JPWO2017043434A1 - 非接触給電システム - Google Patents

Abstract

通常モードにおいて、受電装置は、受電側共振回路の共振周波数の基準周波数からの変更又は受電側コイルの短絡を所定時間だけ行い、その後、該変更又は該短絡を解消させる。一方、通常モードにおいて、送電装置は、上記変更又は短絡が行われている期間において送電側コイルにテスト磁界を発生させ、そのときの送電側コイルの電流振幅検出値に基づき異物の存否判断を介して送電の実行可否を判断及び制御する。テストモードでは、受電装置において上記変更又は短絡が維持され、送電装置においてはテスト磁界が継続発生されて送電側コイルの電流振幅検出値が継続的に取得される。

Description

本発明は、非接触給電システムに関する。

近接無線通信の一種として、１３．５６ＭＨｚを搬送波周波数として用いるＮＦＣ（Near field communication）による無線通信がある。一方、ＮＦＣ通信に利用されるコイルを利用して、磁界共鳴方式で非接触給電を行う技術も提案されている。

磁界共鳴を利用した非接触給電では、送電側コイルを含む送電側共振回路を給電機器（送電装置）に配置すると共に受電側コイルを含む受電側共振回路を受電機器（受電装置）としての電子機器に配置し、それらの共振回路の共振周波数を共通の基準周波数に設定しておく。そして、給電機器（送電装置）の給電台上に受電機器（受電装置）を配置した状態で送電側コイルに交流電流を流すことで送電側コイルに基準周波数の交番磁界を発生させる。すると、この交番磁界が、基準周波数で共鳴する受電側共振回路に伝わって受電側コイルに交流電流が流れる。つまり、送電側コイルを含む送電側共振回路から受電側コイルを含む受電側共振回路へ電力が伝達されることになる。

特開２０１４−３３５０４号公報

通常は、給電機器に対応する電子機器のみが給電機器の給電台（給電マットや給電クレードル）上に配置されることで、所望の給電（電力伝送）が行われるのであるが、給電機器に対応しない異物が誤って給電台上に配置されることがある。ここにおける異物は、例えば、ＮＦＣ通信に応答しない１３．５６ＭＨｚのアンテナコイルを持つ無線ＩＣタグを有した物体（カード等）である。また例えば、異物は、ＮＦＣ通信機能自体は有しているものの、その機能が無効とされている電子機器である。例えば、ＮＦＣ通信機能を有するスマートホンではあるが、ソフトウェア設定で当該機能をオフにされているスマートホンは、異物となりうる。また、ＮＦＣ通信機能が有効となっているスマートホンでも、受電機能を持たないスマートホンは異物に分類される。

このような異物が給電台上に配置されている状態において、仮に、給電機器が送電動作を行うと、送電側コイルが発生した強磁界にて異物が破壊されることある。例えば、送電動作時における強磁界は、給電台上の異物のコイルの端子電圧を１００Ｖ〜２００Ｖまで増大させることもあり、そのような高電圧に耐えられるように異物が形成されていなければ、異物が破壊される。

異物の破損等を回避するためには異物の存否を検出して送電の実行制御を行うことが有益である。この場合には、異物の存否判断を可能とする評価データを所定条件で取得し、評価データに基づく送電の実行可否判断にて送電可能と判断された場合に送電動作を許可すれば良い。但し、“評価データ取得→送電の実行可否判断→送電の実行有無制御”の流れの中でしか評価データが得られないのでは、様々な条件下で次々と評価データを取得するといったことが行い難く、結果、送電の実行可否判断に関わる評価（例えば当該判断が適正に行われているか否かの評価）を効率的に又は詳細に行うことが難しいこともある。

他方、上述のような方法にて電力の送受電を実現するためには、送電装置及び受電装置間の位置関係を電力の送受電に適した所望の位置関係に設定する必要がある。尚、送電装置及び受電装置の位置関係を所望の位置関係に導くべく、受電装置が載置されるべき給電台に窪みを設けておく方法や受電装置の外形枠ガイドを給電台に記しておく方法も考えられるが、それらの方法は、受電装置が一定の外形形状を持っていることが前提となるため、様々な外形形状の受電装置が非接触給電システムの構成要素になりうることを考慮すれば汎用性に欠ける。

そこで本発明は、送電の実行可否判断に関わる評価を効率的に又は詳細に行うことを可能にする非接触給電システムを提供することを目的とする。
或いは本発明は、非接触の電力送受電を行うための送電装置及び受電装置間の位置関係の調整を支援可能な非接触給電システムを提供することを目的とする。

本発明に係る第１の非接触給電システムは、送電装置及び受電装置を備え、磁界共鳴方式で電力の送受電が可能な非接触給電システムにおいて、前記送電装置は、前記電力を送電するための送電側コイルを含む送電側共振回路と、前記送電側共振回路に交流電圧を供給することで前記送電側コイルに磁界を発生させる送電回路と、前記送電側コイルに流れる電流の振幅を検出する検出回路と、第１モード及び第２モードを含む複数のモードの何れかを動作モードにして動作する送電側制御回路と、を備え、前記受電装置は、前記電力を受電するための受電側コイルを含む受電側共振回路と、前記受電側共振回路の共振周波数を前記受電の際の共振周波数から変更可能な又は前記受電側コイルを短絡可能な変更／短絡回路と、前記第１モード及び前記第２モードを含む複数のモードの何れかを動作モードにして動作する受電側制御回路と、を備え、前記第１モードにおいて、前記受電側制御回路は、前記送電装置からの通信による信号に従い、前記変更／短絡回路を用いて所定時間だけ前記受電側共振回路の共振周波数の変更又は前記受電側コイルの短絡を行った後、該変更又は該短絡を解消させ、前記送電側制御回路は、前記受電側共振回路の共振周波数の変更又は前記受電側コイルの短絡が行われている期間において前記送電に先立ち所定のテスト磁界が前記送電側コイルで発生されるよう前記送電回路を制御し、前記第１モードにて前記テスト磁界が発生されているときの前記検出回路の振幅検出値を示す第１評価データに基づき前記送電の実行可否を判断して、前記送電を実行可能と判断した後に前記テスト磁界よりも大きな送電用磁界が前記送電側コイルで発生されるよう前記送電回路を制御して前記送電を実現し、前記第２モードにおいて、前記受電側制御回路は、前記変更／短絡回路を用いて、前記受電側共振回路の共振周波数の変更又は前記受電側コイルの短絡を維持し、前記送電側制御回路は、前記送電回路を制御して前記テスト磁界を前記送電側コイルにて継続発生させ、前記第２モードにて前記テスト磁界が発生されているときの前記検出回路の振幅検出値を示す第２評価データを取得することを特徴とする。

具体的には例えば、前記第１の非接触給電システムに関し、前記第１モードにおいて、前記送電側制御回路は、前記第１評価データに基づき、前記受電装置と異なり且つ前記送電側コイルの発生磁界に基づく電流を発生させられる異物の存否を判断し、その判断結果に基づいて前記送電の実行可否を制御すると良い。

より具体的には例えば、前記第１の非接触給電システムに関し、前記第１モードにおいて、前記送電側制御回路は、前記異物が存在しないと判断した場合、前記送電の実行を許可し、前記異物が存在すると判断した場合、前記送電の実行を禁止すると良い。

また具体的には例えば、前記第１の非接触給電システムに関し、前記第１モードにおいて、前記送電側制御回路は、前記第１評価データが示す振幅検出値が所定範囲を逸脱しているか否かを判断することで、前記異物の存否を判断すると良い。

また例えば、前記第１の非接触給電システムに関し、前記第２評価データに基づく所定処理を実行する処理部を当該非接触給電システムに更に設けると良く、前記処理部は、前記送電側制御回路に設けられる、又は、前記送電装置及び前記受電装置と異なる外部機器に設けられると良い。

この際例えば、前記第１の非接触給電システムに関し、前記所定処理は、前記送電装置に設けられた又は前記送電装置に接続された表示装置に、前記第２評価データを表示させる処理を含んでいると良い。

また例えば、前記第１の非接触給電システムに関し、前記所定処理は、前記送電装置に設けられた又は前記送電装置に接続された記録装置に、前記第２評価データを記録させる処理を含んでいても良い。

また例えば、前記第１の非接触給電システムに関し、前記第２評価データに基づく所定処理を実行する処理部を当該非接触給電システムに更に設け、前記処理部は、前記送電側制御回路に設けられ、又は、前記送電装置及び前記受電装置と異なる外部機器に設けられ、前記所定処理は、前記第２評価データが示す振幅検出値が前記所定範囲を逸脱しているか否かの判断を含んでいても良い。

具体的には例えば、前記第１の非接触給電システムに関し、前記送電側制御回路及び前記受電側制御回路の夫々は、特定指示の入力を受けたときに自身の動作モードを前記第２モードに設定し、それ以外では自身の動作モードを前記第１モードに設定すると良い。

具体的には例えば、前記第１の非接触給電システムに関し、前記送電装置及び前記受電装置の夫々は、前記特定指示の入力を受けるための入力受付部を有していると良い。

また例えば、前記第１の非接触給電システムに関し、前記送電側制御回路における前記複数のモードには、前記送電側コイルにて前記送電用磁界を継続発生させるモードが更に含まれ、且つ、前記受電側制御回路における前記複数のモードには、前記受電側共振回路の共振周波数の変更又は前記受電側コイルの短絡を継続的に非実行とするモードが更に含まれていても良い。

本発明に係る非接触給電システムは、電力を送電するための送電側コイルを含む送電側共振回路を有した送電装置及び前記電力を受電するための受電側コイルを含む受電側共振回路を有した受電装置を備え、磁界共鳴方式で前記電力の送受電が可能な非接触給電システムにおいて、前記送電装置は、前記電力の送受電の際に前記受電装置が載置されるべき載置面を備え、前記送電側コイルの配置位置に基づく、前記載置面上の所定位置に、所定のマークが付与され、前記受電装置は、撮影を行うカメラ部と、前記受電装置が前記載置面に載置される前に、前記マークの撮影により得られた撮影画像上において前記マークを検出し前記マークの検出結果に応じた特定報知を行う制御部と、を備えたことを特徴とする。

具体的には例えば、前記制御部は、前記撮影画像上における前記マークの検出結果に基づき、前記特定報知において、前記載置面に平行な面内における、前記送電装置及び前記受電装置間の位置関係の調整に関する報知を行うと良い。

より具体的には例えば、前記位置関係の調整に関する報知は、前記載置面に平行な面内における、前記電力の送受電を行うための、前記送電装置を基準とした前記受電装置の必要移動方向の報知を含んでいると良い。

更に具体的には例えば、前記受電側コイルの中心の前記載置面への投影位置が前記送電側コイルの配置位置に基づく前記載置面上における所定領域内に収まるように前記受電装置が前記載置面上に載置されているとき、前記電力の送受電が可能であり、前記位置関係の調整に関する報知は、前記投影位置を前記所定領域内に収めるための、前記必要移動方向の報知を含んでいると良い。

そして例えば、前記制御部は、前記撮影画像上における前記マークの検出結果に基づき、前記投影位置が前記所定領域内に収まっているか否かを判断し、前記投影位置が前記所定領域内に収まっていない場合、前記必要移動方向を報知する一方、前記投影位置が前記所定領域内に収まっている場合、前記必要移動方向の報知と異なる所定の報知を行うと良い。

また例えば、前記送電装置では、前記制御部による前記特定報知を行うための所定の処理の終了前において前記送電の実行が制限されても良い。

また例えば、前記撮影画像上における前記マークの検出結果は、前記撮影画像上における前記マークの位置の検出結果を含んでいると良い。

また例えば、前記受電装置は表示画面を備え、前記特定報知は前記表示画面での表示を含んでいると良い。

また例えば、前記受電装置における筐体は第１面と前記第１面に対向する第２面とを有し、前記表示画面は前記第１面に設けられ、前記カメラ部は、前記第２面を起点として前記第１面から前記第２面に向かう向きに広がる撮影領域を有していると良い。

また例えば、前記送電装置は、前記送電側共振回路への交流電圧の供給により前記送電側コイルに所定の磁界を発生させているときにおける前記送電側コイルの電流振幅情報を取得し、前記制御部は、通信を介し前記送電装置から受信した前記電流振幅情報に応じて第２特定報知を行っても良い。

この際例えば、前記制御部は、前記第２特定報知において、前記送電装置及び前記受電装置間の位置関係が適正か否かを報知しても良い、又は、前記送電装置及び前記受電装置間の位置関係の適正レベルを３段階以上に分類して報知しても良い。

或いは例えば、前記送電装置は、前記送電側共振回路への交流電圧の供給により前記送電側コイルに所定の磁界を発生させているときにおける前記送電側コイルの電流振幅情報を取得し、前記電流振幅情報に応じた第２特定報知を行っても良い。

この際例えば、前記送電装置は、前記第２特定報知において、前記送電装置及び前記受電装置間の位置関係が適正か否かを報知しても良い、又は、前記送電装置及び前記受電装置間の位置関係の適正レベルを３段階以上に分類して報知しても良い。

本発明によれば、送電の実行可否判断に関わる評価を効率的に又は詳細に行うことを可能にする非接触給電システムを提供することが可能である。
或いは本発明によれば、非接触の電力送受電を行うための送電装置及び受電装置間の位置関係の調整を支援可能な非接触給電システムを提供することが可能である。

（ａ）及び（ｂ）は、本発明の第１実施形態に係る給電機器及び電子機器の概略外観図である。 は、本発明の第１実施形態に係る給電機器及び電子機器の概略内部構成図である。 は、本発明の第１実施形態に係る給電機器及び電子機器の概略内部構成図である。 は、本発明の第１実施形態に係り、給電機器内のＩＣの内部ブロック図を含む、給電機器の一部構成図である。 は、本発明の第１実施形態に係り、電子機器内のＩＣの内部ブロック図を含む、電子機器の一部構成図である。 は、ＮＦＣ通信及び電力伝送が交互に行われるときの磁界強度の変化の様子を示す図である。 は、給電機器内における、送電回路と負荷検出回路と共振回路の関係を示す図である。 は、図７の負荷検出回路中におけるセンス抵抗の電圧降下の波形図である。 は、本発明の第１実施形態に係る共振状態変更回路の一例を示す回路図である。 は、本発明の第１実施形態に係る共振状態変更回路の他の例を示す回路図である。 （ａ）及び（ｂ）は、本発明の第１実施形態に係る異物の概略外形図及び概略内部構成図である。 は、給電機器にて実行されるｐＦＯＤ処理の動作フローチャートである。 は、給電機器にて実行される初期設定処理の動作フローチャートである。 （ａ）〜（ｄ）は、給電台、電子機器及び異物の配置関係を例示する図である。 は、給電台、電子機器及び異物の一配置関係を示す図である。 は、本発明の第１実施形態に係る給電機器及び電子機器間の信号のやりとりを説明するための図である。 は、本発明の第１実施形態に係り、ＮＦＣ通信とｐＦＯＤ処理と電力伝送が順番に繰り返し実行される様子を示す図である。 は、本発明の第１実施形態に係る給電機器の動作フローチャートである。 は、図１８の動作に連動する電子機器の動作フローチャートである。 は、給電機器にて実行されるｍＦＯＤ処理の動作フローチャートである。 （ａ）及び（ｂ）は、電力伝送中において異物の挿入が行われたときの、送電側コイルの電流振幅変化を説明するための図である。 は、本発明の第２実施形態に係り、給電機器及び電子機器の夫々に入力受付部が設けられている様子を示す図である。 は、本発明の第２実施形態に係り、互いに接続されたコンピュータ装置及び給電機器の外観図である。 は、本発明の第２実施形態に係るコンピュータ装置の概略内部ブロック図である。 は、本発明の第２実施形態に係り、テストモードにおける給電機器の動作フローチャートである。 は、本発明の第３実施形態に係るテストモードの概略説明図である。 は、本発明の第４実施形態に係り、給電機器内のＩＣの内部ブロック図を含む、給電機器の一部構成図である。 は、本発明の第４実施形態に係り、電子機器内のＩＣの内部ブロック図を含む、電子機器の一部構成図である。 は、本発明の第４実施形態に係る給電機器及び電子機器間の信号のやりとりを説明するための図である。 は、本発明の第４実施形態に係り、給電機器の給電台及び載置面との関係において、Ｘ軸、Ｙ軸及びＺ軸を定義する図である。 （ａ）及び（ｂ）は、本発明の第４実施形態に係り、基準配置状態での給電機器及び電子機器における送電側コイル及び受電側コイルの概略的な斜視図及び断面図である。 は、本発明の第４実施形態で想定される規格上のＮＦＣ通信可能範囲を説明するための図である。 は、本発明の第４実施形態に係り、給電機器の載置面上に誘導マークが付与されている様子を示す図である。 （ａ）及び（ｂ）は、本発明の第４実施形態に係り、給電機器の載置面上における誘導マークの中心位置、及び、送電側コイルの載置面への投影位置を示す図である。 （ａ）〜（ｃ）は、本発明の第４実施形態に係る電子機器の外観斜視図、側面図、一部機能ブロック図である。 は、本発明の第４実施形態に係り、電子機器にて実行される誘導処理のフローチャートである。 （ａ）及び（ｂ）は、本発明の第４実施形態に係り、誘導処理にて取得される撮影画像の第１例及び第２例を示す図である。 は、本発明の第４実施形態に係り、電子機器の制御部に設けておくことのできるテーブルデータを示す図である。 は、本発明の第４実施形態に係り、互いに分離して配置された給電機器及び電子機器の側面図である。 は、本発明の第４実施形態に係り、互いに分離して配置された給電機器及び電子機器の斜視図である。 は、本発明の第４実施形態に係り、必要移動方向の報知の例の説明図である。 （ａ）〜（ｄ）は、本発明の第４実施形態に係り、撮影画像上のマークの検出位置との関係における、必要移動方向の報知の例の説明図である。 は、本発明の第４実施形態に係り、互いに分離して配置された、特定の構成を有する給電機器及び電子機器の側面図である。 は、本発明の第４実施形態に係り、調整良好指標の報知の例の説明図である。 （ａ）及び（ｂ）は、本発明の第４実施形態に係り、誘導処理での表示内容例を示す図である。 は、本発明の第４実施形態に係り、給電機器における共振回路及び電流振幅検出回路の回路図である。

以下、本発明の実施形態の例を、図面を参照して具体的に説明する。参照される各図において、同一の部分には同一の符号を付し、同一の部分に関する重複する説明を原則として省略する。尚、本明細書では、記述の簡略化上、情報、信号、物理量、状態量又は部材等を参照する記号又は符号を記すことによって、該記号又は符号に対応する情報、信号、物理量、状態量又は部材等の名称を省略又は略記することがある。また、後述の任意のフローチャートにおいて、任意の複数のステップにおける複数の処理は、処理内容に矛盾が生じない範囲で、任意に実行順序を変更できる又は並列に実行できる。

＜＜第１実施形態＞＞
本発明の第１実施形態を説明する。図１（ａ）及び（ｂ）は、本発明の第１実施形態に係る給電機器１及び電子機器２の概略外観図である。但し、図１（ａ）は、給電機器１及び電子機器２が離間状態にあるときのそれらの外観図であり、図１（ｂ）は、給電機器１及び電子機器２が基準配置状態にあるときのそれらの外観図である。離間状態及び基準配置状態の意義については後に詳説する。給電機器１及び電子機器２によって非接触給電システムが形成される。給電機器１は、商用交流電力を受けるための電源プラグ１１と、樹脂材料にて形成された給電台１２と、を備える。

図２に、給電機器１と電子機器２の概略内部構成図を示す。給電機器１は、電源プラグ１１を介して入力された商用交流電圧から所定の電圧値を有する直流電圧を生成して出力するＡＣ／ＤＣ変換部１３と、ＡＣ／ＤＣ変換部１３の出力電圧を用いて駆動する集積回路である送電側ＩＣ１００（以下、ＩＣ１００とも言う）と、ＩＣ１００に接続された送電側共振回路ＴＴ（以下、共振回路ＴＴとも言う）と、を備える。ＡＣ／ＤＣ変換部１３、送電側ＩＣ１００及び共振回路ＴＴを、給電台１２内に配置しておくことができる。ＡＣ／ＤＣ変換部１３の出力電圧を用いて駆動する回路が、ＩＣ１００以外にも、給電機器１に設けられうる。

電子機器２は、集積回路である受電側ＩＣ２００（以下、ＩＣ２００とも言う）と、ＩＣ２００に接続された受電側共振回路ＲＲ（以下、共振回路ＲＲとも言う）と、二次電池であるバッテリ２１と、バッテリ２１の出力電圧に基づき駆動する機能回路２２と、を備える。詳細は後述するが、ＩＣ２００はバッテリ２１に対して充電電力を供給することができる。ＩＣ２００は、バッテリ２１の出力電圧にて駆動しても良いし、バッテリ２１以外の電圧源からの電圧に基づき駆動しても良い。或いは、給電機器１から受信したＮＦＣ通信（詳細は後述）のための信号を整流することで得た直流電圧が、ＩＣ２００の駆動電圧となっても良い。この場合、バッテリ２１の残容量が無くなってもＩＣ２００は駆動可能となる。

電子機器２は、任意の電子機器であって良く、例えば、携帯電話機（スマートホンに分類される携帯電話機を含む）、携帯情報端末、タブレット型パーソナルコンピュータ、デジタルカメラ、ＭＰ３プレイヤー、歩数計、又は、Bluetooth（登録商標）ヘッドセットである。機能回路２２は、電子機器２が実現すべき任意の機能を実現する。従って例えば、電子機器２がスマートホンであれば、機能回路２２は、相手側機器との間の通話を実現するための通話処理部、及び、ネットワーク網を介して他機器と情報を送受信するための通信処理部などを含む。或いは例えば、電子機器２がデジタルカメラであれば、機能回路２２は、撮像素子を駆動する駆動回路、撮像素子の出力信号から画像データを生成する画像処理回路などを含む。機能回路２２は、電子機器２の外部装置に設けられる回路であると考えても良い。

図３に示す如く、共振回路ＴＴは、送電側コイルであるコイルＴ_Ｌと送電側コンデンサであるコンデンサＴ_Ｃとを有し、共振回路ＲＲは、受電側コイルであるコイルＲ_Ｌと受電側コンデンサであるコンデンサＲ_Ｃとを有する。以下では、説明の具体化のため、特に記述無き限り、送電側コイルＴ_Ｌ及び送電側コンデンサＴ_Ｃが互いに並列接続されることで共振回路ＴＴが並列共振回路として形成され、且つ、受電側コイルＲ_Ｌ及び受電側コンデンサＲ_Ｃが互いに並列接続されることで共振回路ＲＲが並列共振回路として形成されているものとする。但し、送電側コイルＴ_Ｌ及び送電側コンデンサＴ_Ｃが互いに直列接続されることで共振回路ＴＴが直列共振回路として形成されていても良いし、受電側コイルＲ_Ｌ及び受電側コンデンサＲ_Ｃが互いに直列接続されることで共振回路ＲＲが直列共振回路として形成されていても良い。

