JPS649573B2 - - Google Patents
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- JPS649573B2 JPS649573B2 JP55183836A JP18383680A JPS649573B2 JP S649573 B2 JPS649573 B2 JP S649573B2 JP 55183836 A JP55183836 A JP 55183836A JP 18383680 A JP18383680 A JP 18383680A JP S649573 B2 JPS649573 B2 JP S649573B2
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- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 4
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/272—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration for following a reaction, e.g. for determining photometrically a reaction rate (photometric cinetic analysis)
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/21—Polarisation-affecting properties
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6445—Measuring fluorescence polarisation
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- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、生体試料を反応させ、その測定を行
う反応測定方法に関する。
う反応測定方法に関する。
生体試料の反応において、測定時間まで直接測
定出来ない場合、例えば、反応を停止させるため
に、試料を測光部より取り出さねばならぬ場合、
二つの現象を同一試料にて、同時に測定せねばな
らぬ場合等がある。これらの測定においては、反
応の一部を測定し、これらの値より、近似直線を
作成したのち、希望測定時間での値を算出するの
が一般的であつた。
定出来ない場合、例えば、反応を停止させるため
に、試料を測光部より取り出さねばならぬ場合、
二つの現象を同一試料にて、同時に測定せねばな
らぬ場合等がある。これらの測定においては、反
応の一部を測定し、これらの値より、近似直線を
作成したのち、希望測定時間での値を算出するの
が一般的であつた。
リンパ球を始めとする生体試料には、それ自身
で、懸濁液になつているものや、試薬等との反応
で、凝集し、懸濁液になる。これらの試料の分光
測光では、反応それ自身が曲線的である場合と、
懸濁液の沈降による散乱の影響で反応が見かけ
上、曲線的になる場合がある。
で、懸濁液になつているものや、試薬等との反応
で、凝集し、懸濁液になる。これらの試料の分光
測光では、反応それ自身が曲線的である場合と、
懸濁液の沈降による散乱の影響で反応が見かけ
上、曲線的になる場合がある。
これらの場合、濁りによる散乱の影響を取り除
ける場合は出来るだけ取り除き、直線近似を行
い、この近似直線より値を読み取つていた。
ける場合は出来るだけ取り除き、直線近似を行
い、この近似直線より値を読み取つていた。
直線近似では、外的要因による測定信号の変化
例えば、光源のフラツキや凝集等試料の変化によ
る測定光のフラツキによる出力信号の変化に対し
ては、応答は鈍感に働き、影響をうけにくく、デ
ータの再現性が良好という長所は有するが、曲線
的反応に対しては、測定誤差が大となる欠点を有
する。
例えば、光源のフラツキや凝集等試料の変化によ
る測定光のフラツキによる出力信号の変化に対し
ては、応答は鈍感に働き、影響をうけにくく、デ
ータの再現性が良好という長所は有するが、曲線
的反応に対しては、測定誤差が大となる欠点を有
する。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、精度の良い測定が可能な反応
測定方法を提供するにある。
あり、その目的は、精度の良い測定が可能な反応
測定方法を提供するにある。
本発明は、直線近似の欠点である曲線的反応で
の測定誤差の発生を、曲線近似にて行い、その誤
差を減少させるとともに、曲線近似の欠点である
外的要因による信号変化に敏感に応答し、データ
の再現性が悪いという欠点をおぎなうために同時
に、直線近似による値も求め、両信号の比較によ
り、測定値の信頼性を向上させるものである。
の測定誤差の発生を、曲線近似にて行い、その誤
差を減少させるとともに、曲線近似の欠点である
外的要因による信号変化に敏感に応答し、データ
の再現性が悪いという欠点をおぎなうために同時
に、直線近似による値も求め、両信号の比較によ
