JPWO2015166713A1 - 測距装置、測距法、及び測距プログラム - Google Patents

Abstract

測距装置は、結像光学系と、結像光学系により結像された被写体像を撮影する撮影部と、結像光学系の光軸方向に沿って、指向性のある光である指向性光を射出する射出部と、射出部により指向性光が射出されたタイミングおよび受光部により反射光が受光されたタイミングに基づいて被写体までの距離を導出する測距を行う導出部と、被写体像のぶれであって、結像光学系の光軸の変動に伴って生じるぶれの補正であるぶれ補正を行うぶれ補正部と、測距を行う場合は、ぶれ補正を行わないか、または予め定められた通常の補正量より少ない補正量でぶれ補正を行い、測距を行わない場合は通常の補正量でぶれ補正を行う制御をぶれ補正部に行う制御部と、を含む。

Description

本開示の技術は、測距装置、測距方法、及び測距プログラムに関する。

特開２００８−９６１８１号公報には、計測光が射出されたときから受光手段で受光されるまでの時間を検出する時間検出手段と、発光手段から計測光を射出したときの筐体のぶれ量を計測光の発光時に検出するぶれ量検出手段と、時間検出手段によって検出された時間とぶれ量検出手段によって検出されたぶれ量とに基づいて被計測物までの距離を決定する距離決定手段と、を含む装置が開示されている。

特開２００２−２０７１６３号公報には、焦点調整を行う機能と、レーザ光をレンズの光軸に沿って被写体に照射し、その反射光を検出することにより被写体距離を測距する測距機能と、被写体を撮影する撮影機能とを有する測距撮影装置が開示されている。

ところで、通常、測距装置によって測距が行われる場合、測距装置はユーザによって把持された状態で使用される。この状態で、ユーザの手の振動が伝達されることにより測距装置が振動する現象である手ぶれが発生すると、手ぶれに伴って、測距装置に含まれる結像光学系の光軸も変動する。また、車両に測距装置が搭載されている場合には、車両の振動が伝達されることにより測距装置が振動して結像光学系の光軸が変動することもある。なお、ここで、光軸の変動とは、基準軸（例えば、手振れが発生する前の光軸）に対して光軸が傾くことを意味する。

このように、結像光学系の光軸が変動すると、像ぶれや画像ぶれ（以下、これらを区別する必要がない場合、「ぶれ」と称する）が発生する。「像ぶれ」とは、例えば、測距装置に含まれる結像光学系の光軸の変動に伴って被写体像が基準位置（例えば、手ぶれが発生していない状態で得られる被写体像の位置）からずれる現象を指す。また、「画像ぶれ」とは、例えば、撮影されて得られた画像が、手ぶれ等により、光軸の被写体に対する相対的な移動に伴って基準位置からずれる現象を指す。

従来の技術では、ぶれの補正（ぶれ補正）を行う場合、撮影部に結像される被写体像の位置が変動することがあり、このような場合に、測距を行うと、測距精度が低下する懸念があった。

本発明の一つの実施形態は、このような実情を鑑みて提案されたものであり、ぶれ補正に起因する測距精度の低下を抑制することができる測距装置、測距方法、及び測距プログラムを提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明の第１の態様に係る測距装置は、被写体を示す被写体像を結像する結像光学系と、結像光学系により結像された被写体像を撮影する撮影部と、結像光学系の光軸方向に沿って、指向性のある光である指向性光を射出する射出部と、指向性光の被写体からの反射光を受光する受光部と、射出部により指向性光が射出されたタイミングおよび受光部により反射光が受光されたタイミングに基づいて被写体までの距離を導出する測距を行う導出部と、被写体像のぶれであって、結像光学系の光軸の変動に伴って生じるぶれの補正であるぶれ補正を行うぶれ補正部と、測距を行う場合は、ぶれ補正を行わないか、または予め定められた通常の補正量より少ない補正量でぶれ補正を行い、測距を行わない場合は通常の補正量でぶれ補正を行う制御をぶれ補正部に行う制御部と、を備える。

本発明の第２の態様に係る測距装置は、第１の態様において、射出部、受光部および導出部による測距を行うか否かの指示入力を受け付ける受付部を備え、制御部は、受付部によって測距を行う指示入力が受け付けられた場合はぶれ補正を行わないか、または予め定められた通常の補正量より少ない補正量でぶれ補正を行い、受付部によって測距を行わない指示入力が受け付けられた場合は通常の補正量でぶれ補正を行う制御をぶれ補正部に行うことができる。

本発明の第３の態様に係る測距装置は、第１の態様または第２の態様において、ぶれを検出する検出部を備え、ぶれ補正部は、検出部の検出結果に基づいてぶれを補正する補正量を算出し、制御部は、算出した補正量に基づいて、射出部から照射した指向性光の照射位置を算出し、算出した照射位置を表すマーカを表示部に表示させることができる。

本発明の第４の態様に係る測距装置は、第３の態様において、制御部は、算出した補正量に基づいて、照射位置を表すマークの大きさを制御することができる。

本発明の第５の態様に係る測距装置は、本発明の第１の態様から第４の態様のいずれか１つにおいて、導出部は、距離の導出を複数回行い、複数回の距離の導出によって得られる距離のうちの頻度が高い距離を最終的な距離として導出することができる。

本発明の第６の態様に係る測距装置は、本発明の第５の態様において、結像光学系の被写体への焦点調整、及び露出調整の少なくとも一方を実行する実行部を備え、実行部が、焦点調整を実行するものである場合に、導出部は、距離を導出する場合に、合焦状態特定情報に基づいて、頻度を求める際に使用する距離範囲、又は指向性光の射出から受光までの時間範囲を定め、定めた距離範囲又は時間範囲の範囲内で最終的な距離を導出することができる。

本発明の第７の態様に係る測距装置は、本発明の第６の態様において、導出部は、距離を導出する場合に、距離範囲又は時間範囲を定めた結果に応じて定まる分解能で最終的な距離を導出することができる。

本発明の第８の態様に係る測距装置は、本発明の第１の態様から第７の態様のいずれか１つにおいて、射出部は、指向性光の射出強度が調整可能であり、合焦状態特定情報と被写体輝度又は露出状態特定情報との少なくとも一方に基づいて射出強度を調整して指向性光を射出することができる。

本発明の第９の態様に係る測距装置は、本発明の第８の態様において、射出部は、合焦状態特定情報により示される焦点距離が短いほど射出強度を小さくすることができる。

本発明の第１０の態様に係る測距装置は、本発明の第８の態様又は第９の態様において、射出部は、被写体輝度が低いほど射出強度を小さくし、露出状態特定情報により示される露出が高いほど射出強度を小さくすることができる。

本発明の第１１の態様に係る測距装置は、本発明の第１の態様から第１０の態様のいずれか１つにおいて、受光部は、受光感度が調整可能であり、合焦状態特定情報に基づいて受光感度を調整して反射光を受光することができる。

本発明の第１２の態様に係る測距装置は、本発明の第１１の態様において、受光部は、合焦状態特定情報により示される焦点距離が短いほど受光感度を下げることができる。

本発明の第１３の態様に係る測距装置は、本発明の第１の態様から第１２の態様のいずれか１つにおいて、画像を表示する表示部を更に含み、制御部は、表示部に対して、撮影部により撮影されて得られた動画像を表示させ、かつ、導出部により導出された被写体までの距離に関する情報を表示させる制御を行うことができる。

本発明の第１４の態様に係る測距装置では、本発明の第１の態様から第１３の態様の何れか１つにおいて、射出部、受光部、及び導出部による測距は、被写体輝度又は露出状態特定情報に応じて予め定めた回数行う。これにより、本発明の第１４の態様に係る測距装置は、被写体輝度に拘わらず指向性光の発光回数が固定化されている場合に比べ、環境光のノイズの影響が緩和された測距結果を得ることができる。

本発明の第１５の態様に係る測距装置では、本発明の第１４の態様において、射出部、受光部、及び導出部による測距は、被写体輝度が高いほど又は露出状態特定情報により示される露出が低いほど多く行う。これにより、本発明の第１５の態様に係る測距装置は、被写体輝度が高くなっているにも拘わらず指向性光の発光回数が固定化されている場合に比べ、環境光のノイズの影響が緩和された測距結果を得ることができる。

本発明の第１６の態様に係る測距装置では、本発明の第１の態様から第１５の態様の何れか１つにおいて、導出部によって導出された距離を記憶する記憶部を更に含み、導出部によって距離の導出が不可能な場合、記憶部による記憶を中止する。これにより、本発明の第１６の態様に係る測距装置は、不完全な距離データの記憶を防止することができる。

本発明の第１７の態様に係る測距装置では、本発明の第１６の態様において、導出部による距離の導出が不可能な場合に記憶部による記憶を中止するか否かを設定する記憶設定部を更に含む。これにより、本発明の第１７の態様に係る測距装置は、距離の導出が不可能な場合に記憶部への記憶を行うか否かをユーザの意思に応じて設定することができる。

本発明の第１８の態様に係る測距装置では、本発明の第１の態様から第１７の態様の何れか１つにおいて、導出部は、結像光学系の被写体への焦点調整を行う焦点調整部による焦点調整エラー、及び撮影部が撮影する場合の露出を調整する露出調整部による露出調整エラーがない場合に、距離を導出する。これにより、本発明の第１８の態様に係る測距装置は、合焦及び露出調整された画像と共に測距結果を得ることができる。

本発明の第１９の態様に係る測距方法は、指向性のある光である指向性光を発光させて被写体を示す被写体像を結像する結像光学系の光軸方向に沿って指向性光を射出する射出部により指向性光が射出されたタイミング、及び指向性光の被写体からの反射光を受光する受光部により反射光が受光されたタイミングに基づいて被写体までの距離を導出する測距を行い、測距を行う場合は、被写体像のぶれであって、結像光学系の光軸の変動に伴って生じるぶれの補正であるぶれ補正を行わないか、または予め定められた通常の補正量より少ない補正量でぶれ補正を行い、測距を行わない場合は通常の補正量でぶれ補正を行う制御をぶれ補正部に行うことを含む。

本発明の第２０の態様に係る測距プログラムは、コンピュータに、指向性のある光である指向性光を発光させて被写体を示す被写体像を結像する結像光学系の光軸方向に沿って指向性光を射出する射出部により指向性光が射出されたタイミング、及び指向性光の被写体からの反射光を受光する受光部により反射光が受光されたタイミングに基づいて被写体までの距離を導出する測距を行い、測距を行う場合は、被写体像のぶれであって、結像光学系の光軸の変動に伴って生じるぶれの補正であるぶれ補正を行わないか、または予め定められた通常の補正量より少ない補正量でぶれ補正を行い、測距を行わない場合は通常の補正量でぶれ補正を行う制御をぶれ補正部に行うことを含む処理を実行させるためのものである。

