JP2011027451A - 測距装置および測距方法 - Google Patents

Abstract

【課題】被測定物までの距離の測定結果のバラツキを抑制する。
【解決手段】測定制御部７１は、複数の光出力レベルの測定光を用いて、各光出力レベル毎に被測定物までの距離の測定処理を所定の回数ずつ実行するように、測距装置１の各部を制御する。統計処理部８３は、所定の回数の測定処理において、受光した光の強度を示す受光信号の所定のサンプリング周期毎の値が所定の閾値以上となる回数を各所定の時間毎にカウントすることにより得られる度数分布を、各光出力レベル毎に作成する。選択部７２は、各光出力レベルに対する度数分布の中から、被測定物までの距離の演算に用いる度数分布を選択する。演算部７３は、選択された度数分布を用いて、被測定物までの距離を演算する。本発明は、例えば、被測定物までの距離を測定する測距装置に適用できる。
【選択図】図２

Description

本発明は、測距装置および測距方法に関し、特に、測定結果のバラツキを抑制できるようにした測距装置および測距方法に関する。

従来、パルス状の測定光（例えば、レーザ光）を被測定物に向かって発射し、被測定物から反射されてくる反射光を受光するまでの経過時間を測定し、この経過時間とレーザ光の伝播速度とに基づいて被測定物までの距離を測定する測距装置が市販されている。

また、測定光を発射してからの経過時間を所定の時間間隔で複数のタイムゾーンに分割し、パルス状の測定光を被測定物に向かって所定の回数だけ発射し、受光した場合に反射光の強度が所定の閾値を上回る回数を、上記のタイムゾーン（あるいは、タイムゾーンに対応する距離ゾーン）毎にカウントすることにより得られる度数分布表に基づいて、被測定物までの距離を算出することが提案されている（例えば、特許文献１参照）。

ところで、被測定物からの反射光は、被測定物の位置が変化しない限り、測定光の発射から常に一定の時間をおいて受光される。一方、太陽光などによる背景光の受光タイミングはランダムである。従って、特許文献１に示される方法で作成した度数分布表では、測定光が被測定物に反射されて戻ってくるまでの時間を含むタイムゾーン（あるいは、被測定物までの距離を含む距離ゾーン）およびその近傍のゾーンの度数が大きくなり、それ以外のゾーンの度数は小さくなる。そして、度数が大きいゾーンに基づいて、被測定物までの距離を求めることにより、背景光の影響を除去し、より正確な距離の測定が可能となる。

特開２００２−３２８１６６号公報

しかしながら、特許文献１に示される方法では、被測定物の条件により測定結果にバラツキが生じる場合がある。例えば、同じ距離だけ離れた位置にある反射面積の狭いアンテナと反射面積の広い看板の距離を測定する場合について考える。なお、アンテナと看板の表面の反射率は等しく、測距装置から見たアンテナの面積は、測距装置から見た看板の面積と比較して、非常に小さいものとする。

図９は、特許文献１に示される方法でアンテナに向けて測定光を５００回発射した場合に作成される度数分布表をグラフにしたヒストグラムの例を示し、図１０は、同様に看板に向けて測定光を５００回発射した場合に作成される度数分布表をグラフにしたヒストグラムの例を示している。なお、図９および図１０の横軸は距離を示し、縦軸は度数（すなわち、反射光の強度が所定の閾値を上回った回数）を示している。また、図９および図１０のヒストグラムにおいて、アンテナおよび看板までの距離付近の範囲のみを示し、それ以外の範囲の図示は省略している。

アンテナは面積が狭いため、測定光の一部または全部が、アンテナに当たらず、測距装置に戻ってこない確率が高くなる。従って、図９に示されるように、ヒストグラムの度数は、図１０に示される看板に対するヒストグラムの度数より全体的に小さくなり、ヒストグラムのピークが明確に現れる。

一方、看板は面積が広いため、測定光のほとんどが看板に反射され、測距装置に戻ってくる確率が高くなる。また、一般に、同じ距離位置において、面積の狭い被測定物より面積の広い被測定物から反射される受光レベルの方が大きく、受光信号が飽和して、受光パルスの時間幅が広くなる。従って、アンテナの位置測定時と同じ光強度で距離測定を行うと、図１０に示されるように、ヒストグラムの度数は、図９に示されるアンテナに対するヒストグラムの度数より全体的に大きくなり、ヒストグラムのピークが不明確になる。特に、図１０のヒストグラムでは、度数が測定光の発射回数と等しくなる距離のゾーン（階級、ビン）が複数存在し、いわゆるヒストグラムが飽和した状態になっている。

