JPWO2013094021A1 - 電気加熱式触媒の故障検出装置 - Google Patents

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Abstract

本発明は、EHCの絶縁故障を検出することを目的とする。本発明では、EHCの発熱体が絶縁部材によって電気的に絶縁されている。そして、絶縁部材の吸水量が所定吸水量より少なく且つ絶縁部材におけるPM堆積量が所定PM堆積量より少ない時の絶縁部材の絶縁抵抗値、絶縁部材の吸水量が所定吸水量以上の量から所定吸水量より少ない量に減少したときの絶縁部材の絶縁抵抗値の変化、及び、絶縁部材におけるPM堆積量が所定PM堆積量以上の量から所定PM堆積量より少ない量に減少したときの絶縁部材の絶縁抵抗値の変化に基づいて、絶縁故障が発生したか否かを判定する。

Description

本発明は、電気加熱式触媒の故障検出装置に関する。
従来、内燃機関の排気通路に設けられる排気浄化触媒として、通電されることで発熱する発熱体によって触媒が加熱される電気加熱式触媒(Electrically Heated Catalyst:以下、EHCと称する場合もある)が開発されている。
特許文献1には、電気的絶縁性を有すると共に触媒担体を保持する担体保持部を有する電気加熱式触媒において、担体保持部の絶縁抵抗が所定抵抗値以下に低下していると判定された場合に通電を禁止する技術が開示されている。また、特許文献1には、担体保持部の温度が所定温度以上である場合、担体保持部が吸水している水分量が所定量以上である場合、又は、担体保持部に堆積しているカーボン量が所定量以上である場合に、担体保持部の絶縁抵抗が所定抵抗値以下に低下していると判定する技術も開示されている。
特許文献2には、排気通路に設けられた、凝縮水が付着し易い第1の温度センサと、凝縮水が付着しない第2の温度センサと、のそれぞれによって検知される温度を比較することで、排気中に凝縮水が存在するか否かを判定する技術が開示されている。
特許文献3には、排気通路に設けられた酸化触媒を加熱したときの該酸化触媒の温度上昇度合いに基づいて粒子状物質の堆積量を算出する技術が開示されている。
特許文献4には、内燃機関の始動直後に排気通路において発生した凝縮水がPMセンサのセンサ電極部に付着することによって生じる該センサ電極部の静電容量の変化に基づいて、PMセンサの故障を判定する技術が開示されている。
特許文献5には、パティキュレートフィルタより下流側の排気通路に電気絶縁材を設け、さらに該電気絶縁材に相互に離間して複数の電極を設け、該複数の電極間の電気抵抗値に相関する指標が所定基準より小さいときにパティキュレートフィルタが故障していると判定する技術が開示されている。
国際公開第2011/114451号 特開2010−127268号公報 特開2007−304068号公報 特開2010−275917号公報 特開2009−144577号公報
EHCにおいては、通電されることで発熱する発熱体を電気的に絶縁するために絶縁部材が設けられている。しかしながら、このような構成であっても、EHCにおいては、発熱体を電気的に絶縁する絶縁機能が許容範囲を超えて低下する絶縁故障が発生する場合がある。
本発明は、上記のような問題に鑑みてなされたものであって、EHCの絶縁故障を検出することを目的とする。
本発明に係る電気加熱式触媒の故障検出装置は、
内燃機関の排気通路に設けられ、
通電により発熱し、発熱することで触媒を加熱する発熱体と、
前記発熱体を電気的に絶縁する絶縁部材と、
を有する電気加熱式触媒の故障を検出する故障検出装置であって、
前記絶縁部材の吸水量が所定吸水量より少なく且つ前記絶縁部材における粒子状物質の堆積量が所定PM堆積量より少ない時の前記絶縁部材の絶縁抵抗値、前記絶縁部材の吸水量が前記所定吸水量以上の量から前記所定吸水量より少ない量に減少したときの前記絶縁部材の絶縁抵抗値の変化、及び、前記絶縁部材における粒子状物質の堆積量が前記所定PM堆積量以上の量から前記所定PM堆積量より少ない量に減少したときの前記絶縁部材の絶縁抵抗値の変化に基づいて、前記絶縁部材に吸水されている凝縮水又は前記絶縁部材に堆積している粒子状物質に起因する前記絶縁部材の絶縁抵抗値の低下と区別して、絶縁故障が発生したか否かを判定する判定部を備える。
排気通路において発生する凝縮水が絶縁部材に吸水されると、絶縁部材の吸水量が増加する。ただし、EHCの温度が上昇することで凝縮水が蒸発すれば、その量は減少する。また、排気に含まれる粒子状物質が絶縁部材に付着すると、絶縁部材における粒子状物質の堆積量が増加する。ただし、絶縁部材に堆積している粒子状物質を酸化させて除去するPM除去処理が実行されることで該粒子状物質が除去されれば、その量は減少する。
EHCにおいては、絶縁故障が生じていなくても、絶縁部材の吸水量又は絶縁部材における粒子状物質の堆積量が増加すると、絶縁部材の絶縁抵抗値は低下する。しかしながら、絶縁部材に吸水されている凝縮水に起因して絶縁部材の絶縁抵抗値が低下している場合は、吸水量が減少すれば、絶縁部材の絶縁抵抗値は回復する。また、絶縁部材に堆積している粒子状物質に起因して絶縁部材の絶縁抵抗値が低下している場合は、粒子状物質の堆積量が減少すれば、絶縁部材の絶縁抵抗値は回復する。一方、絶縁故障が発生することによって絶縁部材の絶縁抵抗値が低下した場合、その値は回復しない。
ここで、所定吸水量及び所定PM堆積量は、絶縁故障が生じておらず、絶縁部材の吸水量が該所定吸水量より少なく且つ絶縁部材における粒子状物質の堆積量が該所定PM堆積量より少なければ、絶縁部材の絶縁抵抗値は正常値となる値である。
本発明によれば、凝縮水又は粒子状物質に起因する絶縁部材の絶縁抵抗値の低下と区別して、EHCの絶縁故障を検出することができる。
本発明において、判定部は、絶縁部材の吸水量が所定吸水量より少なく且つ絶縁部材における粒子状物質の堆積量が所定PM堆積量より少ない時に絶縁部材の絶縁抵抗値が所定抵抗値以下である場合は、絶縁故障が発生したと判定してもよい。ここで、所定抵抗値は、EHCの絶縁故障が生じた場合の絶縁部材の絶縁抵抗値、即ち、許容可能な絶縁抵抗値の下限値よりも低い値である。
さらに、絶縁部材の吸水量が所定吸水量以上である時は絶縁部材の絶縁抵抗値が所定抵抗値以下であるが、絶縁部材の吸水量が所定吸水量より減少すると絶縁部材の絶縁抵抗値が所定抵抗値より上昇する場合は、絶縁部材の絶縁抵抗値の低下の原因は絶縁部材に吸水された凝縮水であると判断できる。そのため、このような場合、判定部は、絶縁故障は発生していないと判定してもよい。
また、絶縁部材における粒子状物質の堆積量が所定PM堆積量以上である時は絶縁部材の絶縁抵抗値が所定抵抗値以下であるが、絶縁部材における粒子状物質の堆積量が前記所定PM堆積量より減少すると絶縁部材の絶縁抵抗値が所定抵抗値より上昇する場合は、絶縁部材の絶縁抵抗値の低下の原因は絶縁部材に堆積している粒子状物質であると判断できる。そのため、このような場合、判定部は、絶縁故障は発生していないと判定してもよい。
