JPS5847238A - 螢光偏光測定装置 - Google Patents

螢光偏光測定装置

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JPS5847238A
JPS5847238A JP56144712A JP14471281A JPS5847238A JP S5847238 A JPS5847238 A JP S5847238A JP 56144712 A JP56144712 A JP 56144712A JP 14471281 A JP14471281 A JP 14471281A JP S5847238 A JPS5847238 A JP S5847238A
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高畑 藤也
Tadashi Motokawa
本川 忠
Yoshio Maeda
芳夫 前田
Tetsuya Nitta
哲也 新田
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、螢光偏光測定装置に係り、特に反応の経時変
化を測定し、該測定値より一定時間後の値を外挿するの
に好適な機能ヲ有する装置に関する。
経時的に変化する反応においては、目的とする測定時間
において直接測定値が得ら扛ない場合がある。
例えば、反応停止面前の測定値を求めたいが、反応を停
止させるために試料を測定部から取り出さなけ扛ばなら
ない場合、同一試料にて、二つ以上の現象全同一時刻に
測定しなけ扛ばならない場合、反応液中のある成分を濾
過するが、濾過の中間時間における測定値全必要とする
場合等がある。
こnらの測定においては、ある限らnた時間の測定値か
ら近似を行い、目的とする測定時間での値を算出するこ
とが一般的に行わ扛ている。
特に本発明に係る螢光偏光測定の場合には、同一試料に
対して垂直偏光成分と水平偏光成分を別別に測定しなけ
ればならず、目的とする時間に両者の成分を同時に測定
することはできない。従って測定値による近似(外挿)
を行い目的とする時間での値を求めなけ扛ばならない。
従来一般的に行わtていた方法は、アナログ記録計に記
録さ′nたデータに直線定規を外挿し、直線近似を行っ
ていた。ところが物質の経時変化特に生体関連物質の変
化は単一の物質の直線的な変化よりも、複数の物質の総
合さ扛り変化が生じるため、観測さ扛る反応過程は、曲
線的に反応が進行する場合が多い。
曲線的に反応が進行している場合に、直線近似を行うこ
とは、誤差の原因となる。また曲線定規全使用したとし
ても、反応曲線の曲率と定規を合致させることは、非常
に困難である。また測定者がマニュアルに近似を行うこ
とは、個人者が伴い近似値のバラツキが生じ不正確であ
る。
本発明は」二連した従来技術のもつ欠点全解決し反応に
即した近似を行い、かつ近似によって得ら扛た値から、
螢光偏光測定における偏光度を求めようとするものであ
る。
本発明の目的は、生体関連物質の反応過程の近似全効果
的に行うことにより、該近似によって得らnた外挿値か
ら、誤差を僅少にした螢光偏光度を得る装置を提供する
にある。
本発明は、生体関連物質の反応が直線的または曲線的に
進行することを実験的に確認し、この反応に即した近似
を行い、かつ曲線近似のみの場合曲率が強調さ扛誤差が
拡大さ扛ること全、解消するために、直線近似と曲線近
似の組み合わせを行うようにしたことにある。こうした
近似により、目的とする螢光偏光度を求める。
第1図に本発明による実施例の機能系統図を示す。
光源1から発した白色光は励起側分光器2によって、単
色光に分光されたのち励起側偏光子3で偏光さ扛、測定
キュベツト4に照射さnる。測定キュベツト内の試料は
、励起さnて螢光を発する。
該螢光は、螢光側偏光子7を通過し螢光側分光器8に導
びかれる。螢光側分光器に入射した光は、指定の螢光波
長の単色光に分光さ扛、該単色光のみ光検知器9に到達
する。
試料を測定キュベツトに入社、該キュベツトを測光位置
にセットし、測定を開始すると制御部12からの制御信
号により、パルスモータ13が動作し、励起側偏光子は
垂直成分の励起光のみ通過させるようにセットされる。
他方、螢光側偏光子は制御部からの指令信号によす、パ
ルスモータ14が動作し、これによって駆動さ扛る。こ
の駆動は、一定時間間隔にて90゜回転が、間欠的に繰
り返し行われる。
すなわち励起された試料から発した螢光は、偏光励起光
に対して、直交する成分の光と、平行な成分の光に分別
さ扛て、光検知器に到達する。
光検知器で検知さ、t″Lり光信号は、電気信号に変換
さ扛、前置増幅器10を経て、A/D変換器11により
ディジタル信号に変換さ扛る。
垂面な成分の光及び平行な成分の光は、そ扛ぞnA/D
変換器により、ディジタル信号に変換さ扛り後、メモリ
一部15に記憶さ牡る。一定時間測定が行われると、制
御部の指令により濾過が行わ扛る。測定キュベツト4に
収容σ扛ていた試t1は、濾過部6を通り、ここで粒子
等の成分はp別さ扛、溶液のみが測定キュベツト5に回
収される。
濾過液が収容さ牡た測光キュベツト2が、前記測光キュ
ベツト1に代って測光位置に移動し、濾過液の螢光強度
の測定が行わ扛る。
ここで、濾過を行っている時間の中間の時刻(第2図、
