JPWO2015093470A1 - 端面観察装置 - Google Patents

端面観察装置 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2015093470A1
JPWO2015093470A1 JP2015553548A JP2015553548A JPWO2015093470A1 JP WO2015093470 A1 JPWO2015093470 A1 JP WO2015093470A1 JP 2015553548 A JP2015553548 A JP 2015553548A JP 2015553548 A JP2015553548 A JP 2015553548A JP WO2015093470 A1 JPWO2015093470 A1 JP WO2015093470A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
observation device
face
face observation
lens
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015553548A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6143386B2 (ja
Inventor
雄一 樋口
雄一 樋口
葉玉 恒一
恒一 葉玉
山口 城治
城治 山口
達 三浦
達 三浦
悦 橋本
悦 橋本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Publication of JPWO2015093470A1 publication Critical patent/JPWO2015093470A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6143386B2 publication Critical patent/JP6143386B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/08Testing mechanical properties
    • G01M11/088Testing mechanical properties of optical fibres; Mechanical features associated with the optical testing of optical fibres
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/0006Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 with means to keep optical surfaces clean, e.g. by preventing or removing dirt, stains, contamination, condensation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/36Mechanical coupling means
    • G02B6/38Mechanical coupling means having fibre to fibre mating means
    • G02B6/3807Dismountable connectors, i.e. comprising plugs
    • G02B6/3833Details of mounting fibres in ferrules; Assembly methods; Manufacture
    • G02B6/385Accessories for testing or observation of connectors
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/36Mechanical coupling means
    • G02B6/38Mechanical coupling means having fibre to fibre mating means
    • G02B6/3807Dismountable connectors, i.e. comprising plugs
    • G02B6/3833Details of mounting fibres in ferrules; Assembly methods; Manufacture
    • G02B6/3866Devices, tools or methods for cleaning connectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Endoscopes (AREA)
  • Instruments For Viewing The Inside Of Hollow Bodies (AREA)
  • Cleaning In General (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Mechanical Coupling Of Light Guides (AREA)

Abstract

本発明に係る端面観察装置(101)は、光軸方向に貫通する欠落部(120)を有する第1レンズ(12)と、第1レンズを介して観察対象物の端面(200A)に照射する光を発生させる光源(14)と、第1レンズを介して観察対象物の端面の像を受像する撮像素子(15)とを備えることを特徴とする。これによれば、観察対象物の端面を操作するための構造体を第1レンズの欠落部に挿入することにより、観察対象物の端面を操作するための構造体とその端面を観察するための観察装置とを一体化した端面観察装置を実現することができる。

