JPWO2010073409A1 - 画像処理システム、画像処理装置及び画像処理方法 - Google Patents
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Abstract
Description
上記の一般的な記述及び下記の詳細な記述の何れも、例示的かつ説明的なものであり、請求項のように、本発明を制限するものではないことを理解されたい。
2 画像入力部
3 出力部
4 画像復号装置
41 通信部
42 記憶部
43 処理部
431 パターン検出部
432 劣化度測定部
433 劣化画像補正部
434 復号部
なお、本明細書では、暗号化された画像を単に「暗号画像」と呼ぶ。
画像入力部2は、紙などの媒体に印刷された暗号画像を読み取り、その暗号画像を電子データに変換する。また画像入力部2は、読み取った画像に対して公知の様々なノイズ除去処理の何れかを行ってもよい。また画像入力部2は、暗号画像が2値画像であれば、読み取った画像に対して2値化処理を行ってもよい。そして画像入力部2は、暗号画像の電子データを画像復号装置4へ送信する。
通信部41は、例えば、画像復号装置4を、画像入力部2及び出力部3、あるい他の周辺機器と接続するための通信インターフェース及びその制御回路を有する。そのような、周辺機器と接続するための通信インターフェースは、例えば、USBまたはSCSIなどの通信規格に従ったインターフェースとすることができる。また通信部41は、イーサネット(登録商標)などの通信規格に従った通信ネットワークまたはIntegrated Services Digital Network(総合ディジタル通信網サービス、ISDN)に接続するための通信インターフェース及びその制御回路を有してもよい。そして画像復号装置4は、通信部41を介して、他の機器に対して、復号された原画像を送信してもよい。
暗号化処理を実行する暗号化装置は、まず、原画像のうち、暗号化する領域を複数のブロックに分割し、各ブロックに固有の番号を設定する。例えば、暗号化装置は、暗号化する領域を縦3個×横4個の合計12個のブロックに分割し、それぞれのブロックに1〜12の番号を付す。次に、暗号化装置は、暗号鍵を用いて各ブロックの位置を入れ替えるスクランブル処理を実行する。そのために、暗号化装置は、暗号鍵から変換前と変換後のブロックの位置関係を表す対応テーブルを作成する。例えば、変換前のブロックの番号がxで表され、変換後のブロックの番号がyで表されるとする。このとき、スクランブル処理に対応するブロックの変換式は次式で表される。
例えば、反転マーカに含まれる画素の画素値uが20であり、反転マーカ周囲の画素の平均値Pavが35であれば、暗号化装置は反転演算を選択するので、反転処理後の反転マーカの画素値vは、(2)式より、235となる。
なお、暗号化装置は、例えば、いわゆるコンピュータである。そして暗号化装置は、上記のスクランブル処理、画素値変換処理及び検査パターン付与処理を、その暗号化装置のプロセッサ上で動作するコンピュータプログラムに従って実行する。
しかし、暗号画像210が印刷された媒体が汚れていたり、その媒体が複写され、復号装置がその複写された媒体から暗号画像を読み取ると、読み取られた暗号画像は劣化する。
そこで、この実施形態に係る画像処理システム1の処理部43は、画像入力部2から受信した電子データに表される暗号画像に対して補正処理を実行し、補正された画像を復号することにより、原画像を再構成する。
テンプレートマッチング処理を用いて検査パターンが検出される場合、検査パターンと同一のパターンを表したテンプレートが予め記憶部42に記憶される。パターン検出部431は、検査パターンを暗号画像から検出する際、記憶部42からそのテンプレートを読み出す。そしてパターン検出部431は、読み出されたテンプレートと、暗号画像上で検査パターンが存在すると想定される暗号画像の部分領域との相関演算を行うことにより、相関値が最大となる暗号画像上の位置を見つける。パターン検出部431は、相関値が最大となった暗号画像上の位置に、検査パターンが有ると判定する。なお相関値は、例えば、暗号画像の画素値とテンプレートの画素値が一致する画素数を、テンプレートの画素数で割ることにより得られる。