図１（ｂ）に示す如く、電子機器２を給電台１２上の所定領域内に載置したとき、磁界共鳴方式にて（即ち、磁界共鳴を利用して）、機器１及び２間における通信、送電及び受電が可能となる。磁界共鳴は、磁界共振などとも呼ばれる。

機器１及び２間における通信は、ＮＦＣ（Near field communication）による無線通信（以下、ＮＦＣ通信と呼ぶ）であり、通信の搬送波の周波数は１３．５６ＭＨｚ（メガヘルツ）である。以下では、１３．５６ＭＨｚを基準周波数と呼ぶ。機器１及び２間におけるＮＦＣ通信は、共振回路ＴＴ及びＲＲを利用した磁界共鳴方式で行われるため、共振回路ＴＴ及びＲＲの共振周波数は、共に、基準周波数に設定されている。但し、後述されるように、共振回路ＲＲの共振周波数は、一時的に基準周波数から変更され得る。

機器１及び２間における送電及び受電は、給電機器１から電子機器２に対するＮＦＣによる送電と、電子機器２におけるＮＦＣによる受電である。この送電と受電をまとめてＮＦＣ電力伝送又は単に電力伝送と称する。磁界共鳴方式によりコイルＴ_ＬからコイルＲ_Ｌに対して電力を伝達することで、電力伝送が非接触で実現される。

磁界共鳴を利用した電力伝送では、送電側コイルＴ_Ｌに交流電流を流すことで送電側コイルＴ_Ｌに基準周波数の交番磁界を発生させる。すると、この交番磁界が、基準周波数で共鳴（換言すれば共振）する共振回路ＲＲに伝わって受電側コイルＲ_Ｌに交流電流が流れる。つまり、送電側コイルＴ_Ｌを含む共振回路ＴＴから受電側コイルＲ_Ｌを含む共振回路ＲＲへ電力が伝達される。尚、以下では、記述が省略されることがあるが、ＮＦＣ通信又は電力伝送においてコイルＴ_Ｌ又はコイルＲ_Ｌにより発生する磁界は、特に記述無き限り、基準周波数で振動する交番磁界である。

電子機器２が給電台１２上の所定の送電領域内に載置され（給電機器１と電子機器２が所定位置関係にあり）、上述のＮＦＣ通信及び電力伝送が実現できる状態を、基準配置状態と呼ぶ（図１（ｂ）参照）。一方、電子機器２が給電台１２から十分に離れていて上述のＮＦＣ通信及び電力伝送を実現できない状態を、離間状態と呼ぶ（図１（ａ）参照）。尚、図１（ａ）に示す給電台１２では、表面が平らになっているが、載置されるべき電子機器２の形状に合わせた窪み等が給電台１２に形成されていても構わない。基準配置状態は、給電機器１及び電子機器２間における電力の送受電が可能な所定の送電領域（換言すれば、送電及び受電を行うための領域）に電子機器２が存在している状態に属し、且つ、離間状態は、該送電領域に電子機器２が存在していない状態に属すると解して良い。

図４に、ＩＣ１００の内部ブロック図を含む、給電機器１の一部の構成図を示す。ＩＣ１００には、符号１１０、１２０、１３０、１４０、１５０及び１６０によって参照される各部位が設けられる。図５に、ＩＣ２００の内部ブロック図を含む、電子機器２の一部の構成図を示す。ＩＣ２００には、符号２１０、２２０、２３０、２４０及び２５０によって参照される各部位が設けられる。また、ＩＣ２００に対し、ＩＣ２００の駆動電圧を出力するコンデンサ２３を接続しておいても良い。コンデンサ２３は、給電機器１から受信したＮＦＣ通信のための信号を整流することで得た直流電圧を出力可能である。

切り替え回路１１０は、制御回路１６０の制御の下、ＮＦＣ通信回路１２０及びＮＦＣ送電回路１３０のどちらかを共振回路ＴＴに接続させる。共振回路ＴＴと回路１２０及び１３０との間に介在する複数のスイッチにて、切り替え回路１１０を構成することができる。本明細書にて述べる任意のスイッチは、電界効果トランジスタ等の半導体スイッチング素子を用いて形成されて良い。

切り替え回路２１０は、制御回路２５０の制御の下、共振回路ＲＲをＮＦＣ通信回路２２０及びＮＦＣ受電回路２３０のどちらかに接続させる。共振回路ＲＲと回路２２０及び２３０との間に介在する複数のスイッチにて、切り替え回路２１０を構成することができる。

共振回路ＴＴが切り替え回路１１０を介してＮＦＣ通信回路１２０に接続され、且つ、共振回路ＲＲが切り替え回路２１０を介してＮＦＣ通信回路２２０に接続されている状態を、通信用接続状態と呼ぶ。通信用接続状態にてＮＦＣ通信が可能となる。通信用接続状態において、ＮＦＣ通信回路１２０は、基準周波数の交流信号（交流電圧）を共振回路ＴＴに供給することができる。機器１及び２間のＮＦＣ通信は半二重方式で実行される。

通信用接続状態において給電機器１が送信側であるとき、ＮＦＣ通信回路１２０が共振回路ＴＴに供給する交流信号に任意の情報信号を重畳させることで、当該情報信号が給電機器側アンテナコイルとしてのコイルＴ_Ｌから送信され且つ電子機器側アンテナコイルとしてのコイルＲ_Ｌにて受信される。コイルＲ_Ｌにて受信された情報信号はＮＦＣ通信回路２２０にて抽出される。通信用接続状態において電子機器２が送信側であるとき、ＮＦＣ通信回路２２０は、任意の情報信号（応答信号）を共振回路ＲＲのコイルＲ_Ｌから共振回路ＴＴのコイルＴ_Ｌに送信できる。この送信は、周知の如く、ＩＳＯ規格（例えばＩＳＯ１４４４３規格）に基づき、コイルＴ_Ｌ（給電機器側アンテナコイル）から見たコイルＲ_Ｌ（電子機器側アンテナコイル）のインピーダンスを変化させる負荷変調方式にて実現される。電子機器２から伝達された情報信号はＮＦＣ通信回路１２０にて抽出される。

共振回路ＴＴが切り替え回路１１０を介してＮＦＣ送電回路１３０に接続され、且つ、共振回路ＲＲが切り替え回路２１０を介してＮＦＣ受電回路２３０に接続されている状態を、給電用接続状態と呼ぶ。

給電用接続状態において、ＮＦＣ送電回路１３０は送電動作を行うことができ、ＮＦＣ受電回路２３０は受電動作を行うことができる。送電動作と受電動作にて電力伝送が実現される。送電動作において、送電回路１３０は、共振回路ＴＴに基準周波数の送電用交流信号（送電用交流電圧）を供給することで送電側コイルＴ_Ｌに基準周波数の送電用磁界（送電用交番磁界）を発生させ、これによって、共振回路ＴＴ（送電側コイルＴ_Ｌ）から共振回路ＲＲに対し磁界共鳴方式で電力を送電する。送電動作に基づき受電側コイルＲ_Ｌにて受電された電力は受電回路２３０に送られ、受電動作において、受電回路２３０は、受電した電力から任意の直流電力を生成して出力する。受電回路２３０の出力電力にてバッテリ２１を充電することができる。

通信用接続状態にてＮＦＣ通信を行う場合も、コイルＴ_Ｌ又はＲ_Ｌにて磁界が発生するが、ＮＦＣ通信における磁界強度は、所定の範囲内に収まる。その範囲の下限値及び上限値は、ＮＦＣの規格で定められ、夫々、１．５Ａ／ｍ、７．５Ａ／ｍである。これに対し、電力伝送（即ち送電動作）において送電側コイルＴ_Ｌにて発生する磁界の強度（送電用磁界の磁界強度）は、上記の上限値より大きく、例えば４５〜６０Ａ／ｍ程度である。機器１及び２を含む非接触給電システムにおいて、ＮＦＣ通信及び電力伝送（ＮＦＣ電力伝送）を交互に行うことができ、その時の磁界強度の様子を図６に示す。

負荷検出回路１４０は、送電側コイルＴ_Ｌの負荷の大きさ、即ち、送電回路１３０から送電側コイルＴ_Ｌに交流信号が供給されるときにおける送電側コイルＴ_Ｌにとっての負荷の大きさを検出する。図７に、給電用接続状態における送電回路１３０と負荷検出回路１４０と共振回路ＴＴとの関係を示す。尚、図７では、切り替え回路１１０の図示が省略されている。

送電回路１３０は、基準周波数の正弦波信号を生成する信号生成器１３１と、信号生成器１３１にて生成された正弦波信号を増幅し、増幅した正弦波信号をライン１３４の電位を基準としてライン１３４及び１３５間に出力する増幅器（パワーアンプ）１３２と、コンデンサ１３３とを備える。一方、負荷検出回路１４０は、センス抵抗１４１、包絡線検波器１４２、増幅器１４３及びＡ／Ｄ変換器１４４を備える。信号生成器１３１が生成する正弦波信号の信号強度は一定値に固定されているが、増幅器１３２の増幅率は制御回路１６０により可変設定される。

コンデンサ１３３の一端はライン１３５に接続される。給電用接続状態において、コンデンサ１３３の他端はコンデンサＴ_Ｃ及びコイルＴ_Ｌの各一端に共通接続され、且つ、コイルＴ_Ｌの他端はセンス抵抗１４１を介してライン１３４及びコンデンサＴ_Ｃの他端に共通接続される。

送電動作は、増幅器１３２からコンデンサ１３３を介し共振回路ＴＴに交流信号（送電用交流電圧）を供給することで実現される。給電用接続状態において、増幅器１３２からの交流信号が共振回路ＴＴに供給されると送電側コイルＴ_Ｌに基準周波数の交流電流が流れ、結果、センス抵抗１４１に交流の電圧降下が発生する。図８の実線波形は、センス抵抗１４１における電圧降下の電圧波形である。共振回路ＴＴに関し、送電側コイルＴ_Ｌの発生磁界強度が一定の下、電子機器２を給電台１２に近づけると、送電側コイルＴ_Ｌの発生磁界に基づく電流が受電側コイルＲ_Ｌに流れる一方で、受電側コイルＲ_Ｌに流れた電流に基づく逆起電力が送電側コイルＴ_Ｌに発生し、その逆起電力は送電側コイルＴ_Ｌに流れる電流を低減するように作用する。このため、図８に示す如く、基準配置状態におけるセンス抵抗１４１の電圧降下の振幅は、離間状態におけるそれよりも小さい。

包絡線検波器１４２は、センス抵抗１４１における電圧降下の信号の包絡線を検波することで、図８の電圧ｖに比例するアナログの電圧信号を出力する。増幅器１４３は、包絡線検波器１４２の出力信号を増幅して出力する。Ａ／Ｄ変換器１４４は、増幅器１４３の出力電圧信号をデジタル信号に変換することでデジタルの電圧値Ｖ_Ｄを出力する。上述の説明から理解されるように、電圧値Ｖ_Ｄは、センス抵抗１４１に流れる電流の振幅（従って、送電側コイルＴ_Ｌに流れる電流の振幅）に比例する値を持つ（当該振幅の増大に伴って電圧値Ｖ_Ｄも増大する）。故に、負荷検出回路１４０は、送電側コイルＴ_Ｌに流れる電流の振幅を検出する電流振幅検出回路であるとも言え、その振幅検出値が電圧値Ｖ_Ｄであると考えることができる。尚、包絡線検波器１４２を増幅器１４３の後段に設けるようにしても良い。但し、図７に示す如く、包絡線検波器１４２を増幅器１４３の前段に設けた方が、高周波への応答性能がより低いものを増幅器１４３として採用可能となり有利である。

磁界を発生させる送電側コイルＴ_Ｌにとって、受電側コイルＲ_Ｌのような、送電側コイルＴ_Ｌと磁気結合するコイルは、負荷であると考えることができ、その負荷の大きさに依存して、負荷検出回路１４０の検出値である電圧値Ｖ_Ｄが変化する。このため、負荷検出回路１４０は電圧値Ｖ_Ｄの出力によって負荷の大きさを検出している、と考えることもできる。ここにおける負荷の大きさとは、送電の際における送電側コイルＴ_Ｌにとっての負荷の大きさとも言えるし、送電の際における給電装置１から見た電子機器２の負荷としての大きさとも言える。尚、センス抵抗１４１はＩＣ１００の内部に設けられても良いし、ＩＣ１００の外部に設けられても良い。

メモリ１５０（図４参照）は、不揮発性メモリから成り、任意の情報を不揮発的に記憶する。制御回路１６０は、ＩＣ１００内の各部位の動作を統括的に制御する。制御回路１６０が行う制御には、例えば、切り替え回路１１０の切り替え動作の制御、通信回路１２０及び送電回路１３０による通信動作及び送電動作の内容制御及び実行有無制御、負荷検出回路１４０の動作制御、メモリ１５０の記憶制御及び読み出し制御が含まれる。制御回路１６０は、タイマ（不図示）を内蔵しており任意のタイミング間の時間長さを計測できる。

電子機器２における共振状態変更回路２４０（図５参照）は、共振回路ＲＲの共振周波数を基準周波数から他の所定周波数ｆ_Ｍに変更可能な共振周波数変更回路、又は、共振回路ＲＲにおける受電側コイルＲ_Ｌを短絡可能なコイル短絡回路である。

図９の共振周波数変更回路２４０Ａは、共振状態変更回路２４０としての共振周波数変更回路の例である。共振周波数変更回路２４０Ａは、コンデンサ２４１とスイッチ２４２の直列回路から成り、該直列回路の一端はコンデンサＲ_Ｃ及びコイルＲ_Ｌの各一端に共通接続される一方、該直列回路の他端はコンデンサＲ_Ｃ及びコイルＲ_Ｌの各他端に共通接続される。スイッチ２４２は、制御回路２５０の制御の下、オン又はオフとなる。スイッチ２４２がオフのとき、コンデンサ２４１はコンデンサＲ_Ｃ及びコイルＲ_Ｌから切り離されるため、共振回路ＲＲは、寄生インダクタンス及び寄生容量を無視すれば、コイルＲ_Ｌ及びコンデンサＲ_Ｃのみで形成されて、共振回路ＲＲの共振周波数は基準周波数と一致する。即ち、スイッチ２４２がオフのとき、共振回路ＲＲの共振周波数を決定する受電側容量は、コンデンサＲ_Ｃそのものである。スイッチ２４２がオンのとき、コンデンサＲ_Ｃにコンデンサ２４１が並列接続されることになるため、共振回路ＲＲはコイルＲ_ＬとコンデンサＲ_Ｃ及び２４１の合成容量とで形成され、結果、共振回路ＲＲの共振周波数は基準周波数よりも低い周波数ｆ_Ｍとなる。即ち、スイッチ２４２がオンのとき、共振回路ＲＲの共振周波数を決定する受電側容量は、上記の合成容量である。ここでは、スイッチ２４２がオンのとき共振回路ＲＲが送電側コイルＴ_Ｌの負荷として機能しない程度に（即ち、共振回路ＴＴ及びＲＲ間で磁気共鳴が十分に発生しない程度に）、周波数ｆ_Ｍが基準周波数から離れているものとする。例えば、スイッチ２４２のオンのときにおける共振回路ＲＲの共振周波数（即ち周波数ｆ_Ｍ）は、数１００ｋＨｚ〜１ＭＨｚとされる。

共振回路ＲＲの共振周波数を周波数ｆ_Ｍに変更できる限り、変更回路２４０としての共振周波数変更回路は共振周波数変更回路２４０Ａに限定されず、周波数ｆ_Ｍは基準周波数より高くても良い。例えば、共振周波数変更回路はコイルＲ_Ｌ及びコンデンサＲ_Ｃを接続する電流ループ上に直列に挿入されたスイッチのオン、オフによって、コイルＲ_Ｌ及びコンデンサＲ_Ｃ間の接続、非接続を切り替える回路であっても良い（非接続とされた場合、コイルＲ_Ｌと配線の寄生容量等とで共振回路ＲＲの共振周波数（＞＞基準周波数）が定まる）。つまり、受電側共振回路ＲＲが直列共振回路でありうることをも考慮すれば、以下のことが言える。受電側共振回路ＲＲは受電側コイル（Ｒ_Ｌ）と受電側容量の並列回路又は直列回路を有し、受電側容量が所定の基準容量と一致しているとき、受電側共振回路ＲＲの共振周波数ｆ_Ｏは基準周波数と一致する。共振周波数変更回路は、必要なタイミングにおいて、受電側容量を基準容量から増加又は減少させる。これにより、受電側共振回路ＲＲにおいて、受電側コイル（Ｒ_Ｌ）と、基準容量より大きい又は小さい受電側容量とで、並列回路又は直列回路が形成され、結果、受電側共振回路ＲＲの共振周波数ｆ_Ｏが基準周波数から変更される。

図１０のコイル短絡回路２４０Ｂは、共振状態変更回路２４０としてのコイル短絡回路の例である。コイル短絡回路２４０Ｂは、共振回路ＲＲにおけるコンデンサＲ_Ｃの一端及びコイルＲ_Ｌの一端が共通接続されるノードと、共振回路ＲＲにおけるコンデンサＲ_Ｃの他端及びコイルＲ_Ｌの他端が共通接続されるノードとの間に接続（挿入）されたスイッチ２４３から成る。スイッチ２４３は、制御回路２５０の制御の下、オン又はオフとなる。スイッチ２４３がオンとなると共振回路ＲＲにおけるコイルＲ_Ｌが短絡される（より詳細にはコイルＲ_Ｌの両端が短絡される）。受電側コイルＲ_Ｌが短絡された状態では受電側共振回路ＲＲが存在しなくなる（受電側共振回路ＲＲが存在しない状態と等価な状態となる）。従って、受電側コイルＲ_Ｌの短絡中では、送電側コイルＴ_Ｌにとっての負荷が十分に軽くなる（即ち、あたかも、給電台１２上に電子機器２が存在しないかのような状態となる）。受電側コイルＲ_Ｌを短絡できる限り、変更回路２４０としてのコイル短絡回路はコイル短絡回路２４０Ｂに限定されない。

以下では、受電側共振回路ＲＲの共振周波数ｆ_Ｏを基準周波数から所定周波数ｆ_Ｍに変更する動作を、共振周波数変更動作と呼び、コイル短絡回路を用いて受電側コイルＲ_Ｌを短絡する動作を、コイル短絡動作と呼ぶ。また、記述の簡略化上、共振周波数変更動作又はコイル短絡動作をｆ_Ｏ変更／短絡動作と称することがある。

制御回路２５０（図５参照）は、ＩＣ２００内の各部位の動作を統括的に制御する。制御回路２５０が行う制御には、例えば、切り替え回路２１０の切り替え動作の制御、通信回路２２０及び受電回路２３０による通信動作及び受電動作の内容制御及び実行有無制御、変更回路２４０の動作制御が含まれる。制御回路２５０は、タイマ（不図示）を内蔵しており任意のタイミング間の時間長さを計測できる。例えば、制御回路２５０におけるタイマは、ｆ_Ｏ変更／短絡動作による共振周波数ｆ_Ｏの所定周波数ｆ_Ｍへの変更又は受電側コイルＲ_Ｌの短絡が維持される時間の計測（即ち後述の時間Ｔ_Ｍの計測；図１９のステップＳ２０７参照）を行うことできる。

ところで、給電機器１の制御回路１６０は、給電台１２上における異物の存否を判断し、異物が無い場合にのみ送電動作を行うよう送電回路１３０を制御できる。本実施形態における異物は、電子機器２及び電子機器２の構成要素（受電側コイルＲ_Ｌなど）と異なり、給電機器１に近づいたときに、送電側コイルＴ_Ｌの発生磁界に基づいて電流（異物内での電流）を発生させられる物体を含む。本実施形態において、異物の存在とは、送電側コイルＴ_Ｌの発生磁界に基づく、無視できない程度の電流が異物内で流れるような位置に異物が存在することを意味する、と解して良い。尚、送電側コイルＴ_Ｌの発生磁界に基づき異物内で流れることになった電流は、異物に対向、結合するコイル（Ｔ_ＬやＲ_Ｌ）に起電力（又は逆起電力）を発生させるため、そのコイルを含む回路の特性に無視できない影響を与えうる。

図１１（ａ）に、異物の一種である異物３の概略外形図を示し、図１１（ｂ）に異物３の概略内部構成図を示す。異物３は、コイルＪ_Ｌ及びコンデンサＪ_Ｃの並列回路から成る共振回路ＪＪと、共振回路ＪＪに接続された異物内回路３００と、を備える。共振回路ＪＪの共振周波数は基準周波数に設定されている。異物３は、電子機器２とは異なり、給電機器１に対応しない機器である。例えば、異物３は、ＮＦＣ通信に応答しない１３．５６ＭＨｚのアンテナコイル（コイルＪ_Ｌ）を持つ無線ＩＣタグを有した物体（非接触ＩＣカード等）である。また例えば、異物３は、ＮＦＣ通信機能自体は有しているものの、その機能が無効とされている電子機器である。例えば、ＮＦＣ通信機能を有するスマートホンではあるが、ソフトウェア設定で当該機能をオフにされているスマートホンは、異物３となりうる。また、ＮＦＣ通信機能が有効となっているスマートホンでも、受電機能を持たないスマートホンも異物３に分類される。

このような異物３が給電台１２上に配置されている状態において、仮に、給電機器１が送電動作を行うと、送電側コイルＴ_Ｌが発生した強磁界（例えば、１２Ａ／ｍ以上の磁界強度を持つ磁界）にて異物３が破壊されることがある。例えば、送電動作時における強磁界は、給電台１２上の異物３のコイルＪ_Ｌの端子電圧を１００Ｖ〜２００Ｖまで増大させることもあり、そのような高電圧に耐えられるように異物３が形成されていなければ、異物３が破壊される。

［ｐＦＯＤ処理（電力伝送前のｐＦＯＤ処理）］
図１２を参照し、異物の存否を検出するための異物検出処理を説明する。図１２は、電力伝送前に給電機器１により実行される異物検出処理（以下、ｐＦＯＤ処理という）のフローチャートである。