本発明の一つの実施形態によれば、ぶれ補正に起因する測距精度の低下を抑制することができる、という効果が得られる。

本実施の形態に係る測距装置の要部の構成の一例を示すブロック図である。 本実施の形態に係る測距装置における被写体までの距離を計測する測距動作のタイミングの一例を示すタイミングチャートである。 第１の実施の形態の測距装置において１回の計測における発光から受光までのタイミングの一例を表すタイミングチャートである。 被写体までの距離を横軸、計測回数を縦軸とした場合の計測値のヒストグラムの一例を示すグラフである。 本実施の形態に係る測距装置の主制御部で実行される制御処理の流れの一例を表すフローチャートである。 本実施の形態に係る測距装置における撮影動作及び測距動作のタイミングを表すタイミングチャートの一例である。 本実施の形態に係る測距装置の測距制御部で実行される測距処理の流れの一例を表すフローチャートである 本実施の形態に係る測距装置の主制御部で実行される制御処理の流れのその他の一例を表すフローチャートである。 本実施の形態に係る測距装置の主制御部で実行される制御処理の流れのその他の一例を表すフローチャートである。 ビューファインダーのライブビュー画像に重畳して表示される照射位置を表すマーカを説明するための図である。 ビューファインダーのライブビュー画像に重畳して表示される照射位置を表すマーカであって、大きく表示されたマーカの一例を示す概念図である。 ビューファインダーのライブビュー画像に重畳して表示される照射位置を表すマーカであって、小さく表示されたマーカの一例を示す概念図である。 実施形態に係る測距装置において得られるヒストグラムの変形例であって、ＡＦに基づく被写体距離範囲以外の計測結果を用いずに被写体までの距離を導出する例を説明するための図である。 実施形態に係る測距装置において得られるヒストグラムの変形例であって、ＡＦに基づく被写体距離未満の距離の計測値を用いずに被写体までの距離を導出する例を説明するための図である。 実施形態に係る測距装置において得られるヒストグラムの変形例であって、ＡＦに基づく被写体距離より長い距離の計測値を用いずに被写体までの距離を導出する例を説明するための図である。 ＡＦ結果やＡＥ結果に、基づくレーザ光の射出強度やフォトダイオードの受光感度の調整を説明するための説明図である。 本実施の形態に係る測距装置における撮影動作及び測距動作のタイミングを表すタイミングチャートのその他の一例である。 発光回数決定テーブルの構成の一例を示す概念図である。 輝度情報送信処理の流れの一例を示すフローチャートである。 発光回数決定処理の流れの一例を示すフローチャートである。 発光回数決定テーブルの構成の他の例を示す概念図である。 露出状態特定情報送信処理の流れの他の例を示すフローチャートである。 発光回数決定処理の流れの他の例を示すフローチャートである。

以下、添付図面に従って本開示の技術に係る測距装置の実施形態の一例について説明する。なお、本実施形態において、「測距」とは、計測対象となる被写体までの距離を計測することを指す。

まず、本実施の形態に係る測距装置の構成について説明する。図１は、本実施の形態に係る測距装置１０の要部の構成の一例を示すブロック図である。

本実施の形態の測距装置１０は、測距する機能と、被写体を撮影した撮影画像を生成する機能とを有する。本実施の形態の測距装置１０は、制御部２０、発光用レンズ３０、レーザダイオード３２、受光用レンズ３４、フォトダイオード３６、結像光学系４０、撮像素子４２、操作部４４、ビューファインダー４６、及び記憶部４８を備える。

制御部２０は、タイムカウンタ２２、測距制御部２４、及び主制御部２６を備える。タイムカウンタ２２は、測距制御部２４を介して主制御部２６から入力された信号（例えば、クロックパルス）に応じて予め定められた一定周期毎にカウント信号を発生させる機能を有する。

測距制御部２４は、主制御部２６の制御に応じて、測距する機能を有する。本実施の形態の測距制御部２４は、タイムカウンタ２２で発生したカウント信号に応じたタイミングで、レーザダイオード３２の駆動を制御して測距を行う。測距制御部２４が、本開示の技術に係る導出部として機能する。測距制御部２４の具体的な実現例としては、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）やＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）等が挙げられる。また、本実施の形態の測距制御部２４は、記憶部（図示省略）を有している。測距制御部２４が有する記憶部の具体例としては、ＲＯＭ（Read Only Memory）等の不揮発性の記憶部や、ＲＡＭ（Random Access Memory）等の揮発性の記憶部が挙げられる。

主制御部２６は、測距装置１０全体を制御する機能を有する。また、本実施の形態の主制御部２６は、結像光学系４０及び撮像素子４２を制御して被写体を撮影し、撮影画像（被写体像）を生成する機能を有する。主制御部２６が本開示の技術に係る制御部、ぶれ補正部、輝度検出部、焦点調整部、及び露出調整部として機能する。主制御部２６の具体例としては、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等が挙げられる。また、本実施の形態の測距制御部２４は、記憶部（図示省略）を有している。測距制御部２４が有する記憶部の具体例としては、ＲＯＭ等の不揮発性の記憶部や、ＲＡＭ等の揮発性の記憶部が挙げられる。ＲＯＭには、後述する制御のプログラムが予め記憶されている。

さらに、本実施の形態の主制御部２６は、ぶれの補正（ぶれ補正）を行う機能を有する。ここで、「ぶれ」とは、例えば、ユーザの手の振動が伝達されることにより測距装置１０が振動する現象（手ぶれ）や、車両（図示省略）に搭載された測距装置１０に対して車両の振動が伝達されることにより測距装置１０が振動する現象などに伴って発生する像ぶれや画像ぶれを指す。「像ぶれ」とは、例えば、結像光学系４０の光軸の変動に伴って被写体像が基準位置（例えば、手ぶれが発生していない状態で得られる被写体像の位置）からずれる現象を指す。また、「画像ぶれ」とは、例えば、撮影されて得られた画像が、手ぶれ等により、結像光学系４０の光軸の被写体に対する相対的な移動に伴って基準位置からずれる現象を指す。本実施の形態の主制御部２６は、いわゆるＣＣＤシフト方式のぶれ補正を行う。主制御部２６は、ぶれ検出部４３の検出結果に基づいて、ぶれが生じている場合に、撮像素子４２を移動させて、撮像素子４２に被写体像が結像するように調整することで、ぶれ補正を行う。なお、本実施の形態では、ぶれ補正を行うか否かは、ユーザが操作部４４を操作することにより選択することができる。なお、ぶれ補正の方式は、ＣＣＤシフト方式に限らず、その他の一般的な方式（例えば、結像光学系４０に含まれる防振レンズ（図示省略）をぶれ検出部４３の検出結果に応じて変動させるレンズシフト式ぶれ補正や、撮影されて得られた画像信号を加工することで画像ぶれを補正する電子式補正処理等）であってもよい。なお、本実施の形態において、「ぶれ補正」には、ぶれを無くすという意味の他に、ぶれを低減するという意味も含まれる。

なお、制御処理のプログラムは、必ずしも最初から主制御部２６に記憶させておく必要はない。例えば、ＳＳＤ（Solid State Drive）、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ、光磁気ディスク、及びＩＣカード等の任意の可搬型の記憶媒体に先ずは制御プログラムを記憶させておいてもよい。そして、制御プログラムを記憶させておいた可搬型の記憶媒体から測距装置１０が制御プログラムを取得して主制御部２６等に記憶するようにしてもよい。また、インターネットやＬＡＮ（Local Area Network）などを介して他の外部装置から制御プログラムを測距装置１０が取得して、主制御部２６等に記憶するようにしてもよい。

操作部４４は、測距装置１０に対して各種指示を与える際にユーザによって操作されるユーザインタフェースである。操作部４４は、レリーズボタン、測距指示ボタン、及び各種指示をユーザが与える際に用いられるボタンやキー等（いずれも図示省略）を含む。操作部４４によって受け付けられた各種指示は操作信号として主制御部２６に出力され、主制御部２６は、操作部４４から入力された操作信号に応じた処理を実行する。操作部４４は、本開示の技術に係る受付部の一例である。

ぶれ検出部４３は、ぶれを検出する機能を有しており、例えば、ジャイロセンサ等のセンサを備えている。

操作部４４のレリーズボタンは、撮影準備指示状態と撮影指示状態との２段階の押圧操作を検出する。撮影準備指示状態とは、例えば待機位置から中間位置（半押し位置）まで押下される状態を指し、撮影指示状態とは、中間位置を超えた最終押下位置（全押し位置）まで押下される状態を指す。なお、以下では、「待機位置から半押し位置まで押下される状態」を「半押し状態」といい、「待機位置から全押し位置まで押下される状態」を「全押し状態」という。

本実施の形態に係る測距装置１０では、マニュアルフォーカスモードとオートフォーカスモードとがユーザの指示に応じて選択的に設定される。オートフォーカスモードでは、操作部４４のレリーズボタンを半押し状態にすることにより撮影条件の調整が行われ、その後、引き続き全押し状態にすると露光（撮影）が行われる。つまり、操作部４４のレリーズボタンを半押し状態にすることによりＡＥ（Automatic Exposure）機能が働いて露出調整が行われた後、ＡＦ（Auto-Focus）機能が働いて合焦制御され、レリーズボタンを全押し状態にすると撮影が行われる。

なお、本実施形態において、主制御部２６は、ＡＥが行われることによって得られた結果である現時点の露出状態を特定する露出状態特定情報を測距制御部２４に送信する。また、主制御部２６は、ＡＦが行われることによって得られた結果である現時点の合焦状態を特定する合焦状態特定情報を測距制御部２４に送信する。なお、露出状態特定情報の一例としては、被写体輝度に応じて一意に定まる所謂ＡＥ評価値から導出されるＦ値及びシャッタスピードが挙げられる。また、露出状態特定情報の他の例としては、ＡＥ評価値が挙げられる。また、合焦状態特定情報の一例としては、ＡＦにより得られる被写体距離が挙げられる。

記憶部４８は、主として撮影によって得られた画像データが記憶されるものであり、不揮発性のメモリが用いられる。記憶部４８の具体例としては、フラッシュメモリやＨＤＤ（Hard Disk Drive）が挙げられる。

ビューファインダー４６は、画像及び文字情報等を表示する機能を有する。本実施の形態のビューファインダー４６は、電子ビューファインダー（以下、「ＥＶＦ」という）であり、撮影時に連続フレームで撮影されて得られた連続フレーム画像の一例であるライブビュー画像（スルー画像）の表示に用いられる。また、ビューファインダー４６は、静止画撮影の指示が与えられた場合に単一フレームで撮影されて得られた単一フレーム画像の一例である静止画像の表示にも用いられる。更に、ビューファインダー４６は、再生モード時の再生画像の表示やメニュー画面等の表示にも用いられる。

