JPWO2014156906A1 - 透明基体の光学特性の評価方法、光学装置 - Google Patents

透明基体の光学特性の評価方法、光学装置 Download PDF

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Abstract

【解決手段】表示装置の表示面側に配置される、第1および第2の表面を有する透明基体の光学特性の評価方法であって、透明基体の定量化された解像度指標値、および定量化された反射像拡散性指標値の2つの指標値を用いて、前記透明基体の光学特性を評価することを特徴とする透明基体の光学特性の評価方法。

Description

本発明は、透明基体の光学特性の評価方法、光学装置に関する。
一般に、LCD(Liquid Crystal Display)装置等の表示装置の表示面側には、該表示装置の保護のため、透明基体で構成されたカバーが配置される。
しかしながら、表示装置上にこのような透明基体を設置した場合、透明基体を介して表示装置の表示画を視認しようとした際に、しばしば、周辺に置かれているものの映り込みが発生する場合がある。透明基体にそのような映り込みが生じると、表示画の視認者は、表示画を視認することが難しくなる上、不快な印象を受けるようになる。
そこで、このような映り込みを抑制するため、例えば、透明基体の表面に、凹凸形状を形成するアンチグレア処理を実施する方法等が採用されている。
なお、特許文献1には、特殊な装置を用いて、表示装置への映り込みを評価する方法が示されている。
日本国特開2007−147343号公報
前述のように、特許文献1には、特殊な装置を用いて、表示装置への映り込みを評価する方法が示されている。
しかしながら、透明基体に要求される光学特性は、映り込みの低減のみに限られるものではない。すなわち、透明基体には、用途に応じて、解像度、反射像拡散性は適切な光学特性が求められる。従って、透明基体を選定する際に、いずれか1つの光学特性を単純に考慮するのみでは不十分であり、しばしば、適切な複数の光学特性を同時に考慮する必要が生じ得る。
ここで述べる解像度は、透明基体を通して表示画を視認した際に、表示画とどの程度一致した像が得られるかを表すものである。また反射像拡散性は、透明基体の周辺に置かれている物体(例えば照明)の反射像が、元の物体とどの程度一致しているかを表すものである。
一方、透明基体に要求される光学特性の中には、しばしば、トレードオフの関係にあるものが存在する。例えば、一般に、反射像拡散性を高める際には、透明基体の表面にアンチグレア処理が施工される。しかしながら、このようなアンチグレア処理を施工した場合、透明基体の解像度は低下する傾向にある。このように、複数の光学特性に基づいて、透明基体にアンチグレア処理を施工しようとすると、適正なアンチグレア処理を選定することが難しくなる場合がある。
本発明は、このような背景に鑑みなされたものであり、本発明では、目的や用途などに応じて、透明基体を適正に選定することが可能な、透明基体の光学特性の評価方法と、前記評価方法で適切な範囲にある透明基体を有する光学装置を提供することとを目的とする。
本発明では、表示装置の表示面側に配置される、第1および第2の表面を有する透明基体の光学特性の評価方法であって、透明基体の定量化された解像度指標値、定量化された反射像拡散性指標値の2つの指標値を用いて、前記透明基体の光学特性を評価することを特徴とする透明基体の光学特性の評価方法が提供される。
ここで、本発明による方法において、前記定量化された解像度指標値は、
前記透明基体の前記第2の表面側から、前記透明基体の厚さ方向と平行な方向(角度0゜の方向)に第1の光を照射し、受光角度を前記透明基体の厚さ方向に対して−90゜〜+90゜の範囲で変化させ、前記第1の表面側から透過する透過光の輝度を測定して全透過光の輝度を求めるステップと、
前記透過光の輝度が最大となる角度(ピーク角度)を求めるステップと
以下の式(1)から、解像度指標値Tを算定するステップと
解像度指標値T=
(全透過光の輝度−ピーク角度での透過光の輝度)/(全透過光の輝度) 式(1)
により得られても良い。
また、本発明による方法において、前記定量化された反射像拡散性指標値は、
前記透明基体の前記第1の表面側から、前記透明基体の厚さ方向に対して30゜の方向に第2の光を照射し、受光角度を前記透明基体の厚さ方向に対して0°〜+90°の範囲で変化させ、前記第1の表面で反射される反射光の輝度を測定するステップと、
前記反射光の輝度が最大となる角度(ピーク角度)を求めるステップと、
以下の式(2)から、反射像拡散性指標値Dを算定するステップと
反射像拡散性指標値D=
((ピーク角度+1°での輝度)+(ピーク角度−1°での輝度))/2
/(ピーク角度での輝度) 式(2)
により得られても良い。
また、本発明による方法において、前記解像度指標値および/または反射像拡散性指標値は、ゴニオメータを用いて取得されても良い。
また、本発明による方法において、前記表示装置は、LCD装置、OLED装置、PDP装置、電子書籍およびタブレット型表示装置からなる群から選択された一つであっても良い。
また、本発明による方法において、前記透明基体は、ソーダライムガラスまたはアルミノシリケートガラスで構成されても良い。
この場合、前記透明基体は、前記第1および第2の表面のうちの少なくとも一方が、化学強化処理されていても良い。
また、本発明による方法において、前記透明基体は、前記第1の表面がアンチグレア処理されていても良い。
この場合、前記アンチグレア処理は、前記透明基体の前記第1の表面に、フロスト処理、エッチング処理、サンドブラスト処理、ラッピング処理、およびシリカコート処理からなる群から選択された、少なくとも一つの処理方法を適用することにより実施されても良い。
さらに、本発明では、表示装置と、該表示装置の表示面側に配置される透明基体とを有する光学装置であって、
前記透明基体は、第1および第2の表面を有し、
前記透明基体は、以下の方法で定量化される解像度指標値T、および反射像拡散性指標値Dの2つの指標値を用いて評価した場合、
解像度指標値T≦0.7、
反射像拡散性指標値D≧0.6
を満たすことを特徴とする光学装置が提供される:
ここで、前記解像度指標値Tは、
前記透明基体の前記第2の表面側から、前記透明基体の厚さ方向と平行な方向(角度0゜の方向)に第1の光を照射し、受光角度を前記透明基体の厚さ方向に対して−90゜〜+90゜の範囲で変化させ、前記第1の表面側から透過する透過光の輝度を測定し、全透過光の輝度と前記透過光の輝度が最大となるピーク角度とを求め、
以下の式(1)
解像度指標値T=
(全透過光の輝度−ピーク角度での透過光の輝度)/(全透過光の輝度) 式(1)
から算定され、
前記反射像拡散性指標値Dは、
前記透明基体の前記第1の表面側から、前記透明基体の厚さ方向に対して30゜の方向に第2の光を照射し、受光角度を前記透明基体の厚さ方向に対して0°〜+90°の範囲で変化させ、前記第1の表面で反射される反射光の輝度を測定し、前記反射光の輝度が最大となる角度(ピーク角度という)を求め、
以下の式(2)
反射像拡散性指標値D=
((ピーク角度+1°での輝度)+(ピーク角度−1°での輝度))/2
/(ピーク角度での輝度) 式(2)
から算定される。
ここで、本発明による光学装置において、前記透明基体は、ソーダライムガラスまたはアルミノシリケートガラスで構成されても良い。
この場合、前記透明基体は、前記第1および第2の表面のうちの少なくとも一方が、化学強化処理されていても良い。
また、本発明による光学装置において、前記透明基体は、前記第1の表面がアンチグレア処理されていても良い。
また、前記アンチグレア処理は、前記透明基体の前記第1の表面に、フロスト処理、エッチング処理、サンドブラスト処理、ラッピング処理、およびシリカコート処理からなる群から選択された、少なくとも一つの処理方法を適用することにより実施されていてもよい。
また、本発明による光学装置において、前記表示装置は、LCD装置、OLED装置、PDP装置、電子書籍およびタブレット型表示装置からなる群から選択された一つであっても良い。
本発明では、目的や用途などに応じて、透明基体を適正に選定することが可能な、透明基体の透明基体の光学特性の評価方法を提供することができる。
本発明の一実施形態における透明基体の解像度指標値を取得する方法のフローを概略的に示した図である。 解像度指標値を取得する際に使用される、測定装置の一例を模式的に示した図である。 本発明の一実施形態における透明基体の反射像拡散性指標値を取得する方法のフローを概略的に示した図である。 反射像拡散性指標値を取得する際に使用される、測定装置の一例を模式的に示した図である。 各種透明基体において得られた、解像度指標値T(横軸)と反射像拡散性指標値D(縦軸)の関係の一例をプロットした図である。 本発明の一実施形態における光学装置を概略的に示した断面図である。 各透明基体において得られた、目視による解像度レベルの判定結果(縦軸)と、解像度指標値T(横軸)の間の関係の一例を示したグラフである。 レベル1〜レベル12のそれぞれの反射像拡散性を有する透明基体をまとめて示した図である。 各透明基体において得られた、目視による反射像拡散性のレベル(縦軸)と、反射像拡散性指標値D(横軸)の間の関係の一例を示したグラフである。
以下、本発明について詳しく説明する。
本発明では、表示装置の表示面側に配置される、第1および第2の表面を有する透明基体の光学特性の評価方法であって、
透明基体の定量化された解像度指標値、および定量化された反射像拡散性指標値の2つの指標値を用いて、前記透明基体の光学特性を評価することを特徴とする透明基体の光学特性の評価方法が提供される。
前述のように、表示装置の表示面側に配置される透明基体には、解像度、反射像拡散性といった光学特性が要求される。従って、透明基体を選定する際に、単一の光学特性を考慮するのみでは不十分な場合がしばしばある。
これに対して、本発明では、透明基体の解像度指標値、反射像拡散性指標値2つの光学特性が判断対象とされる。
この方法では、二つの光学特性を総合的に考慮して、透明基体を選定することができるため、透明基体をより適正に選定することが可能となる。
また、本発明による方法では、透明基体の解像度および反射像拡散性を数値化した値が使用される。このため、解像度、反射像拡散性の各光学特性に関して、観察者の主観や先入観にとらわれず、これらの光学特性を、客観的かつ定量的に判断することができる。
また、透明基体に要求される光学特性の中には、解像度と反射像拡散性など、しばしば、トレードオフの関係にあるものが存在する。従来、このような場合、選定の際のよりどころとなる指標が存在しないため、2つの光学特性を両立させる透明基体を適正に選定することは難しい。
これに対して、本発明による方法では、透明基体の2つの光学特性を、定量的かつ総合的に評価することができる。従って、本発明による方法では、目的および用途等に応じて、最適な光学特性を有する透明基体を、適正に選定することが可能となる。
ここで、図面を参照して、本発明による方法において使用される、透明基体の解像度指標値および反射像拡散性指標値を取得する方法の一実施例について説明する。
(解像度指標値について)
図1には、本発明の一実施例による透明基体の解像度指標値を取得する方法のフローを概略的に示す。
図1に示すように、この透明基体の解像度指標値を取得する方法は、
(a)透明基体の第2の表面側から、透明基体の厚さ方向と平行な方向に第1の光を照射し、受光角度を透明基体の厚さ方向に対して−90゜〜+90゜の範囲で変化させ、第1の表面側から透過する透過光の輝度を測定するステップ(ステップS110)と、
(b)透過光の輝度が最大となる角度(ピーク角度)を求めるステップ(ステップS120)と、
(c)以下の式(1)から、解像度指標値Tを算定するステップ(ステップS130)

解像度指標値T=
(全透過光の輝度−ピーク角度での透過光の輝度)/(全透過光の輝度) 式(1)

と、を有する。
以下、各ステップについて説明する。
(ステップS110)
まず、相互に対向する第1および第2の表面を有する透明基体が準備される。
透明基体は、透明である限り、いかなる材料で構成されても良い。透明基体は、例えば、ガラスまたはプラスチック等であっても良い。
透明基体がガラスで構成される場合、ガラスの組成は特に限られない。ガラスは、例えば、ソーダライムガラスまたはアルミノシリケートガラスであっても良い。
また、透明基体がガラスで構成される場合、第1および/または第2の表面は、化学強化処理されても良い。
ここで、化学強化処理とは、アルカリ金属を含む溶融塩中にガラス基板を浸漬させ、ガラス基板の最表面に存在するイオン半径の小さなアルカリ金属(イオン)を、溶融塩中に存在するイオン半径の大きなアルカリ金属(イオン)と置換する技術の総称を言う。化学強化処理法では、処理されたガラス基板の表面には、元の原子よりもイオン半径の大きなアルカリ金属(イオン)が配置される。このため、ガラス基板の表面に圧縮応力を付与することができ、これによりガラス基板の強度(特に割れ強度)が向上する。
例えば、ガラス基板がナトリウムイオン(Na)を含む場合、化学強化処理により、このナトリウムイオンは、例えばカリウムイオン(Ka)と置換される。あるいは、例えば、ガラス基板がリチウムイオン(Li)を含む場合、化学強化処理により、このリチウムイオンは、例えばナトリウムイオン(Na)および/またはカリウムイオン(Ka)と置換されても良い。
一方、透明基体がプラスチックで構成される場合、プラスチックの組成は特に限られない。透明基体は、例えばポリカーボネート基板であっても良い。
なお、ステップS110の前に、透明基体の第1の表面を、アンチグレア処理するステップが実施されていても良い。アンチグレア処理の方法は、特に限られない。アンチグレア処理は、例えば、フロスト処理、エッチング処理、サンドブラスト処理、ラッピング処理、またはシリカコート処理等であっても良い。また、透明基体自体にアンチグレア処理を施さずに、透明基体に予めアンチグレア処理が施されたフィルムを貼付して同様の効果を得ることもできる。
アンチグレア処理後の透明基体の第1の表面は、例えば、0.05μm〜0.5μmの範囲の表面粗さ(算術平均粗さRa)を有しても良い。
次に、透明基体の第2の表面側から、透明基体の厚さ方向と平行な方向、具体的には角度θ=0゜±0.5゜の方向(以下、「角度0°の方向」ともいう)に、第1の光が照射される。第1の光は、透明基体を透過し、第1の表面から出射される。第1の表面から角度0°の方向に出射された光を受光する角度θを、−90゜〜+90゜の範囲で変化させ、角度ごとに透過光の輝度を測定する。なお、受光角度のピッチは測定装置の能力によって定めればよいが、本実施形態では1°ピッチである。
(ステップS120)
次に、測定した角度の中で透過光の輝度が最大となる角度を「ピーク角度」とし、その角度の輝度を、「ピーク角度での透過光の輝度」とする。また、透明基体を透過して、第1の表面から出射される光の輝度分布の合計を、「全透過光の輝度」とする。本ステップではピーク角度を求める。また、この際にステップS110での測定結果から、ピーク角度での透過光の輝度も求めることができる。なお、ステップS110で測定した透過光の輝度の測定値をなめらかにつないだ測定曲線は、入射方向、すなわち角度0°の方向を中心に概ね左右対称になると想定されるが、表面異物の存在等によるイレギュラーなピークがある場合は、これを予め除外してピーク角度を求める。
(ステップS130)
次に、以下の式(1)から、解像度指標値Tを算定する:

解像度指標値T=
(全透過光の輝度−ピーク角度での透過光の輝度)/(全透過光の輝度) 式(1)

ここで、全透過光の輝度とは、ステップS110で測定した透過光の輝度の測定値をなめらかにつないだ測定曲線において、受光角度が−90°〜+90°の範囲における積分値を意味している。また、ピーク角度での透過光の輝度とは、ステップS110で測定した透過光の輝度の測定曲線のうち、ステップS120で求めたピーク角度±0.5°の範囲の積分値を意味している。
この解像度指標値Tは、後述するように、観察者の目視による解像度の判断結果と相関し、人の視感に近い挙動を示すことが確認されている。例えば、解像度指標値Tが大きな(1に近い)値を示す透明基体は、解像度が劣り、逆に解像度指標値Tが小さな値を示す透明基体は、良好な解像度を有する。従って、この解像度指標値Tは、透明基体の解像度を判断する際の定量的指標として、使用することができる。
図2には、前述の式(1)で表される解像度指標値Tを取得する際に使用される、測定装置の一例を模式的に示す。
図2に示すように、測定装置200は、光源250および検出器270を有し、測定装置200内に、透明基体210が配置される。
透明基体210は、第1の表面212および第2の表面214を有する。
光源250は、透明基体210に向かって、第1の光262を放射する。光源250の種類は特に限定されるものではなく、例えば可視光領域の光を発光するものであればよい。例えば、ハロゲンランプ等を用いることができる。
検出器270は、第1の表面212から出射される透過光264を受光し、その輝度を検出する。検出器270も用いている光源に対応して、その輝度を測定できるものであればよく、特に限定されるものではない。フォトダイオード等を用いることができる。
なお、透明基体210は、第2の表面214が光源250の側となり、第1の表面212が検出器270の側となるように配置される。従って、検出器270が検出する第1の光は、透明基体210を透過した透過光264である。なお、透明基体210の一方の表面がアンチグレア処理されている場合、このアンチグレア処理されている表面が、透明基体210の第1の表面212となる。すなわち、この場合、透明基体210は、アンチグレア処理されている表面が検出器270の側となるようにして、測定装置200内に配置される。
また、第1の光262は、透明基体210の厚さ方向と平行な角度θで照射される。以降、この角度θを0゜と規定する。なお、本願では、測定装置の誤差を考慮して、θ=0゜±0.5゜の範囲を、角度0゜と定義する。
このような測定装置200において、光源250から透明基体210に向かって第1の光262を照射する。そして、例えばまず、図2に示す位置、すなわち、検出器270が透明基体210を挟んで光源と対称位置において、検出器270を用いて透明基体210の第1の表面212側から出射される透過光264を検出する。これにより、0゜透過光が検出される。
次に、検出器270が透過光264を受光する角度θについて、−90゜〜+90゜の範囲で変化させ、同様の操作を実施する。
これにより、検出器270を用いて、−90゜〜+90゜の範囲で、透明基体210を透過して、第1の表面212から出射される透過光264、すなわち全透過光を検出する。
得られた全透過光の輝度分布から、ピーク角度、ピーク角度での透過光の輝度を求め、前述の式(1)により、透明基体210の解像度指標値Tを取得できる。
なお、このような測定は、市販のゴニオメータ(変角光度計)を使用することにより、容易に実施できる。
(反射像拡散性指標値について)
図3には、本発明の一実施例による透明基体の反射像拡散性指標値を取得する方法のフローを概略的に示す。
図3に示すように、この透明基体の反射像拡散性指標値を取得する方法は、
(a’)透明基体の第1の表面側から、透明基体の厚さ方向に対して30゜の方向に第2の光を照射し、受光角度を透明基体の厚さ方向に対して0°〜+90°の範囲で変化させ、第1の表面で反射される反射光の輝度を測定するステップ(ステップS210)と、
(b’)反射光の輝度が最大となる角度(ピーク角度)を求めるステップ(ステップS220)と、
(c’)以下の式(2)から、反射像拡散性指標値Dを算定するステップ(ステップS230)

反射像拡散性指標値D=
((ピーク角度+1°での輝度)+(ピーク角度−1°での輝度))/2
/(ピーク角度での輝度) 式(2)
と、を有する。
以下、各ステップについて説明する。
(ステップS210)
まず、相互に対向する第1および第2の表面を有する透明基体が準備される。
なお、透明基体の材質、組成等は、前述のステップS110において示したものと同様であるため、ここではこれ以上説明しない。
次に、準備された透明基体の第1の表面側から、透明基体の厚さ方向に対して30゜±0.5゜の方向に向かって、第2の光が照射される。第2の光は、透明基体の第1の表面で反射される。受光角度を前記透明基体の厚さ方向に対して0°〜+90°の範囲で変化させ、受光した輝度を測定する。
(ステップS220)
次に、反射光の輝度が最大となる角度を求め、その角度を「ピーク角度」と呼び、その角度における輝度を「ピーク角度での輝度」と呼ぶ。さらに、ピーク角度より1°大きい角度の輝度を「ピーク角度+1°での輝度」、ピーク角度より1°小さい角度の輝度を「ピーク角度−1°での輝度」と呼ぶ。なお、ステップS210で測定した反射光の輝度の測定値をなめらかにつないだ測定曲線は、鏡面反射の角度を中心に概ね左右対称になると想定されるが、表面異物の存在等によるイレギュラーなピークがある場合は、これを予め除外してピーク角度を求める。
(ステップS230)
次に、以下の式(2)から、反射像拡散性指標値Dを算定する:

反射像拡散性指標値D=
((ピーク角度+1°での輝度)+(ピーク角度−1°での輝度))/2
/(ピーク角度での輝度) 式(2)
なお、ここで、ピーク角度での輝度とは、反射光の輝度の測定値をなめらかにつないだ測定曲線におけるピーク角度±0.5°の範囲の積分値を意味している。また、ピーク角度+1°の輝度とは、同様に反射光の輝度の測定曲線におけるピーク角度+1°±0.5°の範囲の積分値を意味し、ピーク角度−1°の輝度とは、同様に反射光の輝度の測定曲線におけるピーク角度−1°±0.5°の範囲の積分値を意味する。
この反射像拡散性指標値Dは、後述するように、観察者の目視による反射像拡散性の判断結果と相関し、人の視感に近い挙動を示すことが確認されている。例えば、反射像拡散性指標値Dが大きな値(1に近い値)を示す透明基体は、反射像拡散性に優れ、逆に反射像拡散性指標値Dが小さな値を示す透明基体は、反射像拡散性が劣る傾向にある。従って、この反射像拡散性指標値Dは、透明基体の反射像拡散性を判断する際の定量的指標として、使用することができる。
図4には、前述の式(2)で表される反射像拡散性指標値Dを取得する際に使用される、測定装置の一例を模式的に示す。
図4に示すように、測定装置300は、光源350および検出器370を有し、測定装置300内に、透明基体210が配置される。透明基体210は、第1の表面212および第2の表面214を有する。光源350は、透明基体210に向かって、第2の光362を放射する。光源350の種類は特に限定されるものではなく、例えば可視光領域の光を発光するものであればよい。例えば、ハロゲンランプ等を用いることができる。
検出器370は、第1の表面212において反射される反射光364を受光し、その輝度を検出する。検出器370も用いている光源に対応して、その輝度を測定できるものであればよく、特に限定されるものではない。フォトダイオード等を用いることができる。
なお、透明基体210は、第1の表面212が光源350および検出器370の側となるように配置される。従って、検出器370が検出する第2の光は、透明基体210で反射された反射光364である。また、透明基体210の一方の表面がアンチグレア処理されている場合、このアンチグレア処理されている表面が、透明基体210の第1の表面212となる。すなわち、この場合、透明基体210は、アンチグレア処理されている表面が光源350および検出器370の側となるようにして、測定装置300内に配置される。
また、第2の光362は、透明基体210の厚さ方向に対して、30゜傾斜した角度で照射される。なお、本願では、測定装置の誤差を考慮して、30゜±0.5゜の範囲を、角度30゜と定義する。同様に、ピーク角度±0.5゜の範囲をピーク角度、ピーク角度+1±0.5゜の範囲をピーク角度+1°、ピーク角度−1±0.5゜の範囲をピーク角度−1°と定義する
このような測定装置300において、光源350から透明基体210に向かって第2の光362を照射し、反射光364を測定する角度φにおいて、検出器370を0゜〜+90゜の範囲で変化させ、反射光の輝度を測定する。
この際に、検出器370の受光輝度が最大となるピーク角度を検出し、ピーク角度とピーク角度+1°とピーク角度−1°での輝度から、前述の式(2)により、透明基体210の反射像拡散性指標値Dを取得できる。
なお、このような測定は、市販のゴニオメータ(変角光度計)を使用することにより、容易に実施することができる。
(2つの指標による評価)
次に、2つの指標を用いて、透明基体の光学特性を評価する場合について、説明する。
まず、透明基板の解像度と反射像拡散性とを同時に評価する場合、例えば、図5に示すような相関図が使用される。
図5は、各種透明基体において得られた、解像度指標値T(横軸)と反射像拡散性指標値D(縦軸)の関係の一例をプロットした図である。図5において、横軸の解像度指標値Tが小さいほど、透明基体の解像度は向上し、縦軸の反射像拡散性指標値Dが大きいほど、透明基体の反射像拡散性は向上する。
なお、図5においては、反射像拡散性指標値Dを測定した際に、第2の光の照射方向の透明基体の厚さ方向に対する角度(入射角)を20°と45°とした場合の結果もあわせて示している。
図5には、参考のため、良好な(高い)解像度と良好な反射像拡散性を兼ね備えた、理想的な透明基体の領域がIdealと表示された斜線の領域で表されている。
ここで、従来のように、単一の光学的特性、例えば解像度のみを考慮して、各種透明基体の中から、候補透明基体を選定した場合、図5のハッチングで示された領域Aに含まれる透明基体が一様に選定されることになる。すなわち、そのような方法では、反射像拡散性の劣る透明基体が、選定候補透明基体に含まれてしまう。同様に、反射像拡散性のみを考慮して、透明基体を選定した場合、図5のハッチングで示された領域Bに含まれる透明基体が一様に選定され、解像度の劣る透明基体が選定候補透明基体に含まれてしまう。
また、前述のように、解像度と反射像拡散性は、トレードオフの関係にあり、両方の特性を兼ね備えた透明基体、すなわちIdealと表示された領域に存在する透明基体を得ることは実質的に不可能である。このため、単に、解像度および反射像拡散性を別々に考慮しても、適正な透明基体を選定することはできない。
これに対して、図5のような解像度指標値Tと反射像拡散性指標値Dの相関図を使用した場合、一度に両方の光学特性を考慮して、適正な透明基体を選定することが可能となる。すなわち、このような選定方法では、目的および用途などに応じて、透明基体を適正に選定することができ、すなわち、解像度と反射像拡散性に関して、最も良好な特性が発揮できるように透明基体を選定することが可能となる。
透明基体を適用する表示装置における表示装置の表示部と透明基体との間の距離や、要求される性能等に応じて解像度指標値Tと反射像拡散性指標値Dの範囲を選択することができる。例えば、電子書籍(E−reader、電子ペーパーを備えた表示装置)などのような、文章を読むことを目的とした光学装置に適用される透明基体には、特に、反射像の輪郭が見えないような反射像拡散性が重要視される。従って、反射像の輪郭が見えない反射像拡散性指標値Dを選定(例えばD≧0.6)し、可能な限り高い解像度指標値を選定(たとえばT≦0.7)すれば良い。
このように、本発明の一実施形態による方法では、2つの光学的特性を総合的かつ定量的に考慮することができるため、使用目的や用途等に応じて、透明基体をより適正に選定することが可能となる。
また、本発明による方法では、透明基体の解像度指標値および反射像拡散性指標値として、数値化された値が使用される。このため、解像度および反射像拡散性の各光学特性に関して、観察者の主観や先入観にとらわれず、これらの光学特性を、客観的かつ定量的に判断することができる。
なお、ピーク角度を用いることで、サンプル表面の凹凸の影響を受けにくくなるため、測定結果が安定する効果が見込める。
(本発明の一実施形態による光学装置について)
次に、図6を参照して、本発明の一実施形態による光学装置の一構成例について説明する。
図6には、本発明の一実施形態による光学装置の断面を概略的に示す。
図6に示すように、この光学装置500は、表示装置510と、透明基体560とを有する。
透明基体560は、第1の表面562および第2の表面564を有し、第2の表面が、表示装置510の側となるようにして、表示装置510の表示面側に配置される。
なお、図6の例では、透明基体560は、直接、表示装置510の上に置載されている。しかしながら、透明基体560は、必ずしも表示装置510と接触している必要はなく、両者の間に、別の透明部材、または空間が配置されても良い。
透明基体560は、例えば、ガラス(例えばソーダライムガラスまたはアルミノシリケートガラス)またはプラスチック(例えばポリカーボネート)等で構成される。また、透明基体560がガラスで構成される場合、透明基体560の第1の表面562および第2の表面564の少なくとも一方は、化学強化処理されていても良い。これにより、透明基体560の強度が向上する。
また、透明基体560の第1の表面562は、アンチグレア処理されていても良い。アンチグレア処理は既に説明したため、ここでは説明を省略する。
表示装置510は、表示面(図示されていない)を有し、透明基体560は、この表示面を覆うように配置される。なお、表示装置510は、表示面に画像を表示する機能を有する限り、いかなる装置であっても良い。
表示装置510は、例えば、LCD装置、OLED装置、PDP装置、電子書籍(電子ペーパーを備えた表示装置、E−reader等ともいう)またはタブレット型表示装置である。
なお、この光学装置500において、透明基体560の第1の表面562側が、視認側となる。
ここで、このように構成される光学装置500において、透明基体560は、以下の光学特性を有する:
解像度指標値T≦0.7、
反射像拡散性指標値D≧0.6。
なお、解像度指標値Tおよび反射像拡散性指標値Dは、それぞれ、前述の方法で取得される値である。
解像度指標値Tは、目視による解像度レベル(TV本数)で500本以上が良好であることから、0.6以下がより好ましく、0.5以下がさらに好ましい。
反射像拡散性指標値Dは、反射像拡散性のレベルで7以上が良好であることから、0.7以上がより好ましく、0.8以上がさらに好ましい。
このような光学特性を有する透明基体560は、良好な解像度および反射像拡散性を有しており、表示装置510側からの光(像)を、比較的鮮明に視認することができる。
従って、このような光学特性を有する透明基体560を備える光学装置500は、例えば、電子書籍等(E−reader、電子ペーパーを備えた表示装置)、文章を読むことを目的とした光学装置として、好適である。
次に、実際の透明基体を用いて実施した、解像度評価および反射像拡散性評価の結果について説明する。
(解像度評価について)
各種透明基体を準備し、この透明基体の解像度を、以下のような方法で評価した。
まず、第1の表面が各種方法でアンチグレア処理された透明基体を準備した。透明基体は、いずれもガラス製とした。透明基体の厚さは、0.5mm〜3.0mmの範囲から選定した。
また、プラスチック製の標準テストチャート(高精細度解像度チャートI型:大日本印刷社製)を準備した。
次に、各透明基体を標準テストチャートの上方に配置した。この際には、透明基体の第1の表面(すなわちアンチグレア処理された表面)の側が、標準テストチャートと反対の側となるようにして透明基体を配置した。なお、透明基体と標準テストチャートの間の間隔は、1cmとした。
次に、透明基体を介して標準テストチャートを目視観察し、視認できるバーの限界(Tv本数)を評価した。これにより、各透明基体に対して、目視による解像レベルを判定した。なお、本標準テストチャートのTv本数の最大値は2000本である。
次に、変角光度計(GC5000L:日本電色工業社製)を用いて、前述のステップS110〜ステップS130に示したような操作を実施して、式(1)から、各透明基体の解像度指標値Tを算定した。なお、ステップS120において、本測定装置での受光角度の範囲は、測定装置としての構成上の制約から、−85°〜+85°であった。−90°〜−85°および+85°〜+90°での透過光量はほぼ0であるため、本測定範囲であっても解像度指標値Tを算出するに当たって大きな影響は生じない。
図7には、各透明基体において得られた、目視による解像度レベルの判定結果(縦軸)と、解像度指標値T(横軸)の間の関係の一例を示す。
図7から、両者の間には、負の相関関係が得られることがわかる。なお、解像度指標値Tが0.1付近においては、目視による解像度レベルが最大値2000で飽和しているものが複数あった。
この結果は、解像度指標値Tが観察者の目視による解像度の判断傾向と対応し、従って解像度指標値Tを用いて、透明基体の解像度を判断することができることを示唆するものである。換言すれば、解像度指標値Tを使用することにより、透明基体の解像度を、客観的かつ定量的に判断することができると言える。
(反射像拡散性評価について)
次に、前述の解像度評価で使用した各種透明基体を使用して、これらの透明基体の反射像拡散性を、以下のような方法で評価した。
まず、各透明基体を、第1の表面(すなわちアンチグレア処理された表面)の側から目視で観察し、反射像拡散性をレベル1〜レベル12までの12段階で評価した。なお、観察方向は、透明基体の厚さ方向に対して、45゜の方向としたが、30°の結果とほぼ変わらないため、相関を調べる上で大きな影響は生じない。
図8には、参考として、レベル1〜レベル12のそれぞれの反射像拡散性の例をまとめて示す。なお、この図は、各レベルに相当する反射像拡散性を有する透明基体を、それぞれ別個に撮影することにより得られたものである。
この図8から、レベル1からレベル12に向かって、透明基体の反射像が徐々に軽微になっていくこと、すなわち、透明基体の反射像拡散性が向上していく傾向にあることがわかる。なお、このレベル1の状態は、何れの表面もアンチグレア処理を実施していない透明基体で得られたものである。
次に、変角光度計(GC5000L:日本電色工業社製)を用いて、前述のステップS210〜ステップS230に示したような操作を実施して、式(2)から、各透明基体の反射像拡散性指標値Dを算定した。
なお、ステップS210において、本測定装置での受光角度の範囲は、測定装置としての構成上の制約から、+5°〜+85°であった。0°〜+5°および+85°〜+90°での反射光量はほぼ0であるため、本測定範囲であっても反射像拡散性指標値Dを算出するに当たって大きな影響は生じない。
図9には、各透明基体において得られた、目視による反射像拡散性のレベル(縦軸)と、反射像拡散性指標値D(横軸)の間の関係の一例を示す。なお、図9においては反射像拡散性指標値Dを測定した際に、第2の光の照射方向の、透明基体の厚さ方向に対する角度(入射角)を20°、45°とした場合の測定結果もあわせて示している。
図9から、両者の間には、第2の光の照射方向の透明基体の厚さ方向に対する角度によらず、相関関係があり、30°のデータが20°と45°のデータの間にあることがわかる。反射像拡散性レベルが7以上となるときの反射像拡散性指標値Dとの相関係数は、第2の光の照射方向の透明基体の厚さ方向に対する角度(入射角)を20°、30°、45°とした場合、それぞれ0.95、0.88、0.77と、いずれも高い数値であった。特に第2の光の照射方向の、透明基体の厚さ方向に対する角度(入射角)を20°と30°とした場合、反射像拡散性レベルが7以上のとき相関係数がともに0.8を超えるので、好ましいことが分かった。
さらに、透明基体の使用目的を考えると、0〜60°くらいの幅広い入射角で良好な解像度と反射像拡散性とを兼ね備えることが好ましいため、その中間値である30°での評価が特に好ましい。
この結果は、反射像拡散性指標値Dが観察者の目視による反射像拡散性のレベルの傾向と対応し、従って反射像拡散性指標値Dを用いて、透明基体の反射像拡散性を判断することができることを示唆するものである。換言すれば、反射像拡散性指標値Dを使用することにより、透明基体の反射像拡散性を、客観的かつ定量的に判断することができると言える。
このように、解像度指標値Tおよび反射像拡散性指標値Dを、それぞれ、透明基体の解像度および反射像拡散性の定量的な指標として使用することができることが確認された。
本発明は、例えば、LCD装置、OLED装置、PDP装置、電子書籍およびタブレット型表示装置のような、各種表示装置等に設置される透明基体に利用することができる。
以上に透明基体の光学特性の評価方法、光学装置を、実施形態および実施例等で説明したが、本発明は上記実施形態および実施例等に限定されない。特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形、変更が可能である。
本出願は、2013年3月29日に日本国特許庁に出願された特願2013−073375号に基づく優先権を主張するものであり、特願2013−073375号の全内容を本国際出願に援用する。
200 測定装置
210 透明基体
212 第1の表面
214 第2の表面
250 光源
262 第1の光
264 透過光
270 検出器
300 測定装置
350 光源
362 第2の光
364 反射光
370 検出器
500 光学装置
510 表示装置
560 透明基体
562 第1の表面
564 第2の表面

Claims (15)

  1. 表示装置の表示面側に配置される、第1および第2の表面を有する透明基体の光学特性の評価方法であって、
    透明基体の定量化された解像度指標値、および定量化された反射像拡散性指標値の2つの指標値を用いて、前記透明基体の光学特性を評価することを特徴とする透明基体の光学特性の評価方法。
  2. 前記定量化された解像度指標値は、
    前記透明基体の前記第2の表面側から、前記透明基体の厚さ方向と平行な方向に第1の光を照射し、受光角度を前記透明基体の厚さ方向に対して−90゜〜+90゜の範囲で変化させ、前記第1の表面側から透過する透過光の輝度を測定して全透過光の輝度を求めるステップと、
    前記透過光の輝度が最大となる角度(ピーク角度)を求めるステップと
    以下の式(1)から、解像度指標値Tを算定するステップと

    解像度指標値T=
    (全透過光の輝度−ピーク角度での透過光の輝度)/(全透過光の輝度) 式(1)

    により得られることを特徴とする請求項1に記載の透明基体の光学特性の評価方法。
  3. 前記定量化された反射像拡散性指標値は、
    前記透明基体の前記第1の表面側から、前記透明基体の厚さ方向に対して30゜の方向に第2の光を照射し、受光角度を前記透明基体の厚さ方向に対して0°〜+90°の範囲で変化させ、前記第1の表面で反射される反射光の輝度を測定するステップと、
    前記反射光の輝度が最大となる角度(ピーク角度)を求めるステップと
    以下の式(2)から、反射像拡散性指標値Dを算定するステップと

    反射像拡散性指標値D=
    ((ピーク角度+1°での輝度)+(ピーク角度−1°での輝度))/2/(ピーク角度での輝度) 式(2)

    により得られることを特徴とする請求項1または2に記載の透明基体の光学特性の評価方法。
  4. 前記解像度指標値および/または反射像拡散性指標値は、ゴニオメータを用いて取得されることを特徴とする請求項2または3に記載の透明基体の光学特性の評価方法。
  5. 前記表示装置は、LCD装置、OLED装置、PDP装置、電子書籍およびタブレット型表示装置からなる群から選択された一つであることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一つに記載の透明基体の光学特性の評価方法。
  6. 前記透明基体は、ソーダライムガラスまたはアルミノシリケートガラスで構成されることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一つに記載の透明基体の光学特性の評価方法。
  7. 前記透明基体は、前記第1および第2の表面のうちの少なくとも一方が、化学強化処理されていることを特徴とする請求項6に記載の透明基体の光学特性の評価方法。
  8. 前記透明基体は、前記第1の表面がアンチグレア処理されていることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一つに記載の透明基体の光学特性の評価方法。
  9. 前記アンチグレア処理は、前記透明基体の前記第1の表面に、フロスト処理、エッチング処理、サンドブラスト処理、ラッピング処理、およびシリカコート処理からなる群から選択された、少なくとも一つの処理方法を適用することにより実施されることを特徴とする請求項8に記載の透明基体の光学特性の評価方法。
  10. 表示装置と、該表示装置の表示面側に配置される透明基体とを有する光学装置であって、
    前記透明基体は、第1および第2の表面を有し、
    前記透明基体は、以下の方法で定量化される解像度指標値T、および反射像拡散性指標値Dの2つの指標値を用いて評価した場合、
    解像度指標値T≦0.7、
    反射像拡散性指標値D≧0.6
    を満たすことを特徴とする光学装置:
    ここで、前記解像度指標値Tは、
    前記透明基体の前記第2の表面側から、前記透明基体の厚さ方向と平行な方向に第1の光を照射し、受光角度を前記透明基体の厚さ方向に対して−90゜〜+90゜の範囲で変化させ、前記第1の表面側から透過する透過光の輝度を測定し、全透過光の輝度と前記透過光の輝度が最大となるピーク角度とを求め
    以下の式(1)

    解像度指標値T=
    (全透過光の輝度−ピーク角度での透過光の輝度)/(全透過光の輝度) 式(1)

    から算定され、
    前記反射像拡散性指標値Dは、
    前記透明基体の前記第1の表面側から、前記透明基体の厚さ方向に対して30゜の方向に第2の光を照射し、受光角度を前記透明基体の厚さ方向に対して0°〜+90°の範囲で変化させ、前記第1の表面で反射される反射光の輝度を測定し、前記反射光の輝度が最大となる角度(ピーク角度)を求め、
    以下の式(2)

    反射像拡散性指標値D=
    ((ピーク角度+1°での輝度)+(ピーク角度−1°での輝度))/2/(ピーク角度での輝度) 式(2)

    から算定される。
  11. 前記透明基体は、ソーダライムガラスまたはアルミノシリケートガラスで構成されることを特徴とする請求項10に記載の光学装置。
  12. 前記透明基体は、前記第1および第2の表面のうちの少なくとも一方が、化学強化処理されていることを特徴とする請求項11に記載の光学装置。
  13. 前記透明基体は、前記第1の表面がアンチグレア処理されていることを特徴とする請求項10乃至12のいずれか一つに記載の光学装置。
  14. 前記アンチグレア処理は、前記透明基体の前記第1の表面に、フロスト処理、エッチング処理、サンドブラスト処理、ラッピング処理、およびシリカコート処理からなる群から選択された、少なくとも一つの処理方法を適用することにより実施されることを特徴とする請求項13に記載の光学装置。
  15. 前記表示装置は、LCD装置、OLED装置、PDP装置、電子書籍およびタブレット型表示装置からなる群から選択された一つであることを特徴とする請求項10乃至14のいずれか一つに記載の光学装置。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102453705B1 (ko) 2015-09-25 2022-10-11 삼성전자주식회사 호스트의 정당성 여부에 따라 선택적으로 결제 기능을 온(on)하는 결제 장치의 동작 방법
KR102492294B1 (ko) * 2016-11-02 2023-01-27 코닝 인코포레이티드 투명 기판 상의 결함 검사 방법 및 장치, 및 입사광 조사 방법
CN107702893B (zh) * 2017-05-26 2019-09-10 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 量测透明显示器透明效果的方法及系统
WO2018230079A1 (ja) * 2017-06-15 2018-12-20 Agc株式会社 透明基体
IT202100010865A1 (it) * 2021-04-29 2022-10-29 Etrusca Vetreria Sistema e metodo per la rilevazione di infusi in manufatti di vetro cavo

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6365477A (ja) * 1986-09-08 1988-03-24 株式会社日立製作所 表示装置
JPS6419301A (en) * 1987-07-15 1989-01-23 Asahi Chemical Ind Surface plate for preventing reflection and its production
JPH0973072A (ja) * 1995-03-01 1997-03-18 Canon Inc 表示装置
JP2002277602A (ja) * 2001-03-14 2002-09-25 Fuji Photo Film Co Ltd 防眩フィルム、その製造方法および偏光板
JP2003005662A (ja) * 2001-06-25 2003-01-08 Sumitomo Chem Co Ltd 保護板を備える表示装置及びそれに好適な保護板
JP2008139833A (ja) * 2006-11-07 2008-06-19 Korona Senkosha:Kk 表示パネルの前面カバー体
JP2012126615A (ja) * 2010-12-16 2012-07-05 Asahi Glass Co Ltd フラットパネルディスプレイ用カバーガラス

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10186102A (ja) * 1996-12-26 1998-07-14 Yazaki Corp 反射防止膜
US6175399B1 (en) * 1997-02-10 2001-01-16 Sharp Kabushiki Kaisha Reflective type liquid crystal display device having a diffusion layer of phase separated liquid crystal and polymer
JPH11352019A (ja) * 1998-06-05 1999-12-24 Sony Corp 光透過型反射防止用光学機能フィルムの表面反射率測定方法とその装置、および、光透過型反射防止用光学機能フィルムの製造方法
KR100779306B1 (ko) * 2000-03-23 2007-11-23 다이셀 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 투과형 광산란 쉬이트 및 액정 표시 장치
JP4297414B2 (ja) * 2003-05-07 2009-07-15 富士フイルム株式会社 反射防止材の映り込み特性評価方法及び装置
JP2007147343A (ja) 2005-11-25 2007-06-14 Sharp Corp 防眩度の評価方法、及び防眩度評価装置
JP2008165205A (ja) * 2006-12-05 2008-07-17 Fujifilm Corp 光学フィルム、反射防止フィルム、それを用いた偏光板およびディスプレイ装置
TW201329004A (zh) * 2012-01-04 2013-07-16 Wintek Corp 強化玻璃切割件、玻璃強化方法、具有強化玻璃保護的觸控顯示裝置以及有機發光二極體顯示裝置
DE112014000891T5 (de) * 2013-02-19 2015-11-26 Asahi Glass Company, Limited Verfahren zum Bewerten optischer Eigenschaften von transparentem Substrat

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6365477A (ja) * 1986-09-08 1988-03-24 株式会社日立製作所 表示装置
JPS6419301A (en) * 1987-07-15 1989-01-23 Asahi Chemical Ind Surface plate for preventing reflection and its production
JPH0973072A (ja) * 1995-03-01 1997-03-18 Canon Inc 表示装置
JP2002277602A (ja) * 2001-03-14 2002-09-25 Fuji Photo Film Co Ltd 防眩フィルム、その製造方法および偏光板
JP2003005662A (ja) * 2001-06-25 2003-01-08 Sumitomo Chem Co Ltd 保護板を備える表示装置及びそれに好適な保護板
JP2008139833A (ja) * 2006-11-07 2008-06-19 Korona Senkosha:Kk 表示パネルの前面カバー体
JP2012126615A (ja) * 2010-12-16 2012-07-05 Asahi Glass Co Ltd フラットパネルディスプレイ用カバーガラス

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