Description

本発明は、光コネクタの端面状態を観察する端面観察装置に関する。
光通信において、光コネクタは各種ネットワーク装置や光ファイバ間を接続するための必要不可欠な部品である。光コネクタでの損失を低減することは良好な光通信を実現する上で非常に重要である。光コネクタにおける損失要因は主に、コネクタ端面におけるゴミ、異物の付着や汚れである。そのため光コネクタの接続時にはコネクタ端面の清掃や観察が重要な作業になっている。
具体的に、光コネクタは、雄コネクタであるプラグと、雌コネクタでありネットワーク装置などでプラグの差し込み口となるレセプタクルとから構成されている。従来から、上記プラグと上記レセプタクルの夫々について、清掃や観察を行うためのクリーナや端面観察装置が提案されている。
例えば、特許文献1には、レセプタクル内のコネクタ端面用のクリーナテープを備えたクリーナが開示されている。また、特許文献2には、レセプタクル内のコネクタ端面の観察装置が開示されている。コネクタ接続等を行う際には、このような装置を使用して光コネクタの清掃作業と観察作業が行われている。
特開2004−219602号公報 特開平10−19728号公報
しかしながら、上述したような従来の清掃装置と観察装置とは別装置で提供されることが一般的であったため、夫々の装置を別箇に用意し、それらを適宜交換しながら清掃作業と観察作業とを行っていた。そのため作業の繁雑さが避けられないという課題があった。
本発明の目的は、操作し易く、且つ作業時間を短縮することが可能な端面観察装置を提供することにある。
本発明に係る端面観察装置は、光軸方向に貫通する欠落部を有する第1レンズと、第1レンズを介して観察対象物の端面に照射する光を発生させる光源と、第1レンズを介して観察対象物の端面の像を受像する撮像素子とを備えることを特徴とする。
本発明によれば、観察対象物の端面を操作するための構造体を第1レンズの欠落部に挿入することにより、観察対象物の端面を操作するための構造体とその端面を観察するための観察装置とを一体化した端面観察装置を実現することができる。これにより、操作し易く、且つ作業時間を短縮することが可能な端面観察装置を実現することができる。
図1は、実施形態1に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図2Aは、実施の形態1に係る端面観察装置におけるクリーニング機構の具体的な構成例を示す図である。 図2Bは、実施の形態1に係る端面観察装置における光源の構成例を示す図である。 図2Cは、実施の形態1に係る端面観察装置における光源の別の構成例を示す図である。 図3Aは、実施の形態1に係る端面観察装置の使用方法を説明するための図である。 図3Bは、実施の形態1に係る端面観察装置の別の使用方法を説明するための図である。 図4は、実施の形態2に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図5は、実施の形態2に係る端面観察装置の別の構成を示す図である。 図6は、実施の形態3に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図7は、実施の形態4に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図8は、実施の形態5に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図9Aは、実施の形態6に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図9Bは、実施の形態6に係る端面観察装置の別の構成を示す図である。 図9Cは、実施の形態6に係る端面観察装置の別の構成を示す図である。 図9Dは、実施の形態6に係る端面観察装置の別の構成を示す図である。 図9Eは、実施の形態6に係る端面観察装置の別の構成を示す図である。 図10は、実施の形態7に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図11は、実施の形態8に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図12は、実施の形態9に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図13は、実施の形態10に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図14は、実施の形態11に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図15は、実施の形態12に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図16は、実施の形態13に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図17は、実施の形態14に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図18は、実施の形態15に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図19は、実施の形態16に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図20は、実施の形態17に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図21は、実施の形態18に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図22は、実施の形態19に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図23は、実施の形態20に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図24は、実施の形態21に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図25は、実施の形態22に係る端面観察装置の別の構成を示す図である。 図26は、実施の形態23に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図27は、実施の形態24に係る端面観察装置の構成を示す図である。 図28Aは、本発明に係る端面観察装置の本体の構成を示す図である。 図28Bは、本発明に係る端面観察装置に挿入される構造体の構成を示す図である。
1.本発明に係る端面観察装置の概要
本発明に係る端面観察装置の概要を説明する。
(1)(端面観察装置の本体)
本発明に係る端面観察装置(100〜124)は、光軸方向に貫通する欠落部を有する第1レンズ(12)と、第1レンズを介して観察対象物(200)の端面(200A)に照射する光を発生させる光源(9、14)と、第1レンズを介して観察対象物の端面の像を受像する撮像素子(15)とを備えることを特徴とする。
(2)(レンズの欠落部に構造体を挿入した端面観察装置)
上記(1)に記載の端面観察装置(101)は、第1レンズの欠落部内に挿入され、観察対象物の端面を操作するための構造体(13)を更に備えてもよい。
(3)(クリーニング機構)
上記(2)の端面観察装置において、構造体は、観察対象物の端面を清掃するためのクリーニング機構を含んでもよい。
(4)(第1レンズが光軸と同軸)
上記(1)〜(3)の何れか一つの端面観察装置(101、102)において、光源と第1レンズとは、同軸となるように配置されている。
(5)(リング状のレンズ)
上記(1)〜(4)の何れか一つの端面観察装置において、第1レンズは、リング形状を有していてもよい。
(6)(リング状の光源)
上記(1)〜(5)の何れか一つの端面観察装置(101、102)において、光源は、リング形状を有していてもよい。
(7)(反射光と照明光が同一媒体内を共通に伝搬する)
上記(1)〜(6)の何れか一つの端面観察装置(101、102)において、筒状の筐体を更に備え、第1レンズおよび構造体は、筒状の筐体の一端に配置され、光源および撮像素子は、筒状の筐体の他端に配置され、光源からの照明光と観察対象物の端面からの反射光とが筐体内の共通の空間を伝搬するようにしてもよい。
(8)(第2レンズ)
上記(1)〜(7)の何れか一つの端面観察装置(102)は、第1レンズと撮像素子との間の光軸上に設けられた第2レンズ(16)を更に備えてもよい。
(9)(透明部材)
上記(8)に記載の端面観察装置は、第1レンズと第2レンズとの間の光軸上に設けられた透明部材(17)を更に備えてもよい。
(10)(光学素子)
上記(1)〜(3)の何れか一つの端面観察装置(105〜124)は、第1レンズと撮像素子との間の光軸上に設けられ、入射した光の一部を反射し、一部を透過させる光学素子(22、30、34、35)を更に備えてもよい。
(11)(光学素子:ビームスプリッタorハーフミラー)
上記(10)の端面観察装置において、光学素子は、ビームスプリッタまたはハーフミラーであってもよい。
(12)(光学素子:非平行のハーフミラー)
上記(10)の端面観察装置(121)において、光学素子は、反射面と透過面とが非平行のハーフミラー(34)であってもよい。
(13)(光学素子:相対角度が45度ではないビームスプリッタ)
上記(10)の端面観察装置(122)において、光学素子は、ビームスプリッタ(35)であり、ビームスプリッタは、光源に対向する透過面と当該透過面を介して入射する光の一部を反射する反射面との相対角度が45度ではなくてもよい。
(14)(撮像素子側の第2レンズ)
上記(10)乃至(13)の何れか一つの端面観察装置(105)は、光学素子と撮像素子との間の光軸上に設けられた第2レンズ(16)を更に備えていてもよい。
(15)(第1レンズ側の第2レンズ)
上記(10)乃至(13)の何れか一つの端面観察装置(106〜124)は、第1レンズと光学素子との間の光軸上に設けられた第2レンズ(16、31)を更に備えていてもよい。
(16)(第1レンズ側の第3レンズ)
上記(15)の端面観察装置(106、123、124)は、第1レンズと第2レンズとの間の光軸上に設けられた第3レンズ(17、32)を更に備えていてもよい。
(17)(光源側の第4レンズ)
上記(15)の端面観察装置(106)は、光源と光学素子との間の光軸上に設けられた第4レンズ(23)を更に備えていてもよい。
(18)(第2レンズ+撮像素子側の光学部品)
上記(10)〜(17)の何れか一つの端面観察装置(107、109、111、114〜122)において、撮像素子と光学素子との間の光軸上に、アイリス(24)、波長フィルタ(26)、および偏波フィルタ(28)の少なくとも一つを更に備えていてもよい。
(19)(第2レンズ+光源側の光学部品)
上記(10)〜(18)の何れか一つの端面観察装置(108、110、112、115〜122)において、光源と光学素子との間の光軸上に、アイリス(25)、波長フィルタ(27)、および偏波フィルタ(29)の少なくとも一つを更に備えていてもよい。
(20)(透明部材)
上記(10)〜(19)の何れか一項に記載の端面観察装置(106A、106E)において、第1レンズと光学素子との間の光軸上に設けられた透明材料(17)を更に備えていてもよい。
(21)(構造体の操作部)
上記(10)〜(19)の何れか一つの端面観察装置(124)は、第1レンズと光学素子との間の光軸上に設けられ、透明材料から成る操作部(36)を有し、操作部は、構造体と連結され、光軸方向に移動可能にされていてもよい。
(22)(非共焦点光学系)
上記(10)〜(20)の何れか一つの端面観察装置(105〜112)において、光源と撮像素子とは、夫々光学素子からの光学的距離が異なる位置に配置されていてもよい。
(23)(共焦点光学系)
上記(10)〜(20)の何れか一つの端面観察装置(113〜122)において、光源と撮像素子とは、夫々光学素子からの光学的距離が等しい位置に配置されていてもよい。
(24)(光源と撮像素子とが光学的に共役な関係を有する)
上記(10)〜(20)の何れか一つの端面観察装置(113〜122)において、光源と撮像素子とは、第1レンズに対して光学的に共役の位置にあってもよい。
(25)(ライトバルブ)
上記(1)〜(4)の何れか一つの端面観察装置(103、104)において、構造体(20)は、空気以外の透明材料から成り、光源からの照明光を観察対象物の端面に導く光学部材(133)を更に含んでもよい。
2.実施の形態
以下、本発明に係る端面観察装置の実施の形態について図を参照して説明する。
≪実施の形態1≫
図1は、本発明の実施の形態1に係る端面観察装置の構成を示す図である。
端面観察装置101は、観察対象物としての光コネクタ200の端面(光コネクタ端面の中央部に露出した光ファイバの端面)200Aを観察するための観察機構と光コネクタ200の端面200Aを操作するための構造体とが一体化した構造を有する。なお、図1において、光コネクタ200は二点鎖線で示されている。
以下では、上記構造体が光コネクタ200の端面200Aを清掃するためのクリーニング機構13である場合を一例として説明する。
具体的に、端面観察装置101は、図1に示されるように、対物レンズ12、クリーニング機構13、光源9、および撮像素子15を備える。端面観察装置101は、例えば筒状の筐体11内に、上述の対物レンズ12、光源9、撮像素子15等の機能素子が配置された構造を有している。また、筐体11内は、例えば空気で満たされている。この空気は、光が伝搬する媒体である。
なお、以下の説明では、図1において端面観察装置101における対物レンズ12が配置される側を“前方”と称し、端面観察装置101における光源9および撮像素子15が配置される側を“後方”と称する。
対物レンズ12は、光軸方向に貫通する欠落部を有している。具体的には、対物レンズ12は、その中央部に光軸方向に貫通する貫通孔1200を有している。換言すれば、対物レンズ12は、リング形状を有している。対物レンズ12は、例えば、その光軸が筒状の筐体11と同軸となるように筐体11の一端に配置されている。
