JPWO2007013339A1 - 光受信装置、試験装置、光受信方法、試験方法、テストモジュール、及び半導体チップ - Google Patents
光受信装置、試験装置、光受信方法、試験方法、テストモジュール、及び半導体チップ Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2007013339A1 JPWO2007013339A1 JP2007528427A JP2007528427A JPWO2007013339A1 JP WO2007013339 A1 JPWO2007013339 A1 JP WO2007013339A1 JP 2007528427 A JP2007528427 A JP 2007528427A JP 2007528427 A JP2007528427 A JP 2007528427A JP WO2007013339 A1 JPWO2007013339 A1 JP WO2007013339A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cycle
- integrator
- current cycle
- optical signal
- current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/60—Receivers
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/60—Receivers
- H04B10/66—Non-coherent receivers, e.g. using direct detection
- H04B10/69—Electrical arrangements in the receiver
- H04B10/693—Arrangements for optimizing the preamplifier in the receiver
- H04B10/6932—Bandwidth control of bit rate adaptation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N37/00—Details not covered by any other group of this subclass
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L25/00—Baseband systems
- H04L25/02—Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
- H04L25/03—Shaping networks in transmitter or receiver, e.g. adaptive shaping networks
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
Description
特願2005−216044 出願日 2005年7月26日
現サイクル積分段階において積分した電荷量と、前サイクル積分段階において積分した電荷量との差分に基づいて、デジタルデータの現サイクルにおけるデータ値を出力するデータ値識別段階とを有する試験方法を提供する。
Claims (15)
- 光信号を受信し、前記光信号により伝送されるデジタルデータのデータ値を出力する光受信装置であって、
前記光信号を受信し、前記光信号の強度に応じた光電流を出力する受光素子と、
前記デジタルデータの現サイクルに対応する前記光電流を、サイクル内の所定の期間積分する現サイクル積分器と、
前記現サイクルの前サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する前サイクル積分器と、
前記現サイクル積分器が積分した電荷量と、前記前サイクル積分器が積分した電荷量との差分に基づいて、前記デジタルデータの前記現サイクルにおけるデータ値を出力するデータ値識別回路と
を備える光受信装置。 - 前記現サイクル積分器は、前記受光素子の電流出力端及び前記データ値識別回路の電圧入力端を接続する現サイクル伝送路と、所定の基準電位との間に設けられたコンデンサを有する
請求項1に記載の光受信装置。 - 前記前サイクル積分器は、前記受光素子の電流出力端と、前記データ値識別回路の前記電圧入力端との間に、前記現サイクル伝送路と並列に設けられたコンデンサを有する
請求項2に記載の光受信装置。 - 前記前サイクルにおける前記光電流を前記前サイクル積分器に供給する前サイクル制御部と、
前記現サイクルにおける前記光電流を前記現サイクル積分器に供給する現サイクル制御部と、
前記現サイクルにおいて、前記現サイクル積分器の正電荷が蓄積された端子と、前記前サイクル積分器の負電荷が蓄積された端子とを接続し、前記前サイクル積分器が蓄積した電荷量に応じて、前記現サイクル積分器を放電させる差分制御部と
を更に備える請求項1に記載の光受信装置。 - 前記前サイクル制御部は、前記前サイクル積分器の前記受光素子側の端子を、前記受光素子又は前記基準電位のいずれに接続するかを切り替える第1のスイッチを有し、
前記現サイクル制御部は、前記現サイクル積分器の前記受光素子側の端子を、前記受光素子又は前記基準電位のいずれに接続するかを切り替える第2のスイッチを有し、
前記差分制御部は、前記前サイクル積分器の前記データ値識別回路側の端子を、前記現サイクル積分器の前記受光素子側の端子、又は前記基準電位のいずれに接続するかを切り替える第3のスイッチを有する
請求項4に記載の光受信装置。 - 前記データ値識別回路は、
前記現サイクル積分器が積分した電荷量が、前記前サイクル積分器が積分した電荷量より大きい場合、前記現サイクルにおけるデータ値としてHレベルを出力し、
前記現サイクル積分器が積分した電荷量が、前記前サイクル積分器が積分した電荷量より小さい場合、前記現サイクルにおけるデータ値としてLレベルを出力し、