このように、被測定物までの距離が同じでも、被測定物の面積の違いにより、ヒストグラムのピークの有無や位置に違いが生じ、その結果、被測定物までの距離の測定結果にバラツキが生じる場合がある。

また、被測定物の面積だけでなく、被測定物の表面の反射率や、表面の形状（例えば、凹凸の有無など）の違いによっても、面積が異なる場合と同様に反射光の強度が変化するため、同様にして、被測定物までの距離の測定結果にバラツキが生じる場合がある。

本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、被測定物までの距離の測定結果のバラツキを抑制できるようにするものである。

本発明の一側面の測距装置は、被測定物に向かってパルス状の測定光を発射し、その反射光を受光するまでの時間に基づいて前記被測定物までの距離を測定する測距装置であって、複数の光出力レベルの前記測定光を用いて、各光出力レベル毎に前記被測定物までの距離の測定処理を所定の回数ずつ実行するように制御する測定制御手段と、前記所定の回数の測定処理において、受光した光の強度を示す受光信号の所定の時間毎の値が所定の第１の閾値以上となる回数を各所定の時間毎にカウントすることにより得られる度数分布を、各光出力レベル毎に作成する作成手段と、各光出力レベルに対する前記度数分布の中から、前記被測定物までの距離の演算に用いる前記度数分布を選択する選択手段と、選択された前記度数分布を用いて、前記被測定物までの距離を演算する演算手段とを含む。

本発明の一側面の測距方法は、被測定物に向かってパルス状の測定光を発射し、その反射光を受光するまでの時間に基づいて前記被測定物までの距離を測定する測距装置が、複数の光出力レベルの前記測定光を用いて、各光出力レベル毎に前記被測定物までの距離の測定処理を所定の回数ずつ実行し、前記所定の回数の測定処理において、受光した光の強度を示す受光信号の所定の時間毎の値が所定の第１の閾値以上となる回数を各所定の時間毎にカウントすることにより得られる度数分布を、各光出力レベル毎に作成し、各光出力レベルに対する前記度数分布の中から、前記被測定物までの距離の演算に用いる前記度数分布を選択し、選択された前記度数分布を用いて、前記被測定物までの距離を演算するステップを含む。

本発明の一側面においては、複数の光出力レベルの測定光を用いて、各光出力レベル毎に前記被測定物までの距離の測定処理が所定の回数ずつ実行され、前記所定の回数の測定処理において、受光した光の強度を示す受光信号の所定の時間毎の値が所定の第１の閾値以上となる回数を各所定の時間毎にカウントすることにより得られる度数分布が、各光出力レベル毎に作成され、各光出力レベルに対する前記度数分布の中から、前記被測定物までの距離の演算に用いる前記度数分布が選択され、選択された前記度数分布を用いて、前記被測定物までの距離が演算される。

本発明の一側面によれば、被測定物までの距離の測定結果のバラツキを抑制し、被測定物までの距離を正確に測定することができる。

本発明を適用した測距装置の一実施の形態を示す外観図である。 測距装置の回路の構成の例を示すブロック図である。 測距装置により実行される測距処理の詳細を説明するためのフローチャートである。 測定光の波形の例を示す図である。 レベル１の測定光を用いた場合の被測定物までの距離の測定結果を示すヒストグラムの例を示す図である。 レベル２の測定光を用いた場合の被測定物までの距離の測定結果を示すヒストグラムの例を示す図である。 レベル３の測定光を用いた場合の被測定物までの距離の測定結果を示すヒストグラムの例を示す図である。 レベル４の測定光を用いた場合の被測定物までの距離の測定結果を示すヒストグラムの例を示す図である。 従来の測距装置を用いた場合のアンテナまでの距離の測定結果を示すヒストグラムの例を示す図である。 従来の測距装置を用いた場合の看板までの距離の測定結果を示すヒストグラムを示す図である。

以下、図を参照して、本発明の実施の形態について説明する。

図１は、本発明を適用した測距装置の一実施の形態を示す外観図である。

図１の測距装置１は、被測定物に向かってパルス状の測定光を発射し、その反射光を受光するまでの時間に基づいて被測定物までの距離を測定する装置である。測距装置１の筐体１１の側面のうちの１つの面（以下、前面と称する）には、対物レンズ１２と受光レンズ１３が、上下に並ぶように配置されている。そして、対物レンズ１２から被測定物に向かって測定光が照射され、被測定物などにより反射された反射光、および、太陽光などによる背景光を含む光（以下、戻り光と称する）が受光レンズ１３により集光される。