結像光学系４０は、フォーカスレンズを含む撮影レンズ、モータ、スライド機構、及びシャッタ（いずれも図示省略）を備えている。スライド機構は、フォーカスレンズを結像光学系４０の光軸方向（図示省略）に沿って移動させる。スライド機構には光軸方向に沿ってスライド可能にフォーカスレンズが取り付けられている。また、スライド機構にはモータが接続されており、スライド機構は、モータの動力を受けてフォーカスレンズを光軸方向に沿ってスライドさせる。モータは、制御部２０の主制御部２６に接続されており、主制御部２６からの命令に従って駆動が制御される。なお、本実施の形態の測距装置１０では、モータの具体例として、ステッピングモータを適用している。従って、モータは、主制御部２６からの命令によりパルス電力に同期して動作する。

本実施の形態に係る測距装置１０では、オートフォーカスモード時に、主制御部２６が、撮像素子４２による撮像によって得られた画像のコントラスト値が最大となるように結像光学系４０のモータを駆動制御することによって合焦制御を行う。また、オートフォーカスモード時に、主制御部２６は、撮像によって得られた画像の明るさを示す物理量であるＡＥ情報を算出する。主制御部２６は、操作部４４のレリーズボタンが半押し状態とされたときには、ＡＥ情報により示される画像の明るさに応じたシャッタスピード及びＦ値（絞り値）を導出する。そして、主制御部２６は、導出したシャッタスピード及びＦ値となるように関係各部を制御することによって露出調整を行う。

撮像素子４２は、カラーフィルタ（図示省略）を備えた撮像素子であり、本開示の技術に係る撮影部として機能する。本実施の形態では、撮像素子４２の一例としてＣＭＯＳ型のイメージセンサを用いている。なお、撮像素子４２は、ＣＭＯＳ型のイメージセンサに限らず、例えば、ＣＣＤイメージセンサでもよい。カラーフィルタは、輝度信号を得るために最も寄与するＧ（緑）に対応するＧフィルタ、Ｒ（赤）に対応するＲフィルタ、及びＢ（青）に対応するＢフィルタを含む。撮像素子４２の各画素（図示省略）には、カラーフィルタに含まれる“Ｒ”、“Ｇ”、及び“Ｂ”の何れかのフィルタが割り当てられている。

被写体を撮影する場合、被写体を示す画像光は、結像光学系４０を介して撮像素子４２の受光面に結像される。撮像素子４２は、複数の画素（図示省略）が水平方向及び垂直方向にマトリクス状に配列されており、画像光に応じた信号電荷が撮像素子４２の画素に蓄積される。撮像素子４２の画素に蓄積された信号電荷は、主制御部２６の制御に基づいて信号電荷（電圧）に応じたデジタル信号として順次読み出される。なお、本実施の形態の測距装置１０では、水平方向毎に、すなわち、画素行毎に画素単位で信号電荷を順次読み出す。１行の画素行の画素から電荷を読み出した後、次の画素行の画素から電荷を読み出すまでの間に、信号電荷の読み出しを行わない期間（以下、「水平ブランキング期間」という）が生じる。

また、撮像素子４２は、いわゆる電子シャッタ機能を有しており、電子シャッタ機能を働かせることで、主制御部２６の制御に基づいたタイミングによって各フォトセンサの電荷蓄積時間（シャッタスピード）を制御する。

撮像素子４２は、各画素から撮影画像の画素値を示すデジタル信号を出力する。なお、各画素から出力される撮影画像は有彩色画像であり、例えば、画素の配列と同じカラー配列のカラー画像である。撮像素子４２から出力された撮影画像（フレーム）は、主制御部２６を介して主制御部２６内の記憶部または、記憶部４８の予め定められたＲＡＷ（生）画像記憶領域（図示省略）に一時記憶（上書き保存）される。

主制御部２６は、フレームに対して各種の画像処理を施す。主制御部２６は、ＷＢ（White Balance）ゲイン部、ガンマ補正部及び同時化処理部を有し（いずれも図示省略）、主制御部２６内等に一時記憶された元のデジタル信号（ＲＡＷ画像）に対して各処理部で順次信号処理を行う。すなわち、ＷＢゲイン部は、Ｒ，Ｇ，Ｂ信号のゲインを調整することによりホワイトバランス（ＷＢ）調整を実行する。ガンマ補正部は、ＷＢゲイン部でＷＢ調整が実行された各Ｒ，Ｇ，Ｂ信号をガンマ補正する。同時化処理部は、撮像素子４２のカラーフィルタの配列に対応した色補間処理を行い、同時化したＲ，Ｇ，Ｂ信号を生成する。なお、主制御部２６は、撮像素子４２により１画面分のＲＡＷ画像が取得される毎に、そのＲＡＷ画像に対して並列に画像処理を行う。

また、主制御部２６は、生成した記録用の撮影画像の画像データを、入力された信号を別の形式の信号に変換するエンコーダ（図示省略）に出力する。主制御部２６により処理されたＲ，Ｇ，Ｂ信号は、エンコーダにより記録用の信号に変換（エンコーディング）され、記憶部４８に記録される。また、主制御部２６により処理された表示用の撮影画像は、ビューファインダー４６に出力される。なお、以下では、説明の便宜上、上記の「記録用の撮影画像」及び「表示用の撮影画像」を区別して説明する必要がない場合は「記録用の」との文言及び「表示用の」との文言を省略して「撮影画像」と称する。

また、本実施の形態の主制御部２６は、表示用の撮影画像を動画像として連続して表示させる制御を行うことにより、ビューファインダー４６にライブビュー画像を表示する。

発光用レンズ３０及びレーザダイオード３２は、本開示の技術に係る射出部の一例として機能する。レーザダイオード３２は、測距制御部２４からの指示に基づいて駆動され、レーザ光を発光用レンズ３０を介して計測対象となる被写体へ向けて、結像光学系４０の光軸方向に射出する機能を有する。本実施の形態の発光用レンズ３０の具体例としては、対物レンズなどが挙げられる。なお、レーザダイオード３２により射出されるレーザ光は、本開示の技術に係る指向性光の一例である。

また、受光用レンズ３４及びフォトダイオード３６は、本開示の技術に係る受光部の一例として機能する。フォトダイオード３６は、レーザダイオード３２から射出され、被写体で反射されたレーザ光を受光用レンズ３４を介して受光し、受光量に応じた電気信号を測距制御部２４に出力する機能を有する。

操作部４４の測距指示ボタン等により、被写体までの距離を計測（測距）するようにユーザから指示がなされると、主制御部２６は、測距制御部２４に、測距を行うように指示する。具体的には、本実施の形態では、主制御部２６は、測距指示信号を測距制御部２４に送信することにより、測距制御部２４に対して測距を行うように指示する。また、主制御部２６は、被写体までの距離の計測及び被写体の撮影を並行して行う場合は、測距動作と撮影動作とを同期させるための同期信号を測距制御部２４に送信する。

同期信号及び測距指示信号を受信すると、測距制御部２４は、タイムカウンタ２２のカウント信号に応じたタイミングで、レーザダイオード３２の発光を制御することにより、被写体に向けてレーザ光を射出するタイミングを制御する。また、測距制御部２４は、タイムカウンタ２２のカウント信号に応じたタイミングで、フォトダイオード３６から出力された受光量に応じた電気信号をサンプリングする。

測距制御部２４は、レーザダイオード３２がレーザ光を発光した発光タイミングと、フォトダイオード３６がレーザ光を受光した受光タイミングとに基づいて、被写体までの距離を導出し、導出した距離を表す距離データを主制御部２６に出力する。主制御部２６は、距離データに基づいて、被写体までの距離に関する情報をビューファインダー４６に表示させる。また、主制御部２６は、距離データを記憶部４８に記憶させる。

測距制御部２４による被写体までの距離の計測についてさらに詳細に説明する。図２は、測距装置１０における被写体までの距離の計測における測距動作のタイミングの一例を示すタイミングチャートである。

本実施の形態の測距装置１０では、１回の測距（計測）シーケンスに、電圧調整期間、実計測期間、及び休止期間を含む。電圧調整期間とは、レーザダイオード３２及びフォトダイオード３６の駆動電圧を、適切な電圧値に調整する期間をいう。具体例として、本実施の形態の測距装置１０では、図２に示すように、電圧調整期間を数１００ｍｓｅｃ（ミリ秒）としている。

また、実計測期間とは、被写体までの距離を実際に計測する期間をいう。本実施の形態の測距装置１０では、具体例として、図２に示すように、レーザ光を発光（射出）させ、被写体で反射したレーザ光を受光する動作を数１００回繰り返し、発光（射出）から受光までの経過時間を計測することにより被写体までの距離を計測している。すなわち、本実施の形態の測距装置１０では、１回の計測シーケンスにおいて、被写体までの距離の計測を数１００回、行っている。

図３には、１回の計測における発光から受光までのタイミングを表すタイミングチャートの一例を示す。計測を行う場合、測距制御部２４は、タイムカウンタ２２のカウント信号に応じて、レーザダイオード３２を発光させるためのレーザトリガをレーザダイオード３２に出力する。レーザダイオード３２は、レーザトリガに応じて、発光する。本実施の形態の測距装置１０では、具体例として、レーザダイオード３２の発光時間を、数１０ｎｓｅｃ（ナノ秒）としている。発光したレーザ光は、発光用レンズ３０を介して被写体に向けて結像光学系４０の光軸方向に射出される。測距装置１０から射出されたレーザ光は、被写体で反射し、測距装置１０に到達する。測距装置１０のフォトダイオード３６は、受光用レンズ３４を介して、反射してきたレーザ光を受光する。

本実施の形態の測距装置１０では、具体例として、測距装置１０からの距離が１ｋｍ以内の被写体に対して測距を行う測距装置としている。レーザダイオード３２から発光用レンズ３０を介して１ｋｍ先の被写体に向けて射出したレーザ光が戻ってくる（受光する）までの時間は、１ｋｍ×２／光速≒数μｓｅｃ（マイクロ秒）となる。従って、１ｋｍ先の被写体までの距離を計測するためには、図２に示すように、少なくとも数μｓｅｃの時間を要する。

なお、本実施の形態の測距装置１０では、レーザ光の往復時間等を考慮し、具体例として、１回の実計測時間を図２に示すように数ｍｓｅｃとしている。なお、被写体までの距離により、レーザ光の往復時間は異なるため、測距装置１０が想定する距離に応じて、１回あたりの実計測時間を異ならせてもよい。