また、絶縁部材の吸水量が所定吸水量以上の時は、絶縁部材の絶縁抵抗値が正常値より低くても、その原因が絶縁部材に吸水された凝縮水なのか絶縁故障なのかを区別することは困難である。また、絶縁部材における粒子状物質の堆積量が所定PM堆積量以上の時は、絶縁部材の絶縁抵抗値が正常値より低くても、その原因が絶縁部材に堆積している粒子状物質なのか絶縁故障なのかを区別することは困難である。
そこで、本発明において、判定部は、絶縁部材の吸水量が所定吸水量以上の時に絶縁部材の絶縁抵抗値が所定抵抗値以下である場合は、絶縁部材の吸水量が所定吸水量より減少するまで、絶縁故障が発生したか否かの判定を保留してもよい。また、判定部は、絶縁部材における粒子状物質の堆積量が所定PM堆積量以上の時に絶縁部材の絶縁抵抗値が所定抵抗値以下である場合は、絶縁部材における粒子状物質の堆積量が所定PM堆積量より減少するまで、絶縁故障が発生したか否かの判定を保留してもよい。
また、EHCの温度が上昇すると絶縁部材の温度も上昇する。そして、絶縁部材の温度が上昇すると、正常時であっても、絶縁部材の絶縁抵抗値は低下する。
そこで、本発明に係る電気加熱式触媒の故障検出装置は、EHCの温度が高いときは、その温度が低いときに比べて、所定抵抗値を小さい値に設定する設定部をさらに備えてもよい。これによれば、EHCの絶縁故障をより高い精度で検出することができる。
ここで、内燃機関が冷間始動した場合、即ち、絶縁部材を含むEHC全体の温度が低い状態で内燃機関が始動した場合、EHCの温度は時間の経過とともに上昇する。しかしながら、絶縁部材は、ある程度の熱容量を有するため、その温度上昇が遅れる。そのため、内燃機関が冷間始動してから、ある程度の期間が経過するまでの間は、絶縁部材の温度は低いままに維持される。そのため、その期間は、絶縁部材の絶縁抵抗値は低下せずに維持される。
そこで、設定部は、内燃機関が冷間始動してから所定期間が経過するまでの間は、EHCの温度が上昇しても、所定抵抗値を一定の値に維持してもよい。ここで、所定期間は、絶縁部材の温度が低いままに維持される期間である。
また、内燃機関の機関負荷が変化すれば、排気の温度が変化するため、EHCの温度も変化する。その結果、絶縁部材の温度も変化するため、EHCが正常であれば、絶縁部材の絶縁抵抗値が変化する。しかしながら、絶縁故障が発生していると、絶縁部材の温度が変化しても、絶縁部材の絶縁抵抗値はそれに応じて変化しない。
そこで、本発明において、判定部は、絶縁部材の吸水量が所定吸水量より少なく且つ前記絶縁部材における粒子状物質の堆積量が所定PM堆積量より少ない時の絶縁部材の絶縁抵抗値が内燃機関の機関負荷の変化に応じて変化する場合は、絶縁故障は発生していないと判定し、該絶縁抵抗値が内燃機関の機関負荷の変化に応じて変化しない場合は、絶縁故障が発生したと判定してもよい。
本発明によれば、EHCの絶縁故障を検出することができる。
実施例1に係る内燃機関の吸排気系及びEHCの概略構成を示す図である。 実施例1に係る触媒担体に対する電極の配置を示す図である。 実施例1に係る測定装置の概略構成を示す図である。 実施例1に係る、機関回転速度Ne、EHCの温度Tehc、マットの吸水量cwater、マットの端面及び内管の突出部におけるPM堆積量cpm、及び絶縁抵抗値Rehcの推移の第一の例を示すタイムチャートである。 実施例1に係る、機関回転速度Ne、EHCの温度Tehc、マットの吸水量cwater、マットの端面及び内管の突出部におけるPM堆積量cpm、及び絶縁抵抗値Rehcの推移の第二の例を示すタイムチャートである。 実施例1に係る、マットの吸水量の算出フローを示すフローチャートである。 実施例1に係る、排気温度Tg及び混合気の空燃比A/Fと、排気管における凝縮水の発生量kwater1との関係を示す図である。 実施例1に係る、EHCの温度Tehcと、マットからの凝縮水の蒸発量kwater2との関係を示す図である。 実施例1に係る、マットの端面及び内管の突出部におけるPM堆積量の算出フローを示すフローチャートである。 実施例1に係る、冷却水温Tw及び混合気の空燃比A/Fと、内燃機関からのPMの排出量kpm1との関係を示す図である。 実施例1に係る、PMを酸化するための酸素が十分に存在している状態下での、EHCの温度Tehcと、マットの端面又は内管の突出部に堆積したPMの酸化量kpm2との関係を示す図である。 実施例1に係る絶縁故障の検出フローの一部を示すフローチャートである。 実施例1に係る絶縁故障の検出フローの他の一部を示すフローチャートである。 実施例1に係る絶縁故障の検出フローの他の一部を示すフローチャートである。 実施例1の第一の変形例に係る所定抵抗値の設定フローを示すフローチャートである。 実施例1の変形例に係るEHCの温度Tehcと所定抵抗値Rehc0との関係を示す図である。 実施例1の第二の変形例に係る所定抵抗値の設定フローを示すフローチャートである。 実施例2に係る絶縁故障の検出フローを示すフローチャートである。
以下、本発明の具体的な実施形態について図面に基づいて説明する。本実施例に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置等は、特に記載がない限りは発明の技術的範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。
<実施例1>
[内燃機関の吸排気系及びEHCの概略構成]
図1は、本実施例に係る内燃機関の吸排気系及びEHCの概略構成を示す図である。
本実施例に係るEHC1は、内燃機関10の排気管2に設けられている。内燃機関10は、車両駆動用のガソリンエンジンである。ただし、本発明に係る内燃機関はガソリンエンジンに限られるものではなく、ディーゼルエンジン等であってもよい。内燃機関10には、冷却水の温度を検出する水温センサ22が設けられている。内燃機関10の吸気管11には、エアフローメータ12及びスロットル弁14が設けられている。
排気管2におけるEHC1より上流側には第1温度センサ23が設けられている。排気管2におけるEHC1より下流側には第2温度センサ24が設けられている。第1及び第2温度センサ23,24は、排気の温度を検出するセンサである。尚、図1における矢印は、排気管2における排気の流れ方向を示している。
EHC1は、触媒担体3、ケース4、マット5、内管6、及び電極7を備えている。触媒担体3は、円柱状に形成されており、その中心軸が排気管2の中心軸Aと同軸となるように設置されている。触媒担体3には三元触媒13が担持されている。尚、触媒担体3に担持される触媒は、三元触媒に限られるものではなく、酸化触媒、吸蔵還元型NOx触媒、又は選択還元型NOx触媒であってもよい。
触媒担体3は、通電されると電気抵抗となって発熱する材料によって形成されている。触媒担体3の材料としては、SiCを例示することができる。触媒担体3は、排気の流れる方向(すなわち、中心軸Aの方向)に伸び且つ排気の流れる方向と垂直な断面がハニカム状をなす複数の通路を有している。この通路を排気が流通する。尚、中心軸Aと直交する方向の触媒担体3の断面形状は楕円形等であっても良い。中心軸Aは、排気管2、触媒担体3、内管6、及びケース4で共通の中心軸である。