ｐＦＯＤ処理の実行時には、送電回路１３０が共振回路ＴＴに接続される。ｐＦＯＤ処理において、制御回路１６０は、まずステップＳ１１にて送電側コイルＴ_Ｌによる磁界強度Ｈを所定のテスト強度に設定する。磁界強度Ｈは、送電側コイルＴ_Ｌの発生磁界強度であって、より詳しくは、送電側コイルＴ_Ｌが発生した基準周波数で振動する交番磁界の磁界強度を指す。磁界強度Ｈをテスト強度に設定するとは、所定のテスト用交流信号（テスト用交流電圧）が共振回路ＴＴに供給されるように送電回路１３０を制御することで、テスト強度を有し且つ基準周波数で振動する交番磁界であるテスト磁界を送電側コイルＴ_Ｌに発生させることを指す。テスト磁界の磁界強度であるテスト強度は、電力伝送（即ち送電動作）における送電側コイルＴ_Ｌの発生磁界強度（即ち送電用磁界の磁界強度；例えば、４５〜６０Ａ／ｍ）よりも相当に小さく、通信用磁界強度の下限値“１．５Ａ／ｍ”から上限値“７．５Ａ／ｍ”までの範囲内に収まる。故に、テスト磁界によって異物３が破損等するおそれは無い又は少ない。制御回路１６０は、増幅器１３２（図７参照）の増幅率を制御することで磁界強度Ｈを可変設定することができる。テスト磁界を発生させる場合には所定のテスト用交流電圧が共振回路ＴＴに供給及び印加されるように、且つ、送電用磁界を発生させる場合にはテスト用交流電圧よりも大きな振幅を有する所定の送電用交流電圧が共振回路ＴＴに供給及び印加されるように、増幅器１３２の増幅率を制御すれば良い。

ステップＳ１１に続くステップＳ１２において、制御回路１６０は、負荷検出回路１４０を用い、テスト磁界を発生させているときの電圧値Ｖ_Ｄを電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤとして取得する。電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤは、テスト磁界を送電側コイルＴ_Ｌに発生させているときの、送電側コイルＴ_Ｌに流れる電流の振幅に応じた値を持つ。尚、ｐＦＯＤ処理が実行される期間中には、ＮＦＣ通信を介した給電機器１からの指示に従い電子機器２においてｆ_Ｏ変更／短絡動作（共振周波数変更動作又はコイル短絡動作）が実行されている。故に、共振回路ＲＲ（受電側コイルＲ_Ｌ）は実質的に送電側コイルＴ_Ｌの負荷として機能せず、電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤの減少を全く又は殆どもたらさない。

ステップＳ１２に続くステップＳ１３において、制御回路１６０は、電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤが所定のｐＦＯＤ正常範囲内に収まるか否かを判断する。そして、電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤがｐＦＯＤ正常範囲内に収まる場合、制御回路１６０は、異物３が給電台１２上に存在していないと判定する（ステップＳ１４）。この判定を異物無判定と称する。一方、電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤがｐＦＯＤ正常範囲を逸脱する場合、制御回路１６０は、異物３が給電台１２上に存在していると判定する（ステップＳ１５）。この判定を異物有判定と称する。制御回路１６０は、異物無判定を成した場合、送電回路１３０による送電動作の実行が可能であると判断して送電動作の実行（共振回路ＴＴを用いた送電）を許可し、異物有判定を成した場合、送電回路１３０による送電動作の実行が不可であると判断して送電動作の実行を禁止する。送電動作が実行可能と判断したとき、送電動作において、制御回路１６０は、所定の送電用磁界が送電側コイルＴ_Ｌにて発生されるよう送電回路１３０を制御することができる。

ｐＦＯＤ正常範囲は、所定の下限値Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}以上且つ所定の上限値Ｖ_{ｐＲＥＦＨ}以下の範囲である（０＜Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}＜Ｖ_{ｐＲＥＦＨ}）。故に、判定不等式“Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}≦Ｖ_ｐＦＯＤ≦Ｖ_{ｐＲＥＦＨ}”が満たされる場合には異物無判定が成され、そうでない場合には異物有判定が成される。

ｐＦＯＤ処理の実行時において、給電台１２上に異物３が存在している場合、異物３の共振回路ＪＪ（コイルＪ_Ｌ）が送電側コイルＴ_Ｌの負荷として機能し、結果、給電台１２上に異物３が存在しない場合と比べて、電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤの減少がみられる。

また、異物として、異物３と異なる異物３ａ（不図示）も考えられる。異物３ａは、例えば、アルミニウムを含んで形成された金属体（アルミニウム箔やアルミニウム板）や銅を含んで形成された金属体である。ｐＦＯＤ処理の実行時において、給電台１２上に異物３ａが存在している場合、給電台１２上に異物３ａが存在しない場合と比べて、電気的及び磁気的な作用により、電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤの増大がみられる。

電力伝送の実行前において、給電台１２上に異物３が存在している場合には電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤが下限値Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}を下回るように、且つ、給電台１２上に異物３ａが存在している場合には電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤが上限値Ｖ_{ｐＲＥＦＨ}を上回るように、且つ、給電台１２上に異物（３又は３ａ）が存在していない場合には電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤがｐＦＯＤ正常範囲内に収まるように、実験等を介して、下限値Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}及び上限値Ｖ_{ｐＲＥＦＨ}が予め設定されてメモリ１５０に記憶されている。

尚、給電台１２上に異物３ａが存在する状態で送電用磁界を発生させると、異物３ａにて電力が吸収され、異物３ａが発熱するおそれがある。本実施形態では、電力伝送の搬送波周波数としての基準周波数が１３．５６ＭＨｚであることを想定しているため、そのような発熱のおそれは十分に少ないとも言える。故に、異物３ａの存在を考慮することなく、電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤが下限値Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}を下回った場合に限って異物有判定を行い、電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤが下限値Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}以上であれば常に異物無判定を行うようにしてもよい（即ち上限値Ｖ_{ｐＲＥＦＨ}を撤廃しても良い）。しかしながら、本実施形態に係る発明において基準周波数は１３．５６ＭＨｚに限定されず、基準周波数を例えば数１００ｋＨｚ程度にした場合には、異物３ａの発熱のおそれが高くなるため、下限値Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}だけでなく上限値Ｖ_{ｐＲＥＦＨ}をｐＦＯＤ正常範囲に定める、上述の方法の採用が望ましい。

下限値Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}の決定方法について説明を加えておく。下限値Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}は初期設定処理にて決定される。図１３は、初期設定処理の動作フローチャートである。初期設定処理は、以下の初期設定環境の下でＩＣ１００により実行される。初期設定環境では、送電側コイルＴ_Ｌに対する負荷が全く無く又は無視できる程度に小さく、送電側コイルＴ_Ｌの発生磁界により電流を生じさせられる物体（送電側コイルＴ_Ｌに磁気結合するコイルを含む）が、給電機器１の構成部品を除いて存在しない。図１（ａ）の離間状態は、初期設定環境を満たすと考えても良い。初期設定環境の確保を担保すべく、例えば、給電機器１の製造時又は出荷時などにおいて初期設定処理を行うようにしても良い。但し、初期設定環境を確保できるのであれば、任意のタイミングで初期設定処理を行うことができる。

初期設定処理の実行時には送電回路１３０が共振回路ＴＴに接続される。そして、ステップＳ２１にて送電側コイルＴ_Ｌによる磁界強度Ｈを所定のテスト強度に設定し、続くステップＳ２２にて、その設定状態でＡ／Ｄ変換器１４４から取得される電圧値Ｖ_Ｄを電圧値Ｖ_ＤＯとして得る。その後のステップＳ２３において、電圧値Ｖ_ＤＯに基づく下限値Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}をメモリ１５０に記憶させる。下限値Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}は、異物３の存在下においてのみｐＦＯＤ処理にて異物有判定が成されるよう、電圧値Ｖ_ＤＯよりも低い値に設定される。例えば、“Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}＝Ｖ_ＤＯ−ΔＶ”、又は、“Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}＝Ｖ_ＤＯ×ｋ”とすると良い。ΔＶは、所定の正の微小値である（但し、ΔＶ＝０とすることも可能）。ｋは、１未満の正の所定値を有する係数である。尚、初期設定環境下において磁界強度Ｈを所定のテスト強度に設定したときに得られるであろう電圧値Ｖ_Ｄを、設計段階で見積もることができる。この見積によって導出された値に基づき、初期設定処理を行うことなく、下限値Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}を決定してメモリ１５０に記憶させるようにしても良い。

図１４（ａ）〜図１４（ｄ）を参照して、異物３の検出に関する第１〜第４ケースを考える。第１ケースでは、給電台１２上に電子機器２のみが存在している。第２ケースでは、給電台１２上に電子機器２及び異物３が存在している。第３ケースでは、給電台１２上に異物３のみが存在している。第４ケースでは、給電台１２上に電子機器２も異物３も存在していない。

上述したように、ｐＦＯＤ処理が実行される期間中には電子機器２においてｆ_Ｏ変更／短絡動作が実行されているため、第１ケースでは、送電側コイルＴ_Ｌにとっての負荷が十分に軽くなり（即ち、あたかも、給電台１２上に電子機器２が存在しないかのような状態となり）、電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤが十分に大きくなって異物無判定が成される。一方、第２ケースでは、共振回路ＲＲの共振周波数が上記周波数ｆ_Ｍへと変更されるものの又は受電側コイルＲ_Ｌが短絡されるものの、異物３は送電側コイルＴ_Ｌの負荷として存在し続けるため（異物３の共振回路ＪＪの共振周波数は基準周波数のままであるため）、電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤが十分に小さくなって異物有判定が成される。

第３及び第４ケースでは、ＮＦＣ通信に応答する電子機器２が給電台１２上に存在しないため、そもそも送電動作は不要であり、従ってｐＦＯＤ処理自体が実行されない。給電機器１は、ＮＦＣ通信により、電力伝送に対応可能な電子機器２が給電台１２上に存在しているか否かを判断できる。尚、異物３が給電台１２上に存在する状態は、異物３が給電台１２に直接接触している状態に限定されない。例えば、図１５に示す如く、給電台１２上に電子機器２が直接接触する形で存在し且つ電子機器２の上に異物３が存在しているような状態も、異物有判定が成される限り、異物３が給電台１２上に存在する状態に属する。

［電力伝送までの信号のやりとり：図１６］
図１６を参照して、電力伝送が行われるまでの機器１及び２間の信号のやりとりを説明する。以下では、特に記述無き限り、電子機器２が基準配置状態（図１（ｂ））にて給電台１２上に存在していることを想定する。

まず、給電機器１が送信側且つ電子機器２が受信側となり、給電機器１（ＩＣ１００）が、ＮＦＣ通信によって、問い合わせ信号５１０を給電台２上の機器（以下、給電対象機器とも言う）に送信する。給電対象機器は、電子機器２を含み、異物３を含みうる。問い合わせ信号５１０は、例えば、給電対象機器の固有識別情報を問い合わせる信号、給電対象機器がＮＦＣ通信を実行可能な状態にあるかを問い合わせる信号、及び、給電対象機器が電力を受け取れるか又は電力の送電を求めているかを問い合わせる信号を含む。

問い合わせ信号５１０を受信した電子機器２（ＩＣ２００）は、問い合わせ信号５１０の問い合わせ内容に答える応答信号５２０を、ＮＦＣ通信によって給電機器１に送信する。応答信号５２０を受信した給電機器１（ＩＣ１００）は、応答信号５２０を解析し、給電対象機器がＮＦＣ通信を可能であって且つ電力を受け取れる又は電力の送電を求めている場合に、テスト用要求信号５３０をＮＦＣ通信によって給電対象機器に送信する。テスト用要求信号５３０を受信した給電対象機器としての電子機器２（ＩＣ２００）は、テスト用要求信号５３０に対する応答信号５４０をＮＦＣ通信によって給電機器１に送信してから、速やかに、ｆ_Ｏ変更／短絡動作（共振周波数変更動作又はコイル短絡動作）を実行する。テスト用要求信号５３０は、例えば、ｆ_Ｏ変更／短絡動作の実行を要求、指示する信号であり、電子機器２の制御回路２５０は、テスト用要求信号５３０の受信を契機としてｆ_Ｏ変更／短絡動作を共振状態変更回路２４０に実行させる。テスト用要求信号５３０の受信前においてｆ_Ｏ変更／短絡動作は非実行とされている。ｆ_Ｏ変更／短絡動作の実行の契機となるならばテスト用要求信号５３０はどのような信号でも良く、問い合わせ信号５１０に内包されるものであっても良い。

応答信号５４０を受信した給電機器１（ＩＣ１００）は、上述のｐＦＯＤ処理を実行する。ｐＦＯＤ処理の実行期間中、電子機器２（ＩＣ２００）は、ｆ_Ｏ変更／短絡動作の実行を継続する。具体的には、電子機器２（ＩＣ２００）は、内蔵タイマを用いて、ｐＦＯＤ処理の実行期間の長さに応じた時間だけｆ_Ｏ変更／短絡動作の実行を維持してからｆ_Ｏ変更／短絡動作を停止する。

ｐＦＯＤ処理において、給電台１２上に異物が無いと判断すると、給電機器１（ＩＣ１００）は、認証信号５５０をＮＦＣ通信により給電対象機器に送信する。認証信号５５０は、例えば、これから送電を行うことを給電対象機器に通知する信号を含む。認証信号５５０を受信した電子機器２（ＩＣ２００）は、認証信号５５０に対応する応答信号５６０を、ＮＦＣ通信によって給電機器１に送信する。応答信号５６０は、例えば、認証信号５５０が示す内容を認識したことを通知する信号又は認証信号５５０が示す内容に許可を与える信号を含む。応答信号５６０を受信した給電機器１（ＩＣ１００）は、送電回路１３０を共振回路ＴＴに接続して送電動作を実行し、これにより電力伝送５７０が実現される。

図１４（ａ）の第１ケースでは、上記の流れで電力伝送５７０が実行されるが、図１４（ｂ）の第２ケースの場合においては、応答信号５４０の送受信まで処理が進行するものの、ｐＦＯＤ処理において給電台１２上に異物があると判断されるため、電力伝送５７０が実行されない。１回分の電力伝送５７０は所定時間だけ行われるものであっても良く、問い合わせ信号５１０の送信から電力伝送５７０までの一連の処理を、繰り返し実行するようにしても良い。実際には、図１７に示す如く、ＮＦＣ通信とｐＦＯＤ処理と電力伝送（ＮＦＣ電力伝送）とを順番に且つ繰り返し実行することができる。つまり、非接触給電システムでは、ＮＦＣ通信を行う動作とｐＦＯＤ処理を行う動作と電力伝送（ＮＦＣ電力伝送）を行う動作とを、時分割で順番に且つ繰り返し行うことができる。

［給電機器及び電子機器の動作フローチャート］
次に、給電機器１の動作の流れを説明する。図１８は、給電機器１の動作フローチャートである。通信回路１２０及び送電回路１３０の動作は、制御回路１６０の制御の下で実行される。

給電機器１が起動すると、まずステップＳ１０１において、制御回路１６０は、切り替え回路１１０の制御を通じて通信回路１２０を共振回路ＴＴに接続する。続くステップＳ１０２において、制御回路１６０は、通信回路１２０及び共振回路ＴＴを用いたＮＦＣ通信により問い合わせ信号５１０を給電対象機器に送信し、その後、ステップＳ１０３において、応答信号５２０の受信を待機する。通信回路１２０にて応答信号５２０が受信されると、制御回路１６０は、応答信号５２０を解析し、給電対象機器がＮＦＣ通信を可能であって且つ電力を受け取れる又は電力の送電を求めている場合に送電対象があると判断して（ステップＳ１０４のＹ）ステップＳ１０５に進み、そうでない場合（ステップＳ１０４のＮ）、ステップＳ１０２に戻る。

ステップＳ１０５において、制御回路１６０は、通信回路１２０及び共振回路ＴＴを用いたＮＦＣ通信によりテスト用要求信号５３０を給電対象機器に送信し、その後、ステップＳ１０６において、応答信号５４０の受信を待機する。通信回路１２０にて応答信号５４０が受信されると、ステップＳ１０７において、制御回路１６０は、切り替え回路１１０の制御を通じて送電回路１３０を共振回路ＴＴに接続し、続くステップＳ１０８にて上述のｐＦＯＤ処理を行う。

ｐＦＯＤ処理の後、ステップＳ１０９にて、制御回路１６０は、切り替え回路１１０の制御を通じて通信回路１２０を共振回路ＴＴに接続し、ステップＳ１１０に進む。ステップＳ１０８のｐＦＯＤ処理にて、異物有判定が成されている場合にはステップＳ１１０からステップＳ１０２に戻るが、異物無判定が成されている場合にはステップＳ１１０からステップＳ１１１に進む。

ステップＳ１１１において、制御回路１６０は、通信回路１２０及び共振回路ＴＴを用いたＮＦＣ通信により認証信号５５０を給電対象機器に送信し、その後、ステップＳ１１２において、応答信号５６０の受信を待機する。通信回路１２０にて応答信号５６０が受信されると、ステップＳ１１３において、制御回路１６０は、切り替え回路１１０の制御を通じて送電回路１３０を共振回路ＴＴに接続し、ステップＳ１１４に進む。

制御回路１６０は、ステップＳ１１４にて送電許可フラグにＯＮを設定すると共に、送電動作及びｍＦＯＤ処理を開始し、その後、ステップＳ１１５に進む。詳細は後述されるが、ｍＦＯＤ処理によって電力伝送中における異物の存否が検出され、異物が検出された場合に送電許可フラグがＯＦＦとされる。制御回路１６０は、送電動作の開始時点からの経過時間を計測し、ステップＳ１１５において、その経過時間を所定の時間ｔ_Ａ（例えば１０分）と比較すると共に送電許可フラグの状態をチェックする。その経過時間が所定の時間ｔ_Ａに達すると、又は、ｍＦＯＤ処理によって送電許可フラグにＯＦＦが設定されると、ステップＳ１１６に進む。ステップＳ１１６において、制御回路１６０は、送電許可フラグをＯＮからＯＦＦに切り替える又は送電許可フラグをＯＦＦに維持すると共に、送電動作及びｍＦＯＤ処理を停止させ、その後ステップＳ１０１に戻る。

次に、電子機器２の動作の流れを説明する。図１９は、電子機器２の動作フローチャートであり、ステップＳ２０１から始まる処理は、図１８に示す給電機器１の動作に連動して実行される。通信回路２２０及び受電回路２３０の動作は、制御回路２５０の制御の下で実行される。

電子機器２が起動すると、まずステップＳ２０１において、制御回路２５０は、切り替え回路２１０の制御を通じて通信回路２２０を共振回路ＲＲに接続する。電子機器２の起動時においてｆ_Ｏ変更／短絡動作は非実行とされている。続くステップＳ２０２において、制御回路２５０は、通信回路２２０を用い、問い合わせ信号５１０の受信を待機する。通信回路２２０にて問い合わせ信号５１０が受信されると、ステップＳ２０３において、制御回路２５０は、問い合わせ信号５１０を解析して応答信号５２０を生成し、通信回路２２０を用いたＮＦＣ通信により応答信号５２０を給電機器１に送信する。このとき、制御回路２５０は、バッテリ２１の状態を確認し、バッテリ２１が満充電状態でなく且つバッテリ２１に異常が認められなければ、電力を受け取れる又は電力の送電を求める信号を応答信号５２０に含める。一方、バッテリ２１が満充電状態あれば又はバッテリ２１に異常が認められれば、電力を受け取れない旨の信号を応答信号５２０に含める。

その後のステップＳ２０４においてテスト用要求信号５３０が通信回路２２０にて受信されると、ステップＳ２０５に進む。ステップＳ２０５において、制御回路２５０は、通信回路２２０を用いたＮＦＣ通信により応答信号５４０を給電機器１に送信し、続くステップＳ２０６にて共振状態変更回路２４０を用いてｆ_Ｏ変更／短絡動作を実行する。即ち、共振周波数ｆ_Ｏを基準周波数から周波数ｆ_Ｍに変更する又は受電側コイルＲ_Ｌを短絡する。制御回路２５０は、ｆ_Ｏ変更／短絡動作の実行を開始してからの経過時間を計測し（ステップＳ２０７）、その経過時間が所定時間ｔ_Ｍに達するとｆ_Ｏ変更／短絡動作を停止する（ステップＳ２０８）。即ち、共振周波数ｆ_Ｏを基準周波数に戻す又は受電側コイルＲ_Ｌの短絡を解消する。その後、ステップＳ２０９に進む。給電機器１にてｐＦＯＤ処理が実行されている期間（即ちテスト磁界が発生されている期間）中、ｆ_Ｏ変更／短絡動作の実行が維持され、その期間が終了すると速やかにｆ_Ｏ変更／短絡動作が停止されるように時間ｔ_Ｍが予め設定されている。テスト用要求信号５３０の中で時間ｔ_Ｍが指定されていても良い。

ステップＳ２０９において、制御回路２５０は、通信回路２２０を用い、認証信号５５０の受信を待機する。通信回路２２０にて認証信号５５０が受信されると、ステップＳ２１０において、制御回路２５０は、認証信号５５０に対する応答信号５６０を通信回路２２０を用いたＮＦＣ通信により給電機器１へ送信する。尚、異物が給電台１２上に存在する場合には、認証信号５５０が給電機器１から送信されないので（図１８のステップＳ１１０参照）、ステップＳ２０９にて認証信号５５０が一定時間受信されない場合にはステップＳ２０１に戻ると良い。

応答信号５６０の送信後、ステップＳ２１１において、制御回路２５０は、切り替え回路２１０の制御を通じて受電回路２３０を共振回路ＲＲに接続し、続くステップＳ２１２にて受電回路２３０を用いた受電動作を開始させる。制御回路２５０は、受電動作の開始時点からの経過時間を計測し、その経過時間と所定の時間ｔ_Ｂとを比較する（ステップＳ２１３）。そして、その経過時間が時間ｔ_Ｂに達すると（ステップＳ２１３のＹ）、ステップＳ２１４にて、制御回路２５０は、受電動作を停止させてステップＳ２０１に戻る。

受電動作の行われる期間が給電機器１にて送電動作が行われている期間と実質的に一致するように、時間ｔ_Ｂは、予め定められている又は認証信号５５０の中で指定されている。受電動作の開始後、制御回路２５０は、バッテリ２１への充電電流を監視し、充電電流値が所定値以下になった時点で送電動作が終了したと判断して、受電動作の停止及びステップＳ２０１への移行を行うようにしても良い。

［ｍＦＯＤ処理］
送電動作の開始後に異物が給電台１２上に置かれることもある。ｍＦＯＤ処理は、電力伝送中の異物検出処理として機能し、ｍＦＯＤ処理により電力伝送中において異物の存否が継続監視される。