筐体１１の前面と反対側の面（以下、背面と称する）には、接眼部１４が設けられている。ユーザは、接眼部１４に設けられている接眼レンズ（不図示）および対物レンズ１２を介して、被測定物の像を拡大して見ることができる。

筐体１１の上面には、ボタン１５およびボタン１６が設けられている。ボタン１５は、各種の機能の切り換え等に用いられる。例えば、ボタン１５を押下することにより、測定距離の表示単位をメートルおよびヤードのいずれかに切り換えることができる。ボタン１６は、電源のオン／オフ、および、測定の指令の入力に用いられる。例えば、ボタン１６を長押しすることにより、測距装置１の電源を投入したり、切断したりすることができる。また、電源がオンのときにボタン１６を短押しすることにより、被測定物までの距離の測定が行われる。

図２は、測距装置１の回路の構成の例を示すブロック図である。なお、図２では、測距装置１の距離の測定に関わる部分のみを示しており、その他の部分については図示を省略している。

CPU（Central Processing Unit）５１は、所定の制御プログラムを実行することにより、測距装置１の処理の制御を行う。CPU５１が所定の制御プログラムを実行することにより、測定制御部７１、選択部７２、および、演算部７３を含む機能が実現される。

測定制御部７１は、図３などを参照して後述するように、複数の光出力レベルの測定光を用いて、各光出力レベル毎に被測定物までの距離の測定処理を所定の回数ずつ実行するように、測距装置１の各部を制御する。

選択部７２は、図３などを参照して後述するように、各光出力レベル毎の被測定物までの距離の測定結果の分布を示す度数分布のうち、実際に被測定物までの距離の演算に用いる度数分布を選択する。

演算部７３は、選択部７２により選択された度数分布を用いて、被測定物までの距離の演算を行い、演算結果をFPGA（Field Programmable Gate Array）６０の記憶部８４に記憶させる。

LD（Laser Diode）駆動回路５２は、測定制御部７１からの指令に従って、LD（Laser Diode）５３を駆動し、LD５３の発光タイミングおよび光出力レベル（発光強度）等を制御する。

LD５３は、LD駆動回路５２の制御の基に、後述するように、パルス状のレーザ光を測定光として発光し、測定光は、対物レンズ１２でコリメートされて被測定物に向けて発射される。

発光検出回路５４は、LD５３の発光を検出し、LD５３が発光していることを示す発光検出信号をFPGA６０のサンプリング回路８２に供給する。

APD（Avalanche Photodiode）５５は、受光レンズ１３を介して、被測定物などからの反射光および背景光を含む戻り光を受光する。そして、APD５５は、受光した戻り光を、その強度に応じた電気信号（以下、受光信号と称する）に変換し、受光信号を受光／増幅回路５６に供給する。

受光／増幅回路５６は、受光信号を増幅して２値化回路５８に供給する。

閾値設定回路５７は、測定制御部７１からの設定指令に応じて、LD５３から測定光が発射される前（例えば、ユーザによる測定開始の指令直後）に、背景光の強度を検知する。そして、閾値設定回路５７は、戻り光における背景光のレベルを推定し、推定したレベルに応じた閾値を２値化回路５８に設定する。さらに、閾値設定回路５７は、２値化回路５８から供給される２値化信号に基づいて、２値化回路５８に設定する閾値の調整を行う。

２値化回路５８は、例えば、コンパレータなどにより構成される。そして、２値化回路５８は、閾値設定回路５７により設定された閾値に基づいて、受光信号をHighとLowの２つの値からなる２値化信号に変換する。例えば、受光信号の値が閾値以上の場合、２値化信号の値はHighに設定され、受光信号の値が閾値未満の場合、２値化信号の値はLowに設定される。２値化回路５８は、閾値設定回路５７およびFPGA６０のサンプリング回路８２に２値化信号を供給する。