クリーニング機構13は、その一部が対物レンズ12の上記の貫通孔1200から光コネクタ200に向かって突き出ることが可能なように配置されている。クリーニング機構13としては、特許文献1に示されるような光コネクタ200の中央にある光ファイバの端面にクリーニングテープを押し付け、端面内の所定の方向に摺動させる構造を有するものを例示することができる。
図2Aは、クリーニング機構13の具体的な構成例を示す図である。図2Aには、端面観察装置101の先端部を図1における方向Aから見たときの正面図が模式的に示されている。
図1および図2Aに示されるように、クリーニング機構13は、例えば、対物レンズ12の貫通孔1200内に設けられたクリーナチップ132と、クリーナチップ132の端面の一部を覆うように配置されたクリーニングテープ131とから構成されている。クリーニングテープ131は、例えば、図示されない摺動機構によって、クリーナチップ132の端面内を所定の方向、例えば図2Aの矢印の方向に移動する。なお、図1および図2Aには、クリーニングテープ131とクリーナチップ132の一部のみが図示されており、詳細は図示されていない。
光コネクタ200の端面200Aをクリーニングする場合には、例えば、光コネクタ200の端面200Aの中央に対向するように、クリーナチップ132を対物レンズ12の貫通孔1200から光コネクタ200に向かって突出させ、クリーニングテープ131を端面200Aに押し付ける。この状態でクリーニングテープ131を移動させて、端面200Aに付着した異物を除去する。
撮像素子15は、光学系、すなわち対物レンズ12を介して光コネクタ200の端面200Aの像を撮像し、端面200Aの画像を生成するものである。撮像素子15は、例えば、CCD(Charge Coupled Device)やCMOS(Complementary metal−oxide−semiconductor)カメラなどを用いて構成することができる。撮像素子15は、端面観察装置101の後方に配置されている。より具体的には、撮像素子15は、例えば、筐体11の長手方向に垂直な断面形状に合わせて形成された円形状の板状部材(例えば基板等)の表面に搭載され、その板状部材が筐体11の他端に配置される。
光源9は、対物レンズ12を介して端面200Aに照射する照明光を発生する。光源9は、その中心を通る軸(中心軸)に対して対称な光の強度分布(輝度)を有する光源であり、例えば、LEDや半導体レーザから構成されている。
光源9は、対物レンズ12と同軸となるように配置されている。具体的には、光源9の中心軸が対物レンズ12の光軸10と同軸となっている。以下、光源9の具体的な構成例を示す。
図2Bは、光源9の構成例を示す図である。図2Cは、光源9の別の構成例を示す図である。図2B、2Cには、端面観察装置101の先端部を図1における方向Bから見たときの正面図が模式的に示されている。
図2Bに示されるように、光源9はリング形状を有する。光源9は、対物レンズ12の光軸10と同軸となるように、筒状の筐体11の他端に配置されている。すなわち、光源9は、筐体11の対物レンズ12が配置される端部と反対側の端部に、その光源の中心軸の方向と垂直な断面が光軸10と垂直となるように配置される。これによれば、光源9から照射される照明光は、光軸10に対して軸対称の強度分布を持つことになる。
また、光源9の別の構成例として、図2Cに示されるように、対物レンズ12の光軸10に対して対称となるように一対の光源9_1、9_2を配置してもよい。例えば、光軸10を介して対向する位置、すなわちリングの径上に、一対の光源9_1、9_2を夫々配置する。これによれば、図2Bの場合と同様に、光源9_1、9_2から照射される照明光は、光軸10に対して軸対称の強度分布を持つことになる。
なお、図2Cには、光源9_1、9_2を一組配置する場合が図示されているが、これに限られず、円周上に等間隔で光源を複数配置してもよい。
上記のように、光源9、対物レンズ12、および撮像素子15を配置することにより、光源9からの照明光と端面200Aからの反射光とは、筐体11内の共通の空間を伝搬する。換言すれば、照明光と反射光とは、筐体11内の同一の媒体中(例えば空気中)を、略同じ経路で伝搬する。例えば、光源9からの照明光の少なくとも一部は、筐体11内を伝搬し、対物レンズ12の円環部1201を通して光コネクタ200の端面200Aに導かれる。一方、光コネクタ200の端面200Aからの反射光の少なくとも一部は、対物レンズ12の円環部1201を通って筐体11内を伝搬し、撮像素子15に結像する。
図3Aは、実施の形態1に係る端面観察装置の使用方法を説明するための図である。同図は、レセプタクル形状の光コネクタの端面を端面観察装置101で観察している状態を示している。レセプタクル形状の光コネクタでは、光コネクタ本体200が、割スリーブ201と呼ばれる筒状の部材の中に配置されている。
図3Aに示すように、端面観察装置101の先端部の最外径L1が、コネクタ内径L2以下となるように、端面観察装置101は設計されている。これにより、ユーザは、割スリーブ201内に端面観察装置101を挿入することができるので、光コネクタ200の端面200Aの清掃および観察が可能となる。このように、端面観察装置101の先端部の最外径をコネクタ内径以下にすることで、レセプタクル形状やプラグ形状等の何れの光コネクタに対しても、一つの端面観察装置による清掃と観察が可能となる。
図3Bは、実施の形態1に係る端面観察装置の別の使用方法を説明するための図である。同図は、レセプタクル形状の光コネクタの端面を端面観察装置101で観察している状態を示している。図3Bに示すように、端面観察装置は割スリーブ201の外側に配置された状態で端面観察を行う。クリーニング機構13の先端部の最外径L3が、コネクタ内径L2以下となるように、端面観察装置101は設計されている。
これにより、ユーザは、割スリーブ201内にクリーニング機構13を挿入することができるので、光コネクタ200の端面200Aの清掃および観察が可能となる。
また、対物レンズ12の開口がレセプタクル形状の光コネクタの端面位置と割スリーブ201の長さで決まる開口(図3Bにおける一点鎖線210)より大きくなるよう、対物レンズの形状を設計することで、観察像が欠けたり、観察像の周辺部が暗くなったりすることなく高精細の像を観察することができる。
以上、実施の形態1に係る端面観察装置によれば、対物レンズの欠落部にクリーニング機構の一部を配置することにより、光コネクタの端面の清掃装置と観察装置とを一体化することができる。これにより、光コネクタの接続時等において、端面に対する清掃前後の像の観察が可能となるので、清掃装置と観察装置を別個に用意する必要がない。したがって、実施の形態1に係る端面観察装置によれば、操作し易く、且つ作業時間を短縮することが可能となる。
また、実施の形態1に係る端面観察装置101によれば、光源9と対物レンズ12とを、光軸10と同軸となるように配置しているので、光源9から発生した照明光の強度分布と光コネクタ200の端面200Aからの反射光の強度分布とが共に光軸に対して軸対称となる同軸光学系を、構成することができる。換言すれば、照明光の強度の中心と端面からの反射光の強度の中心とが光軸の近傍に位置する同軸光学系を構成することができる。これにより、光コネクタ200の端面200Aに対する照明のムラを抑えることができ、端面200Aのムラの少ない均一な画像を得ることが可能となる。
また、実施の形態1に係る端面観察装置101によれば、照明光の光伝搬路と反射光の光伝搬路とを互いに分離しないので、光伝搬路毎に異なる媒体を設けたりする必要がなく、部品の増加や製造コストの増大を抑えることが可能となる。
なお、対物レンズ12に欠落部を設けることにより、像の明るさやコントラストが低下するおそれがあるが、例えば対物レンズ12の欠落部の面積と対物レンズ12のレンズ開口を適切に設計することで、画像の分解能の劣化を抑えた観察画像を撮像素子15上に結像することが可能である。
≪実施の形態2≫
図4は、実施の形態2に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置102は、対物レンズ12と撮像素子15との間にレンズ16を更に設ける点で実施の形態1に係る端面観察装置101と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置101と同様である。以下の説明においては、実施の形態1に係る端面観察装置101と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
対物レンズ12と撮像素子15との間に設けられたレンズ16は、対物レンズ12と焦点距離が異なるレンズである。これにより、レンズ16の焦点距離と対物レンズ12の焦点距離の比を調整することで、撮像素子15に結像する像の倍率を調整することができる。
以上、実施の形態2に係る端面観察装置によれば、対物レンズ12と撮像素子15との間にレンズ16を備えているので、レンズ16の焦点距離と対物レンズ12の焦点距離の比を調整することにより、撮像素子に結像する像の倍率を調節することができる。これにより、撮像素子15に撮像面に結像する像の解像度を向上させることができる。また、像の倍率が調整可能であることから、筒状の筐体11の長さを延長することができ、端面観察装置の設計の自由度が増す。
更に、実施の形態2に係る端面観察装置によれば、光コネクタ200の端面200Aを対物レンズ12の焦点位置に配置することにより、光コネクタ200の端面200Aからの反射光(端面200Aの像)は、筐体11内の対物レンズ12とレンズ16との間で略平行な光として伝搬するので、対物レンズ12の中心部分にクリーニング機構13等の障害物があったとしても、撮像素子15の撮像面に高精細に結像することが可能となる。これにより、光コネクタ端面に付着した異物のサイズ等を検知することが容易となる。
なお、端面観察装置102において、図5に示すように、対物レンズ12とレンズ16との間に透明部材17を設け、上記と同様に、クリーニング機構等の障害物を回避するような光学系を構成してもよい。例えば、透明部材17として、レンズを設けることにより、対物レンズ12およびレンズ16の2枚レンズを設けた光学系に比べて、光学設計の自由度が更に増し、障害物の回避がより容易になる。これにより、色収差やコマ収差を抑制する等の光学性能を向上させることが可能になり、より高画質な像を得ることができる。
≪実施の形態3≫
図6は、実施の形態3に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置103は、光源からの照明光を反射する折り曲げミラー18と、対物レンズ12の貫通孔1200内に設けられ、折り曲げミラー18によって反射された光を主に伝搬させて光コネクタ200の端面200Aを照明するライトバルブ133を有する点で実施の形態2に係る端面観察装置102と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置102と同様である。以下の説明においては、実施の形態2に係る端面観察装置102と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
具体的に、端面観察装置103は、図6に示されるように、例えば筒状の筐体11の一部に開口部を設け、その開口部の外側に光源14を設ける。光源14は、単一の光源であり、例えば、LEDや半導体レーザから構成されている。また、端面観察装置103は、折り曲げミラー18および遮光板19を更に有する。折り曲げミラー18は、光源14から照射された照明光の伝搬方向を変えるための光学部品である。遮光板19は、光を遮蔽する光学部品であり、ライトバルブ131内を伝搬する端面200Aからの反射光が撮像素子15まで伝搬しないように、ライトバルブ131および折り曲げミラー18の一部を覆うように設置されている。
また、端面観察装置103は、クリーニング機構13に代えて、クリーニングチップの一部がライトバルブ133で構成されたクリーニング機構20を有している。ここで、ライトバルブ133とは、空気以外の透明な材料から成り、光源14からの照明光を光コネクタ200の端面200Aに導く部材である。
端面観察装置103において、光源14からの照明光は、折り曲げミラー18で曲げた後に、対物レンズ12の貫通孔1200内に設けられたライトバルブ133内を主に伝搬し、光コネクタ200の端面200Aに導かれる。一方、光コネクタ200の端面200Aからの反射光は、対物レンズ12の円環部1201およびライトバルブ133を通って筐体11内を伝搬する。このとき、ライトバルブ133を通った端面200Aからの反射光は、遮光板19によって遮蔽され、撮像素子15まで伝搬しないため、主に、対物レンズ12の円環部1201を通った端面200Aからの反射光がレンズ16を介して、撮像素子15の撮像面に結像する。
実施の形態3に係る端面観察装置によれば、光源からの照明光を対物レンズ12の貫通孔内に設けられたライトバルブ133を介して光コネクタ200の端面200Aに導くので、空気中を伝搬させる場合に比べて、照明光を、より広範囲、且つ均一に端面200Aに照射することができる。
また、単一の光源を用いた場合であっても均一な照明光分布が得られるので、複数の光源を設ける必要がなく、部品点数を削減することができる。
また、ライトバルブ133内を伝搬する端面からの反射光が撮像素子まで伝搬しないように遮光板19を設けることにより、ライトバルブ133内を伝搬した反射光が撮像素子15まで到達することによる解像度の劣化を防止することができるので、より高解像度の像を撮像素子15で得ることができる。
なお、実施の形態3に係る端面観察装置103では、ライトバルブを用いたが、これに替えて、例えばファイババンドルや拡散板を介することで同様の効果を得ることができる。また、照明光を対物レンズ12の貫通孔内の空間を伝搬させることにより、より高効率の伝搬が可能になる。
≪実施の形態4≫
