JP6258892B2 - 基板処理装置及び基板処理方法 - Google Patents

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Description

本発明の実施形態は、基板処理装置及び基板処理方法関する。
たとえば、液晶表示装置の製造工程等において、基板表面に対して、処理液(たとえば純水)をノズルから供給し、基板表面を洗浄する工程がある。この工程において、基板をより清浄に洗浄するため、純水の供給圧力を高めたり、ノズル自体の数を増やす等の方法がとられている。
特開2010−258125号公報
しかし、純水の供給圧力を高めたり、ノズル自体の数を増やすと、基板の単位面積あたりにおいて供給される液量が増えるため、それだけ厚い液膜が形成されやすくなる。この厚い液膜が存在すると、ノズルからの純水供給圧力を高くすることによって基板表面に衝撃を与える洗浄を行いたいにもかかわらず、液膜が邪魔をして、基板表面に本来与えられる予定の衝撃が十分に与えられず、その結果、洗浄効果が落ちてしまうことがある。
本発明の目的は、処理液を用いた基板に対する処理を良好に行うことが可能な基板処理装置及び基板処理方法を提供することである。
実施形態に係る基板処理装置は、
搬送される基板の表面に対して処理液を供給する第1のノズルと、
前記第1のノズルを挟むように前記基板の搬送方向に並べられ、前記基板の表面に垂直な面に対してそれぞれ傾斜して流体を吐出する一対の第2のノズルと、
を備え、
前記一対の第2のノズルのうち前記第1のノズルよりも前記基板の搬送方向において下流側にある一方の第2のノズルは、前記基板の搬送方向下流側へ向かって前記流体を吐出し、前記第1のノズルから前記処理液が供給されている前記基板の表面に対して前記流体を前記基板の搬送方向下流側へ流し、
他方の第2のノズルは、前記基板の搬送方向上流側へ向かって前記流体を吐出し、前記第1のノズルから前記処理液が供給されている前記基板の表面に対して前記流体を前記基板の搬送方向上流側へ流し、
前記一方の第2のノズルから吐出される流体の量は、前記他方の第2のノズルから吐出される流体の量よりも多いことを特徴とする。
実施形態に係る基板処理方法は、
搬送される基板の表面に対して第1のノズルから処理液を供給する工程と、
前記第1のノズルを挟むように前記基板の搬送方向に並べられ、前記基板の表面に垂直な面に対してそれぞれ傾斜する一対の第2のノズルから流体を吐出する工程と、
を有し、
前記一対の第2のノズルから前記流体を吐出する工程では、前記一対の第2のノズルのうち前記第1のノズルよりも前記基板の搬送方向において下流側にある一方の第2のノズルから、前記基板の搬送方向下流側へ向かって前記流体を吐出し、前記第1のノズルから前記処理液が供給されている前記基板の表面に対して前記流体を前記基板の搬送方向下流側へ流し、
他方の第2のノズルから、前記基板の搬送方向上流側へ向かって前記流体を吐出し、前記第1のノズルから前記処理液が供給されている前記基板の表面に対して前記流体を前記基板の搬送方向上流側へ流し、
前記一方の第2のノズルから吐出される流体の量は、前記他方の第2のノズルから吐出される流体の量よりも多いことを特徴とする。
本発明の実施形態によれば、処理液を用いた基板に対する処理を良好に行うことができる。
本発明の第1の実施形態に係る基板処理装置を含む基板製造装置の全体を示す概略図である。 本発明の第1の実施形態に係る基板処理装置の一部分を拡大して示す図である。 本発明の第1の実施形態に係る基板処理装置が備えるノズル(第2のノズル)を示す図である。 本発明の第2の実施形態に係る基板処理装置を含む基板製造装置の全体を示す概略図である。 本発明の第2の実施形態に係る基板処理装置の一部分を拡大して示す図である。 本発明の第3の実施形態に係る基板処理装置が備えるノズル(第2のノズル)の吐出口配列を示す図である。 本発明の第3の実施形態に係る変形例の基板処理装置が備える複数のノズル(第2のノズル)を示す図である。 本発明の第4の実施形態に係る基板処理装置が備えるノズル(第2のノズル)とアクアナイフを示す平面図である。
以下、発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
(第1の実施形態)
第1の実施形態について、図1乃至図3を用いて説明する。