発振器５９は、所定の周波数のサンプリングクロックを、FPGA６０のカウンタ回路８１およびサンプリング回路８２に供給する。

FPGA６０は、カウンタ回路８１、サンプリング回路８２、統計処理部８３、記憶部８４、および、表示制御部８５を含む機能を実現する。

カウンタ回路８１は、発振器５９から供給されるサンプリングクロックの数をカウントし、そのカウント値をサンプリング回路８２に供給する。

サンプリング回路８２は、発振器５９から供給されるサンプリングクロックに同期して、２値化信号のサンプリングを行うことにより、サンプリングクロックにより規定されるサンプリング周波数で受光信号をデジタル化する。サンプリング回路８２は、デジタル化した受光信号（以下、デジタル受光信号と称する）の各サンプル値（標本値）を、カウンタ回路８１から供給されるカウント値と対応付けて統計処理部８３に供給する。なお、カウンタ回路８１とサンプリング回路８２は、発振器５９からのサンプリングクロックに同期して動作するので、デジタル受光信号の各サンプル値には、１つのカウンタ値が割り振られることになる。

統計処理部８３は、図３などを参照して後述するように、複数の光出力レベルの測定光を用いて、各光出力レベル毎に所定の回数ずつ測定処理を行った結果に基づいて、各光出力レベル毎の距離の測定結果の分布を示す度数分布を作成し、そのデータを記憶部８４に記憶させる。

記憶部８４は、メモリにより構成され、距離の測定結果を示す度数分布や距離の演算結果など、測距装置１の処理で使用する各種のデータを記憶する。

表示制御部８５は、例えば、被測定物までの距離の演算結果を記憶部８４から読み出し、内部LCD（Liquid Crystal Display）６１に表示させる。

内部LCD６１は、被測定物までの距離の測定結果や、各種の設定画面など、測距装置１の処理において必要な情報を表示する。この内部LCD６１は、接眼部１４から見える位置に配置されている。

次に、図３のフローチャートを参照して、測距装置１により実行される測距処理について説明する。なお、この処理は、例えば、測距装置１の電源が入っているときに、ボタン１６が短押しされたとき開始される。

ステップＳ１において、測距装置１は、初期化処理を行う。例えば、測定制御部７１は、測距装置１の各部のエラーチェックを行ったり、各部間の通信のチェックを行ったりする。また、例えば、測定制御部７１は、記憶部８４に記憶されている度数分布のデータなどを初期化する。

ステップＳ２において、測定制御部７１は、カウンタｍ，ｎの値を１に設定する。

ステップＳ３において、測距装置１は、LD５３の電圧値をレベルｍに設定する。具体的には、LD駆動回路５２は、測定制御部７１からの指令に従って、LD５３に印加する電圧値をレベルｍに設定する。

なお、以下、LD５３に印加する電圧値が、レベル１（最小）からレベル４（最大）までの４段階に設定され、レベル１（最弱）からレベル４（最強）までの４段階の光出力レベルの測定光が測定に使用される場合の例について説明する。そして、いまの場合、LD５３に印加する電圧値および測定光の光出力レベルが、レベル１に設定される。

ステップＳ４において、測定制御部７１は、カウンタ回路８１をリセットする。これにより、次に発振器５９からカウンタ回路８１にサンプリングクロックが供給されたときにカウンタ回路８１から出力されるカウント値は１となる。

ステップＳ５において、測距装置１は、測定光を発射する。具体的には、LD駆動回路５２は、レベルｍの値の電圧をLD５３に印加し、LD５３にパルス状のレーザ光を発光させる。LD５３から発光されたパルス状のレーザ光（すなわち、測定光）は、対物レンズ１２を介して、被測定物に向かって発射される。また、発光検出回路５４は、LD５３の発光を検出している間、検出信号をサンプリング回路８２に供給する。

図４は、レベル１乃至４の各測定光の波形の例を示している。なお、図４の横軸は時間を示し、縦軸は光出力レベルを示している。各レベルの測定光とも、１つのピークを持ち、ほぼ左右対称の波形を有している。また、光出力レベルのピーク値は、レベル１の測定光が最も小さく、レベル４の測定光が最も大きくなっている。さらに、出力時間は、レベル１の測定光が最も短く、レベル４の測定光が最も長くなっている。

ステップＳ６において、測距装置１は、戻り光を受光する。具体的には、測距装置１から発射された測定光は、被測定物などにより反射され、その反射光の一部または全部、並びに、背景光を含む戻り光が、受光レンズ１３に集光されAPD５５に入射する。なお、もちろん、測定光が被測定物に当たらなかった場合、APD５５に入射する戻り光に被測定物からの反射光は含まれない。そして、APD５５は、受光した戻り光の強度に応じた受光信号を受光／増幅回路５６に供給し、受光／増幅回路５６は、受光信号を増幅して２値化回路５８に供給する。