図7は、実施の形態4に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置104は、単一の光源14をライトバルブ133の近傍に配置する点で実施の形態3に係る端面観察装置103と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置103と同様である。以下の説明においては、実施の形態3に係る端面観察装置103と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
図7に示されるように、端面観察装置104は、ライトバルブ133の対物レンズ12に挿入される側と反対側の端部の近傍に光源14を配置し、且つライトバルブ内を伝搬した反射光が撮像素子15まで到達しないように、光源14の周辺に遮光板21を配置している。
以上、実施の形態4に係る端面観察装置によれば、実施の形態3に係る端面観察装置と同様に、光源からの照明光をより広範囲且つ均一に端面に照射することができ、且つより高解像度の像を撮像素子15で得ることができる。
また、単一の光源を用いた場合であっても均一な照明光分布が得られるので、複数の光源を設ける必要がなく、部品点数を削減することができる。
また、実施の形態4に係る端面観察装置によれば、光源からの照明光の伝搬方向を変化させる必要がないので、部品点数を減らすことができ、端面観察装置を小型化できる。
≪実施の形態5≫
図8は、実施の形態5に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置105は、筒状の筐体11の外部に配置した光源14からの照明光をビームスプリッタ等の光学素子によって反射させ、且つ、光コネクタの端面からの反射光を上記光学素子を透過して撮像素子まで伝搬させる点で実施の形態2に係る端面観察装置102と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置102と同様である。以下の説明においては、実施の形態2に係る端面観察装置102と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
具体的に、端面観察装置105は、光学素子22を更に備える。
光学素子22は、対物レンズ12と撮像素子15との間の光軸上に設けられる。光学素子22は、入射した光の一部を反射し、一部を透過させる光学部品であり、例えば、ビームスプリッタやハーフミラーである。なお、以下の説明では、一例として光学素子22がビームスプリッタであるものとし、光学素子22をビームスプリッタ22と表記する。
光源14は、例えば、筒状の筐体11の外部に配置する。具体的には、図8に示されるように、例えば筒状の筐体11の一部に開口部を設け、その開口部の外側に光源14を配置する。
ここで、光源14は、観察対象物の端面の共焦点からずれた場所に配置してもよい。例えば、光源14の像が対物レンズ12の欠落部に結像するように、光源14と撮像素子15とを、夫々ビームスプリッタ22からの光学的距離が異なる位置に配置してもよい。また、光源の像が光コネクタ200の端面200Aよりも前方に結像するように、光源14と撮像素子15とを、夫々ビームスプリッタ22からの光学的距離が異なる位置に配置してもよい。
上記のように端面観察装置105を構成することにより、光は以下のように伝搬する。例えば、光源14から発生した光は、ビームスプリッタ22で反射し、対物レンズ12を透過して光コネクタ200の端面200Aに照射される。一方、光コネクタ200の端面200Aからの反射光は、対物レンズ12、ビームスプリッタ22、レンズ16の順に透過し、撮像素子15の撮像面に結像する。
以上、実施の形態5に係る端面観察装置によれば、ビームスプリッタを設けたことにより、光源からの照明光の強度分布と観察対象物の端面からの反射光の強度分布とが共に光軸に対して軸対称となる同軸光学系を、ビームスプリッタの前方の位置に容易に構成することができる。換言すれば、照明光の強度中心と端面からの反射光の強度の中心とが光軸の近傍に位置する同軸光学系を、対物レンズ12とビームスプリッタ22との間の位置に容易に構成することができる。これにより、単一の光源を用いた場合であっても均一な照明光分布が得られるので、複数の光源を設ける必要がなく、部品点数を削減することができる。また、上記のように同軸光学系を構成することにより、実施の形態1に係る端面観察装置と同様に、照明光のムラを抑え、且つ観察対象物の端面のムラの少ない高解像な画像を得ることが可能となる。
また、実施の形態5に係る端面観察装置によれば、ビームスプリッタやハーフミラー等の光学素子を用いない場合に比べて、光源を配置する場所の制約が減り、レイアウト設計が容易になる。
また、実施の形態5に係る端面観察装置において、光源を観察対象物の端面の共焦点からずれた配置することにより、共焦点配置にした場合に比べて、より均一な照明光の分布や高解像度の画像を得ることが可能となる。例えば、光源を観察対象物の端面の共焦点に配置とした場合、光源の像と観察対象物の端面の像とが重なることによって照明光の均一性や端面の反射光(像光)の像質が劣化するおそれがあるが、光源を観察対象物の端面の共焦点からずれた配置にすることにより、そのような問題の発生を防ぐことができるので、より均一な照明光の分布や高解像度の画像を得ることが可能となる。
特に、光源の像が光コネクタ200の端面200Aよりも前方に結像するように、光源14と撮像素子15とを、夫々ビームスプリッタ22からの光学的距離が異なる位置に配置することにより、対物レンズ12の欠落部に配置された構造体13によって照明光が遮蔽される程度が低くなるため、より明るい照明光を得ることができる。
また、実施の形態5に係る端面観察装置において、撮像素子15とビームスプリッタ22の間にレンズ16を配置することにより、光コネクタ200の端面200Aからの反射光を結像するための光学系を、光源14からの照明光のための光学系と別けて設計することが可能となり、光源14の指向性の特性等を考慮した設計ができ、より高解像度の画像を得るための光学設計が容易となる。
≪実施の形態6≫
図9Aは、実施の形態6に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置106Aは、実施の形態5に係る端面観察装置105の変形例である。以下の説明においては、実施の形態5に係る端面観察装置105と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
具体的に、端面観察装置106Aは、ビームスプリッタ22と光源14の間にレンズ23を備えている。また、端面観察装置106Aは、ビームスプリッタ22と対物レンズ12の間に、光源14からの照明光と端面200Aからの反射光(像光)とで共通のレンズ系を構成するレンズ16、レンズ形状の透明部材17を備えている。更に、端面観察装置106Aは、撮像素子15とビームスプリッタ22の間にレンズ系を有していない。
実施の形態6に係る端面観察装置106Aによれば、ビームスプリッタ22と光源14の間にレンズ23を備えているので、光源14からの照明光のための光学系を、光コネクタ200の端面200Aからの反射光を結像するための光学系と別々に設計することが可能となり、光源14の指向性の特性等を考慮した設計ができ、良質な照明光を提供することが可能となる。
また、実施の形態6に係る端面観察装置106Aによれば、ビームスプリッタ22と対物レンズ12の間にレンズ16、レンズ形状の透明部材17を備えているので、照明光と反射光とでレンズ等の光学部品を共有することができる。これにより、部品点数を削減することができ、組立の容易さやコスト低減といった効果が得られる。
また、実施の形態6に係る端面観察装置106Aによれば、撮像素子15とビームスプリッタ22の間にレンズ系を有していないので、光源14と撮像素子15とをより近接させて配置することができる。これにより、撮像素子15と光源14の電源部(図示せず)を集約化でき、端面観察装置の小型化を図ることができる。
なお、図9Aでは、ビームスプリッタ22と光源14の間にレンズ23を備えること、ビームスプリッタ22と対物レンズ12の間にレンズ16および透明部材17の少なくとも一つを備えること、および撮像素子15とビームスプリッタ22の間にレンズ系を有しないこと、の以上3つの特徴的な構成を全て含む場合を例示したが、これに限られない。例えば、図9Bから図9Eに示す端面観察装置106B〜106Eのように、上記3つの特徴的な構成の夫々を必要に応じて適宜組み合わせることも可能である。
≪実施の形態7≫
図10は、実施の形態7に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置107は、レンズ16を対物レンズ12とビームスプリッタ22との間に備え、且つ撮像素子15の近傍に光量調整機構を備える点で実施の形態5に係る端面観察装置105と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置105と同様である。以下の説明においては、実施の形態5に係る端面観察装置105と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
具体的に、レンズ16は、ビームスプリッタ22と撮像素子15との間ではなく、対物レンズ12とビームスプリッタ22との間に配置される。レンズ16は、対物レンズ12と焦点距離が異なるレンズである。
また、端面観察装置107は、ビームスプリッタ22と撮像素子15との間に、光量調整機構(以下、「アイリス」と称する。)24を備えている。ここで、アイリス24は、例えば、開口を有する板状の部材である。アイリス24は、その開口外から撮像素子15への入射光を遮蔽して、撮像素子15の受像領域を制限する。
アイリス24を配置することにより、端面200Aからの反射光(像光)の想定される伝搬経路と異なる経路から撮像素子15に入射する光(迷光)を除去することができる。
以上、実施の形態7に係る端面観察装置107によれば、上記のようにアイリス24を設けることにより、迷光による画質劣化を低減することができ、画像の品質を向上させることができる。
≪実施の形態8≫
図11は、実施の形態8に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置108は、光源14とビームスプリッタ22の間にアイリス25を備える点で実施の形態7に係る端面観察装置107と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置107と同様である。以下の説明においては、実施の形態7に係る端面観察装置107と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
具体的に、端面観察装置108は、光源14とビームスプリッタ22の間に、アイリス25を備える。これにより、ビームスプリッタ22への入射光を制限することができるので、ビームスプリッタ22の周辺における反射光や光源14から撮像素子15に直接入射光等の想定外の光に起因する迷光の発生を抑制し、撮像素子15に入射される端面200Aからの反射光以外の不要な迷光を低減することができる。
以上、実施の形態8に係る端面観察装置108によれば、上記のようにアイリス25を設けることにより、迷光による画質劣化を低減することができ、画像の品質を向上させることができる。
なお、実施の形態8に係る端面観察装置108において、実施の形態7に係る端面観察装置107と同様に、ビームスプリッタ22と撮像素子15との間にアイリス24を更に設けてもよい。
≪実施の形態9≫
図12は、実施の形態9に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置109は、ビームスプリッタ22と撮像素子15との間に波長フィルタ26を備える点で実施の形態7に係る端面観察装置107と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置107と同様である。以下の説明においては、実施の形態7に係る端面観察装置107と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
具体的に、ビームスプリッタ22と撮像素子15との間に設けられた波長フィルタ26は、所定の波長範囲の光を透過し、それ以外の波長範囲の光を吸収または反射する光学フィルタである。これにより、撮像素子15への入射光の波長範囲を制限し、色収差による像光のボケを低減することができる。
以上、実施の形態9に係る端面観察装置109によれば、上記のように波長フィルタ26を設けることにより、撮像素子15への入射光の波長範囲を制限し、色収差による像光のボケを低減することができるので、画質劣化を低減することができ、画像の品質を向上させることができる。
≪実施の形態10≫
図13は、実施の形態10に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置110は、光源14とビームスプリッタ22の間に波長フィルタ27を備える点で実施の形態9に係る端面観察装置109と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置109と同様である。以下の説明においては、実施の形態9に係る端面観察装置109と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
具体的に、光源14とビームスプリッタ22の間に設けられた波長フィルタ27は、光源14からの照明光の波長範囲を制限する。その結果、光学系の色収差の影響を抑制することができる。
以上、実施の形態10に係る端面観察装置110によれば、上記のように波長フィルタ27を設けることにより、光源14からの照明光の波長範囲を制限し、光学系の色収差の影響を抑制することができるので、撮像素子15に結像する像の品質を向上させることができる。
なお、実施の形態10に係る端面観察装置110において、実施の形態9に係る端面観察装置109と同様に、ビームスプリッタ22と撮像素子15との間に波長フィルタ26を更に設けてもよい。
≪実施の形態11≫
