JPWO2006117834A1 - 半導体装置及びicカード - Google Patents

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Abstract

半導体装置は振幅変調された電圧信号を復調する復調回路(1)を有する。前記復調回路は、振幅変調された電圧信号を所定の感度をもって検出すると共にその検出感度が可変にされる検出回路(10)を有する。振幅変調された電圧信号に対する検出感度が可変であるから、無線通信距離が長くなって信号レベルが小さくなったときは検出感度を高くし、逆に、無線通信距離が短くなって信号レベルが大きくなったときは検出感度を低くすることが可能になる。振幅変調を用いた通信の信頼性を向上させることが容易になる。

Description

本発明は復調回路を有する半導体装置に関し、例えば非接触インタフェースを有するICカードに適用して有効な技術に関する。
アンテナを介して非接触インタフェースを行うICカードは、アンテナで電磁波を受信し、受信信号を検波する。検波した信号は振幅変調された信号(振幅変調信号:ASK(Amplitude Shift Keying)信号)とされ、この信号を復調する復調回路については特許文献1,2に記載がある。特許文献1には復調回路に電流ミラー回路を用いることが記載される。特許文献2には、検波を行った信号に対してハイパスフィルタで直流成分を除去し、グランド電位を中心に振れる信号に対し、シュミットトリガ型のコンパレータでディジタル信号を生成する復調回路について記載がある。
特表2002−506259号公報 特開2002−368830号公報
本発明者はICカードにおいてASK信号を復調する復調回路について検討した。ASKとは搬送波の振幅を変調することで、ディジタルデータを送受信する通信法である。前記特許文献にも記載の通り、ASK信号の包絡線検波が行われると、検波された包絡線信号に対して直流成分が除去され、シュミットトリガ型のコンパレータへ入力され、ここでASK信号の復調が行われる。ICカードの非接触インタフェースにおいてカードリーダ・ライタとの通信距離は10cm程度であり、ICカード側において長い通信距離にも対応できるようにするにはシュミットトリガ型の比較回路における信号検出感度を高くすることが必要になる。しかしながら、感度を高くすると、通信距離が短い場合には多くのノイズを拾うことになり、耐ノイズ性が悪化し、復調に対する信頼性が低下してしまうことが明らかにされた。
また、シュミットトリガ型コンパレータは入力が論理値1から論理値0へ、論理値0から論理値1へ変化するときの動作点にヒステリシス特性をもたせるもので、入力と出力の間に逆並列接続された一対のダイオードなどを配置した帰還経路が形成されるため、一般的に入力インピーダンスが低い。例えばオペアンプを用いたコンパレータの反転入力端子と出力端子との間を逆並列接続された一対のダイオードで接続する。この逆並列接続された一対のダイオードは少なくとも一方が順方向バイアスされるので、大きな電流が常時流れる。アンテナを介する誘導起電力によって動作電源を生成するICカードの場合には低消費電流であることが要求される。その中で復調回路が大きな電流を消費してしまうことは望ましくない。
シュミットトリガ型コンパレータの帰還経路に逆並列接続されたダイオードを使用する場合、その動作可能電圧との関係から、ある程度の電源電圧を確保しなければならない。今後動作電圧が低電圧化されると、今のままでは動作できなくなる虞がある。
本発明の目的は、振幅変調を用いた通信の信頼性を向上させることが容易な半導体装置を提供することにある。
本発明の別の目的は振幅変調信号の復調回路に対する動作電圧の低電圧化と低消費電力化への対応が容易な半導体装置を提供することにある。
本発明の前記並びにその他の目的と新規な特徴は本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記の通りである。
〔1〕半導体装置(25,25A)は振幅変調された電圧信号を復調する復調回路(1)を有する。前記復調回路は、振幅変調された電圧信号を所定の感度をもって検出すると共にその検出感度が可変にされる検出回路(10)を有する。振幅変調された電圧信号に対する検出感度が可変であるから、無線通信距離が長くなって信号レベルが小さくなったときは検出感度を高くし、逆に、無線通信距離が短くなって信号レベルが大きくなったときは検出感度を低くすることが可能になる。このように、振幅変調を用いた通信の信頼性を向上させることが容易になる。
一つの具体的な形態では、検出感度の制御と言う観点より、外部からの入力に基づいて形成される電圧をモニタし、そのモニタ結果に基づいて前記検出回路の検出感度を選択する選択回路(33)を更に有する。
前記選択回路は、前記モニタした電圧が所定電圧よりも低いことに応答して前記検出感度を高くし、前記モニタした電圧が所定電圧よりも高いことに応答して前記検出感度を低くすればよい。