ステップＳ７において、２値化回路５８は、閾値設定回路５７により設定された閾値に基づいて、受光信号の値に応じて２値化する。２値化回路５８は、その結果得られた２値化信号をサンプリング回路８２に供給する。

ステップＳ８において、サンプリング回路８２は、受光信号のサンプリングを行う。具体的には、サンプリング回路８２は、発振器５９から供給されるサンプリングクロックに同期して、所定のサンプリング周波数で２値化信号のサンプリングを行い、受光信号をデジタル化する。従って、デジタル化された受光信号（デジタル受光信号）は、APD５５が受光した戻り光の強度が所定の閾値以上の場合に１となり、閾値未満の場合に０となる。なお、サンプリング回路８２は、発光検出回路５４からの発光検出信号を０メートルに対応する信号としてサンプリングを行い、度数分布に反映させる。

サンプリング回路８２は、デジタル受光信号の各サンプル値と、カウンタ回路８１から供給されるカウンタ値を対応付けて、統計処理部８３に供給する。なお、以下、カウンタ値がiのときのデジタル受光信号のサンプル値（以下、ｉ番目のサンプル値とも称する）をs[i]とする。

ステップＳ９において、統計処理部８３は、レベルｍの度数分布表のデータを更新する。例えば、以下、統計処理部８３が、配列f[m][i]により各レベルの度数分布のデータを管理するものとすると、統計処理部８３は、サンプリング回路８２から供給されるデジタル受光信号のｉ番目のサンプル値s[i]が１の場合、f[m][i]の値を１つ加算し、ｉ番目のサンプル値s[i]が０の場合、f[m][i]の値を加算しない。すなわち、配列f[m][i]には、レベルｍの度数分布のｉ番目の時間帯の度数を示す値が格納され、例えば、f[1][1]には、レベル１の１番目の時間帯の度数を示す値が格納される。

ステップＳ１０において、測定制御部７１は、カウンタｎの値を１つインクリメントする。

ステップＳ１１において、測定制御部７１は、カウンタｎ≦カウンタｍ×NMAXであるか否かを判定する。ここで、NMAXは、各レベルの測定光ごとに被測定物の距離を測定する測定回数を示しており、以下、NMAXが２００回に設定されている場合について説明する。そして、カウンタｎ≦カウンタｍ×NMAXであると判定された場合、処理はステップＳ３に戻る。

その後、ステップＳ１１において、カウンタｎ＞カウンタｍ×NMAXであると判定されるまで、ステップＳ３乃至Ｓ１１の処理が繰り返し実行され、レベルｍの測定光を用いた測定処理が、合計NMAX回繰り返し実行される。

なお、ステップＳ４においてカウンタ回路８１がリセットされるタイミングを、その回の測定処理の開始タイミングとし、測定処理が所定の周期Ｔで実行されるものとした場合、測定光の発射間隔は周期Ｔより所定の時間ΔＴだけ長いＴ＋ΔＴに設定される。なお、ΔＴは、デジタル受光信号のサンプリング周期より十分短い時間に設定される。

従って、レベルｍの１回目の測定処理では、カウンタ回路８１のリセットと同時に測定光が発射され、２回目の測定処理では、カウンタ回路８１がリセットされてからΔＴ後に測定光が発射され、３回目の測定処理では、カウンタ回路８１がリセットされてから２×ΔＴ後に測定光が発射され、ｎ回目の測定処理では、カウンタ回路８１がリセットされてから（ｎ−１）×ΔＴ後に測定光が発射される。

また、所定の回数毎に、測定光の発射タイミングが、測定処理の開始タイミングと同期するように調整される。例えば、NMAX＝２００回で、５０回毎に測定光の発射タイミングを調整する場合、５０回目の測定処理では、カウンタ回路８１がリセットされてから４９×ΔＴ後に測定光が発射され、５１回目の測定処理では、カウンタ回路８１のリセットと同時に測定光が発射され、５２回目の測定処理では、カウンタ回路８１がリセットされてからΔＴ後に測定光が発射される。また、１０１回目および１５１回目の測定処理で、カウンタ回路８１のリセットと同時に測定光が発射される。

なお、このように測定光の発射タイミングを測定処理の開始タイミングからΔＴずつ遅延させるのは、測定結果を示す度数分布において、度数のピークがより明確に現れるようにすることを目的とするものであり、必ずしも実行する必要はない。すなわち、常に測定処理の開始タイミングに同期して、あるいは、開始タイミングから常に一定の時間が経過した後に、測定光を発射するようにしてもよい。