あるいはまた、パターン検出部431は、暗号画像に対してエッジ検出処理を実行することによりエッジ画素を抽出する。そしてパターン検出部431は、抽出されたエッジ画素を示したエッジ画像と、検査パターンに含まれる黒領域あるいは白領域の輪郭形状を表すテンプレートとのテンプレートマッチング処理を実行することにより、検査パターンを検出してもよい。
パターン検出部431は、検出された検査パターンの位置を表す情報を、劣化度測定部432へ渡す。なお、検査パターンの位置を表す情報は、例えば、検査パターンの何れかの隅の画素の座標を含む。
図5(a)は、図3(a)に示された、劣化した暗号画像から検出された、劣化した横長の検査パターンと、劣化のない理想的な横長の検査パターンの例を示す図である。図5(a)において、上側に示されたパターン501は、画像入力部2により得られた劣化した暗号画像から検出された検査パターンを表し、下側に示されたパターン502は、劣化のない理想的な検査パターンを表す。また、図5(b)は、図5(a)に示された各検査パターンにおける、右端の黒領域の拡大図である。図5(b)において、黒領域503は、検査パターン501の右端の黒領域503の拡大図であり、黒領域504は、劣化のない検査パターン502の右端の黒領域504の拡大図である。図5(a)及び図5(b)に示されるように、劣化のない検査パターン502の黒領域504は、横方向に10画素の長さを持つ。一方、劣化した検査パターン501の黒領域503は、横方向の長さが12画素以上に拡大されている。
グラフ601及び602に示されるように、黒領域の左端では、総和D(x-x1)及びDi(x-x1)は極小値を示す。一方、黒領域の右端では、総和D(x-x1)及びDi(x-x1)は極大値を示す。そして、その極小値及び極大値は、グラフ601及び602上で、周期的且つ交互に現れる。
また、劣化度測定部432は、検出検査パターン501から得られたD(x-x1)と、理想検査パターンから得られたDi(x-x1)とのパターンマッチングを行って、Di(x-x1)の極小値または極大値に対応するD(x-x1)の横方向の座標を求めてもよい。この場合、劣化度測定部432は、Di(x-x1)の極小値に対応するD(x-x1)の横方向の座標xLを、黒領域の左端とし、Di(x-x1)の極大値に対応するD(x-x1)の横方向の座標xRを、黒領域の右端とする。特に、劣化度測定部432は、動的計画法を用いたパターンマッチングを利用することが好ましい。これにより、劣化度測定部432は、検出検査パターン501に含まれる黒領域の幅と理想検査パターン502に含まれる黒領域の幅が異なっていても、効率的にD(x-x1)とDi(x-x1)の一致度合いを計算できる。
そこで、劣化度測定部432は、上記の(4)式のxとyを入れ替えた式を用いることにより、縦方向に近傍画素間の差分演算を行って得られる差分値を各行ごとに合計した値D(y-y1)を算出することができる。そして劣化度測定部432は、上記と同様に、D(y-y1)の極小値に対応する位置を検出検査パターンに含まれる黒領域の上端とする。また劣化度測定部432は、D(y-y1)の極大値に対応する位置を検出検査パターンに含まれる黒領域の下端として求める。これにより、劣化度測定部432は黒領域の上下端間の距離を算出できる。そして劣化度測定部432は、その平均値と、理想検査パターンに含まれる黒領域の縦方向の長さとの差を、縦方向の劣化度とする。
劣化度測定部432は、得られた劣化度Dgを劣化画像補正部433へ渡す。
逆に、白領域に対して行われる拡大処理は、黒領域に対して行われる縮退処理と同一の処理である。同様に、白領域に対して行われる縮退処理は、黒領域に対して行われる拡大処理と同一の処理である。
そのため、劣化画像補正部433は、劣化により縮小した量だけ、黒領域を拡大させることができるので、暗号画像を劣化の無い状態に近づけることができる。
また、劣化画像補正部433は、拡大処理の代わりに、モルフォロジーの膨張演算を行ってもよい。また、劣化画像補正部433は、縮退処理の代わりに、モルフォロジーの収縮演算あるいは細線化処理を行ってもよい。劣化画像補正部433は、縮退処理の代わりに細線化処理を実行することにより、1画素の幅しかない黒領域または白領域が消失することを防止できる。