更に具体的な形態では、半導体装置はアンテナ接続端子(A+,A−)と、前記アンテナ接続端子に接続されたアンテナ(2)からの誘導起電力によって得られる電圧を整流する整流回路(3)と、前記整流回路からの出力電圧をフィードバック制御によって降圧するレギュレータ(26)とを更に有し、前記選択回路は、前記レギュレータの降圧制御電圧(VCTL)をモニタする。無線通信距離が長くなれば整流回路からの出力電圧レベルは下がる。レギュレータの降圧制御電圧は降圧電圧(Vdd)を一定とするようにフィードバック制御されるから、降圧制御電圧をモニタし、その降圧制御電圧のレベル範囲に従って選択回路に検出感度を選択させることができる。
更に具体的な形態では、前記復調回路は、前記整流回路の出力電圧を受けるバンドパスフィルタ(4,5,6)を有し、前記検出回路は前記バンドパスフィルタの出力を受ける。
更に具体的な形態では、レジスタ(37)を更に有し、前記レジスタは前記検出回路の検出感度を決定するための制御データ(SELT_L[2:0]、SELT_H[2:0]、SELB_L[2:0]、SELB_H[2:0])を格納する。この場合、前記選択回路は選択すべき感度に応ずる制御データをレジスタから前記検出回路に供給する。
更に具体的な形態では、半導体装置は前記復調回路に接続されたデータ処理ユニットを更に有し、前記アンテナを用いた非接触インタフェースが可能なICカード用マイクロコンピュータとして構成される。
別の一つの具体的な形態では、前記検出回路は、参照信号に応じて電流を形成する参照電流形成回路(11)と、前記電圧信号に応じて電流を形成する信号電流形成回路(12)とを有する。更に、参照電流形成回路で形成される電流に応じて電流を流す第1及び第2の参照電流ミラー回路(13,14)と、信号電流形成回路で形成される電流に応じて電流を流す第1及び第2の信号電流ミラー回路(15,16)とを有する。前記第1の参照電流ミラー回路(13)に流れる電流を可変可能に制限する第1の電流制限回路(17)と、前記第2の信号電流ミラー回路(16)に流れる電流を可変可能に制限する第2の電流制限回路(18)とを有する。そして、前記第1の信号電流ミラー回路(15)に流れる電流に応じて前記第1の電流制限回路から流れる電流を制御する第1の能動負荷(19)と、前記第2の参照電流ミラー回路(14)に流れる電流に応じて前記第2の電流制限回路から流れる電流を制御する第2の能動負荷(20)とを有する。前記第1の能動負荷と第1の電流制限回路との間の第1の電圧(BAR)又第2の能動負荷と第2の電流制限回路との間の第2の電圧(TRUE)の一方を前記参照電圧より上のレベルの信号電圧の判定結果とし、前記第1の電圧又第2の電圧の他方を前記参照電圧より下のレベルの信号電圧の判定結果とする。前記電流制限回路による電流制限の度合いによって検出回路の検出感度が可変にされる。検出回路には順方向バイアスがかかるダイオードが存在しないため低消費電流で動作可能である。更に、電流モードで動作するため、低電圧動作が可能である。
上記において、前記電流制限回路による電流制限の度合いを決定する制御回路(33,37)を備えとよい。例えば前記制御回路は、電流制限の度合いを決定する制御データを格納するレジスタ、更には前記レジスタのデータを選択して電流制限回路に供給する選択回路とすればよい。
〔2〕半導体装置は振幅変調信号の復調回路(1)を有する。前記復調回路はバンドパスフィルタ(4,5,6)と検出回路(10)を有する。前記バンドパスフィルタは、振幅変調信号の包絡線検波と、検波された包絡線信号に対して直流成分を除去する。前記検出回路は、バンドパスフィルタから出力される信号電圧を受けて電流信号に変換し、変換した信号電流と参照電圧に応ずる参照電流とに基づいて信号電圧に対する信号の判定を行う。前記検出回路は、信号電流によってカレントミラー回路で形成される信号ミラー電流と、参照電流によってカレントミラー回路で形成される参照ミラー電流との電流比に基づいて、参照電圧に対する信号電圧の判定閾値を決定する。
バンドパスフィルタから出力される信号電圧に対する信号の判定を行う検出回路に、入力と出力の間に逆並列接続された一対のダイオードなどを帰還接続したシュミットトリガ型コンパレータを用いなくてもよい。この逆並列接続された一対のダイオードは少なくとも一方が順方向バイアスされるので常時電流が流れる。そのような電流を流さなくてもよいから、低消費電力に資することができる。アンテナを介する誘導起電力によって動作電源を生成する場合のように低消費電流であることが要求される場合に好適である。また、検出回路は電流モードで動作するため、低電圧動作が可能である。
一つの具体的な形態では、前記検出回路は、参照ミラー電流に対する信号ミラー電流の電流比と、信号ミラー電流に対する参照ミラー電流の電流比とを別々に規定し、参照電圧より上のレベルの信号電圧の判定閾値を前記一方の電流比に基づいて決定し、参照電圧より下のレベルの信号電圧の判定閾値を前記他方の電流比に基づいて決定し、前記参照電圧より上のレベルと下のレベルに各々閾値電圧を持つコンパレータとして機能する。
更に具体的な形態では、前記検出回路は、前記信号ミラー電流と参照ミラー電流との電流比が制御信号に基づいて可変可能である。