一方、ステップＳ１１において、カウンタｎ＞カウンタｍ×NMAXであると判定された場合、すなわち、現在の光出力レベルの測定光を用いた測定処理がNMAX回行われた場合、処理はステップＳ１２に進む。

ステップＳ１２において、測定制御部７１は、カウンタｍの値を１つインクリメントする。

ステップＳ１３において、測定制御部７１は、カウンタｍ≦MMAXであるか否かを判定する。ここで、MMAXは、測定に用いる測定光のレベルの総数を示し、いまの場合、４に設定される。そして、カウンタｍ≦MMAXであると判定された場合、処理はステップＳ３に戻る。

その後、ステップＳ１３において、カウンタｍ＞MMAXであると判定されるまで、ステップＳ３乃至Ｓ１３の処理が繰り返し実行される。すなわち、各光出力レベルの測定光を用いて、測定処理がそれぞれNMAX回ずつ行われ、それらの測定結果に基づいて、測定結果を示す度数分布表が各光出力レベル毎に作成される。

ここで、配列f[m][i]により管理される被測定物までの距離の測定結果を表す度数分布の詳細について説明する。

例えば、１回の測定処理あたりにデジタル受光信号がサンプリングされる回数をST回とすると、レベル１の度数分布のデータは、f[1][1]，f[1][2]，・・・，f[1][ST]に格納される。すなわち、f[1][1]は、測定光の出力がレベル１のときの度数分布における１番短い測定光の伝播時間帯でサンプリングされた度数が格納される。言い換えると、レベル１の測定光を用いたNMAX回の測定処理において、１番短い測定光の伝播時間帯で検出された受光信号のうち、その値が所定の閾値以上となる受光信号の検出回数を示す。同様に、f[1][2]は、測定光の出力がレベル１のときの度数分布における２番目に短い測定光の伝播時間帯でサンプリングされた度数が格納される。言い換えると、レベル１の測定光を用いたNMAX回の測定処理において、２番目に短い測定光の伝播時間帯で検出された受信信号のうち、その値が所定の閾値以上となる受光信号の検出回数を示す。そして、f[1][k]は、測定光の出力がレベル１のときの度数分布におけるｋ番目に短い測定光の伝播時間帯でサンプリングされた度数が格納される。同様に言い換えると、レベル１の測定光を用いたNMAX回の測定処理において、ｋ番目に短い測定光の伝播時間帯で検出された受光信号のうち、その値が所定の閾値以上となる受光信号の検出回数を示す。

すなわち、f[1][1]，f[1][2]，・・・，f[1][ST]により示されるレベル１の度数分布は、レベル１の測定光を用いたNMAX回の測定処理において、戻り光の強度を示す受光信号の値が所定の閾値以上となる回数を各時間毎（サンプリング周期ごと）にカウントすることにより得られるものである。また、各階級の度数の最大値はNMAXとなり、最小値は0となる。

なお、度数分布の各階級は、例えば、デジタル受光信号の先頭のサンプル値からの経過時間により表すことができる。例えば、サンプリング周期をPとした場合、１番目の階級の経過時間は0となり、２番目の階級の経過時間はPとなり、ｋ番目の階級の経過時間は(k−1)×Pとなる。

また、度数分布の各階級を、経過時間ではなく、距離によっても表すことも可能である。すなわち、デジタル受光信号の先頭のサンプル値からの経過時間の間に、測定光が発射されてから被測定物などにより反射されて戻ってくることが可能な距離により階級を表すようにしてもよい。この場合、レーザ光の伝播速度をVとすると、１番目の階級の距離は0となり、２番目の階級の距離はP/2Vとなり、ｋ番目の階級の距離は(k−1)×P/2Vとなる。

なお、詳細な説明は省略するが、レベル１以外の他のレベルの度数分布についても同様である。

図５乃至図８は、レベル１乃至４の度数分布をグラフにしたヒストグラムの一例を示している。各ヒストグラムの横軸は、ヒストグラムの階級である距離を示し、右に行くほど距離が長くなる。また、ＴＨは、後述するステップＳ１５の度数分布の選択処理において用いられる所定の閾値を示している。

なお、各ヒストグラムにおいて、距離が最も短い１番目の階級と２番目の階級の度数が高いのは、上述したように、測定光の発射が行われ、発光検出回路５４から発光検出信号のサンプルデータが０メートルに対応する時間帯での検出信号度数として、度数分布に反映されるためである。また、上述したように、カウンタ回路８１がリセットされるタイミングを基準にして、測定光の発射タイミングがΔＴずつ遅延されていくため、２番目の階級の度数の方が、１番目の階級の度数より大きくなっている。