前記現サイクル積分器が積分した電荷量が、前記前サイクル積分器が積分した電荷量と略等しい場合、前記現サイクルにおけるデータ値として、前記前サイクルにおけるデータ値を出力する
請求項1に記載の光受信装置。 - 光信号を受信し、前記光信号により伝送されるデジタルデータのデータ値を出力する光受信装置であって、
前記光信号を受信し、前記光信号の強度に応じた光電流を出力する受光素子と、
前記デジタルデータの偶数サイクルに対応する前記光電流を、サイクル内の所定の期間積分する第1の現サイクル積分器と、
前記第1の現サイクル積分器が積分しているサイクルの前サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する第1の前サイクル積分器と、
前記デジタルデータの奇数サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する第2の現サイクル積分器と、
前記第2の現サイクル積分器が積分しているサイクルの前サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する第2の前サイクル積分器と、
前記第1の現サイクル積分器が積分した電荷量と、前記第1の前サイクル積分器が積分した電荷量との差分に基づいて、前記デジタルデータの前記偶数サイクルにおけるデータ値を出力する第1のデータ値識別回路と、
前記第2の現サイクル積分器が積分した電荷量と、前記第2の前サイクル積分器が積分した電荷量との差分に基づいて、前記デジタルデータの前記奇数サイクルにおけるデータ値を出力する第2のデータ値識別回路と
を備える光受信装置。 - 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスを載置するテストヘッドと、
前記テストヘッドを介して前記被試験デバイスとデジタルデータの授受を行い、前記被試験デバイスの良否を判定する本体部と、
前記テストヘッド及び前記本体部に設けられ、伝送すべき前記デジタルデータを光信号として送信する光送信装置と、
前記テストヘッド及び前記本体部に設けられ、前記光信号を受信し、前記光信号により伝送されるデジタルデータのデータ値を出力する光受信装置と
を備え、
前記光受信装置は、
前記光信号を受信し、前記光信号の強度に応じた光電流を出力する受光素子と、
前記デジタルデータの現サイクルに対応する前記光電流を、サイクル内の所定の期間積分する現サイクル積分器と、
前記現サイクルの前サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する前サイクル積分器と、
前記現サイクル積分器が積分した電荷量と、前記前サイクル積分器が積分した電荷量との差分に基づいて、前記デジタルデータの前記現サイクルにおけるデータ値を出力するデータ値識別回路と
を有する試験装置。 - 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスを載置するテストヘッドと、
前記テストヘッドを介して前記被試験デバイスとデジタルデータの授受を行い、前記被試験デバイスの良否を判定する本体部と、
前記テストヘッド及び前記本体部に設けられ、伝送すべき前記デジタルデータを光信号として送信する光送信装置と、
前記テストヘッド及び前記本体部に設けられ、前記光信号を受信し、前記光信号により伝送されるデジタルデータのデータ値を出力する光受信装置と
を備え、
前記光受信装置は、
前記光信号を受信し、前記光信号の強度に応じた光電流を出力する受光素子と、
前記デジタルデータの偶数サイクルに対応する前記光電流を、サイクル内の所定の期間積分する第1の現サイクル積分器と、
前記第1の現サイクル積分器が積分しているサイクルの前サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する第1の前サイクル積分器と、
前記デジタルデータの奇数サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する第2の現サイクル積分器と、
前記第2の現サイクル積分器が積分しているサイクルの前サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する第2の前サイクル積分器と、
前記第1の現サイクル積分器が積分した電荷量と、前記第1の前サイクル積分器が積分した電荷量との差分に基づいて、前記デジタルデータの前記偶数サイクルにおけるデータ値を出力する第1のデータ値識別回路と、
前記第2の現サイクル積分器が積分した電荷量と、前記第2の前サイクル積分器が積分した電荷量との差分に基づいて、前記デジタルデータの前記奇数サイクルにおけるデータ値を出力する第2のデータ値識別回路と
を有する試験装置。 - 光信号を受信し、前記光信号により伝送されるデジタルデータのデータ値を出力する光受信方法であって、
受光素子を用いて前記光信号を受信し、前記光信号の強度に応じた光電流を出力する受光段階と、
前記デジタルデータの現サイクルに対応する前記光電流を、サイクル内の所定の期間積分する現サイクル積分段階と、
前記現サイクルの前サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する前サイクル積分段階と、
前記現サイクル積分段階において積分した電荷量と、前記前サイクル積分段階において積分した電荷量との差分に基づいて、前記デジタルデータの前記現サイクルにおけるデータ値を出力するデータ値識別段階と
を備える光受信方法。 - 被試験デバイスを試験する試験方法であって、
試験装置のテストヘッドに前記被試験デバイスを載置する段階と、
試験装置の本体部を用いて、前記テストヘッドを介して前記被試験デバイスとデジタルデータの授受を行い、前記被試験デバイスの良否を判定する段階と、