図２０は、ｍＦＯＤ処理の動作フローチャートである。制御回路１６０は、送電動作を行っている期間において、図２０のｍＦＯＤ処理を繰り返し実行する。ｍＦＯＤ処理において、制御回路１６０は、まずステップＳ５１にて最新の電圧値Ｖ_Ｄを電流振幅検出値Ｖ_ｍＦＯＤとして取得する。電流振幅検出値Ｖ_ｍＦＯＤは、送電用磁界を送電側コイルＴ_Ｌに発生させているときの、送電側コイルＴ_Ｌに流れる電流の振幅に応じた値を持つ。続くステップＳ５２において、制御回路１６０は、電流振幅検出値Ｖ_ｍＦＯＤが所定のｍＦＯＤ正常範囲に属しているか否かを判断する。電流振幅検出値Ｖ_ｍＦＯＤがｍＦＯＤ正常範囲に属している場合、異物無判定が成されて（ステップＳ５３）ステップＳ５１に戻りステップＳ５１及びＳ５２の処理が繰り返されるが、電流振幅検出値Ｖ_ｍＦＯＤがｍＦＯＤ正常範囲を逸脱している場合、ステップＳ５４にて異物有判定が成されて送電許可フラグにＯＦＦが設定される。送電許可フラグは、制御回路１６０にて管理されるフラグであってＯＮ又はＯＦＦに設定される。送電許可フラグがＯＮのとき制御回路１６０は送電動作の実行を許可し、送電許可フラグがＯＦＦのとき制御回路１６０は送電動作の実行を禁止する又は送電動作を停止する。

ｍＦＯＤ正常範囲は、所定の下限値Ｖ_{ｍＲＥＦＬ}以上且つ所定の上限値Ｖ_{ｍＲＥＦＨ}以下の範囲である（０＜Ｖ_{ｍＲＥＦＬ}＜Ｖ_{ｍＲＥＦＨ}）。故に、判定不等式“Ｖ_{ｍＲＥＦＬ}≦Ｖ_ｍＦＯＤ≦Ｖ_{ｍＲＥＦＨ}”が満たされる場合には異物無判定が成され、そうでない場合には異物有判定が成される。

図２１（ａ）を参照し、例えば、送電動作が実行されているときに、給電機器１の給電台１２と電子機器２との間に非接触ＩＣカードとして形成された異物３が挿入された場合を考える。この場合、電子機器２の受電側コイルＲ_Ｌと異物３のコイルＪ_Ｌが磁気的に結合して、異物３の共振回路ＪＪの共振周波数と共に電子機器２の共振回路ＲＲの共振周波数が基準周波数（１３．５６ＭＨｚ）からずれる。そうすると、受電側コイルＲ_Ｌでの受電電力が低下して送電側コイルＴ_Ｌから見た送電の負荷が軽くなり、結果として、送電側コイルＴ_Ｌに流れる電流の振幅が大きくなる（この場合に“Ｖ_{ｍＲＥＦＨ}＜Ｖ_ｍＦＯＤ”となるように上限値Ｖ_{ｍＲＥＦＨ}を定めておけばよい）。

また例えば、図２１（ｂ）を参照し、送電動作が実行されているときに、給電機器１の給電台１２と電子機器２との間に、鉄板又はフェライトシートとしての異物３ｂが挿入されると、電気的及び磁気的な作用を通じて異物３ｂ内に電流が流れ、結果として、送電側コイルＴ_Ｌに流れる電流の振幅が小さくなる（この場合に“Ｖ_ｍＦＯＤ＜Ｖ_{ｍＲＥＦＬ}”となるように下限値Ｖ_{ｍＲＥＦＬ}を定めておけばよい）。

このように、異物３及び３ｂを含む異物の存否により電流振幅検出値Ｖ_ｍＦＯＤに変化が生じる。考えられる異物の種類及び配置状態を想定した実験等を介し、予め適切に決定された下限値Ｖ_{ｍＲＥＦＬ}及び上限値Ｖ_{ｍＲＥＦＨ}を、メモリ１５０に記憶させておくと良い。また、電力伝送中に、異物が存在することで電流振幅検出値Ｖ_ｍＦＯＤがどの程度変化するのかを理論計算により推定し、その推定結果に基づき、実験を必要とすることなく、下限値Ｖ_{ｍＲＥＦＬ}及び上限値Ｖ_{ｍＲＥＦＨ}を定めてメモリ１５０に記憶させても良い。この際例えば、ｍＦＯＤ正常範囲の中心値を基準として電流振幅検出値Ｖ_ｍＦＯＤを所定の変化率以上変化させるような物体を異物と定義するようにしても良い。

図７に示す増幅器１４３の増幅率は可変となっている。送電側コイルＴ_Ｌに流れる電流の振幅は、ｐＦＯＤ処理を行っているときよりも、送電動作及びｍＦＯＤ処理を行っているときの方が随分と大きい。故に、制御回路１６０は、ｍＦＯＤ処理を行う際において増幅器１４３の増幅率をｐＦＯＤ処理を行う際よりも小さく設定し、これによってＡ／Ｄ変換器１４４の入力信号範囲をｐＦＯＤ処理及びｍＦＯＤ処理間で同程度とする。

また例えば、包絡線検波器１４２とＡ／Ｄ変換器１４４との間に（より具体的には、包絡線検波器１４２と増幅器１４３との間に、又は、増幅器１４３とＡ／Ｄ変換器１４４との間に）高域低減回路（不図示）を挿入するようにしても良い。この場合、センス抵抗１４１の電圧降下信号に高域低減処理（換言すれば平均化処理又は低域通過フィルタリング）を施して得られる振幅情報が、Ａ／Ｄ変換器１４４から電圧値Ｖ_Ｄとして得られるようになる。ここにおける高域低減処理は、センス抵抗１４１の電圧降下信号における比較的低い周波数の信号成分を通過させる一方で比較的高い周波数の信号成分を低減（減衰）させる処理である。高域低減処理により、ノイズや給電台１２上の電子機器２の軽度な振動などによって送電禁止の制御が行われることが抑制される。

或いは例えば、包絡線検波器１４２及びＡ／Ｄ変換器１４４間に高域低減回路を設ける代わりに、Ａ／Ｄ変換器１４４の出力信号による電圧値Ｖ_Ｄに対し演算による高域低減処理を施して高域低減処理後の電圧値Ｖ_Ｄを電流振幅検出値Ｖ_ｍＦＯＤとして用いるようにしても良い（ｐＦＯＤ処理における電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤに対しても同様であって良い）。演算による高域低減処理は、制御回路１６０にて実行される処理であって、Ａ／Ｄ変換器１４４の出力信号における比較的低い周波数の信号成分を通過させる一方で比較的高い周波数の信号成分を低減（減衰）させる処理である。

尚、ｍＦＯＤ処理の役割は、異物の存否判定だけに限られない。即ち、ｍＦＯＤ処理は、電流振幅検出値Ｖ_ｍＦＯＤがｍＦＯＤ正常範囲を逸脱するような、送電動作の継続に不適切なあらゆる状況下で、送電許可フラグをＯＦＦとする役割を持つ。例えば、送電動作の開始後、電子機器２が給電台１２上から取り去られたとき、送電側コイルＴ_Ｌから見た送電の負荷が軽くなって電流振幅検出値Ｖ_ｍＦＯＤが上限値Ｖ_{ｍＲＥＦＨ}を超えるため送電許可フラグがＯＦＦとされる（図２０のステップＳ５４）。

このように、制御回路１６０は、送電動作によって電力の送電が行われているとき、電流振幅検出値Ｖ_ｍＦＯＤがｍＦＯＤ正常範囲を逸脱しているか否かを監視することで送電の継続是非を制御する。これにより、送電動作の開始後に異物が給電台１２上に置かれた場合など、送電動作の継続に不適切な状況下で、ｍＦＯＤ処理を通じて送電動作が停止されるため、送電動作の継続による異物の破損等を回避することができる。

＜＜第２実施形態＞＞
本発明の第２実施形態を説明する。第２実施形態は第１実施形態を基礎とする実施形態であり、第２実施形態において特に述べない事項に関しては、矛盾の無い限り、第１実施形態の記載が第２実施形態にも適用される。

第１実施形態では意識しなかったが、給電機器１における制御回路１６０は、通常モード及びテストモードを含む複数のモードの何れかを自身の動作モードに設定して設定した動作モードにて動作し、同様に、電子機器２における制御回路２５０は、通常モード及びテストモードを含む複数のモードの何れかを自身の動作モードに設定して設定した動作モードにて動作する。制御回路１６０についての複数のモードと、制御回路２５０についての複数のモードは、互いに一致していても良いし、互いに異なっていても良い。制御回路１６０、制御回路２５０についての複数のモードは、通常モード及びテストモード以外のモードを含みうるが、以下では、通常モード及びテストモードのみに注目する。

第１実施形態で述べた給電機器１及び電子機器２の動作は、全て、制御回路１６０及び２５０の動作モードが通常モードに設定されているときの動作である（但し、初期設定処理を除く）。

給電機器１の制御回路１６０は、給電機器１の起動時において又は給電機器１の起動後の任意のタイミングにおいて、予め定められたテストモード設定指示の入力を受けたときに限り自身の動作モードをテストモードに設定し、それ以外では自身の動作モードを通常モードに設定する。同様に、電子機器２の制御回路２５０は、電子機器２の起動時において又は電子機器２の起動後の任意のタイミングにおいて、予め定められたテストモード設定指示の入力を受けたときに限り自身の動作モードをテストモードに設定し、それ以外では自身の動作モードを通常モードに設定する。

図２２を参照し、給電機器１はテストモード設定指示を含む様々な指示の入力を受けるための入力受付部１７０を有し、電子機器２はテストモード設定指示を含む様々な指示の入力を受けるための入力受付部２７０を有する。

入力受付部１７０は、例えば１以上の押しボタンスイッチにて構成されていて良い。この場合、操作者が入力受付部１７０における１つの押しボタンスイッチを押すことで、或いは、操作者が入力受付部１７０における複数の押しボタンスイッチを同時に押すことで、テストモード設定指示が給電機器１及び入力受付部１７０に入力される。給電機器１にタッチパネルが設けられている場合、入力受付部１７０に含まれうる押しボタンスイッチは、タッチパネル上のボタンであっても良い。
また例えば、入力受付部１７０は、外部機器から送信された信号を受信することが可能な通信ポートにて構成されていても良い。この場合、外部機器からの所定のテストモード移行要求信号が入力受付部１７０の通信ポートにて受信されることが、給電機器１及び入力受付部１７０に対するテストモード設定指示の入力に相当し、そのテストモード移行要求信号の受信により、制御回路１６０の動作モードがテストモードに設定される。
外部機器は、給電機器１及び電子機器２と異なる機器であって、例えば、後述のコンピュータ装置４（図２３参照）であって良い。

入力受付部２７０は、例えば１以上の押しボタンスイッチにて構成されていて良い。この場合、操作者が入力受付部２７０における１つの押しボタンスイッチを押すことで、或いは、操作者が入力受付部２７０における複数の押しボタンスイッチを同時に押すことで、テストモード設定指示が電子機器２及び入力受付部２７０に入力される。電子機器２にタッチパネルが設けられている場合、入力受付部２７０に含まれうる押しボタンスイッチは、タッチパネル上のボタンであっても良い。
また例えば、入力受付部２７０は、外部機器から送信された信号を受信することが可能な通信ポートにて構成されていても良い。この場合、外部機器からの所定のテストモード移行要求信号が入力受付部２７０の通信ポートにて受信されることが、電子機器２及び入力受付部２７０に対するテストモード設定指示の入力に相当し、そのテストモード移行要求信号の受信により、制御回路２５０の動作モードがテストモードに設定される。

給電機器１の制御回路１６０において、動作モードがテストモードに設定された後、 給電機器１の電源をオフとし、給電機器１を再起動させると動作モードが通常モードとなる。また、制御回路１６０は、自身の動作モードをテストモードに設定した後、所定条件が成立すると（例えば入力受付部１７０にてテストモード設定指示と異なる通常モード移行指示の入力を受けたとき）自身の動作モードを通常モードに移行させることが可能であっても良い。

電子機器２の制御回路２５０において、動作モードがテストモードに設定された後、 電子機器２の電源をオフとし、電子機器２を再起動させると動作モードが通常モードとなる。また、制御回路２５０は、自身の動作モードをテストモードに設定した後、所定条件が成立すると（例えば入力受付部２７０にてテストモード設定指示と異なる通常モード移行指示の入力を受けたとき）自身の動作モードを通常モードに移行させることが可能であっても良い。

テストモードにおける電子機器２の動作について説明する。テストモードにおいて（即ち、制御回路２５０の動作モードがテストモードに設定されているときにおいて）、制御回路２５０は、共振状態変更回路２４０を用いてｆ_Ｏ変更／短絡動作を継続的に実行する。即ち、共振回路ＲＲの共振周波数ｆ_Ｏが周波数ｆ_Ｍに変更されている状態又は受電側コイルＲ_Ｌが短絡されている状態を維持する。この維持は、制御回路２５０の動作モードがテストモードになっている限り保たれる。また、通常モードにおいてｐＦＯＤ処理のためにｆ_Ｏ変更／短絡動作が行われる時間ｔ_Ｍ（図１９のステップＳ２０７参照）は、数１０ミリ秒〜数１００ミリ秒程度である。故に、テストモードでは、共振回路ＲＲの共振周波数ｆ_Ｏが周波数ｆ_Ｍに変更されている状態又は受電側コイルＲ_Ｌが短絡されている状態が所定時間ｔ_Ｍよりも長く維持されると言える。尚、テストモードにおいて、共振回路ＲＲは切り替え回路２１０を介し通信回路２２０又は受電回路２３０に接続されて良い。

テストモードにおける給電機器１の動作について説明する。テストモードにおいて（即ち、制御回路１６０の動作モードがテストモードに設定されているときにおいて）、制御回路１６０は、切り替え回路１１０及び送電回路１３０への制御を通じて、共振回路ＴＴが切り替え回路１１０を介して送電回路１３０に接続される状態、及び、所定のテスト用交流電圧が送電回路１３０から共振回路ＴＴに供給及び印加されることでテスト磁界が送電側コイルＴ_Ｌにて発生している状態を維持する。この維持は、制御回路１６０の動作モードがテストモードになっている限り保たれる。即ち、テストモードにおいて、制御回路１６０は、切り替え回路１１０及び送電回路１３０への制御を通じて、テスト磁界を送電側コイルＴ_Ｌにて継続発生させる。

テストモードにおいても送電側コイルＴ_Ｌに流れる電流の振幅は継続的に検出されており、その検出結果が電圧値Ｖ_Ｄ（図７参照）として得られる。テストモードにおいて送電側コイルＴ_Ｌがテスト磁界を発生しているときに得られる電圧値Ｖ_Ｄ（即ち検出回路１４０による送電側コイルＴ_Ｌの電流振幅検出値）を、特にテストモード検出値と呼び、記号Ｖ_ＴＥＳＴにて表す。テストモードが維持される限り、テストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴは周期的に取得される（例えば１ミリ秒間隔で取得される）。

第２実施形態に係る非接触給電システムは、テストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴに基づいて所定のテスト用処理を実行する処理部を備える。この処理部は、給電機器１の制御回路１６０に設けられていても良いし、給電機器１及び電子機器２と異なる外部機器に設けられていても良い。ここでは、当該処理部が外部機器に設けられていることを想定する。外部機器は非接触給電システムの構成要素に含まれると考えても良い。

図２３に、外部機器の例としてのコンピュータ装置４の外観を給電機器１の外観と共に示す。図２４は、コンピュータ装置４の概略内部ブロック図である。コンピュータ装置４は、符号４１〜４４によって参照される各部位を備える。

演算処理部４１は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）及びＲＡＭ（Random Access Memory）などから成り、各種の演算処理を実行すると共に、コンピュータ装置４内の各部位の動作を統括的に制御する。

表示部４２は、液晶ディスプレイパネル等から成り、演算処理部４１の制御の下、任意の情報を映像として表示する。記録部４３は、磁気ディスク及び半導体メモリ等からなり、任意の情報を記録する。

通信処理部４４は、コンピュータ装置４と異なる機器との間で無線又は有線による通信を行う。ここでは、給電機器１及びコンピュータ装置４間において所定の有線通信規格（例えば、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）の規格）に従った有線通信が可能であるものとし、給電機器１に設けられた通信ポートとコンピュータ装置４に設けられた通信ポートとが所定の通信ケーブルにて接続されることで、給電機器１及びコンピュータ装置４間で任意の情報の双方向通信が可能であるものとする。但し、コンピュータ装置４との間で無線通信を行う機能が給電機器１に設けられている場合には、給電機器１及びコンピュータ装置４間の通信（給電機器１からコンピュータ装置４へのテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴの伝達を含む）は、無線通信であっても良い。

図２５は、テストモードにおける給電機器１の動作フローチャートである。テストモードでは送電回路１３０が共振回路ＴＴに接続される。そして、ステップＳ７１にて送電側コイルＴ_Ｌによる磁界強度Ｈを所定のテスト強度に設定し、続くステップＳ７２において、制御回路１６０は、その設定状態でＡ／Ｄ変換器１４４から取得される電圧値Ｖ_Ｄをテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴとして得る。その後のステップＳ７３において、制御回路１６０は、得られたテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴを、給電機器１に設けられた通信ポートを介してコンピュータ装置４に送信する。以後、ステップＳ７２及びＳ７３の処理が周期的に繰り返し実行される。

演算処理部４１は、テストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴに基づいて所定のテスト用処理を実行することができる。

テスト用処理は、表示部４２にテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴを表示させる処理を含んでいて良い。この際、テストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴそのもの又はテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴに所定演算（例えば所定の四則演算）を施して得た値を表示部４２に表示するようにしても良いし、テストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴの時系列データ又はテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴに所定演算を施して得た値の時系列データをグラフ化して表示部４２に表示するようにしても良い。

テスト用処理は、記録部４３にテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴを記録させる処理を含んでいて良い。この際、テストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴそのもの又はテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴに所定演算（例えば所定の四則演算）を施して得た値を記録部４３に記録させて良い。テストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴは周期的に順次得られるため、テストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴの時系列データ又はテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴに所定演算を施して得た値の時系列データを、記録部４３に記録させて良い。

テスト用処理は、テストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴが、第１実施形態で述べたｐＦＯＤ正常範囲内に収まるか否かの判断を含んでいると良い（図１２参照）。この判断結果は、表示部４２に表示されると良い。尚、図２５のステップＳ７３において、制御回路１６０も、テストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴがｐＦＯＤ正常範囲内に収まるか否かを判断しても良く、その判断結果を、給電機器１に設けられうる発光ダイオード等の発光態様にて表現するようにしても良い。

テスト用処理の対象となるテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴは、テストモードの電子機器２のみを給電台１２上の所定の送電領域内に配置したときに取得されるテストモード検出値Ｖ_{ＴＥＳＴＡ}と、テストモードの電子機器２と異物（例えば異物３）を給電台１２上の所定の送電領域内に配置したときに取得されるテストモード検出値Ｖ_{ＴＥＳＴＢ}を含んでいると良い。テストモードとなっている給電機器１及び電子機器２に異常がなければ、前者のテストモード検出値Ｖ_{ＴＥＳＴＡ}はｐＦＯＤ正常範囲内に収まるはずであり、後者のテストモード検出値Ｖ_{ＴＥＳＴＢ}はｐＦＯＤ正常範囲を逸脱するはずである。

通常モードでは、電子機器２が給電台１２に載置されているときｐＦＯＤ処理と電力伝送が交互に繰り返し実行されるが（図１７参照）、この際、１回の電力伝送は数分から数時間程度に亘って実行されるのに対し１回のｐＦＯＤ処理は１００ミリ秒程度で終了する。

各回のｐＦＯＤ処理にて異物の存否が判断される訳であるが、様々な状況下で異物の存否判断が所望通りに行われているのか等を評価したい場合もある。例えば、給電機器１又は電子機器２の出荷検査では、異物有判定が成されるべき様々な状況下（図１４（ｂ）の状況下や図１５の状況下）で実際に異物有判定が成されるのか否かの評価及びその際に必要なマージンが確保されているか否かの評価を短時間且つ詳細に行いたいという要望があり、同様に、異物無判定が成されるべき様々な状況下で実際に異物無判定が成されるのか否かの評価及びその際に必要なマージンが確保されているか否かの評価を短時間且つ詳細に行いたいという要望がある。給電機器１又は電子機器２がＮＦＣ電力伝送の設計値に適合しているか否かを精査するための設計評価試験や出荷検査においても同様の要望が発生する。

これらの評価は、１回当たり１００ミリ秒程度しかない、通常モードのｐＦＯＤ処理で完結させ難い。これを考慮し、上述のようなテストモードでの動作を可能にしておく。テストモードでは、通常モードでｐＦＯＤ処理が行われるときと同様の状況が継続的に実現され、通常モードのｐＦＯＤ処理にて得られる電流振幅検出値Ｖ_ｐＦＯＤ（図１２参照）に相当するテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴを、様々な取得条件で効率良く取得することができる。即ち例えば、テストモードにて上述のテストモード検出値Ｖ_{ＴＥＳＴＡ}及びＶ_{ＴＥＳＴＢ}を順次取得することができ、テストモード検出値Ｖ_{ＴＥＳＴＡ}及びＶ_{ＴＥＳＴＢ}がｐＦＯＤ正常範囲内に収まるのか否かをテスト用処理を通じて確認すれば良い。

更に例えば、給電台１２上の所定位置に電子機器２を置き且つ給電台１２から離れた所定位置に異物３を置いた第１の状態で第１のテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴを取得し、給電台１２上の第１及び第２の所定位置に電子機器２及び異物３を置いた第２の状態で第２のテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴを取得するといったことも可能となる。そして例えば、第１の状態では異物無判定が成されるべきであるならば、第１のテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴがｐＦＯＤ正常範囲内に収まるのかをテスト用処理を通じて確認すれば良く、第２の状態では異物有判定が成されるべきであるならば、第２のテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴがｐＦＯＤ正常範囲を逸脱するのかをテスト用処理を通じて確認すれば良い。

このように、テストモードを設けておくことで、電力伝送前の異物検出処理に関わる動作確認（電力伝送前の異物検出処理が適正に行われているか否かの評価）を効率的に且つ詳細に行うことが可能となる。

尚、演算処理部４１がコンピュータ装置４に設けられていることを想定したが、テストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴに基づき所定のテスト用処理を実行する演算処理部４１を制御回路１６０内に設けるようにしても良い。また、表示部４２がコンピュータ装置４に設けられている場合、表示部４２は通信処理部４４を介して給電機器１に接続されていると言えるが、表示部４２をコンピュータ装置４ではなく給電機器１に設けるようにしても良い。同様に、記録部４３がコンピュータ装置４に設けられている場合、記録部４３は通信処理部４４を介して給電機器１に接続されていると言えるが、記録部４３をコンピュータ装置４ではなく給電機器１に設けるようにしても良い。

＜＜第３実施形態＞＞
本発明の第３実施形態を説明する。第３実施形態は第１及び第２実施形態を基礎とする実施形態であり、第３実施形態において特に述べない事項に関しては、矛盾の無い限り、第１及び第２実施形態の記載が第３実施形態にも適用される。第３実施形態において、第３実施形態と第１又は第２実施形態との間で矛盾する事項に関しては第３実施形態の記載が優先される。

図２６を参照し、第３実施形態では、給電機器１における制御回路１６０のテストモードとしてモードＭＡ１〜ＭＡ４が設けられており、電子機器２における制御回路２５０のテストモードとしてモードＭＢ１及びＭＢ２が設けられている。

例えば、給電機器１の制御回路１６０は、給電機器１の起動時において又は給電機器１の起動後の任意のタイミングにおいて、予め定められた第１〜第４テストモード設定指示の入力を受けたとき、自身の動作モードを夫々モードＭＡ１〜ＭＡ４に設定し、それ以外では自身の動作モードを通常モードに設定する。同様に例えば、電子機器２の制御回路２５０は、電子機器２の起動時において又は電子機器２の起動後の任意のタイミングにおいて、予め定められた第１、第２テストモード設定指示の入力を受けたとき、自身の動作モードを夫々モードＭＢ１、ＭＢ２に設定し、それ以外では自身の動作モードを通常モードに設定する。各テストモード設定指示の入力は、入力受付部１７０、２７０（図２２参照）にて受け付けられると良い。

電子機器２において、モードＭＢ１は第２実施形態で述べたテストモードそのものであり、モードＭＢ１において（即ち、制御回路２５０の動作モードがモードＭＢ１に設定されているときにおいて）、制御回路２５０は、共振状態変更回路２４０を用いてｆ_Ｏ変更／短絡動作を継続的に実行する。即ち、共振回路ＲＲの共振周波数ｆ_Ｏが周波数ｆ_Ｍに変更されている状態又は受電側コイルＲ_Ｌが短絡されている状態を維持する。この維持は、制御回路２５０の動作モードがモードＭＢ１になっている限り保たれる。また、通常モードにおいてｐＦＯＤ処理のためにｆ_Ｏ変更／短絡動作が行われる時間ｔ_Ｍ（図１９のステップＳ２０７参照）は、数１０ミリ秒〜数１００ミリ秒程度である。故に、モードＭＢ１では、共振回路ＲＲの共振周波数ｆ_Ｏが周波数ｆ_Ｍに変更されている状態又は受電側コイルＲ_Ｌが短絡されている状態が所定時間ｔ_Ｍよりも長く維持されると言える。尚、モードＭＢ１において、共振回路ＲＲは切り替え回路２１０を介し通信回路２２０又は受電回路２３０に接続されて良い。

モードＭＢ２において（即ち、制御回路２５０の動作モードがモードＭＢ２に設定されているときにおいて）、制御回路２５０は、ｆ_Ｏ変更／短絡動作を継続的に非実行とし、従って共振回路ＲＲの共振周波数ｆ_Ｏは基準周波数に維持される。この維持は、制御回路２５０の動作モードがモードＭＢ２になっている限り保たれる。また、モードＭＢ２において、共振回路ＲＲは切り替え回路２１０を介し受電回路２３０に接続される。つまり、モードＭＢ２において、電子機器２は受電動作が行われるときと同じ状態となる。

モードＭＡ１及びＭＡ２において（即ち、制御回路１６０の動作モードがモードＭＡ１又はＭＡ２に設定されているときにおいて）、制御回路１６０は、切り替え回路１１０及び送電回路１３０への制御を通じて、共振回路ＴＴが切り替え回路１１０を介して送電回路１３０に接続される状態、及び、所定のテスト用交流電圧が送電回路１３０から共振回路ＴＴに供給及び印加されることでテスト磁界が送電側コイルＴ_Ｌにて発生している状態を維持する。この維持は、制御回路１６０の動作モードがモードＭＡ１又はＭＡ２になっている限り保たれる。即ち、モードＭＡ１及びＭＡ２において、制御回路１６０は、切り替え回路１１０及び送電回路１３０への制御を通じて、テスト磁界を送電側コイルＴ_Ｌにて継続発生させる。

モードＭＡ３及びＭＡ４おいて（即ち、制御回路１６０の動作モードがモードＭＡ３又はＭＡ４に設定されているときにおいて）、制御回路１６０は、切り替え回路１１０及び送電回路１３０への制御を通じて、共振回路ＴＴが切り替え回路１１０を介して送電回路１３０に接続される状態、及び、所定の送電用交流電圧が送電回路１３０から共振回路ＴＴに供給及び印加されることで送電用磁界が送電側コイルＴ_Ｌにて発生している状態を維持する。この維持は、制御回路１６０の動作モードがモードＭＡ３又はＭＡ４になっている限り保たれる。即ち、モードＭＡ３及びＭＡ４において、制御回路１６０は、切り替え回路１１０及び送電回路１３０への制御を通じて、送電用磁界を送電側コイルＴ_Ｌにて継続発生させる。

モードＭＡ１〜ＭＡ４の何れにおいても送電側コイルＴ_Ｌに流れる電流の振幅は継続的に検出されており、その検出結果が電圧値Ｖ_Ｄ（図７参照）として得られる。モードＭＡ１〜ＭＡ４において得られる電圧値Ｖ_Ｄ（即ち検出回路１４０による送電側コイルＴ_Ｌの電流振幅検出値）を特にテストモード検出値と呼ぶ。この内、モードＭＡ１又はＭＡ２において送電側コイルＴ_Ｌがテスト磁界を発生しているときに得られる電圧値Ｖ_Ｄを、記号Ｖ_ＴＥＳＴにて表し、モードＭＡ３又はＭＡ４において送電側コイルＴ_Ｌが送電用磁界を発生しているときに得られる電圧値Ｖ_Ｄを、記号Ｖ_{ＴＥＳＴ２}にて表す。モードＭＡ１又はＭＡ２においてはテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴが、モードＭＡ３又はＭＡ４においてはテストモード検出値Ｖ_{ＴＥＳＴ２}が周期的に取得される（例えば１ミリ秒間隔で取得される）。順次取得されるテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴ又はＶ_{ＴＥＳＴ２}は、図２４の通信処理部４４を介して演算処理部４１に伝達されて良い。

ここにおけるテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴ及びＶ_{ＴＥＳＴ２}の内、テストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴは、第２実施形態で述べたテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴと同様のものである。故に、制御回路１６０の動作モードがモードＭＡ１又はＭＡ２に設定されているとき、非接触給電システムは、第２実施形態で述べたテストモードにおける各種動作（図２５の動作やテスト用処理を含む）を実現して良い。制御回路１６０の動作モードがモードＭＡ３又はＭＡ４に設定されているときにも、図２５の動作及びテスト用処理を適用及び実行可能である。但し、制御回路１６０の動作モードがモードＭＡ３又はＭＡ４に設定されている状態に対して図２５の動作及びテスト用処理を適用する場合、第２実施形態の記述における“テスト強度”、“Ｖ_ＴＥＳＴ”、“ｐＦＯＤ正常範囲”、“テストモードの電子機器２”は、夫々、“送電用磁界”、“Ｖ_{ＴＥＳＴ２}”、“ｍＦＯＤ正常範囲”、“モードＭＢ２の電子機器２”に読み替えられる。

モードＭＡ１又はＭＡ２を用いたテスト形態としての第１〜第４のテスト形態を説明する。

第１のテスト形態として、制御回路１６０の動作モードをモードＭＡ１に設定し且つ上述の初期設定環境を整える（即ち給電台１２上に電子機器２も異物も置かない）。この状態で得たテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴに基づき上述の値Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}を設定することができる（図１３参照）。

第２のテスト形態として、制御回路１６０の動作モードをモードＭＡ１に設定し且つモードＭＢ１における電子機器２を給電台１２上に置く。演算処理部４１は、この状態で得たテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴに基づきｆ_Ｏ変更／短絡動作が正しく実行されているか否かを評価することができる。例えば、第１のテスト形態で得た検出値Ｖ_ＴＥＳＴと第２のテスト形態で得た検出値Ｖ_ＴＥＳＴとの差が所定値以下である場合、ｆ_Ｏ変更／短絡動作が正しく実行されていると判断し、そうでない場合、ｆ_Ｏ変更／短絡動作が正しく実行されていないと判断する。理想的には、第１のテスト形態で得た検出値Ｖ_ＴＥＳＴと第２のテスト形態で得た検出値Ｖ_ＴＥＳＴとが等しくなる。

第３のテスト形態として、制御回路１６０の動作モードをモードＭＡ２に設定し且つ上述の初期設定環境を整える（即ち給電台１２上に電子機器２も異物も置かない）。この状態で得たテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴに基づき上述の値Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}を設定することができる（図１３参照）。第３のテスト形態は上述の第１のテスト形態と等価である。

第４のテスト形態として、制御回路１６０の動作モードをモードＭＡ２に設定し且つモードＭＢ１における電子機器２及び異物３を給電台１２上に置く。この状態で得たテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴに基づき、演算処理部４１にて、異物３の存在に対し正しく異物有判定が成されるか（通常モードでのｐＦＯＤ処理にて異物３の存在に対し正しく異物有判定が成されるか）が確認されると共にマージンの確認が成される。ここにおけるマージンは、第４のテスト形態にて得られた検出値Ｖ_ＴＥＳＴ（但し、異物として異物３を給電台１２上に置いたときの検出値）を用いて、差（Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}−Ｖ_ＴＥＳＴ）にて表され、当該差が所定値以上であれば当該マージンが十分に確保されていると判断される。
或いは、第４のテスト形態として、制御回路１６０の動作モードをモードＭＡ２に設定し且つモードＭＢ１における電子機器２及び異物３ａ（アルミニウム板等）を給電台１２上に置く。この状態で得たテストモード検出値Ｖ_ＴＥＳＴに基づき、演算処理部４１にて、異物３ａの存在に対し正しく異物有判定が成されるか（通常モードでのｐＦＯＤ処理にて異物３ａの存在に対し正しく異物有判定が成されるか）が確認されると共にマージンの確認が成される。ここにおけるマージンは、第４のテスト形態にて得られた検出値Ｖ_ＴＥＳＴ（但し、異物として異物３ａを給電台１２上に置いたときの検出値）を用いて、差（Ｖ_ＴＥＳＴ−Ｖ_{ｐＲＥＦＨ}）にて表され、当該差が所定値以上であれば当該マージンが十分に確保されていると判断される。

モードＭＡ１及びＭＡ２を利用することで、電力伝送前の異物検出処理に関わる動作確認（電力伝送前の異物検出処理が適正に行われているか否かの評価）等を効率的に且つ詳細に行うことが可能となる。

モードＭＡ３又はＭＡ４を用いたテスト形態としての第５〜第７のテスト形態を説明する。

第５のテスト形態として、制御回路１６０の動作モードをモードＭＡ３に設定し且つモードＭＢ２における電子機器２を給電台１２上で又は給電台１２近傍で様々に移動させる。より具体的には、モードＭＢ２の電子機器２を給電台１２上の所定の送電領域内の中心に載置した状態を基準として、給電台１２及び電子機器２間の相対位置関係を互いに直交する３方向の夫々において変化させ、夫々の相対位置関係における電子機器２の受電電力を測定する。この測定結果を参照すれば、夫々の相対位置関係において正常な受電電力が得られているのかを確認できる。受電動作にて受電回路２３０にて受電される電力を実際に検出することで電子機器２の受電電力の測定を実現しても良いし、各相対位置関係での検出値Ｖ_{ＴＥＳＴ２}に基づき各相対位置関係での電子機器２の受電電力を推定することで当該測定を実現するようにしても良い。

第６のテスト形態として、制御回路１６０の動作モードをモードＭＡ４に設定し且つモードＭＢ２における電子機器２を給電台１２上に置く。この状態で得たテストモード検出値Ｖ_{ＴＥＳＴ２}に基づき上述の値Ｖ_{ｍＲＥＦＬ}及びＶ_{ｍＲＥＦＨ}を設定することができる。

第７のテスト形態として、制御回路１６０の動作モードをモードＭＡ４に設定し且つモードＭＢ２における電子機器２及び異物３を給電台１２上に置く。この状態で得たテストモード検出値Ｖ_{ＴＥＳＴ２}に基づき、演算処理部４１にて、異物３の存在に対し正しく異物有判定が成されるか（通常モードでのｍＦＯＤ処理にて異物３の存在に対し正しく異物有判定が成されるか）が確認されると共にマージンの確認が成される。ここにおけるマージンは、第７のテスト形態にて得られた検出値Ｖ_{ＴＥＳＴ２}（但し、異物として異物３を給電台１２上に置いたときの検出値）を用いて、差（Ｖ_{ＴＥＳＴ２}−Ｖ_{ｍＲＥＦＨ}）にて表され、当該差が所定値以上であれば当該マージンが十分に確保されていると判断される。
或いは、第７のテスト形態として、制御回路１６０の動作モードをモードＭＡ４に設定し且つモードＭＢ２における電子機器２及び異物３ｂ（鉄板等）を給電台１２上に置く。この状態で得たテストモード検出値Ｖ_{ＴＥＳＴ２}に基づき、演算処理部４１にて、異物３ｂの存在に対し正しく異物有判定が成されるか（通常モードでのｍＦＯＤ処理にて異物３ｂの存在に対し正しく異物有判定が成されるか）が確認されると共にマージンの確認が成される。ここにおけるマージンは、第７のテスト形態にて得られた検出値Ｖ_{ＴＥＳＴ２}（但し、異物として異物３ｂを給電台１２上に置いたときの検出値）を用いて、差（Ｖ_{ｐＲＥＦＬ}−Ｖ_{ＴＥＳＴ２}）にて表され、当該差が所定値以上であれば当該マージンが十分に確保されていると判断される。

モードＭＡ３及びＭＡ４を利用することで、電力伝送における電力量の確認及び電力伝送中の異物検出処理に関わる動作確認（電力伝送中の異物検出処理が適正に行われているか否かの評価）等を効率的に且つ詳細に行うことが可能となる。

＜＜本発明の第１考察＞＞
上述の各実施形態にて具体化された本発明について考察する。

本発明の一側面に係る非接触給電システムＷ_１は、送電装置及び受電装置を備え、磁界共鳴方式で電力の送受電が可能な非接触給電システムにおいて、前記送電装置は、前記電力を送電するための送電側コイル（Ｔ_Ｌ）を含む送電側共振回路（ＴＴ）と、前記送電側共振回路に交流電圧を供給することで前記送電側コイルに磁界を発生させる送電回路（１３０）と、前記送電側コイルに流れる電流の振幅を検出する検出回路（１４０）と、第１モード（通常モード）及び第２モード（テストモード）を含む複数のモードの何れかを動作モードにして動作する送電側制御回路（１６０）と、を備え、前記受電装置は、前記電力を受電するための受電側コイル（Ｒ_Ｌ）を含む受電側共振回路（ＲＲ）と、前記受電側共振回路の共振周波数を前記受電の際の共振周波数から変更可能な又は前記受電側コイルを短絡可能な変更／短絡回路（２４０）と、前記第１モード及び前記第２モードを含む複数のモードの何れかを動作モードにして動作する受電側制御回路（２５０）と、を備える。
そして、前記第１モードにおいて、前記受電側制御回路は、前記送電装置からの通信による信号に従い、前記変更／短絡回路を用いて所定時間だけ前記受電側共振回路の共振周波数の変更又は前記受電側コイルの短絡を行った後、該変更又は該短絡を解消させ、前記送電側制御回路は、前記受電側共振回路の共振周波数の変更又は前記受電側コイルの短絡が行われている期間において前記送電に先立ち所定のテスト磁界が前記送電側コイルで発生されるよう前記送電回路を制御し、前記第１モードにて前記テスト磁界が発生されているときの前記検出回路の振幅検出値を示す第１評価データ（Ｖ_ｐＦＯＤ）に基づき前記送電の実行可否を判断して、前記送電を実行可能と判断した後に前記テスト磁界よりも大きな送電用磁界が前記送電側コイルで発生されるよう前記送電回路を制御して前記送電を実現する。
一方、前記第２モードにおいて、前記受電側制御回路は、前記変更／短絡回路を用いて、前記受電側共振回路の共振周波数の変更又は前記受電側コイルの短絡を維持し、前記送電側制御回路は、前記送電回路を制御して前記テスト磁界を前記送電側コイルにて継続発生させ、前記第２モードにて前記テスト磁界が発生されているときの前記検出回路の振幅検出値を示す第２評価データ（Ｖ_ＴＥＳＴ）を取得することを特徴とする。

送電側コイルの発生磁界に応答する場所に異物が存在しているとき、送電側コイルの電流振幅に変化が現れるという特性がある。この特性を利用すれば、電流振幅変化に基づき異物の存否を検出し、異物の存在が検出された場合には送電の実行を禁止するといった制御が可能となる。但し、異物の存否の検出の際に受電側コイルに共振電流が流れると、それによっても送電側コイルの電流振幅に変化が現われて、異物の存否による電流振幅の変化有無が観測し難くなる。故に、第１モードでは、受電側共振回路の共振周波数の変更又は受電側コイルの短絡が行われているときに送電側コイルの電流振幅に関する第１評価データを取得し、第１評価データに基づいて送電の実行可否を判断及び制御する。

他方、送電装置、受電装置、非接触給電システムの出荷検査等において、様々な種類の異物を用意して送電の実行可否判断が妥当であるかを評価したいこともある。第２モードでの動作を可能にしておくことで、この評価を様々な条件で効率的に行うことが可能となる。第１モードでは“第１評価データ取得→送電の実行可否判断→送電の実行有無制御”の流れの中で、限られたタイミングにて振幅検出値（第１評価データ）が得られるだけであるのに対し、第２モードでは、第１評価データに相当する第２評価データを必要なだけ取得することが可能だからである。つまり、第２モードでの動作を可能にしておくことで、第１モードでの送電の実行可否判断に関わる動作確認（例えば当該判断が適正に行われているか否かの評価）を効率的に又は詳細に行うことが可能となる。

具体的には例えば、非接触給電システムＷ_１に関し、前記第１モードにおいて、前記送電側制御回路は、前記第１評価データに基づき、前記受電装置と異なり且つ前記送電側コイルの発生磁界に基づく電流を発生させられる異物の存否を判断し、その判断結果に基づいて前記送電の実行可否を制御すると良い。

より具体的には例えば、非接触給電システムＷ_１に関し、前記第１モードにおいて、前記送電側制御回路は、前記異物が存在しないと判断した場合、前記送電の実行を許可し、前記異物が存在すると判断した場合、前記送電の実行を禁止すると良い。

これにより、異物の破損等を回避することが可能となる。

また例えば、非接触給電システムＷ_１に関し、前記第１モードにおいて、前記送電側制御回路は、前記第１評価データが示す振幅検出値が所定範囲を逸脱しているか否かを判断することで、前記異物の存否を判断すると良い。

また例えば、前記第２評価データに基づく所定処理（テスト用処理）を実行する処理部（４１）を非接触給電システムＷ_１に設けておくと良く、前記処理部は、前記送電側制御回路に設けられる、又は、前記送電装置及び前記受電装置と異なる外部機器（４）に設けられると良い。

このような処理部を設けておくことで、所定処理の実行を通じ、第１モードでの送電の実行可否判断に関わる動作確認（例えば当該判断が適正に行われているか否かの評価）を効率的に又は詳細に行うことが可能となる。

具体的には例えば、非接触給電システムＷ_１に関し、前記所定処理は、前記送電装置に設けられた又は前記送電装置に接続された表示装置に、前記第２評価データを表示させる処理を含んでいると良い。

また例えば、非接触給電システムＷ_１に関し、前記所定処理は、前記送電装置に設けられた又は前記送電装置に接続された記録装置に、前記第２評価データを記録させる処理を含んでいると良い。

また例えば、前記第２評価データに基づく所定処理（テスト用処理）を実行する処理部（４１）が非接触給電システムＷ_１に設けられ、前記処理部が、前記送電側制御回路に設けられる、又は、前記送電装置及び前記受電装置と異なる外部機器（４）に設けられる場合において、前記所定処理は、前記第２評価データが示す振幅検出値が前記所定範囲を逸脱しているか否かの判断を含んでいると良い。

このような処理部を設けておくことで、所定処理の実行を通じ、第１モードでの送電の実行可否判断に関わる動作確認（例えば当該判断が適正に行われているか否かの評価）を効率的に又は詳細に行うことが可能となる。

また例えば、非接触給電システムＷ_１に関し、前記送電側制御回路及び前記受電側制御回路の夫々は、特定指示の入力を受けたときに自身の動作モードを前記第２モードに設定し、それ以外では自身の動作モードを前記第１モードに設定すると良い。

これにより、原則としては第１モードにて動作し、特定指示が入力されたときに限って第２モードでの動作を行うといったことが可能となる。

この際において例えば、非接触給電システムＷ_１に関し、前記送電装置及び前記受電装置の夫々は、前記特定指示の入力を受けるための入力受付部（１７０、２７０）を有していると良い。

また例えば、非接触給電システムＷ_１に関し、前記送電側制御回路における前記複数のモードには、前記送電側コイルにて前記送電用磁界を継続発生させるモード（第３実施形態におけるモードＭＡ３、ＭＡ４）が更に含まれ、且つ、前記受電側制御回路における前記複数のモードには、前記受電側共振回路の共振周波数の変更又は前記受電側コイルの短絡を継続的に非実行とするモード（第３実施形態におけるモードＭＢ２）が更に含まれていても良い。

尚、上述の各実施形態における給電機器１そのものが本発明に係る送電装置として機能しても良いし、上述の各実施形態における給電機器１の一部が本発明に係る送電装置として機能しても良い。同様に、上述の各実施形態における電子機器２そのものが本発明に係る受電装置として機能しても良いし、上述の各実施形態における電子機器２の一部が本発明に係る受電装置として機能しても良い。

＜＜第４実施形態＞＞
本発明の第４実施形態を説明する。第４実施形態は第１〜第３実施形態を基礎とする実施形態であり、第４実施形態において特に述べない事項に関しては、矛盾の無い限り、第１〜第３実施形態の記載が第４実施形態にも適用される。第４実施形態において、第４実施形態と第１、第２又は第３実施形態との間で矛盾する事項に関しては第４実施形態の記載が優先される。第４実施形態でも、ＩＣ１００を有する給電機器１及びＩＣ２００を有する電子機器２から成る非接触給電システムの具体的な構成例及び動作例を説明する。

図２７に、ＩＣ１００の内部ブロック図を含む、給電機器１の一部の構成図を示す。ＩＣ１００には、符号１１０、１２０、１３０及び１６０によって参照される各部位が設けられる。図２８に、ＩＣ２００の内部ブロック図を含む、電子機器２の一部の構成図を示す。ＩＣ２００には、符号２１０、２２０、２３０及び２５０によって参照される各部位が設けられる。また、ＩＣ２００に対し、ＩＣ２００の駆動電圧を出力するコンデンサ２３を接続しておいても良い。コンデンサ２３は、給電機器１から受信したＮＦＣ通信のための信号を整流することで得た直流電圧を出力可能である。