図1に示すように、第1の実施形態に係る基板処理装置を含む基板製造装置100は、搬送部1と、搬送部1によって搬送される基板Wを薬液により処理する薬液処理部10と、搬送部1によって搬送される基板Wを洗浄する洗浄部20(基板処理装置)と、搬送部1によって搬送される基板Wを乾燥する乾燥部30と、各部を制御する制御部40とを備えている。搬送部1は、図示しない駆動源によって回転可能な回転軸を有する複数の搬送ローラ1aを備えており、基板WをA方向に搬送する。
薬液処理部10は、ノズル11から薬液を基板Wの表面に供給し、基板Wの表面を薬液により処理する。洗浄部20は、薬液処理部10において薬液やパーティクルが付着した基板Wの表面に、ノズル21より洗浄液を供給することによって、基板Wの表面を洗浄する。乾燥部30は、洗浄部20にて洗浄された基板Wに、エアナイフ31から気体を供給して基板Wの表面を乾燥させる。
洗浄部20は、図2に示すように、第1のノズルとしてのノズル21と、一対の第2のノズルとしてのノズル22A及びノズル22Bと、アクアナイフ23とを有している。
ノズル21は、たとえば、基板Wの幅方向(搬送方向Aに水平面内で直交する方向)全域に及ぶスリットが形成されたスリットノズルであり、このスリットから洗浄液L(たとえば純水)を高圧で吐出して基板Wに衝撃を与えることによって基板Wの表面を洗浄する。このノズル21は、基板Wの表面に対し、その垂線方向から洗浄液Lを供給する。
ノズル22Aは、たとえば、図3に示すように、基板Wの幅方向(搬送方向Aに水平面内で直交する方向)に並ぶ複数の吐出口22aが形成されたシャワーノズルである。なお、図3は、搬送方向Aの上流側からノズル22Aを見た図である。各吐出口22aは、吐出口22aから吐出された洗浄液Lが突き当たる基板W上の液衝突領域が基板Wの幅方向全域において直線状につながるように、たとえば重なるように配置されている。ノズル22Bもノズル22Aと同様の構造であるため、その説明を省略する。
図2に戻って、一対のノズル22A及び22Bは、ノズル21を挟むように搬送方向Aに並べられている。具体的には、ノズル21に対して搬送方向Aの上流側にノズル22Aが設けられており、ノズル21に対して搬送方向Aの下流側にノズル22Bが設けられている。そして本実施の形態において、ノズル22Aは、基板Wの表面に垂直な面に対して所定角度θ(たとえば、20度)、搬送方向Aの下流側に傾斜して配置され、下面の各吐出口22aから搬送方向Aの上流方向に向かう斜め下方に向けて洗浄液Lを吐出する。ノズル22Bは、基板Wの表面に垂直な面に対してノズル22Aと同じ角度θ(たとえば、20度)搬送方向Aの上流側に傾斜して配置され、下面の各吐出口22aから搬送方向Aの下流方向に向かう斜め下方に向けて洗浄液Lを吐出する。ノズル22A及びノズル22Bの個々の吐出圧力は同じに設定されており、ノズル22A及び22Bの個々の吐出液は、ノズル21から吐出される処理液と同じ洗浄液Lとされている。なお、吐出圧力とは、各吐出口22aから液を吐出するための圧力である。
ノズル22A及びノズル22Bの個々の傾斜角度(所定角度θ)は、基板Wの搬送に支障がない範囲で、かつ、洗浄液Lの流れができやすいように決められている。基板Wは搬送部1の各搬送ローラ1aと、それらの搬送ローラ1aの上方に位置する上乗せローラ(図示せず)により挟まれて搬送される。ノズル22A及びノズル22Bの個々の傾斜角度が大きくて上乗せローラの数が少ない場合、基板Wが液の勢いで動いてしまうことがある。このため、ノズル22A及びノズル22Bの個々の傾斜角度は、上乗せローラの数やスペースも考慮して決定される。また、ノズル22Aやノズル22Bの個々の傾斜角度を大きくすればするほど、ノズル22Aやノズル22Bから噴射されてノズル21側に流れる液を極力少なくすることができる。なお、傾斜角度の調整以外にも、ノズル22A又はノズル22Bと基板Wとの鉛直方向の離間距離や吐出圧力を、基板Wの搬送に支障がない範囲で、かつ、洗浄液Lの流れができやすいように調整することも可能である。
アクアナイフ23は、乾燥部30へ搬入される前の基板Wの表面に残留する洗浄液Lを排除するためのものである。このアクアナイフ23は、基板Wの幅方向全域に及ぶスリットが形成されたノズルから搬送方向Aの上流側に向かう斜め下方に向けて純水等の液体を吐出し、基板Wの表面に供給する。
次に、基板製造装置100における処理の手順について、図1を用いて説明する。なお、動作制御は制御部40(制御装置)により行われる。
まず、薬液処理部10に基板Wが搬入されると、制御部40から信号がノズル11に送られ、ノズル11から薬液(たとえば剥離液)が基板Wに供給される。基板Wは薬液によって処理され、洗浄部20へと搬送される。次に、洗浄部20に基板Wが搬入されると、制御部40からの信号によって、ノズル21、ノズル22A及びノズル22Bからの洗浄液Lの供給が開始される。