前記テストヘッド及び前記本体部に設けられた光送信装置を用いて、伝送すべき前記デジタルデータを光信号として送信する送信段階と、
前記テストヘッド及び前記本体部に設けられた光受信装置を用いて、前記光信号を受信し、前記光信号により伝送されるデジタルデータのデータ値を出力する受信段階と
を備え、
前記受信段階は、
前記光受信装置の受光素子を用いて前記光信号を受信し、前記光信号の強度に応じた光電流を出力する受光段階と、
前記デジタルデータの現サイクルに対応する前記光電流を、サイクル内の所定の期間積分する現サイクル積分段階と、
前記現サイクルの前サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する前サイクル積分段階と、
前記現サイクル積分段階において積分した電荷量と、前記前サイクル積分段階において積分した電荷量との差分に基づいて、前記デジタルデータの前記現サイクルにおけるデータ値を出力するデータ値識別段階と
を有する試験方法。 - 被試験デバイスを試験する試験装置に設けられ、光信号を受信し、前記光信号により伝送されるデジタルデータのデータ値を出力するテストモジュールであって、
前記光信号を受信し、前記光信号の強度に応じた光電流を出力する受光素子と、
前記デジタルデータの現サイクルに対応する前記光電流を、サイクル内の所定の期間積分する現サイクル積分器と、
前記現サイクルの前サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する前サイクル積分器と、
前記現サイクル積分器が積分した電荷量と、前記前サイクル積分器が積分した電荷量との差分に基づいて、前記デジタルデータの前記現サイクルにおけるデータ値を出力するデータ値識別回路と
を備えるテストモジュール。 - 被試験デバイスを試験する試験装置に設けられ、光信号を受信し、前記光信号により伝送されるデジタルデータのデータ値を出力するテストモジュールであって、
前記光信号を受信し、前記光信号の強度に応じた光電流を出力する受光素子と、
前記デジタルデータの偶数サイクルに対応する前記光電流を、サイクル内の所定の期間積分する第1の現サイクル積分器と、
前記第1の現サイクル積分器が積分しているサイクルの前サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する第1の前サイクル積分器と、
前記デジタルデータの奇数サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する第2の現サイクル積分器と、
前記第2の現サイクル積分器が積分しているサイクルの前サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する第2の前サイクル積分器と、
前記第1の現サイクル積分器が積分した電荷量と、前記第1の前サイクル積分器が積分した電荷量との差分に基づいて、前記デジタルデータの前記偶数サイクルにおけるデータ値を出力する第1のデータ値識別回路と、
前記第2の現サイクル積分器が積分した電荷量と、前記第2の前サイクル積分器が積分した電荷量との差分に基づいて、前記デジタルデータの前記奇数サイクルにおけるデータ値を出力する第2のデータ値識別回路と
を備えるテストモジュール。 - 光信号を受信し、前記光信号により伝送されるデジタルデータのデータ値を出力する光受信装置を半導体基板上に備える半導体チップであって、
前記光受信装置が、
前記光信号を受信し、前記光信号の強度に応じた光電流を出力する受光素子と、
前記デジタルデータの現サイクルに対応する前記光電流を、サイクル内の所定の期間積分する現サイクル積分器と、
前記現サイクルの前サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する前サイクル積分器と、
前記現サイクル積分器が積分した電荷量と、前記前サイクル積分器が積分した電荷量との差分に基づいて、前記デジタルデータの前記現サイクルにおけるデータ値を出力するデータ値識別回路と
を備える半導体チップ。 - 光信号を受信し、前記光信号により伝送されるデジタルデータのデータ値を出力する光受信装置を半導体基板上に備える半導体チップであって、
前記光受信装置が、
前記光信号を受信し、前記光信号の強度に応じた光電流を出力する受光素子と、
前記デジタルデータの偶数サイクルに対応する前記光電流を、サイクル内の所定の期間積分する第1の現サイクル積分器と、
前記第1の現サイクル積分器が積分しているサイクルの前サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する第1の前サイクル積分器と、
前記デジタルデータの奇数サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する第2の現サイクル積分器と、
前記第2の現サイクル積分器が積分しているサイクルの前サイクルに対応する前記光電流を、当該サイクルにおいて前記所定の期間と略等しい期間積分する第2の前サイクル積分器と、
前記第1の現サイクル積分器が積分した電荷量と、前記第1の前サイクル積分器が積分した電荷量との差分に基づいて、前記デジタルデータの前記偶数サイクルにおけるデータ値を出力する第1のデータ値識別回路と、
前記第2の現サイクル積分器が積分した電荷量と、前記第2の前サイクル積分器が積分した電荷量との差分に基づいて、前記デジタルデータの前記奇数サイクルにおけるデータ値を出力する第2のデータ値識別回路と
を備える半導体チップ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007528427A JP4772793B2 (ja) | 2005-07-26 | 2006-07-19 | 光受信装置、試験装置、光受信方法、試験方法、テストモジュール、及び半導体チップ |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005216044 | 2005-07-26 | ||