一方、図7(c)に示されるように、劣化画像補正部433が黒領域700に対して拡大処理を実行すると、黒領域700の外縁に隣接する各画素702の画素値が隣接する黒領域内の画素の画素値に変換される。そのため、各画素702が黒領域720に含まれるようになる。従って、黒領域720の幅及び高さは、それぞれ、黒領域700の幅及び高さよりも2画素大きくなっている。
一方、図8(c)に示されるように、劣化画像補正部433が黒領域800に対して半拡大処理を実行すると、黒領域800の左端または上端に隣接する各画素802の画素値が隣接する黒領域内の画素の画素値に変換される。そのため、各画素802が黒領域820に含まれるようになる。従って、黒領域820の幅及び高さは、それぞれ、黒領域800の幅及び高さよりも1画素大きくなっている。
ステップS101において、劣化度Dgが正である場合、劣化画像補正部433は、暗号化領域に対して縮退処理を実行する。そこで劣化画像補正部433は、縮退処理の繰り返し回数Nを1に設定する(ステップS102)。次に、劣化画像補正部433は、劣化度Dgの絶対値から2Nを引いた値(|Dg|-2N)が0以上となるか否か判定する(ステップS103)。(|Dg|-2N)が0以上である場合(ステップS103−Yes)、劣化画像補正部433は、暗号化領域内の全ての黒領域について縮退処理を実行する(ステップS104)。これにより、各黒領域の幅及び高さは、それぞれ2画素ずつ縮小する。そして劣化画像補正部433は、繰り返し回数Nを1インクリメントして(ステップS105)、その後制御をステップS103に戻す。
一方、ステップS101において、劣化度Dgが負である場合、劣化画像補正部433は、暗号化領域に対して拡大処理を実行する。そこで劣化画像補正部433は、拡大処理の繰り返し回数Nを1に設定する(ステップS108)。次に、劣化画像補正部433は、劣化度Dgの絶対値から2Nを引いた値(|Dg|-2N)が0以上となるか否か判定する(ステップS109)。(|Dg|-2N)が0以上である場合(ステップS109−Yes)、劣化画像補正部433は、暗号化領域内の全ての黒領域について拡大処理を実行する(ステップS110)。これにより、各黒領域の幅及び高さは、それぞれ2画素ずつ拡大する。そして劣化画像補正部433は、繰り返し回数Nを1インクリメントして(ステップS111)、その後制御をステップS109に戻す。
そこで、復号部434は、先ず、暗号画像が画像入力部2により読み取られたときなどに生じる、暗号化領域内の局所的な伸縮あるいは歪みを補正する。例えば、復号部434は、暗号化領域内の各反転マーカの位置を特定する。そして復号部434は、特定された位置と、暗号化領域の伸縮及び歪みがないときの位置とのずれを求めることにより、暗号化領域内の局所的な歪み量あるいは伸縮量を検出できる。
図10に示されるように、画像入力部2により媒体に印刷された暗号画像が読み取られて、その暗号画像の電子データを画像復号装置4が受信すると、処理部43は復号処理を開始する。そして処理部43のパターン検出部431は、暗号画像から、補正量を決定するための基準となる、サイズ及び形状が既知である特定パターンを検出する(ステップS201)。本実施形態では、特定パターンは、暗号画像に含まれる暗号化された領域の4隅に付された検査パターンである。そしてパターン検出部431は、検出された特定パターンの位置を表す位置情報を処理部43の劣化度測定部432へ渡す。
処理部43は、再構成された原画像を通信部41を介して出力部3へ出力する(ステップS205)。そして処理部43は、復号処理を終了する。
なお、パターン検出部は、それら特定パターンの形状及びサイズが予め分かっているため、例えば、暗号画像と、劣化のない、理想的な特定パターンを表すテンプレートとのテンプレートマッチングを実行することにより、それら特定パターンを検出できる。
このように、画像処理装置は、画像補正処理を複数回繰り返して実行して得られた補正画像に対して復号処理を実行することにより、より正確に原画像を再構成することができる。