第3図に示すTf)−jでは反応が進行していたと考え
る。しかしながら時刻Tfにおいて、実際に測定を行う
ことは不可能である。従って本発明請求範囲に述べる通
り、ある限られた時間内の測定値に基づいて近似を行い
、時刻Tfに対する外挿全行う。
具体的には、メモリ一部に記憶さf″Lり垂直成分の光
信号のデータ及び平行成分の光信号のデータを用いて、
演算部14により近似式の作成を行う。
本測定における測定例全第2図、第3図に示す。
実線で示したものが、実際に測定さnたデータであり、
点線で示したものが近似式によって得ら扛た直線″1.
たは曲線である。
反応は必ずしもii的に進行する場合だけでなく、曲線
を描く場合が多い。従って本発明においては、垂@成分
、平行成分の両成分ともに、直線近似を行う場合と曲線
近似を行う場合及び一方の成分は直線近似を行い、他方
の成分は曲線近似を行う三者を実施し、実測に即した近
似を行わせるようにした。特に第3図に示すように、平
行成分の光信号が直線近似にフィツトし、垂直成分の光
信号が曲線近似にフィツトすることは、実測テータとし
て観測さ扛る。こうした実測例において、両成分ともに
直線近似または、曲線近似のみを行うことは、外挿値の
誤差を拡大することになる。
更に本発明においては、下記の演算式により螢光偏光度
二Pの演算を行う。
ここで Iz(Tl:垂直成分のTfにおける近似値■//(n
:平行成分のP「における近似値11(PI:濾過溶液
の垂直成分の螢光偏光強度I77 (F) : 濾過溶
液の平行成分の螢光偏光強度G:励起側偏光子を水平に
した時に得ら扛る装置定数である。
」一式によって求められ、る螢光偏光度二Pは、■↓(
T>及びI//(’I)が誤差をもつ場合は、当然誤差
を生じる。捷だ外挿近似値、■工(V)及びTI(りが
実際の反応から、かけはな′nた値を近似した場合には
、Pの値も実際の反応に即さないものとなる。
本発明における表示部17には、得られた3種類の近似
値及び、各々の螢光偏光度Pが印字さ扛る。
本発明により下記の効果が得ら扛る。
■。従来行わ扛ていた用手法による近似(直線定規によ
る直線外挿)のもつ特長を生かし、かつ曲線金描く反応
曲線を直線近似した場合の誤差を低減し、外挿値の精度
の向上全はかる。
2、@線近似のみによる外挿近似だけでなく、曲線近似
及び、直線近似と曲線近似の組み合わせによる近似を行
うことにより、実際の反応に即応した近似が可能となる
3、いちいち測定者が、手で近似を行う煩雑さが解消さ
牡、測定者による個人差がなくなる。
4、本発明における実施例で述べたように、一方の成分
が直線的に変化し、他方の成分が曲線的に変化する場合
には、本発明は極めて有効である。
5、直線近似1曲線近似及び両者の組み合わせによって
得られた外挿値から、螢光偏光度:Pの値を演算9表示
することにより研究者に1反応の過程を数値的に情報と
して提供することが。
可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例の機能系統図であり、第2
図および第3図は、本発明の一実施例の近似法の説明図
である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、時間的に変化する物質を測光用キュベツトに入れ、
    該キュベツトに偏光した励起光を照射して、前記物質が
    放射する螢光を、平行偏光成分と垂直偏光成分とに分け
    て、白成分の光強度を計測する装置において、白成分の
    ある限られた時間内の測定値より、各々独立に近似直線
    を作成し一定時間後の値を読み出す機能と、白成分のあ
    る限られた時間内の測定値より、各々独立に近似曲線を
    作成し一定時間後の値を読み出す機能と、白成分のある
    限らnた時間内の測定値より、一方の成分においては近
    似直線を作成し、他方の成分においては近似曲線を作成
    し、一定時間後の値を読み出す機能とを備え、求めら′
    nた値から螢光偏光度を求めることを特徴とした螢光偏
    光測定装置。
JP56144712A 1981-09-16 1981-09-16 螢光偏光測定装置 Granted JPS5847238A (ja)

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JPS6218862B2 JPS6218862B2 (ja) 1987-04-24

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55109950A (en) * 1979-02-17 1980-08-23 Japan Spectroscopic Co Measuring instrument for polarized fluorescence

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS55109950A (en) * 1979-02-17 1980-08-23 Japan Spectroscopic Co Measuring instrument for polarized fluorescence

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