JPWO2013183146A1 - 光ファイバ接続状態判定方法、光ファイバ接続状態判定用光モジュール及び光伝送装置 - Google Patents

Abstract

送信端と複数の受信端との間を接続する光ファイバの接続状態を判定すべく、増幅された自然放出光の一部を切り出すことにより、複数の受信端のうち一の受信端で受信可能な光信号の波長に対応する波長を有するテスト信号を生成し、生成したテスト信号を光ファイバに伝送させ、上記一の受信端においてテスト信号の光パワーを検出し、テスト信号の光パワーの検出結果に基づき、光ファイバの接続状態を判定する。

Description

本発明は、光ファイバ接続状態判定方法、光ファイバ接続状態判定用光モジュール及び光伝送装置に関する。

近年、インターネットの普及などによる通信需要の増加に伴い、光増幅器の広帯域性を活かした波長分割多重（ＷＤＭ：Wavelength Division Multiplexing）システムが普及してきている。
ＷＤＭシステムにおいては、全てのまたは一部の光ノードが光分岐挿入装置（ＯＡＤＭ：Optical Add-Drop Multiplexer）を備えている。光分岐挿入装置は、光伝送路に波長単位で光信号を挿入し、光伝送路から波長単位で光信号を取り出すことができる。

即ち、光分岐挿入装置は、ＷＤＭ光信号に所望の波長の光信号を挿入する機能（光add機能）と、ＷＤＭ光信号から所望の波長の光信号を分岐する機能（光drop機能）とを備えている。なお、所望の波長の光信号を挿入および／または分岐する光分岐挿入装置は、ＲＯＡＤＭ（Reconfigurable OADM）と呼ばれることがある。
ここで、光分岐挿入装置は、波長パスを柔軟に設定または変更できるように、ＣＤＣ（Colorless, Directionless, and Contentionless）機能を有しているのが好ましい。

Colorlessとは、光分岐挿入装置の任意のポートに任意の波長を入力でき、任意のポートから任意の波長を出力できる構成または機能を意味する。また、Directionlessとは、光分岐挿入装置が複数の方路を有する構成において、各端局からの光信号を任意の方路に導くことができ、各方路からの光信号を任意の端局に導くことができる構成または機能を意味する。さらに、Contentionlessとは、光分岐挿入装置内で同一波長の光信号の衝突を回避する構成または機能を意味する。

なお、下記特許文献１には、ＣＤＣ機能を有する光分岐挿入装置の一例が記載されている。

特開２０１２−０１５７２６号公報

このような光分岐挿入装置を含む光伝送装置は、モジュール性（Modularity）を高めるべく、多数の光デバイスを有している。また、複数の光デバイスは、光ファイバにより相互に接続される。各光デバイスは、それぞれ受信可能な波長の光が異なっている。
光ファイバが誤接続されている場合、光伝送装置が正常に動作しないため、全ての光デバイスが光デバイスと正しく接続されていることを確認する必要がある。しかしながら、検査を行なう光デバイスごとに、検査に使用する光の波長を合わせる必要があり、全ての光デバイスが全て正常に動作していることを確認、判定するためには、多大な労力及び時間を有するという問題がある。

そこで、本発明は、光ファイバの接続状態を容易に判定する方法を提供することを目的の１つとする。
なお、上記の各目的に限らず、後述する発明を実施するための形態に示す各構成により導かれる作用効果であって、従来の技術によっては得られない作用効果を奏することも本発明の他の目的の１つとして位置付けることができる。

（１）第１の案として、例えば、送信端と複数の受信端との間を接続する光ファイバの接続状態を判定する方法であって、増幅された自然放出光の一部を切り出すことにより、前記複数の受信端のうち一の受信端で受信可能な光信号の波長に対応する波長を有するテスト信号を生成し、生成した前記テスト信号を前記光ファイバに伝送させ、前記一の受信端において前記テスト信号の光パワーを検出し、前記テスト信号の光パワーの検出結果に基づき、前記光ファイバの接続状態を判定する、光ファイバ接続状態判定方法を用いることができる。

（２）また、第２の案として、例えば、送信端と複数の受信端との間を接続する光ファイバの接続状態を判定するための光モジュールであって、増幅された自然放出光の一部を切り出すことにより、前記複数の受信端のうち一の受信端で受信可能な光信号の波長に対応する波長を有するテスト信号を生成する波長可変フィルタと、該波長可変フィルタによって生成された前記テスト信号を出力する光出力部とをそなえた、光ファイバ接続状態判定用光モジュールを用いることができる。

（３）さらに、第３の案として、例えば、複数の光モジュールと、前記複数の光モジュール間を接続する光ファイバと、上記（２）記載の光ファイバ接続状態判定用光モジュールと、前記一の受信端において、前記光ファイバ接続状態判定用光モジュールから出力された前記テスト信号の光パワーを検出する光検出器と、前記光検出器での検出結果に基づき、前記光ファイバの接続状態を判定する処理部とをそなえた、光伝送装置を用いることができる。

光ファイバの接続状態を容易に判定することが可能となる。

（Ａ）及び（Ｂ）は光システムの構成の一例を示す図である。 光伝送装置の構成の一例を示す図である。 一実施形態に係る光モジュールの構成の一例を示す図である。 （Ａ）はＡＳＥ光の一例を示す図であり、（Ｂ）はテスト信号の一例を示す図である。 一実施形態に係る光ファイバ接続状態判定方法の一例を示す図である。 第１変形例に係る光モジュールの構成の一例を示す図である。 第２変形例に係る光モジュールの構成の一例を示す図である。 第３変形例に係る光伝送装置の構成の一例を示す図である。 第４変形例に係る光伝送装置の構成の一例を示す図である。 第５変形例に係る光モジュールの構成の一例を示す図である。 （Ａ）はＡＳＥ光の一例を示す図であり、（Ｂ）はＴＦによって切り出された光信号の一例を示す図であり、（Ｃ）はテスト信号の一例を示す図である。 第５変形例に係る光モジュールの他の構成の一例を示す図である。 第５変形例に係る光モジュールの他の構成の一例を示す図である。 （Ａ）はＡＳＥ光の一例を示す図であり、（Ｂ）はテスト信号の一例を示す図であり、（Ｃ）はＰＤでの検出結果の一例を示す図である。 一実施形態に係る光モジュールの他の構成の一例を示す図である。

以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。ただし、以下に示す実施の形態は、あくまでも例示に過ぎず、以下に示す実施形態及び各変形例で明示しない種々の変形や技術の適用を排除する意図はない。即ち、以下に示す実施形態及び各変形例を、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で組み合わせるなどして種々変形して実施できることはいうまでもない。

〔１〕一実施形態について
（１．１）光システムの構成の一例
図１は、一実施形態に係る光システムの構成の一例を示す図である。光伝送装置の一例である光分岐挿入装置（ＯＡＤＭ：Optical Add-Drop Multiplexer）は、光ノード内に設けられる。また、光分岐挿入装置は、１または複数の所望の波長の光信号をＷＤＭ光信号に挿入（Add）する機能、およびＷＤＭ光信号から１または複数の所望の波長の光信号を分岐（Drop）する機能を備える。この光分岐挿入装置は、光モジュール或いは光パッケージとも呼ばれる。

図１（Ａ）に示す光システムは、双方向リングネットワークであり、４台の光ノード＃１〜＃４を備えている。即ち、各光ノード間は、１組の時計回り光伝送路および反時計回り光伝送路で接続されている。時計回り光伝送路および反時計回り光伝送路は、それぞれ、ＷＤＭ光信号を伝送する。各光ノード＃１〜＃４は、それぞれ光分岐挿入装置を備えている。

