料噴射用ノズル部N3Bの底面に形成された不活性ガス噴出口192B及び193Bに接続される。
図5及び図6に示すように、不活性ガス噴射部82B及び83Bにおいて、外部から不活性ガス供給部52B及び53Bに導入される不活性ガスは通路72B及び73Bを介して、ミスト噴射ヘッド部100Bの底面に形成される不活性ガス噴出口192B及び193Bに導かれ、底板21Bの不活性ガス用開口部392B及び393Bを介して噴出される。
不活性ガス供給部51、52B及び53Bは不活性ガス噴出口191、192B及び193Bに連通しているが、不活性ガス供給部51、52B及び53Bそれぞれの開口面積は、不活性ガス噴出口191、192B及び193Bそれぞれの開口面積以上に設定すること望ましい。
さらに、不活性ガス噴出口191、192B及び193Bにより不活性ガスを噴出している流量は、原料溶液噴出口15Bにより原料溶液を噴出している流量及び反応材料噴出口16B及び17Bにより反応材料を噴出している流量それぞれ以下に設定することが望ましい。
さらに、図6に示すように、実施の形態1と同様、Y方向両端部に設けられた2つの不活性ガス供給部55に導入される不活性ガスが、それぞれ通路75を介して、図7に示すように、ミスト噴射ヘッド部100Bの底面に形成された2つの不活性ガス噴出口195から噴出される。
このように、不活性ガス噴出口195は、上述した枠部30または枠部30に隣接する領域に配設されている。
上述した構成により、不活性ガス噴射部81、82B及び83Bの不活性ガス供給部51、52B及び53B並びに及び不活性ガス供給部55を介して、ミスト噴射ヘッド部100Bの外部から送られてきた不活性ガスは、ミスト噴射ヘッド部100B内へ供給される。通路71、72B及び73B並びに通路75は、ミスト噴射ヘッド部100B内に配設されており、当該供給された不活性ガスは、通路71、72B及び73B並びに通路75内を伝搬する。不活性ガス噴出口191、192B及び193B並びに不活性ガス噴出口195は、ミスト噴射ヘッド部100Bの底面(基板23に面する側)に配設されており、不活性ガス噴出口191、192B及び193B並びに不活性ガス噴出口195から(不活性ガス噴出口192B及び193Bにおいては不活性ガス用開口部392B及び393Bを介して)、不活性ガスが基板23の上面に向けて噴射される。
排気用ノズル部N4は、他のノズル部N1B及びN3Bとは、X方向に離れて配置されている。したがって、排気用ノズル部N4と他のノズル部N1B及びN3Bとの間には、吹き抜け部58が生じる。そこで、ミスト噴射ヘッド部100Bは、ベースプレート部20Bを備えている。ベースプレート部20Bは、吹き抜け部58を、基板23配置側から塞いでいる(図5,図7,図8(b) 参照)。
図5、図7及び図8(b) に示すように、実施の形態2のミスト噴射ヘッド部100Bのベースプレート部20Bには、不活性ガス供給部54(図8(b) 参照)と、通路74(図5,図7参照)と、複数の不活性ガス噴出口194とが設けられている。
ベースプレート部20Bにおいて、不活性ガス供給部54を介して、ミスト噴射ヘッド部100Bの外部から送られてきた不活性ガスは、ベースプレート部20Bへ供給される。通路74は、ベースプレート部20B内に配設されており、当該供給された不活性ガスは、通路74内を伝搬する。複数の不活性ガス噴出口194は、ベースプレート部20Bの底面(基板23に面する側)に配設されており、複数の不活性ガス噴出口194から、底板21Bの不活性ガス用開口部394を介して不活性ガスが基板23の上面に向けて噴射される。
図7に示すように、不活性ガス噴出口191〜194(191、192B、193B及び194)は、それぞれ平面視して長手方向をY方向(第1の方向)とした細長い開口穴であるスリット状である。一方、不活性ガス噴出口195は、平面視して長手方向をX方向(第2の方向)とした細長い開口穴であるスリット状である。なお、不活性ガス噴出口191〜195それぞれの開口部の幅(不活性ガス噴出口191〜194は図6のX方向の寸法、不活性ガス噴出口195は図6のY方向側の寸法)は、0.1mm〜10mm程度である。