測距装置１０では、測距制御部２４が、上述のようにして数１００回計測した計測値に基づいて、被写体までの距離を導出する。本実施の形態の測距制御部２４では、具体的一例として、数１００回分の計測値のヒストグラムを解析して被写体までの距離を導出している。図４には、被写体までの距離を横軸、計測回数を縦軸とした場合の計測値のヒストグラムの一例を表したグラフを示す。測距制御部２４は、上記ヒストグラムにおいて、計測回数の最大値に対応する被写体までの距離を計測結果として導出し、導出した計測結果を示す距離データを主制御部２６に出力する。なお、被写体までの距離に代わり、レーザ光の往復時間（発光から受光までの経過時間）や、レーザ光の往復時間の１／２等に基づいてヒストグラムを生成するようにしてもよい。

また、休止期間とは、レーザダイオード３２及びフォトダイオード３６の駆動を休止させるための期間をいう。本実施の形態の測距装置１０では、具体例として、図２に示すように、休止期間を数１００ｍｓｅｃとしている。

さらに、本実施の形態の測距装置１０では、１回の計測期間を数１００ｍｓｅｃとしている。

一方、本実施の形態の測距装置１０の主制御部２６は、撮影を行わない場合は、上述したようにライブビュー画像をビューファインダー４６に表示する。主制御部２６は、数１０ｆｐｓ（数１０ｍｓｅｃ／画像）で撮影された撮影画像を動画像としてビューファインダー４６に表示することによりライブビュー画像の表示を行う。そのため、１回の計測期間の間に、計測期間／ｆｐｓ個のライブビュー画像がビューファインダー４６に表示されることになる。

次に本実施の形態の測距装置１０における撮影動作と測距動作とを同期させた場合の撮影動作及び測距動作について説明する。なお、以下では、具体例として、静止画像を撮影する撮影動作と測距動作とを同期させた場合の撮影動作及び測距動作について説明する。

まず、主制御部２６で実行される制御処理について説明する。図５には、本実施の形態の測距装置１０の主制御部２６で実行される制御処理の流れの一例を表すフローチャートを示す。また、図６には、撮影動作及び測距動作のタイミングを表すタイミングチャートの一例を示す。図５に示したフローチャートは、測距装置１０に電源が投入されると実行される。

まず、ステップ１００で、主制御部２６がライブビュー動作を開始する。上述したように、主制御部２６は、結像光学系４０及び撮像素子４２により撮影した撮影画像を動画像として連続して表示させる制御を行うことにより、ビューファインダー４６にライブビュー画像を表示させる。

次のステップ１０２では、主制御部２６が測距を行うか否かを判定する。

本実施の形態の測距装置１０では、主制御部２６により、上述したように、いわゆるＣＣＤシフト方式によりぶれ補正を行う。そのため、撮像素子４２を移動させてしまうため、被写体像の位置（結像位置）も移動してしまう。このように被写体像の位置が移動した状態で測距を行うと、測距箇所（レーザ光が反射する場所）と、撮影画像の中心位置とが異なってしまう場合がある。このような場合は、測距精度が低下する懸念がある。そのため、本実施の形態の測距装置１０では、測距動作及び撮影動作を並行して行う場合は、ぶれ補正を行わないよう主制御部２６が制御する。

測距を行うか否かは、操作部４４を介してユーザが測距を指示したか否か等により判定する。測距を行わない場合は、ステップ１３６へ進む。測距を行わない場合は、上述した問題は生じない。そのため、主制御部２６は、ぶれ補正有とする。これにより、主制御部２６は、ぶれ補正を行って被写体の撮影を行う。本ステップの後、ステップ１３８へ進み、主制御部２６により、被写体の撮影を行う。この場合の撮影は、測距を行わないため、通常の撮影動作（通常撮影）を行えばよい。具体的には詳細を後述するが、主制御部２６が、ステップ１０６〜１１２、及びステップ１１６〜１２０の処理を行い、撮影した撮影画像（撮影画像を示す画像データ）を記憶部４８に記憶させればよい。

一方、測距を行う場合、すなわち被写体の撮影と、被写体までの距離の測距との両方を行う場合は、ステップ１０４へ進む。ステップ１０４では、ぶれ補正無とする。これにより、主制御部２６は、ぶれ補正を行わずに、被写体の撮影を行う。

次のステップ１０６で、主制御部２６が、操作部４４のレリーズボタンが半押しされたか否かを判断する。半押しされていない場合、例えば、レリーズボタンが全く押されていない場合等は、ステップ１４０へ進む。一方、半押しされている場合は、ステップ１０８へ進む。

ステップ１０８で、主制御部２６は、結像光学系４０を制御し、上述したようにＡＥ及びＡＦを行う。測距装置１０では、ＡＥを行うことにより、露出調整が行われ、ＡＦを行うことにより合焦制御され、被写体を示す画像光が撮像素子４２の受光面に合焦状態で結像される。

次のステップ１１０で、主制御部２６が、操作部４４のレリーズボタンが全押しされたか否かを判断する。全押しされていない場合は、ステップ１１０へ進む。ステップ１１０では、主制御部２６が、操作部４４のレリーズボタンへの押圧操作が解除されたか否かを判断する。押圧が解除されていない場合は、ステップ１０８に戻り、本処理を繰り返す。一方、押圧が解除された場合は、ステップ１４０へ進む。

また一方、レリーズボタンが全押しされている場合は、ステップ１１０からステップ１１４へ進む。ステップ１１４で、主制御部２６が、同期信号を測距制御部２４に送信する。このように、本実施の形態の測距装置１０では、主制御部２６による撮影動作と、測距制御部２４による測距動作とを同期させるために、撮影（撮像素子４２への本露光）の開始に先だって、同期信号が主制御部２６から測距制御部２４に送信される。詳細は後述するが、測距制御部２４では、同期信号を受信すると測距動作（被写体までの距離の計測）を開始する。

次のステップ１１６で、主制御部２６は、本露光（撮影）を開始させる。本露光が開始されることにより、撮像素子４２の画素に光が照射され（画像光が撮像素子４２の受光面に結像され）、各画素には、照射された光に応じた信号電荷が蓄積される。

次のステップ１１８で、主制御部２６は、本露光が終了したか否かを検出する。本露光が終了するまで待機状態となり、本露光が終了した場合は、ステップ１２０へ進む。なお、本露光が終了したか否かの判断方法は限定されないが、具体例としては、種々の条件により定められた本露光時間が経過したか否かを判定することにより判断する方法が挙げられる。

ステップ１２０で、主制御部２６は、撮像素子４２の各画素に蓄積された信号電荷の読み出しを開始する。また、次のステップ１２２で、主制御部２６は、読み出しが開始したことを示す読出開始信号を測距制御部２４に出力する。

各画素から読み出された信号電荷は、信号電荷に応じたデジタル信号である電気信号（画像信号）として、主制御部２６に送信される。

次のステップ１２４で、主制御部２６は、水平ブランキング期間であるか否かを判断する。上述したように、撮像素子４２の画素から信号電荷を読み出す場合、画素行毎に、画素単位で読み出すため、画素行と、画素行との間に、信号電荷の読み出しを行わない水平ブランキング期間が生じる。主制御部２６は、水平ブランキング期間であるか否かを判断し、水平ブランキング期間ではない場合、例えば、一画素行の画素から信号電荷を読み出している間は、ステップ１２８へ進む。一方、水平ブランキング期間の場合は、ステップ１２６へ進む。ステップ１２６で、主制御部２６は、発光指示信号を測距制御部２４に送信する。測距制御部２４では、詳細を後述するが、発光指示信号を受信すると、受信した発光指示信号に基づいて、レーザダイオード３２を発光させる。

次のステップ１２８で、主制御部２６は、読み出しを終了するか否かを判断する。撮像素子４２の全ての画素から未だ信号電荷を読み出していない場合は、ステップ１２４に戻り、本処理を繰り返す。一方、撮像素子４２の全ての画素から信号電荷を読み出した場合は、ステップ１３０へ進む。

ステップ１３０で、主制御部２６は、測距制御部２４に読み出しが終了したことを示す読出終了信号を送信する。

次のステップ１３２で、主制御部２６は、距離データを受信したか否かを判断する。測距制御部２４は、詳細を後述するが、被写体までの距離を計測（測距）すると、計測結果を示す距離データを主制御部２６に送信する。測距制御部２４が送信した距離データを受信するまで待機状態となり、距離データを受信した場合は、ステップ１３４へ進む。

ステップ１３４では、主制御部２６が、受信した距離データに基づいて、被写体までの距離に関する情報をビューファインダー４６に表示する。また、主制御部２６は、受信した距離データを撮影した撮影画像に対応付けて記憶部４８に記憶する。本ステップにより、被写体を撮影した撮影画像（撮影画像を示す画像データ）と、被写体までの距離（距離データ）とが、対応付けられた状態で記憶部４８に記憶される。

次のステップ１４０で、主制御部２６は、図示を省略した電源スイッチがオフされたか否かを判定する。スイッチがオフされていない場合は、ステップ１０６に戻り、本処理を繰り返す。一方、電源スイッチがオフされた場合、ステップ１４２へ進む。

ステップ１４２では、主制御部２６が、ライブビュー動作を停止させた後、本処理を終了する。また、主制御部２６は、測距装置１０の電源をオフにする。

次に、測距制御部２４で実行される測距処理について説明する。図７には、本実施の形態の測距装置１０の測距制御部２４で実行される測距処理の流れの一例を表すフローチャートを示す。

図７に示したフローチャートは、測距装置１０に電源が投入されると実行される。

まず、ステップ２００では、測距制御部２４が、同期信号を受信したか否かを判断する。具体的には、測距制御部２４は、上述した主制御部２６における制御処理のステップ１１４で主制御部２６から送信された同期信号を受信したか否かを判断する。同期信号を受信するまで待機状態になり、同期信号を受信するとステップ２０２へ進む。

ステップ２０２では、測距制御部２４は、図６に示した電圧調整期間に移行して、レーザダイオード３２及びフォトダイオード３６の駆動電圧の電圧調整を行う。

次のステップ２０４では、測距制御部２４が、電圧調整が終了したか否かを判断する。本実施の形態では、上述したように、また、図６にも示したように、電圧調整期間を数１００ｍｓｅｃとしている。そのため、測距制御部２４は、電圧調整期間に移行してから、数１００ｍｓｅｃが経過した場合は、電圧調整が終了したと判断する。従って、測距制御部２４は、電圧調整期間に移行してから数１００ｍｓｅｃが経過するまでは、電圧調整が終了していないとして待機状態となり、数１００ｍｓｅｃが経過した場合は、電圧調整が終了したものとしてステップ２０６へ進む。