JP2005216044 | 2005-07-26 | ||
PCT/JP2006/314303 WO2007013339A1 (ja) | 2005-07-26 | 2006-07-19 | 光受信装置、試験装置、光受信方法、試験方法、テストモジュール、及び半導体チップ |
JP2007528427A JP4772793B2 (ja) | 2005-07-26 | 2006-07-19 | 光受信装置、試験装置、光受信方法、試験方法、テストモジュール、及び半導体チップ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2007013339A1 true JPWO2007013339A1 (ja) | 2009-02-05 |
JP4772793B2 JP4772793B2 (ja) | 2011-09-14 |
Family
ID=37683240
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007528427A Expired - Fee Related JP4772793B2 (ja) | 2005-07-26 | 2006-07-19 | 光受信装置、試験装置、光受信方法、試験方法、テストモジュール、及び半導体チップ |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7603241B2 (ja) |
JP (1) | JP4772793B2 (ja) |
KR (1) | KR100932252B1 (ja) |
CN (1) | CN101233704B (ja) |
DE (1) | DE112006001960T5 (ja) |
TW (1) | TWI392250B (ja) |
WO (1) | WO2007013339A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2007013356A1 (ja) * | 2005-07-26 | 2009-02-05 | 株式会社アドバンテスト | 信号送信装置、信号受信装置、試験装置、テストモジュール、及び半導体チップ |
JP5136132B2 (ja) * | 2008-03-17 | 2013-02-06 | 日本電気株式会社 | 光伝送装置、光伝送システム、装置制御方法、および装置のプログラム |
JP5804757B2 (ja) * | 2010-05-06 | 2015-11-04 | セイコーインスツル株式会社 | 受光回路および受光回路を用いたシステム |
CN102798787B (zh) * | 2011-05-24 | 2014-12-10 | 宸鸿光电科技股份有限公司 | 电子设备及其断路检测系统与断路检测方法 |
CN103400031B (zh) * | 2013-07-24 | 2016-08-24 | 飞天诚信科技股份有限公司 | 一种识别光信号的方法和装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61167250A (ja) * | 1985-01-21 | 1986-07-28 | Mitsubishi Electric Corp | 光キヤリア検出器 |
US5153424A (en) * | 1991-02-06 | 1992-10-06 | Litton Systems, Inc. | Flux monitor high light intensity cut-off circit for night vision devices |
JPH07264142A (ja) * | 1994-03-18 | 1995-10-13 | Hitachi Ltd | 光受信回路 |
JPH08149071A (ja) * | 1994-11-22 | 1996-06-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光受信装置 |
JP4043459B2 (ja) | 1996-10-09 | 2008-02-06 | 富士通株式会社 | 信号伝送システム、該信号伝送システムのレシーバ回路、および、該信号伝送システムが適用される半導体記憶装置 |
JP3429971B2 (ja) * | 1997-03-21 | 2003-07-28 | シャープ株式会社 | 遠隔制御装置の光信号復調装置 |
JP4029135B2 (ja) * | 1997-09-12 | 2008-01-09 | 株式会社ニコン | 光電変換素子及び光電変換装置 |
JP2000201113A (ja) * | 1999-01-07 | 2000-07-18 | Nec Corp | バ―スト光信号の受信方法及びその装置 |
JP3736248B2 (ja) * | 2000-01-07 | 2006-01-18 | セイコーエプソン株式会社 | 受信器及び増幅器 |
JP4245436B2 (ja) * | 2003-08-08 | 2009-03-25 | パナソニック株式会社 | ディフェクト検出装置 |
-
2006
- 2006-07-19 KR KR1020087002390A patent/KR100932252B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2006-07-19 CN CN2006800276227A patent/CN101233704B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2006-07-19 DE DE112006001960T patent/DE112006001960T5/de not_active Withdrawn