図14は、実施の形態11に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置111は、ビームスプリッタ22と撮像素子15との間に偏波フィルタ28を備える点で実施の形態9に係る端面観察装置109と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置109と同様である。以下の説明においては、実施の形態9に係る端面観察装置109と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
具体的に、ビームスプリッタ22と撮像素子15との間に設けられた偏波フィルタ28は、所定の偏波方向の光を透過し、それ以外の偏波方向の光を吸収または反射する光学フィルタである。これにより、撮像素子15への入射光の偏波方向を制限し、光学部品の偏波依存による像光のボケを低減することができる。
以上、実施の形態11に係る端面観察装置111によれば、上記のように偏波フィルタ28を設けることにより、撮像素子15への入射光の偏波方向を制限し、光学部品の偏波依存による像光のボケを低減することができるので、画質劣化を低減することができ、画像の品質を向上させることができる。
≪実施の形態12≫
図15は、実施の形態12に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置112は、光源14とビームスプリッタ22の間に偏波フィルタ29を備える点で実施の形態11に係る端面観察装置111と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置111と同様である。以下の説明においては、実施の形態11に係る端面観察装置111と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
具体的に、光源14とビームスプリッタ22の間に設けられた偏波フィルタ29は、光源14からの照明光の偏波方向を制限する。その結果、光学系の偏波依存の影響を抑制することができる。
以上、実施の形態12に係る端面観察装置112によれば、上記のように偏波フィルタ29を設けることにより、光源14からの照明光の偏波方向を制限し、光学系の偏波依存の影響を抑制することができるので、撮像素子15に結像する像の品質を向上させることができる。
なお、実施の形態12に係る端面観察装置112において、実施の形態11に係る端面観察装置111と同様に、ビームスプリッタ22と撮像素子15との間に偏波フィルタ28を更に設けてもよい。
≪実施の形態13≫
図16は、実施の形態13に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置113は、光源14が観察対象物の端面の共焦点の位置に配置される点において実施の形態5〜12に係る端面観察装置105〜112と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置105〜112と同様である。以下の説明においては、実施の形態5〜12に係る端面観察装置105〜112と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
具体的に、端面観察装置113は、図16に示されるように、例えば筒状の筐体11内に、対物レンズ12、クリーニング機構13、レンズ31、撮像素子15、光源14、および光学素子30を備える。
光学素子30は、対物レンズ12と撮像素子15との間の光軸上に設けられる。光学素子30は、入射した光の一部を反射し、一部を透過させる光学部品であり、例えば、ビームスプリッタやハーフミラーである。なお、以下の説明では、一例として光学素子30がハーフミラーであるものとし、光学素子30をハーフミラー30と表記する。ここで、ハーフミラー30による反射光と透過光との割合は、例えば1対1である。
レンズ31は、ハーフミラー30と対物レンズ12の間に配置され、光源14からの照明光と端面200Aからの反射光(像光)とで共通のレンズ系を構成する。
撮像素子15は、レンズ31の光軸上に配置され、光源14は、例えばハーフミラー30から、レンズ31の光軸に直交する方向に離間して配置される。
ここで、ハーフミラー30と撮像素子15との間の距離D1と、ハーフミラー30と光源14との間の距離D2とが光学的に等しい。また、対物レンズ12を一端(前端部)とし、レンズ31を他端(後端部)とする光学系において、撮像素子15は上記後端部の焦点位置に配置され、光源14は、ハーフミラー30を介した上記後端部の焦点位置に配置される。すなわち、光源14およびハーフミラー30は、撮像素子15の近傍において、光源14と撮像素子15とが対物レンズ12に対して光学的に共役の位置関係となるように配置される。
したがって、上記光学系の前端部の焦点位置に光コネクタ200の端面200Aを配置すれば、光コネクタ200の端面200A、撮像素子15、および光源14が光学的に共役な位置関係となり、端面観察装置113は共焦点光学系を実現する。
上記の光学系によれば、光は以下のように伝搬する。例えば、光源14から発生した照明光は、ハーフミラー30で反射し、レンズ31および対物レンズ12の円環部1201を透過して光コネクタ200の端面200Aに照射される。一方、光コネクタ200の端面200Aからの反射光(像光)は、対物レンズ12の円環部1201、レンズ31、ハーフミラー30の順に透過し、撮像素子15の撮像面に結像する。
以上、実施の形態13に係る端面観察装置113によれば、光源14および撮像素子15を対物レンズ12に対して光学的に共役の位置に設けることにより、撮像素子15の撮像面と光源14とを近接させることができる。これにより、例えば撮像素子15に電源を供給する電源部(図示せず)と光源14とを集約化でき、端面観察装置の小型化を図ることができる。
≪実施の形態14≫
図17は、実施の形態14に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置114は、ハーフミラー30と撮像素子15との間にアイリス24を備える点で実施の形態13に係る端面観察装置113と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置113と同様である。以下の説明においては、実施の形態13に係る端面観察装置113と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
具体的に、端面観察装置114は、ハーフミラー30と撮像素子15との間に設けられたアイリス24は、実施の形態7に係る端面観察装置107と同様に、通常の経路とは異なる経路から撮像素子15に入射する迷光を除去する。
以上、実施の形態14に係る端面観察装置114によれば、実施の形態13に係る端面観察装置113と同様に、小型化を図ることができる。また、上記のようにアイリス24を設けることにより、実施の形態7に係る端面観察装置107と同様に、迷光による画質劣化を低減することができ、画像の品質を向上させることができる。
≪実施の形態15≫
図18は、実施の形態15に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置115は、ハーフミラー30と光源14との間にアイリス25を備える点で実施の形態14に係る端面観察装置114と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置114と同様である。以下の説明においては、実施の形態14に係る端面観察装置114と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
具体的に、ハーフミラー30と光源14との間に設けられたアイリス25は、実施の形態8に係る端面観察装置108と同様に、ハーフミラー30に入射される不要な光を除去する。これにより、撮像素子15に入射される端面200Aからの反射光以外の不要な迷光(例えば、ハーフミラー30の周辺での反射光や光源14から撮像素子15に直接入射する光等)を低減することができる。
以上、実施の形態15に係る端面観察装置115によれば、上記のようにアイリス25を設けることにより、画像の品質を更に向上させることができる。
≪実施の形態16≫
図19は、実施の形態16に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置116は、アイリス24と撮像素子15との間に波長フィルタ26を備える点で実施の形態15に係る端面観察装置115と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置115と同様である。以下の説明においては、実施の形態15に係る端面観察装置115と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
具体的に、アイリス24と撮像素子15との間に設けられた波長フィルタ26は、実施の形態9に係る端面観察装置109と同様に、撮像素子15への入射光の波長範囲を制限する。その結果、対物レンズ12とレンズ31で生じる色収差によるボケを改善できる。
以上、実施の形態4に係る端面観察装置によれば、実施の形態9に係る端面観察装置109と同様に、画像の品質を更に向上させることができる。
≪実施の形態17≫
図20は、実施の形態17に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置117は、アイリス25と光源14との間に波長フィルタ27を備える点で実施の形態16に係る端面観察装置116と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置116と同様である。以下の説明においては、実施の形態16に係る端面観察装置116と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
具体的に、アイリス25と光源14との間に設けられた波長フィルタ27は、実施の形態16に係る端面観察装置116と同様に、撮像素子15への入射光の波長範囲を制限する。その結果、色収差によるボケを更に改善できる。
以上、実施の形態17に係る端面観察装置によれば、実施の形態9に係る端面観察装置109と同様に、画像の品質を更に向上させることできる。
≪実施の形態18≫
図21は、実施の形態18に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置118は、撮像素子15の近傍に遮光壁33を備える点で実施の形態17に係る端面観察装置117と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置117と同様である。以下の説明においては、実施の形態17に係る端面観察装置117と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
具体的に、遮光壁33は、アイリス24と撮像素子15との間に光軸10を囲むように配置される。遮光壁33は、非透明な材料から成る部材である。これによれば、不要な迷光が撮像素子15に入射することを更に抑制できる。
以上、実施の形態18に係る端面観察装置によれば、上記のように遮光壁33を設けることにより、撮像素子15によって生成する画像の品質を更に向上させることができる。
≪実施の形態19≫
図22は、実施の形態19に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置119は、光源14とアイリス25との間に偏波(偏光)フィルタ29を備える点で実施の形態18に係る端面観察装置118と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置118と同様である。以下の説明においては、実施の形態18に係る端面観察装置118と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
ハーフミラー30の透過面からの反射率は偏波方向によって異なるため、偏波フィルタ29を光源14と波長フィルタ27との間に設けることにより、光源14から発生した光のうち反射率の低い偏波のみを使用することができるので、迷光を低減することができる。
以上、実施の形態19に係る端面観察装置によれば、実施の形態12に係る端面観察装置112と同様に、画像の品質を更に向上させることができる。
≪実施の形態20≫
図23は、実施の形態20に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置120は、撮像素子15とアイリス24との間に偏波フィルタ28を備える点で実施の形態19に係る端面観察装置119と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置119と同様である。以下の説明においては、実施の形態19に係る端面観察装置119と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
偏波フィルタ28は、例えば、アイリス24と波長フィルタ26との間の撮像素子15の近傍に設けられる。これによれば、反射率の低い偏波のみを撮像素子15に入射させることができるので、迷光を低減することができる。
以上、実施の形態20に係る端面観察装置によれば、実施の形態11に係る端面観察装置111と同様に、画像の品質を更に向上させることができる。
≪実施の形態21≫
図24は、実施の形態21に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置121は、ハーフミラー30の代わりに、反射面と透過面が非平行なハーフミラー34を用いる点で実施の形態20に係る端面観察装置120と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置120と同様である。以下の説明においては、実施の形態20に係る端面観察装置120と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
ハーフミラー34は、入射した光を反射する反射面34Aと入射した光を透過させる透過面34Bとが非平行な構造を有する。例えば、図24に示すように、ハーフミラー34は、反射面34Aと透過面34Bとの間の厚さが一方向に向かって薄くなる形状を有している。これによれば、ハーフミラー34における反射を想定していない面で反射する反射光の光路をずらし撮像素子15への入射光量を低減することができ、不要な迷光を除去することができる。