以下、洗浄部20における洗浄工程について、図2を用いて説明する。
洗浄部20に基板Wが搬入されると、まず、ノズル22Aから洗浄液Lが基板Wに供給される。基板Wの表面上には、前の工程である薬液処理部10で供給された薬液によって形成された液膜が存在している。ところが、ノズル22Aからの洗浄液Lが搬送方向Aの上流側へ向けて供給されるため、基板W上に存在する薬液が搬送方向Aの上流側へ押しやられ、薬液の液膜が薄化されることになる。この液膜が薄化された状態の基板Wに対して、ノズル21から洗浄液Lが供給され、洗浄処理が行われる。
ノズル21から吐出される洗浄液Lは、高い供給圧力で多量に吐出される。このため、基板Wの表面に多くの洗浄液Lが供給され、厚い液膜が形成されやすくなる。しかし、ノズル21の搬送方向Aの上流側にはノズル22Aが設けられており、ノズル21の搬送方向Aの下流側にはノズル22Bが設けられている。これにより、ノズル21から基板W上に供給された洗浄液Lは、ノズル22Aから搬送方向Aの上流側に向かう斜め下方に吐出された洗浄液Lに引き込まれて搬送方向Aの上流側へ、また、ノズル22Bから搬送方向Aの下流側に向かう斜め下方に吐出された洗浄液Lに引き込まれて搬送方向Aの下流側へ流れる。このような洗浄液Lの流れを基板Wの表面に作ることによって、ノズル21から吐出される洗浄液Lによって形成される液膜あるいは薬液処理部10で供給された剥離液によって形成される液膜により、ノズル21から吐出される洗浄液Lによる洗浄処理が妨げられることを抑えることができる。したがって、基板Wの表面上に形成された液膜の厚さを制御することが可能となるため、洗浄処理を良好に行うことができる。また、ノズル22A及びノズル22Bの両方が洗浄液を吐出するため、それらノズル22A及びノズル22Bが洗浄液以外の液体を吐出する場合に比べ、洗浄能力を向上させることができる。
なお、ノズル21の吐出圧力と、ノズル22A及びノズル22Bの個々の吐出圧力との大小は問わないが、良好な処理を行うためには、ノズル22A及びノズル22Bの個々の吐出圧力はノズル21の吐出圧力と同等あるいはそれ以上であると好ましい。このようにすると、前述の洗浄液Lの流れを基板Wの表面に確実に作ることが可能となるので、ノズル21から吐出される洗浄液Lによる洗浄処理が妨げられることを確実に抑え、洗浄処理を良好に行うことができる。
さらに、ノズル22Bの搬送方向Aの下流側にはアクアナイフ23が設けられている。アクアナイフ23の吐出方向は、搬送方向Aの上流側に向かう斜め下方であるため、アクアナイフ23から供給される純水によって、基板Wの表面に存在する洗浄液Lがせき止められる。これにより、次工程である乾燥部30に基板Wが搬入される前に、基板W上の余分な洗浄液Lが基板Wの幅方向両端から落下して排除され、図示しないドレインパンへと回収される。また、アクアナイフ23から吐出されて洗浄部20の内部(搬送方向Aの上流側)に向かう純水は、ノズル22Bから吐出されて洗浄部20の外部(搬送方向Aの下流側)に向かう洗浄液Lによって遮られるため、ノズル21から吐出される洗浄液Lによる洗浄処理を妨げることを防止することができる。
なお、アクアナイフ23は、ノズル22Bと同じ角度で搬送方向Aの下流側に傾斜して設けられていても良いし、ノズル22Bよりも小さい角度(たとえば15度)で搬送方向Aの下流側に傾斜して設けられていても良い。ノズル22Bの搬送方向Aの下流側には高圧で基板Wに洗浄液を吐出して衝撃を与えることによって洗浄処理を行うノズル21は設けられていない。このため、洗浄処理の妨げになる液膜がノズル22Bの搬送方向Aの下流側に存在していても問題はない。すなわち、アクアナイフ23は、次の乾燥部30での処理工程に影響を及ぼさない程度に液膜を除去できれば足りる。ただし、アクアナイフ23がノズル22Bよりも大きい角度で傾斜して設けられた場合には、アクアナイフ23により基板W上に供給された純水が、ノズル22Bにより基板W上に供給された洗浄液Lによってせき止められず、ノズル21による基板W上の洗浄領域に搬送方向Aの下流側から到達する可能性が出てくる。このため、アクアナイフ23がノズル22Bよりも大きい角度で傾斜して設けられることは好ましくない。したがって、アクアナイフ23はノズル22Bよりも小さい角度で傾斜していることが最も好適である。