各光ノードまたは各光分岐挿入装置を基準として、ある方向に向かって伸びる光伝送路を「方路」と呼ぶことにする。例えば、光ノード＃１（または、光ノード＃１の光分岐挿入装置）は、方路＃１および方路＃２を有している。方路＃１は、光ノード＃４に接続されている。そして、方路＃１には、光ノード＃４から光ノード＃１へＷＤＭ光信号を伝送する光伝送路（入方路）、および光ノード＃１から光ノード＃４へＷＤＭ光信号を伝送する光伝送路（出方路）が設定されている。また、方路＃２は、光ノード＃２に接続されている。そして、方路＃２には、光ノード＃２から光ノード＃１へＷＤＭ光信号を伝送する光伝送路（入方路）、および光ノード＃１から光ノード＃２へＷＤＭ光信号を伝送する光伝送路（出方路）が設定されている。

上記構成の光システムにおいて、例えば、端局Ａから端局Ｂへデータを送信する際には、光ノード＃１は、端局Ａから送信される光信号を、方路＃１へ出力する。このとき、端局Ａは、例えば、波長λ１を利用してデータを搬送する光信号を送信する。そうすると、光ノード＃１の光分岐挿入装置は、端局Ａから送信される光信号を、光ノード＃２から方路＃２，＃１を介して光ノード＃４へ伝送されるＷＤＭ光信号に挿入する。そして、光ノード＃４の光分岐挿入装置は、そのＷＤＭ光信号から波長λ１の光信号を分岐して端局Ｂへ導く。これにより、端局Ａから送信されるデータは、端局Ｂにより受信される。

端局Ｃから端局Ａへデータを送信する際には、端局Ｃは、例えば、波長λ２を利用してデータを搬送する光信号を送信する。そうすると、光ノード＃２の光分岐挿入装置は、端局Ｃから送信される光信号を、光ノード＃３から光ノード＃２，方路＃２を介して光ノード＃１へ伝送されるＷＤＭ光信号に挿入する。このＷＤＭ光信号は、方路＃２から光ノード＃１に入力される。そして、光ノード＃１の光分岐挿入装置は、そのＷＤＭ光信号をから波長λ２の光信号を分岐して端局Ａへ導く。これにより、端局Ｃから送信されるデータは、端局Ａにより受信される。

図１（Ａ）に示す光システムでは、各光分岐挿入装置は、それぞれ２本の方路を有しているが、より多くの方路を有するようにしてもよい。例えば、図１（Ｂ）に示す光システムでは、光ノード＃５の光分岐挿入装置は、４本の方路＃１〜＃４を有している。このとき、光ノード＃５の光分岐挿入装置は、端局Ｄから送信される任意の波長の光信号を、任意の方路へ出力することができる。また、光ノード＃５の光分岐挿入装置は、任意の方路から任意の波長の光信号を分岐して端局Ｄへ転送することができる。

光分岐挿入装置が備える方路の数は、「Degree」でカウントされることがある。例えば、図１（Ａ）に示す各光分岐挿入装置は、２本の方路を有しているので、2-degreeと呼ばれることがある。また、図１（Ｂ）に示す光ノード＃５の光分岐挿入装置は、４本の方路を有しているので、4-degreeと呼ばれることがある。
（１．２）光伝送装置（光分岐挿入装置）の構成の一例
図２は、光伝送装置の構成の一例を示す図である。なお、以下では、光伝送装置のことを光分岐挿入装置ともいう。

この図２に示す光分岐挿入装置１は、例示的に、ｎ（ｎは２以上の整数）本の方路を有している。ｎ本の方路は、例えば、２本の方路（ＷＥＳＴ方路（＃１）およびＥＡＳＴ方路（＃ｎ））と複数の他方路（＃２〜＃（ｎ−１））とを有している。各方路は、１組の入方路および出方路を含む。
また、図２に示す光分岐挿入装置１は、例示的に、複数の光デバイス（光素子）を備えた機能ブロックを一つの単位とする光モジュール（パッケージ）２−１〜２−２，３−１〜３−２，４，５−１〜５−２及び６−１〜６−２と、各光モジュール２−１〜２−２，３−１〜３−２，４，５−１〜５−２及び６−１〜６−２を制御するコントローラ（処理部）７とを備える。

光モジュール２−１〜２−２は、それぞれ、複数の光増幅器を備えている。また、光モジュール３−１〜３−２は、それぞれ、１×ｎ波長選択光スイッチ（ＷＳＳ：Wavelength Selective Switch）と、１×ｎ光スプリッタ（ＳＰＬ：Splitter）と、光スプリッタ（ＳＰＬ：Splitter）と、光カプラ（ＣＰＬ：Coupler）とを備えている。さらに、各光モジュール４は、複数の光増幅器と、１組のＳＰＬ及びＣＰＬとを備えている。また、光モジュール５−１〜５−２は、それぞれ、光クロスコネクトスイッチ（ＯＸＣ：Optical Cross Connect Switch）と、複数の波長可変フィルタ（ＴＦ：Tunable Filter）とを備えている。さらに、光モジュール６−１〜６−２は、それぞれ、複数のトランスポンダ（ＴＰ：Transponder）を備えている。なお、以下では、光モジュール２−１〜２−２を単に光モジュール２と称することがあり、光モジュール３−１〜３−２を単に光モジュール３と称することがある。また、同様に、光モジュール５−１〜５−２を単に光モジュール５と称することがあり、光モジュール６−１〜６−２を単に光モジュール６と称することがある。

ここで、光モジュール２−１は、ＷＥＳＴ方路から入力されるＷＤＭ光信号を増幅するとともに、ＷＥＳＴ方路へ出力されるＷＤＭ光信号を増幅する。同様に、光モジュール２−２は、ＥＡＳＴ方路から入力されるＷＤＭ光信号を増幅するとともに、ＥＡＳＴ方路へ出力されるＷＤＭ光信号を増幅する。なお、光モジュール２−１〜２−２内の各光増幅器の利得は、予め計算されてもよいし、コントローラ７などによって動的に制御されるようにしてもよい。

まず、光分岐挿入装置１のドロップ機能に着目すると、光モジュール２−１と接続された光モジュール３−１内の１×ｎＳＰＬは、ＷＥＳＴ方路から入力されるＷＤＭ光信号を分岐し、光モジュール３−２内の１×ｎＷＳＳ，光モジュール３−１内のＳＰＬ及び複数の他方路に導く。同様に、光モジュール２−２と接続された光モジュール３−２内の１×ｎＳＰＬは、ＥＡＳＴ方路から入力されるＷＤＭ光信号を分岐し、光モジュール３−１内の１×ｎＷＳＳ，光モジュール３−２内のＳＰＬ及び複数の他方路に導く。

また、光モジュール３−１内のＳＰＬは、光モジュール３−１内の１×ｎＳＰＬから導かれてくるＷＤＭ光信号を分岐し、光モジュール４内の光増幅器に導く。同様に、光モジュール３−２内のＳＰＬは、光モジュール３−２内の１×ｎＳＰＬから導かれてくるＷＤＭ光信号を分岐し、光モジュール４内の光増幅器に導く。
光モジュール４内の光増幅器は、光モジュール３−１内のＳＰＬから入力された光信号を増幅し、当該光モジュール４内のＳＰＬへ出力する。同様に、他の光モジュール４内の光増幅器は、光モジュール３内のＳＰＬから入力された光信号を増幅し、当該光モジュール４内のＳＰＬへ出力する。なお、光モジュール４における各光増幅器の利得は、予め計算されてもよいし、コントローラ７などによって動的に制御されるようにしてもよい。

光モジュール４内のＳＰＬは、光モジュール４内の光増幅器で増幅された光信号を分岐し、光モジュール５−１内のＯＸＣに導く。
各光モジュール５−１内のＯＸＣは、入力された光信号を、例えばコントローラ７により指定される出力ポートへ導く。また、各光モジュール５−１内のＴＦは、ＯＸＣから入力される光信号のうち、例えばコントローラ７により指定される波長の光信号のみを通過させる一方、他の波長の光信号を遮断する。