更に具体的な形態では、前記復調回路は前記検出回路の出力を受けるフリップフロップ回路(23)を更に有する。前記検出回路は、前記参照電位より上のレベルの閾値電圧よりも高いレベルの信号電圧の入力に応ずる第1検出信号と、前記参照電位より下のレベルの閾値電圧よりも低いレベルの信号電圧の入力に応ずる第2検出信号とを出力する。前記フリップフロップ回路は、セット端子とリセット端子を備え、その何れか一方の端子に前記第1検出信号が入力され、その何れか他方の端子に第2検出信号が入力されるセットリセット型のフリップフロップ回路である。
更に別の一つの具体的な形態では、カード基板(51)に、アンテナ(2)と共に前記半導体装置(25,25A)を搭載してICカード(50,50A)を実現する。前記半導体装置は、アンテナからの誘導起電力によって得られる電圧を整流する整流回路(3)と、前記整流回路からの出力電圧をフィードバック制御によって降圧するレギュレータ(26)と、を更に有する。前記検出回路は前記レギュレータで生成される電圧を動作電源とし、前記バンドパスフィルタは前記整流回路の出力を振幅変調信号として入力する。
本願において開示される発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記の通りである。
すなわち、振幅変調を用いた通信の信頼性を容易に向上させることができる。
また、振幅変調信号の復調回路に対する動作電圧の低電圧化と低消費電力化への対応が容易になる。
本発明に係る半導体集積回路に適用される復調回路の一例を示す回路図である。 復調回路の動作を説明するための信号波形を例示する波形図である。 半導体集積回路の一例であるICカード用マイクロコンピュータのブロック図である。 電圧レギュレータの一例としてシリーズレギュレータを示す回路図である。 電圧レギュレータの別の例としてシャントレギュレータを示す回路図である。 選択回路の一例を示す回路図である。 トリミングレジスタに対する制御データのイニシャルロード動作のタイミングを示すタイミングチャートである。 図2よりも通信距離が長く信号レベルが低い時における復調回路の動作を説明するための信号波形を例示する波形図である。 ICカード用マイクロコンピュータの別の例を示すブロック図である。 図3のマイクロコンピュータを搭載したICカードの平面的構成を例示する平面図である。 図9のマイクロコンピュータを搭載したICカードの平面的構成を例示する平面図である。 ダイオードを用いたシュミットトリガ型コンパレータ(STCMP)を採用した復調回路を比較例として示す回路である。
符号の説明
1 復調回路
2 アンテナ
3 整流回路
4 ローパスフィルタ
5 カップリング容量
6 ハイパスフィルタ
10 検出回路
11 参照電流形成回路
12 信号電流形成回路
13 第1の参照電流ミラー回路
14 第2の参照電流ミラー回路
15 第1の信号電流ミラー回路
16 第2の信号電流ミラー回路
17 第1の電流制限回路
18 第2の電流制限回路
19 第1の能動負荷
20 第2の能動負荷
23 フリップフロップ回路
25、25A マイクロコンピュータ
26 電圧レギュレータ
27 プロセッサコア
33 選択回路
35、36 マルチプレクサ
37 トリミングレジスタ
50,50A ICカード
《電流駆動型復調回路》
図1には本発明に係る半導体集積回路に適用される復調回路1の一例が示される。図2には復調回路の動作を説明するための信号波形が例示される。ここでは半導体集積回路はアンテナを介して外部と非接触インタフェース可能にされる。
A+、A−は半導体集積回路のアンテナ端子である。アンテナ端子A+、A−にはアンテナ2が接続される。電磁波がアンテナ2を横切ると、誘導起電力によりアンテナ2に電圧が発生される。発生された電圧は整流回路3で全波整流される。また、整流された電圧RECは復調回路1に供給される。ここで、上記非接触インタフェースの通信方法はASKであり、復調回路1は搬送波の振幅を変調したASK信号を復調する。前記整流された電圧信号はASK信号であり、このASK信号はローパスフィルタ4に入力される。前記ローパスフィルタ4には搬送波の成分を遮断し、データの成分を通過するように遮断周波数が設定されている。要するにローパスフィルタ4はASK信号に対して包絡線検波を行う。例えば図2においてANTNはアンテナ2による入力信号、RECは全波整流された信号、LPFはローパスフィルタ4の出力信号とされる。ローパスフィルタ4の出力信号LPFである包絡線信号の電位は、受信信号の振幅によって変化する。ローパスフィルタ4の出力はキャパシタ5でハイパスフィルタ6にカップリングされる。半導体集積回路は前述のようにアンテナ2からの電力によって動作するため、ローパスフィルタ4を通過した信号の電位は内部降圧電源の電位よりも高い。このままでは処理が困難なため、ハイパスフィルタ6を通すことで、直流成分を除去する。図に示されるハイパスフィルタ6の終端はボルテージフォロア7を介して参照電位REFのレベルに固定されている。参照電位REFは半導体集積回路内部の基準電圧であり、特に制限されないが、vdd/2に設定される。vddは前記内部降圧電源の規定電圧であり例えば1.5V±0.1Vである。直流成分が除去されたハイパスフィルタの出力信号HPFの波形は図2に例示される。ハイパスフィルタ6の終端を回路の接地電位(GND)に固定すると、負電圧が発生することになるが、ここでは参照電位REFで終端させている。従ってその後段回路は正極性側で回路動作を行えばよく、CMOS回路に好適となる。
ハイパスフィルタ6の出力信号HPFは検出回路10に供給される。検出回路10はnチャンネル型MOSトランジスタMN0〜MN6と、pチャンネル型MOSトランジスタNP0、MP1、MP20〜MP23、MP30〜MP33、MP4、MP50〜MP53、MP60〜MP63、MP7とによって構成される。各トランジスタに併記されたWはゲート幅を示す。MP0とMN1の直列回路(参照電流形成回路)11は参照電位REFに応じて電流IRを形成し、MP1とMN2の直列回路(信号電流形成回路)12は信号電圧HPFに応じて電流IHを形成する。MP20〜MP23は参照電流形成回路11で形成される電流に応じて電流を流す第1の参照電流ミラー回路13を構成する。MP7は参照電流形成回路11で形成される電流に応じて電流を流す第2の参照電流ミラー回路14を構成する。MP4は前記信号電流形成回路12で形成される電流に応じて電流を流す第1の信号電流ミラー回路15を構成する。MP50〜MP53は前記信号電流形成回路12で形成される電流に応じて電流を流す第2の信号電流ミラー回路16を構成する。MP30〜MP33は前記第1の参照電流ミラー回路13に流れる電流を可変可能に制限する第1の電流制限回路17を構成する。MP60〜MP63は前記第2の信号電流ミラー回路16に流れる電流を可変可能に制限する第2の電流制限回路18を構成する。MP33,MP63は常時オン状態とされる。MP30〜MP32は制御信号SELB[0]〜SELB[2]によってスイッチ状態が決定され、MP60〜MP62は制御信号SELT[0]〜SELT[2]によってスイッチ状態が決定される。MN3,MN4は前記第1の信号電流ミラー回路15に流れる電流に応じて前記第1の電流制限回路17から流れる電流を制御する第1の能動負荷19を構成する。MN5,MN6は前記第2の参照電流ミラー回路14に流れる電流に応じて前記第2の電流制限回路18から流れる電流を制御する第2の能動負荷20を構成する。MN0はバイアス信号NBIASでコンダクタンス制御される電流源トランジスタである。前記MN3のドレイン電圧BARが信号HPFの立ち下がりパルスの検出信号とされ、前記MN5のドレイン電圧TRUEが信号HPFの立ち上がりパルスの検出信号とされる。
前記MP0とMP20〜MP23とのミラー比はMP30〜MP33のスイッチ状態により8:8〜8:15に適宜調整可能にされる。例えばここで、8:15の設定が行われた場合を想定する。そうすると、カレントミラーの働きで、MN3にはIR*15/8の電流が流れる。一方、MP1とMP4によるカレントミラーの動作により、MN4にはIH*2/8で電流が流れる。尚、記号*は乗算を意味する。
ここで、MN3とMN4で構成される能動負荷に注目する。MN3とMN4のゲート幅Wの比は8:1であるから、MN3とMN4を流れる電流の比が8:1のとき左右に流れる電流がバランスし、電圧BARは中間電位(Vth)に落ち着く。MN3に流れる電流がMN4の8倍より多くなると、電圧BARは回路の接地電圧GND付近まで下がり、8倍より少ないなら電源電位Vdd付近まで上昇する。
上述のようにMN3とMN4を流れる電流がバランスする条件は、前記MP0とMP20〜MP23とのミラー比が8:15のときは、
IR*15/8=IH*2/8*8
IR*15/8=IH*2
IR*15/16=IH
となる。すなわち、電流IHが電流IRよりその1/16だけ少ない状態がスレッショルドで、電流IHがそれより少なければ電圧BARが論理値1に反転される。
電圧TRUE側は電流IRと電流IHの関係が逆になる構成となっており、能動負荷20の左右の電流がバランスする条件は、IR*16/15=IHとなる。すなわち、電流IHが電流IRより1/15だけ多い状態がスレッショルドで、電流IHがそれより多ければ電圧TRUEが論理値1に反転される。
今度は前記MP0とMP20〜MP23とのミラー比がMP30〜MP33のスイッチ状態により8:12に設定が行われた場合を想定する。このとき、カレントミラーの働きで、MN3にはIR*12/8の電流が流れる。一方、MP1とMP4によるカレントミラーの動作により、MN4にはIH*2/8で電流が流れる。従って、この状態で能動負荷19の左右を流れる電流がバランスする条件は、IR*12/8=IH*2/8*8、IR*12/16=IHとなる。すなわち、電流IHが電流IRよりその4/16だけ少ない状態がスレッショルドで、電流IHがそれより少なければ電圧BARが論理値1に反転される。
同様に、電圧TRUE側では能動負荷20の左右の電流がバランスする条件は、IR*16/12=IHなる。すなわち、電流IHが電流IRより4/12だけ多い状態がスレッショルドで、電流IHがそれより多ければ電圧TRUEが論理値1に反転される。
したがって上記検出回路10は参照電位REFより高い電位と低い電位の2つの閾値電圧Vtht、Vthb(図2参照)を持つコンパレータとして働く。更に、その閾値電圧Vtht,Vthbは制御信号SELB[0]〜SELB[2]とSELT[0]〜SELT[2]によりトランジスタMP30〜MP33、MP60〜MP63のオン・オフを制御することにより可変可能とされる。この閾値電圧Vtht,Vthbに対する可変制御は電流IH,IRに対する電流増幅率の可変制御として把握してもよい。
前記信号TRUE、BARはセットリセット型のフリップフロップ23に供給される。ここでは、信号TRUEの入力端子がセット端子、信号BARの入力端子がリセット端子とされ、フリップフロップの出力端子に、復調データDATAが得られる。
上述のように、上記電流駆動型の復調回路10でコンパレータを構成することにより、検出回路10に流れる電流をトランジスタMN0で規定するので、より小さな消費電流で動作させることが可能である。これに比べ、図12に例示されるようにダイオードを用いたシュミットトリガ型コンパレータ(STCMP)を用いた場合には逆並列接続された一対のダイオードに大きな電流が流れる。コンパレータを検出回路10によって構成した場合には、ダイオードを用いたシュミットトリガ型コンパレータ(STCMP)を使用する場合には低電圧動作が難しかったが、検出回路10は電流モードで動作するため、低電圧動作が可能になる。
また、トランジスタMN0に流れる電流を安定化させることで、PVT(プロセス、電圧、温度)ばらつきに対しても安定した特性を得ることができる。
更に、復調回路10は、トランジスタMN0で規定される電流と、制御信号SELB[0]〜SELB[2]とSELT[0]〜SELT[2]により可変とされるカレントミラー比とで、容易に信号HPFの検出感度を調整することが可能である。従って、アンテナからの受信信号ANTNの電力が弱い場合、換言すれば信号LPFや信号HPFの振幅が小さい場合には、REFレベルに対して閾値電圧Vtht,Vthbを小さくして検出感度を高くすることができる。逆に、アンテナからの受信信号ANTNの電力が強い場合、換言すれば信号LPFや信号HPFの振幅が大きい場合には、REFレベルに対して閾値電圧Vtht,Vthbを大きくして検出感度を低くし、耐ノイズ性を改善することができる。
《検出感度の自動調整》
上記半導体集積回路はアンテナから受信した電力に基づいて前記内部降圧電源を生成する。このこととの関連において上記検出回路10の検出感度を自動調整する構成について説明する。
図3には半導体集積回路の一例としてICカード用マイクロコンピュータ25が例示される。マイクロコンピュータ25は、前記整流回路(RCTF)3及び前記復調回路(DMOD)1の他に、電圧レギュレータ26、プロセッサコア(MPU)27、電気的に書き換え可能な不揮発性メモリであるEEPROM28、ROM29、SRAM30、及びロードスイッチ(LSW)を有する。前記整流回路(RCTF)3に接続するアンテナ端子A+、A−にはアンテナ2が結合される。
前記MPU27は、命令をフェッチして実行する中央処理装置(CPU)や割り込みコントローラなどを有する。EEPROM28はID情報や制御データなどを保持する。ROM29はMPU27が実行するプログラムなどを保有する。SRAM30はMPU27のワーク領域に用いられる。前記LSWはMPU27から供給される送信データに従ってアンテナの負荷電流を変化させる。
マイクロコンピュータ25は、アンテナ2からの電力で動作する。整流回路3で整流された電源Vccは電圧レギュレータ26に供給される。電圧レギュレータ26はマイクロコンピュータ25の動作電源に最適な内部降圧電源(内部電源電圧)Vddを生成する。電源Vccを直接マイクロコンピュータの電源に用いるには電圧レベルが高過ぎる場合もあるからである。
図4には電圧レギュレータ26の一例が示される。同図に示される電圧レギュレータ26はシリーズレギュレータとして構成され、内部電源電圧Vddを抵抗R1,R2で抵抗分圧し、この分圧電圧VFBと基準電位REFとをオペアンプOPAで比較する。VFB>REFならば制御電圧VCTLが上昇し、pチャンネル型のドライバMOSトランジスタMPDの電流駆動能力が小さくされ、内部電源電圧Vddの電位が下がる。逆にVFB<REFならば制御電圧VCTLが下降し、MOSトランジスタMPDの電流駆動能力が大きくされ、内部電源電圧Vddの電位が上がる。このネガティブフィードバックの効果で分圧電圧VFBは参照電位REFと同電位になるように制御される。結果的にVdd=(R1+R2)/R2*REFとなり、内部電源電圧Vddの電位はVddの負荷に関係なく一定の値に制御される。
図5には電圧レギュレータ26の別の例が示される。同図に示される電圧レギュレータ26はシャントレギュレータとして構成される。シャントレギュレータの動作原理は、参照電位REFと分圧電圧VFBを比較するところまでは同じだが、制御電圧VCLTはnチャンネル型のシャントMOSトランジスタMNSを駆動する。VFB>REFならば制御電圧VCTLが上昇し、MOSトランジスタMNSに流れる電流が増加する。そのため、抵抗R3による電圧降下が大きくなり内部電源電圧Vddの電位が下がる。逆にVFB<REFならば制御電圧VCTLが下降し、MOSトランジスタMNSに流れる電流が減少し、抵抗R3による電圧降下が小さくなるため、内部電源電圧Vddの電位が上昇する。結果的にVdd=(R1+R2)/R2*REFとなり、内部電源電圧Vddの電位はVddの負荷に関係なく一定の値に制御されるところはシリーズレギュレータと変わりない。但し、シャントレギュレータは、ツェナーダイオードと似た動作をするので電源Vccに流れる電流が一定に制御されるという特徴がある。非接触インタフェースを持つICカード用のマイクロコンピュータでは、MPUの動作等による負荷変動は、通信ノイズとなるため、シャントレギュレータが好まれる傾向にある。
内部電源電圧Vddの負荷が一定である場合、シャントレギュレータもシリーズレギュレータも、通信距離が遠いとアンテナ2からの電力が少なくなり、電源電圧Vccが下がる。そうなると、制御電圧VCTLが下降する。この制御電圧VCTLを観測することで、どの程度の電力がアンテナ2から入力されているかを推定することができる。前記検出回路1の検出感度の自動調整に制御電圧VCTLのモニタ結果を用いる。即ち、アンテナ2からの電力が弱い場合(制御電圧VCTLの電位が低い場合)、図1の制御信号SELT[2:0], SELB[2:0]を調整して感度を高くする。逆にアンテナ2からの電力が強い場合(制御電圧VCTLの電位が高い場合)、感度を低くする。なぜなら感度が高い場合、ノイズもよく拾ってしまうためにノイズ耐性が低くなるので、アンテナからの電力が大きい場合(換言すればアンテナで受信するASK信号レベルが大きい場合)には、感度を低くしたほうがシステム全体の性能が上がるためである。
図6には選択回路の一例が示される。選択回路33は、制御電圧VCTLをモニタし、そのモニタ結果に基づいて前記検出回路の検出感度を選択する。前述のようにアンテナ2からの電力が弱くなると、図4のシリーズレギュレータは出力ドライバ用のMOSトランジスタMPDの電流駆動力を上げるために制御電圧VCTLの電位を降下させる。図5のシャントレギュレータはMOSトランジスタMNSによって余分に捨てられる電流を減少させるために制御電圧VCTLの電位を減少させる。
図6の選択回路33はpチャンネル型MOSトランジスタMC0,MC1とnチャンネル型MOSトランジスタMC2,MC3との直列回路で構成されるコンパレータで電圧を測定する。MOSトランジスタMC0,MC3のゲートにはバイアス回路(BIAS_C)34からのバイアス電圧PBIASC、NBIASCが供給される。MOSトランジスタMC1,MC2のゲートには制御電圧VCTLが供給される。制御電圧VCTLが高い場合には出力信号SEL_HLがハイレベル、低い場合には出力信号SEL_HLがローレベルにされる。制御電圧VCTLがどの電位のとき出力信号SEL_HLのレベルを切り替えるかは、前記バイアス回路BIAS_Cから出力されるバイアス信号NBIASC、PBIASCによって調整することができる。
マルチプレクサ(MUXT、MUXB)35,36は信号SEL_HLに従ってトリミングレジスタ(TRMR)37からの値を選択する。信号SEL_HLがハイレベル(アンテナ2からの電力が十分)の場合、制御データSELT_H[2:0]を制御データSELT[2:0]として選択し、制御データSELB_H[2:0]を制御データSELB[2:0]として選択する。逆に信号SEL_HLがローレベルの場合(アンテナからの電力が不足気味)、制御データSELT_L[2:0]を制御データSELT[2:0]として選択し、制御データSELB_L[2:0]を制御データSELB[2:0]として選択する。制御データSELT_H[2:0]、SELT_L[2:0]、SELB_H[2:0]、SELB_L[2:0]の各値はトリミングレジスタ37に格納されており、マイクロコンピュータのチップ毎、ロット毎、製品毎などで調整されている。
図7にはトリミングレジスタ37に対する制御データのイニシャルロード動作のタイミングチャートが示される。前記トリミングレジスタ37にセットする制御データSELT_H[2:0]、SELT_L[2:0]、SELB_H[2:0]、SELB_L[2:0](単に制御データTRMDATとも記す)は、例えばEEPROM28などの不揮発メモリが保有する。マイクロコンピュータ25はアンテナ2からの電力で動作するため、アンテナ2からの入力が増加するに従って、内部電源電圧Vddの電位も上がっていく。内部電源電圧Vddの値が設定値に達すると、電圧レギュレータ26の動作により内部電源電圧Vddの電位が安定する。内部電源電圧Vddの電源が安定したところで、リセット信号RSが立ち上がり、内部リセット動作が解除される。内部リセット動作が解除された直後、MPU27は最初にEEPROM28から制御データTRMDATを読み出してトリミングレジスタ37にロードする。トリミングレジスタ37の値が確定した後、各回路が起動される。
上記検出回路10におけるカレントミラーのミラー比が制御信号SELB[2:0]、SELT[2:0]で制御可能にされることにより、リアルタイムで検出感度を調整することが可能である。この機能を有する検出回路10と、アンテナ2からの入力信号レベルをモニタして制御データTMGDATを選択する回路33を組み合わせることで、通信距離が短く大信号が入ってくる時は感度を下げることでノイズ耐性を上げ、逆に図8のように通信距離が長く信号レベルが低い時はノイズ耐性を犠牲にして感度を上げるという、自動調整を行うことができる。
図9にはICカード用マイクロコンピュータ25Aの別の例が示される。図3との相違点は、非接触インタフェースと共に接触インタフェース機能も備えている点である。即ち、接触インタフェース用の外部端子としてクロック端子CLK、データ入出力端子DAT、接地電位端子GND、外部電源端子PSを有する。クロック端子CLK及びデータ入出力端子DATは入出力回路(I/O)40を介してMPU27に接続される。接地電位端子GND及び外部電源端子PSは接触インタフェース用の電圧レギュレータ(VREG)41に接続される。接触インタフェース用の電圧レギュレータによる内部降圧電圧を用いるか否かは指示回路42が決定する。指示回路42は接触インタフェース用の電圧レギュレータ41による内部降圧電圧を検出した時はそれによる降圧電圧の使用を優先させる。このマイクロコンピュータ25Aにおいても復調回路1は図3のマイクロコンピュータ25と同様に機能する。
図10には図3のマイクロコンピュータ25を搭載したICカード50の平面的構成が例示される。カード基板51にアンテナ2とマイクロコンピュータ25が封入されている。
図11には図9のマイクロコンピュータ25Aを搭載したICカード50Aの平面的構成が例示される。カード基板51に接触インタフェース用の外部端子群52が露出され、カード基板51の内部にアンテナ2とマイクロコンピュータ25Aが封入されている。
以上説明したマイクロコンピュータによれば以下の作用効果を得ることができる。ダイオードを用いた従来のASK復調回路がシュミットトリガ型コンパレータの閾値に依存するため、感度に上限があるのに対し、上述の復調回路1ではカレントミラーのミラー比を適宜調整することで感度を高めることができる。
従来のASK復調回路と比較して、順方向バイアスがかかるダイオードが存在しないため低消費電流で動作可能である。
上述の復調回路1は電流モードで動作するため、低電圧動作が可能である。
検出回路10のカレントミラーのミラー比を制御データSELB[2:0]、SELT[2:0]で制御できるから、リアルタイムで感度を調整することが可能である。アンテナ2からの入力信号レベルに対するモニタ結果を利用して上記調整のための制御データの選択を選択回路33で行うから、通信距離が短く大信号が入ってくる時は感度を下げることでノイズ耐性を上げ、逆に通信距離が長く信号レベルが低い時はノイズ耐性を犠牲にして感度を上げるという、自動調整を行うことができる。
上記より、ASK変調信号に対する復調に際して、通信距離に応じて、感度とノイズ耐性との双方を最適化することが可能になる。
以上本発明者によってなされた発明を実施形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。
例えば検出回路の具体的回路構成、ミラー比の採り方、制御データのビット数などについて適宜変更可能である。トリミングレジスタを直接不揮発性レジスタで構成しても良い。トリミングレジスタとして例えばレーザ溶断ヒューズ、フラッシュメモリセルヒューズなどを採用してもよい。マイクロコンピュータにオンチップされる回路モジュールは適宜変更可能である。半導体装置はICカード用マイクロコンピュータに限定されない。非接触インタフェースを備えたメモリカード、メモリカード機能とICカード機能を備え非接触インタフェースを持つマルチファンクションカードなどにも適用することができる。本発明は必ずしも非接触インタフェースあるいは無線通信インタフェースを備えることを条件としない
本発明は非接触インタフェース機能を備えてICカード用マイクロコンピュータやICカードなどに広く適用することができる。

Claims (14)

  1. 振幅変調された電圧信号を復調する復調回路を有し、
    前記復調回路は、振幅変調された電圧信号を所定の感度をもって検出すると共にその検出感度が可変にされる検出回路を有する半導体装置。
  2. 外部からの入力に基づいて形成される電圧をモニタし、そのモニタ結果に基づいて前記検出回路の検出感度を選択する選択回路を更に有する請求項1記載の半導体装置。
  3. 前記選択回路は、前記電圧が所定電圧よりも低いことに応答して前記検出感度を高くし、前記電圧が所定電圧よりも高いことに応答して前記検出感度を低くする請求項2記載の半導体装置。
  4. アンテナ接続端子と
    前記アンテナ接続端子に接続されたアンテナからの誘導起電力によって得られる電圧を整流する整流回路と、
    前記整流回路からの出力電圧をフィードバック制御によって降圧するレギュレータと、を更に有し、
    前記選択回路は、前記レギュレータの降圧制御電圧をモニタする請求項3記載の半導体装置。
  5. 前記復調回路は、前記整流回路の出力電圧を受けるバンドパスフィルタを有し、
    前記検出回路は前記バンドパスフィルタの出力を受ける請求項4記載の半導体装置。
  6. レジスタを更に有し、前記レジスタは前記検出回路の検出感度を決定するための制御データを格納する請求項6記載の半導体装置。
  7. 前記復調回路に接続されたデータ処理ユニットを更に有し、前記アンテナを用いた非接触インタフェースが可能なICカード用マイクロコンピュータである請求項6記載の半導体装置。
  8. 前記検出回路は、
    参照信号に応じて電流を形成する参照電流形成回路と、
    前記電圧信号に応じて電流を形成する信号電流形成回路と、
    前記参照電流形成回路で形成される電流に応じて電流を流す第1及び第2の参照電流ミラー回路と、
    前記信号電流形成回路で形成される電流に応じて電流を流す第1及び第2の信号電流ミラー回路と、
    前記第1の参照電流ミラー回路に流れる電流を可変可能に制限する第1の電流制限回路と、
    前記第2の信号電流ミラー回路に流れる電流を可変可能に制限する第2の電流制限回路と、
    前記第1の信号電流ミラー回路に流れる電流に応じて前記第1の電流制限回路から流れる電流を制御する第1の能動負荷と、
    前記第2の参照電流ミラー回路に流れる電流に応じて前記第2の電流制限回路から流れる電流を制御する第2の能動負荷と、を有し、
    前記第1の能動負荷と第1の電流制限回路との間の第1の電圧又第2の能動負荷と第2の電流制限回路との間の第2の電圧の一方を前記参照電圧より上のレベルの信号電圧の判定結果とし、前記第1の電圧又第2の電圧の他方を前記参照電圧より下のレベルの信号電圧の判定結果とし、
    前記電流制限回路による電流制限の度合いによって検出回路の検出感度が可変にされる請求項1記載の半導体装置。
  9. 前記電流制限回路による電流制限の度合いを決定する制御回路を有する請求項8記載の半導体装置。
  10. 振幅変調信号の復調回路を有し、
    前記復調回路はバンドパスフィルタと検出回路を有し、
    前記バンドパスフィルタは、振幅変調信号の包絡線検波と、検波された包絡線信号に対して直流成分を除去し、
    前記検出回路は、バンドパスフィルタから出力される信号電圧を受けて電流信号に変換し、変換した信号電流と参照電圧に応ずる参照電流とに基づいて信号電圧に対する信号の判定を行い、
    前記検出回路は、前記信号電流によってカレントミラー回路で形成される信号ミラー電流と、前記参照電流によってカレントミラー回路で形成される参照ミラー電流との電流比に基づいて、参照電圧に対する信号電圧の判定閾値を決定する半導体装置。
  11. 前記検出回路は、前記参照ミラー電流に対する前記信号ミラー電流の電流比と、前記信号ミラー電流に対する前記参照ミラー電流の電流比とを別々に規定し、前記参照電圧より上のレベルの信号電圧の判定閾値を前記一方の電流比に基づいて決定し、前期参照電圧より下のレベルの信号電圧の判定閾値を前記他方の電流比に基づいて決定し、前記参照電圧より上のレベルと下のレベルに各々閾値電圧を持つコンパレータとして機能する請求項10記載の半導体装置。
  12. 前記検出回路は、前記信号ミラー電流と参照ミラー電流との電流比が制御信号に基づいて可変可能である請求項11記載の半導体装置。
  13. 前記復調回路は前記検出回路の出力を受けるフリップフロップ回路を更に有し、
    前記検出回路は、前記参照電位より上のレベルの閾値電圧よりも高いレベルの信号電圧の入力に応ずる第1検出信号と、前記参照電位より下のレベルの閾値電圧よりも低いレベルの信号電圧の入力に応ずる第2検出信号とを出力し、
    前記フリップフロップ回路は、セット端子とリセット端子を備え、その何れか一方の端子に前記第1検出信号が入力され、その何れか他方の端子に第2検出信号が入力されるセットリセット型のフリップフロップ回路である請求項12記載の半導体装置。
  14. カード基板に、アンテナと、前記アンテナに接続された請求項10記載の半導体装置とを有するICカードであって、
    前記半導体装置は、アンテナからの誘導起電力によって得られる電圧を整流する整流回路と、
    前記整流回路からの出力電圧をフィードバック制御によって降圧するレギュレータと、を更に有し、
    前記検出回路は前記レギュレータで生成される電圧を動作電源とし、前記バンドパスフィルタは前記整流回路の出力を振幅変調信号として入力するICカード。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5215154B2 (ja) * 2008-12-09 2013-06-19 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路装置およびそれを用いた非接触/接触電子装置ならびに携帯情報端末
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5776960A (en) * 1980-10-29 1982-05-14 Matsushita Electric Works Ltd Receiver
JPH01175029U (ja) * 1988-05-31 1989-12-13
JP3517578B2 (ja) * 1998-01-27 2004-04-12 吉川アールエフシステム株式会社 シュミット回路
JP2001148621A (ja) * 1999-11-19 2001-05-29 Nec Corp ヒステリシスコンパレータ
JP2002368830A (ja) * 2001-06-08 2002-12-20 Dainippon Printing Co Ltd 信号受信部
JP2003067693A (ja) * 2001-08-27 2003-03-07 Fujitsu Ltd 非接触icカード

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