給電機器１に設けられた切り替え回路１１０、ＮＦＣ通信回路１２０、ＮＦＣ送電回路１３０、制御回路１６０及び共振回路ＴＴの構成及び動作並びにそれらの接続関係等は、第１〜第３実施形態で述べたものと同様であって良く、且つ、電子機器２に設けられた切り替え回路２１０、ＮＦＣ通信回路２２０、ＮＦＣ受電回路２３０、制御回路２５０及び共振回路ＲＲの構成及び動作並びにそれらの接続関係等は、第１〜第３実施形態で述べたものと同様であって良い。

また、第４実施形態のＩＣ１００に対し、第１〜第３実施形態と同様、負荷検出回路１４０及びメモリ１５０（図４参照）を更に設けておいても良く、第４実施形態のＩＣ２００に対し、第１〜第３実施形態と同様、共振状態変更回路２４０（図５参照）を更に設けておいても良い。この場合も、給電機器１に設けられた切り替え回路１１０、ＮＦＣ通信回路１２０、ＮＦＣ送電回路１３０、負荷検出回路１４０、メモリ１５０、制御回路１６０及び共振回路ＴＴの構成及び動作並びにそれらの接続関係等は、第１〜第３実施形態で述べたものと同様であって良く、且つ、電子機器２に設けられた切り替え回路２１０、ＮＦＣ通信回路２２０、ＮＦＣ受電回路２３０、共振状態変更回路２４０、制御回路２５０及び共振回路ＲＲの構成及び動作並びにそれらの接続関係等は、第１〜第３実施形態で述べたものと同様であって良い。

共振回路ＴＴが切り替え回路１１０を介してＮＦＣ通信回路１２０に接続され、且つ、共振回路ＲＲが切り替え回路２１０を介してＮＦＣ通信回路２２０に接続されている状態は、上述したように通信用接続状態と称される。共振回路ＴＴが切り替え回路１１０を介してＮＦＣ送電回路１３０に接続され、且つ、共振回路ＲＲが切り替え回路２１０を介してＮＦＣ受電回路２３０に接続されている状態は、上述したように給電用接続状態と称される。

通信用接続状態にてＮＦＣ通信を行う場合も、ＮＦＣ通信回路１２０が所定の交流信号を、より具体的には所定振幅を有し且つ基準周波数の交流電圧を共振回路ＴＴに供給することで、送電側コイルＴ_Ｌにて通信用磁界が発生するが、ＮＦＣ通信における磁界強度（即ち通信用磁界の磁界強度）は、上述したように、所定の範囲内に収まる。その範囲の下限値及び上限値は、ＮＦＣの規格で定められ、夫々、１．５Ａ／ｍ、７．５Ａ／ｍである。これに対し、電力伝送（即ち送電動作）において送電側コイルＴ_Ｌにて発生する磁界の強度（送電用磁界の磁界強度）は、上記の上限値より大きく、例えば４５〜６０Ａ／ｍ程度である。機器１及び２を含む非接触給電システムにおいて、ＮＦＣ通信及び電力伝送（ＮＦＣ電力伝送）を交互に行うことができ、その時の磁界強度の様子は、図６に示したようになる。

図２９を参照して、電力伝送が行われるまでの機器１及び２間の信号のやりとりを説明する。まず、通信用接続状態において給電機器１が送信側且つ電子機器２が受信側となり、給電機器１（ＩＣ１００）が、ＮＦＣ通信によって、問い合わせ信号５１０を電子機器２に送信する。問い合わせ信号５１０は、例えば、電子機器２の固有識別情報を問い合わせる信号、電子機器２がＮＦＣ通信を実行可能な状態にあるかを問い合わせる信号、及び、電子機器２が電力を受け取れるか又は電力の送電を求めているかを問い合わせる信号を含む。

今、電子機器２が問い合わせ信号５１０を受信可能な位置に存在しているものとする。そうすると、問い合わせ信号５１０を受信した電子機器２（ＩＣ２００）は、問い合わせ信号５１０の問い合わせ内容に答える応答信号５２０を、ＮＦＣ通信によって給電機器１に送信する。応答信号５２０を受信した給電機器１（ＩＣ１００）は、応答信号５２０を解析し、電子機器２がＮＦＣ通信を可能であって且つ電力を受け取れる又は電力の送電を求めている場合に、認証信号５５０をＮＦＣ通信により電子機器２に送信する。認証信号５５０は、例えば、これから送電を行うことを電子機器２に通知する信号を含む。認証信号５５０を受信した電子機器２（ＩＣ２００）は、認証信号５５０に対応する応答信号５６０を、ＮＦＣ通信によって給電機器１に送信する。応答信号５６０は、例えば、認証信号５５０が示す内容を認識したことを通知する信号又は認証信号５５０が示す内容に許可を与える信号を含む。応答信号５６０の送信後、制御回路２５０は速やかに共振回路ＲＲを受電回路２３０に接続する。応答信号５６０を受信した給電機器１（ＩＣ１００）は、送電回路１３０を共振回路ＴＴに接続して送電動作を実行し、これにより電力伝送５７０が実現される。

尚、第１実施形態で述べたように、給電機器１（ＩＣ１００）は、応答信号５２０の受信後、給電台１２上に異物が存在するか否かを検出する異物検出処理を実行し、異物が存在しないと判断された場合に限って、認証信号５５０及び応答信号５６０の送受信を介して電力伝送５７０を行うようにしても良い。異物検出処理としては、第１実施形態で説明したｐＦＯＤ処理を利用できる。異物とは、例えば、ＮＦＣ通信に応答しない１３．５６ＭＨｚのアンテナコイルを持つ無線ＩＣタグを有した物体（非接触ＩＣカード等）である。

ＮＦＣ通信を行うためには且つ所望の伝送効率にて電力伝送を行うためには、給電機器１及び電子機器２間の位置関係を所望の位置関係にする必要があるが、そのような位置関係を具体的に説明すべく、図３０に示す、互いに直交するＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸を定義する。Ｘ軸及びＹ軸に平行な面、Ｙ軸及びＺ軸に平行な面、Ｚ軸及びＸ軸に平行な面を、夫々、ＸＹ面、ＹＺ面、ＺＸ面と称することもある。Ｘ軸及びＹ軸は給電台１２の一面である載置面１２ａに平行であり、従ってＺ軸は載置面１２ａに直交している。給電台１２の載置面１２ａは、電力伝送が行われるときに電子機器２が載置されるべき面であり、従って載置面１２ａ上に電子機器２が載置されうる。

図３１（ａ）、（ｂ）は、基準配置状態での給電機器１及び電子機器２における送電側コイルＴ_Ｌ及び受電側コイルＲ_Ｌの概略的な斜視図、断面図である。図３１（ａ）では、図示の簡略化及び煩雑化防止のため、コイルＴ_Ｌ及びＲ_Ｌの巻線を二重円にて表現している（後述の図３４（ｂ）等においても同様）。コイルの図示を含む図面において、コイルを表す二重円から側方に伸びる線分はコイルの引き出し線を表している。図３１（ｂ）の断面図における断面はＹＺ面に平行である。コイルＴ_Ｌ及びＲ_Ｌの夫々はループアンテナを形成している。基準配置状態において、コイルＴ_Ｌ及びＲ_Ｌとしてのループアンテナのループ面（即ち、コイルＴ_Ｌ及びＲ_Ｌの巻線が配置されている面）はＸＹ面に平行であり、従ってコイルＴ_Ｌ及びＲ_Ｌの中心軸はＺ軸に平行であり、更にコイルＴ_Ｌ及びＲ_Ｌの中心軸は互いに重なり合うものとする。コイルＴ_Ｌは、自身の中心軸周りに巻線（銅線など）が巻かれることで形成される（コイルＲ_Ｌについても同様）。

コイルＴ_Ｌ及びＲ_Ｌ間の結合係数を高めるべく、ＸＹ面上においてコイルＴ_Ｌ及びＲ_Ｌは互いに同じ形状を有している（但し、それらは互いに異なる形状を有し得る）。本明細書において、コイルの形状とは、コイルの大きさを含む概念である。任意のコイルに関し、コイルの大きさとは、コイルの中心軸に直交する方向においてコイルの外周が占有する面積を表すと考えて良い。コイルがループアンテナを形成している場合には、そのループアンテナのループ面（即ち、当該コイルの巻線が配置されている面）における、当該コイルの巻線に囲まれた部分の面積が当該コイルの大きさに相当する。

尚、図３１（ａ）等ではコイルＴ_Ｌ及びＲ_Ｌの外周形状（換言すれば外形形状）が円とされているが、コイルＴ_Ｌ及びＲ_Ｌの夫々において、コイルの外周形状は円に限定されず、楕円又は多角形（長方形など）であっても良いし、直線と曲線がコイルの外周形状に混在していても良い。

上述の基準配置状態において、コイルＴ_Ｌ及びＲ_Ｌ間の結合係数が最大化され、結果、電力伝送の伝送効率も最大化される。効率の良い電力伝送が実現されるよう、非接触給電システムのユーザは、基準配置状態を目指して電子機器２を給電台１２の載置面１２ａに置けばよいことになるが、通常、ユーザは、載置面１２ａのどのあたり位置に電子機器２を置けば基準配置状態が実現されるのかを理解できない。コイルＴ_Ｌ及びＲ_Ｌは各々給電機器１及び電子機器２の筐体内に収まっているため、ユーザは、給電機器１及び電子機器２内におけるコイルＴ_Ｌ及びＲ_Ｌの配置位置を認識できないからであり、また、その認識が可能であったとしても多くのユーザは磁気結合の原理を理解して図３１（ｂ）のような状態を目指す必要があるとは考えないからである。

図３２を参照し、ＮＦＣ通信を行う機器用の規格の一種では、電子機器２が載置面１２ａ上に置かれているとき基準配置状態から見て電子機器２が半径１０ｍｍの領域内に位置しているときにＮＦＣ通信が可能であるべきと規定され、且つ、基準配置状態を起点として電子機器２を載置面１２ａから５ｍｍだけ離した場合には、その離した状態から見て電子機器２がＸＹ面における半径２０ｍｍの領域内に位置しているときにＮＦＣ通信が可能であるべきと規定される。そうすると、ＮＦＣ通信が可能であるときに電力伝送が行われるのであるから（図２９参照）、電力伝送を行わせるためには、ユーザは、電子機器２の載置位置と所定位置との誤差が１０ｍｍ以内に収まるように、電子機器２を載置面１２ａに置くことが要求される。この要求は、ユーザにとって厳しいことも多い。ＮＦＣ通信範囲の実力値は規格による範囲よりも大きいことも多く、電子機器２が規格による範囲外にあってもＮＦＣ通信は可能となりうるが、高い伝送効率での電力伝送を実現するためには機器１及び２の位置関係を基準配置状態に近づけることが肝要であり、載置面１２ａのどのあたりを狙って電子機器２を置けば良いかを支援するような仕組みの導入が切望される。尚、電子機器２の載置位置を所望位置に導くべく、給電台１２に窪みを設けておく方法や電子機器２の外形枠ガイドを給電台１２に記しておく方法も考えられるが、それらの方法は、電子機器２が一定の外形形状を持っていることが前提となるため、様々な外形形状の電子機器２が非接触給電システムの構成要素になりうることを考慮すれば汎用性に欠ける。

そこで、本実施形態に係る非接触給電システムでは、まず図３３に示す如く、給電機器１の載置面１２ａ上に所定の誘導マークＭＫを付与しておく。誘導マークＭＫは、誘導マークＭＫが印刷された樹脂シールを載置面１２ａに張り付けることで付与されても良いし、誘導マークＭＫを載置面１２ａに直接印刷することで付与されても良い。或いは、誘導マークＭＫの刻印を載置面１２ａに設けることで誘導マークＭＫが載置面１２ａに付与されても良い。後述のカメラ部による撮影画像上において誘導マークＭＫが識別可能となる限り、誘導マークＭＫはどのようなマークであっても良く、互いに分離した複数のマークによって誘導マークＭＫが形成されていても良い。ここでは、誘導マークＭＫは、Ｘ軸方向に沿って並ぶ文字マーク“Ｎ”及び“Ｗ”と、文字マーク“Ｎ”及び“Ｗ”を囲む長方形マークとで構成されているものとする。

送電側コイルＴ_Ｌの配置位置との関係において誘導マークＭＫの付与位置が決定されている。つまり、送電側コイルＴ_Ｌの配置位置に基づいて決定された、載置面１２ａ上の所定位置に誘導マークＭＫが付与されているものとする。基準配置状態の実現に寄与すべく、送電側コイルＴ_Ｌの位置を電子機器２の知らしめる機能を誘導マークＭＫに持たせるためである。

図３４（ａ）及び（ｂ）に、誘導マークＭＫの中心位置６２０、及び、送電側コイルＴ_Ｌの中心の載置面１２ａへの投影位置６３０を示す。給電機器１の筐体としての機能する給電台１２の内部に送電側コイルＴ_Ｌが配置及び固定されるが、送電側コイルＴ_Ｌの中心をＺ軸に沿って載置面１２ａへ投影した点の位置が投影位置６３０に相当する。誘導マークＭＫの位置から電子機器２が送電側コイルＴ_Ｌの位置（投影位置６３０）を認識できるように、実空間上における中心位置６２０及び投影位置６３０間の位置関係を特定する情報を電子機器２に与えておくと良い。位置６２０及び６３０は互いに異なっていても良いし、互いに一致していても良い。

図３５（ａ）は、本実施形態で想定される電子機器２の外観斜視図であり、図３５（ｂ）は、電子機器２の側面図である。図３５（ｂ）では、電子機器２の構成部品の内、電子機器２の筐体上又は筐体内に設置される、受電側コイルＲ_Ｌ、カメラ部２５及び表示画面２６のみを破線にて示している。図３５（ｃ）は、電子機器２の一部機能ブロック図である。電子機器２は、カメラ部２５、表示画面２６、スピーカ部２７及び制御部２８を備える。カメラ部２５、表示画面２６、スピーカ部２７及び制御部２８は、機能回路２２（図２参照）の構成要素であると考えても良い。

電子機器２の筐体は概略直方体形状を有しており、従って電子機器２の筐体は第１面と第１面に対向する第２面を有している。表示画面２６は第１面に設けられ、第１面に正対するユーザは表示画面２６を視認できる。カメラ部２５は、第２面を起点として第１面から第２面に向かう向きに広がる撮影領域（視野）ＳＲを有している。カメラ部２５の光軸は第２面に直交する。第１及び第２面の内、第２面が載置面１２ａに向けられる。即ち、ＮＦＣ通信及び電力伝送を行わせるべく、電子機器２を載置面１２ａに載置したとき、第２面が載置面１２ａと接することになる。

カメラ部２５は、撮影を行うことで撮影画像を表す画像信号（画像データ）を生成及び取得する。より具体的には、カメラ部２５は、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）又はＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）イメージセンサからなる撮像素子と、光学系とを含んで構成され、撮影領域ＳＲからの入射光によって表される光学像を光電変換することで、撮影領域ＳＲ内の被写体の光学像を撮影画像として得る。ここでは、撮影領域ＳＲ内の被写体に、載置面１２ａ及び誘導マークＭＫが含まれているものとする。カメラ部２５の撮影画像は、水平及び垂直方向の夫々に複数の画素が配列された二次元画像である。受電側コイルＲ_Ｌ及びカメラ部２５は受電機器２の筐体の第１及び第２所定位置に固定設置され、受電側コイルＲ_Ｌとカメラ部２５の位置関係（より詳細には受電側コイルＲ_Ｌの中心とカメラ部２５の光学中心又は撮像素子の中心との位置関係）は、予め定まっている。

表示画面２６は、液晶ディスプレイパネル等から成り、制御部２８の制御の下、カメラ部２５の撮影画像を含む任意の画像を表示する。スピーカ部２７は、制御部２８の制御の下、任意の音響信号を音として出力する。制御部２８は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）及びＲＡＭ（Random Access Memory）などから成り、各種の演算処理を実行すると共に、電子機器２内の各部位の動作を統括的に制御する。制御部２８は制御回路２５０（図２８参照）に含まれると解するようにしても良い。

［報知処理を含む誘導処理］
離間状態を起点として電子機器２を載置面１２ａに近づけてゆく際、制御部２８は、予め自身のＲＯＭに記憶されている誘導プログラムを起動させ、該誘導プログラムに従う誘導処理を行うことできる。

誘導プログラムの起動は、電子機器２のユーザの指示に従って行われても良い。即ち例えば、電子機器２のユーザが電子機器２の操作部に対して所定操作を入力したとき、その入力に応答して誘導プログラムが起動しても良い。操作部は、電子機器２に設けられた図示されないボタン等にて形成されていても良いし、タッチパネルとして形成された表示画面２６が操作部として機能しても良い。給電機器１は電力伝送を行っていないとき、図２９の問い合わせ信号５１０を周期的に送信しており、離間状態を起点として電子機器２を載置面１２ａに或る程度近づけると、問い合わせ信号５１０が電子機器２にて受信される。制御部２８は、問い合わせ信号５１０の受信を契機として、ユーザの指示に依らず、誘導プログラムを起動させるようにしても良い。光学的又は電子的に撮影画角が所定の画角範囲内で可変となるようにカメラ部２５が形成されている場合、誘導処理の実行の際には、誘導マークＭＫが撮影領域ＳＲ内に収まりつづけやすくなるように、撮影画角を上記画角範囲の最大画角に固定すると良い。

図３６は、誘導処理のフローチャートである。誘導処理では、ステップＳ２３１〜Ｓ２３３の処理が繰り返し実行される。ステップＳ２３１において、カメラ部２５は、誘導マークＭＫの撮影画像を取得する。ステップＳ２３１で取得された撮影画像を含む以下の説明における各撮影画像は、特に記述無き限り、電子機器２が載置面１２ａに載置される前に取得された撮影画像であって且つ誘導マークＭＫが撮影領域ＳＲ内に収められた状態での撮影画像（即ち誘導マークＭＫの画像信号を含んだ画像信号による撮影画像）であるものとする。また、電子機器２の筐体における第２面は載置面１２ａに平行であり、従って、カメラ部２５の光軸は載置面１２ａに直交しているものとする。

続くステップＳ２３２において、制御部２８は、ステップＳ２３１にて得られた撮影画像の画像信号に基づき、当該撮影画像上における誘導マークＭＫを検出する。この検出には、当該撮影画像上における誘導マークＭＫの位置［ｐ，ｑ］及び大きさＳＩＺＥの検出が含まれる。位置［ｐ，ｑ］は、撮影画像上における誘導マークＭＫの中心位置（中心座標）を表す。撮影画像上の誘導マークＭＫの大きさＳＩＺＥとは、撮影画像において誘導マークＭＫの画像信号が存在する領域の大きさであって、当該領域に属する画素数にて表現される。制御部２８は、誘導マークＭＫの画像であるテンプレート画像を予め保持しており、テンプレート画像を用いたテンプレートマッチングにより、ステップＳ２３２の検出を実現できる。

続くステップＳ２３３において、制御部２８は、ステップＳ２３２での検出結果に応じた報知をユーザに行うための報知処理を実行する。報知処理では、機器１及び２間の位置関係の調整に関する指標が報知されるが、詳細については後述する。ステップＳ２３３の後、ステップＳ２３１に戻り、最新の撮影画像に基づくステップＳ２３１〜Ｓ２３３の処理が繰り返される。尚、カメラ部２５は、所定のフレーム周期で撮影画像を順次取得する。

図３７（ａ）、（ｂ）に、電子機器２及び載置面１２ａ間の距離ｄ（より詳細には、電子機器２の筐体における第２面と載置面１２ａとの間の距離）が比較的大きいとき、比較的小さいときに得られた撮影画像の例を示す。尚、撮影画像を示す図面上では、撮影画像の縦横比が約５：３であると仮定し、誘導マークＭＫを除く載置面１２ａの画像領域をドット領域で表している。比較的大きな距離ｄに対応する図３７（ａ）の撮影画像には、載置面１２ａの外形の像が含まれているが、比較的小さな距離ｄに対応する図３７（ｂ）の撮影画像には、載置面１２ａの外形の像が含まれていない。撮影画像は、画像空間上の水平方向に平行なＰ軸及び垂直方向に平行なＱ軸の夫々に沿って複数の画素が配列されることで形成され、位置［ｐ，ｑ］におけるｐ、ｑは、夫々、Ｐ軸方向、Ｑ軸方向の座標値を表している。

実空間上における誘導マークＭＫの大きさ及びカメラ部２５の撮影パラメータ（カメラ部２５の撮影画角及び焦点距離、撮像素子のサイズ及び有効画素数など）に基づけば、撮影画像上の誘導マークＭＫの大きさＳＩＺＥから電子機器２及び載置面１２ａ間の距離ｄ（より詳細には、電子機器２の筐体における第２面と載置面１２ａとの間の距離）が求まる。

制御部２８は、撮影画像上の誘導マークＭＫの大きさＳＩＺＥと電子機器２及び載置面１２ａ間の距離ｄとの関係を規定する、所定の演算式又は予め用意されたテーブルデータに基づき、大きさＳＩＺＥを距離ｄに変換することで距離ｄを判定し、判定距離ｄに基づき、撮影画像上における誘導マークＭＫの理想的な中心位置である理想中心位置［ｐ_Ｏ，ｑ_Ｏ］を特定する。例えば、図３８に示すようなテーブルデータを制御部２８のＲＯＭに予め保持させておけば良い。図３８のテーブルデータでは、“１≦ｉ≦ｎ”を満たす各整数ｉについて、撮影画像上の誘導マークＭＫの大きさＳＩＺＥ_ｉと、電子機器２及び載置面１２ａ間の距離ｄ_ｉと、撮影画像上における誘導マークＭＫの理想中心位置［ｐ_Ｏｉ，ｑ_Ｏｉ］とが互いに対応付けられている（ｎは２以上の整数）。図３８のテーブルデータを用いれば、撮影画像上の誘導マークＭＫの大きさＳＩＺＥ_ｉから距離ｄ_ｉ及び理想中心位置［ｐ_Ｏｉ，ｑ_Ｏｉ］が特定される。大きさＳＩＺＥ_１〜ＳＩＺＥ_ｎは、互いに異なる第１〜第ｎの大きさＳＩＺＥであり、距離ｄ_１〜ｄ_ｎは、互いに異なる第１〜第ｎの距離ｄである。理想中心位置［ｐ_Ｏ１，ｑ_Ｏ１］〜［ｐ_Ｏｎ，ｑ_Ｏｎ］は、大きさＳＩＺＥ_１〜ＳＩＺＥ_ｎに対応し且つ距離ｄ_１〜ｄ_ｎに対応する第１〜第ｎの理想中心位置［ｐ_Ｏ，ｑ_Ｏ］である。尚、検出された誘導マークＭＫの大きさＳＩＺＥが大きさＳＩＺＥ_ｉと大きさＳＩＺＥ_ｉ＋１との間の大きさである場合には、距離ｄ_ｉ及びｄ_ｉ＋１に基づく補間処理並びに位置［ｐ_Ｏｉ，ｑ_Ｏｉ］及び［ｐ_Ｏｉ＋１，ｑ_Ｏｉ＋１］に基づく補間処理にて、距離ｄ及び理想中心位置［ｐ_Ｏ，ｑ_Ｏ］を特定すれば良い。