ステップ２０６では、測距制御部２４は、実計測期間に移行して、被写体までの距離の計測を開始する。

次のステップ２０８では、測距制御部２４が、読出開始信号を受信したか否かを判断する。具体的には、測距制御部２４は、上述した主制御部２６における制御処理のステップ１２２で主制御部２６から送信された読出開始信号を受信したか否かを判断する。

そのため、本実施の形態の測距装置１０の測距制御部２４では、読出期間では、画素から電荷信号を読み出していない期間である、上述した水平ブランキング期間にレーザダイオード３２を発光させるよう制御する。すなわち、測距制御部２４は、読出期間では、撮影動作に同期してレーザダイオード３２を発光する制御を行う。

一方、読出期間外では、上述したように電圧変動に起因するノイズの重畳が問題とならないため、撮影動作に同期してレーザダイオード３２を発光させなくてもよく、上述したように、各計測に応じて数ｍｓｅｃ毎に発光させればよい。以下、読出期間外における測距制御部２４による制御を「通常制御」という。

そのため、本実施の形態の測距装置１０の測距制御部２４では、読出期間と読出期間外とで、被写体までの距離の計測における制御が異なる。

ステップ２０８で 測距制御部２４が、読出開始信号を受信していない場合は、通常制御を行うため、ステップ２１６へ進む。一方、測距制御部２４が読出開始信号を受信した場合は、ステップ２１０へ進む。

ステップ２１０では、測距制御部２４が、読出終了信号を受信したか否かを判断する。

具体的には、測距制御部２４は、上述した主制御部２６における制御処理のステップ１３０で主制御部２６から送信された読出終了信号を受信したか否かを判断する。

測距制御部２４が読出終了信号を受信した場合は、以降の期間は、通常制御を行うため、ステップ２１６へ進む。一方、測距制御部２４が読出終了信号を受信していない場合は、ステップ２１２へ進む。

ステップ２１２では、測距制御部２４が発光指示信号を受信したか否かを判断する。具体的には、測距制御部２４は、上述した主制御部２６における制御処理のステップ１２６で主制御部２６から送信された発光指示信号を受信したか否かを判断する。

測距制御部２４が発光指示信号を受信していない場合、すなわち、読出期間中であり、未だ水平ブランキング期間ではない場合は、待機状態になる。一方、測距制御部２４が発光指示信号を受信した場合は、ステップ２１４へ進む。ステップＳ２１４では、計測中であるか否かを判断する。本実施の形態の測距装置１０では、１回の計測時間（上述した具体例では数ｍｓｅｃ）に対し、水平ブランキング期間から水平ブランキング期間までの間隔（１画素行の画素からの電荷信号の読み出し時間）が短い。そのため、まだ、計測が終了していないうちに、次の水平ブランキング期間に至り、発光指示信号が主制御部２６から測距制御部２４に送信される場合がある。本実施の形態の測距制御部２４では、このように計測中に発光指示信号を受信した場合は、受信した発光指示信号を無視することにより、レーザダイオード３２を発光させない。そのため、計測中である場合は、ステップ２２６へ進む。一方、計測中ではない場合は、ステップ２１６へ進む。

ステップ２１６では、測距制御部２４が、レーザダイオード３２を発光させる。次のステップ２１８では、測距制御部２４が所定時間が経過したか否かを判断する。具体的には、測距制御部２４は、上述したように、１回の計測時間を数ｍｓｅｃとしているため、数ｍｓｅｃが経過したか否かを判断する。所定時間（本実施の形態では、１回の計測時間である数ｍｓｅｃ）が経過していない場合は、待機状態となり、所定時間が経過した場合は、ステップ２２０へ進む。

ステップ２１６の処理によってレーザダイオード３２が発光することによりレーザ光が発光用レンズ３０を介して被写体に向けて射出される。上記所定時間が経過するまでに、被写体で反射したレーザ光は、受光用レンズ３４を介してフォトダイオード３６により受光される。ここで、測距制御部２４は、フォトダイオード３６により、受光した場合は、発光から受光までの経過時間を取得し、記憶部（例えば、測距制御部２４内のＲＡＭ等）に記憶させておく。

一方、例えば、被写体が動いてしまった場合等では、レーザ光の発光から受光までの経過時間が１回当たりの実計測時間である数ｍｓｅｃを超えてしまったり、レーザ光が戻ってこなかったり（反射光を受光しなかったり）する場合がある。このような場合は、計測エラーとなる。なお、計測エラーが生じた場合は、測距制御部２４は、その旨を記憶部（例えば、測距制御部２４内のＲＡＭ等）に記憶させておき、計測エラーが生じた回数等に応じ、例えば、ヒストグラムを用いて被写体までの距離を導出する上で無視できないほどの回数であれば、計測エラーが生じたことをビューファインダー４６等に表示するようにしてもよい。なお、このように計測エラーが生じた場合には、主制御部２６が撮影画像を記憶部４８に記憶させないようにしてもよい。この場合に、撮影画像を記憶するか否かをユーザが操作部４４（本開示の技術に係る記憶設定部の一例）を介して設定できるようにしてもよい。

次のステップ２２０では、測距制御部２４が所定回数の計測を終了したか否かを判定する。所定回数の計測が終了していない場合は、ステップ２０８に戻り、計測を繰り返す。一方、所定回数の計測が終了した場合は、ステップ２２２へ進む。

ステップ２２２では、ステップ２１６の処理によって、フォトダイオード３６がレーザ光を発光してから、フォトダイオード３６がレーザ光を受光するまでの時間に基づいて、被写体までの距離を導出する。そして、測距制御部２４は、一例として、図４に示すように、被写体までの距離のヒストグラムを、生成し、ヒストグラムから、計測回数の最大値に対応する被写体までの距離を計測結果として導出する。なお、レーザ光の往復時間等、時間に関するヒストグラムを生成した場合は、まず、計測回数の最大値に対応する時間を導出し、導出した時間に基づいて、被写体までの距離を導出すればよい。例えば、レーザ光の往復時間に関するヒストグラムの場合は、計測回数の最大値に対応するレーザ光の往復時間の１／２×光速により被写体までの距離を導出すればよい。

次のステップＳ２２４は、測距制御部２４は、ステップ２２２で導出した距離を示す距離データを、主制御部２６に送信した後、ステップ２２６へ進む。

ステップ２２６は、測距制御部２４は、本測距処理を終了するか否かを判定する。例えば、主制御部２６が、電源スイッチがオフされたと判定した場合等、予め定められた終了条件を満たした場合は、本測距処理を終了する。一方、終了条件が満たされない場合は、ステップ２００に戻り、本測距処理を繰り返す。

以上説明したように本実施の形態の測距装置１０では、撮影動作と測距動作とを並行して行う場合、主制御部２６が、ぶれ補正を行わないように制御する。また、撮影動作のみを行う場合は、ぶれ補正を行うように制御する。

このように、本実施の形態の測距装置１０の主制御部２６は、測距中はぶれ補正を行わないため、撮像素子４２に結像する画像の中心位置と、レーザダイオード３２によるレーザ光の照射位置とがずれることがなくなる。従って、本実施の形態の測距装置１０によれば、ぶれ補正に起因する測距精度の低下を抑制することができる。

なお、本実施の形態では、撮影動作と測距動作とを並行して行う場合は、主制御部２６が、ぶれ補正を行わないように制御する場合について説明したがこれに限らず、ぶれ補正量を、通常撮影を行う場合よりも少なくするようにしてもよい。この場合の制御処理を説明するためのフローチャートを図８に示す。この場合の制御処理は、図５に示した制御処理のステップ１０４に代わりステップ１０３を設けるとともに、ステップ１３６に代わりステップ１３７を設ければよい。なお、図８では、以降の処理については、図５に示した制御処理と同様であるため、記載を省略している。

図８に示した制御処理では、主制御部２６は、測距を行わない場合は、ステップ１３７へ進み、ぶれ補正量Ａにより、ぶれ補正を行った後、ステップ１３８へ進んで通常撮影を行う。ぶれ補正量Ａとは、通常の撮影を行う場合のぶれ補正量であり、被写体の画像を適切に撮影するための補正量である。

一方、主制御部２６は、測距を行う場合は、ステップ１０３へ進み、ぶれ補正量Ｂによりぶれ補正を行った後、ステップ１０６へ進んで測距動作と並行した撮影動作を行う。ぶれ補正量Ｂとは、ぶれ補正量Ａより少ない補正量である。補正量Ｂは、測距精度の低下と、撮影画像の画像品質とに応じて定めればよく、例えば、測距の精度への影響を考慮して予め実験等により得ておけばよい。

なお、測距動作中にぶれ補正を行う場合は、上述したように、レーザ光の照射位置が移動してしまう。そのため、照射位置をビューファインダー４６に表示するようにしてもよい。この場合の制御処理を説明するためのフローチャートを図９に示す。図９に示した制御処理は、図８に示した制御処理のステップ１０３とステップ１０６との間にステップ１０５が設けられている。主撮影動作と測距動作とを並行して行う場合は、主制御部２６は、ぶれ補正量をぶれ補正量Ｂとした後、ステップ１０５で、照射位置を表すマーカをビューファインダー４６に表示しているライブビュー画像に重畳して表示させる。図１０には、マーカ９０の表示例を示す。図１０Ａに示すように、マーカ９０をビューファインダー４６に表示しているライブビュー画像に重畳して表示させる。なお、ぶれ量に応じて、表示するマーカ９０の大きさを異ならせてもよい。主制御部２６は、ぶれ検出部４３の検出結果に基づいてぶれ量を計算し、ぶれ量が多い場合は、図１０Ｂに示すように、マーカ９０を大きく表示し、ぶれ量が少ない場合は、図１０Ｃに示すように、マーカ９０を小さく表示するようにしてもよい。

なお、本実施の形態では、静止画像を撮影する場合の撮影動作について説明したが、動画像を撮影するばあいについても、本実施の形態と同様に主制御部２６が、ぶれ補正を制御するようにしてもよい。また、ライブビュー画像を表示する場合に、ぶれ補正を行う場合は、主制御部２６は、撮影動作にかかわらず、本実施の形態と同様に、ぶれ補正を制御するようにしてもよい。

なお、本実施の形態では、測距制御部２４が、水平ブランキング期間にレーザダイオード３２を発光させる制御を行っているがレーザダイオード３２を発光させるタイミングは、画像信号の読み出し状態への影響の度合いが予め定められた許容度合い以下となる期間であればよい。ここで、影響の度合いが予め定められた許容度合いとは、例えば、ユーザが撮影画像を視認した場合に、問題とならない（気付かない）程度の画像の乱れが生じる場合は許容範囲内とすること等が挙げられる。また、水平ブランキング期間ではなく、電荷の読み出しにおけるフレーム間において電荷の読み出しを行わない期間（いわゆる垂直ブランキング期間等）にレーザダイオード３２を発光させるようにしてもよい。