図1に戻って、基板Wが乾燥部30に搬入されると、制御部40からの信号によって、エアナイフ31からの気体(たとえば空気)噴射が開始される。このエアナイフ31から噴射される気体としては、常温の気体以外にも、加熱気体を用いることが可能である。エアナイフ31は、一般的な基板の乾燥工程に用いられる公知のエアナイフである。エアナイフ31からの空気によって、洗浄部20にて基板Wに供給された洗浄液Lは吹き飛ばされ、基板Wは乾燥される。乾燥部30から搬出された基板Wは次の工程へと搬送される。
以上のように、第1の実施形態によれば、基板Wの表面に存在する薬液は洗浄部20内で薄膜化されるので、ノズル21から吐出された洗浄液Lが基板Wの表面に到達する際の衝撃を高めることができる。また、高い供給圧力で多量の洗浄液Lによって洗浄されたとしても、この洗浄液Lによる液膜によって洗浄処理が妨げられることを抑えることができるので、良好に洗浄処理を行うことができる。
(第2の実施形態)
第2の実施形態について、図4及び図5を用いて説明する。第2の実施形態は、基本的に第1の実施形態と同様である。このため、第2の実施形態では、第1の実施形態との相違点について説明し、その他の説明は省略する。以降の実施形態も同様である。
図4及び図5に示すように、第2の実施形態に係る基板処理装置を含む基板製造装置200が上記第1の実施形態と異なる点は、基板Wの搬送方向Aに沿って洗浄部20Aにノズル21が複数(たとえばノズル21Aとノズル21Bの2つ)設けられている点であり、さらに、それぞれのノズル21A及び21Bに対し、搬送方向Aの上流側にはノズル22Aが設けられており、搬送方向Aの下流側にはノズル22Bが設けられている点である。
図5に示すように、洗浄部20Aに基板Wが搬入されると、第1の実施形態同様、ノズル21Aの搬送方向Aの上流側に位置するノズル22Aから洗浄液Lが基板Wの表面に供給され、次に、ノズル21Aからの洗浄液Lによる基板Wの洗浄が行われ、その後、ノズル21Aとノズル21Bの間に位置するノズル22Bから洗浄液Lが基板Wの表面に供給される。次いで、ノズル21Aとノズル21Bの間に位置するノズル22Aからの洗浄液Lが基板Wの表面に供給される。これにより、ノズル21Aとノズル21Bの間に位置するノズル22Aから搬送方向Aの上流側に向かう斜め下方に吐出された洗浄液Lは、ノズル21Aとノズル21Bの間に位置するノズル22Bから吐出された洗浄液L及びこの洗浄液Lの流れによって搬送方向Aの下流側へ流れるように引き込まれたノズル21Aからの洗浄液Lを搬送方向Aの下流側へ流れ込まないようにする。
このようにノズル21Aとノズル21Bの間に位置するノズル22Bの吐出方向が搬送方向Aの下流側に向かう斜め下方に向けられており、ノズル21Aとノズル21Bの間に位置するノズル22Aの吐出方向が搬送方向Aの上流側に向かう斜め下方に向けられている。このため、基板W上の余分な洗浄液Lがせき止められた状態になり、余分な洗浄液Lは基板Wの幅方向両端から速やかに落下し、図示しないドレインパンへと回収される。ノズル21Bからの洗浄液Lは、ノズル21Aとノズル21Bの間に位置するノズル22Aによって基板W上の余分な洗浄液Lが取り除かれた状態の基板Wに供給されるので、厚い液膜によってノズル21Bからの洗浄液Lによる洗浄処理が妨げられることを抑えることができる。
また、ノズル21Bの下流側に位置するノズル22Bの下流側には、アクアナイフ23が設けられており、前述の第1の実施形態と同様、次工程である乾燥部30に基板Wが搬入される前に、ノズル21Bの下流側に位置するノズル22Bから供給される洗浄液Lとアクアナイフ23から供給される純水とによって、基板W上の余分な洗浄液Lを基板Wの幅方向両端から速やかに落下させて排除することができる。
以上のように、第2の実施形態によれば、上述の第1の実施形態と同様の効果を得ることができるとともに、複数のノズル21Aとノズル21Bによって効率良く洗浄処理を行うことができる。加えて、ノズル21Aとノズル21Bとの間に位置するノズル22Bの吐出方向が搬送方向Aの下流側に向かう斜め下方に向けられており、ノズル21Aとノズル21Bの間に位置するノズル22Aの吐出方向が搬送方向Aの上流側に向かう斜め下方に向けられているため、余分な洗浄液Lを効率的に排除することができる。さらに、ノズル21Bの下流側に位置するノズル22Bの吐出方向が搬送方向Aの下流側に向かう斜め下方に向けられており、アクアナイフ23の吐出方向が搬送方向Aの上流側に向かう斜め下方に向けられているため、余分な洗浄液Lを効率的に排除することができる。したがって、基板Wは、高圧の洗浄液Lによって洗浄されつつも、薬液や多量に供給された洗浄液Lによる液膜によって洗浄処理が妨げられることを抑えることが可能となるので、良好に洗浄処理を行うことができる。