光モジュール６−１内のＴＰは、光モジュール５−１内のＴＦから入力された光信号を、対応する端局へ転送する。なお、光モジュール６−１内の各ＴＰから出力される光信号の波長は、互いに同じであってもよいし、互いに異なっていてもよい。
次に、光分岐挿入装置１のアド機能に着目すると、光モジュール６−２内のＴＰは、それぞれ、対応する端局から送信される光信号を、光モジュール５−２内のＴＦへ転送する。なお、各端局から送信される光信号の波長は、互いに同じであってもよいし、互いに異なっていてもよい。また、光モジュール６−２内の各ＴＰから出力される光信号の波長は、特に限定されるものではないが、互いに異なるようにしてもよい。

光モジュール５−２内の各ＴＦは、光モジュール６−２内の各ＴＰから入力される光信号のうち、例えばコントローラ７により指定される波長の光信号のみを通過させる一方、他の波長の光信号を遮断する。また、光モジュール５−２内のＯＸＣは、ＴＦから入力された光信号を、例えばコントローラ７により指定される出力ポートへ導く。
また、光モジュール４内のＣＰＬは、光モジュール５−２内のＯＸＣから入力された光信号を合波して出力する。さらに、光モジュール４内の光増幅器は、ＣＰＬから入力された光信号を増幅して出力する。なお、光モジュール４における各光増幅器の利得は、予め計算されてもよいし、コントローラ７などによって動的に制御されるようにしてもよい。

光モジュール３−１内のＣＰＬは、光モジュール４から入力される光信号を合波して、光モジュール３−１内の１×ｎＷＳＳへ出力する。同様に、光モジュール３−２内のＣＰＬは、光モジュール４から入力される光信号を合波して、光モジュール３−２内の１×ｎＷＳＳへ出力する。
光モジュール３−１内の１×ｎＷＳＳは、例えばコントローラ７による制御に従って、ＥＡＳＴ方路から光モジュール３−２内の１×ｎＳＰＬを介して導かれてくる光信号と光モジュール３−１内のＣＰＬから導かれてくる光信号と複数の他方路から入力される光信号とから、ＷＥＳＴ方路へ出力するＷＤＭ光信号を生成する。このとき、光モジュール３−１内の１×ｎＷＳＳは、ＥＡＳＴ方路から光モジュール３−２内の１×ｎＳＰＬを介して導かれてくる光信号と複数の他方路から入力される光信号とから、光分岐挿入装置１を「通過（スルー）」する１または複数の任意の波長を選択する。また、光モジュール３−１内の１×ｎＷＳＳは、光モジュール３−１内のＣＰＬから導かれてくる光信号から、ＷＤＭ光信号に「挿入（アド）」する１または複数の任意の波長を選択する。

同様に、光モジュール３−２内の１×ｎＷＳＳは、例えばコントローラ７による制御に従って、ＷＥＳＴ方路から光モジュール３−１内の１×ｎＳＰＬを介して導かれてくる光信号と光モジュール３−２内のＣＰＬから導かれてくる光信号と複数の他方路から入力される光信号とから、ＥＡＳＴ方路へ出力するＷＤＭ光信号を生成する。このとき、光モジュール３−２内の１×ｎＷＳＳは、ＷＥＳＴ方路から光モジュール３−１内の１×ｎＳＰＬを介して導かれてくる光信号と複数の他方路から入力される光信号とから、光分岐挿入装置１を「通過（スルー）」する１または複数の任意の波長を選択する。また、光モジュール３−２内の１×ｎＷＳＳは、光モジュール３−２内のＣＰＬから導かれてくる光信号から、ＷＤＭ光信号に「挿入（アド）」する１または複数の任意の波長を選択する。

コントローラ７は、ユーザまたはネットワーク管理装置（図示省略）からの指示に応じて、各光モジュール２〜６を制御する。このため、コントローラ７は、例えば、プロセッサ及びメモリを備える。メモリには、光分岐挿入装置１のアド動作およびドロップ動作を記述したプログラムが格納されるようにしてもよい。この場合、プロセッサは、メモリに格納されているプログラムを実行することにより、光信号のアド動作およびドロップ動作を提供する。また、コントローラ７は、ユーザまたはネットワーク管理装置との間のインタフェースを提供してもよい。

（１．３）光ファイバの接続状態判定方法について
ここで、図２に例示する光分岐挿入装置１内の光モジュール２〜６間を相互に接続する光ファイバが正しく接続されているか否かを判定する方法（光ファイバ接続状態判定方法）の一例について説明する。
光ファイバ接続状態判定方法の一例として、例えば、光信号の送信元において、光ファイバの接続先毎にそれぞれ異なる周波数で光信号を変調し、変調された光信号を、光ファイバの各接続先に配置された光検出器（ＰＤ：Photo Diode）で検出する方法がある。

この方法では、異なる周波数の変調処理が施された光信号を光ファイバの各接続先に配置された光検出器（ＰＤ）で検出し、当該検出結果に基づいて、受信した光信号の変調周波数を検出することにより、所望の送信元から正しく光信号が送信されているかどうかを確認することができる。なお、上記方法において、各光信号に施す変調は、例えば、各光信号に重畳されているデータに影響を与えない程度に緩やかであるのが望ましい。

しかしながら、一般的に、ＣＤＣ機能を有する光分岐挿入装置１における光ファイバ接続数は非常に多く、例えば、８方路（8-degree）且つ８８波の光信号を収容可能な光分岐挿入装置１の場合、数百〜数千本の光ファイバが用いられる可能性がある。このため、光分岐挿入装置１に上述したような方法を適用して、光ファイバの接続元全てに変調部を配置するとともに、光ファイバの接続先全てに光検出器を配置すると、光分岐挿入装置１の装置サイズ及び製造コストの肥大化を招く。

また、ＣＤＣ機能を有する光分岐挿入装置１において各光信号の方路の接続を誤った場合、波長の衝突が生じ、既存の光信号にエラーを引き起こしたり、間違った方路に光信号を送出してしまったりする可能性がある。このため、光分岐挿入装置１に上述したような方法を適用する場合、光ファイバの接続数に応じた種類の変調周波数を用いることとなるが、変調周波数の種類が非常に多いと、より高感度な光検出器（ＰＤ）が要求され、やはり、光分岐挿入装置１の装置サイズ及び製造コストの肥大化を招く。

そこで、本例では、光ファイバの接続状態を容易に判定する方法を提案する。
具体的には例えば、光分岐挿入装置１内の光増幅器などから放出される増幅された自然放出光（ＡＳＥ：Amplified Spontaneous Emission）の一部を切り出すことにより光ファイバ接続状態判定用のテスト信号を生成し、生成したテスト信号を、光モジュール間を接続する光ファイバに導通させ、当該テスト信号が受信端（接続先）で正しく検出されるか否かを判定することで、光ファイバの接続状態を判定する。なお、本発明は、図２に例示した光分岐挿入装置１への適用に限定されず、様々な光ファイバ接続形態に適用可能であることはいうまでもない。

なお、前提として、例えば、光分岐挿入装置１内の各光モジュール３〜６の受信端（光ファイバの接続先）には、入力光の光パワーを検出可能な光検出器（ＰＤ）が配置されているものとする（図２中の網掛け丸印参照）。
（１．４）一実施形態に係る光ファイバ接続状態判定用光モジュールの構成例
図３は一実施形態に係る光ファイバ接続状態判定用光モジュール（以下、単に光モジュールともいう）の構成の一例を示す図である。

この図３に示す光モジュール１０は、例示的に、１×２光カプラ（ＣＰＬ）１１と、波長可変フィルタ（ＴＦ）１２と、１×２光カプラ（ＣＰＬ）１３と、２×１光スイッチ（ＳＷ）１４と、光検出器（ＰＤ）１５とを備える。
光モジュール１０は、例えば、図２に例示した光分岐挿入装置１の光モジュール２−１内の光増幅器と光モジュール３−１内の１×ｎＳＰＬとの間や、光モジュール２−２内の光増幅器と光モジュール３−２内の１×ｎＳＰＬとの間などに配置されるのが望ましい。この場合、光モジュール１０には、例えば、光モジュール２−１〜２−２内の光増幅器から放出されるＡＳＥ光が入力され得る。また、光モジュール４内の光増幅器と光モジュール３−１内のＣＰＬとの間や、光モジュール４内の光増幅器と光モジュール３−２内のＣＰＬとの間などに光モジュール１０を配置してもよい。