上述したように、被測定物からの反射光は、測定光の発射からほぼ一定の時間が経過した後に受光されるのに対し、背景光の受光タイミングはランダムであるため、測定光の光出力レベルが大きくなるほど、ヒストグラムの度数のピークが大きくなる。また、測定光の光出力レベルが大きくなるほど、度数のピークを含む山の範囲が広くなる。なお、レベル３のヒストグラムでは、度数が測定回数NMAXと等しくなる階級（以下、飽和ビンと称する）が１つ現れ、レベル４のヒストグラムでは飽和ビンが３つ現れている。

図３に戻り、一方、ステップＳ１３において、カウンタｍ＞MMAXであると判定された場合、すなわち、全てのレベルの測定処理が終了した場合、処理はステップＳ１４に進む。

ステップＳ１４において、選択部７２は、記憶部８４に記憶されている各レベルの度数分布のデータ、すなわち、配列f[m][i]に格納されているデータを読み出す。

ステップＳ１５において、選択部７２は、距離の演算に用いる度数分布を選択する。ここで、度数分布の選択方法の例について説明する。

例えば、選択部７２は、以下のルールＡに従って、距離の演算に用いる度数分布を選択する。

<<ルールＡ>>
１．全てのレベルの度数分布に飽和ビンが存在しない場合、最も高い光出力レベルに対する度数分布を選択する。
２．全てのレベルの度数分布に飽和ビンが存在する場合、最も低い光出力レベルに対する度数分布を選択する。
３．飽和ビンが存在する度数分布と存在しない度数分布の両方がある場合
ａ．飽和ビンが１つのみの度数分布があるとき、飽和ビンが１つのみの度数分布のうち最も低い光出力レベルに対する度数分布を選択する。
ｂ．飽和ビンが１つのみの度数分布がないとき、飽和ビンが存在しない度数分布のうち最も高い光出力レベルに対する度数分布を選択する。

例えば、図５乃至図８に示されるヒストグラムが得られている場合、レベル１とレベル２のヒストグラムには飽和ビンが存在せず、レベル３とレベル４のヒストグラムには飽和ビンが存在しない。また、レベル３のヒストグラムには飽和ビンが１つのみ存在し、レベル４のヒストグラムには、飽和ビンが３つ存在する。従って、ルールＡの３ａに従って、レベル３の度数分布が選択される。

あるいは、例えば、選択部７２は、以下のルールＢに従って、距離の演算に用いる度数分布を選択する。

<<ルールＢ>>
１．全てのレベルの度数分布に飽和ビンが存在しない場合、最も高い光出力レベルに対する度数分布を選択する。
２．全てのレベルの度数分布に飽和ビンが存在する場合、最も低い光出力レベルに対する度数分布を選択する。
３．飽和ビンが存在する度数分布と存在しない度数分布の両方がある場合
ａ．飽和ビンが存在しない度数分布のうち度数のピークが所定の閾値ＴＨ以上となる度数分布があるとき、そのうち最も高い光出力レベルに対する度数分布を選択する。
ｂ．飽和ビンが存在しない度数分布のうち度数のピークが所定の閾値ＴＨ以上となる度数分布がないとき、飽和ビンが存在する度数分布のうち最も低い光出力レベルに対する度数分布を選択する。

例えば、図５乃至図８に示されるヒストグラムが得られている場合、レベル１のヒストグラムとレベル２のヒストグラムには飽和ビンが存在せず、レベル３とレベル４のヒストグラムには飽和ビンが存在しない。また、レベル１のヒストグラムの度数のピーク値は閾値ＴＨ未満であり、レベル２のヒストグラムの度数のピーク値は閾値ＴＨ以上である。従って、ルールＢの３ａに従って、レベル２の度数分布が選択される。

このようにして、度数のピークがより明確に現れる度数分布が、被測定物までの距離の演算に用いられるようになる。

ステップＳ１６において、演算部７３は、被測定物までの距離を演算する。例えば、演算部７３は、選択部７２により選択された度数分布において、連続する３階級ごとに度数の移動平均を求め、移動平均が最大となる区間を検出する。そして、例えば、連続する階級ｘ１乃至ｘ３の区間の度数の移動平均が最大となり、階級ｘ１乃至ｘ３の度数がｆ１乃至ｆ３、階級ｘ１乃至ｘ３に対応する距離がｄ１乃至ｄ３であるとすると、被測定物までの距離ｄは、以下の式（１）により計算される。