り、測定値の信頼性を向上させるものである。
本発明の一実施例について、第1図および第2
図を用いて説明する。
図を用いて説明する。
光源1からの白色光は励起光側分光器2により
単色光にされ、励起側偏光子3で偏光され、試料
セル4を照射すると、試料は螢光を発する。螢光
側偏光子5を通過し、螢向側分光器6に入射した
螢光は、単色光にされ、求める波長の光のみ検知
器7に到達する。検知器7により光信号から電気
信号に変換され、前置増巾器8を経て、A−D変
換器9にて、デイジタル信号に変換される。
単色光にされ、励起側偏光子3で偏光され、試料
セル4を照射すると、試料は螢光を発する。螢光
側偏光子5を通過し、螢向側分光器6に入射した
螢光は、単色光にされ、求める波長の光のみ検知
器7に到達する。検知器7により光信号から電気
信号に変換され、前置増巾器8を経て、A−D変
換器9にて、デイジタル信号に変換される。
試料を試料室にセツトし、オペレーシヨンスイ
ツチをオンにすると、コントローラ10から、パ
ルスモータ11への指令により、励起側偏光子3
は、垂直成分の光のみ、通過させるように、セツ
トされる。つぎにコントローラ10からの指令に
より、パルスモータ12が働き、螢光側偏光子5
が駆動される。この駆動は、一定時間間隔にて、
90度回転が繰り返され、励起された試料から発す
る螢光は、偏光励起光に垂直な成分と、平行な成
分に分けられ第2図に示すような時間とともに変
化する反応信号が得られる。A−D変換後、メモ
リー13に、垂直成分I ⊥(t1)、I ⊥(t2)…
…および平行成分I (t1)、I (t2)……と
して読み込まれる。一定時間測定されると、コン
トローラ10の指令により、自動過機構16に
より自動過が行われ、過液が再び測定セル4
に注入される。測定開始から過中間点までの時
間Tが、算出され、メモリー13に、読み込まれ
る。
ツチをオンにすると、コントローラ10から、パ
ルスモータ11への指令により、励起側偏光子3
は、垂直成分の光のみ、通過させるように、セツ
トされる。つぎにコントローラ10からの指令に
より、パルスモータ12が働き、螢光側偏光子5
が駆動される。この駆動は、一定時間間隔にて、
90度回転が繰り返され、励起された試料から発す
る螢光は、偏光励起光に垂直な成分と、平行な成
分に分けられ第2図に示すような時間とともに変
化する反応信号が得られる。A−D変換後、メモ
リー13に、垂直成分I ⊥(t1)、I ⊥(t2)…
…および平行成分I (t1)、I (t2)……と
して読み込まれる。一定時間測定されると、コン
トローラ10の指令により、自動過機構16に
より自動過が行われ、過液が再び測定セル4
に注入される。測定開始から過中間点までの時
間Tが、算出され、メモリー13に、読み込まれ
る。
過液の測定が上と同様行われ、得られた信号
I ⊥(F)、I (F)がメモリー13に読み込まれる。
コントローラ10の指令により、励起側偏光子3
が90度回転(水平方向に)され、上と同様に測定
が行われ、得られた信号i ⊥、i が、メモリー
13に読み込まれる。上記、読み込まれた測定値
I ⊥(t1)、I (t1)、I ⊥(t2)、I (t2)、
……は、垂直、平行成分が、独立に演算される。
演算部14において最小二乗法を用い、近似直線
I1 ⊥(t)、I1 (t)と近似二次曲線I2 ⊥(t)、
I2 (t)が作成される。反応停止(過中間
点)時刻Tでの値が上記2式に代入され、反応停
止時点Tでの値I1 ⊥(T)、I1 (T)、I2 ⊥
(T)、I2 (T)として、算出される。さらに演
算部14では以下に示す演算が行われる。
I ⊥(F)、I (F)がメモリー13に読み込まれる。
コントローラ10の指令により、励起側偏光子3
が90度回転(水平方向に)され、上と同様に測定
が行われ、得られた信号i ⊥、i が、メモリー
13に読み込まれる。上記、読み込まれた測定値
I ⊥(t1)、I (t1)、I ⊥(t2)、I (t2)、
……は、垂直、平行成分が、独立に演算される。
演算部14において最小二乗法を用い、近似直線
I1 ⊥(t)、I1 (t)と近似二次曲線I2 ⊥(t)、
I2 (t)が作成される。反応停止(過中間
点)時刻Tでの値が上記2式に代入され、反応停
止時点Tでの値I1 ⊥(T)、I1 (T)、I2 ⊥
(T)、I2 (T)として、算出される。さらに演
算部14では以下に示す演算が行われる。
G=i
⊥÷i
I1
=I1
(T)−I
(F)
I1
⊥=I1
⊥(T)−I
⊥(F)
I2
=I2
(T)−I
(F)
I2
⊥=I2
⊥(T)−I
⊥(F)
P1=I1
−GI1
⊥/I1
+GI1
⊥P2=I2
−GI2
⊥/I2
+GI2
⊥
以上により、近似直線による螢光偏光解消度
P1と、近似二次曲線による解消度P2が同時に、
得られる。結果はグラフイツクプリンター15に
印字される。
P1と、近似二次曲線による解消度P2が同時に、
得られる。結果はグラフイツクプリンター15に
印字される。
上記実施例のフローチヤートを第3図、第4図
に示す。
に示す。
血中より取り出したリンパ球に、試薬を添加2
0、混合し、測定試料室へ、注入する22。励起
光のうち垂直成分のみとり出し、試料を励起す
る。判断24において偏光子の方向がチエツクさ