触媒担体3はケース4に収容されている。ケース4内には電極室9が形成されている。尚、電極室9の詳細については後述する。触媒担体3には、該電極室9を通して左右方向から一対の電極7が接続されている。電極7にはバッテリから供給電力制御部25を介して電気が供給される。電極7に電気が供給されると、触媒担体3に通電される。通電によって触媒担体3が発熱すると、触媒担体3に担持された三元触媒13が加熱され、その活性化が促進される。
ケース4は、金属によって形成されている。ケース4を形成する材料としては、ステンレス鋼材を例示することができる。ケース4は、中心軸Aと平行な曲面を含んで構成される収容部4aと、該収容部4aよりも上流側及び下流側で該収容部4aと排気管2とを接続するテーパ部4b,4cと、を有している。収容部4aの通路断面積は排気管2の通路断面積よりも大きくなっており、その内側に、触媒担体3、マット5、及び内管6が収容されている。テーパ部4b,4cは、収容部4aから離れるに従って通路断面積が縮小するテーパ形状をしている。
ケース4の収容部4aの内壁面と触媒担体3の外周面との間にはマット5が挟み込まれている。つまり、ケース4内において、触媒担体3がマット5によって支持されている。また、マット5には内管6が挟み込まれている。内管6は、中心軸Aを中心とした管状の部材である。マット5が、内管6を挟み込むことで、該内管6によってケース4側と触媒担体3側とに分割されている。
マット5は、電気絶縁材によって形成されている。マット5を形成する材料としては、アルミナを主成分とするセラミックファイバーを例示することができる。マット5は、触媒担体3の外周面及び内管6の外周面に巻きつけられている。マット5が、触媒担体3とケース4との間に挟み込まれていることで、触媒担体3に通電したときに、ケース4へ電気が流れることが抑制される。
内管6はステンレス鋼材によって形成されている。また、内管6の表面全体には電気絶縁層が形成されている。電気絶縁層を形成する材料としては、セラミック又はガラスを例示することができる。内管6の表面全体に電気絶縁層が形成されていることで、内管6は絶縁部材として機能する。尚、内管6の本体をアルミナ等の電気絶縁材によって形成してもよい。また、図1に示すように、内管6は、中心軸A方向の長さがマット5より長い。そのため、内管6の上流側及び下流側の端部は、マット5の上流側及び下流側の端面から突出している。以下、内管6におけるマット5の上流側又は下流側の端面から突出している部分を突出部と称する。
触媒担体3の外周面には一対の電極7が接続されている。図2は、触媒担体3に対する電極7の配置を示す図である。図2は、触媒担体3及び電極7を軸方向と垂直に交わる方向で切断した場合の断面図である。電極7は、表面電極7a及び軸電極7bによって形成されている。表面電極7aは、触媒担体3の外周面に沿って周方向及び軸方向に延びている。また、表面電極7aは、触媒担体3の外周面に該触媒担体3を挟んで互いに対向するように設けられている。軸電極7bの一端は表面電極7aに接続されている。そして、電極室9を通って軸電極7bの他端がケース4の外側に突出している。
ケース4、マット5、及び内管6には、軸電極7bを通すために、貫通孔4d,5a,6cが開けられている。そして、ケース4内において、マット5の貫通孔5aの周面によって囲まれる空間によって、電極室9が形成されている。尚、マット5を上流側部分と下流側部分とに分割し、互いに間隔を空けてそれらを配置することで、触媒担体3の外周面全周にわたって電極室9を形成してもよい。
ケース4に開けられている貫通孔4dには、軸電極7bを支持する電極支持部材8が設けられている。この電極支持部材8は電気絶縁材によって形成されており、ケース4と電極7との間に隙間なく設けられている。
軸電極7bの他端は、供給電力制御部25を介してバッテリ(図示せず)に電気的に接続されている。電極7には該バッテリから電気が供給される。電極7に電気が供給されると、触媒担体3に通電される。通電によって触媒担体3が発熱すると、触媒担体3に担持された三元触媒13が加熱され、その活性化が促進される。供給電力制御部25は、電極7への電気の供給(即ち、EHC1への通電)のON/OFFの切り換えや供給電力の調整を行う。
また、EHC1には、マット5及び内管6の絶縁抵抗値を測定する測定装置21が設けられている。尚、以下においては、マット5及び内管6を総じて絶縁部材30と称する。
図3は、測定装置21の概略構成を示す図である。測定装置21は、基準電源211、基準抵抗212、電圧計213、及び抵抗値算出回路214を備えている。図3に示すように、基準抵抗212と絶縁部材30とは直列に接続されている。そして、基準電源211は、バッテリから供給される電圧を増幅させた基準電圧を、基準抵抗212及び絶縁部材30に印加する。電圧計213は、基準電源211から基準抵抗212及び絶縁部材30に基準電圧が印加された時の、基準抵抗212と絶縁部材30との間における電圧を計測する。抵抗値算出回路214は、電圧計213によって計測される電圧に基づいて、絶縁部材30の絶縁抵抗値を算出する。
尚、基準電圧をVrefとし、基準抵抗212の抵抗値(基準抵抗値)をRefとし、基準抵抗212及び絶縁部材30に流れる電流をIdとし、電圧計213によって計測される電圧をVehcとすると、絶縁部材30の絶縁抵抗値Rehcは下記式(1)及び(2)によって表される。抵抗値算出回路214は、これらの式(1)及び(2)を用いて、絶縁部材30の絶縁抵抗値を算出する。
Id=(Vref−Vehc)/Rref・・・(1)
Rehc=Vehc/Id
=Vehc/(Vref−Vehc)*Rref・・・(2)
供給電力制御部25は、内燃機関10に併設された電子制御ユニット(ECU)20に電気的に接続されている。また、ECU20には、スロットル弁14及び内燃機関10の燃料噴射弁(図示せず)も電気的に接続されている。ECU20によって、これらの装置が制御される。
また、ECU20には、エアフローメータ12、水温センサ22、第1温度センサ23、第2温度センサ24、及び測定装置21が電気的に接続されている。そして、各センサの出力値及び測定装置21の測定値がECU20に入力される。
尚、本実施例においては、触媒担体3が本発明に係る発熱体に相当する。ただし、本発明に係る発熱体は触媒を担持する担体に限られるものではない。例えば、発熱体は触媒の上流側に設置された構造体であってもよい。また、本実施例においては、絶縁部材30が、本発明に係る絶縁部材に相当する。ただし、本発明に係る絶縁部材は、必ずしもマット5及び内管6によって構成されていなくてもよく、触媒担体3を電気的に絶縁できる部材であればよい。例えば、絶縁部材は、マット5のみで構成することもできる。
[絶縁故障の検出方法]
上述したように、本実施例においては、通電により発熱する触媒担体3が絶縁部材30によって電気的に絶縁されている。しかしながら、このような構成であっても、絶縁部材30の劣化等により、触媒担体3を電気的に絶縁する絶縁機能が許容範囲を超えて低下する絶縁故障が発生する場合がある。そのため、本実施例においては、測定装置21によって測定される絶縁部材30の絶縁抵抗値に基づいて絶縁故障を検出する。
ただし、絶縁故障が生じていなくとも、マット5に吸水されている凝縮水又はマット5の端面及び内管6の突出部に堆積している粒子状物質(Particulate Matter:以下、PMと称する)に起因して、絶縁部材30の絶縁抵抗値が低下する場合がある。