さらに、この画像処理装置の処理部が有する、パターン検出部、劣化度測定部、劣化画像補正部、及び復号部の各機能をコンピュータに実現させるコンピュータプログラムは、コンピュータによって読み取り可能な媒体に記録された形で提供されてもよい。
Claims (9)
- 媒体に印刷された画像を読み取って該画像を表す電子データを生成する画像入力部と、
前記電子データに表された画像を補正する処理部であって、
前記電子データに表された画像から、該画像に付された第1のサイズ及び形状を持つ第1のパターンを検出する機能と、
前記検出された第1のパターンのサイズの、前記第1のサイズからのずれ量を劣化度として測定する機能と、
前記劣化度が小さくなるように前記電子データに表された画像を補正する機能と、
を実現する処理部と、
を有する画像処理システム。 - 前記第1のサイズは、前記第1のパターンに含まれる、所定値以下の画素値を持つ領域の長さであり、前記劣化度を測定する機能は、前記検出された第1のパターンに含まれる、所定値以下の画素値を持つ領域の長さから前記第1のサイズを引いた差を前記劣化度として測定し、
前記補正機能は、前記劣化度が正の値を持つ場合、前記電子データに表された画像に含まれる、前記所定値以下の画素値を持つ領域を、前記劣化度の絶対値だけ該領域の長さが短くなるように縮退させ、前記劣化度が負の値を持つ場合、前記電子データに表された画像に含まれる、前記所定値以下の画素値を持つ領域を、前記劣化度の絶対値だけ該領域の長さが長くなるように拡大する、請求項1に記載の画像処理システム。 - 前記処理部は、前記パターン検出機能に、前記補正機能により補正された補正画像から、第2のサイズ及び形状を持つ第2のパターンを検出させ、
前記劣化度測定機能に、前記検出された第2のパターンのサイズの、前記第2のサイズからのずれ量を第2の劣化度として測定させ、
前記画像補正機能に、前記第2の劣化度が小さくなるように前記補正画像をさらに補正させる、請求項1または2に記載の画像処理システム。 - 前記電子データに表された画像は、該画像に含まれる少なくとも一部の領域が暗号化された暗号画像であり、
前記パターンを検出する機能は、前記暗号化された領域の境界を表すパターンを前記第1のパターンとして検出する、請求項1〜3の何れか一項に記載の画像処理システム。 - 前記電子データに表された画像は、該画像に含まれる少なくとも一部の領域が暗号化された暗号画像であり、
前記パターンを検出する機能は、前記暗号化された領域内の所定位置を表すパターンを前記第2のパターンとして検出する、請求項3または4に記載の画像処理システム。 - 前記処理部は、前記補正機能により補正された暗号画像を復号して、原画像を再構成する復号機能をさらに実現する、請求項4または5に記載の画像処理システム。
- 媒体に印刷された画像を読み取って該画像を表す電子データを生成し、
前記電子データに表された画像から、該画像に付された所定のサイズ及び形状を持つパターンを検出し、
前記検出されたパターンのサイズの、前記所定のサイズからのずれ量を劣化度として測定し、
前記劣化度が小さくなるように前記電子データに表された画像を補正すること、
を含む画像処理方法。 - 媒体に印刷された画像を読み取って得られた電子データに表された画像から、該画像に付された所定のサイズ及び形状を持つパターンを検出し、
前記検出されたパターンのサイズの、前記所定のサイズからのずれ量を劣化度として測定し、
前記劣化度が小さくなるように前記電子データに表された画像を補正すること、
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。 - 媒体に印刷された画像を読み取って得られた電子データに表された画像から、該画像に付された所定のサイズ及び形状を持つパターンを検出するパターン検出部と、
前記検出されたパターンのサイズの、前記所定のサイズからのずれ量を劣化度として測定する劣化度測定部と、
前記劣化度が小さくなるように前記電子データに表された画像を補正する画像補正部と、
を有する画像処理装置。
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