そして、図5及び図7に示すように、反応材料噴射用ノズル部N3Bの底面において、不活性ガス噴出口192Bは原料溶液噴出口15Bと反応材料噴出口17Bとの間に設けられ、不活性ガス噴出口193Bは原料溶液噴出口15Bと反応材料噴出口16Bとの間に設けられる。すなわち、実施の形態2のミスト噴射ヘッド部100Bの底面において、不活性ガス噴出口192B及び193は、原料溶液噴出口15Bと反応材料噴出口16B及び17との間に設けられることを特徴としている。
また、実施の形態2のミスト噴射ヘッド部100Bでは、反応材料噴射用ノズル部N3Bの底面及びベースプレート部20Bの底面が面一になるように構成される。したがって、原料溶液噴出口15B、反応材料噴出口16B及び17B、及び不活性ガス噴出口192B、193B及び194はミスト噴射ヘッド部100における面一の底面に設けられることになる。
(底板21B)
実施の形態2の成膜装置は、ミスト噴射ヘッド部100Bの底面に取り外し可能に設けられる底板21Bを備えたことを特徴としている。この際、底板21Bは成膜装置による成膜処理の実行を妨げない態様でミスト噴射ヘッド部100Bの底面に取り付けられる。
なお、底板21Bの厚みは例えば1.0〜1.5mm程度に設定され、底板21Bのミスト噴射ヘッド部100の底面への取り付けはネジ留め等が考えられる。
具体的には、図1に示すように、底板21Bは、ミスト噴射ヘッド部100Bの底面への取り付け時に、原料溶液噴出口15B、反応材料噴出口16B及び17B並びに不活性ガス噴出口192B〜194(192B,193B及び194)に対応する領域に原料溶液用開口部35B、反応材料用開口部36B及び37B並びに不活性ガス用開口部392B〜394(392B,393B及び394)を有している。
原料溶液用開口部35Bは原料溶液噴出口15Bに対応する領域に、平面視して長手方向をY方向(第1の方向)とした細長い開口穴であるスリット状で形成される。すなわち、底板21Bの取り付け時において原料溶液用開口部35Bは原料溶液噴出口15Bと平面視合致して同一形状で形成される。
反応材料用開口部36B及び37Bはそれぞれ反応材料噴出口16B及び17Bに対応する領域に、平面視して長手方向をY方向(第1の方向)とした細長い開口穴であるスリット状で形成される。すなわち、底板21Bの取り付け時において反応材料用開口部36B及び37Bは反応材料噴出口16B及び17Bと平面視合致した同一形状で形成される。
不活性ガス用開口部392B〜394はそれぞれ不活性ガス噴出口192B〜194に対応する領域に、平面視して長手方向をY方向(第1の方向)とした細長い開口穴であるスリット状で形成される。すなわち、底板21Bの取り付け時において不活性ガス用開口部392B〜394は不活性ガス噴出口192B〜194と平面視合致した同一形状で形成される。
したがって、底板21Bの取り付け時に、原料溶液噴出口15B、反応材料噴出口16B及び17B並びに不活性ガス噴出口192B〜194に関し、底板21Bによって実施の形態2の成膜装置による成膜処理が影響を受けることはない。
また、排気口18、不活性ガス噴出口191及び195はミスト噴射ヘッド部100Bの最外側に設けられているため、底板21Bはミスト噴射ヘッド部100Bの底面への取り付け時に、排気口18、不活性ガス噴出口191及び195を覆うことなく、排気口18等の近傍に配置される。
上述したように、図7で示すミスト噴射ヘッド部100Bの底面の枠部30内において、排気口18及び不活性ガス噴出口191を覆うことなく、排気口18近傍から不活性ガス噴出口191近傍にかけて、底板21Bが形成される。
したがって、底板21Bの取り付け時に、排気口18、不活性ガス噴出口191及び195に関し、底板21Bによって実施の形態2の成膜装置による成膜処理が影響を受けることはない。このように、底板21Bは成膜装置による成膜処理の実行を妨げない態様でミスト噴射ヘッド部100Bの底面に取り付けられる。
また、底板21Bは実施の形態1の底板21と同様、耐腐食性を有する材料により構成される。
(効果等)
実施の形態2の成膜装置はミスト噴射ヘッド部100Bの底面に取り外し可能な底板21Bを設けることにより、底板21Bを洗浄することにより底板21Bに付着した反応生成物を簡単に除去することができる。
さらに、予め底板21Bを複数準備し、複数の底板21Bのうち一の底板を洗浄している間に、洗浄済みの他の底板を利用することにより、一の底板を洗浄しつつ成膜装置の使用を継続することができる。