より詳しくは、排気管2内又はケース4内においては排気に含まれる水分が凝縮することで凝縮水が発生する場合がある。この凝縮水がケース4の内壁面を伝ってマット5に到達すると、その一部がマット5に吸水される。そして、マット5に吸水された凝縮水量が増加すると、電極室9内にも凝縮水が侵入する。その結果、ケース4と電極7及び触媒担体3とが凝縮水によって電気的に導通し、絶縁部材30の絶縁抵抗値が低下する。尚、内管6が設けられていない構成では、マット5に吸水された凝縮水自体によっても、ケース4と電極7及び触媒担体3とが電気的に導通する虞がある。
また、排気に含まれるPMの一部は、排気に晒されているマット5の端面及び内管6の突出部に付着する。PMは導電性を有している。そのため、マット5の端面及び内管6の突出部に堆積したPMが増加すると、ケース4と触媒担体3とが該PMによって電気的に導通し、絶縁部材30の絶縁抵抗値が低下する。尚、内管6が設けられていない構成でも、マット5の端面に堆積したPMによって、ケース4と触媒担体3とが電気的に導通する虞がある。
そこで、本実施例においては、このような凝縮水又はPMに起因する絶縁抵抗値の低下と区別して、絶縁故障を検出する。ここで、図4及び5に基づいて、機関回転速度Ne、EHC1の温度Tehc、マット5に吸水された凝縮水量(以下、単に吸水量と称する場合もある)cwater、マット5の端面及び内管6に堆積したPM量(以下、単にPM堆積量と称する場合もある)cpm、及び絶縁部材30の絶縁抵抗値Rehcの推移について説明する。図4は、これらの値の推移の第一の例を示すタイムチャートであり、図5は、これらの値の推移の第二の例を示すタイムチャートである。
尚、図4及び5において、EHC1の温度Tehcは、該EHC1への通電が行われていない状態での温度の推移を示している。また、絶縁部材30の絶縁抵抗値Rehcの推移を示す図において、実線は、絶縁故障が生じていない場合、即ちEHC1が正常な場合の推移を示しており、破線は、絶縁故障が生じている場合の推移を示している。
図4は、内燃機関10の始動後に短時間でその運転が停止される所謂ショートトリップが繰り返し行われた後、内燃機関10の運転が継続された場合の各値の推移を示している。図4においては、時間t2までショートトリップが繰り返し行われている。そして、時間t2以降においては、内燃機関10の始動後、その運転が継続されている。ショートトリップが繰り返し行われる期間(ショートトリップ期間)においては、内燃機関10の始動後、排気によってEHC1が十分に昇温される以前にその運転が停止される。そのため、EHC1の温度は低い温度に維持される。
ここで、排気管2内においては、排気温度が低い時、即ち内燃機関10の始動直後に凝縮水が発生し易い。また、内燃機関10の始動直後においては、気筒内の温度が低いため、該内燃機関10からPMが排出され易い。そのため、ショートトリップ期間においては、吸水量cwater及びPM堆積量cpmがいずれも時間の経過と共に増加する。
そして、時間t2以降、内燃機関10の運転が継続されることでEHC1の温度が十分に上昇すると、マット5に吸水された凝縮水は蒸発する。そのため、吸水量cwaterが時間の経過と共に減少する。また、内燃機関10からPMが排出され難くなるため、PM堆積量cpmは維持される。
このとき、絶縁部材30の絶縁抵抗値Rehcは、EHC1が正常な状態であっても、ショートトリップ期間における吸水量cwater及びPM堆積量cpmの増加に応じて低下する。そして、時間t3以降では、絶縁抵抗値Rehcが、絶縁故障が発生したと判定できる閾値である所定抵抗値Rehc0以下となる。しかしながら、その後、蒸発による吸水量cwaterの減少に応じて絶縁部材30の絶縁抵抗値Rehcは回復する(上昇する)。そして、時間t4以降では絶縁抵抗値Rehcが所定抵抗値Rehc0より高くなる。
これに対し、絶縁故障が生じることで絶縁部材30の絶縁抵抗値Rehcが所定抵抗値Rehc0以下に低下した場合、吸水量cwaterが減少しても、絶縁抵抗値Rehcは回復しない(所定抵抗値Rehc0以下に維持される)。
図5は、ショートトリップ期間の経過後における内燃機関10の運転継続中に、所謂減速フューエルカット制御(減速F/C制御)が断続的に実行され、さらに減速フューエルカット制御が断続的に実行されている時にPM除去処理が実行された場合の各値の推移を示している。図5においても、時間t2までショートトリップが繰り返し行われ、時間t2以降においては、内燃機関10の運転が継続されている。
図5では、時間t2以降において、EHC1の温度上昇に伴って凝縮水が蒸発することで吸水量cwaterが略0まで減少している。また、ショートトリップ期間中において、PM堆積量cpmが、マット5の端面及び内管6に堆積したPMを酸化させて除去するPM除去処理の実行要求の閾値cpm1以上にまで増加している。
そして、時間t3から時間t6の間、内燃機関10の運転状態が減速運転である時に燃料噴射を停止させる減速F/C制御が断続的に実行されている。ここで、マット5の端面及び内管6の突出部に堆積したPMを酸化させるためには、十分な酸素が存在する状態の下で、排気の温度(マット5の端面及び内管6の突出部の温度)をPMの酸化が可能となる温度まで上昇させる必要がある。減速F/C制御の終了直後はEHC1の周囲に酸素が十分に存在する。そのため、PM除去処理は、減速F/C制御からの復帰直後に、点火時期の遅角等によって排気温度を上昇させることで実現される。
図5においては、時間t3の時点で断続的な減速F/C制御の実行が開始されると、PM除去処理の実行も開始される。これにより、時間t3以降、マット5の端面及び内管6の突出部に堆積したPMが酸化されることで、PM堆積量cpmが時間の経過と共に減少する。そして、PM堆積量cpmが、PM除去処理の実行要求の閾値cpm1よりも小さい所定PM堆積量より減少する時間t5の時点で、PM除去処理の実行が停止される。
このとき、絶縁部材30の絶縁抵抗値Rehcは、EHC1が正常な状態であっても、吸水量cwater及びPM堆積量cpmが共に多いショートトリップ期間中及び内燃機関10の運転が継続される時間t2以降におけるPM除去処理の実行が開始される時間t3以前の期間は、所定抵抗値Rehc0よりも低い値に維持される。しかしながら、その後、PM除去処理が実行されることによるPM堆積量cpmの減少に応じて絶縁部材30の絶縁抵抗値Rehcは回復する(上昇する)。そして、時間t4以降では絶縁抵抗値Rehcが所定抵抗値Rehc0より高くなる。
これに対し、絶縁故障が生じることで絶縁部材30の絶縁抵抗値Rehcが所定抵抗値Rehc0以下に低下した場合、PM堆積量cpmが減少しても、絶縁抵抗値Rehcは回復しない(所定抵抗値Rehc0以下に維持される)。
そこで、本実施例では、吸水量が所定吸水量(図4,5におけるcwater0)より少なく且つPM堆積量が所定PM堆積量(図4,5におけるcpm0)より少ない時の絶縁部材30の絶縁抵抗値が所定抵抗値(図4,5におけるRcehc)以下である場合は、絶縁故障が発生したと判定する。ここで、所定吸水量及び所定PM堆積量は、絶縁故障が生じておらず、吸水量が該所定吸水量より少なく且つPM堆積量が該所定PM堆積量より少なければ、絶縁部材30の絶縁抵抗値は正常値(即ち所定抵抗値Rehc0より大きい値)となる値であって、実験等に基づいて予め定められた値である。
さらに、吸水量が所定吸水量以上の時に絶縁部材30の絶縁抵抗値が所定抵抗値以下である場合は、吸水量が所定吸水量より減少するまで(図4における時間t3から時間t5までの間の期間)、絶縁故障が発生したか否かの判定を保留する。そして、吸水量が所定吸水量より減少すると絶縁部材30の絶縁抵抗値が所定抵抗値より上昇した場合は、絶縁部材30の絶縁抵抗値の低下の原因はマット5に吸水された凝縮水(電極室9に侵入した凝縮水)であると判定する。つまり、この場合、絶縁故障は発生しておらず、EHC1は正常であると判定する。
また、PM堆積量が所定PM堆積量以上の時に絶縁部材30の絶縁抵抗値が所定抵抗値以下である場合は、PM堆積量が所定PM堆積量より減少するまで(図5における時間t1から時間t5までの間の期間)、絶縁故障が発生したか否かの判定を保留する。そして、PM堆積量が所定PM堆積量より減少すると絶縁部材30の絶縁抵抗値が所定抵抗値より上昇した場合は、絶縁部材30の絶縁抵抗値の低下の原因はマット5の端面及び内管6の突出部に堆積したPMであると判定する。つまり、この場合も、絶縁故障は発生しておらず、EHC1は正常であると判定する。
[吸水量の算出方法]
ここで、本実施例に係る吸水量の算出方法について図6から8に基づいて説明する。図6は、本実施例に係る吸水量の算出フローを示すフローチャートである。本フローは、ECU20に予め記憶されており、ECU20によって繰り返し実行される。図7は、排気温度Tg及び混合気の空燃比A/Fと、排気管2における凝縮水の発生量kwater1との関係を示す図である。図8は、EHC1の温度Tehcと、マット5からの凝縮水の蒸発量kwater2との関係を示す図である。
図6に示すフローにおいては、先ずステップS101において、第1温度センサ23によって検出される排気温度Tg、混合気の空燃比A/F、及びエアフローメータ12によって検出される吸入空気量Gaに基づいて排気管2における凝縮水の発生量kwater1が算出される。
図7に示すように、排気温度Tgが低いほど、また、混合気の空燃比A/Fが低いほど、凝縮水の発生量kwater1は多くなる。また、吸入空気量が多いほど、排気の流量も多くなるため、凝縮水の発生量kwater1は多くなる。このような、排気温度Tg、混合気の空燃比A/F、及び吸入空気量Gaと、排気管2における凝縮水の発生量kwater1との関係は、実験等に基づいて予め求めることができ、ECU20にマップ又は関数として記憶されている。ステップS101では、このマップ又は関数を用いて、排気管2における凝縮水の発生量kwater1が算出される。
次に、ステップS102において、EHC1の温度Tehcに基づいてマット5からの凝縮水の蒸発量kwater2が算出される。図8に示すように、EHC1の温度Tehcが100℃以上となると、凝縮水の蒸発量kwater2は急増する。このような、EHC1の温度Tehcと、マット5からの凝縮水の蒸発量kwater2との関係は、実験等に基づいて予め求めることができ、ECU20にマップ又は関数として記憶されている。ステップS102では、このマップ又は関数を用いて、マット5からの凝縮水の蒸発量kwater2が算出される。尚。EHC1の温度は、第1温度センサ23によって検出される排気温度又は第2温度センサ24によって検出される排気温度の少なくともいずれかに基づいて推定することができる。
次に、ステップS103において、下記式(1)を用いて吸水量cwaterが算出される。
cwater(i)=cwater(i−1)+kwater1*a−kwater2・・・式(1)
cwater(i):今回の吸水量
cwater(i−1):前回の本フローの実行により算出された吸水量
kwater1:ステップS101で算出された凝縮水の発生量
a:排気管2における凝縮水の発生量に対するマット5に吸水される凝縮水の量の割合を示す係数
kwater2:ステップS102で算出された凝縮水の蒸発量
次に、ステップS104において、ステップS103で算出された値cwaterがマット5における飽和吸水量Ws以下であるか否かが判定される。ステップS104において否定判定された場合、次にステップS106において、吸水量cwaterの算出値として飽和吸水量Wsが算出される。
一方、ステップS104において肯定判定された場合、次にステップS105において、ステップS103で算出された値cwaterが零以上であるか否かが判定される。ステップS105において否定判定された場合、次にステップS108において、吸水量cwaterの算出値として零が算出される。一方、ステップS105において肯定判定された場合、次にステップS107において、吸水量cwaterの算出値として、ステップS103で算出された吸水量cwaterが算出される。
[PM堆積量の算出方法]
次に、本実施例に係るPM堆積量の算出方法について図9から11に基づいて説明する。図9は、本実施例に係るPM堆積量の算出フローを示すフローチャートである。本フローは、ECU20に予め記憶されており、ECU20によって繰り返し実行される。図10は、冷却水温Tw及び混合気の空燃比A/Fと、内燃機関1からのPMの排出量kpm1との関係を示す図である。図11は、PMを酸化するための酸素が十分に存在している状態下での、EHC1の温度Tehcと、マット5の端面又は内管6の突出部に堆積したPMの酸化量kpm2との関係を示す図である。
図9に示すフローにおいては、先ずステップS201において、水温センサ22によって検出される冷却水温Tw、混合気の空燃比A/F、及びエアフローメータ12によって検出される吸入空気量Gaに基づいて、内燃機関1からのPMの排出量kpm1が算出される。
図10に示すように、冷却水温Twが低いほど、また、混合気の空燃比A/Fが低いほど、PMの排出量kpm1は多くなる。また、吸入空気量が多いほど、排気の流量も多くなるため、PMの排出量kpm1は多くなる。このような、冷却水温Tw、混合気の空燃比A/F、及び吸入空気量Gaと、内燃機関1からのPMの排出量kpm1との関係は、実験等に基づいて予め求めることができ、ECU20にマップ又は関数として記憶されている。ステップS201では、このマップ又は関数を用いて、内燃機関1からのPMの排出量kpm1が算出される。
次に、ステップS202において、上述したPM除去処理の実行中であるか否かが判定される。ステップS202において肯定判定された場合は、次にステップS203の処理が実行される。ステップS203においては、EHC1の温度Tehcに基づいて、マット5の端面又は内管6の突出部に堆積したPMの酸化量kpm2が算出される。図11に示すように、PMを酸化するための酸素が十分に存在している状態下においては、EHC1の温度TehcがPMの酸化が可能な温度Tu以上となると、その温度が高いほどPMの酸化量は多くなる。このような、EHC1の温度Tehcと、マット5の端面又は内管6の突出部に堆積したPMの酸化量kpm2との関係は、実験等に基づいて予め求めることができ、ECU20にマップ又は関数として記憶されている。ステップS203では、このマップ又は関数を用いて、マット5の端面又は内管6の突出部に堆積したPMの酸化量kpm2が算出される。
一方、ステップS202において否定判定された場合は、PM除去処理が実行されていないため、PMは酸化されない。この場合、次にステップS204において、マット5の端面又は内管6の突出部に堆積したPMの酸化量kpm2として零が算出される。
ステップS203又はS204の処理の次には、ステップS205の処理が実行される。ステップS205においては、下記式(2)を用いてPM堆積量cpmが算出される。
cpm(i)=cpm(i−1)+kpm1*b−kpm2・・・式(1)
cpm(i):今回のPM堆積量
cpm(i−1):前回の本フローの実行により算出されたPM堆積量
kpm1:ステップS201で算出されたPMの排出量
b:内燃機関1からのPMの排出量に対するマット5の端面又は内管6の突出部に付着するPMの量の割合を示す係数
kpm2:ステップS203又はS204で算出されたPMの酸化量
次に、ステップS206において、ステップS205で算出された値cpmが零以上であるか否かが判定される。ステップS206において否定判定された場合、次にステップS208において、PM堆積量cpmの算出値として零が算出される。一方、ステップS206において肯定判定された場合、次にステップS207において、PM堆積量cpmの算出値として、ステップS205で算出されたPM堆積量cpmが算出される。
[絶縁故障の検出フロー]
次に、本実施例に係る絶縁故障の検出フローについて図12から14に基づいて説明する。図12から14は、本実施例に係る絶縁故障の検出フローを示すフローチャートである。本フローは、ECU20に予め記憶されており、EHC1への通電が行われていない時に、ECU20によって繰り返し実行される。
本フローでは、先ずステップS301において、上述した吸水量の算出フローが実行されることで算出された現時点の吸水量cwaterが読み込まれる。次に、ステップS302において、上述したPM堆積量の算出フローが実行されることで算出された現時点のPM堆積量cpmが読み込まれる。次に、ステップS303において、測定装置21によって測定された現時点の絶縁部材30の絶縁抵抗値Rehcが読み込まれる。
次に、ステップS304において、ステップS301で読み込まれた吸水量cwaterが所定吸水量cwater0より少ないか否かが判定される。ステップS304において否定判定された場合、次にステップS308の処理が実行される。
一方、ステップS304において肯定判定された場合、次にステップS305において、ステップS302で読み込まれたPM堆積量cpmが所定PM堆積量cpm0より少ないか否かが判定される。ステップS305において否定判定された場合、次にステップS317の処理が実行される。
一方、ステップS305において肯定判定された場合、次に、ステップS306において、ステップS303で読み込まれた絶縁抵抗値Rehcが所定抵抗値Rehc0以下であるか否かが判定される。
ステップS306において肯定判定された場合、即ち、吸水量cwaterが所定吸水量cwater0より少なく且つPM堆積量cpmが所定PM堆積量cpm0より少ない時の絶縁部材30の絶縁抵抗値Rehcが所定抵抗値Rehc0以下である場合は、次にステップS307において、絶縁故障が発生していると判定される。一方、ステップS306において否定判定された場合、次にステップS309において、絶縁故障は発生しておらず、EHC1は正常であると判定される。
また、ステップS308においては、ステップS303で読み込まれた絶縁抵抗値Rehcが所定抵抗値Rehc0より大きいか否かが判定される。ステップS308において肯定判定された場合、次にステップS309において、絶縁故障は発生しておらず、EHC1は正常であると判定される。一方、ステップS308において否定判定された場合、次にステップS310の処理が実行される。ステップS310においては、絶縁故障が発生したか否かの判定が保留される。
次に、ステップS311において、吸水量cwaterが再度読み込まれる。そして、次に、ステップS312において、ステップS311で読み込まれた吸水量cwaterが所定吸水量cwater0より少ないか否かが判定される。ステップS312において肯定判定された場合、つまり、吸水量が、蒸発によって、所定吸水量cwater0以上の量から所定吸水量cwater0より少ない量に減少した場合、次にステップS313の処理が実行される。一方、ステップS312において否定判定された場合、再度、ステップS310からS312の処理が実行される。つまり、吸水量が所定吸水量cwater0より減少するまでは、絶縁故障が発生したか否かの判定は保留される。
ステップS313においては、測定装置21によって測定された現時点の絶縁部材30の絶縁抵抗値Rehc(吸水量が所定吸水量cwater0より少ない状態下での絶縁抵抗値)が読み込まれる。次に、ステップS314において、ステップS313で読み込まれた絶縁抵抗値Rehcが所定抵抗値Rehc0より大きいか否かが判定される。ステップS314において肯定判定された場合、つまり、吸水量が所定吸水量cwater0より減少することで絶縁抵抗値が回復した場合は、次にステップS315の処理が実行される。
ステップS315においては、絶縁抵抗値が低下した原因は、マット5に吸水された凝縮水であると判定される。そして、次にステップS309において、絶縁故障は発生しておらず、EHC1は正常であると判定される。
一方、ステップS314において否定判定された場合は、次にステップS316の処理が実行される。ステップS316においては、ステップS302で読み込まれたPM堆積量cpmが所定PM堆積量cpm0より少ないか否かが判定される。ステップS316において肯定判定された場合は、次にステップS307において絶縁故障が発生していると判定される。一方、ステップS316において否定判定された場合は、次にステップS318の処理が実行される。
また、ステップS317においては、ステップS303で読み込まれた絶縁抵抗値Rehcが所定抵抗値Rehc0より大きいか否かが判定される。ステップS317において肯定判定された場合、次にステップS309において、絶縁故障は発生しておらず、EHC1は正常であると判定される。一方、ステップS317において否定判定された場合、次にステップS318において絶縁故障が発生したか否かの判定が保留される。
次に、ステップS319において、PM除去処理の実行条件が成立しているか否か、即ち、減速F/C制御が断続的に実行されているか否かが判定される。ステップS319において肯定判定された場合、次にステップS320において、PM除去処理が実行される。一方、ステップS319において否定判定された場合、再度、ステップS318及びS319の処理が実行される。
ステップS320の次には、ステップS321において、PM堆積量cpmが再度読み込まれる。次に、ステップS322において、ステップS321で読み込まれたPM堆積量cpmが所定PM堆積量cpm0より少ないか否かが判定される。ステップS312において肯定判定された場合、つまり、PM堆積量が、PM除去処理が実行されることで、所定PM堆積量cpm0以上の量から所定PM堆積量cpm0より少ない量に減少した場合は、次にステップS323の処理が実行される。一方、ステップS322において否定判定された場合、再度、ステップS318からS322の処理が実行される。つまり、PM堆積量が所定PM堆積量cpm0より減少するまでは、絶縁故障が発生したか否かの判定は保留される。
ステップS323においては、PM除去処理の実行が停止される。次に、ステップS324において、測定装置21によって測定された現時点の絶縁部材30の絶縁抵抗値Rehc(PM堆積量が所定PM堆積量cpm0より少ない状態下での絶縁抵抗値)が読み込まれる。次に、ステップS325において、ステップS324で読み込まれた絶縁抵抗値Rehcが所定抵抗値Rehc0より大きいか否かが判定される。ステップS325において肯定判定された場合、つまり、PM堆積量が所定PM堆積量cpm0より減少することで絶縁抵抗値が回復した場合は、次にステップS326の処理が実行される。
ステップS326においては、絶縁抵抗値が低下した原因は、マット5の端面及び内管6の突出部に堆積したPMであると判定される。そして、次にステップS309において、絶縁故障は発生しておらず、EHC1は正常であると判定される。
一方、ステップS325において否定判定された場合は、次にステップS307において絶縁故障が発生していると判定される。
上記フローによれば、マット5に吸水されている凝縮水、又はマット5の端面及び内管6の突出部に堆積しているPMに起因する絶縁部材30の絶縁抵抗値の低下と区別して、絶縁故障が発生したか否かを判定することができる。
尚、EHC1の温度が活性領域(EHC1の排気浄化能力が最も高くなる温度領域)の上限値に達していれば、EHC1への通電は行われない。従って、絶縁故障を検出する必要はない。そのため、EHC1の温度が活性領域の上限値以上のときは、上述したような、絶縁故障が発生したか否かの判定を行わないようにしてもよい。
[変形例]
以下、本実施例の第一及び第二の変形例について説明する。絶縁部材30は、正常な状態であっても、絶縁部材30の温度が上昇すると、その絶縁抵抗値が低下する特性を有している。そこで、第一及び第二変形例では、上記絶縁故障の検出フローにおいて絶縁故障が発生したか否かを判定するための閾値となる絶縁抵抗値である所定抵抗値を、EHC1の温度に応じて変更する。つまり、EHC1の温度が高いほど、絶縁部材30の温度は高いため、所定抵抗値をより小さい値に設定する。
ここで、第一の変形例に係る所定抵抗値の設定フローについて図15に基づいて説明する。図15は、第一の変形例に係る所定抵抗値の設定フローを示すフローチャートである。本フローは、ECU20に予め記憶されており、ECU20によって繰り返し実行される。
本フローでは、先ずステップS401において、EHC1の温度Tehcが読み込まれる。尚、EHC1の温度Tehcは、第1温度センサ23によって検出される排気温度又は第2温度センサ24によって検出される排気温度の少なくともいずれかに基づいて推定される。
次に、ステップS402において、EHC1の温度Tehcに基づいて、所定抵抗値Rehc0が算出される。図16は、EHC1の温度Tehcと所定抵抗値Rehc0との関係を示す図である。図16においては、EHC1の温度が低いほど、所定抵抗値Rehc0は小さくなっている。このようなEHC1の温度Tehcと所定抵抗値Rehc0との関係は、実験等に基づいて予め定められており、ECU20に予めマップ又は関数として記憶されている。ステップS402では、該マップ又は関数を用いて所定抵抗値Rehc0が算出される。
次に、ステップS403において、所定抵抗値が、ステップS402で算出された所定抵抗値Rehc0に設定される。これにより、上記絶縁故障の検出フローが次回実行される際には、ステップS403において設定された所定抵抗値Rehc0が、絶縁故障が発生したか否かを判定するための閾値として用いられる。
次に、第二の変形例に係る所定抵抗値の設定フローについて図17に基づいて説明する。図17は、第二の変形例に係る所定抵抗値の設定フローを示すフローチャートである。本フローは、ECU20に予め記憶されており、ECU20によって繰り返し実行される。尚、本フローは、図15に示すフローにステップS501からS503を追加したものである。そのため、ステップS501からステップS503での処理についてのみ説明し、その他のステップでの処理についての説明は省略する。
上述したように、EHC1の温度が上昇すると、それに伴って絶縁部材30の温度は上昇する。しかしながら、絶縁部材30はある程度の熱容量を有しているため、その温度上昇が遅れる。また、内管6はマット5に挟み込まれているため、触媒担体3において発生した熱が内管6には伝達され難い。そのため、内管6の温度上昇は特に遅れ易い。
そのため、内燃機関10が冷間始動した場合は、機関始動後、ある程度の期間が経過するまでの間は、EHC1の温度が上昇しても、絶縁部材30の温度は低いままに維持される。そのため、その期間は、絶縁部材30の絶縁抵抗値は低下せずに維持される。
そこで、第二の変形例では、内燃機関10が冷間始動してから所定期間が経過するまでの間は、EHC1の温度が上昇しても、所定抵抗値を基準抵抗値(図16におけるRehc_base)に維持する。ここで、所定期間は、絶縁部材30の温度が低いままに維持される期間である。
図17に示すフローでは、先ずステップS501において、内燃機関10が冷間始動したか否かが判定される。ここでは、例えば、内燃機関1が始動した時の水温センサ22の検出値が閾値以下の場合、内燃機関10が冷間始動したと判定してもよい。ステップS501において否定判定された場合、次にステップS401の処理が実行される。
一方、ステップS501において肯定判定された場合、次にステップS502において、内燃機関10の冷間始動後、所定期間Δtsが経過したか否かが判定される。ステップS502において肯定判定された場合、次にステップS401の処理が実行される。
一方、ステップS502において否定判定された場合、次にステップS503において、所定抵抗値が基準抵抗値Rehc0_baseに設定される。これにより、上記絶縁故障の検出フローが次回実行される際には、基準抵抗値Rehc0_baseが、絶縁故障が発生したか否かを判定するための閾値として用いられる。
上記変形例によれば、絶縁故障をより高い精度で検出することができる。
<実施例2>
本実施例に係る内燃機関の吸排気系及びEHCの概略構成は実施例1と同様である。また、本実施例においても、実施例1と同様の方法によって絶縁故障の検出が行われるが、本実施例においては、さらに以下のような方法によっても絶縁故障の検出が行われる。
[絶縁故障の検出方法]
内燃機関10の機関負荷が変化すれば、排気の温度が変化するため、EHC1の温度も変化する。その結果、絶縁部材30の温度も変化すると、EHC1が正常であれば(即ち、絶縁故障が発生していなければ)、絶縁部材30の絶縁抵抗値が変化する。つまり、絶縁部材30の温度が上昇すれば、その絶縁抵抗値は低下し、絶縁部材30の温度が低下すれば、その絶縁抵抗値は上昇する。