撮影画像上における誘導マークＭＫの理想中心位置について説明を加える。図３９、図４０は、夫々、互いに分離して配置された給電機器１及び電子機器２の側面図（Ｘ軸方向から見た図）及び斜視図である。但し、便宜上、図３９では、送電側コイルＴ_Ｌ及び受電側コイルＲ_Ｌを破線にて表しており、図４０では、送電側コイルＴ_Ｌのみを破線にて表している。図３９及び図４０において、位置６３０は、図３４（ｂ）に示したものと同じ、送電側コイルＴ_Ｌの中心の載置面１２ａへの投影位置（以下、送電側コイル投影位置と称することがある）を表し、位置６４０は、受電側コイルＴ_Ｌの中心の載置面１２ａへの投影位置（以下、受電側コイル投影位置と称することがある）を表す。ここでは、誘導マークＭＫの中心位置６２０と送電側コイル投影位置６３０はＸ軸に平行な直線上に並んでいて、送電側コイル投影位置６３０から見てＸ軸の負の向きに所定距離だけ離れた位置に誘導マークＭＫの中心位置６２０があるものとする。領域６３１は、送電側コイル投影位置６３０に基づいて定まる、載置面１２ａの所定領域（以下、目標配置領域と称することがある）であって、目標配置領域６３１の中心位置は送電側コイル投影位置６３０と同じである。

受電側コイル投影位置６４０が目標配置領域６３１内に収まった状態で電子機器２が載置面１２ａに載置されているとき、機器１及び２間のＮＦＣ通信が確実に可能になると共に、所定値以上の伝送効率にて電力伝送が可能となる。受電側コイル投影位置６４０が送電側コイル投影位置６３０と一致している状態で電子機器２が載置面１２ａに載置されているとき、上述の基準配置状態が実現され、コイルＴ_Ｌ及びＲ_Ｌ間の結合効率が最大化されて電力伝送の伝送効率も最大化される。図３２を用いて説明した規格に従えば、目標配置領域６３１は半径１０ｍｍの円形領域となる。但し、目標配置領域６３１の形状及び大きさは、これに限定されない。

撮影画像上における誘導マークＭＫの理想中心位置［ｐ_Ｏ，ｑ_Ｏ］は、投影位置６３０及び６４０が一致しているときにおける撮影画像上の誘導マークＭＫの中心位置を表す。実空間上における誘導マークＭＫの中心位置６２０及び送電側コイル投影位置６３０間の位置関係を示す情報、受電側コイルＲ_Ｌの中心とカメラ部２５の光学中心又は撮像素子の中心との位置関係を示す情報、及び、カメラ部２５の撮影パラメータ（カメラ部２５の撮影画角及び焦点距離、撮像素子のサイズ及び有効画素数など）を示す情報を含む既知情報を制御部２８に予め与えておくことでき、制御部２８は、既知情報を利用して、距離ｄ_１〜ｄ_ｎの夫々に対する理想中心位置［ｐ_Ｏ，ｑ_Ｏ］を特定することができる。

誘導処理では、受電側コイル投影位置６４０が目標配置領域６３１内に収まることが促されるように、理想的には送電側コイル投影位置６３０と一致することが促されるように報知処理（図３６のステップＳ２３３）が行われる。

つまり、誘導処理において、制御部２８は、撮影画像の画像信号に基づき撮影画像上の誘導マークＭＫの位置［ｐ，ｑ］及び大きさＳＩＺＥを検出し、検出した大きさＳＩＺＥから理想中心位置［ｐ_Ｏ，ｑ_Ｏ］を特定した後、検出した位置［ｐ，ｑ］と特定した理想中心位置［ｐ_Ｏ，ｑ_Ｏ］とに基づく報知処理（図３６のステップＳ２３３）を実行する。報知処理では、機器１及び２間の位置関係の調整に関する指標（以下、位置関係調整用指標と称する）が報知される。位置関係調整用指標の報知とは、位置関係調整用指標の明示及び示唆を含む。本明細書において、報知とは、非接触給電システムのユーザに対する報知である。報知は、ユーザの五感に訴える形態の報知であれば良く、例えばスピーカ部２７を用いた音声出力による報知であっても良いが、少なくとも表示画面２６を用いた表示による報知を含んでいると良い。

位置関係調整用指標に関わる機器１及び２間の位置関係とは、載置面１２ａに平行な面内（載置面１２ａに平行な方向）における機器１及び２間の位置関係を指す。以下の説明において、機器１及び２間の位置関係とは、載置面１２ａに平行な面内（載置面１２ａに平行な方向）における機器１及び２間の位置関係を指すと考えて良い。

位置関係調整用指標の一種としての必要移動方向（必要移動方向指標）とは、受電側コイル投影位置６４０を目標配置領域６３１内に収めるための（より詳細には例えば送電側コイル投影位置６３０に一致させるための）、従って電力伝送を可能とするための、給電機器１から見た電子機器２の必要移動方向を指す。つまり、必要移動方向は、受電側コイル投影位置６４０を目標配置領域６３１内に収めて（理想的には送電側コイル投影位置６３０に一致させて）電力伝送を可能とするために、給電機器１の位置を基準として電子機器２が移動せしめられるべき向き（ＸＹ面上の向き）を表す。必要移動方向の報知は、必要移動方向を示す矢印画像及び／又は文字画像の表示画面２６への表示を含み（図４１参照）、必要移動方向を示す音声のスピーカ部２７からの出力を含みうる。必要移動方向の報知に関し、表示画面２６での画像の表示は視覚に対する報知であり、スピーカ部２７からの音声出力は聴覚に対する報知である（他の任意の報知についても同様）。

制御部２８にとって、空間上における誘導マークＭＫの中心位置６２０及び送電側コイル投影位置６３０間の位置関係を示す情報、受電側コイルＲ_Ｌの中心とカメラ部２５の光学中心又は撮像素子の中心との位置関係を示す情報、及び、カメラ部２５の撮影パラメータ（カメラ部２５の撮影画角及び焦点距離、撮像素子のサイズ及び有効画素数など）を示す情報は既知であるので、それらの情報と、撮影画像上の誘導マークＭＫの検出位置［ｐ，ｑ］及び理想中心位置［ｐ_Ｏ，ｑ_Ｏ］に基づき、必要移動方向が定まる。

より具体的には例えば、図４２（ａ）〜（ｄ）を参照し、撮影画像上の誘導マークＭＫの検出位置［ｐ，ｑ］が理想中心位置［ｐ_Ｏ，ｑ_Ｏ］から見てＱ軸の正の向き、Ｑ軸の負の向き、Ｐ軸の正の向き、Ｐ軸の負の向きにずれているとき、必要移動方向が、夫々、右、左、後、前であることが、上述の既知情報に基づき予め定まっているものとする。そうすると、撮影画像上の誘導マークＭＫの検出位置［ｐ，ｑ］が理想中心位置［ｐ_Ｏ，ｑ_Ｏ］から見てＱ軸の正の向き、Ｑ軸の負の向き、Ｐ軸の正の向き、Ｐ軸の負の向きにずれていることが分かったならば、制御部２８は、夫々、右、左、後、前の必要移動方向を報知すれば良い。ここで、右、左、後、前とは、夫々、Ｙ軸の正の向き、Ｙ軸の負の向き、Ｘ軸の正の向き、Ｘ軸の負の向きに一致する（図４０も参照）。ここにおける前後左右は、表示画面２６及び載置面１２ａに正対して表示画面２６を見るユーザから見た前後左右に相当する。但し、当該ユーザにとって、送電側コイル投影位置６３０から誘導マークＭＫの中心位置６２０に向かう向きが前の向きであるとする。

尚、ここでは、以下の基準撮影条件にて撮影画像の取得が行われていることを想定している。基準撮影条件では、撮影画像上において、誘導マークＭＫ中の文字マーク“Ｎ”及び“Ｍ”の各中心がＰ軸に沿って並んでいて且つ文字マーク“Ｎ”が文字マーク“Ｍ”から見てＰ軸の負側に位置している。基準撮影条件では、撮影画像上における誘導マークＭＫの傾きはゼロである。仮に、基準撮影条件を起点としてカメラ部２５の光軸周りに電子機器２が回転しているならば、その回転の向き及び回転角を、撮影画像上での誘導マークＭＫの傾きの向き及び大きさから検出し、その検出結果をも考慮して必要移動方向を決定すれば良い。

また、図４３に示す如く、送電側コイル投影位置６３０及び受電側コイル投影位置６４０を互いに一致させているとき、誘導マークＭＫの中心位置６２０がカメラ部２５の光軸上にのるように機器１及び２が形成されていても良い。この場合には、撮影画像上の誘導マークＭＫの中心位置［ｐ，ｑ］が撮影画像の中心にあるときに投影位置６３０及び６４０が重なり合うことになるため、距離ｄに関係なく、常に理想中心位置［ｐ_Ｏ，ｑ_Ｏ］は撮影画像の中心と一致することになる（故に、理想中心位置［ｐ_Ｏ，ｑ_Ｏ］を定めるための大きさＳＩＺＥの検出は必須ではなくなる）。

誘導処理において、制御部２８は、撮影画像上の誘導マークＭＫの検出結果（位置［ｐ，ｑ］の検出結果、又は、位置［ｐ，ｑ］及び大きさＳＩＺＥの検出結果）に基づき、受電側コイル投影位置６４０が目標配置領域６３１内に収まっているか否かを判断し、受電側コイル投影位置６４０が目標配置領域６３１内に収まっていないと判断される場合には上述の如く必要移動方向の報知を行う一方、受電側コイル投影位置６４０が目標配置領域６３１内に収まっていると判断される場合には、必要移動方向（必要移動方向指標）の報知と異なる、所定の調整良好指標の報知を行うと良い。調整良好指標も、機器１及び２間の位置関係の調整に関する指標（位置関係調整用指標）の一種であると解して良い。

調整良好指標は、受電側コイル投影位置６４０が目標配置領域６３１内に収まっていることを示す指標である。故に、調整良好指標が報知されたとき、電子機器２をそのまま載置面１２ａに向かって垂直に下せば、受電側コイル投影位置６４０が目標配置領域６３１内に収まった状態で電子機器２が載置面１２ａに載置されることになる。調整良好指標の報知は、機器１及び２間の位置関係が良好であることや機器２をそのまま載置面１２ａへおろして良いことを示す所定画像の表示画面２６への表示を含み（図４４参照）、機器１及び２間の位置関係が良好であることや機器２をそのまま載置面１２ａへおろして良いことを示す所定音声のスピーカ部２７からの出力を含みうる。

実空間上における誘導マークＭＫの中心位置６２０と送電側コイル投影位置６３０及び目標配置領域６３１との間の位置関係を示す情報、受電側コイルＲ_Ｌの中心とカメラ部２５の光学中心又は撮像素子の中心との位置関係を示す情報、及び、カメラ部２５の撮影パラメータ（カメラ部２５の撮影画角及び焦点距離、撮像素子のサイズ及び有効画素数など）を示す情報を含む既知情報を制御部２８に予め与えておくことでき、制御部２８は、その既知情報を利用して、受電側コイル投影位置６４０が目標配置領域６３１に収まっているときに、撮影画像上において位置［ｐ，ｑ］が属すべき画像領域Ａを特定できる。画像領域Ａは、理想中心位置[ｐ_Ｏ，ｑ_Ｏ]が属する領域であって、距離ｄ_１〜ｄ_ｎの夫々に対して特定される。通常、画像領域Ａは理想中心位置[ｐ_Ｏ，ｑ_Ｏ]を中心に持つ円形画像領域であって、画像領域Ａの大きさは距離ｄが小さくなるほど大きくなる。制御部２８は、撮影画像上の誘導マークＭＫの検出位置［ｐ，ｑ］が、所定の画像領域Ａに属しているか否かを判断することで、受電側コイル投影位置６４０が目標配置領域６３１内に収まっているか否かを判断することができる。

或いは例えば、制御部２８は、撮影画像上における誘導マークＭＫの検出位置［ｐ，ｑ］と理想中心位置［ｐ_Ｏ，ｑ_Ｏ］との距離を求め、撮影画像上において当該距離が所定値以下であるか否かを判断することで、受電側コイル投影位置６４０が目標配置領域６３１内に収まっているか否かを判断するようにしても良い。ここにおける所定値は機器１及び２間の距離ｄに依存する。

機器１及び２間の位置関係の調整に関する指標（位置関係調整用指標）の形態は任意であって良い。例えば、図４５（ａ）及び（ｂ）に示す如く、誘導処理において、制御部２８は、所定の基準枠画像６７１を表示画面２６に表示すると共に、撮影画像上における誘導マークＭＫの検出結果に応じた調整枠画像６７２を表示画面２６に表示するようにしても良い。基準枠画像６７１は表示画面２６の所定位置に固定表示されるが、調整枠画像６７２の表示位置は、撮影画像上における誘導マークＭＫの検出結果に応じ可変する。

具体的には例えば、受電側コイル投影位置６４０が目標配置領域６３１内に収まっていないと判断されていて且つ必要移動方向が右、左、後、前であるならば、調整枠画像６７２を基準枠画像６７１から見て、夫々、右、左、後、前側にシフトさせた位置に表示させる（図４５（ａ）参照）。この際、制御部２８は、撮影画像上における誘導マークＭＫの検出位置［ｐ，ｑ］と理想中心位置［ｐ_Ｏ，ｑ_Ｏ］との距離が増大するにつれて上記シフトの量を増大させると良い。受電側コイル投影位置６４０が目標配置領域６３１内に収まっていると判断される場合には、表示画面２６上において基準枠画像６７１と調整枠画像６７２とを重ねあわせる表示を行う又は基準枠画像６７１内に調整枠画像６７２を収める表示を行う（図４５（ｂ）参照）。

電子機器２のユーザは、シューティングゲームを行っているかのような感覚で、表示画面２６上で基準枠画像６７１と調整枠画像６７２とが重なり合うように又は基準枠画像６７１内に調整枠画像６７２が収まるように、電子機器２のＸ軸又はＹ軸方向への位置調整を行うことになる。受電側コイル投影位置６４０が目標配置領域６３１内に収まっていないと判断されている場合において調整枠画像６７２を基準枠画像６７１から見て右、左、後又は前側にシフトさせた位置に表示させることは、必要移動方向（必要移動方向指標）の報知に相当し、受電側コイル投影位置６４０が目標配置領域６３１内に収まっていると判断されている場合において基準枠画像６７１と調整枠画像６７２とを重ねあわせて表示すること又は基準枠画像６７１内に調整枠画像６７２を表示することは、調整良好指標の報知に相当する。

誘導処理の開始後、電子機器２が載置面１２ａに相当程度に近づいて電子機器２及び載置面１２ａ間の距離ｄが一定距離以下になると、撮影画像がぼけて又は誘導マークＭＫの一部若しくは全部が撮影領域ＳＲに収まらなくなって、撮影画像から誘導マークＭＫを検出不可となる。この検出不可の状態が所定時間（例えば数１００ミリ秒）以上継続したとき、制御部２８は誘導処理を終える。或いは例えば、誘導処理の開始後、電子機器２が載置面１２ａに相当に近づいて撮影画像における誘導マークＭＫの大きさＳＩＺＥが所定の大きさ以上になったときに誘導処理を終えるようにしても良い。

［第２報知処理］
制御部２８は、誘導処理の開始前又は誘導処理の実行中において、ＮＦＣ通信回路２２０による問い合わせ信号５１０又は認証信号５５０（図２９参照）の受信が確認された際、例えば、誘導処理の終了後に応答信号５２０又は５６０の送信が行われるようにＮＦＣ通信回路２２０を制御すると良い。つまり、制御部２８は、誘導処理の開始後、所定の終了条件が成立すると誘導処理を終了し、誘導処理の終了後にＮＦＣ通信回路２２０を用いて応答信号５２０又は５６０を給電機器１に送信すると良い。給電機器１では、応答信号５２０又は５６０の受信を経ないと電力伝送５７０が開始されないため（図２９参照）、誘導処理の終了前において送電の実行が制限されることになる。誘導処理を通じて機器１及び２間の位置関係の適正化が担保されるため、その担保の後に電力伝送５７０が行われることが望ましいが、誘導処理の終了を待ってから送電を行うようにすることで当該担保が促進される。また、機器１及び２間の位置関係の適正化が不十分であると電力伝送時に送電回路１３０からの出力が不要輻射として放出される可能性があるが、誘導処理の終了を待ってから送電を行うようにすることで当該可能性が低くなることが期待される。以下では、例として、誘導処理の開始前又は誘導処理の実行中において、ＮＦＣ通信回路２２０による問い合わせ信号５１０（図２９参照）の受信が確認された際、制御部２８は、誘導処理の終了後に応答信号５２０の送信が行われるようにＮＦＣ通信回路２２０を制御すると考える。制御部２８は、応答信号５２０の送信後、電力伝送５７０が開始されるまでの間に、以下の第２報知処理を行うことができる。制御部２８は、第２報知処理を、電子機器２が既に載置面１２ａ上に置かれている状態でも実行できる。

第２報知処理では、給電機器１にて生成される電流振幅情報が利用される。給電機器１（例えばＩＣ１００）には、図４６に示すような、送電側コイルＴ_Ｌに流れる電流の振幅（以下、送電側コイルＴ_Ｌの電流振幅とも称する）を検出する電流振幅検出回路１４０Ａが設けられている。例えば、送電側コイルＴ_Ｌに直列接続され、送電側コイルＴ_Ｌに流れる電流と同じ電流が流れるセンス抵抗１４１Ａと、センス抵抗１４１Ａの電圧降下の信号の包絡線を検波する包絡線検波器１４２Ａと、その検波された信号を増幅する増幅器１４３Ａと、その増幅された信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器１４４Ａとで電流振幅検出回路１４０Ａを形成することができる。Ａ／Ｄ変換器１４４Ａの出力デジタル値Ｖ_Ｄは、送電側コイルＴ_Ｌの電流振幅を表すことになる。

給電機器１では、電力伝送５７０の開始前において、ＮＦＣ通信のために、ＮＦＣ通信回路１２０が所定振幅を有し且つ基準周波数の交流電圧を共振回路ＴＴに供給し、これによって送電側コイルＴ_Ｌにて通信用磁界を発生させる。そして、制御回路１６０は、応答信号５２０の受信後且つ電力伝送５７０の開始前において、通信用磁界を送電側コイルＴ_Ｌに発生させているとき、Ａ／Ｄ変換器１４４Ａの出力デジタル値Ｖ_Ｄに基づき、送電側コイルＴ_Ｌの電流振幅を表す電流振幅情報を周期的に生成及び取得し、取得した電流振幅情報をＮＦＣ通信回路１２０を用いてＮＦＣ通信により電子機器２に対し周期的に送信することができる。この電流振幅情報は認証信号５５０（図２９参照）に含められても良い。

制御部２８は、ＮＦＣ通信を介して給電機器１から受信した電流振幅情報に応じ、第２報知処理を行うことができる。磁界を発生させる送電側コイルＴ_Ｌにとって、受電側コイルＲ_Ｌのような、送電側コイルＴ_Ｌと磁気結合するコイルは、負荷であると考えることができ、その負荷の大きさに依存して、送電側コイルＴ_Ｌの電流振幅は変化する。具体的には、コイルＴ_Ｌ及びＲ_Ｌ間の磁気結合の度合いが大きくなるにつれて送電側コイルＴ_Ｌの電流振幅は減少する。故に、電流振幅情報に基づけば、機器１及び２間の位置関係が適正か否か等を判断することができる。

具体的には例えば、制御部２８は、第２報知処理において、機器１及び２間の位置関係が適正か否かを報知すると良い。制御部２８は、電流振幅情報にて示される送電側コイルＴ_Ｌの電流振幅Ｉ_ＡＭＰを所定振幅と比較し、送電側コイルＴ_Ｌの電流振幅Ｉ_ＡＭＰが所定振幅以下であれば機器１及び２間の位置関係が適正であると判断して、その旨を示す所定の適正用画像の表示画面２６への表示及び／又はその旨を示す所定の適正用音声のスピーカ部２７からの出力を行い、一方、送電側コイルＴ_Ｌの電流振幅Ｉ_ＡＭＰが所定振幅より大きければ機器１及び２間の位置関係が適正でないと判断して、その旨を示す所定の非適正用画像の表示画面２６への表示及び／又はその旨を示す所定の非適正用音声のスピーカ部２７からの出力を行うと良い。

制御部２８は、ＮＦＣ通信回路２２０にて認証信号５５０が受信された後、電流振幅情報に基づき機器１及び２間の位置関係が適正であると判断されるまで、ＮＦＣ通信回路２２０による応答信号５６０の送信を制限（禁止）するようにしても良い。これにより、電流振幅情報に基づき機器１及び２間の位置関係が適正であると判断された後に電力伝送５７０が行われるため、適正状態での電力伝送５７０が担保される。但し、ＮＦＣ通信回路２２０にて認証信号５５０が受信されたならば、機器１及び２間の位置関係が適正であるか否かの判断結果に依存せず、速やかに、応答信号５６０を給電機器１に送信するようにしても良い。制御部２８は、応答信号５６０の送信後、第２報知処理を終えて良い。

或いは例えば、制御部２８は、第２報知処理において、機器１及び２間の位置関係の適正レベルを３段階以上に分類して報知するようにしても良い。機器１及び２間の位置関係の適正レベルを３段階に分類して報知する場合の例を説明する。表示画面２６に、互いに異なる第１、第２及び第３の長さのバー画像の何れかを選択的に表示可能にしておく。第１〜第３の長さの内、第１の長さが最も短く且つ第３の長さが最も長い。第１、第２、第３の長さのバー画像の表示は、機器１及び２間の位置関係の適正レベルが、夫々、第１、第２、第３のレベルであることを示している。該適正レベルに関し、第１〜第３のレベルの内、第１のレベルが最も低く、第３のレベルが最も高い。
制御部２８は、電流振幅情報にて示される送電側コイルＴ_Ｌの電流振幅Ｉ_ＡＭＰを所定の第１基準振幅ＲＥＦ１及び第２基準振幅ＲＥＦ２の夫々と比較する（０＜ＲＥＦ１＜ＲＥＦ２）。そして、制御部２８は、“Ｉ_ＡＭＰ≦ＲＥＦ１”の成立時には、機器１及び２間の位置関係の適正レベルが第３のレベルであると判断して第３の長さのバー画像を表示画面２６に表示させ、“ＲＥＦ１＜Ｉ_ＡＭＰ≦ＲＥＦ２”の成立時には、機器１及び２間の位置関係の適正レベルが第２のレベルであると判断して第２の長さのバー画像を表示画面２６に表示させ、“ＲＥＦ２＜Ｉ_ＡＭＰ”の成立時には、機器１及び２間の位置関係の適正レベルが第１のレベルであると判断して第１の長さのバー画像を表示画面２６に表示させる。