さらに、実施の形態2の成膜装置は、底板21Bに原料溶液用開口部35B、反応材料用開口部36B及び37B並びに不活性ガス用開口部392B〜394を設けることにより、底板21Bの取り付け時において成膜処理を妨げることなく、底板21Bに付着した反応生成物を簡単に除去することができる。
また、底板21Bは、ミスト噴射ヘッド部100Bの底面への取り付け時に、排気口18、不活性ガス噴出口191及び195を覆うことなく配置されるため、底板21Bの取り付け時に排気処理を含む成膜処理に影響を与えることはない。
また、実施の形態2のミスト噴射ヘッド部100Bの底面に形成される原料溶液噴出口15B、反応材料噴出口16B及び17B並びに不活性ガス噴出口191〜194は、第1の方向(Y方向)を長手方向としたスリット状に形成される。そして、底板21Bの原料溶液用開口部35B、反応材料用開口部36B及び37B並びに不活性ガス用開口部392B〜394は、底板21Bのミスト噴射ヘッド部100Bの底面への取り付け時において、原料溶液噴出口15B、反応材料噴出口16B及び17B並びに不活性ガス噴出口192B〜194と平面視合致した同一形状で形成される。したがって、実施の形態2の成膜処理は、実施の形態1と同様、大面積の基板23に対して、均等に、ミスト化された原料溶液を噴霧することができる等の効果を奏する。
さらに、耐腐食性を有する材料により底板21Bを構成することにより、洗浄処理を行った後の底板21Bの再利用を容易にすることができる。
実施の形態2のミスト噴射ヘッド部100Bにおいて、原料溶液噴射用ノズル部N1Bは、ミスト化された原料溶液及び第1の反応材料(反応材料供給部2Bより供給される反応材料)を反応材料噴射用ノズル部N3Bに排出可能な原料溶液排出部41B及び42Bを有している。
一方、反応材料噴射用ノズル部N3Bは、不活性ガス噴出口193B及び192B(第1及び第2の不活性ガス噴出口)よりそれぞれ不活性ガスを噴出し、反応材料噴出口17B(第2の反応材料噴出口)より底板21Bの反応材料用開口部37Bを介して第2の反応材料(反応材料供給部3Bより供給される反応材料)を噴出する。
さらに、反応材料噴射用ノズル部N3Bは、原料溶液噴射用ノズル部N1Bの原料溶液排出部41B及び42Bより排出される原料溶液及び上記第1の反応材料を原料溶液噴出口15B及び反応材料噴出口16B(第1の前記反応材料噴出口)に導く通路61B及び62B(第1及び第2の内部通路)を内部に有している。
上記構成の実施の形態2のミスト噴射ヘッド部100Bは、原料溶液噴射用ノズル部N1B及び反応材料噴射用ノズル部N3Bの組み合わせ構成により、不活性ガス噴出口193B及び192Bは、原料溶液噴出口15Bと反応材料噴出口16B及び17Bとの間に設けられることを特徴としている。
このため、実施の形態2の成膜装置において、実施の形態1と同様、原料溶液用開口部35B付近と反応材料用開口部36B及び37B付近それぞれへの反応生成物の付着を低減することができ。その結果、底板21Bの洗浄をより簡単に行うことができる効果を奏する。
さらに、実施の形態2の成膜装置では、不活性ガス供給部51、52B及び53Bそれぞれの開口面積を、不活性ガス噴出口191、192B及び193Bそれぞれの開口面積以上、すなわち、不活性ガス噴出口191、192B及び193Bそれぞれの開口面積を不活性ガス供給部51、52B及び53Bそれぞれの開口面積以下に設定することにより、不活性ガス噴出口191、192B及び193Bと不活性ガス供給部51、52B及び53Bとの間に圧力差を設定することができ、成膜時に不活性ガスを基板23上面上に均一に広げることができる効果を奏する。
加えて、実施の形態2の成膜装置において、不活性ガス噴出口191、192B及び193Bにより不活性ガスを噴出している流量を、原料溶液噴出口15Bにより原料溶液を噴出している流量及び反応材料噴出口16B及び17Bにより反応材料を噴出している流量それぞれ以下に設定している。
このため、実施の形態2の成膜装置は、不活性ガスの噴出によって、原料溶液と反応材料との反応を阻害する現象を抑制することができる。
さらに、実施の形態2の成膜装置は、実施の形態1の成膜装置と同様な効果を奏するとともに、以下の効果を奏する。