ここで、１×２ＣＰＬ１１は、入力光を分岐し、後段の２×１ＳＷ１４とＴＦ１２とに導く。なお、入力光には、前段の光増幅器から入力されるＡＳＥ光と、光システムの運用時に入力される主信号光とが含まれる。
ＴＦ１２は、１×２ＣＰＬ１１から入力される光信号のうち、所定の波長の光信号のみを通過させる一方、他の波長の光信号を遮断する。なお、ＴＦ１２が通過させる波長は、例えば、コントローラ７などにより制御されてもよい。

具体的には例えば、光ファイバ接続状態判定処理時において、ＴＦ１２には、図４（Ａ）に例示するような周波数対光パワー特性を有するＡＳＥ光が入力される。このとき、ＴＦ１２は、図４（Ｂ）に例示するように、光システムを伝搬する光信号１波分に相当するＡＳＥ光を切り出すことにより、光ファイバ接続状態判定用のテスト信号を生成する。ＴＦ１２によって生成された上記テスト信号は、１×２ＣＰＬ１３に出力される。

即ち、ＴＦ１２は、入力されたＡＳＥ光の一部を切り出すことにより、光ファイバの接続先（複数の受信端）のうち接続先（受信端）で受信可能な光信号の波長に対応する波長を有するテスト信号を生成する波長可変フィルタの一例として機能する。
１×２ＣＰＬ１３は、ＴＦ１２によって生成された上記テスト信号を分岐し、２×１ＳＷ１４とＰＤ１５とに導く。

２×１ＳＷ１４は、１×２ＣＰＬ１１から入力される光信号と１×２ＣＰＬ１３から入力される光信号とのうちいずれか一方を選択して出力する。２×１ＳＷ１４は、例えば、光分岐挿入装置１の起動時や新設チャネルの立ち上げ時などの光ファイバ接続状態判定時においては、１×２ＣＰＬ１３から入力される光信号（即ち、上記テスト信号）を選択する一方、光システム，光分岐挿入装置１の実運用時などにおいては、１×２ＣＰＬ１１から入力される光信号（即ち、主信号光）を選択する。なお、２×１ＳＷ１４の選択動作は、例えば、コントローラ７などにより制御されてもよい。

即ち、２×１ＳＷ１４は、ＴＦ１２によって生成されたテスト信号を出力する光出力部の一例として機能する。
また、ＰＤ１５は、１×２ＣＰＬ１３によって分岐入力された、上記テスト信号の光パワーを検出する。当該検出結果は、例えば、コントローラ７などに通知され、光分岐挿入装置１内の光増幅器に対する増幅利得制御や、ＴＦ１２の通過帯域制御などに用いられる。即ち、上記テスト信号の光パワーは、所望の値に制御され得る。

本例では、上記構成を有する光モジュール１０によって、ＡＳＥ光の一部を切り出すことにより生成した上記テスト信号を、各光モジュール２〜６の光ファイバ接続端に備えられた光検出器（ＰＤ）で検出し、当該検出結果に基づいて、各光ファイバ接続が妥当であるか否かを判定する。
以下、本例の光ファイバ接続状態判定方法の具体例について説明する。

（１．５）一実施形態に係る光ファイバ接続状態判定方法
まず、図５に例示するように、光分岐挿入装置１の起動や新設チャネルの立ち上げなどを契機として、光ファイバ接続状態判定処理が開始されると（ステップＳ１０）、光分岐挿入装置１内の光増幅器からＡＳＥ光が放出される（ステップＳ１１）。
光分岐挿入装置１内の光増幅器の後段に配置された光モジュール１０内の１×２ＣＰＬ１１は、光増幅器から入力されたＡＳＥ光を分岐し、ＴＦ１２へ導く。

ＴＦ１２は、例えば、光分岐挿入装置１で分岐（ドロップ）される光信号の波長に対応する波長の光信号を、１×２ＣＰＬ１１から入力されたＡＳＥ光から切り出すことにより、光ファイバ接続状態判定用のテスト信号を生成する。なお、当該テスト信号の光パワーは、ＰＤ１５での検出結果に基づき、コントローラ７などによって増減制御され得る。
このとき、２×１ＳＷ１４は、１×２ＣＰＬ１１からの入力と１×２ＣＰＬ１３からの入力とのうち、１×２ＣＰＬ１３からの入力（即ち、テスト信号）を選択して出力する（ステップＳ１２）。なお、光システム，光分岐挿入装置１の実運用時などにおいては、２×１ＳＷ１４は、１×２ＣＰＬ１１からの入力と１×２ＣＰＬ１３からの入力とのうち、１×２ＣＰＬ１１からの入力（即ち、主信号光）を選択して出力する。

ここで、光モジュール１０を、光モジュール２−１内の光増幅器のうち、ＷＥＳＴ方路から入力される光信号を増幅する光増幅器と光モジュール３−１内の１×ｎＳＰＬとの間に配置した場合を一例として、本例の光ファイバ接続状態判定方法を説明する。
このとき、光モジュール１０によって生成及び出力されたテスト信号は、光モジュール１０と光モジュール３−１との間を接続する光ファイバを介して、光モジュール３−１へ入力される。

そして、当該テスト信号は、光モジュール３−１内の１×ｎＳＰＬで分岐された後、光モジュール３−１内のＳＰＬで分岐され、光モジュール３−１と光モジュール４との間を接続する光ファイバを介して、光モジュール４へ入力される。
このとき、コントローラ７は、光モジュール４内のＳＰＬ前段に配置された光増幅器の受信端に配置された光検出器（ドロップ側ＰＤ）において、テスト信号が所望のレベルで検出されたかどうかを判定する（ステップＳ１３）。なお、所望のレベルとは、光モジュール１０内のＰＤ１５及びコントローラ７によって利得制御されたテスト信号の光パワーのことをいう。

ドロップ側ＰＤにおいてテスト信号が所望のレベルで検出された場合（ステップＳ１３のＹｅｓルート）、コントローラ７は、光モジュール３−１と光モジュール４との間の光ファイバ接続のうち、少なくとも当該テスト信号が伝搬する光ファイバが正しく接続されていると判定することができる。
一方、ドロップ側ＰＤにおいてテスト信号を所望のレベルで検出できない場合（ステップＳ１３のＮｏルート）、コントローラ７は、光モジュール３−１と光モジュール４との間の光ファイバ接続のうち、少なくとも当該テスト信号が伝搬する光ファイバが正しく接続されていないと判定し、当該光ファイバの誤接続または当該光ファイバが外れている旨をネットワーク管理装置などに通知することができる（ステップＳ１４）。これにより、当該光ファイバの誤接続または光ファイバ外れは、ネットワーク管理者やユーザなどによって是正されることができる。

なお、コントローラ７は、テスト信号の光パワーの検出結果が所定の閾値よりも小さい場合、光ファイバが誤接続されていると判定する一方、テスト信号の光パワーの検出結果が所定の閾値以上である場合、光ファイバが正しく接続されていると判定してもよい。
光モジュール３−１と光モジュール４との間の光ファイバ接続のうち、少なくとも当該テスト信号が伝搬する光ファイバが正しく接続されていれば、次に、コントローラ７は、光モジュール５−１内のＯＸＣの受信端に配置された光検出器（ＰＤ）において、テスト信号が所望のレベルで検出されたかどうかを判定する（ステップＳ１５）。