れる。励起側偏光子が水平のときは、90度回転さ
れ、垂直方向にセツトされる(制御26)。測定
開始とともに、螢光側偏光子は、励起偏光子に対
し、垂直及び平行成分を繰り返し入手するために
90度回転が繰り返され(制御28)、同期した入
力信号I (t1)、I ⊥(t1)、I (t2)、I ⊥
(t2)……I (to)、I ⊥(to)が読みとられ、
メモリーに記憶される。一定時間T経過後、試料
は自動過され(制御30)、処理32において
反応終了時間が測定されるとこの時間Tがメモリ
ーに記憶されるとともに、過液は試料室にもど
される。再び制御34において測定が行われ、螢
光側偏光子の回転に同期した測定値I (F)、I ⊥
(F)が遊出したバツクグランドとして、メモリーに
記憶される。制御36において励起側偏光子が90
度回転され、再び測定が行われ、制御38の螢光
側偏光子に同期した測定値i 、i ⊥がメモリー
に記憶される。測定終了後ただちにメモリーに記
憶された値より、処理40において演算が開始さ
れる。測定値I (t1)、I (t2)、I (t3)
……、I ⊥(t1)、I ⊥(t2)、I ⊥(t3)……よ
り、近似直線I1(t)=at+bおよび近似曲線I2
(t)=at2+bt+cが最小二乗法により、算出さ
れ、I1 (t)、I1 ⊥(t)、I2 (t)、I2 ⊥
(t)が得られる。記憶された反応終了時間Tに
より、反応終了値I1 (T)、I1 ⊥(T)、I2
(T)、I2 ⊥(T)が得られる(処理42)。さら
に記憶されたバツクグランド値I (F)、I ⊥(F)よ
り演算が行われ、バツクグランドを除去した反応
値I1 、I1 ⊥、I2 、I2 ⊥が求められる(処理4
4)。記憶されたi 、i ⊥より装置定数Gが計
算され(処理46)、先に求めた値とともに螢光
偏光解消度P1,P2が算出される(処理48)。得
られたP1,P2値を比較することにより(処理5
0)、データの信頼性を確認する。
0、混合し、測定試料室へ、注入する22。励起
光のうち垂直成分のみとり出し、試料を励起す
る。判断24において偏光子の方向がチエツクさ
れる。励起側偏光子が水平のときは、90度回転さ
れ、垂直方向にセツトされる(制御26)。測定
開始とともに、螢光側偏光子は、励起偏光子に対
し、垂直及び平行成分を繰り返し入手するために
90度回転が繰り返され(制御28)、同期した入
力信号I (t1)、I ⊥(t1)、I (t2)、I ⊥
(t2)……I (to)、I ⊥(to)が読みとられ、
メモリーに記憶される。一定時間T経過後、試料
は自動過され(制御30)、処理32において
反応終了時間が測定されるとこの時間Tがメモリ
ーに記憶されるとともに、過液は試料室にもど
される。再び制御34において測定が行われ、螢
光側偏光子の回転に同期した測定値I (F)、I ⊥
(F)が遊出したバツクグランドとして、メモリーに
記憶される。制御36において励起側偏光子が90
度回転され、再び測定が行われ、制御38の螢光
側偏光子に同期した測定値i 、i ⊥がメモリー
に記憶される。測定終了後ただちにメモリーに記
憶された値より、処理40において演算が開始さ
れる。測定値I (t1)、I (t2)、I (t3)
……、I ⊥(t1)、I ⊥(t2)、I ⊥(t3)……よ
り、近似直線I1(t)=at+bおよび近似曲線I2
(t)=at2+bt+cが最小二乗法により、算出さ
れ、I1 (t)、I1 ⊥(t)、I2 (t)、I2 ⊥
(t)が得られる。記憶された反応終了時間Tに
より、反応終了値I1 (T)、I1 ⊥(T)、I2
(T)、I2 ⊥(T)が得られる(処理42)。さら
に記憶されたバツクグランド値I (F)、I ⊥(F)よ
り演算が行われ、バツクグランドを除去した反応
値I1 、I1 ⊥、I2 、I2 ⊥が求められる(処理4
4)。記憶されたi 、i ⊥より装置定数Gが計
算され(処理46)、先に求めた値とともに螢光
偏光解消度P1,P2が算出される(処理48)。得
られたP1,P2値を比較することにより(処理5
0)、データの信頼性を確認する。
第5図は正常な反応を示す測定例である。反応
は直線的でなく、多少弓形になる。この時の測定
値は下記の通りになる。
は直線的でなく、多少弓形になる。この時の測定
値は下記の通りになる。
I1
=50.4 I1
⊥=61.0
I2
=52.5 I2
⊥=62.3
I
(F)=21.1 I
⊥(F)=30.0
i
=42.0 i
⊥=28.6
G=0.682
螢光偏光解消度P1=0.162、P2=0.175と差を生
じる。曲線反応するものを直線近似では、十分で
なく、曲線による近似が必要になる。しかし、試
料状況により、例えば凝集による、測定値のバラ
ツキを生じる場合(第6図のa部)直線近似で
は、その影響を受けにくいが、曲線近似では、敏
感にその影響を受け、測定値のバラツキの原因に
なる。測定値は、下記のごとくである。
じる。曲線反応するものを直線近似では、十分で
なく、曲線による近似が必要になる。しかし、試
料状況により、例えば凝集による、測定値のバラ
ツキを生じる場合(第6図のa部)直線近似で
は、その影響を受けにくいが、曲線近似では、敏
感にその影響を受け、測定値のバラツキの原因に
なる。測定値は、下記のごとくである。