(第3の実施形態)
第3の実施形態について、図6及び図7を用いて説明する。
図6に示すように、第3の実施形態に係るノズル22Aはシャワーノズルであり、そのノズル22Aの各吐出口22aが基板Wの幅方向(搬送方向Aに水平面内で直交する方向)に二列に並ぶように配置されている。さらに、二列に並ぶ各吐出口22aは、二列のどちら一方の列の各吐出口22aが他方の列の各吐出口22aに対して基板Wの幅方向にずらされ、互い違い(たとえばジグザグ状や千鳥状)に配置されている。この場合、加工上、基板Wの幅方向に隣接する吐出口22a同士のピッチが広くなってしまう場合であっても、吐出口22aが一列である場合と比べて半分のピッチで洗浄液Lを供給することが可能になり、基板Wの幅方向に対して液を均一に供給することができるので、基板W上の液膜の厚さを均一にすることができる。したがって、ノズル21による洗浄を均一に効率良く行うことができる。
さらに、図7に示すように、吐出口22aを一列ずつ有するノズル22Aをノズル21より搬送方向Aの上流側に二つ、搬送方向Aに沿って並べるようにしても良い。二つのノズル22Aの吐出口22aは、一方のノズル22Aの吐出口22aと他方のノズル22Aの吐出口22aとが基板Wの幅方向にずらされるように設けられている。さらに、二つのノズル22Aのうち搬送方向Aの上流側のノズル22Aは基板Wの表面に垂直な面に対して所定角度θ1(たとえば、10度)、搬送方向Aの下流側に傾斜している。また、搬送方向Aの下流側のノズル22Aは基板Wの表面に垂直な面に対して所定角度θ2(たとえば、40度)、搬送方向Aの下流側に傾斜している。これらのノズル22Aのうち搬送方向Aの下流側のノズル22Aが傾斜する所定角度θ2は、搬送方向Aの上流側のノズル22Aが傾斜する所定角度θ1よりも大きい。二つのノズル22Aは、ノズル22Aごとの基板W上の直線状の液衝突領域がつながるように、たとえば重なるように設けられている。
このような二つのノズル22Aを用いた場合には、前述と同様、基板Wの幅方向に対して液を均一に供給することが可能となるので、基板W上の液膜の厚さを均一にすることができる。したがって、ノズル21による洗浄を均一に効率良く行うことができる。また、二つのノズル22Aから吐出される洗浄液Lの量をノズル22Aごとに変えることも可能であるため、より確実に液膜の厚さを均一にすることができる。
以上のように、第3の実施形態によれば、上述の第1の実施形態と同様の効果を得ることができるとともに、基板Wの幅方向に対して液を均一に供給することが可能となり、基板W上の液膜の厚さを均一にすることができるので、ノズル21による洗浄を均一に効率良く行うことができる。
なお、ノズル22Aの個数は特に限定されるものではなく、ノズル22Aを搬送方向Aに沿って三個以上設けることも可能である。また、ノズル22Bも、前述のノズル22Aのように、ノズル21より搬送方向Aの下流側に複数個、基板Wの表面に垂直な面に対して所定角度θ1やθ2、搬送方向Aの上流側に傾斜させて設けることが可能である。
また、吐出口22aの列ごとに吐出方向を変えることも可能であり、また、所定数の吐出口22aを一組として組ごとに吐出方向を変えることも、さらに、吐出口22aごとに吐出方向を変えることも可能である。このように適宜、吐出方向を変更することで、各種条件下でも、基板Wの幅方向に対して液を均一に供給することが可能となり、基板W上の液膜の厚さを均一にすることができる。
(第4の実施形態)
第4の実施形態について、図8を用いて説明する。
図8に示すように、第4の実施形態に係るノズル22B及びアクアナイフ23は、平面視で非平行になるように水平面内で傾けられている。ノズル22Bは、図8の平面視で長手方向の下端が長手方向の上端に比べ搬送方向Aの上流側に位置するように角度θ3(たとえば30度)傾けられている。逆に、アクアナイフ23は、図8の平面視で長手方向の下端が長手方向の上端に比べ搬送方向Aの下流側に位置するように角度θ4(たとえば30度)傾けられている。
このようなノズル22B及びアクアナイフ23の配置を採用することによって、基板W上の洗浄液Lが迅速に基板Wの外に排出されるような流れが生じるため(図8の矢印を参照)、よりスムーズにノズル21周りの液膜を除去することができる。なお、水平面内でのノズル22Bの傾斜角度及びアクアナイフ23の傾斜角度は同じあっても、異なっていても良く、各種条件に応じて適宜変更される。さらに、ノズル22Bとアクアナイフ23のいずれか一方が平面視において傾斜していなくても良い。