光モジュール５−１内のＯＸＣの受信端に配置された光検出器（ＰＤ）においてテスト信号を所望のレベルで検出した場合（ステップＳ１５のＹｅｓルート）、コントローラ７は、光モジュール４と光モジュール５−１との間の光ファイバ接続のうち、少なくとも当該テスト信号が伝搬する光ファイバが正しく接続されていると判定することができる。
一方、光モジュール５−１内のＯＸＣの受信端に配置された光検出器（ＰＤ）においてテスト信号を所望のレベルで検出できない場合（ステップＳ１５のＮｏルート）、コントローラ７は、光モジュール４と光モジュール５−１との間の光ファイバ接続のうち、少なくとも当該テスト信号が伝搬する光ファイバが正しく接続されていないと判定し、当該光ファイバの誤接続または当該光ファイバが外れている旨をネットワーク管理装置などに通知することができる（ステップＳ１６）。これにより、当該光ファイバの誤接続または光ファイバ外れは、ネットワーク管理者やユーザなどによって是正されることができる。

なお、コントローラ７は、テスト信号の光パワーの検出結果が所定の閾値よりも小さい場合、光ファイバが誤接続されていると判定する一方、テスト信号の光パワーの検出結果が所定の閾値以上である場合、光ファイバが正しく接続されていると判定してもよい。
光モジュール４と光モジュール５−１との間の光ファイバ接続のうち、少なくとも当該テスト信号が伝搬する光ファイバが正しく接続されていれば、次に、コントローラ７は、光モジュール６−１内のＴＰの受信端に配置された光検出器（ＰＤ）において、テスト信号が所望のレベルで検出されたかどうかを判定する（ステップＳ１７）。

光モジュール６−１内のＴＰの受信端に配置された光検出器（ＰＤ）においてテスト信号を所望のレベルで検出した場合（ステップＳ１７のＹｅｓルート）、コントローラ７は、光モジュール５−１と光モジュール６−１との間の光ファイバ接続のうち、少なくとも当該テスト信号が伝搬する光ファイバが正しく接続されていると判定することができる。また、この場合、光モジュール５−１内のＴＦの透過波長設定が妥当であることも合わせて確認することができる。

一方、光モジュール６−１内のＴＰの受信端に配置された光検出器（ＰＤ）においてテスト信号を所望のレベルで検出できない場合（ステップＳ１７のＮｏルート）、コントローラ７は、光モジュール５−１と光モジュール６−１との間の光ファイバ接続のうち、少なくとも当該テスト信号が伝搬する光ファイバが正しく接続されていないと判定し、当該光ファイバの誤接続または当該光ファイバが外れている旨をネットワーク管理装置などに通知することができる（ステップＳ１８）。これにより、当該光ファイバの誤接続または光ファイバ外れは、ネットワーク管理者やユーザなどによって是正されることができる。

なお、コントローラ７は、テスト信号の光パワーの検出結果が所定の閾値よりも小さい場合、光ファイバが誤接続されていると判定する一方、テスト信号の光パワーの検出結果が所定の閾値以上である場合、光ファイバが正しく接続されていると判定してもよい。
以上のようにして、上記テスト信号が伝搬する各光ファイバの接続の妥当性が保証されると、次に、コントローラ７は、ＴＦ１２の透過波長を変更し（ステップＳ１９）、上記ステップＳ１３〜Ｓ１８の処理を繰り返す。例えば、コントローラ７は、光分岐挿入装置１で分岐（ドロップ）される光信号の他の波長を透過するように、ＴＦ１２の透過波長を変更する。

これにより、光モジュール３−１，４，５−１及び６−１間の他の光ファイバの接続の妥当性を検証、保証することができる。なお、光モジュール３−１，４，５−１及び６−１間の全ての光ファイバ接続の妥当性が保証されると、コントローラ７は、光ファイバ判定処理を終了してもよい。なお、光ファイバ接続の妥当性が確認されている接続部位がある場合、当該接続部位に対応する光ファイバ接続状態判定処理の一部は省略されてもよい。

上述した例では、光モジュール１０を、光モジュール２−１内の光増幅器のうち、ＷＥＳＴ方路から入力される光信号を増幅する光増幅器と光モジュール３−１内の１×ｎＳＰＬとの間に配置し、光モジュール３−１，４，５−１及び６−１間のドロップ方向における各光ファイバ接続の妥当性について判定したが、例えば、光モジュール１０を、光モジュール２−２内の光増幅器のうち、ＥＡＳＴ方路から入力される光信号を増幅する光増幅器と光モジュール３−２内の１×ｎＳＰＬとの間に配置すれば、光モジュール３−２，４，５−１及び６−１間のドロップ方向における各光ファイバ接続の妥当性についても同様に判定することができる。

また、光モジュール１０を、光モジュール４内の光増幅器と光モジュール３−１（あるいは３−２）内のＣＰＬとの間に配置すれば、光モジュール４及び３−１（あるいは３−２）間のアド方向における各光ファイバ接続の妥当性についても同様に判定することができる。
以上のように、本例によれば、光ファイバの接続状態を容易に判定することが可能となる。

〔２〕第１変形例
また、図６に例示するような光モジュール１０Ａを用いてもよい。
光モジュール１０Ａは、１×２ＣＰＬ１１の代わりに、１×２ＳＷ１６を備えている。なお、図６において図３と同一の符号を付した構成要素については、図３に示す構成要素と同様の機能を有するため、その説明を省略する。

１×２ＳＷ１６は、入力ポートから入力される光信号を、いずれかの出力ポートから選択的に出力する。１×２ＳＷ１６は、例えば、光分岐挿入装置１の起動時や新設チャネルの立ち上げ時などの光ファイバ接続状態判定時においては、入力光をＴＦ１２の方路へ出力する一方、光システム，光分岐挿入装置１の実運用時などにおいては、入力光を２×１ＳＷ１４の方路へ出力する。なお、１×２ＳＷ１６の選択動作は、例えば、コントローラ７などにより制御されてもよい。

光モジュール１０に代えて、光モジュール１０Ａを用いることにより、上記実施形態と同様の効果が得られるほか、主信号光の損失を低減することができる。
〔３〕第２変形例
また、図７に例示するような光モジュール２０を用いてもよい。
この図７に示す光モジュール２０は、例示的に、ＡＳＥ光源２１と、ＴＦ２２と、１×２ＣＰＬ２３と、２×１ＳＷ２４と、ＰＤ２５とを備える。

ＡＳＥ光源２１は、図４（Ａ）に例示したようなＡＳＥ光を出力する。
ＴＦ２２は、ＡＳＥ光源２１から入力されるＡＳＥ光のうち、所定の波長の光信号のみを通過させる一方、他の波長の光信号を遮断する。なお、ＴＦ２２が通過させる波長は、例えば、コントローラ７などにより制御されてもよい。
具体的には例えば、光ファイバ接続状態判定処理時において、ＴＦ２２には、図４（Ａ）に例示するような周波数対光パワー特性を有するＡＳＥ光が入力される。このとき、ＴＦ２２は、図４（Ｂ）に例示するように、光システムを伝搬する光信号１波分に相当するＡＳＥ光を切り出すことにより、光ファイバ接続状態判定用のテスト信号を生成する。ＴＦ２２によって生成された上記テスト信号は、１×２ＣＰＬ２３に出力される。

１×２ＣＰＬ２３は、ＴＦ２２によって生成された上記テスト信号を分岐し、２×１ＳＷ２４とＰＤ２５とに導く。
２×１ＳＷ２４は、外部から入力される光信号と１×２ＣＰＬ２３から入力される光信号とのうちいずれか一方を選択して出力する。２×１ＳＷ２４は、例えば、光分岐挿入装置１の起動時や新設チャネルの立ち上げ時などの光ファイバ接続状態判定時においては、１×２ＣＰＬ２３から入力される光信号（即ち、上記テスト信号）を選択する一方、光システム，光分岐挿入装置１の実運用時などにおいては、外部から入力される光信号（即ち、主信号光）を選択する。なお、２×１ＳＷ２４の選択動作は、例えば、コントローラ７などにより制御されてもよい。