実施の形態2に係るミスト噴射ヘッド部100Bは、1つの原料溶液噴射用ノズル部N1Bにおいて、二つの空洞部11,12Bを設け、一つの反応材料噴射用ノズル部N3Bから、2種類の反応材料及び2つの不活性ガスを基板23に向けて噴射させている。
したがって、2種類の反応材料を噴射させる場合に、実施の形態2で説明したように、ミスト噴射ヘッド部100Bに二つの反応材料噴射用ノズル部N2,N3を設ける必要がなくなる。つまり、本実施の形態に係るミスト噴射ヘッド部100Bでは、省スペース化が可能となる。
さらに、実施の形態2に係るミスト噴射ヘッド部100Bは、一つの反応材料噴射用ノズル部N3B内に不活性ガス噴射部82B及び83Bを設けているため、実施の形態1のミスト噴射ヘッド部100のように不活性ガス噴射部82及び83を独立して設ける必要がなくなる分、ミスト噴射ヘッド部100Bでは、省スペース化が可能となる。
加えて、ミスト噴射ヘッド部100Bは、実施の形態1と同様、吹き抜け部58を基板23側から塞ぐベースプレート部20Bを有している。したがって、排気用ノズル部N4を他のノズル部N1B及びN3Bから離して配置させたとしても、反応空間から吹き抜け部58へと、原料溶液等が流れることを防止できる。また、ミスト噴射ヘッド部100Bにおける、排気用ノズル部N4並びに他のノズル部N1B及びN3Bの組み立てが容易となる。
<その他>
なお、上述した実施の形態では、底板21(底板21B)は、排気口18、不活性ガス噴出口191及び195(以下、「排気口18等」略記)を覆うことなく形成したが、排気口18等がミスト噴射ヘッド部100(100B)の最外より内側に形成されている場合は、排気口18等を覆い、排気口18等と対応する領域に開口部を設けるようにしても良い。
また、上述した実施の形態では、底板21(21B)の取り付け時において、原料溶液用開口部35(35B)、反応材料用開口部36(36B)及び37(37B)、不活性ガス用開口部392〜394(392B〜394)を、原料溶液噴出口15(15B)、反応材料噴出口16(16B)及び17(17B)並びに不活性ガス噴出口192〜194(192B〜194)と平面視合致した同一形状で形成した。しかしながら、原料溶液用開口部35等と原料溶液噴出口15等の関係において、多少の位置ズレ及び形状の大小が生じても、成膜装置による成膜処理の実行を妨げない態様であれば良い。
なお、上述した実施の形態では、反応材料噴出口16及び17(16B及び17B)から第1及び第2の反応材料を基板23に噴出する構成を示したが、単一の反応材料噴出口から単一の反応材料を噴出させる構成であっても良い。この場合、原料溶液噴出口15(15B)と単一の反応材料噴出口との間に単一の不活性ガス噴出口(不活性ガス噴出口192及び193(192B及び193B)に相当する不活性ガス噴出口)を設ければ、原料溶液噴出口15(15B)及び単一の反応材料噴出口それぞれの目詰まりを確実に回避することができる効果を発揮することができる。
この発明は詳細に説明されたが、上記した説明は、すべての局面において、例示であって、この発明がそれに限定されるものではない。例示されていない無数の変形例が、この発明の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。
1 原料溶液供給部
2,2B,3,3B 反応材料供給部
4 排気物出口部
6〜9 整流部
11〜14,12B及び13B 空洞部
15,15B 原料溶液噴出口
16,16B,17,17B 反応材料噴出口
18 排気口
20,20B ベースプレート部
21,21B 底板
22 温度調節機構
23 基板
24 載置部
30 枠部
35,35B 原料溶液用開口部
36,36B,37,37B 反応材料用開口部
41,41B 原料溶液排出部
42,42B,43 反応材料排出部
44 排気物導入部
51〜55,52B,53B 不活性ガス供給部
58 吹き抜け部
61〜64,71〜75,61B,62B,72B,73B 通路
81〜83,82B,83B 不活性ガス噴射部
100,100B ミスト噴射ヘッド部
191〜195,192B,193B 不活性ガス噴出口
392〜394,392B,393B 不活性ガス用開口部
N1,N1B 原料溶液噴射用ノズル部
N2,N3,N3B 反応材料噴射用ノズル部
N4 排気用ノズル部

Claims (15)

  1. ミスト化された原料溶液を大気中に噴射することにより、基板(23)に対して膜を成膜する成膜処理を実行する成膜装置であって、
    前記基板が載置される載置部(24)と、
    前記載置部に載置されている前記基板の上面に対向して設けられ、底面に原料溶液噴出口(15,15B)及び排気口(18)を有し、前記原料溶液噴出口より前記原料溶液を噴射し、前記排気口から排気処理を行うミスト噴射ヘッド部(100,100B)と、
    前記ミスト噴射ヘッド部の底面に取り外し可能に設けられる底板(21,21B)とを備え、前記底板は前記成膜処理の実行を妨げない態様で前記ミスト噴射ヘッド部の底面に取り付けられることを特徴とする、
    成膜装置。
  2. 請求項1記載の成膜装置であって、
    前記ミスト噴射ヘッド部は、底面に反応材料噴出口(16,17,16B,17B)及び不活性ガス噴出口(192〜194,192B,193B)をさらに有し、前記反応材料噴出口より前記原料溶液との反応に寄与する反応材料を噴射し、前記不活性ガス噴出口より不活性ガスを噴射し、
    前記底板は、前記ミスト噴射ヘッド部の底面への取り付け時に、前記原料溶液噴出口、前記反応材料噴出口及び前記不活性ガス噴出口に対応する領域に形成される原料溶液用開口部(35,35B)、反応材料用開口部(36,37,36B,37B)及び不活性ガス用開口部(392〜394,392B,393B)を有する、
    成膜装置。
  3. 請求項2記載の成膜装置であって、
    前記排気口は前記ミスト噴射ヘッド部の最外側に設けられ、
    前記底板は、前記ミスト噴射ヘッド部の底面への取り付け時に、前記排気口を覆うことなく配置される、
    成膜装置。
  4. 請求項2または請求項3に記載の成膜装置であって、
    前記ミスト噴射ヘッド部の底面は第1及び第2の方向で規定される矩形状を呈し、
    前記原料溶液噴出口、前記反応材料噴出口、及び前記不活性ガス噴出口はそれぞれ平面視して前記第1の方向を長手方向としたスリット状に形成され、
    前記原料溶液用開口部、前記反応材料用開口部及び前記不活性ガス用開口部は、前記底板の前記ミスト噴射ヘッド部の底面への取り付け時において、前記原料溶液噴出口、前記反応材料噴出口、及び前記不活性ガス噴出口と平面視合致した同一形状で形成される、
    成膜装置。
  5. 請求項1から請求項4のうち、いずれか1項に記載の成膜装置であって、
    前記底板は耐腐食性を有する材料により構成される、
    成膜装置。
  6. 請求項2または請求項3に記載の成膜装置であって、
    前記ミスト噴射ヘッド部は、
    前記原料溶液噴出口より前記原料溶液の噴射を行う原料溶液噴射用ノズル部(N1,N1B)を備え、
    前記原料溶液噴射用ノズル部は、
    第1の空洞部(11)と、
    前記第1の空洞部内に、ミスト化された前記原料溶液を供給する原料溶液供給部(1)と、
    前記第1の空洞部の底面より離れた位置において、前記第1の空洞部内の側面に設けられ、前記原料溶液噴出口と接続されている原料溶液排出部(41,41B)と、
    前記第1の空洞内に配設されている、前記原料溶液の流れを整える第1の整流部(6)とを含む、
    成膜装置。
  7. 請求項6記載の成膜装置であって、
    前記ミスト噴射ヘッド部は、
    前記原料溶液噴射用ノズル部に水平方向に沿って配設されており、前記反応材料を噴射する反応材料噴射用ノズル部(N2,N3,N3B)をさらに備える、
    成膜装置。
  8. 請求項2記載の成膜装置であって、
    前記不活性ガス噴出口は第1及び第2の不活性ガス噴出口(193,192,193B,192B)を含み、
    前記反応材料は第1及び第2の反応材料を含み、前記反応材料噴出口は前記第1及び第2の反応材料を噴出するための第1及び第2の反応材料噴出口(16,17,16B,17B)を含み、
    前記ミスト噴射ヘッド部は、
    底面に設けられる前記原料溶液噴出口より、前記原料溶液を噴射する原料溶液噴射用ノズル部(N1)と、
    前記原料溶液噴射用ノズル部を挟んで配設されており、底面に設けられる前記第1及び第2の反応材料噴出口より、前記第1及び第2の反応材料を噴射する第1及び第2の反応材料噴射用ノズル部(N2,N3)と、
    底面に設けられる前記第1及び第2の不活性ガス噴出口より、不活性ガスを噴射する第1及び第2の不活性ガス噴射部(83,82)とを備え、
    前記第1の不活性ガス噴射部は前記原料溶液噴射用ノズル部と前記第1の反応材料噴射用ノズル部との間に設けられ、前記第2の不活性ガス噴射部は前記原料溶液噴射用ノズル部と前記第2の反応材料噴射用ノズル部との間に設けられる、
    成膜装置。
  9. 請求項2記載の成膜装置であって、
    前記不活性ガス噴出口は第1及び第2の不活性ガス噴出口(193,192,193B,192B)を含み、
    前記反応材料は第1及び第2の反応材料を含み、前記反応材料噴出口は前記第1及び第2の反応材料を噴出するための第1及び第2の反応材料噴出口(16,17,16B,17B)を含み、
    前記ミスト噴射ヘッド部は、
    前記原料溶液の噴射に加え、前記第1の反応材料の噴射を行う原料溶液噴射用ノズル部(N1B)と、
    前記原料溶液噴射用ノズル部と隣接して配設されており、底面に前記原料溶液噴出口、前記第1及び第2の反応材料噴出口、並びに前記第1及び第2の不活性ガス噴出口を有する反応材料噴射用ノズル部(N3B)とを備え、
    前記原料溶液噴射用ノズル部は、
    前記原料溶液及び前記第1の反応材料を前記反応材料噴射用ノズル部に排出可能な原料溶液排出部及び第1の反応材料排出部(41B,42B)を有し、
    前記反応材料噴射用ノズル部は、
    前記第1及び第2の不活性ガス噴出口よりそれぞれ不活性ガスを噴出し、前記第2の反応材料噴出口より前記第2の反応材料を噴出するとともに、
    前記原料溶液噴射用ノズル部の前記原料溶液排出部及び前記第1の反応材料排出部より排出される前記原料溶液及び前記第1の反応材料を前記原料溶液噴出口及び第1の前記反応材料噴出口に導く第1及び第2の内部通路(61B,63B)を有する、
    成膜装置。
  10. 請求項7記載の成膜装置であって、
    前記反応材料噴射用ノズル部は、
    第2の空洞部(12,13,13B)と、
    前記第2の空洞部内に前記反応材料を供給する反応材料供給部(2,3,3B)と、
    前記第2の空洞部の底面より離れた位置において、前記第2の空洞部内の側面に設けられ、前記反応材料噴出口と接続されている反応材料排出部(42,42B,43)とを、有する、
    成膜装置。
  11. 請求項10記載の成膜装置であって、
    前記ミスト噴射ヘッド部は、
    排気口より排気処理を行う排気用ノズル部(N4)をさらに備え、
    前記排気用ノズル部は、
    前記原料溶液噴射用ノズル部が前記原料溶液を噴出している流量と、前記反応材料噴射用ノズル部が前記反応材料を噴出している流量との和以上の流量で、前記排気処理を行う、
    成膜装置。
  12. 請求項11記載の成膜装置であて、
    前記排気用ノズル部は、
    第3の空洞部(14)と、
    前記第3の空洞部の底面より離れた位置において、前記第3の空洞部内の側面に設けられ、前記排気口と接続されている排気物導入部(44)と、
    前記排気物導入部より上方に配設されており、排気物を前記第3の空洞部から前記排気用ノズル部外へと排出する排気物出口部(4)とを含む、
    成膜装置。
  13. 請求項11記載の成膜装置であって、
    前記ミスト噴射ヘッド部は、
    前記原料溶液噴射用ノズル部と前記排気用ノズル部との間に設けられている吹き抜け部(58)と、
    前記吹き抜け部を、前記基板の配置側から塞ぐベースプレート部(20,20B)とをさらに備える、
    成膜装置。
  14. 請求項13記載の成膜装置であって、
    前記ベースプレート部は、
    不活性ガスを噴出する第3の不活性ガス噴出口(194)が配設されている、
    成膜装置。
  15. 請求項11記載の成膜装置であって、
    前記原料溶液噴射用ノズル部、前記反応材料噴射用ノズル部及び前記排気用ノズル部は、水平方向に並んで配置されており、
    少なくとも前記排気用ノズル部は、
    前記ミスト噴射ヘッド部の最外側に位置している、
    成膜装置。
JP2017546290A 2015-10-19 2015-10-19 成膜装置 Active JP6426298B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2015/079447 WO2017068624A1 (ja) 2015-10-19 2015-10-19 成膜装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2017068624A1 true JPWO2017068624A1 (ja) 2018-03-01
JP6426298B2 JP6426298B2 (ja) 2018-11-21

Family

ID=58557600

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017546290A Active JP6426298B2 (ja) 2015-10-19 2015-10-19 成膜装置

Country Status (8)

Country Link
US (1) US11124877B2 (ja)
JP (1) JP6426298B2 (ja)
KR (1) KR102173962B1 (ja)
CN (1) CN108138320B (ja)
DE (1) DE112015007036B4 (ja)
HK (1) HK1249767A1 (ja)
TW (1) TWI583818B (ja)
WO (1) WO2017068624A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102354893B1 (ko) * 2017-05-31 2022-01-25 도시바 미쓰비시덴키 산교시스템 가부시키가이샤 미스트 도포 성막 장치의 도포 헤드 및 그의 메인터넌스 방법

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH072548A (ja) * 1993-01-11 1995-01-06 Glaverbel Sa 熱分解によってコーティングを形成する装置および方法
JP2006108311A (ja) * 2004-10-04 2006-04-20 Taiyo Nippon Sanso Corp 気相成長装置
US20110244130A1 (en) * 2008-10-14 2011-10-06 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E. V. Method for Producing Photocatalytically Active Titanium Dioxide Layers
WO2012124047A1 (ja) * 2011-03-15 2012-09-20 東芝三菱電機産業システム株式会社 成膜装置
WO2014068778A1 (ja) * 2012-11-05 2014-05-08 東芝三菱電機産業システム株式会社 成膜装置

Family Cites Families (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5478224A (en) * 1994-02-04 1995-12-26 Illinois Tool Works Inc. Apparatus for depositing a material on a substrate and an applicator head therefor
US5904773A (en) * 1995-08-11 1999-05-18 Atotech Usa, Inc. Fluid delivery apparatus
DE19530516A1 (de) * 1995-08-19 1997-02-20 Hoechst Ag Vorrichtung zum Auftragen einer Beschichtungslösung
US5773080A (en) * 1997-04-17 1998-06-30 Simmons; George Pattern coating of thick film pressure sensitive adhesives
JP3437446B2 (ja) * 1997-09-16 2003-08-18 東京応化工業株式会社 薬液処理装置
US6302964B1 (en) * 1998-06-16 2001-10-16 Applied Materials, Inc. One-piece dual gas faceplate for a showerhead in a semiconductor wafer processing system
JP2001107247A (ja) 1999-10-05 2001-04-17 Central Glass Co Ltd Cvd成膜装置
US6695923B1 (en) * 2000-11-21 2004-02-24 Sealant Equipment & Engineering, Inc. Multiple orifice applicator system and method of using same
US20030131791A1 (en) * 2000-11-21 2003-07-17 Schultz Carl L. Multiple orifice applicator system and method of using same
US20030155434A1 (en) * 2002-02-01 2003-08-21 Rini Daniel P. Spray nozzle apparatus and method of use
US6457608B1 (en) * 2001-10-15 2002-10-01 Nordson Corporation Liquid dispensing apparatus having independently positionable liquid dispensing modules
JP2003145062A (ja) * 2001-11-14 2003-05-20 Mitsubishi Electric Corp 洗浄用2流体ジェットノズル、洗浄装置およびこれらを用いた半導体装置の製造方法
JP4128383B2 (ja) * 2002-03-27 2008-07-30 東京エレクトロン株式会社 処理装置及び処理方法
US6869161B2 (en) * 2002-06-28 2005-03-22 Agfa-Gevaert Method for cleaning a nozzle plate
US6821563B2 (en) * 2002-10-02 2004-11-23 Applied Materials, Inc. Gas distribution system for cyclical layer deposition
US6942753B2 (en) * 2003-04-16 2005-09-13 Applied Materials, Inc. Gas distribution plate assembly for large area plasma enhanced chemical vapor deposition
US7913938B2 (en) * 2004-11-12 2011-03-29 Mystic Tan, Inc. Electrostatic spray nozzle with adjustable fluid tip and interchangeable components
ATE552917T1 (de) * 2005-08-24 2012-04-15 Brother Ind Ltd Vorrichtung und verfahren zur erzeugung von schichten
US11136667B2 (en) 2007-01-08 2021-10-05 Eastman Kodak Company Deposition system and method using a delivery head separated from a substrate by gas pressure
US20100108108A1 (en) * 2007-03-22 2010-05-06 Tokyo Electron Limited Substrate mounting table, substrate processing apparatus and method for treating surface of substrate mounting table
KR101172147B1 (ko) * 2009-02-23 2012-08-07 시너스 테크놀리지, 인코포레이티드 플라즈마에 의한 라디칼을 이용한 박막 형성 방법
US9186881B2 (en) * 2009-03-09 2015-11-17 Illinois Tool Works Inc. Thermally isolated liquid supply for web moistening
US8657959B2 (en) * 2009-07-31 2014-02-25 E I Du Pont De Nemours And Company Apparatus for atomic layer deposition on a moving substrate
US20110097489A1 (en) * 2009-10-27 2011-04-28 Kerr Roger S Distribution manifold including multiple fluid communication ports
WO2012165583A1 (ja) * 2011-06-03 2012-12-06 株式会社和廣武 Cvd装置、及び、cvd膜の製造方法
CN103648974B (zh) 2011-09-13 2015-10-21 东芝三菱电机产业系统株式会社 氧化膜成膜方法及氧化膜成膜装置
US10526708B2 (en) * 2012-06-19 2020-01-07 Aixtron Se Methods for forming thin protective and optical layers on substrates
US9138760B2 (en) * 2012-10-22 2015-09-22 Steven C. Cooper Electrostatic liquid spray nozzle having an internal dielectric shroud
KR102003768B1 (ko) * 2012-11-13 2019-07-26 삼성디스플레이 주식회사 기상 증착 장치 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법
KR102173047B1 (ko) * 2013-10-10 2020-11-03 삼성디스플레이 주식회사 기상 증착 장치
KR102268959B1 (ko) * 2014-03-31 2021-06-24 삼성디스플레이 주식회사 원자층 증착 장치 및 이를 이용한 원자층 증착 방법
JPWO2016051559A1 (ja) * 2014-10-01 2017-04-27 東芝三菱電機産業システム株式会社 成膜装置
US10954597B2 (en) * 2015-03-17 2021-03-23 Asm Ip Holding B.V. Atomic layer deposition apparatus
US10260149B2 (en) * 2016-04-28 2019-04-16 Applied Materials, Inc. Side inject nozzle design for processing chamber
KR101817254B1 (ko) * 2016-09-23 2018-01-10 주식회사 동원파츠 가스 디스트리뷰터 및 이의 제조방법
CN107099784B (zh) * 2017-05-13 2019-05-07 华中科技大学 一种用于空间隔离原子层沉积的模块化喷头及装置
US11201288B2 (en) * 2017-05-26 2021-12-14 Universal Display Corporation Generalized organic vapor jet depositor capable of high resolution printing and method for OVJP printing
US11072858B2 (en) * 2018-09-05 2021-07-27 Nova Engineering Films, Inc. Pulsing mixture of precursor and supercritical fluid to treat substrate surface
US11486038B2 (en) * 2019-01-30 2022-11-01 Applied Materials, Inc. Asymmetric injection for better wafer uniformity