I1
=57.8、I1
⊥=73.9
I2
=57.5、I2
⊥=76.1
I
(F)=31.8、I
⊥(F)=45.0
G=0.682
より、螢光偏光解消度はP1=0.138、P2=0.096と
なり、近似二次曲線の値が、直線近似の値より大
きくずれることになり、P2の値が不適であるこ
とがわかる。このようにして直線近似及び曲線近
似での各々の欠点を、両者P1,P2を同時に求め
ることにより、その欠点を、補い合う。そして
P1とP2の比較することにより、測定値の信頼性
の向上が図れる。
なり、近似二次曲線の値が、直線近似の値より大
きくずれることになり、P2の値が不適であるこ
とがわかる。このようにして直線近似及び曲線近
似での各々の欠点を、両者P1,P2を同時に求め
ることにより、その欠点を、補い合う。そして
P1とP2の比較することにより、測定値の信頼性
の向上が図れる。
以上のように本発明によれば、反応測定方法に
よる精度のよい測定が可能となる。
よる精度のよい測定が可能となる。
第1図は本発明の一実施例のブロツク図であ
り、第2図は本発明の一実施例の反応現象の説明
図であり、第3図および第4図は本発明の一実施
例のフローチヤートであり、第5図および第6図
は本発明の一実施例における特異な反応現象の説
明図である。 1……光源、4……試料セル、7……検知器、
13……メモリ、14……演算部。
り、第2図は本発明の一実施例の反応現象の説明
図であり、第3図および第4図は本発明の一実施
例のフローチヤートであり、第5図および第6図
は本発明の一実施例における特異な反応現象の説
明図である。 1……光源、4……試料セル、7……検知器、
13……メモリ、14……演算部。
Claims (1)
- 1 時間的変化する物質の反応の一部を測定し、
その測定値より反応の近似直線および近似曲線を
求め、この近似直線および近似曲線のそれぞれに
基づいて一定時間後の値を得て、両者の値を比較
して測定値の異常の有無を判断することを特徴と
する反応測定方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55183836A JPS57108643A (en) | 1980-12-26 | 1980-12-26 | Method for measuring reaction |
US06/333,413 US4429230A (en) | 1980-12-26 | 1981-12-22 | Fluorescence polarization analyzer |
EP81306039A EP0055914B1 (en) | 1980-12-26 | 1981-12-22 | Fluorescence polarization analyzer |
DE8181306039T DE3176092D1 (en) | 1980-12-26 | 1981-12-22 | Fluorescence polarization analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55183836A JPS57108643A (en) | 1980-12-26 | 1980-12-26 | Method for measuring reaction |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS57108643A JPS57108643A (en) | 1982-07-06 |
JPS649573B2 true JPS649573B2 (ja) | 1989-02-17 |
Family
ID=16142683
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP55183836A Granted JPS57108643A (en) | 1980-12-26 | 1980-12-26 | Method for measuring reaction |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4429230A (ja) |
EP (1) | EP0055914B1 (ja) |
JP (1) | JPS57108643A (ja) |
DE (1) | DE3176092D1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6125030A (ja) * | 1984-07-13 | 1986-02-03 | Hitachi Ltd | 螢光偏光測定装置 |
JPH0650315B2 (ja) * | 1985-11-08 | 1994-06-29 | 株式会社日立製作所 | 免疫分析用試薬および免疫分析方法 |
US5166052A (en) * | 1986-05-27 | 1992-11-24 | Boris Cercek | Method for measuring polarization of bathochromically shifted fluorescence |
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