また、ＰＤ２５は、１×２ＣＰＬ２３によって分岐入力された、上記テスト信号の光パワーを検出する。当該検出結果は、例えば、コントローラ７などに通知され、光分岐挿入装置１内の光増幅器に対する増幅利得制御や、ＴＦ２２の通過帯域制御などに用いられる。即ち、上記テスト信号の光パワーは、所望の値に制御され得る。
以上のように構成された光モジュール２０を、例えば、光モジュール６−２内のＴＰの前段に配置すれば、光モジュール６−２，５−２，４及び３−１（あるいは３−２）間のアド方向における各光ファイバ接続の妥当性についても同様に判定することができる。

〔４〕第３変形例
図８は、第３変形例に係る光分岐挿入装置１Ａの構成の一例を示す図である。
この図８に示す光分岐挿入装置１Ａは、例示的に、複数の光デバイス（光素子）を備えた機能ブロックを一つの単位とする光モジュール（パッケージ）２Ａ−１〜２Ａ−６，３Ａ−１〜３Ａ−２，４Ａ，５Ａ及び６Ａ−１〜６Ａ−２と、各光モジュール２Ａ−１〜２Ａ−６，３Ａ−１〜３Ａ−２，４Ａ，５Ａ及び６Ａ−１〜６Ａ−２を制御するコントローラ７Ａとを備えている。

また、上述した実施形態及び各変形例と同様に、前提として、例えば、光分岐挿入装置１Ａ内の各光モジュール２Ａ−１〜２Ａ−６，３Ａ−１〜３Ａ−２，４Ａ，５Ａ及び６Ａ−１〜６Ａ−２の受信端（光ファイバの接続先）には、入力光の光パワーを検出可能な光検出器（ＰＤ）が配置されているものとする（図８中の網掛け丸印参照）。
図８に例示するような光分岐挿入装置１Ａにおいても、上述した光モジュール１０，１０Ａ及び２０のうち少なくともいずれかを適切な位置に配置すれば、各光モジュール２Ａ−１〜２Ａ−６，３Ａ−１〜３Ａ−２，４Ａ，５Ａ及び６Ａ−１〜６Ａ−２間の各光ファイバ接続の妥当性を容易に判定することができる。

また、各ＷＳＳにおける波長選択の設定誤りや、各ＷＳＳ自体の故障等の動作異常についても判定することができる。
〔５〕第４変形例
図９は、第４変形例に係る光分岐挿入装置１Ｂの構成の一例を示す図である。
この図９に示す光分岐挿入装置１Ｂは、例示的に、複数の光デバイス（光素子）を備えた機能ブロックを一つの単位とする光モジュール（パッケージ）２Ｂ−１〜２Ｂ−２，３Ｂ−１〜３Ｂ−２，４Ｂ，５Ｂ，６Ｂ，８Ｂ，９Ｂ及び１０Ｂ−１〜１０Ｂ−２と、各光モジュール２Ｂ−１〜２Ｂ−２，３Ｂ−１〜３Ｂ−２，４Ｂ，５Ｂ，６Ｂ，８Ｂ，９Ｂ及び１０Ｂ−１〜１０Ｂ−２を制御するコントローラ７Ｂとを備えている。

また、上述した実施形態及び各変形例と同様に、前提として、例えば、光分岐挿入装置１Ｂ内の各光モジュール２Ｂ−１〜２Ｂ−２，３Ｂ−１〜３Ｂ−２，４Ｂ，５Ｂ，６Ｂ，８Ｂ，９Ｂ及び１０Ｂ−１〜１０Ｂ−２の受信端（光ファイバの接続先）には、入力光の光パワーを検出可能な光検出器（ＰＤ）が配置されているものとする（図９中の網掛け丸印参照）。

図９に例示するような光分岐挿入装置１Ｂにおいても、上述した光モジュール１０，１０Ａ及び２０のうち少なくともいずれかを適切な位置に配置すれば、各光モジュール２Ｂ−１〜２Ｂ−２，３Ｂ−１〜３Ｂ−２，４Ｂ，５Ｂ，６Ｂ，８Ｂ，９Ｂ及び１０Ｂ−１〜１０Ｂ−２間の各光ファイバ接続の妥当性を容易に判定することができる。
また、各ＷＳＳにおける波長選択の設定誤りや、各ＷＳＳ自体の故障等の動作異常についても判定することができる。

〔６〕第５変形例
また、上記テスト信号に変調を施し、テスト信号のパワーレベル及び変調周波数を合わせて検出することにより、光ファイバ接続の妥当性と各光信号の方路設定とを判定することができる。即ち、受信端において、受信可能な光信号とは異なる波長の光信号が入力されている場合でも、入力光に施されている変調の変調周波数に基づいて、光ファイバの接続状態を判定することができる。

図１０は第５変形例に係る光モジュールの構成の一例を示す図である。
この図１０に示す光モジュール３０は、例示的に、１×２ＣＰＬ３１と、ＴＦ３２と、変調器３３と、１×２ＣＰＬ３４と、２×１ＳＷ３５と、ＰＤ３６とを備える。
ここで、１×２ＣＰＬ３１は、入力光を分岐し、後段の２×１ＳＷ３５とＴＦ３２とに導く。なお、入力光には、前段の光増幅器などから入力されるＡＳＥ光と、光システムの運用時に入力される主信号光とが含まれる。

ＴＦ３２は、１×２ＣＰＬ３１から入力される光信号のうち、所定の波長の光信号のみを通過させる一方、他の波長の光信号を遮断する。なお、ＴＦ３２が通過させる波長は、例えば、コントローラ７などにより制御されてもよい。
具体的には例えば、光ファイバ接続状態判定処理時において、ＴＦ３２には、図１１（Ａ）に例示するような周波数対光パワー特性を有するＡＳＥ光が入力される。このとき、ＴＦ３２は、図１１（Ｂ）に例示するように、光システムを伝搬する光信号１波分に相当するＡＳＥ光を切り出す。ＴＦ３２によって切り出された光信号は、変調器３３に出力される。

変調器３３は、ＴＦ３２によって切り出された光信号について、所定の変調周波数による変調を施す。なお、変調器３３によって施される変調についての変調周波数は、例えば、コントローラ７などにより制御されてもよい。変調器３３には、例えば、LiNbO3（リチウムナイオベート）などの強誘電体結晶が用いられてもよい。
具体的には例えば、光ファイバ接続状態判定処理時において、変調器３３には、図１１（Ｂ）に例示するような光信号が入力される。このとき、変調器３３は、図１１（Ｃ）に例示するように、所定の変調周波数を用いて、入力された光信号に変調を施すことにより光ファイバ接続状態判定用のテスト信号を生成する。変調器３３によって生成されたテスト信号は、１×２ＣＰＬ３４に出力される。

１×２ＣＰＬ３４は、ＴＦ３２及び変調器３３によって生成された上記テスト信号を分岐し、２×１ＳＷ３５とＰＤ３６とに導く。
２×１ＳＷ３５は、１×２ＣＰＬ３１から入力される光信号と１×２ＣＰＬ３４から入力される光信号とのうちいずれか一方を選択して出力する。２×１ＳＷ３５は、例えば、光分岐挿入装置１の起動時や新設チャネルの立ち上げ時などの光ファイバ接続状態判定時においては、１×２ＣＰＬ３４から入力される光信号（即ち、上記テスト信号）を選択する一方、光システム，光分岐挿入装置１の実運用時などにおいては、１×２ＣＰＬ３１から入力される光信号（即ち、主信号光）を選択する。なお、２×１ＳＷ３５の選択動作は、例えば、コントローラ７などにより制御されてもよい。

また、ＰＤ３６は、１×２ＣＰＬ３４によって分岐入力された、上記テスト信号の光パワー及び変調周波数を検出する。当該検出結果は、例えば、コントローラ７などに通知され、光分岐挿入装置１内の光増幅器に対する増幅利得制御や、ＴＦ３２の通過帯域制御や、変調器３３の変調周波数制御などに用いられる。即ち、上記テスト信号の光パワー及び変調周波数は、それぞれ、所望の値に制御され得る。