以上、実施の形態21に係る端面観察装置によれば、反射面と透過面が非平行なハーフミラー34を用いることにより、撮像素子15によって生成する画像の品質を更に向上させることができる。
≪実施の形態22≫
図25は、実施の形態22に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置122は、ハーフミラー30の代わりに、ビームスプリッタ35を用いる点で実施の形態20に係る端面観察装置120と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置120と同様である。以下の説明においては、実施の形態22に係る端面観察装置120と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
ビームスプリッタ35は、入射した光の一部を反射し、一部を透過させる光学素子である。ビームスプリッタ35は、入射した光を所定の割合で反射光と透過光に分割する。ビームスプリッタ35は、例えば、非偏光型、無偏光型、および偏光型のうち何れの型であってもよい。ビームスプリッタ35によれば、光源14の光は光コネクタ200に導かれ、光コネクタ200からの光は撮像素子15に導かれる。
本実施の形態においても、光源14と撮像素子15とは、ビームスプリッタ35を介した共焦点光学系において、対物レンズ12に対して光学的に共役の位置に設けられる。すなわち、ビームスプリッタ35の反射面35Aと撮像素子15との間の距離D3と、ビームスプリッタ35の反射面35Aと光源14との間の距離D4が等しい。
ビームスプリッタ35は、光源14に対向する透過面35Bと当該透過面35Bを介して入射する光の一部を反射する反射面35Aとの相対角度が45度ではなく、透過面35Bに対向する透過面35Cと反射面35Aとの相対角度が45度ではない構造を有する。これによれば、ビームスプリッタ35における反射を想定していない面で反射する反射光の光路をずらし撮像素子15への入射光量を低減することができ、不要な迷光を除去することができる。
以上、実施の形態22に係る端面観察装置によれば、ハーフミラーを用いる場合と同様に、小型化を図ることができる。また、反射面と透過面との相対角度が45度ではないビームスプリッタを適用することにより迷光を除去することができるので、撮像素子15によって生成される画像の品質を更に向上させることできる。
≪実施の形態23≫
図26は、実施の形態23に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置123は、対物レンズ12とレンズ31との間に透明部材32を更に有する点で実施の形態13に係る端面観察装置113と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置113と同様である。以下の説明においては、実施の形態13に係る端面観察装置113と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
同図に示されるように、端面観察装置123は、対物レンズ12とレンズ31との間に、光源14からの照明光と端面200Aからの反射光(像光)を共に伝搬させる透明部材32を備えている。ここで、透明部材32は、光軸に垂直でない平面あるいは曲面を持った形状を有している。例えば、図26に示すように、透明部材32は、目的とする光が伝搬する他の媒体(例えば空気)との境界面が曲面となる形状を有している。透明部材32としては、例えば、光学的パワーを持つレンズでもよいし、光学的パワーを有していないレンズ以外のものであってもよい。
なお、端面観察装置123において、ハーフミラー30と撮像素子15との間の距離と、ハーフミラー30と光源14との間の距離は、光学的に等しくてもよいし、等しくなくてもよい。
以上、実施の形態23に係る端面観察装置によれば、対物レンズ12とレンズ31との間に透明部材32を更に設けることにより、対物レンズ12およびレンズ31の2枚レンズを設けた光学系に比べて、光学設計の自由度が更に増し、障害物の回避がより容易になるので、色収差やコマ収差を抑制する等の光学性能を向上させることが可能になり、より高画質な像を得ることができる。また、ハーフミラー30と対物レンズ12の間に2つのレンズ31、32を備えているので、照明光と反射光とでレンズ等の光学部品を共有することができる。これにより、部品点数を削減することができ、組立の容易さやコスト低減といった効果が得られる。
また、実施の形態23に係る端面観察装置によれば、透明部材32は目的の光が伝搬する境界面が光軸に垂直な平面ではないので、境界面が垂直な平面の場合に比べて、透明部材32での反射光の撮像素子への入射パワーを低減させることができる。これにより、不要光が撮像素子15へ入射されることによる画質劣化を抑制することができる。
また、透明部材32として光パワーを有するレンズを採用した場合、光学系の設計自由度が増し、より高精細、高分解能の像が撮像素子15に結像するような光学系を設計することが容易となる。
なお、レンズ31、32を平凸形状や平凹形状ではなく、両凸形状または凹凸形状のレンズを用いることにより、レンズ31、32での反射に起因する迷光を低減することができるので、更に画質劣化を抑制することができる。また、ハーフミラー30も光源14等と共に光軸に対して角度をつけて配置することにより、反射による迷光を更に低減することが可能となる。
≪実施の形態24≫
図27は、実施の形態24に係る端面観察装置の構成を示す図である。
同図に示される端面観察装置124は、対物レンズ12とレンズ31との間に、複数の透明部材を有する点で実施の形態23に係る端面観察装置123と相違する一方、その他の構成は、端面観察装置123と同様である。以下の説明においては、実施の形態23に係る端面観察装置123と共通する構成要素については同一の符号を用いて表し、その詳細な説明は省略する。
同図に示されるように、端面観察装置123は、対物レンズ12とレンズ31との間に、光源14からの照明光と端面200Aからの反射光(像光)を共に伝搬させる透明部材32、36を備えている。透明部材32、36は、実施の形態23と同様に、光軸に垂直でない平面あるいは曲面を持った形状を有している。また、透明部材32、36は、光学的パワーを持つレンズでもよいし、光学的パワーを有していないレンズ以外のものであってもよい。例えば、光パワーを有しない部品としては、例えば透明材料で形成された、レンズを保持するためのレンズホルダを例示することができる。一般的なレンズホルダは不透明な構造体で作成されているため、レンズホルダによりレンズ開口が制限され、像が暗くなるおそれがあるが、透明材料からなるレンズホルダを用いることにより、このようなおそれは解消される。
また、図27に示すように、透明部材36は、クリーニング機構13と機械的に接続され、光軸方向に移動可能に構成していてもよい。これによれば、透明部材36はクリーニング機構13の操作部として機能させることが可能となり、光軸方向の押し出しやクリーニングテープ131の送り出し等の駆動力をクリーニング機構13に対して伝達することができる。また、クリーニング機構13の操作部を透明部材36で構成することにより、上記操作部を不透明材料の部品で構成した場合に比べて、当該部品と光学系とが干渉することを防止できるので、光源14からの照明光や端面200Aからの反射光(像光)が部品で遮蔽されることによる照明光の不均一性や画質劣化を抑えることができる。
以上、実施の形態24に係る端面観察装置によれば、対物レンズ12とレンズ31との間に複数の透明部材を更に設けることにより、更なる高画質な像を得ることができる。
また、透明部材36をクリーニング機構13と機械的に接続し、光軸方向に移動可能に構成することにより、照明光の不均一性や画質劣化を抑えつつ、クリーニング機構13を操作することが可能となる。これによれば、端面観察装置自体を動かすことなく観察対象物の操作(例えば、光コネクタ200の端面200Aの清掃)が可能となるので、観察対象物に対する操作の前後の観察が容易となる。
以上、本発明者らによってなされた発明を実施の形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。
例えば、上記実施の形態において、端面観察装置の本体と構造体(例えばクリーニング機構)とが一体となった端面観察装置を例示したが、これに限られない。例えば、端面観察装置の本体と上記構造体とが夫々別個に製造され、ユーザが使用する時に、端面観察装置の本体と構造体とを組み合わせることにより、本発明に係る端面観察装置を組み立ててもよい。例えば、図28Aおよび図28Bに示すように、リング形状の対物レンズ12を有する端面観察装置の本体部分100と、クリーニング機構13とを夫々別個に製造し、ユーザが使用するときに、対物レンズ12の貫通孔1200にクリーニング機構13を挿入することによって清掃機能を備えた端面観察装置を組み立ててもよい。
なお、図28Aでは、端面観察装置の本体100として、実施の形態1に係る端面観察装置101のクリーニング機構を除いた部分を例示したが、これに限られず、その他の実施の形態2乃至24に係る端面観察装置102〜124の何れか一つのクリーニング機構を除いた部分であってもよい。
また、上記実施の形態において、撮像素子15とビームスプリッタ22(ハーフミラー30)との間に、アイリス24、波長フィルタ26、および偏波フィルタ28を配置する種々の例を示したが、これらの例に限定されるものではない。例えば、撮像素子15とハーフミラー30、34(ビームスプリッタ22、35)との間に、アイリス24、波長フィルタ26、および偏波フィルタ28の少なくとも一つを配置しても良いし、アイリス24、波長フィルタ26、および偏波フィルタ28を夫々組み合わせて配置することも可能である。同様に、光源14とハーフミラー30、34(ビームスプリッタ22、35)との間に、アイリス25、波長フィルタ27、および偏波フィルタ29の少なくとも一つを配置しても良いし、アイリス25、波長フィルタ27、および偏波フィルタ29を夫々組み合わせて配置することも可能である。
また、上記のアイリス、波長フィルタ、および偏波フィルタ等の光学部品の配置は、上記の例に限定されず、適宜入れ替えて配置してもよい。
また、上記実施の形態において、対物レンズ12の貫通孔内に設けられた光コネクタ200の端面を操作するための構造体としてクリーニング機構13を例示したが、これに限られず、プローバや触針装置、加工装置等を貫通孔1200内に挿入し、光コネクタ200に対して突出させるように配置することも可能である。これによれば、クリーニング機構13の場合と同様に、夫々の構造体による操作前後の像を観察することができるので、操作性の向上と操作時間の短縮を図ることができる。
また、上記実施の形態において、クリーニング機構13として、クリーニングテープを所定の方向に摺動させる構造を有する部品を例示したが、光コネクタ200の端面200Aを清掃することができるものであれば、上記の部品に特に制限されない。
また、上記実施の形態において、対物レンズ12の欠落部としての貫通孔1200が、円形状である場合を例示したが、クリーニング機構13等の構造体を光コネクタ200に向かって突出させることができる構成であれば、その形状は、特に制限されない。例えば、対物レンズ12の欠落部がU字形状であってもよい。
また、上記実施の形態において、光源14からの照明光の伝搬を効率良く行うために、対物レンズ12の円環部1201のみならず、貫通孔1200内にも照明光を伝搬させてもよい。例えば、貫通孔1200内に挿入されるクリーニングチップ132の一部を透明部材で形成することにより、貫通孔1200内に照明光を伝搬させることが可能となる。
また、上記実施の形態に係る端面観察装置では、光源14を筒状の筐体11の外部に配置する場合を例示したが、これに限られない。例えば、照明光の光路を遮蔽する必要がない場合には、光源14を筐体11の内部に配置してもよい。この場合には、光源14の周辺に配置するアイリスや波長フィルタ等の光学素子を筐体11の内部に配置することは言うまでもない。
また、実施の形態8乃至24に係る端面観察装置では、ビームスプリッタやハーフミラー等の光学素子によって光源からの照明光を折り曲げる構成を例示したが、これに限られない。例えば、光源からの照明光を折り曲げるのではなく、観察対象物の端面(像)からの反射光を折り曲げる構成としてもよい。この場合には、撮像素子15を筒状の筐体11の外部に配置してもよい。
また、実施の形態24において、実施の形態23に係る端面観察装置に、構造体(クリーニング機構13)が機械的に接続された透明部材36を設ける場合を例示したが、これに限られない。例えば、実施の形態1〜22に係る端面観察装置の何れか一つに、上記透明部材36を設けることも可能である。
また、透明部材が光軸に垂直でない平面あるいは曲面を持った形状とする構成を例示したが、対物レンズ12、レンズ16などの他の光学素子においても、同様の効果を持つことは明らかである。
本発明に係る端面観察装置は、例えば、各種ネットワーク装置や光ファイバ間を接続するための光コネクタに代表される各種部品に対する清掃や観察等に広く用いることができる。
100…端面観察装置の本体、101〜105、106A〜106E、107〜124…端面観察装置、200…光コネクタ、200A…光コネクタの端面、10…光軸、11…筐体、12…対物レンズ、1200…貫通孔、1201…円環部、13、20…クリーニング機構、131…クリーニングテープ、132…クリーナチップ、133…ライトバルブ、9、9_1、9_2、14…光源、15…撮像素子、16…レンズ、17…透明部材、18…折り曲げミラー、19、21…遮光板、22、35…ビームスプリッタ、23…レンズ、24、25…アイリス、26、27…波長フィルタ、28、29…偏波フィルタ、30、34…ハーフミラー、31…レンズ、32…透明部材、33…遮光壁、23、24…偏波フィルタ、36…透明部材、D1〜D4…距離。