しかしながら、絶縁故障が発生していると、絶縁部材30の温度が変化しても、絶縁部材30の絶縁抵抗値はそれに応じて変化しない。つまり、測定装置21によって測定される絶縁部材30の絶縁抵抗値の変化量は、正常時の比べて非常に小さくなる。そこで、本実施例では、内燃機関10の機関負荷の変化に応じた絶縁部材30の絶縁抵抗値の変化に基づいて、絶縁故障が発生したか否かを判定する。
[絶縁故障の検出フロー]
ここで、本実施例に係る絶縁故障の検出フローについて図18に基づいて説明する。図18は、本実施例に係る絶縁故障の検出フローを示すフローチャートである。本フローは、ECU20に予め記憶されており、EHC1への通電が行われていない時に、ECU20によって繰り返し実行される。
本フローでは、先ずステップS601において、内燃機関1の機関負荷Qeが第1所定負荷Qe1以下であるか否かが判定される。ステップS601において、肯定判定された場合、次にステップS602の処理が実行され、否定判定された場合、本フローの実行は一旦終了される。
ステップS602においては、吸水量が所定吸水量より少なく且つPM堆積量が所定PM堆積量より少ない時に測定装置21によって測定された絶縁部材30の絶縁抵抗値(以下、この絶縁抵抗値を低負荷時絶縁抵抗値と称する)Rehc1が読み込まれる。
次に、ステップS603において、内燃機関1の機関負荷Qeが、第1所定負荷Qe1よりも高い第2所定負荷Qe2以上であるか否かが判定される。ステップS603において、肯定判定された場合、次にステップS604の処理が実行され、否定判定された場合、本フローの実行は一旦終了される。
ステップS604においては、吸水量が所定吸水量より少なく且つPM堆積量が所定PM堆積量より少ない時に測定装置21によって測定された絶縁部材30の絶縁抵抗値(以下、この絶縁抵抗値を高負荷時絶縁抵抗値と称する)Rehc2が読み込まれる。
次に、ステップS605において、ステップS602で読み込まれた低負荷時絶縁抵抗値Rehc1とステップS604で読み込まれた高負荷時絶縁抵抗値Rehc2との差ΔRehcが、所定抵抗差ΔRehc0より小さいか否かが判定される。ここで、所定抵抗差ΔRehc0は、EHC1は正常であると判定できる閾値である。所定抵抗差ΔRehc0は、実験等に基づいて予め求めることができる。
ステップS605において肯定判定された場合は、次にステップS606において、絶縁故障が発生していると判定される。一方、ステップS605において否定判定された場合、次にステップS607において、絶縁故障は発生しておらず、EHC1は正常であると判定される。
尚、本実施例においては、内燃機関10の機関負荷が第2所定負荷Qe2以上の値から第1所定負荷Qe1以下の値に低下したときの絶縁部材30の絶縁抵抗値の変化量に基づいて、絶縁故障が発生したか否かを判定してもよい。
1・・・電気加熱式触媒(EHC)
2・・・排気管
3・・・触媒担体
4・・・ケース
5・・・マット
6・・・内管
7・・・電極
7a・・表面電極
7b・・軸電極
10・・内燃機関
11・・吸気管
12・・エアフローメータ
13・・三元触媒
20・・ECU
21・・測定装置
22・・水温センサ
23・・第1温度センサ
24・・第2温度センサ
25・・供給電力制御部

Claims (6)

  1. 内燃機関の排気通路に設けられ、
    通電により発熱し、発熱することで触媒を加熱する発熱体と、
    前記発熱体を電気的に絶縁する絶縁部材と、
    を有する電気加熱式触媒の故障を検出する故障検出装置であって、
    前記絶縁部材の吸水量が所定吸水量より少なく且つ前記絶縁部材における粒子状物質の堆積量が所定PM堆積量より少ない時の前記絶縁部材の絶縁抵抗値、前記絶縁部材の吸水量が前記所定吸水量以上の量から前記所定吸水量より少ない量に減少したときの前記絶縁部材の絶縁抵抗値の変化、及び、前記絶縁部材における粒子状物質の堆積量が前記所定PM堆積量以上の量から前記所定PM堆積量より少ない量に減少したときの前記絶縁部材の絶縁抵抗値の変化に基づいて、前記絶縁部材に吸水されている凝縮水又は前記絶縁部材に堆積している粒子状物質に起因する前記絶縁部材の絶縁抵抗値の低下と区別して、絶縁故障が発生したか否かを判定する判定部を備える電気加熱式触媒の故障検出装置。
  2. 前記判定部が、
    前記絶縁部材の吸水量が前記所定吸水量より少なく且つ前記絶縁部材における粒子状物質の堆積量が前記所定PM堆積量より少ない時に前記絶縁部材の絶縁抵抗値が所定抵抗値以下である場合は、絶縁故障が発生したと判定し、
    前記絶縁部材の吸水量が前記所定吸水量以上である時は前記絶縁部材の絶縁抵抗値が前記所定抵抗値以下であり、前記絶縁部材の吸水量が前記所定吸水量より減少すると前記絶縁部材の絶縁抵抗値が前記所定抵抗値より上昇する場合は、前記絶縁部材の絶縁抵抗値の低下の原因は前記絶縁部材に吸水された凝縮水であって絶縁故障は発生していないと判定し、
    前記絶縁部材における粒子状物質の堆積量が前記所定PM堆積量以上である時は前記絶縁部材の絶縁抵抗値が前記所定抵抗値以下であり、前記絶縁部材における粒子状物質の堆積量が前記所定PM堆積量より減少すると前記絶縁部材の絶縁抵抗値が前記所定抵抗値より上昇する場合は、前記絶縁部材の絶縁抵抗値の低下の原因は前記絶縁部材に堆積している粒子状物質であって絶縁故障は発生していないと判定する請求項1に記載の電気加熱式触媒の故障検出装置。
  3. 前記判定部が、
    前記絶縁部材の吸水量が前記所定吸水量以上の時に前記絶縁部材の絶縁抵抗値が前記所定抵抗値以下である場合は、前記絶縁部材の吸水量が前記所定吸水量より減少するまで、絶縁故障が発生したか否かの判定を保留し、
    前記絶縁部材における粒子状物質の堆積量が前記所定PM堆積量以上の時に前記絶縁部材の絶縁抵抗値が前記所定抵抗値以下である場合は、前記絶縁部材における粒子状物質の堆積量が前記所定PM堆積量より減少するまで、絶縁故障が発生したか否かの判定を保留する請求項1又は2に記載の電気加熱式触媒の故障検出装置。
  4. 前記電気加熱式触媒の温度が高いときは、その温度が低いときに比べて、前記所定抵抗値を小さい値に設定する設定部をさらに備える請求項1から3のいずれか一項に記載の電気加熱式触媒の故障検出装置。
  5. 前記設定部が、内燃機関が冷間始動してから所定期間が経過するまでの間は、前記電気加熱式触媒の温度が上昇しても、前記所定抵抗値を一定の値に維持する請求項4に記載の電気加熱式触媒の故障検出装置。
  6. 前記判定部が、前記絶縁部材の吸水量が前記所定吸水量より少なく且つ前記絶縁部材における粒子状物質の堆積量が前記所定PM堆積量より少ない時の前記絶縁部材の絶縁抵抗値が内燃機関の機関負荷の変化に応じて変化する場合は、絶縁故障は発生していないと判定し、該絶縁抵抗値が内燃機関の機関負荷の変化に応じて変化しない場合は、絶縁故障が発生したと判定する請求項1から5のいずれか一項に記載の電気加熱式触媒の故障検出装置。
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