以上のように、第4の実施形態によれば、上述の第1の実施形態と同様の効果を得ることができるとともに、基板W上の洗浄液Lが迅速に基板Wの外に排出されるような流れが生じるため、よりスムーズにノズル21周りの液膜を除去することができる。
さらに、第2の実施形態におけるノズル21Aとノズル21Bと(いずれも第1のノズル)の間に位置するノズル22Aおよびノズル22B(いずれも第2のノズル)においても、上記第4の実施形態におけるノズル22B及びアクアナイフ23と同様、平面視で非平行になるように傾けて配置するようにしても良い。このように配置することにより、ノズル21A、21Bの周りの液膜をよりスムーズに除去することができる。
また、図8に示すように、アクアナイフ23及びノズル22B(あるいはノズル22A及びノズル22B)を非平行に配置した場合においては、アクアナイフ23及びノズル22B(あるいはノズル22A及びノズル22B)の長手方向長さが基板Wの幅方向の長さよりも短くても良い。ただし、たとえばアクアナイフ23とノズル22Bとをハ(日本語の片仮名)の字型に配置した場合(図8参照)、アクアナイフ23とノズル22Bとの離間距離が狭い方のアクアナイフ23およびノズル22Bの端部は、基板Wの幅方向端部よりも外側に配置されていることが好ましい。
一方で、アクアナイフ23とノズル22Bとの離間距離が広い方のアクアナイフ23およびノズル22Bの端部は基板Wの幅方向端部より内側に設けられていても、前述のように基板W上の洗浄液Lが迅速に基板Wの外に排出されるように流れるため、洗浄液Lは基板W上の幅方向全体に供給される。このため、アクアナイフ23とノズル22Bとの離間距離が広い方のアクアナイフ23およびノズル22Bの端部は、基板Wの幅方向端部より内側に設けられていても良い。
(その他の実施形態)
次に、本発明に係る他の実施形態について説明する。
上記の各実施形態と異なる点は、ノズル22A及びノズル22Bそれぞれから吐出される洗浄液Lの供給量が異なる点である。基板Wの表面上に形成される液膜は、基板Wが搬送方向Aに搬送されるので、搬送方向Aの流側の方が厚くなりやすく、搬送方向Aの流側の方が薄くなりやすい。このとき、ノズル22Aとノズル22Bとの間に溜まった洗浄液Lがノズル21側へ流れてきてしまうことがある。したがって、ノズル22Aよりもノズル22Bから吐出される洗浄液Lを多く設定する。これによって、搬送方向Aの流側に厚く形成される液膜を搬送方向Aの下流側へ押しやることができるので、ノズル21による洗浄が良好に行われる。
また、上述の基板W上の液膜の偏りを、ノズル22Aとノズル22Bの傾斜角度に差を持たせることによって改善させることもできる。たとえば、上記第1、第2の実施の形態において、ノズル22A、ノズル22Bの傾斜角度はいずれも20度であるが、これに対して、ノズル22Bだけをさらに傾斜させる(たとえば35度)。これにより、基板Wの搬送方向Aに沿って流れる、ノズル22Bから吐出される洗浄液Lは、搬送方向Aの下流側へ流れやすくなる。したがって、搬送方向Aの流側に厚く形成される液膜を下流側へ押しやることができるので、ノズル21による洗浄が良好に行われる。
なお、上記の各実施形態においては、ノズル22A及びノズル22Bとして、シャワーノズルを例に用いているが、これに限るものではなく、スリットを有するスリットノズルを用いることも可能である。このスリットノズルを用いた場合には、基板Wの幅方向に対して液を均一に供給することが容易にできるので、基板W上の液膜の厚さを確実に均一にすることができる。また、たとえば、ノズル22Aとしてシャワーノズルを用い、ノズル22Bとしてスリットノズルを用いるように、ノズル22Aとノズル22Bの種類を異ならせることも可能である。
また、上記の各実施形態においては、ノズル22A及びノズル22Bから洗浄液Lなどの液体を吐出しているが、これに限るものではなく、その他の流体でも良い。たとえばエアなどの気体を吐出するようにしても良いし、気体と液体の混合体を吐出するようにしても良い。あるいは、液体中に気泡を含む液を吐出するようにしても良い。気体を吐出する場合には、基板W上の液膜が無くなることを防ぎつつ、すなわち基板W上の液膜を残しつつ液膜の厚さを制御する。基板W上の液膜が全く無くなる箇所があると、液がまだらに存在する状態となり、乾燥工程を終えたあとにウォーターマークが生じる原因となる可能性がある。なお、液膜の厚さを制御するためには、ノズル22A、ノズル22B以外にも、例えば遮蔽板を用いることも可能である。また、ノズル22Aから液体を吐出し、ノズル22Bから気体を吐出するように、ノズル22Aとノズル22Bで吐出する物体を異ならせることも可能である。
また、上記の各実施形態においては、一対のノズル22A及びノズル22Bを設けているが、これに限るものではなく、たとえば、一対のノズル22A及びノズル22Bのどちらか一方だけを設けるようにしても良い。ノズル22Aを設けた場合には、基板Wの表面に存在する薬液は洗浄部20内で薄膜化されるので、洗浄液Lが基板Wの表面に到達する際の衝撃を高めることができる。また、ノズル22A又はノズル22Bを設けた場合には、高い供給圧力で多量の洗浄液Lによって洗浄されたとしても、この洗浄液Lによる液膜によって洗浄処理が妨げられることを抑えることができるので、良好に洗浄処理を行うことができる。
また、上記の各実施形態においては、ノズル21から基板Wに液を供給する供給期間中、ノズル21からの液供給を連続して行っているが、これに限るものではなく、ノズル21からの液供給、すなわち液吐出を断続的に行うようにしても良い。この場合には、液吐出ごとに液によって毎回基板Wに衝撃を与えることが可能となるので、基板Wの表面を良好に洗浄することができる。
また、上記の各実施形態においては、本発明の基板処理装置が洗浄工程に適用される例を挙げて説明したが、これに限らず、現像工程や剥離工程など、処理液を用いて基板Wが処理される工程に適用されても良い。
また、上記の各実施形態においては、基板Wとして液晶基板を例に説明したが、対象物はこれに限らず、液体によって処理する基板であれば良い。
また、上記の各実施形態においては、搬送される基板Wが保持される角度について特に言及しなかったが、水平に搬送されても良いし、基板Wの幅方向(搬送方向Aに水平面内で直交する方向)に傾斜した状態で搬送されても良い。
また、上記の実施形態においては、基板Wの上面のみを処理する例を説明したが、これに限らず、上下面、あるいは、下面のみを処理しても良い。なお、上面及び下面はどちらも基板Wの表面である。
さらに、上記第1の実施形態においては第1のノズルは1つ、上記第2の実施形態においては、第1のノズルが2つある例を説明したが、第1のノズルは3つ以上設けられていても良い。また、この第1のノズルが設けられる数や、第1のノズル同士の配置間隔、第1のノズルから供給される処理液の量などによって、第2のノズルからの処理液の量や第2のノズルからの処理液の吐出角度を調整することができる。具体的には、第1のノズルが多く設けられたり、それらの配置間隔が狭く、あるいは供給される処理液が多量である場合には、第2のノズルからの処理液の量を増加させたり、吐出角度を基板W表面に平行に近づく角度に変更する。
以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。上述したこれら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
1 搬送部
10 薬液処理部
11 ノズル
20 洗浄部(基板処理装置)
21 ノズル(第1のノズル)
21A ノズル(第1のノズル)
21B ノズル(第1のノズル)
22A ノズル(第2のノズル)
22B ノズル(第2のノズル)
23 アクアナイフ
30 乾燥部
31 エアナイフ
100 基板製造装置
W 基板

Claims (8)

  1. 搬送される基板の表面に対して処理液を供給する第1のノズルと、
    前記第1のノズルを挟むように前記基板の搬送方向に並べられ、前記基板の表面に垂直な面に対してそれぞれ傾斜して流体を吐出する一対の第2のノズルと、
    を備え、
    前記一対の第2のノズルのうち前記第1のノズルよりも前記基板の搬送方向において下流側にある一方の第2のノズルは、前記基板の搬送方向下流側へ向かって前記流体を吐出し、前記第1のノズルから前記処理液が供給されている前記基板の表面に対して前記流体を前記基板の搬送方向下流側へ流し、
    他方の第2のノズルは、前記基板の搬送方向上流側へ向かって前記流体を吐出し、前記第1のノズルから前記処理液が供給されている前記基板の表面に対して前記流体を前記基板の搬送方向上流側へ流し、
    前記一方の第2のノズルから吐出される流体の量は、前記他方の第2のノズルから吐出される流体の量よりも多いことを特徴とする基板処理装置。
  2. 搬送される基板の表面に対して処理液を供給する第1のノズルと、
    前記第1のノズルを挟むように前記基板の搬送方向に並べられ、前記基板の表面に垂直な面に対してそれぞれ傾斜して流体を吐出する一対の第2のノズルと、
    を備え、
    前記一対の第2のノズルのうち前記第1のノズルよりも前記基板の搬送方向において下流側にある一方の第2のノズルは、前記基板の搬送方向下流側へ向かって前記流体を吐出し、前記第1のノズルから前記処理液が供給されている前記基板の表面に対して前記流体を前記基板の搬送方向下流側へ流し、
    他方の第2のノズルは、前記基板の搬送方向上流側へ向かって前記流体を吐出し、前記第1のノズルから前記処理液が供給されている前記基板の表面に対して前記流体を前記基板の搬送方向上流側へ流し、
    前記一方の第2のノズルから吐出される流体の吐出方向の傾斜角度は、前記他方の第2のノズルから吐出される流体の吐出方向の傾斜角度よりも前記基板と平行に近づく角度であることを特徴とする基板処理装置。
  3. 前記第1のノズルは複数設けられており、
    前記一対の第2のノズルは前記複数の第1のノズルそれぞれの前記基板の搬送方向上流側と下流側に配置されていることを特徴とする請求項1または2に記載の基板処理装置。
  4. 前記一対の第2のノズルは、前記基板の表面上に形成された液膜の厚さを制御するように前記流体を吐出することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の基板処理装置。
  5. 搬送される基板の表面に対して第1のノズルから処理液を供給する工程と、
    前記第1のノズルを挟むように前記基板の搬送方向に並べられ、前記基板の表面に垂直な面に対してそれぞれ傾斜する一対の第2のノズルから流体を吐出する工程と、
    を有し、
    前記一対の第2のノズルから前記流体を吐出する工程では、前記一対の第2のノズルのうち前記第1のノズルよりも前記基板の搬送方向において下流側にある一方の第2のノズルから、前記基板の搬送方向下流側へ向かって前記流体を吐出し、前記第1のノズルから前記処理液が供給されている前記基板の表面に対して前記流体を前記基板の搬送方向下流側へ流し、
    他方の第2のノズルから、前記基板の搬送方向上流側へ向かって前記流体を吐出し、前記第1のノズルから前記処理液が供給されている前記基板の表面に対して前記流体を前記基板の搬送方向上流側へ流し、
    前記一方の第2のノズルから吐出される流体の量は、前記他方の第2のノズルから吐出される流体の量よりも多いことを特徴とする基板処理方法。
  6. 搬送される基板の表面に対して第1のノズルから処理液を供給する工程と、
    前記第1のノズルを挟むように前記基板の搬送方向に並べられ、前記基板の表面に垂直な面に対してそれぞれ傾斜する一対の第2のノズルから流体を吐出する工程と、
    を有し、
    前記一対の第2のノズルから前記流体を吐出する工程では、前記一対の第2のノズルのうち前記第1のノズルよりも前記基板の搬送方向において下流側にある一方の第2のノズルから、前記基板の搬送方向下流側へ向かって前記流体を吐出し、前記第1のノズルから前記処理液が供給されている前記基板の表面に対して前記流体を前記基板の搬送方向下流側へ流し、
    他方の第2のノズルから、前記基板の搬送方向上流側へ向かって前記流体を吐出し、前記第1のノズルから前記処理液が供給されている前記基板の表面に対して前記流体を前記基板の搬送方向上流側へ流し、
    前記一方の第2のノズルから吐出される流体の吐出方向の傾斜角度は、前記他方の第2のノズルから吐出される流体の吐出方向の傾斜角度よりも前記基板と平行に近づく角度であることを特徴とする基板処理方法。
  7. 前記第1のノズルから処理液を供給する工程では、複数の前記第1のノズルから前記処理液を供給し、
    前記一対の第2のノズルから前記流体を吐出する工程では、前記複数の第1のノズルそれぞれの前記基板の搬送方向上流側と下流側に配置された前記一対の第2のノズルから前記流体を吐出することを特徴とする請求項5または6に記載の基板処理方法。
  8. 前記一対の第2のノズルから前記流体を吐出する工程では、前記基板の表面上に形成された液膜の厚さを制御するように前記一対の第2のノズルから前記流体を吐出することを特徴とする請求項5乃至7のいずれかに記載の基板処理方法。
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