Claims (25)

  1. 光軸方向に貫通する欠落部を有する第1レンズと、
    前記第1レンズを介して前記観察対象物の端面に照射する光を発生させる光源と、
    前記第1レンズを介して前記観察対象物の端面の像を受像する撮像素子と、を備える
    ことを特徴とする端面観察装置。
  2. 請求項1に記載の端面観察装置において、
    前記第1レンズの前記欠落部内に挿入され、観察対象物の端面を操作するための構造体を更に備える、
    ことを特徴とする端面観察装置。
  3. 請求項2に記載の端面観察装置において、
    前記構造体は、前記観察対象物の端面を清掃するためのクリーニング機構を含む
    ことを特徴とする端面観察装置。
  4. 請求項2に記載の端面観察装置において、
    前記光源と前記第1レンズとは、同軸に配置されている
    ことを特徴とする端面観察装置。
  5. 請求項2に記載の端面観察装置において、
    前記第1レンズは、リング形状を有する
    ことを特徴とする端面観察装置。
  6. 請求項4に記載の端面観察装置において、
    前記光源は、リング形状を有する
    ことを特徴とする端面観察装置。
  7. 請求項4に記載の端面観察装置において、
    筒状の筐体を更に備え、
    前記第1レンズおよび前記構造体は、前記筒状の筐体の一端に配置され、
    前記光源および前記撮像素子は、前記筒状の筐体の他端に配置され、
    前記光源からの照明光と前記観察対象物の端面からの反射光とが前記筐体内の共通の空間を伝搬する
    ことを特徴とする端面観察装置。
  8. 請求項1乃至7の何れか一項に記載の端面観察装置において、
    前記第1レンズと前記撮像素子との間の光軸上に設けられた第2レンズを更に備える、
    ことを特徴とする端面観察装置。
  9. 請求項8に記載の端面観察装置において、
    前記第1レンズと前記第2レンズとの間の光軸上に設けられた透明部材を更に備える、
    ことを特徴とする端面観察装置。
  10. 請求項2に記載の端面観察装置において、
    前記第1レンズと前記撮像素子との間の光軸上に設けられ、入射した光の一部を反射し、一部を透過させる光学素子を更に備える
    ことを特徴とする端面観察装置。
  11. 請求項10に記載の端面観察装置において、
    前記光学素子は、ビームスプリッタまたはハーフミラーである
    ことを特徴とする端面観察装置。
  12. 請求項10に記載の端面観察装置において、
    前記光学素子は、反射面と透過面とが非平行のハーフミラーである
    ことを特徴とする端面観察装置。
  13. 請求項10に記載の端面観察装置において、
    前記光学素子は、ビームスプリッタであり、
    前記ビームスプリッタは、前記光源に対向する透過面と当該透過面を介して入射する光の一部を反射する反射面との相対角度が45度ではない、
    ことを特徴とする端面観察装置。
  14. 請求項10に記載の端面観察装置において、
    前記光学素子と前記撮像素子との間の光軸上に設けられた第2レンズを更に備える
    ことを特徴とする端面観察装置。
  15. 請求項10に記載の端面観察装置において、
    前記第1レンズと前記光学素子との間の光軸上に設けられた第2レンズを更に備える
    ことを特徴とする端面観察装置。
  16. 請求項15に記載の端面観察装置において、
    前記第1レンズと前記第2レンズとの間の光軸上に設けられた第3レンズを更に備える
    ことを特徴とする端面観察装置。
  17. 請求項10に記載の端面観察装置において、
    前記光源と前記光学素子との間の光軸上に設けられた第4レンズを更に備える
    ことを特徴とする端面観察装置。
  18. 請求項10に記載の端面観察装置において、
    前記撮像素子と前記光学素子との間の光軸上に、アイリス、波長フィルタ、および偏波フィルタの少なくとも一つを更に備える
    ことを特徴とする端面観察装置。
  19. 請求項10に記載の端面観察装置において、
    前記光源と前記光学素子との間の光軸上に、アイリス、波長フィルタ、および偏波フィルタの少なくとも一つを更に備える
    ことを特徴とする端面観察装置。
  20. 請求項10乃至19の何れか一項に記載の端面観察装置において、
    前記第1レンズと前記光学素子との間の光軸上に設けられた透明材料を更に備える
    ことを特徴とする端面観察装置。
  21. 請求項10乃至19の何れか一項に記載の端面観察装置において、
    前記第1レンズと前記光学素子との間の光軸上に設けられ、透明材料から成る操作部を有し、
    前記操作部は、前記構造体と連結され、光軸方向に移動可能にされている
    ことを特徴とする端面観察装置。
  22. 請求項10乃至19の何れか一項に記載の端面観察装置において、
    前記光源と前記撮像素子とは、夫々前記光学素子からの光学的距離が異なる位置に配置されている
    ことを特徴とする端面観察装置。
  23. 請求項10乃至19の何れか一項に記載の端面観察装置において、
    前記光源と前記撮像素子とは、夫々前記光学素子からの光学的距離が等しい位置に配置されている
    ことを特徴とする端面観察装置。
  24. 請求項10乃至19の何れか一項に記載の端面観察装置において、
    前記光源と前記撮像素子とは、前記第1レンズに対して光学的に共役の位置にある
    ことを特徴とする端面観察装置。
  25. 請求項1乃至3の何れか一項に記載の端面観察装置において、
    前記構造体は、
    空気以外の透明部材から成り、前記光源からの照明光を前記観察対象物の端面に導く光学部材を、更に含む
    ことを特徴とする端面観察装置。
JP2015553548A 2013-12-16 2014-12-16 端面観察装置 Active JP6143386B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013259642 2013-12-16
JP2013259642 2013-12-16
JP2014045943 2014-03-10
JP2014045943 2014-03-10
PCT/JP2014/083244 WO2015093470A1 (ja) 2013-12-16 2014-12-16 端面観察装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2015093470A1 true JPWO2015093470A1 (ja) 2017-03-16
JP6143386B2 JP6143386B2 (ja) 2017-06-07

Family

ID=53402815

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015553548A Active JP6143386B2 (ja) 2013-12-16 2014-12-16 端面観察装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10006831B2 (ja)
JP (1) JP6143386B2 (ja)
CN (1) CN105814423B (ja)
WO (1) WO2015093470A1 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5947325B2 (ja) 2014-03-10 2016-07-06 エヌ・ティ・ティ・アドバンステクノロジ株式会社 光コネクタ用清掃具および光コネクタ用表面観察システム
WO2015189965A1 (ja) * 2014-06-12 2015-12-17 株式会社島津製作所 ファイバカップリングモジュール
JP6619284B2 (ja) * 2016-04-05 2019-12-11 日本電信電話株式会社 端面観察装置
KR102608701B1 (ko) 2016-09-06 2023-11-30 가부시키가이샤 아타고 비파괴 측정 장치
US11808658B2 (en) 2019-09-27 2023-11-07 Panduit Corp. Visual inspector attachment for fiber connector cleaners
US11644626B2 (en) 2019-09-30 2023-05-09 Panduit Corp. Fiber optic inspection tool with integrated cleaning mechanism
JP6869398B1 (ja) * 2020-04-20 2021-05-12 エヌ・ティ・ティ・アドバンステクノロジ株式会社 光コネクタ用清掃具

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0269606A (ja) * 1988-09-06 1990-03-08 Fujitsu Ltd 線状物体の高さ位置検査装置
JPH0579814A (ja) * 1991-03-15 1993-03-30 Nikon Corp 走査プローブ型顕微鏡装置
JPH0694409A (ja) * 1992-09-11 1994-04-05 Nikon Corp 走査型トンネル顕微鏡
JPH08101128A (ja) * 1994-09-30 1996-04-16 Mitsubishi Chem Corp 観察、撮像装置の照明装置
JPH08105818A (ja) * 1994-10-05 1996-04-23 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光コネクタの光学特性自動測定装置
JPH102714A (ja) * 1996-06-19 1998-01-06 Canon Inc 測定方法及び装置
JP2003050206A (ja) * 2001-08-06 2003-02-21 Toshiba Mach Co Ltd 光コネクタ端面検査装置
JP2012093636A (ja) * 2010-10-28 2012-05-17 Sumitomo Electric Ind Ltd 光コネクタ用クリーナ
JP2012103204A (ja) * 2010-11-12 2012-05-31 Anritsu Corp 光ファイバコネクタの端面観察装置および方法

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3021834A (en) * 1954-03-11 1962-02-20 Sheldon Edward Emanuel Endoscopes
US3676671A (en) * 1968-10-01 1972-07-11 Sheldon Edward E Devices of fiberoptic and vacuum tube construction
IT1130802B (it) * 1980-04-23 1986-06-18 Cselt Centro Studi Lab Telecom Sistema ottico ad alta efficienza di accoppiamento in particolare per dispositivi di misura della attenuazione di fibre ottiche mediante retrodiffusione
US5179419A (en) * 1991-11-22 1993-01-12 At&T Bell Laboratories Methods of detecting, classifying and quantifying defects in optical fiber end faces
JP2847446B2 (ja) * 1991-12-27 1999-01-20 新日軽株式会社 ガラス映像調整方法とその装置
JPH07167738A (ja) * 1993-12-13 1995-07-04 Asahi Optical Co Ltd 非球面測定方法
SE503740C2 (sv) * 1994-04-22 1996-08-19 Ericsson Telefon Ab L M Optisk fiber innefattande en reflektor samt sätt att framställa en reflektor i en optisk fiber
JP2908324B2 (ja) 1996-07-02 1999-06-21 日本電気株式会社 光コネクタフェルール端面観察器
KR100272265B1 (ko) * 1996-12-30 2000-12-01 김영환 광통신 모듈용 파이버 피그테일
US5724127A (en) * 1997-02-27 1998-03-03 Ciena Corporation System and method for inspecting an end of a fiber optic
CA2356623C (en) * 1998-12-23 2005-10-18 Medispectra, Inc. Systems and methods for optical examination of samples
US6454437B1 (en) * 1999-07-28 2002-09-24 William Kelly Ring lighting
CN1682071A (zh) * 2002-07-12 2005-10-12 电科学工业公司 均匀光照源的方法和设备
JP4059084B2 (ja) 2003-01-14 2008-03-12 住友電気工業株式会社 光コネクタの清掃方法及び清掃装置
US20080073485A1 (en) * 2006-09-25 2008-03-27 Robert Jahn Visual inspection of optical elements
CN201116939Y (zh) * 2007-07-20 2008-09-17 周其 光纤端面检查装置
DE102009044151B4 (de) * 2009-05-19 2012-03-29 Kla-Tencor Mie Gmbh Vorrichtung zur optischen Waferinspektion
JP2011134687A (ja) * 2009-12-25 2011-07-07 Nikon Corp 照明装置
WO2013134278A1 (en) * 2012-03-05 2013-09-12 Fiberqa, Llc System and method of high resolution fiber optic inspection
JP5925303B2 (ja) * 2012-05-17 2016-05-25 パイオニア株式会社 内視鏡
US20130321906A1 (en) * 2012-05-29 2013-12-05 Peter KRIOFSKE Annulus to create distinct illumination and imaging apertures for an imaging system
US9599507B2 (en) * 2013-02-05 2017-03-21 Rafal Pawluczyk Fiber optic probe for remote spectroscopy
US8988670B2 (en) * 2013-03-15 2015-03-24 Lightel Technologies Inc. Apparatus for simultaneously inspecting and cleaning fiber connector
JP6101163B2 (ja) 2013-06-26 2017-03-22 日本電信電話株式会社 端面観察装置
JP6034758B2 (ja) 2013-06-26 2016-11-30 日本電信電話株式会社 端面観察装置
JP5947325B2 (ja) * 2014-03-10 2016-07-06 エヌ・ティ・ティ・アドバンステクノロジ株式会社 光コネクタ用清掃具および光コネクタ用表面観察システム

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0269606A (ja) * 1988-09-06 1990-03-08 Fujitsu Ltd 線状物体の高さ位置検査装置
JPH0579814A (ja) * 1991-03-15 1993-03-30 Nikon Corp 走査プローブ型顕微鏡装置
JPH0694409A (ja) * 1992-09-11 1994-04-05 Nikon Corp 走査型トンネル顕微鏡
JPH08101128A (ja) * 1994-09-30 1996-04-16 Mitsubishi Chem Corp 観察、撮像装置の照明装置
JPH08105818A (ja) * 1994-10-05 1996-04-23 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光コネクタの光学特性自動測定装置
JPH102714A (ja) * 1996-06-19 1998-01-06 Canon Inc 測定方法及び装置
JP2003050206A (ja) * 2001-08-06 2003-02-21 Toshiba Mach Co Ltd 光コネクタ端面検査装置
JP2012093636A (ja) * 2010-10-28 2012-05-17 Sumitomo Electric Ind Ltd 光コネクタ用クリーナ
JP2012103204A (ja) * 2010-11-12 2012-05-31 Anritsu Corp 光ファイバコネクタの端面観察装置および方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2015093470A1 (ja) 2015-06-25
CN105814423B (zh) 2018-06-29
US20160313211A1 (en) 2016-10-27
US10006831B2 (en) 2018-06-26
CN105814423A (zh) 2016-07-27
JP6143386B2 (ja) 2017-06-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6143386B2 (ja) 端面観察装置
JP6234243B2 (ja) 光ファイバの接続アダプタおよび内視鏡装置
US8467138B2 (en) Optical element and optical unit using the same
TWI498620B (zh) 具有清理元件之光學連接器
US20120157773A1 (en) Endoscope
JP5947325B2 (ja) 光コネクタ用清掃具および光コネクタ用表面観察システム
JPWO2012169369A1 (ja) 光学ユニットおよび内視鏡
US10386580B2 (en) Optical signal transmission system and optical receptacle
JP6101163B2 (ja) 端面観察装置
JP6567542B2 (ja) テレセントリックレンズ
JP2010169792A (ja) 光学素子及びそれを用いた光学ユニット
JP5343066B2 (ja) 内視鏡装置
US20220170816A1 (en) Optical fiber endface inspection microscope having a swappable optical head
JPWO2014038397A1 (ja) 立体視用光学系
JP6034758B2 (ja) 端面観察装置
JP6162627B2 (ja) 端面観察装置
JP2020500651A (ja) 内視鏡
JP6569296B2 (ja) レンズユニットおよび撮像装置
JP6159244B2 (ja) 端面観察装置
JP6619284B2 (ja) 端面観察装置
CN104252036A (zh) 内窥镜和内窥镜检查方法
JP2013037202A (ja) 投入光学系
EP3473159A1 (en) Fluorescence imaging scope with reduced chromatic aberration
JP6180195B2 (ja) 内視鏡、内視鏡システム
JP6031002B2 (ja) 端面観察装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161116

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170502

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170508

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6143386

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150