なお、測距制御部２４による測距動作と、主制御部２６による撮影動作を同期させる方法として、タイムカウンタ２２のクロック信号を主制御部２６で制御するようにしてもよい。

なお、本実施の形態では、測距制御部２４は、レーザ光の射出及び受光による計測を複数回（例えば、数１００回）行って、被写体までの距離を導出する例を説明したが、距離の導出の際に、焦点調整結果を用いるようにしてもよい。例えば、レーザ光の射出及び受光による複数の計測結果から生成されるヒストグラム（図４）を解析する際に、ＡＦ結果から被写体までの距離の距離範囲（被写体距離及びその近傍の範囲）が分かる。そこで、図１１Ａに示すように、ＡＦに基づく被写体距離範囲以外の計測結果（図１１Ａの斜線部分）は使用せず、ＡＦに基づく被写体距離範囲の計測結果のみを用いて被写体までの距離を導出するようにしてもよい。これにより、距離範囲が定まると、分解能が一意に定まるため、全ての計測値を用いるよりも頻度を求める際の距離範囲の分解能を高くすることができ、綿密な数値単位で被写体までの距離を導出することができる。図１１Ａの例では、ＡＦに基づく被写体距離範囲より短い距離及び長い距離の計測値を共に使用しない例を示すが、何れか一方のみを使用しないようにしてもよい。すなわち、ＡＦに基づく被写体距離未満の距離の計測値（図１１Ｂの斜線部分）、またはＡＦに基づく被写体距離より長い距離の計測値（図１１Ｃの斜線部分）は使用せずに、被写体までの距離を導出するようにしてもよい。また、ＡＦの代わりにマニュアルフォーカスモードにおいて手動で焦点調整した結果を用いるようにしてもよい。

また、本実施の形態において、測距制御部２４が測距を行う場合、図１２に示すように主制御部２６からＡＦ結果（又は手動の焦点調整結果）を特定する合焦状態特定情報やＡＥ結果を特定する露出状態特定情報を取得し、取得した合焦状態特定情報及び露出状態特定情報に基づいてレーザダイオード３２及びフォトダイオード３６の少なくとも一方を駆動調整してもよい。すなわち、焦点調整結果（焦点距離）から大体の被写体までの距離が分かるので、ＡＦ結果を特定する合焦状態特定情報に基づいてレーザダイオード３２から射出されるレーザ光の射出強度を調整するようにしてもよい。例えば、焦点距離が短いほど射出強度を小さくする。これにより、環境光がノイズとなるが、環境光のノイズに影響されない適正なレーザ光の射出強度で被写体までの距離を導出することができる。同様に、焦点調整結果から大体の被写体までの距離が分かるので、ＡＦ結果を特定する合焦状態特定情報に基づいてフォトダイオード３６の受光感度を調整するようにしてもよい。例えば、焦点距離が短いほど受光感度を下げる。これにより、環境光のノイズに影響されない適正な受光感度で被写体までの距離を導出することができる。或いは、露出調整結果からレーザ光の必要な強度が分かるので、ＡＥ結果を特定する露出状態特定情報に基づいてレーザ光の射出強度を調整するようにしてもよい。例えば、露出が高いほど射出強度を小さくする。或いは、露出が高くなるということは被写体輝度が低くなることを意味するので、被写体輝度が低いほど射出強度を小さくしてもよい。これにより、環境光のノイズに影響されない適正なレーザ光の射出強度で被写体までの距離を導出することができる。

また、本実施の形態では、測距装置１０が静止画像を撮影する場合について説明したが、動画像を撮影する場合にも、上記と同様に、主制御部２６が制御を行うようにすればよい。なお、動画像の撮影中に、計測（計測シーケンス）を繰り返し行うようにしてもよい。また、１回の計測中に静止画の撮影を繰り返し行ってもよい。

また、本実施の形態では、測距開始のタイミング及び本露光開始のタイミングと同時に電圧調整が行われる場合を例示したが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、図１３に示すように、測距開始及び本露光開始に先立って、具体例としては、ライブビュー画像を表示している期間等に、電圧調整が行われるようにしてもよい。この場合は、例えば、図７に示した、測距制御部２４による測距処理において、ステップ２００に先だって、ステップ２０２及びステップ２０４の処理を行うようにすればよい。また、電圧調整は、行わなくてもよい。

また、上記実施の形態では、被写体までの距離に関する情報がライブビュー画像に重畳されてビューファインダー４６に表示される場合を例示したが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、ライブビュー画像の表示領域とは別の表示領域に被写体までの距離に関する情報が表示されるようにしてもよい。このように、被写体までの距離に関する情報は、ライブビュー画像の表示と並行してビューファインダー４６に表示されるようにすればよい。

また、上記実施の形態では、説明の便宜上、ＡＦのエラーがないことを前提にして説明したが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。すなわち、測距制御部２４は、ＡＦのエラーが生じてない場合に上述したように距離の導出を行い、ＡＦのエラーが生じた場合に距離の導出を行わないようにしてもよい。

また、上記実施の形態では、説明の便宜上、ＡＥのエラーがないことを前提にして説明したが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。すなわち、測距制御部２４は、ＡＥのエラーが生じていない場合に上述したように距離の導出を行い、ＡＥのエラーが生じた場合に距離の導出を行わないようにしてもよい。

また、上記実施の形態では、ＡＦ及びＡＥによる焦点調整及び露出調整を例示したが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、マニュアルフォーカスによる焦点調整、及びマニュアル露出による露出調整であってもよい。

また、上記実施の形態では、測距装置１０に設けられているレリーズボタンが操作される場合を例示したが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、測距装置１０に接続して使用される外部装置のＵＩ（ユーザ・インタフェース）部によって受け付けられた撮影準備指示に従ってＡＥ及びＡＦが開始され、外部装置のＵＩ部によって受け付けられた撮影指示に従って本露光が開始されるようにしてもよい。測距装置１０に接続して使用される外部装置の一例としては、スマートデバイス、パーソナル・コンピュータ（ＰＣ）、又は、眼鏡型若しくは腕時計型のウェアラブル端末装置が挙げられる。

また、上記実施の形態では、ビューファインダー４６にライブビュー画像及び測距結果（被写体までの距離に関する情報）が表示される場合を例示したが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、測距装置１０に接続して使用される外部装置の表示部にライブビュー画像及び測距結果の少なくとも一方が表示されるようにしてもよい。測距装置１０に接続して使用される外部装置の表示部の一例としては、スマートデバイスのディスプレイ、ＰＣのディスプレイ、又はウェアラブル端末装置のディスプレイが挙げられる。

また、上記実施の形態で説明した制御処理（図５参照）及び測距処理（図５Ａ及び図５Ｂ参照）はあくまでも一例である。従って、主旨を逸脱しない範囲内において不要なステップを削除したり、新たなステップを追加したり、処理順序を入れ替えたりしてもよいことは言うまでもない。また、上記実施の形態で説明した制御処理及び測距処理に含まれる各処理は、プログラムを実行することにより、コンピュータを利用してソフトウェア構成により実現されてもよいし、その他のハードウェア構成で実現されてもよい。また、ハードウェア構成とソフトウェア構成の組み合わせによって実現してもよい。

また、本開示の技術は、デジタルカメラにも適用可能であることはいうまでもない。

また、上記実施の形態では、レーザ光の発光回数が固定化されている場合を例示したが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。環境光は、レーザ光にとってノイズとなるため、レーザ光の発光回数は、被写体輝度に応じて定められた発光回数であってもよい。

以下、レーザ光の発光回数の決め方の一例について説明する。

レーザ光の発光回数は、一例として図１４に示す発光回数決定テーブル３００から導出される。発光回数決定テーブル３００では、被写体輝度が高くなるほどレーザ光の発光回数が多くなるように、被写体輝度とレーザ光の発光回数とが対応付けられている。すなわち、発光回数決定テーブル３００において、被写体輝度は、Ｌ_１＜Ｌ_２＜・・・＜Ｌ_ｎの大小関係が成立しており、発光回数は、Ｎ_１＜Ｎ_２＜・・・＜Ｎ_ｎの大小関係が成立している。なお、図２に示す例では、１００回単位の発光回数が例示されているが、これに限らず、発光回数は発光回数決定テーブル３００によって１０回単位又は１回単位で定められるようにしてもよい。

測距装置１０では、発光回数決定テーブル３００によるレーザ光の発光回数の導出を実現するために、主制御部２６によって輝度情報送信処理（図１５参照）が実行され、測距制御部２４によって発光回数決定処理（図１６参照）が実行される。

先ず、測距装置１０の電源スイッチがオンされると主制御部２６によって実行される輝度情報送信処理について図１５を参照して説明する。

図１５に示す輝度情報送信処理では、先ず、ステップ４００で、主制御部２６は、被写体輝度の取得を開始する条件である輝度取得開始条件を満たしたか否かを判定する。輝度取得開始条件の一例としては、レリーズボタンが半押しされたとの条件が挙げられる。輝度取得開始条件の他の例としては、撮像素子４２から撮影画像が出力されたとの条件が挙げられる。

ステップ４００において、輝度取得開始条件を満たした場合は、判定が肯定されて、ステップ４０２へ移行する。ステップ４００において、輝度取得開始条件を満たしていない場合は、判定が否定されて、ステップ４０６へ移行する。

ステップ４０２で、主制御部２６は、撮影画像から被写体輝度を取得し、その後、ステップ４０４へ移行する。なお、ここでは、撮影画像から被写体輝度が取得される場合を例示しているが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、被写体輝度を検出する輝度センサが測距装置１０に搭載されているのであれば、主制御部２６は、輝度センサから被写体輝度を取得してもよい。

ステップ４０４で、主制御部２６は、ステップ４０２で取得した被写体輝度を示す輝度情報を測距制御部２４に送信し、その後、ステップ４０６へ移行する。

ステップ４０６で、主制御部２６は、本輝度情報送信処理を終了する条件である終了条件を満たしたか否かを判定する。終了条件の一例としては、測距装置１０の電源スイッチがオフされたとの条件が挙げられる。ステップ４０６において、終了条件を満たしていない場合は、判定が否定されて、ステップ４００へ移行する。ステップ４０６において、終了条件を満たした場合は、判定が肯定されて、本輝度情報送信処理を終了する。

次に、測距装置１０の電源スイッチがオンされると測距制御部２４によって実行される発光回数決定処理について図１６を参照して説明する。

図１６に示す発光回数決定処理では、先ず、ステップ４１０で、測距制御部２４は、ステップ４０４の処理が実行されることによって送信された輝度情報を受信したか否かを判定する。ステップ４１０において、ステップ４０４の処理が実行されることによって送信された輝度情報を受信していない場合は、判定が否定されて、ステップ４１６へ移行する。ステップ４１０において、ステップ４０４の処理が実行されることによって送信された輝度情報を受信した場合は、判定が肯定されて、ステップ４１２へ移行する。

ステップ４１２で、測距制御部２４は、発光回数決定テーブル３００から、ステップ４１０で受信した輝度情報により示される被写体輝度に対応する発光回数を導出し、その後、ステップ４１４へ移行する。

ステップ４１４で、測距制御部２４は、ステップ４１２の処理で導出した発光回数を記憶部４８に記憶し、その後、ステップ４１６へ移行する。なお、本ステップ４１６の処理によって記憶部４８に記憶された発光回数は、図７に示す測距処理のステップ２２０における「所定回数」を意味する。

ステップ４１６で、主制御部２６は、本発光回数決定処理を終了する条件である終了条件を満たしたか否かを判定する。終了条件の一例としては、測距装置１０の電源スイッチがオフされたとの条件が挙げられる。ステップ４１６において、終了条件を満たしていない場合は、判定が否定されて、ステップ４１０へ移行する。ステップ４１６において、終了条件を満たした場合は、判定が肯定されて、本発光回数決定処理を終了する。

次に、レーザ光の発光回数の決め方の他の例について説明する。

レーザ光の発光回数は、一例として図１７に示す発光回数決定テーブル５００に従って導出される。発光回数決定テーブル５００では、被写体輝度に応じて一意に定まる露出状態特定情報（Ｅ_１，Ｅ_２，・・・・Ｅ_ｎ）とレーザ光の発光回数（Ｎ_１，Ｎ_２，・・・・Ｎ_ｎ）とが対応付けられている。なお、ここで、被写体輝度に応じて一意に定まる露出状態特定情報とは、例えば、被写体輝度が高いほど低くなる露出を示す露出状態特定情報を意味する。

発光回数決定テーブル５００を用いてレーザ光の発光回数を導出する場合、主制御部２６によって露出状態特定情報送信処理（図１８参照）が実行され、測距制御部２４によって発光回数決定処理（図１９参照）が実行される。

先ず、測距装置１０の電源スイッチがオンされると主制御部２６によって実行される露出状態特定情報送信処理について図１８を参照して説明する。

図１８に示す露出状態特定情報送信処理では、先ず、ステップ６００で、主制御部２６は、レリーズボタンが半押しされたか否かを判定する。ステップ６００において、レリーズボタンが半押しされていない場合は、判定が否定されて、ステップ６０６へ移行する。ステップ６００において、レリーズボタンが半押しされた場合は、判定が肯定されて、ステップ６０２へ移行する。なお、図１８では、操作部４４にレリーズボタンが備えられている場合を例に挙げて説明するが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、操作部４４に測距撮影開始ボタンが備えられている場合には、ステップ６００を省略して、電源が投入された場合にステップ６０２の処理が開始されるようにすればよい。

ステップ６０２で、主制御部２６は、撮影画像から取得した被写体輝度に基づいてＡＥを行い、その後、ステップ６０４へ移行する。

ステップ６０４で、主制御部２６は、露出状態特定情報を測距制御部２４に送信し、その後、ステップ６０６へ移行する。

ステップ６０６で、主制御部２６は、本露出状態特定情報送信処理を終了する条件である終了条件を満たしたか否かを判定する。終了条件の一例としては、測距装置１０の電源スイッチがオフされたとの条件が挙げられる。ステップ６０６において、終了条件を満たしていない場合は、判定が否定されて、ステップ６００へ移行する。ステップ６０６において、終了条件を満たした場合は、判定が肯定されて、本露出状態特定情報送信処理を終了する。

次に、測距装置１０の電源スイッチがオンされると測距制御部２４によって実行される発光回数決定処理について図１９を参照して説明する。

図１９に示す発光回数決定処理では、先ず、ステップ６１０で、測距制御部２４は、ステップ６０４の処理が実行されることによって送信された露出状態特定情報を受信したか否かを判定する。ステップ６１０において、ステップ６０４の処理が実行されることによって送信された露出状態特定情報を受信していない場合は、判定が否定されて、ステップ６１６へ移行する。ステップ６１０において、ステップ６０４の処理が実行されることによって送信された露出状態特定情報を受信した場合は、判定が肯定されて、ステップ６１２へ移行する。

ステップ６１２で、測距制御部２４は、発光回数決定テーブル５００から、ステップ６１０で受信した露出状態特定情報に対応する発光回数を導出し、その後、ステップ６１４へ移行する。

ステップ６１４で、測距制御部２４は、ステップ６１２の処理で導出した発光回数を記憶部４８に記憶し、その後、ステップ６１６へ移行する。なお、本ステップ６１６の処理によって記憶部４８に記憶された発光回数は、図７に示す測距処理のステップ２２０における「所定回数」を意味する。

ステップ６１６で、主制御部２６は、本露出状態特定情報送信処理を終了する条件である終了条件を満たしたか否かを判定する。終了条件の一例としては、測距装置１０の電源スイッチがオフされたとの条件が挙げられる。ステップ６１６において、終了条件を満たしていない場合は、判定が否定されて、ステップ６１０へ移行する。ステップ６１６において、終了条件を満たした場合は、判定が肯定されて、本露出状態特定情報送信処理を終了する。

このように、測距装置１０は、被写体輝度が高いほどレーザ光の発光回数（測距回数）を多くしているので、被写体輝度に拘わらずレーザ光の発光回数（測距回数）が固定化されている場合に比べ、環境光のノイズの影響が緩和された測距結果を得ることができる。

また、上記実施形態では、測距用の光としてレーザ光を例示しているが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、指向性のある光である指向性光であればよい。例えば、発光ダイオード（ＬＥＤ：Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）やスーパールミネッセントダイオード（ＳＬＤ：Ｓｕｐｅｒ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ Ｄｉｏｄｅ）により得られる指向性光であってもよい。指向性光が有する指向性は、レーザ光が有する指向性と同程度の指向性であることが好ましく、例えば、数メートルから数キロメートルの範囲内における測距で使用可能な指向性であることが好ましい。

なお、２０１４年５月２日に出願された日本国特許出願２０１４−０９５５５６号及び２０１４年８月５日に出願された日本国特許出願２０１４−１５９８０６号の開示は、その全体が参照により本明細書に取り込まれる。

本明細書に記載された全ての文献、特許出願及び技術規格は、個々の文献、特許出願及び技術規格が参照により取り込まれることが具体的かつ個々に記された場合と同程度に、本明細書中に参照により取り込まれる。

以上の実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。

（付記１）
被写体を示す被写体像を結像する結像光学系と、
結像光学系により結像された被写体像を撮影する撮影部と、
結像光学系の光軸方向に沿ってレーザ光を射出する射出部と、
レーザ光の被写体からの反射光を受光する受光部と、
射出部によりレーザ光が射出されたタイミングおよび受光部により反射光が受光されたタイミングに基づいて被写体までの距離を導出する測距を行う導出部と、
手ぶれ補正を行う手ぶれ補正部と、
測距を行う場合は、手ぶれ補正を行わないか、または予め定められた通常の補正量より少ない補正量で手ぶれ補正を行い、測距を行わない場合は通常の補正量で手ぶれ補正を行う制御を手ぶれ補正部に行う制御部と、
を備えた測距装置。

（付記２）
レーザ光を発光させて被写体を示す被写体像を結像する結像光学系の光軸方向に沿ってレーザ光を射出する射出部によりレーザ光が射出されたタイミング、及びレーザ光の被写体からの反射光を受光する受光部により反射光が受光されたタイミングに基づいて被写体までの距離を導出する測距を行い、
測距を行う場合は、手ぶれ補正を行わないか、または予め定められた通常の補正量より少ない補正量で手ぶれ補正を行い、測距を行わない場合は通常の補正量で手ぶれ補正を行う制御を手ぶれ補正部に行うことを含む測距方法。

（付記３）
コンピュータに、
レーザ光を発光させて被写体を示す被写体像を結像する結像光学系の光軸方向に沿ってレーザ光を射出する射出部によりレーザ光が射出されたタイミング、及びレーザ光の被写体からの反射光を受光する受光部により反射光が受光されたタイミングに基づいて被写体までの距離を導出する測距を行い、
測距を行う場合は、手ぶれ補正を行わないか、または予め定められた通常の補正量より少ない補正量で手ぶれ補正を行い、測距を行わない場合は通常の補正量で手ぶれ補正を行う制御を手ぶれ補正部に行うことを含む処理を実行させるための測距プログラム。

【０００２】
れ」とは、例えば、測距装置に含まれる結像光学系の光軸の変動に伴って被写体像が基準位置（例えば、手ぶれが発生していない状態で得られる被写体像の位置）からずれる現象を指す。また、「画像ぶれ」とは、例えば、撮影されて得られた画像が、手ぶれ等により、光軸の被写体に対する相対的な移動に伴って基準位置からずれる現象を指す。
［０００６］
従来の技術では、ぶれの補正（ぶれ補正）を行う場合、撮影部に結像される被写体像の位置が変動することがあり、このような場合に、測距を行うと、測距精度が低下する懸念があった。
［０００７］
本発明の一つの実施形態は、このような実情を鑑みて提案されたものであり、ぶれ補正に起因する測距精度の低下を抑制することができる測距装置、測距方法、及び測距プログラムを提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
［０００８］
上記目的を達成するために、本発明の第１の態様に係る測距装置は、被写体を示す被写体像を結像する結像光学系と、結像光学系により結像された被写体像を撮影する撮影部と、結像光学系の光軸方向に沿って、指向性のある光である指向性光を射出する射出部と、指向性光の被写体からの反射光を受光する受光部と、射出部により指向性光が射出されたタイミングおよび受光部により反射光が受光されたタイミングに基づいて被写体までの距離を導出する測距を行う導出部と、被写体像のぶれであって、結像光学系の光軸の変動に伴って生じるぶれの補正であるぶれ補正を行うぶれ補正部と、測距を行って撮影を行う場合は、ぶれ補正を行わないか、または予め定められた通常の補正量より少ない補正量でぶれ補正を行い、測距を行わずに撮影を行う場合は、通常の補正量でぶれ補正を行う制御をぶれ補正部に行う制御部と、を備える。
［０００９］
本発明の第２の態様に係る測距装置は、第１の態様において、射出部、受光部および導出部による測距を行うか否かの指示入力を受け付ける受付部を備え、制御部は、受付部によって測距を行う指示入力が受け付けられた場合はぶれ補正を行わないか、または予め定められた通常の補正量より少ない補正量でぶれ補正を行い、受付部によって測距を行わない指示入力が受け付け