なお、これは、被測定物までの距離の演算方法の一例であり、他の方法により演算するようにしてもよい。また、必要に応じて、求めた距離に調整用のオフセット値を加算または減算するようにしてもよい。

演算部７３は、被測定物までの距離の演算結果を記憶部８４に記憶させる。

ステップＳ１７において、内部LCD６１は、測定距離を表示する。すなわち、表示制御部８５は、被測定物までの距離の演算結果を記憶部８４から読み出し、内部LCD６１に表示させる。その後、測距処理は終了する。

以上のようにして、複数の光出力レベルの測定光を用いて、各光出力レベル毎に所定の回数の測定処理を行い、得られた各光出力レベルに対する度数分布のうち、度数のピークがより明確に現れ、より適切な度数分布が、最終的な距離の演算に用いられるようになる。従って、被測定物の条件（例えば、面積、反射率、表面の形状など）による被測定物までの距離の測定結果のバラツキを抑制することができる。

なお、上述した測距装置１の処理は、ハードウエアにより実行することもできるし、ソフトウエアにより実行することもできる。一連の処理をソフトウエアにより実行する場合には、そのソフトウエアを構成するプログラムが、測距装置１などの専用のハードウエアに組み込まれているコンピュータ（例えば、CPU５１、FPGA６０）、または、各種のプログラムをインストールすることで各種の機能を実行することが可能な汎用のコンピュータなどに、プログラム記録媒体からインストールされる。

なお、コンピュータが実行するプログラムは、本明細書で説明する順序に沿って時系列に処理が行われるプログラムであっても良いし、並列に、あるいは呼び出しが行われたとき等の必要なタイミングで処理が行われるプログラムであっても良い。

また、本発明の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。

１ 測距装置， １２ 対物レンズ， １３ 受光レンズ， ５１ CPU， ５３ LD， ５５ APD， ５７ 閾値設定回路， ５８ ２値化回路， ５９ 発振器， ６０ FPGA， ７１ 測定制御部， ７２ 選択部， ７３ 演算部， ８１ カウンタ回路， ８２ サンプリング回路， ８３ 統計処理部， ８４ 記憶部

Claims (4)

1. 被測定物に向かってパルス状の測定光を発射し、その反射光を受光するまでの時間に基づいて前記被測定物までの距離を測定する測距装置において、
   複数の光出力レベルの前記測定光を用いて、各光出力レベル毎に前記被測定物までの距離の測定処理を所定の回数ずつ実行するように制御する測定制御手段と、
   前記所定の回数の測定処理において、受光した光の強度を示す受光信号の所定の時間毎の値が所定の第１の閾値以上となる回数を各所定の時間毎にカウントすることにより得られる度数分布を、各光出力レベル毎に作成する作成手段と、
   各光出力レベルに対する前記度数分布の中から、前記被測定物までの距離の演算に用いる前記度数分布を選択する選択手段と、
   選択された前記度数分布を用いて、前記被測定物までの距離を演算する演算手段と
   を含む測距装置。
2. 前記選択手段は、度数が前記所定の回数と等しい階級が１つのみ存在する前記度数分布のうち、最も低い光出力レベルに対する前記度数分布を選択する
   請求項１に記載の測距装置。
3. 前記選択手段は、度数のピークが所定の第２の閾値以上となり、かつ、度数が前記所定の回数と等しい階級が存在しない前記度数分布のうち、最も高い光出力レベルに対する前記度数分布を選択する
   請求項１に記載の測距装置。
4. 被測定物に向かってパルス状の測定光を発射し、その反射光を受光するまでの時間に基づいて前記被測定物までの距離を測定する測距装置が、
   複数の光出力レベルの前記測定光を用いて、各光出力レベル毎に前記被測定物までの距離の測定処理を所定の回数ずつ実行し、
   前記所定の回数の測定処理において、受光した光の強度を示す受光信号の所定の時間毎の値が所定の第１の閾値以上となる回数を各所定の時間毎にカウントすることにより得られる度数分布を、各光出力レベル毎に作成し、
   各光出力レベルに対する前記度数分布の中から、前記被測定物までの距離の演算に用いる前記度数分布を選択し、
   選択された前記度数分布を用いて、前記被測定物までの距離を演算する
   ステップを含む測距方法。

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