制御部２８は、ＮＦＣ通信回路２２０にて認証信号５５０が受信された後、電流振幅情報に基づき機器１及び２間の位置関係の適正レベルが所定レベル以上であると判断されるまで、ＮＦＣ通信回路２２０による応答信号５６０の送信を制限（禁止）するようにしても良い。所定レベルは第２又は第３レベルであり、第１レベルを含まない。これにより、電流振幅情報に基づき機器１及び２間の位置関係が第２レベル又は第３レベルであると判断された後に電力伝送５７０が行われるため、比較的良好な伝送効率での電力伝送５７０が担保される。但し、ＮＦＣ通信回路２２０にて認証信号５５０が受信されたならば、機器１及び２間の位置関係の適正レベルの判断結果に依存せず、速やかに、応答信号５６０を給電機器１に送信するようにしても良い。制御部２８は、応答信号５６０の送信後、第２報知処理を終えて良い。

尚、制御部２８による第２報知処理を、給電機器１に設けられた給電側制御部にて行うようにしても良い。ここにおける給電側制御部は、制御回路１６０（図２７参照）であると考えても良いし、制御回路１６０とは別の制御部であると考えても良い。給電側制御部にて第２報知処理を行う場合、表示画面２６及びスピーカ部２７と同等の表示画面及びスピーカ部を給電機器１に設けておき、給電側制御部が、電流振幅情報に基づく第２報知処理における各種報知を、表示画面２６及びスピーカ部２７の代わりに給電機器１の表示画面及びスピーカ部を用いて行えば良い。

例えば、給電側制御部は、第２報知処理において、機器１及び２間の位置関係が適正か否かを報知することでき、機器１及び２間の位置関係が適正か否かの判断方法、及び、その判断結果に基づく報知の内容は上述した通りである。この際、給電側制御部は、電流振幅情報に基づき機器１及び２間の位置関係が適正であると判断されるまで、電力伝送５７０の開始を制限（禁止）するようにしても良い。これにより、適正状態での電力伝送５７０が担保される。但し、ＮＦＣ通信回路１２０にて応答信号５６０が受信されたならば、機器１及び２間の位置関係が適正であるか否かの判断結果に依存せず、速やかに、電力伝送５７０を開始するようにしても良い。給電側制御部は、応答信号５６０の受信後、電力伝送５７０の開始前に、第２報知処理を終えて良い。

或いは例えば、給電側制御部は、第２報知処理において、機器１及び２間の位置関係の適正レベルを３段階以上に分類して報知するようにしても良く、機器１及び２間の位置関係の適正レベルの判断方法、及び、その判断結果に基づく報知の内容は上述した通りである。この際、給電側制御部は、電流振幅情報に基づき機器１及び２間の位置関係の適正レベルが所定レベル以上であると判断されるまで、電力伝送５７０の開始を制限（禁止）するようにしても良い。所定レベルは第２又は第３レベルであり、第１レベルを含まない。これにより、比較的良好な伝送効率での電力伝送５７０が担保される。但し、ＮＦＣ通信回路１２０にて応答信号５６０が受信されたならば、機器１及び２間の位置関係の適正レベルの判断結果に依存せず、速やかに、電力伝送５７０を開始するようにしても良い。給電側制御部は、応答信号５６０の受信後、電力伝送５７０の開始前に、第２報知処理を終えて良い。

また、給電機器１は、電子機器２における機能回路２２の機能と同等の機能を実現できる電子機器の一種であっても良い。即ち例えば、給電機器１及び電子機器２の夫々は、携帯電話機（スマートホンに分類される携帯電話機を含む）であっても良く、この場合、２台の携帯電話機の間でＮＦＣによる電力伝送が行われることになる。

尚、図４６に示した電流振幅検出回路１４０Ａは、第１実施形態で説明した図７の負荷検出回路１４０であっても良い。

＜＜本発明の第２考察＞＞
上述の各実施形態にて具体化された本発明について考察する。

本発明の一側面に係る非接触給電システムＷ_２は、電力を送電するための送電側コイル（Ｔ_Ｌ）を含む送電側共振回路（ＴＴ）を有した送電装置及び前記電力を受電するための受電側コイル（Ｒ_Ｌ）を含む受電側共振回路（ＲＲ）を有した受電装置を備え、磁界共鳴方式で前記電力の送受電が可能な非接触給電システムＷ_１において、前記送電装置は、前記電力の送受電の際に前記受電装置が載置されるべき載置面（１２ａ）を備え、前記送電側コイルの配置位置に基づく、前記載置面上の所定位置に、所定のマーク（ＭＫ）が付与され、前記受電装置は、撮影を行うカメラ部（２５）と、前記受電装置が前記載置面に載置される前に、前記マークの撮影により得られた撮影画像上において前記マークを検出し前記マークの検出結果に応じた特定報知を行う制御部（２８）と、を備えたことを特徴とする。

送電側コイルの配置位置に基づく載置面上の所定位置にマークを付与しておき、受電装置において、マークを撮影した撮影画像上でマークを検出すれば、その検出結果から、カメラ部と送電側コイルとの位置関係が分かり、ひいては、受電装置において当然にカメラ部と所定の位置関係にある受電側コイルと送電側コイルとの位置関係が分かる。故に、マークの検出結果に応じた特定報知において、送電装置及び受電装置間の位置関係を電力の送受電に適した位置関係にすることを支援するような報知を行うことが可能となり、良好な送受電の実現が支援される（受電装置の載置位置の適正化が支援される）。

具体的には例えば、非接触給電システムＷ_２に関し、前記制御部は、前記撮影画像上における前記マークの検出結果に基づき、前記特定報知において、前記載置面に平行な面内における、前記送電装置及び前記受電装置間の位置関係の調整に関する報知を行うと良い。

より具体的には例えば、非接触給電システムＷ_２に関し、前記位置関係の調整に関する報知は、前記載置面に平行な面内における、前記電力の送受電を行うための、前記送電装置を基準とした前記受電装置の必要移動方向の報知を含んでいると良い。

これにより、載置面に平行な面内における送電装置及び受電装置間の位置関係の調整が必要であるとユーザに認識させることができると共に該位置関係を電力の送受電に適した位置関係にすることが支援される。

更に具体的には例えば、非接触給電システムＷ_２に関し、前記受電側コイルの中心の前記載置面への投影位置（６４０）が前記送電側コイルの配置位置に基づく前記載置面上における所定領域（６３１）内に収まるように前記受電装置が前記載置面上に載置されているとき、前記電力の送受電が可能であり、前記位置関係の調整に関する報知は、前記投影位置を前記所定領域内に収めるための、前記必要移動方向の報知を含んでいると良い。

そして例えば、非接触給電システムＷ_２に関し、前記制御部は、前記撮影画像上における前記マークの検出結果に基づき、前記投影位置が前記所定領域内に収まっているか否かを判断し、前記投影位置が前記所定領域内に収まっていない場合、前記必要移動方向を報知する一方、前記投影位置が前記所定領域内に収まっている場合、前記必要移動方向の報知と異なる所定の報知を行うと良い。

これにより例えば、投影位置が所定領域内に収まっていないときには、必要移動方向の報知により載置面に平行な面内における送電装置及び受電装置間の位置関係の調整が必要であるとユーザに認識させることができると共に該位置関係を電力の送受電に適した位置関係にすることが支援される。投影位置が所定領域内に収まっているときには、所定の報知により該位置関係が電力の送受電に適した位置関係であるとユーザに認識させることができる。

また例えば、非接触給電システムＷ_２に関し、前記送電装置では、前記制御部による前記特定報知を行うための所定の処理（誘導処理）の終了前において前記送電の実行が制限されると良い。

具体的には例えば、非接触給電システムＷ_２に関し、前記撮影画像上における前記マークの検出結果は、前記撮影画像上における前記マークの位置の検出結果を含んでいると良い。

また具体的には例えば、非接触給電システムＷ_２に関し、前記受電装置は表示画面（２５）を備え、前記特定報知は前記表示画面での表示を含んでいると良い。

また具体的には例えば、非接触給電システムＷ_２に関し、前記受電装置における筐体は第１面と前記第１面に対向する第２面とを有し、前記表示画面は前記第１面に設けられ、前記カメラ部は、前記第２面を起点として前記第１面から前記第２面に向かう向きに広がる撮影領域（ＳＲ）を有していると良い。

また例えば、非接触給電システムＷ_２に関し、前記送電装置は、前記送電側共振回路への交流電圧の供給により前記送電側コイルに所定の磁界を発生させているときにおける前記送電側コイルの電流振幅情報を取得し、前記制御部は、通信を介し前記送電装置から受信した前記電流振幅情報に応じて第２特定報知を行うようにしても良い。

電流振幅情報から送電側コイル及び受電側コイル間の磁気結合の度合いを推定することができる。故に、電流振幅情報に応じた第２特定報知を行いうるようにしておくことで、送電装置及び受電装置間の位置関係が適正か否か等をユーザに知らしめることが可能となり、必要に応じて該位置関係の調整をユーザに促すといったことが可能となる。

この際例えば、非接触給電システムＷ_２に関し、前記制御部は、前記第２特定報知において、前記送電装置及び前記受電装置間の位置関係が適正か否かを報知しても良い、又は、前記送電装置及び前記受電装置間の位置関係の適正レベルを３段階以上に分類して報知しても良い。

或いは例えば、非接触給電システムＷ_２に関し、前記送電装置は、前記送電側共振回路への交流電圧の供給により前記送電側コイルに所定の磁界を発生させているときにおける前記送電側コイルの電流振幅情報を取得し、前記電流振幅情報に応じた第２特定報知を行うようにしても良い。

電流振幅情報から送電側コイル及び受電側コイル間の磁気結合の度合いを推定することができる。故に、電流振幅情報に応じた第２特定報知を行いうるようにしておくことで、送電装置及び受電装置間の位置関係が適正か否か等をユーザに知らしめることが可能となり、必要に応じて該位置関係の調整をユーザに促すといったことが可能となる。

この際例えば、非接触給電システムＷ_２に関し、前記送電装置は、前記第２特定報知において、前記送電装置及び前記受電装置間の位置関係が適正か否かを報知しても良い、又は、前記送電装置及び前記受電装置間の位置関係の適正レベルを３段階以上に分類して報知しても良い。

尚、上述の各実施形態における給電機器１そのものが本発明に係る送電装置として機能しても良いし、上述の各実施形態における給電機器１の一部が本発明に係る送電装置として機能しても良い。同様に、上述の各実施形態における電子機器２そのものが本発明に係る受電装置として機能しても良いし、上述の各実施形態における電子機器２の一部が本発明に係る受電装置として機能しても良い。

＜＜変形等＞＞
本発明の実施形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。以上の実施形態は、あくまでも、本発明の実施形態の例であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以上の実施形態に記載されたものに制限されるものではない。上述の説明文中に示した具体的な数値は、単なる例示であって、当然の如く、それらを様々な数値に変更することができる。上述の実施形態に適用可能な注釈事項として、以下に、注釈１〜注釈３を記す。各注釈に記載した内容は、矛盾なき限り、任意に組み合わせることが可能である。

［注釈１］
上述の実施形態では、各種の信号の周波数や共振周波数を、基準周波数としての１３．５６ＭＨｚに設定することを述べたが、１３．５６ＭＨｚは設定の目標値であって、実際の機器における、それらの周波数には誤差が含まれる。

［注釈２］
本発明をＮＦＣの規格に沿って具現化したものを実施形態中に示したため、基準周波数が１３．５６ＭＨｚであると述べたが、基準周波数は１３．５６ＭＨｚ以外でも構わない。これに関連するが、本発明が適用される給電機器及び電子機器間の通信及び電力伝送は、ＮＦＣ以外の規格に沿った通信及び電力伝送であっても良い。

本発明に係る非接触給電システムの基準周波数が１３．５６ＭＨｚ以外の周波数（例えば、６．７８ＭＨｚ）に設定されていて且つ非接触ＩＣカードとして形成された異物３における共振回路ＪＪの共振周波数が１３．５６ＭＨｚである場合にも、異物３が給電台１２に置かれた際には、ｐＦＯＤ処理又はｍＦＯＤ処理にて電圧値Ｖ_Ｄに相応量の変化がみられるため、そのような場合にも、上述の方法により異物３の検出が可能である。

［注釈３］
本発明に係る受電装置又は送電装置である対象装置を、集積回路等のハードウェア、或いは、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせによって構成することができる。対象装置にて実現される機能の全部又は一部である任意の特定の機能をプログラムとして記述して、該プログラムを対象装置に搭載可能なフラッシュメモリに保存しておいても良い。そして、該プログラムをプログラム実行装置（例えば、対象装置に搭載可能なマイクロコンピュータ）上で実行することによって、その特定の機能を実現するようにしてもよい。上記プログラムは任意の記録媒体に記憶及び固定されうる。上記プログラムを記憶及び固定する記録媒体は対象装置と異なる機器（サーバ機器等）に搭載又は接続されても良い。

１ 給電機器
２ 電子機器
１２ 給電台
１２ａ 載置面
２５ カメラ部
２６ 表示画面
２７ スピーカ部
２８ 制御部
１３０ ＮＦＣ送電回路
１４０ 負荷検出回路
１６０ 制御回路
２４０ 共振状態変更回路（共振周波数変更／コイル短絡回路）
２５０ 制御回路
ＴＴ 送電側共振回路
Ｔ_Ｌ 送電側コイル
Ｔ_Ｃ 送電側コンデンサ
ＲＲ 受電側共振回路
Ｒ_Ｌ 受電側コイル
Ｒ_Ｃ 受電側コンデンサ

Claims (24)

1. 送電装置及び受電装置を備え、磁界共鳴方式で電力の送受電が可能な非接触給電システムにおいて、
   前記送電装置は、前記電力を送電するための送電側コイルを含む送電側共振回路と、前記送電側共振回路に交流電圧を供給することで前記送電側コイルに磁界を発生させる送電回路と、前記送電側コイルに流れる電流の振幅を検出する検出回路と、第１モード及び第２モードを含む複数のモードの何れかを動作モードにして動作する送電側制御回路と、を備え、
   前記受電装置は、前記電力を受電するための受電側コイルを含む受電側共振回路と、前記受電側共振回路の共振周波数を前記受電の際の共振周波数から変更可能な又は前記受電側コイルを短絡可能な変更／短絡回路と、前記第１モード及び前記第２モードを含む複数のモードの何れかを動作モードにして動作する受電側制御回路と、を備え、
   前記第１モードにおいて、
   前記受電側制御回路は、前記送電装置からの通信による信号に従い、前記変更／短絡回路を用いて所定時間だけ前記受電側共振回路の共振周波数の変更又は前記受電側コイルの短絡を行った後、該変更又は該短絡を解消させ、
   前記送電側制御回路は、前記受電側共振回路の共振周波数の変更又は前記受電側コイルの短絡が行われている期間において前記送電に先立ち所定のテスト磁界が前記送電側コイルで発生されるよう前記送電回路を制御し、前記第１モードにて前記テスト磁界が発生されているときの前記検出回路の振幅検出値を示す第１評価データに基づき前記送電の実行可否を判断して、前記送電を実行可能と判断した後に前記テスト磁界よりも大きな送電用磁界が前記送電側コイルで発生されるよう前記送電回路を制御して前記送電を実現し、
   前記第２モードにおいて、
   前記受電側制御回路は、前記変更／短絡回路を用いて、前記受電側共振回路の共振周波数の変更又は前記受電側コイルの短絡を維持し、
   前記送電側制御回路は、前記送電回路を制御して前記テスト磁界を前記送電側コイルにて継続発生させ、前記第２モードにて前記テスト磁界が発生されているときの前記検出回路の振幅検出値を示す第２評価データを取得する
   ことを特徴とする非接触給電システム。
2. 前記第１モードにおいて、前記送電側制御回路は、前記第１評価データに基づき、前記受電装置と異なり且つ前記送電側コイルの発生磁界に基づく電流を発生させられる異物の存否を判断し、その判断結果に基づいて前記送電の実行可否を制御する
   ことを特徴とする請求項１に記載の非接触給電システム。
3. 前記第１モードにおいて、前記送電側制御回路は、前記異物が存在しないと判断した場合、前記送電の実行を許可し、前記異物が存在すると判断した場合、前記送電の実行を禁止する
   ことを特徴とする請求項２に記載の非接触給電システム。
4. 前記第１モードにおいて、前記送電側制御回路は、前記第１評価データが示す振幅検出値が所定範囲を逸脱しているか否かを判断することで、前記異物の存否を判断する
   ことを特徴とする請求項２又は３に記載の非接触給電システム。
5. 前記第２評価データに基づく所定処理を実行する処理部を更に備え、
   前記処理部は、前記送電側制御回路に設けられる、又は、前記送電装置及び前記受電装置と異なる外部機器に設けられる
   ことを特徴とする請求項１〜４の何れかに記載の非接触給電システム。
6. 前記所定処理は、前記送電装置に設けられた又は前記送電装置に接続された表示装置に、前記第２評価データを表示させる処理を含む
   ことを特徴とする請求項５に記載の非接触給電システム。
7. 前記所定処理は、前記送電装置に設けられた又は前記送電装置に接続された記録装置に、前記第２評価データを記録させる処理を含む
   ことを特徴とする請求項５又は６に記載の非接触給電システム。
8. 前記第２評価データに基づく所定処理を実行する処理部を更に備え、
   前記処理部は、前記送電側制御回路に設けられ、又は、前記送電装置及び前記受電装置と異なる外部機器に設けられ、
   前記所定処理は、前記第２評価データが示す振幅検出値が前記所定範囲を逸脱しているか否かの判断を含む
   ことを特徴とする請求項４に記載の非接触給電システム。
9. 前記送電側制御回路及び前記受電側制御回路の夫々は、特定指示の入力を受けたときに自身の動作モードを前記第２モードに設定し、それ以外では自身の動作モードを前記第１モードに設定する
   ことを特徴とする請求項１〜８の何れかに記載の非接触給電システム。
10. 前記送電装置及び前記受電装置の夫々は、前記特定指示の入力を受けるための入力受付部を有する
    ことを特徴とする請求項９に記載の非接触給電システム。
11. 前記送電側制御回路における前記複数のモードには、前記送電側コイルにて前記送電用磁界を継続発生させるモードが更に含まれ、且つ、
    前記受電側制御回路における前記複数のモードには、前記受電側共振回路の共振周波数の変更又は前記受電側コイルの短絡を継続的に非実行とするモードが更に含まれる
    ことを特徴とする請求項１〜８の何れかに記載の非接触給電システム。
12. 電力を送電するための送電側コイルを含む送電側共振回路を有した送電装置及び前記電力を受電するための受電側コイルを含む受電側共振回路を有した受電装置を備え、磁界共鳴方式で前記電力の送受電が可能な非接触給電システムにおいて、
    前記送電装置は、前記電力の送受電の際に前記受電装置が載置されるべき載置面を備え、
    前記送電側コイルの配置位置に基づく、前記載置面上の所定位置に、所定のマークが付与され、
    前記受電装置は、撮影を行うカメラ部と、前記受電装置が前記載置面に載置される前に、前記マークの撮影により得られた撮影画像上において前記マークを検出し前記マークの検出結果に応じた特定報知を行う制御部と、を備えた
    ことを特徴とする非接触給電システム。
13. 前記制御部は、前記撮影画像上における前記マークの検出結果に基づき、前記特定報知において、前記載置面に平行な面内における、前記送電装置及び前記受電装置間の位置関係の調整に関する報知を行う
    ことを特徴とする請求項１２に記載の非接触給電システム。
14. 前記位置関係の調整に関する報知は、前記載置面に平行な面内における、前記電力の送受電を行うための、前記送電装置を基準とした前記受電装置の必要移動方向の報知を含む
    ことを特徴とする請求項１３に記載の非接触給電システム。
15. 前記受電側コイルの中心の前記載置面への投影位置が前記送電側コイルの配置位置に基づく前記載置面上における所定領域内に収まるように前記受電装置が前記載置面上に載置されているとき、前記電力の送受電が可能であり、
    前記位置関係の調整に関する報知は、前記投影位置を前記所定領域内に収めるための、前記必要移動方向の報知を含む
    ことを特徴とする請求項１４に記載の非接触給電システム。
16. 前記制御部は、前記撮影画像上における前記マークの検出結果に基づき、前記投影位置が前記所定領域内に収まっているか否かを判断し、前記投影位置が前記所定領域内に収まっていない場合、前記必要移動方向を報知する一方、前記投影位置が前記所定領域内に収まっている場合、前記必要移動方向の報知と異なる所定の報知を行う
    ことを特徴とする請求項１５に記載の非接触給電システム。
17. 前記送電装置では、前記制御部による前記特定報知を行うための所定の処理の終了前において前記送電の実行が制限される
    ことを特徴とする請求項１２〜１６の何れかに記載の非接触給電システム。
18. 前記撮影画像上における前記マークの検出結果は、前記撮影画像上における前記マークの位置の検出結果を含む
    ことを特徴とする請求項１２〜１７の何れかに記載の非接触給電システム。
19. 前記受電装置は表示画面を備え、
    前記特定報知は前記表示画面での表示を含む
    ことを特徴とする請求項１２〜１８の何れかに記載の非接触給電システム。
20. 前記受電装置における筐体は第１面と前記第１面に対向する第２面とを有し、前記表示画面は前記第１面に設けられ、前記カメラ部は、前記第２面を起点として前記第１面から前記第２面に向かう向きに広がる撮影領域を有する
    ことを特徴とする請求項１９に記載の非接触給電システム。
21. 前記送電装置は、前記送電側共振回路への交流電圧の供給により前記送電側コイルに所定の磁界を発生させているときにおける前記送電側コイルの電流振幅情報を取得し、
    前記制御部は、通信を介し前記送電装置から受信した前記電流振幅情報に応じて第２特定報知を行う
    ことを特徴とする請求項１２〜２０の何れかに記載の非接触給電システム。
22. 前記制御部は、前記第２特定報知において、前記送電装置及び前記受電装置間の位置関係が適正か否かを報知する、又は、前記送電装置及び前記受電装置間の位置関係の適正レベルを３段階以上に分類して報知する
    ことを特徴とする請求項２１に記載の非接触給電システム。
23. 前記送電装置は、前記送電側共振回路への交流電圧の供給により前記送電側コイルに所定の磁界を発生させているときにおける前記送電側コイルの電流振幅情報を取得し、前記電流振幅情報に応じた第２特定報知を行う
    ことを特徴とする請求項１２〜２０の何れかに記載の非接触給電システム。
24. 前記送電装置は、前記第２特定報知において、前記送電装置及び前記受電装置間の位置関係が適正か否かを報知する、又は、前記送電装置及び前記受電装置間の位置関係の適正レベルを３段階以上に分類して報知する
    ことを特徴とする請求項２３に記載の非接触給電システム。

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