【０００５】
発明の第１５の態様に係る測距装置は、被写体輝度が高くなっているにも拘わらず指向性光の発光回数が固定化されている場合に比べ、環境光のノイズの影響が緩和された測距結果を得ることができる。
［００２３］
本発明の第１６の態様に係る測距装置では、本発明の第１の態様から第１５の態様の何れか１つにおいて、導出部によって導出された距離を記憶する記憶部を更に含み、導出部によって距離の導出が不可能な場合、記憶部による記憶を中止する。これにより、本発明の第１６の態様に係る測距装置は、不完全な距離データの記憶を防止することができる。
［００２４］
本発明の第１７の態様に係る測距装置では、本発明の第１６の態様において、導出部による距離の導出が不可能な場合に記憶部による記憶を中止するか否かを設定する記憶設定部を更に含む。これにより、本発明の第１７の態様に係る測距装置は、距離の導出が不可能な場合に記憶部への記憶を行うか否かをユーザの意思に応じて設定することができる。
［００２５］
本発明の第１８の態様に係る測距装置では、本発明の第１の態様から第１７の態様の何れか１つにおいて、導出部は、結像光学系の被写体への焦点調整を行う焦点調整部による焦点調整エラー、及び撮影部が撮影する場合の露出を調整する露出調整部による露出調整エラーがない場合に、距離を導出する。これにより、本発明の第１８の態様に係る測距装置は、合焦及び露出調整された画像と共に測距結果を得ることができる。
［００２６］
本発明の第１９の態様に係る測距方法は、指向性のある光である指向性光を発光させて被写体を示す被写体像を結像する結像光学系の光軸方向に沿って指向性光を射出する射出部により指向性光が射出されたタイミング、及び指向性光の被写体からの反射光を受光する受光部により反射光が受光されたタイミングに基づいて被写体までの距離を導出する測距を行い、測距を行って撮影を行う場合は、被写体像のぶれであって、結像光学系の光軸の変動に伴って生じるぶれの補正であるぶれ補正を行わないか、または予め定められた通常の補正量より少ない補正量でぶれ補正を行い、測距を行わずに撮影を行う場合は、通常の補正量でぶれ補正を行う制御をぶれ補正部に行うことを含む。

【０００６】
［００２７］
本発明の第２０の態様に係る測距プログラムは、コンピュータに、指向性のある光である指向性光を発光させて被写体を示す被写体像を結像する結像光学系の光軸方向に沿って指向性光を射出する射出部により指向性光が射出されたタイミング、及び指向性光の被写体からの反射光を受光する受光部により反射光が受光されたタイミングに基づいて被写体までの距離を導出する測距を行い、測距を行って撮影を行う場合は、被写体像のぶれであって、結像光学系の光軸の変動に伴って生じるぶれの補正であるぶれ補正を行わないか、または予め定められた通常の補正量より少ない補正量でぶれ補正を行い、測距を行わずに撮影を行う場合は、通常の補正量でぶれ補正を行う制御をぶれ補正部に行うことを含む処理を実行させるためのものである。
発明の効果
［００２８］
本発明の一つの実施形態によれば、ぶれ補正に起因する測距精度の低下を抑制することができる、という効果が得られる。
図面の簡単な説明
［００２９］
［図１］本実施の形態に係る測距装置の要部の構成の一例を示すブロック図である。
［図２］本実施の形態に係る測距装置における被写体までの距離を計測する測距動作のタイミングの一例を示すタイミングチャートである。
［図３］第１の実施の形態の測距装置において１回の計測における発光から受光までのタイミングの一例を表すタイミングチャートである。
［図４］被写体までの距離を横軸、計測回数を縦軸とした場合の計測値のヒストグラムの一例を示すグラフである。
［図５］本実施の形態に係る測距装置の主制御部で実行される制御処理の流れの一例を表すフローチャートである。
［図６］本実施の形態に係る測距装置における撮影動作及び測距動作のタイミングを表すタイミングチャートの一例である。
［図７］本実施の形態に係る測距装置の測距制御部で実行される測距処理の流れの一例を表すフローチャートである

Claims (20)

1. 被写体を示す被写体像を結像する結像光学系と、
   前記結像光学系により結像された被写体像を撮影する撮影部と、
   前記結像光学系の光軸方向に沿って、指向性のある光である指向性光を射出する射出部と、
   前記指向性光の前記被写体からの反射光を受光する受光部と、
   前記射出部により前記指向性光が射出されたタイミングおよび前記受光部により前記反射光が受光されたタイミングに基づいて前記被写体までの距離を導出する測距を行う導出部と、
   前記被写体像のぶれであって、前記結像光学系の光軸の変動に伴って生じるぶれの補正であるぶれ補正を行うぶれ補正部と、
   前記測距を行う場合は、前記ぶれ補正を行わないか、または予め定められた通常の補正量より少ない補正量で前記ぶれ補正を行い、前記測距を行わない場合は前記通常の補正量で前記ぶれ補正を行う制御を前記ぶれ補正部に行う制御部と、
   を備えた測距装置。
2. 前記射出部、前記受光部および前記導出部による測距を行うか否かの指示入力を受け付ける受付部を備え、
   前記制御部は、前記受付部によって前記測距を行う指示入力が受け付けられた場合は前記ぶれ補正を行わないか、または予め定められた通常の補正量より少ない補正量で前記ぶれ補正を行い、前記受付部によって前記測距を行わない指示入力が受け付けられた場合は前記通常の補正量で前記ぶれ補正を行う制御を前記ぶれ補正部に行う、
   請求項１に記載の測距装置。
3. 前記ぶれを検出する検出部を備え、
   前記ぶれ補正部は、前記検出部の検出結果に基づいて前記ぶれを補正する補正量を算出し、
   前記制御部は、算出した補正量に基づいて、射出部から照射した前記指向性光の照射位置を算出し、算出した照射位置を表すマーカを表示部に表示させる、
   請求項１または請求項２に記載の測距装置。
4. 前記制御部は、算出した補正量に基づいて、前記照射位置を表すマーカの大きさを制御する、
   請求項３に記載の測距装置。
5. 前記導出部は、前記距離の導出を複数回行い、前記複数回の前記距離の導出によって得られる距離のうちの頻度が高い距離を最終的な距離として導出する請求項１から請求項４の何れか一項に記載の測距装置。
6. 前記結像光学系の被写体への焦点調整、及び露出調整の少なくとも一方を実行する実行部を備え、
   前記実行部が、前記焦点調整を実行するものである場合に、
   前記導出部は、前記距離を導出する場合に、合焦状態特定情報に基づいて、前記頻度を求める際に使用する距離範囲、又は前記指向性光の射出から受光までの時間範囲を定め、定めた前記距離範囲又は前記時間範囲の範囲内で前記最終的な距離を導出する請求項５に記載の測距装置。
7. 前記導出部は、前記距離を導出する場合に、前記距離範囲又は前記時間範囲を定めた結果に応じて定まる分解能で前記最終的な距離を導出する請求項６に記載の測距装置。
8. 前記射出部は、前記指向性光の射出強度が調整可能であり、合焦状態特定情報と被写体輝度又は露出状態特定情報との少なくとも一方に基づいて前記射出強度を調整して前記指向性光を射出する請求項１から請求項７の何れか一項に記載の測距装置。
9. 前記射出部は、前記合焦状態特定情報により示される焦点距離が短いほど前記射出強度を小さくする請求項８に記載の測距装置。
10. 前記射出部は、前記被写体輝度が低いほど前記射出強度を小さくし、前記露出状態特定情報により示される露出が高いほど前記射出強度を小さくする請求項８又は請求項９に記載の測距装置。
11. 前記受光部は、受光感度が調整可能であり、合焦状態特定情報に基づいて前記受光感度を調整して前記反射光を受光する請求項１から請求項１０の何れか一項に記載の測距装置。
12. 前記受光部は、前記合焦状態特定情報により示される焦点距離が短いほど前記受光感度を下げる請求項１１に記載の測距装置。
13. 画像を表示する表示部を更に含み、
    前記制御部は、前記表示部に対して、前記撮影部により撮影されて得られた動画像を表示させ、かつ、前記導出部により導出された前記被写体までの距離に関する情報を表示させる制御を行う請求項１から請求項１２の何れか一項に記載の測距装置。
14. 前記射出部、前記受光部、及び前記導出部による測距は、被写体輝度又は露出状態特定情報に応じて予め定めた回数行う請求項１から請求項１３の何れか一項に記載の測距装置。
15. 前記射出部、前記受光部、及び前記導出部による測距は、前記被写体輝度が高いほど又は前記露出状態特定情報により示される露出が低いほど多く行う請求項１４に記載の測距装置。
16. 前記導出部によって導出された前記距離を記憶する記憶部を更に含み、前記導出部によって前記距離の導出が不可能な場合、前記記憶部による記憶を中止する請求項１から請求項１５の何れか一項に記載の測距装置。
17. 前記導出部による前記距離の導出が不可能な場合に前記記憶部による記憶を中止するか否かを設定する記憶設定部を更に含む請求項１６に記載の測距装置。
18. 前記導出部は、前記結像光学系の被写体への焦点調整を行う焦点調整部による焦点調整エラー、及び前記撮影部が撮影する場合の露出を調整する露出調整部による露出調整エラーがない場合に、前記距離を導出する請求項１から請求項１７の何れか一項に記載の測距装置。
19. 指向性のある光である指向性光を発光させて被写体を示す被写体像を結像する結像光学系の光軸方向に沿って前記指向性光を射出する射出部により前記指向性光が射出されたタイミング、及び前記指向性光の前記被写体からの反射光を受光する受光部により前記反射光が受光されたタイミングに基づいて前記被写体までの距離を導出する測距を行い、
    前記測距を行う場合は、前記被写体像のぶれであって、前記結像光学系の光軸の変動に伴って生じるぶれの補正であるぶれ補正を行わないか、または予め定められた通常の補正量より少ない補正量で前記ぶれ補正を行い、前記測距を行わない場合は前記通常の補正量で前記ぶれ補正を行う制御をぶれ補正部に行うことを含む測距方法。
20. コンピュータに、
    指向性のある光である指向性光を発光させて被写体を示す被写体像を結像する結像光学系の光軸方向に沿って前記指向性光を射出する射出部により前記指向性光が射出されたタイミング、及び前記指向性光の前記被写体からの反射光を受光する受光部により前記反射光が受光されたタイミングに基づいて前記被写体までの距離を導出する測距を行い、
    前記測距を行う場合は、前記被写体像のぶれであって、前記結像光学系の光軸の変動に伴って生じるぶれの補正であるぶれ補正を行わないか、または予め定められた通常の補正量より少ない補正量で前記ぶれ補正を行い、前記測距を行わない場合は前記通常の補正量で前記ぶれ補正を行う制御をぶれ補正部に行うことを含む処理を実行させるための測距プログラム。

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