- 2006-07-19 JP JP2007528427A patent/JP4772793B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2006-07-19 WO PCT/JP2006/314303 patent/WO2007013339A1/ja active Application Filing
- 2006-07-26 TW TW095127234A patent/TWI392250B/zh not_active IP Right Cessation
-
2007
- 2007-12-24 US US11/963,848 patent/US7603241B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100932252B1 (ko) | 2009-12-16 |
CN101233704A (zh) | 2008-07-30 |
TW200705851A (en) | 2007-02-01 |
KR20080031916A (ko) | 2008-04-11 |
US7603241B2 (en) | 2009-10-13 |
CN101233704B (zh) | 2011-04-20 |
DE112006001960T5 (de) | 2008-05-21 |
US20090012729A1 (en) | 2009-01-08 |
TWI392250B (zh) | 2013-04-01 |
JP4772793B2 (ja) | 2011-09-14 |
WO2007013339A1 (ja) | 2007-02-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8731407B2 (en) | Optically coupled insulating device | |
JP5174493B2 (ja) | 半導体集積回路装置及びアイ開口マージン評価方法 | |
JP4772793B2 (ja) | 光受信装置、試験装置、光受信方法、試験方法、テストモジュール、及び半導体チップ | |
CN110333767B (zh) | 多相功率变换器 | |
CN1783574A (zh) | 数据认证电路、电池组件和携带型电子设备 | |
US20090207957A1 (en) | Clock recovery circuit | |
KR20080037011A (ko) | 신호 송신 장치, 신호 수신 장치, 시험 장치, 테스트 모듈,및 반도체 칩 | |
US20170045564A1 (en) | Test apparatus | |
US8169347B2 (en) | Parallel-to-serial converter and parallel data output device | |
JP3539952B2 (ja) | レベル識別回路 | |
US10944601B2 (en) | Reception circuit, receiver, and reception control method | |
US20120007701A1 (en) | Communication control method and communication system | |
US20140219323A1 (en) | Bus communication transceiver | |
KR101058069B1 (ko) | 데이터 통신장치, 데이터 통신 시스템 및 데이터 통신방법 | |
JP2006311130A (ja) | 光受信器 | |
JP5644570B2 (ja) | 通信方法、通信システム及びそのデバイス | |
US7068747B2 (en) | Data decision circuit using clock signal which has phase optimized with respect to phase of input data signal | |
EP4322427A1 (en) | Optical receivers | |
JP2005123350A (ja) | 平均パワー検出回路、レーザーダイオード駆動回路及び光送信モジュール | |
JP2007151155A (ja) | クロックのデューティ検出及び補正回路 | |
US10389112B2 (en) | Device and method for generating duty cycle | |
Kim et al. | Unified dual mode physical layer for mobile CMOS image sensor interface | |
JP2023140842A (ja) | 絶縁通信システム | |
KR20240002179A (ko) | 직렬 인터페이스에서의 신호 부스팅 | |
JP2014003354A (ja) | 歪み調整回路及び比較器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090629 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110315 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110511 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110607 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110622 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140701 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140701 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |