JPWO2005095024A1 - 希土類焼結磁石用合金鋳片の製造法、希土類焼結磁石用合金鋳片及び希土類焼結磁石 - Google Patents
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Abstract
Description
R2Fe14B系の希土類焼結磁石の製造にあたり、該磁石原料となる原料合金には、通常、R2Fe14B相(以下2-14-1相と略記することがある)からなるデンドライトと、2-14-1相と比較して希土類金属を多く含有する比較的融点の低い相からなる領域(以下、R-rich領域と略記することがある)とが含まれる。R2Fe14B系の希土類焼結磁石の製造における原料合金の焼結の際、前記R-rich領域は、溶融して液相となり、前記2-14-1相からなる粒子の間を埋めるよう働き、焼結性を向上させ、得られる焼結体の高密度化に寄与する。また凝固後、非磁性のR-rich領域は、強磁性体の2-14-1相からなる粒子を被覆し、2-14-1相を磁気的に絶縁して保磁力を高める役割を果たす。
このような焼結磁石を得るための原料合金の製造法としては、従来、ストリップキャスティング法等の急冷凝固法により、R-rich領域が微細に分散した組織を有する合金を鋳造する方法が知られている(特許文献1)。
特許文献2には、微視的な鋳片結晶組織の解析より、鋳片に存在する微細樹枝状もしくは柱状結晶が、粉砕時の微粉化に伴う磁石粉末の酸化及び焼結磁石の配向度の低下に影響をもたらすとし、前記微細樹枝状もしくは柱状結晶を低減するため、急冷凝固法における溶湯温度、冷却ロール上での1次冷却速度、冷却ロール剥離後の2次冷却速度を制御する磁石原料合金の製法が提案されている。
特許文献3及び4には、前記原料合金における2-14-1相の容積率を高めること、R-rich領域の間隔を小さくすること、合金組織における結晶粒を大きくすることによって残留磁束密度が大きくなることが記載され、その例として、平均結晶粒径が10〜100μm、R-rich領域の間隔が3〜15μmである合金が好ましいことが記載されている。そして、このような原料合金の製造法として、急冷凝固法における1次冷却速度、2次冷却速度又は熱処理温度を制御する製法が開示されている。
前記1次冷却速度を速くするとR-rich領域の間隔は小さくなり、前記結晶粒径も小さくなる。逆に1次冷却速度を遅くするとR-rich領域の間隔は大きくなり、前記結晶粒径も大きくなる。一方、2次冷却速度の制御、即ち、凝固後の冷却速度を遅くすると、条件によってはR-rich領域の間隔を大きくすることができる。
しかし、このような1次冷却速度及び2次冷却速度又は熱処理の制御のみでは2-14-1相からなるデンドライトの割合を高くする一方でチル晶の生成を抑制することができず、更には結晶粒径の大きさにも限界が生じ、所望の結晶粒径が得られない。
特許文献6には、Cr表面層に冷却ロールの周方向に伸びる溝を有し、軸を含む任意の断面において、溝同士の距離の平均が100〜300μmであり、溝断面の凸部と凹部が滑らかにつながっており、さらには中心平均粗さが0.07〜5μmであり、溝の深さが1〜50μmである冷却ロールが記載されている。このような溝は、凸部と凹部が滑らかにつながっており、冷却ロールの表面積を増大し、凹部の溝内にも溶湯が侵入して溶湯との密着性を高める形態を有する。従って、このような冷却ロールを用いてもチル晶の割合が抑制され、デンドライトの間隔、大きさ等が均一な合金組織を有する合金鋳片は得られない。
特許文献7には、冷却ロール面に互いに交差する複数の線状の凹凸が形成され、十点平均粗さが3μm以上、30μm以下である冷却ロールを用いて希土類焼結磁石用合金薄片を製造することが記載されている。このような凹凸は、冷却ロール面側でランダムに生成するR-rich領域が極端に微細な領域(微細R-rich領域)の生成を抑制することができる。しかし、このような冷却ロールを用いてもR-rich領域と、2-14-1相からなるデンドライトとを含み、該デンドライトの割合が80容量%以上であり、該デンドライトの間隔、大きさ等が均一な合金組織を有する合金鋳片は得られない。
本発明の別の目的は、前記本発明の製造法により得られる希土類焼結磁石用合金のうち、希土類焼結磁石の製造における合金鋳片の粉砕工程において、均一粒度への粉砕が容易であり、しかも粉砕後の合金粉末を成形、焼結した際に成形体の縮率を制御することが可能な、チル晶の含有割合が小さく、R-rich領域と、2-14-1相からなるデンドライトとを含む結晶粒の平均粒径が大きい希土類焼結磁石用合金鋳片を提供することにある。
本発明の他の目的は、本発明の前記合金鋳片を用いた磁気特性に優れるR2Fe14B系の希土類焼結磁石を提供することにある。
また本発明によれば、前記製造法により得られる合金鋳片であって、イットリウムを含む希土類金属元素からなる群より選択された少なくとも1種からなるR、ボロン及び鉄を含む残部Mを含み、R-rich領域と、R2Fe14B相からなるデンドライトとを含み、該デンドライトの割合が80容量%以上、チル晶の割合が1容量%以下である合金組織を含み、且つ合金組織におけるR-rich領域と、R2Fe14B相からなるデンドライトとを含む結晶粒の平均結晶粒径が40μm以上である希土類焼結磁石用合金鋳片が提供される。
更に本発明によれば、前記希土類焼結磁石用合金鋳片を含む原料合金を、粉砕、成形、焼結、時効処理して得られた希土類焼結磁石が提供される。
本発明の希土類焼結磁石用合金鋳片の製造法は、まず、イットリウムを含む希土類金属元素からなる群より選択された少なくとも1種からなるR、ボロン及び鉄を含む残部Mからなる組成の合金溶湯を準備する工程(A)を行なう。
希土類金属元素は、元素番号57から71のランタノイド及び元素番号39のイットリウムを意味する。Rは特に限定されないが、例えば、ランタン、セリウム、プラセオジム、ネオジム、イットリウム、ガドリウム、テルビウム、ディスプロシウム、ホルミウム、エルビウム、イッテルビウム又はこれらの2種以上の混合物等が好ましく挙げられる。
特に、Rとして、ガドリウム、テルビウム、ディスプロシウム、ホルミウム、エルビウム及びイッテルビウムからなる群より選ばれる少なくとも1種の重希土類元素を含むことが好ましい。これらの重希土類元素は、磁石特性のうち主に保磁力を向上させることができる。中でもテルビウムはもっとも大きな効果を示す。しかし、テルビウムは高価であるため、コストと効果を考慮するとディスプロシウムを単体、またはガドリウム、テルビウム、ホルミウム等と共に用いることが好ましい。
本発明の製造法により得られる合金鋳片を単一合金法に用いる場合のRの含有割合は、29.0〜33.0質量%が好ましく、2合金法の2-14-1相用合金として用いる場合のRの含有割合は27.0〜29.0質量%が好ましい。
Rとして前記重希土類元素を用いる場合の重希土類元素の含有割合は、通常0.2〜15質量%、好ましくは1〜15質量%、更に好ましくは3〜15質量%である。重希土類元素の含有割合が15質量%を超えると高価になり、0.2質量%未満ではその効果が得られ難くなる恐れがある。
前記鉄以外の遷移金属は特に限定されないが、例えば、コバルト、アルミニウム、クロム、チタン、バナジウム、ジルコニウム、ハフニウム、マンガン、マグネシウム、銅、錫、タングステン、ニオブ及びガリウムからなる群より選ばれる少なくとも1種が好ましく挙げられる。
工程(B)に用いる冷却ロールは、ロール表面に、デンドライト及びチル晶の生成を抑制する線状の凝固核生成抑制部と、デンドライトを生成させる凝固核生成部とを各々複数有し、且つ前記凝固核生成抑制部の線幅が100μmより大きい領域を有する。
ここで、線状とは特に直線状ということではなく、蛇行する等曲線状であってもよく、一定のパターンを描く線上にある場合を意味する。また、方向の異なる2以上の線により一定のパターンが形成されていてもよい。更に、線状は必ずしも連続的でなくても、例えば、線幅よりも長い線が断続的に線を形成していても良い。
凝固核生成部は、必ずしも線状である必要は無く、例えば、前記各々の線状の凝固核生成抑制部が交差部を有し、凝固核生成部が、凝固核生成抑制部の各交差部間の領域に、ロール表面全体にドット状となるように形成されていても良い。該ドットの最短部の長さは、前記デンドライトの生成を容易に達成するために50μm以下が好ましく、更には30μm以下が好ましい。
例えば、公知の方法により冷却ロール上の凝固核生成部となる部分をマスキングして、スパッタリング、溶射、めっき等により線状の凝固核生成抑制部を形成する。又は、冷却ロール全体に凝固核生成抑制部を上述の方法等で形成した後、凝固核生成部となる部分を切削等の機械加工、レーザー加工して露出させるか、若しくは凝固核生成抑制部となる部分をマスキングして、化学エッチングにより凝固核生成部を露出させる方法によっても形成することができる。
また、凝固核生成部と凝固核生成抑制部とを平坦に形成する場合には、予め凝固核生成部となる材質のロール上に線状の凝固核生成抑制部となる部分を切削等の機械加工、レーザー加工等で凹部に加工した後、上述の方法で熱伝導率の低い材料により該凹部を被覆して平坦にする方法等により行うことができる。
凝固核生成抑制部を線状の凹部とする場合、該凹部は、例えば、冷却ロール表面に突起等の凸部となる部分を残すように切削等により機械加工して形成する方法、レーザー加工により形成する方法、凸部となる部分をマスキングして、化学エッチングして形成する方法等により得ることができる。
凹部の深さは、凹部を凸部と熱伝導率が大きく異なる上述の材料で形成する場合には特に限定されない。一方、同一材料や熱伝導率の差が小さい材料で形成する場合には、凹部の深さは、工程(B)における合金溶湯を凸部に接触させ、凹部の少なくとも低部に接触させない条件とするために、例えば、凸部の頂点を基準に、50μmよりも深く、更には100μm以上深く、特には200μm以上深くすることが好ましい。凹部の深さが50μm以下では、合金溶湯が凹部の低部に接触し、そこから凝固核が生成してチル晶等が生成し、所望の合金組織が得られない恐れがある。
図1は、回転軸方向に平行で、且つ軸を含むようにロールを切断した際の断面を模式的に示す図である。ここで、白い部分が線状の凝固核生成部、黒い部分が線状の凝固核生成抑制部である。この図は模式的に示したものであり、凝固核生成抑制部の線幅は、100μmより大きい領域を有するようにする必要がある。
一方、図1に示すように凝固核生成部が線状の場合の線幅は、前記デンドライトの生成を容易に達成するために30μm以下とすることが好ましい。
前記凝固核生成部と前記凝固核生成抑制部がそれぞれ線状の場合は、それぞれ冷却ロール面を回転方向に1周して同じ点に戻るように形成してもよい。このような凝固核生成部と凝固核生成抑制部のパターンを示す模式図を図4に示す。
凝固核生成部と凝固核生成抑制部は、それぞれ冷却ロール面を回転方向に1周して同じ点に戻らず螺旋状に形成してもよい。このような凝固核生成部と凝固核生成抑制部のパターンを示す模式図を図5に示す。
線状の凝固核生成抑制部及び線状の凝固核生成部は、各々方向の異なる2以上のパターンにより形成されていてもよい。このような凝固核生成部と凝固核生成抑制部のパターンの模式図を図6に示す。
尚、図4〜図7において、図面の下方から上方に向かう方向がロールの回転方向である。
また、凝固核生成部と凝固核生成抑制部とは、熱伝導率の差に影響を与えない範囲で、ロール表面全体をめっき等により溶湯に対し耐摩耗性の高い材質や反応性の低い材質等で被覆することもできる。
上述の凝固核生成抑制部及び凝固核生成部は、図示するように実質的に同一パターンとなるように冷却ロール上に配置することが、R-rich領域及び2-14-1相からなるデンドライトの間隔、大きさ、配向性、形状等をより均質化でき、所望の合金組織とすることができる点で好ましいが、必ずしも好ましい例が図示したものには限定されない。
例えば、凝固核生成抑制部及び凝固核生成部を熱伝導率に差がある上述のような材料を用いて形成した冷却ロールを用いる場合は、凝固核生成抑制部及び凝固核生成部を上述の凹部及び凸部とする場合も平坦にする場合も、合金溶湯の冷却ロールへの供給量、供給スピード、更には冷却ロールの回転速度等を、合金溶湯が前記凝固核生成抑制部及び凝固核生成部に接触するように制御した条件を適宜選択して決定することができる。
一方、凝固核生成抑制部及び凝固核生成部を形成する材料として、熱伝導率に上述の差を設けない場合は、合金溶湯の冷却ロールへの供給量、供給スピード、更には冷却ロールの回転速度等を制御して、合金溶湯を冷却ロール上の凸部に接触させ、凹部の少なくとも低部に接触させないような条件を適宜選択して決定することができる。この際、凹部の少なくとも低部に合金溶湯を接触させることなく行うために、凹部に不活性ガスを流通させることもできる。
工程(B)において冷却速度の制御は、溶湯の温度、供給量、周速度等を制御する公知の方法に準じて行われる。
合金溶湯をロールに供給してロールから合金鋳片が剥離するまでの冷却速度は、通常3×102〜1×105℃/秒、好ましくは4×102〜1×103℃/秒に制御して行うことができる。冷却速度が1×105℃/秒より大きくなるとR-rich領域の平均間隔が1μmより小さくなり、チル晶が多く析出する恐れがある。また、冷却速度が3×102℃/秒より小さくなるとR-rich領域の平均間隔が20μmより大きくなったり、α−Fe相が多く析出することがあり、場合によっては粗大なα−Fe相が析出する恐れがある。
合金溶湯の注湯法は、該溶湯がなるべく脈動しないように一定速度で、一定量を注湯できる方法が好ましい。例えば、特開平9−212243号公報に開示される注湯装置を用いることが好ましい。
前記R-rich領域と、2-14-1相からなるデンドライトとを含む合金組織は、光学顕微鏡により容易に観察することができる。例えば、後述する実施例2及び比較例1において得られた希土類焼結磁石用合金鋳片の組織を光学顕微鏡により観察した合金組織写真をそれぞれ図8及び図10に示す。図8及び図10においてR-rich領域は、線状もしく島状に黒く見える部分である。また、図8及び図10で白く見える部分が2-14-1相からなるデンドライトである。このようにR-rich領域は、2-14-1相からなるデンドライトを取り囲むように存在する。
2-14-1相の容積率は、合金鋳片の冷却ロールから離脱して移動する方向に垂直な厚みの断面(ロール回転方向に対するC断面)組織におけるEPMAのCompo像を画像解析することにより求められる2-14-1相の面積率とし、10個以上の鋳片について同様にして値を求め、それらの平均値を2-14-1相からなるデンドライトの容積率とした。尚、下記のチル晶に存在する2-14-1相は当該2-14-1相の容積率には含めないこととした。
前記チル晶の割合を5容量%以下、特に1容量%以下とすることで、得られる磁石の残留磁束密度を向上させることができる。また磁石製造工程において、ジェットミル等により3〜7μm程度に合金鋳片を微粉砕した際に、1〜3μm程度の著しく小さな微粉の含有割合を低下させることができるので、その後の焼結工程において異常に粒成長することを抑制でき、保磁力を向上させることができる。このような効果は、チル晶の含有割合が低いほど大きくなる。
ここで、チル晶とは、1μm以下の微細な等軸結晶粒であって、冷却ロール面近傍で瞬時に多数の凝固核が生成することにより形成される。
前記チル晶の割合は、まず、希土類焼結磁石用合金鋳片の冷却ロールから離脱して移動する方向に垂直な厚みの断面(ロール回転方向に対するC断面)を研磨後、200倍で偏光顕微鏡により観察し、組織写真を撮影する。次いで、該組織写真の断面全体の面積におけるチル晶の面積を測定することにより求めることができる。10個以上の鋳片について同様にして値を求め、それらの平均値をチル晶の容積率とした。このように偏光顕微鏡を用いることにより、チル晶の微細で結晶方向がランダムな様子がはっきりと観察できるため、容易にチル晶の領域を特定することができる。
R-rich領域の平均間隔が20μmより大きくなると、例えば、合金鋳片を平均粒子径3〜7μm程度に微粉砕した際、単一の粉末粒子内にR-rich領域を含有する粉末粒子の割合が低くなる恐れがある。このような粉末粒子を用いて焼結磁石を製造すると、焼結時にR-rich領域が偏析して液相となり、2-14-1相からなる粒子間に十分に広がらず、密度が上がり難く、残留磁束密度が低くなる恐れがある。また密度を上げるため、高温又は長時間の焼結を行うと、2-14-1相からなる粒子が異常に粒成長し、保磁力が十分に得られない恐れがある。一方、R-rich領域の平均間隔が1μmより小さくなると、微粉砕時、著しく微粉化する部分が生じ、酸化されやすく、残留磁束密度が低下する恐れがある。
まず、希土類焼結磁石用合金鋳片の冷却ロールから離脱して移動する方向に垂直な厚みの断面(ロール回転方向に対するC断面)を研磨後、硝酸でエッチングし、200倍で光学顕微鏡により組織写真を撮影する。上述の通りR-rich領域は2-14-1相からなるデンドライトを囲むように存在している。R-rich領域は、通常は線状に存在するが、鋳造過程の熱履歴等によっては島状に存在する場合もある。合金鋳片の厚さ方向の断面中央位置で断面の幅方向に400μmに相当する線分を引き、その線分を横切るR-rich領域の点数を数え、断面の幅方向に引いた線分の長さ(400μm)をR-rich領域の点数で割る。20個以上の合金鋳片について同様にして値を求め、それらの平均値をR-rich領域の平均間隔とすることができる。R-rich領域が島状に存在している場合も、それらが明らかに線をなすように連続して存在する場合は、それらの島状のR-rich領域をつなぎ、線状のR-rich領域と同様に考えて測定することができる。
尚、本発明の合金鋳片では、前記平均結晶粒径を有する必要があるが、前述の本発明の製造法により得られる合金鋳片は、必ずしも前記平均結晶粒径が40μm以上である必要は無い。
前記平均結晶粒径は、次の方法で求めることができる。
希土類焼結磁石用合金鋳片の冷却ロールから離脱して移動する方向に垂直な厚みの断面(ロール回転方向に対するC断面)を研磨後、200倍で偏光顕微鏡により組織写真を撮影する。得られた写真より合金鋳片の厚さ方向の断面中央位置で断面の幅方向に1000μmに相当する線分を引き、その線分を横切る粒界の点数を数え、断面の幅方向に引いた線分の長さ(1000μm)を粒界の点数で割るという方法で、10個以上の合金鋳片について同様にして値を求め、それらの平均値を前記平均結晶粒径とした。
前記粉砕は、例えば、合金鋳片を水素吸蔵放出により粗粉砕した後、ジェットミル等で平均粒度3〜7μmまで微粉砕する方法等により行うことができる。2合金法で行う場合は、粉砕前に、主相合金である本発明の希土類焼結磁石用合金鋳片と粒界相合金を混合しておくことが好ましい。粒界相合金は、ストリップキャスティング法、モールド法等公知の方法で得られたものが使用できる。
微粉砕した粉末粒子は、単一の粉末粒子内に異なる結晶方位を有する結晶粒の存在が少ない方が、得られる焼結磁石の配向性が高くなり、残留磁束密度が大きくなる。異なる結晶方位を有する結晶粒が存在する粉末粒子の割合を低くするには、合金鋳片中における結晶粒界の存在割合を低くする必要がある。
前記焼結は、例えば、前記成形体を真空又は不活性ガス雰囲気下、900〜1150℃で0.5〜5時間加熱する方法等により行うことができる。
前記時効処理は、例えば、真空又は不活性雰囲気下、500〜900℃で0.5〜5時間加熱する方法等により行うことができる。
本発明者は、R2Fe14B系の希土類焼結磁石用合金鋳片のR-rich領域の間隔を小さくとどめ、かつ合金組織における偏光顕微鏡により観察しうる結晶粒を大きくする方法を検討した。R-rich領域の間隔を小さくするには、1次冷却速度を速くすることは必要十分条件であるため、1次冷却速度を速くしたまま、結晶粒径を大きくする方法を検討した。
一般に、合金のデンドライトは熱流に沿って成長する。例えば、単ロールのストリップキャスティング法を採用した場合、デンドライトはロール面からフリー面へほぼ垂直に成長する。しかし、本発明者の実験において、通常のストリップキャスティング法よりも合金溶湯における凝固核生成数を減ずる方法を採用した場合に、デンドライトがほぼ垂直に成長する以外に、ある角度をもって成長し、通常のストリップキャスティング法により成長する結晶粒よりも大きな結晶粒が得られることが確認された。このような凝固核生成数を減ずる方法を採用することにより、従来のR-rich領域の間隔と結晶粒の大きさとの間にある相関関係を打ち崩すことが可能となり、R-rich領域の間隔が小さく、かつ結晶粒が大きい合金組織を有する合金鋳片を得ることができた。そして、このようなR-rich領域の平均間隔が小さく、かつ平均結晶粒径が大きい従来にない希土類焼結磁石用合金鋳片を用いて作製した磁石が、残留磁束密度及び保磁力が向上することを見出した。
前記参考合金鋳片は、本発明の合金鋳片と同様な組成を有し、その例は上述のとおりである。
参考合金鋳片は、R-rich領域と、2-14-1相からなるデンドライトとを含む合金組織を有する。
後述する参考例3及び参考比較例1において得られた希土類焼結磁石用合金鋳片の組織を光学顕微鏡により観察した合金組織写真をそれぞれ図12及び図14に、偏光顕微鏡により観察した合金組織写真をそれぞれ図13及び図15に示す。図12及び図14においてR-rich領域は、線状もしく島状に黒く見える部分である。また、図13及び図15で白く見える部分が2-14-1相からなるデンドライトである。このようにR-rich領域は、2-14-1相からなるデンドライトを取り込むように存在する。図13及び図15において結晶粒は、同じ色調で見える部分である。近接するデンドライトの結晶方位がほぼ同一に揃っている場合、その部分が上述の結晶粒として観察される。各図中のスケールの最小目盛は共に10μmである。
前記R-rich領域の平均間隔rは、上述した方法と同様に求めることができる。
従って、前記合金組織における結晶粒は、大きい方が好ましく、通常、該結晶粒の平均結晶粒径は50μm以上、特に70μm以上、更には90μm以上が好ましい。該平均結晶粒径が300μm以上では、平均間隔rの条件が充足できなくなる可能性があり、また、粉砕性に問題を生じる粗大なα−Feが生成する場合がある。
参考合金鋳片においては、前記合金組織における平均結晶粒径が、前記R-rich領域の平均間隔rとの関係において、(6r+2.74x−65)μmより大きく、且つ40μm以上であることが必要である。該平均結晶粒径及び前記R-rich領域の平均間隔rの両者を制御することにより、焼結性、保磁力を損なうことなく、配向性を極限まで高めた焼結磁石を得ることができ、該平均結晶粒径が(6r+2.74x−65)μm以下、あるいは40μm未満の場合には、上記所望の効果が得られない。
参照合金組織における平均結晶粒径は、上述した方法と同様に求めることができる。
2-14-1相の容積率は、上述と同様な方法で求めることができる。
前記合金溶湯は、例えば、原料を真空雰囲気又は不活性ガス雰囲気下、高周波溶融法により溶融する方法等により行うことができる。前記冷却ロールとしては、単ロール、双ロール等が用いられる。
前記冷却速度の制御は、溶湯の温度、供給量、ロールの熱伝導度、抜熱能力、周速度等を制御する公知の方法に準じて行われる。
合金溶湯をロールに供給してロールから合金鋳片が剥離するまでの冷却速度は、通常3×102〜1×105℃/秒、好ましくは4×102〜1×103℃/秒に制御して行うことができる。冷却速度が1×105℃/秒より大きくなるとR-rich領域の平均間隔が1μmより小さくなり、チル晶が多く析出するので好ましくない。また、冷却速度が3×102℃/秒より小さくなるとR-rich領域の平均間隔が10μmより大きくなり、α−Fe相が多く析出し、場合によっては粗大なα−Fe相が析出するので好ましくない。
タンディッシュの配置は、溶湯が単ロールとタンディッシュとの間に十分な合金溶湯プールを形成するように回転軸より上方、単ロールの頂上部より下方の高さで、かつ回転方向に対して回転軸より後方の位置とすることが好ましい。このようにして合金溶湯プールを形成すると、凝固核生成数が安定する。また、タンディッシュはノズル形式でなく、溶湯の上部が開放された形式が好ましい。溶湯の流速を制御又は整流等のために堰を配置することができるが必要以上に配置すると凝固核生成数を増やしてしまう場合がある。
タンディッシュの材質は、アルミナ、シリカ、ジルコニア、マグネシア、イットリア、ムライト、炭化珪素、窒化珪素、窒化アルミニウム、硼化チタン、サイアロン、チタン酸アルミニウム等のセラミックス、その他黒鉛等を含有する耐火物が好ましく使用される。また、タングステン、レニウム、炭化チタン、炭化タンタル、炭化ハフニウム、炭化タングステン等の耐熱性の高い被覆を形成することも好ましく行われる。
ロール表面の粗さは、算術平均粗さ(Ra)で3μm未満が好ましく、さらに好ましくは2μm未満とする。該算術平均粗さ(Ra)は、株式会社ミツトヨ社製のSURFTEST SV-400を用い、1測定区間8mm、計3区間測定できる。
このようにすると凝固核生成の起点となる凸部が少ないため、核生成数を少なくすることができる。
この方法とは逆に表面に略一定間隔に凝固核生成の起点となる凸部を形成しても良い。
凸部は、例えば、旋盤等の機械加工や、レーザーを用いるディンプル加工によりロール表面に形成することができる。このようにすると、凹部は雰囲気ガスを貯留し、凸部を起点として凝固核を生成させ、凝固核生成数は一定で、略等間隔に生成させることができる。また、ロール内部の水冷構造を工夫することにより、ロール表面に冷点を分布させ、凝固核生成の起点とすることもできる。
合金溶湯の注湯法は、該溶湯がなるべく脈動しないように一定速度で、一定量を注湯できる方法が好ましい。
合金溶解時に発生する希土類酸化物の除去を行うことも凝固核生成数の制御に有効である。希土類金属は反応性が高いため、原料中に含有される酸素、又は雰囲気中の酸素と反応し、酸化物を生成する。生成した希土類の酸化物は凝固核生成の起点となる。具体的には、溶解炉中で合金が完全に溶解した状態で、しばらく静置して希土類の酸化物をスラグとして浮上させた後、除去する方法が好ましい。
粉砕、成形、焼結、時効処理は、上述と同様な方法により行うことができる。
合金組成が、ネオジム31.5質量%、ボロン1.04質量%、及び残部鉄になるように、ネオジムメタル、フェロボロン及び鉄を配合し、アルゴンガス雰囲気中、高周波溶解炉で溶解した。合金が完全に溶解した状態で、しばらく静置することによりネオジムの酸化物をスラグとして浮上させた後、スラグを除去した。
次いで、得られた温度1500℃の合金溶湯をストリップキャスティング法により単ロールに供給し、表1に示す周速で冷却して厚さ0.2mmの合金鋳片を作製した。この際、耐火物セラミックス製のタンディッシュを用いた。一方、鉄製のロールは、Raを1μmに調整したものを使用した。
得られた合金鋳片の平均結晶粒径、R-rich領域の平均間隔r及びチル晶と微細組織の合計容積割合を計測した。結果を表1に示す。
次に、得られた合金鋳片に水素を吸蔵、放出させて粗粉砕し、その後ジェットミルで微粉砕し、平均粒子径約5μmの粉末粒子を得た。この粉末粒子を15kOeの磁場中にて2.5ton/cm2の圧力で成形した。得られた成形体を真空中1050℃で2時間焼結した後、時効処理を570℃で1時間行なった。得られた焼結磁石の磁気特性(残留磁束密度、保磁力、最大エネルギー積)を表1に示す。
合金鋳片の厚さを0.3mm、0.4mmとするように行った以外は参考例1と同様にして合金鋳片、焼結磁石を作製し、各測定を行なった。結果を表1に示す。また、参考例3で得られた合金鋳片の冷却ロールから離脱して移動する方向に垂直な厚みの断面(ロール回転方向に対するC断面)を光学顕微鏡及び偏光顕微鏡により観察した合金組織写真をそれぞれ図12及び図13に示す。
合金を溶解した後、静置、スラグの除去及びタンディッシュの予熱を行わず、Raが7μmの銅製のロールを使用し、合金鋳片の厚さを0.2mm、0.7mmとするように行った以外は参考例1と同様にして合金鋳片、焼結磁石を作製し、各測定を行なった。結果を表1に示す。また、得られた参考比較例1の合金鋳片の冷却ロールから離脱して移動する方向に垂直な厚みの断面(ロール回転方向に対するC断面)を光学顕微鏡及び偏光顕微鏡により観察した合金組織写真をそれぞれ図14及び図15に示す。
参考例1で調製した合金溶湯を、ブックモールドに注湯し、10mm厚の板状インゴットを調製した。得られた合金の組織観察を行ったところ、鋳型接触面より粗大なα−Feの析出が見られた。α−Feは磁気特性に劣悪な影響を及ぼすと考えられるので、この合金を使用した磁石の作製は行わなかった。得られた合金について参考例1と同様な測定を行った。結果を表1に示す。
実施例1
合金組成が、ネオジム31.5質量%、ボロン1.0質量%及び残部鉄になるように、ネオジムメタル、フェロボロン及び鉄を配合し、アルゴンガス雰囲気中、高周波溶解炉で溶解した。
次いで、得られた温度1500℃の合金溶湯をストリップキャスティング法によりタンディッシュを介して単ロールに供給し、周速0.8m/secで冷却凝固して、厚さ0.3〜0.4mmの合金鋳片を作製した。冷却ロール表面には、図2に示すような断面形状を有する突起部である凝固核生成部と凹部である凝固核生成抑制部が、ロールの回転方向に均一に連続的に線状に形成した、図4に示す表面パターンを有する純銅製の冷却ロールを使用した。断面の山形頂上部が線状の凝固核生成部となり、谷部には雰囲気のアルゴンガスが内包され線状の凝固核生成抑制部となる。頂上部の間隔、即ち、凹部の線幅は105μmである。凹部の突起部頂上を基準とした深さは200μmである。また、凝固核生成部の山形頂上部の線幅は5μm以下である。
次に、得られた合金鋳片に水素を吸蔵、放出させて粗粉砕し、その後ジェットミルで微粉砕し、平均粒子径約5μmの粉末粒子を得た。この粉末粒子を15kOeの磁場中にて2.5ton/cm2の圧力で成形した。得られた成形体を真空中1050℃で2時間焼結した後、時効処理を570℃で1時間行なった。
得られた合金鋳片のR-rich領域の平均間隔、平均結晶粒径、2-14-1相からなるデンドライトの容積割合、チル晶の容積割合、得られた焼結磁石の残留磁束密度、保磁力、最大エネルギー積、使用した冷却ロールの特徴、凝固核生成抑制部の幅を表2に示す。得られた合金鋳片の冷却ロールから離脱して移動する方向に垂直な厚みの断面(ロール回転方向に対するC断面)を研磨後、光学顕微鏡及び偏光顕微鏡により組織観察した合金組織写真をそれぞれ図8及び図9に示す。
冷却ロールを表2に示す冷却ロールに変更した以外は実施例1と同様にして合金鋳片、焼結磁石を作製し、各測定を行なった。結果を表2に示す。
冷却ロール表面の形状は実施例1と同様であるが、凝固核生成部が純銅製で、凝固核生成抑制部を、炭化タングステンとニッケルの複合材(67W/mK)を溶射することで形成した冷却ロールを使用した以外は、実施例1と同様にして合金鋳片、焼結磁石を作製し、各測定を行なった。その結果を表2に示す。
純銅の冷却ロールに回転方向に対し45°の角度をなす連続した線状の突起部である凝固核生成部と、線状の凹部である凝固核生成抑制部をバイトにより溝を彫ることにより形成した。突起部の間隔は300μm、凹部の突起部頂上を基準とした深さは150μmであった。
次いで、上述の溝と同様な間隔、深さで、回転方向に対して−45°の角度(上述の溝と直行する方向)で溝を形成した。その結果、図7に示す凝固核生成部と凝固核生成抑制部の表面パターンを有する冷却ロールを作製した。この際、凝固核生成部のドットの最短部長さは、30μmであった。冷却ロールをこの冷却ロールに変更した以外は、実施例1と同様に合金鋳片、焼結磁石を調製し、各測定を行なった。結果を表2に示す。
冷却ロール表面を#150の研磨紙により、研磨した純銅製の冷却ロールを使用した以外は実施例1と同様にして合金鋳片、焼結磁石を作製し、各測定を行なった。結果を表2に示す。冷却ロールの十点平均粗さは8.6μmであった。また、得られた合金鋳片の冷却ロールから離脱して移動する方向に垂直な厚みの断面(ロール回転方向に対するC断面)を光学顕微鏡及び偏光顕微鏡により観察した合金組織写真をそれぞれ図10、図11に示す。
冷却ロールを表2に示す冷却ロールに変更した以外は実施例1と同様にして合金鋳片、焼結磁石を作製し、各測定を行なった。結果を表2に示す。
Claims (13)
- R-rich領域と、R2Fe14B相からなるデンドライトとを含み、該デンドライトの割合が80容量%以上である合金組織を有する希土類焼結磁石用合金鋳片の製造法であって、
イットリウムを含む希土類金属元素からなる群より選択された少なくとも1種からなるR、ボロン及び鉄を含む残部Mからなる組成の合金溶湯を準備する工程(A)と、
ロール表面に、R2Fe14B相からなるデンドライト及びチル晶の生成を抑制する線状の凝固核生成抑制部と、前記デンドライトを生成させる凝固核生成部とを各々複数有し、且つ前記凝固核生成抑制部の線幅が100μmより大きい領域を有する冷却ロールに、工程(A)で準備した合金溶湯を供給して冷却凝固させる工程(B)とを含む希土類焼結磁石用合金鋳片の製造法。 - 前記凝固核生成部が線状であり、且つ該線幅が30μm以下である請求項1の製造法。
- 前記各々の線状の凝固核生成抑制部が交差部を有し、前記凝固核生成部が、前記凝固核生成抑制部の各交差部間の領域に、ロール表面全体にドット状となるように形成されており、該ドットの最短部の長さが50μm以下である請求項1の製造法。
- 前記凝固核生成部が、銅、鉄、モリブデン、タングステン、ニッケルの純金属又はこれらを含有する合金により形成されている請求項1の製造法。
- 前記凝固核生成抑制部が、前記凝固核生成部の熱伝導係数よりも20W/mK以上低い材料により形成されている請求項1の製造法。
- 前記凝固核生成部が線状又はドット状の凸部であり、前記凝固核生成抑制部が前記凸部である凝固核生成部間に形成された線状の凹部であり、且つ前記凹部の深さが、前記凸部の頂点を基準にして50μmより深い請求項1の製造法。
- 工程(B)において、合金溶湯を前記凸部に接触させ、前記凹部の少なくとも底部に接触させないで冷却凝固させる請求項6の製造法。
- 工程(B)において、不活性ガス雰囲気下、得られる合金鋳片の厚さが0.05〜2mmとなるように冷却凝固させる請求項7の製造法。
- 請求項1の製造法により得られる合金鋳片であって、イットリウムを含む希土類金属元素からなる群より選択された少なくとも1種からなるR、ボロン及び鉄を含む残部Mを含み、R-rich領域と、R2Fe14B相からなるデンドライトとを含み、該デンドライトの割合が80容量%以上、チル晶の割合が1容量%以下である合金組織を含み、且つ合金組織におけるR-rich領域と、R2Fe14B相からなるデンドライトとを含む結晶粒の平均結晶粒径が40μm以上である希土類焼結磁石用合金鋳片。
- 前記R-rich領域の平均間隔が1〜20μmである請求項9の希土類焼結磁石用合金鋳片。
- 前記R-rich領域の平均間隔rが1〜10μm、前記合金組織におけるR-rich領域と、R2Fe14B相からなるデンドライトとを含む結晶粒の平均結晶粒径が、(6r+2.74x−65)μmより大きい(rはR-rich領域の平均間隔、xは前記Rの質量%を示す)請求項9の希土類焼結磁石用合金鋳片。
- 前記合金組織中のα−Fe相の含有割合が5容量%以下である請求項9の希土類焼結磁石用合金鋳片。
- 請求項9の希土類焼結磁石用合金鋳片を含む原料合金鋳片を、粉砕、成形、焼結、時効処理して得られた希土類焼結磁石。
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