上記構成を有する光モジュール３０によって生成した上記テスト信号を、各光モジュール２〜６の光ファイバ接続端に備えられた光検出器（ＰＤ）で検出し、当該検出結果に基づいて、各光ファイバ接続が妥当であるか否かを判定することができる。
具体的には例えば、コントローラ７が、上記テスト信号の変調周波数の検出結果が所定の変調周波数と一致し、且つ、テスト信号の光パワーの検出結果が所定の閾値以上である場合は、光ファイバが正しく接続されていると判定する一方、テスト信号の変調周波数の検出結果が所定の変調周波数と一致しない、または、テスト信号の光パワーの検出結果が所定の閾値よりも小さい場合は、光ファイバが誤接続されていると判定することができる。

また、例えば、図２に例示した光分岐挿入装置１において、光モジュール２−１内の光増幅器と光モジュール３−１内の１×ｎＳＰＬとの間に光モジュール３０を配置するとともに、光モジュール２−２内の光増幅器と光モジュール３−２内の１×ｎＳＰＬとの間に光モジュール３０を配置した場合であっても、各変調器３３での変調周波数をそれぞれ異なる値に設定すれば、各ＰＤにおいて各テスト信号がいずれの光モジュール３０から送信されたかを識別することができるので、各光信号の方路設定の妥当性についても容易に判定することが可能である。

また、本例では、図１２に例示するような光モジュール３０Ａを用いてもよい。
光モジュール３０Ａは、１×２ＣＰＬ３１の代わりに、１×２ＳＷ３７を備えている。なお、図１２において図１０と同一の符号を付した構成要素については、図１０に示す構成要素と同様の機能を有するため、その説明を省略する。
１×２ＳＷ３７は、入力ポートから入力される光信号を、いずれかの出力ポートから選択的に出力する。１×２ＳＷ３７は、例えば、光分岐挿入装置１の起動時や新設チャネルの立ち上げ時などの光ファイバ接続状態判定時においては、入力光をＴＦ３２の方路へ出力する一方、光システム，光分岐挿入装置１の実運用時などにおいては、入力光を２×１ＳＷ３５の方路へ出力する。なお、１×２ＳＷ３７の選択動作は、例えば、コントローラ７などにより制御されてもよい。

光モジュール３０Ａを用いることにより、上記と同様の効果が得られるほか、主信号光の損失を低減することができる。
さらに、本例では、図１３に例示するような光モジュール４０を用いてもよい。
この図１３に示す光モジュール４０は、例示的に、ＡＳＥ光源４１と、ＴＦ４２と、変調器４３と、１×２ＣＰＬ４４と、２×１ＳＷ４５と、ＰＤ４６とを備える。

ＡＳＥ光源４１は、図１１（Ａ）に例示したようなＡＳＥ光を出力する。
ＴＦ４２は、ＡＳＥ光源４１から入力されるＡＳＥ光のうち、所定の波長の光信号のみを通過させる一方、他の波長の光信号を遮断する。なお、ＴＦ４２が通過させる波長は、例えば、コントローラ７などにより制御されてもよい。
具体的には例えば、光ファイバ接続状態判定処理時において、ＴＦ４２には、図１１（Ａ）に例示するような周波数対光パワー特性を有するＡＳＥ光が入力される。このとき、ＴＦ４２は、図１１（Ｂ）に例示するように、光システムを伝搬する光信号１波分に相当するＡＳＥ光を切り出す。ＴＦ４２によって切り出された光信号は、変調器４３に出力される。

変調器４３は、ＴＦ４２によって切り出された光信号について、所定の変調周波数による変調を施す。なお、変調器４３によって施される変調についての変調周波数は、例えば、コントローラ７などにより制御されてもよい。変調器４３には、例えば、LiNbO3（リチウムナイオベート）などの強誘電体結晶が用いられてもよい。
具体的には例えば、光ファイバ接続状態判定処理時において、変調器４３には、図１１（Ｂ）に例示するような光信号が入力される。このとき、変調器４３は、図１１（Ｃ）に例示するように、所定の変調周波数を用いて、入力された光信号に変調を施すことにより光ファイバ接続状態判定用のテスト信号を生成する。変調器４３によって生成されたテスト信号は、１×２ＣＰＬ４４に出力される。

１×２ＣＰＬ４４は、ＴＦ４２及び変調器４３によって生成された上記テスト信号を分岐し、２×１ＳＷ４５とＰＤ４６とに導く。
２×１ＳＷ４５は、外部から入力される光信号と１×２ＣＰＬ４４から入力される光信号とのうちいずれか一方を選択して出力する。２×１ＳＷ４５は、例えば、光分岐挿入装置１の起動時や新設チャネルの立ち上げ時などの光ファイバ接続状態判定時においては、１×２ＣＰＬ４４から入力される光信号（即ち、上記テスト信号）を選択する一方、光システム，光分岐挿入装置１の実運用時などにおいては、外部から入力される光信号（即ち、主信号光）を選択する。なお、２×１ＳＷ４５の選択動作は、例えば、コントローラ７などにより制御されてもよい。

また、ＰＤ４６は、１×２ＣＰＬ４４によって分岐入力された、上記テスト信号の光パワー及び変調周波数を検出する。当該検出結果は、例えば、コントローラ７などに通知され、光分岐挿入装置１内の光増幅器に対する増幅利得制御や、ＴＦ４２の通過帯域制御や、変調器４３の変調周波数制御などに用いられる。即ち、上記テスト信号の光パワー及び変調周波数は、それぞれ、所望の値に制御され得る。

以上のように構成された光モジュール４０を、例えば、光モジュール６−２内のＴＰの前段に配置すれば、光モジュール６−２，５−２，４及び３−１（あるいは３−２）間のアド方向における各光ファイバ接続の妥当性についても同様に判定することができる。
また、例えば、図２に例示した光分岐挿入装置１において、各光モジュール６−２内のＴＰの前段に光モジュール４０をそれぞれ配置した場合であっても、各変調器４３での変調周波数をそれぞれ異なる値に設定すれば、各ＰＤにおいて各テスト信号がいずれの光モジュール４０から送信されたかを識別することができるので、各光信号の方路設定の妥当性についても容易に判定することが可能である。

〔７〕第６変形例
また、各光モジュール１０，１０Ａ，２０，３０，３０Ａ及び４０内のＴＦ１２，２２，３２及び４２は、ＡＳＥ光から切り出すテスト信号の帯域幅を任意に変更することが可能である。この特性を利用し、例えば、４００Ｇｂｐｓ、１Ｔｂｐｓなどの高速、広帯域の光信号に相当する擬似信号（テスト信号）を生成することができる。

本例では、上記テスト信号を用いることにより、実信号入力前に、各光デバイス（光モジュール）の動作状態などの妥当性を容易に判定してもよい。
例えば、図９に例示した光分岐挿入装置１Ｂにおいて、光モジュール１０を、光モジュール２Ｂ−１内の光増幅器のうち、ＷＥＳＴ方路から入力される光信号を増幅する光増幅器と光モジュール３Ｂ−１内のＷＳＳとの間に配置する。

そして、光モジュール１０が、図１４（Ａ）に例示するようなＡＳＥ光から、図１４（Ｂ）に例示するような、４００Ｇｂｐｓ、１Ｔｂｐｓなどの高速、広帯域の光信号に相当する擬似信号（テスト信号）を切り出すことにより生成する。
次に、各光モジュール４Ｂ，６Ｂ，９Ｂ及び１０Ｂ−１内の各ＰＤが、上記光モジュール１０で生成された上記テスト信号の光パワーを検出する。

ここで、光モジュール４Ｂ，６Ｂ，９Ｂ及び１０Ｂ−１のいずれかにおいて、波長帯域に関する設定誤りがあれば、各ＰＤに入力されるテスト信号は、図１４（Ｃ）に例示するような波形を有していることとなる。
このため、各ＰＤにおいて検出される光パワーが所望のレベルよりも低い場合、各光モジュール４Ｂ，６Ｂ，９Ｂ及び１０Ｂ−１間を接続する光ファイバに誤接続があるか、あるいは、各光モジュール４Ｂ，６Ｂ，９Ｂ及び１０Ｂ−１における波長帯域に関する設定誤りがあると判定することができる。

なお、上述した実施形態及び各変形例に係る光ファイバ接続状態判定方法を用いて、各光モジュール４Ｂ，６Ｂ，９Ｂ及び１０Ｂ−１間を接続する光ファイバ接続の妥当性を保証した上で、本例に係る方法を用いれば、各ＰＤにおいて検出される光パワーが所望のレベルよりも低い場合、各光モジュール４Ｂ，６Ｂ，９Ｂ及び１０Ｂ−１における波長帯域に関する設定誤りがあることを容易に判定することができる。

〔８〕その他
なお、上述した実施形態における光モジュール１０，１０Ａ，２０，３０，３０Ａ及び４０、並びに、光分岐挿入装置１，１Ａ及び１Ｂなどの各構成及び各機能は、必要に応じて取捨選択してもよいし、適宜組み合わせて用いてもよい。即ち、本発明の機能を発揮できるように、上記の各構成及び各機能を取捨選択したり、適宜組み合わせて用いたりしてもよい。

例えば、上述した例では、光モジュール１０，１０Ａ，２０，３０，３０Ａ及び４０を光モジュール２−１と光モジュール３−１との間などに介在させたままシステム運用を可能としたが、図１５に例示するような構成を有する光モジュール１０´を、光ファイバ接続状態判定処理時にのみ光モジュール２−１と光モジュール３−１との間などに介在させてもよい。このような場合、図１５に例示するように、光モジュール１０´は、少なくとも入力されたＡＳＥ光の一部を切り出すことにより、複数の受信端のうち一の受信端で受信可能な光信号の波長に対応する波長を有するテスト信号を生成するＴＦ１２と、ＴＦ１２によって生成されたテスト信号を出力する出力ポート５０とをそなえていればよい。

また、上述した各例では、コントローラ７，７Ａ及び７Ｂのいずれかが、各ＰＤでの検出結果に基づき、光ファイバの接続状態を判定する処理部の一例として機能したが、光モジュール１０，１０Ａ，２０，３０，３０Ａ及び４０が同様の処理部を別途有していてもよい。

１，１Ａ，１Ｂ 光分岐挿入装置
２−１，２−２，２Ａ−１〜２Ａ−６，２Ｂ−１，２Ｂ−２ 光モジュール
３−１，３−２，３Ａ−１，３Ａ−２，３Ｂ−１，３Ｂ−２ 光モジュール
４，４Ａ，４Ｂ 光モジュール
５−１，５−２，５Ａ，５Ｂ 光モジュール
６−１，６−２，６Ａ−１，６Ａ−２，６Ｂ 光モジュール
７，７Ａ，７Ｂ コントローラ
８Ｂ 光モジュール
９Ｂ 光モジュール
１０，１０Ａ 光モジュール
１０Ｂ−１，１０Ｂ−２ 光モジュール
１０´ 光モジュール
１１ １×２ＣＰＬ
１２ ＴＦ
１３ １×２ＣＰＬ
１４ ２×１ＳＷ
１５ ＰＤ
１６ １×２ＳＷ
２０ 光モジュール
２１ ＡＳＥ光源
２２ ＴＦ
２３ １×２ＣＰＬ
２４ ２×１ＳＷ
２５ ＰＤ
３０，３０Ａ 光モジュール
３１ １×２ＣＰＬ
３２ ＴＦ
３３ 変調器
３４ １×２ＣＰＬ
３５ ２×１ＳＷ
３６ ＰＤ
３７ １×２ＳＷ
４０ 光モジュール
４１ ＡＳＥ光源
４２ ＴＦ
４３ 変調器
４４ １×２ＣＰＬ
４５ ２×１ＳＷ
４６ ＰＤ
５０ 出力ポート

Claims (10)

1. 送信端と複数の受信端との間を接続する光ファイバの接続状態を判定する方法であって、
   増幅された自然放出光の一部を切り出すことにより、前記複数の受信端のうち一の受信端で受信可能な光信号の波長に対応する波長を有するテスト信号を生成し、
   生成した前記テスト信号を前記光ファイバに伝送させ、
   前記一の受信端において前記テスト信号の光パワーを検出し、
   前記テスト信号の光パワーの検出結果に基づき、前記光ファイバの接続状態を判定する、
   ことを特徴とする、光ファイバ接続状態判定方法。
2. 前記テスト信号の光パワーの検出結果が所定の閾値よりも小さい場合は、前記光ファイバが誤接続されていると判定する一方、
   前記テスト信号の光パワーの検出結果が前記所定の閾値以上である場合は、前記光ファイバが正しく接続されていると判定する、
   ことを特徴とする、請求項１記載の光ファイバ接続状態判定方法。
3. 前記テスト信号を前記光ファイバに伝送させる前に所定の変調周波数で変調し、
   前記複数の受信端のうち前記光ファイバが接続されている受信端において前記テスト信号の光パワー及び変調周波数を検出し、
   前記テスト信号の光パワー及び変調周波数の検出結果に基づき、前記光ファイバの接続状態を判定する、
   ことを特徴とする、請求項１記載の光ファイバ接続状態判定方法。
4. 前記テスト信号の変調周波数の検出結果が前記所定の変調周波数と一致し、且つ、前記テスト信号の光パワーの検出結果が前記所定の閾値以上である場合は、前記光ファイバが正しく接続されていると判定する一方、
   前記テスト信号の変調周波数の検出結果が前記所定の変調周波数と一致しない、または、前記テスト信号の光パワーの検出結果が前記所定の閾値よりも小さい場合は、前記光ファイバが誤接続されていると判定する、
   ことを特徴とする、請求項３記載の光ファイバ接続状態判定方法。
5. 送信端と複数の受信端との間を接続する光ファイバの接続状態を判定するための光モジュールであって、
   増幅された自然放出光の一部を切り出すことにより、前記複数の受信端のうち一の受信端で受信可能な光信号の波長に対応する波長を有するテスト信号を生成する波長可変フィルタと、
   該波長可変フィルタによって生成された前記テスト信号を出力する光出力部と、をそなえた、
   ことを特徴とする、光ファイバ接続状態判定用光モジュール。
6. 前記波長可変フィルタに前記自然放出光を供給する光源をさらにそなえた、
   ことを特徴とする、請求項５記載の光ファイバ接続状態判定用光モジュール。
7. 前記波長可変フィルタと前記光出力部との間に、所定の変調周波数で前記テスト信号を変調する変調器をさらにそなえた、
   ことを特徴とする、請求項５または６に記載の光ファイバ接続状態判定用光モジュール。
8. 複数の光モジュールと、
   前記複数の光モジュール間を接続する光ファイバと、
   請求項５〜７のいずれか１項に記載の光ファイバ接続状態判定用光モジュールと、
   前記一の受信端において、前記光ファイバ接続状態判定用光モジュールから出力された前記テスト信号の光パワーを検出する光検出器と、
   前記光検出器での検出結果に基づき、前記光ファイバの接続状態を判定する処理部と、をそなえた、
   ことを特徴とする、光伝送装置。
9. 前記処理部は、
   前記テスト信号の光パワーの検出結果が所定の閾値よりも小さい場合は、前記光ファイバが誤接続されていると判定する一方、
   前記テスト信号の光パワーの検出結果が前記所定の閾値以上である場合は、前記光ファイバが正しく接続されていると判定する、
   ことを特徴とする、請求項８記載の光伝送装置。
10. 前記処理部は、
    前記複数の受信端のうち前記光ファイバが接続されている受信端において前記テスト信号の光パワー及び変調周波数を検出し、
    前記テスト信号の光パワー及び変調周波数の検出結果に基づき、前記光ファイバの接続状態を判定する、
    ことを特徴とする、請求項８記載の光伝送装置。

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