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH072548A (ja) * 1993-01-11 1995-01-06 Glaverbel Sa 熱分解によってコーティングを形成する装置および方法
JP2006108311A (ja) * 2004-10-04 2006-04-20 Taiyo Nippon Sanso Corp 気相成長装置
US20110244130A1 (en) * 2008-10-14 2011-10-06 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E. V. Method for Producing Photocatalytically Active Titanium Dioxide Layers
WO2012124047A1 (ja) * 2011-03-15 2012-09-20 東芝三菱電機産業システム株式会社 成膜装置
WO2014068778A1 (ja) * 2012-11-05 2014-05-08 東芝三菱電機産業システム株式会社 成膜装置

Also Published As

Publication number Publication date
HK1249767A1 (zh) 2018-11-09
DE112015007036T5 (de) 2018-07-19
WO2017068624A1 (ja) 2017-04-27
US20180264498A1 (en) 2018-09-20
CN108138320B (zh) 2020-11-03
KR20180054730A (ko) 2018-05-24
TW201715074A (zh) 2017-05-01
CN108138320A (zh) 2018-06-08
TWI583818B (zh) 2017-05-21
KR102173962B1 (ko) 2020-11-04
JP6426298B2 (ja) 2018-11-21
US11124877B2 (en) 2021-09-21
DE112015007036B4 (de) 2023-09-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2017068625A1 (ja) 成膜装置
JP5914690B2 (ja) 成膜装置
WO2016051559A1 (ja) 成膜装置
JP6258892B2 (ja) 基板処理装置及び基板処理方法
WO2017068624A1 (ja) 成膜装置
JP6466877B2 (ja) 成膜装置
KR101452834B1 (ko) 원자층 증착장치
JP6466876B2 (ja) 成膜装置
KR100795487B1 (ko) 층류유동제어장치 및 이를 구비한 화학기상증착반응기
JP6529628B2 (ja) 成膜装置
JP7195778B2 (ja) 成膜装置、クリーニングガスノズル、クリーニング方法
KR20160138652A (ko) 기판건조용 에어나이프 모듈 및 이를 포함하는 기판건조장치
JP2008190001A (ja) ワイピングノズル
KR20120094440A (ko) 성막 장치
KR20160139217A (ko) 기판건조용 에어나이프 모듈 및 이를 포함하는 기판건조장치
JP2014197599A (ja) 流体供給装置及び流体供給ナイフ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20171101

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20181023

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20181024

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6426298

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250