JPS6367645B2 - - Google Patents
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- JPS6367645B2 JPS6367645B2 JP56024213A JP2421381A JPS6367645B2 JP S6367645 B2 JPS6367645 B2 JP S6367645B2 JP 56024213 A JP56024213 A JP 56024213A JP 2421381 A JP2421381 A JP 2421381A JP S6367645 B2 JPS6367645 B2 JP S6367645B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/5907—Densitometers
- G01N21/5911—Densitometers of the scanning type
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/90—Plate chromatography, e.g. thin layer or paper chromatography
- G01N30/95—Detectors specially adapted therefor; Signal analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、薄層クロマトグラフイ基板上に展開
した試料スポツト群の光掃引方法、具体的には当
該試料スポツトに対して正しい位置で測定用の光
掃引を自動的に行うために、試料スポツト群を自
動追尾しながら光掃引する方法に関する。
した試料スポツト群の光掃引方法、具体的には当
該試料スポツトに対して正しい位置で測定用の光
掃引を自動的に行うために、試料スポツト群を自
動追尾しながら光掃引する方法に関する。
本出願人は、デンシメトリや分光測定に代り安
易な操作で以つて高精度の定量測定、特に濃度測
定を可能にする方法及びその方法を実施する測定
器具を開発し、これらの発明に関して、既に特許
出願している。その出願番号は特願昭55―082799
号（特開昭57―8436号）と特願昭55―132263号
（特開昭57―57240号）である。
易な操作で以つて高精度の定量測定、特に濃度測
定を可能にする方法及びその方法を実施する測定
器具を開発し、これらの発明に関して、既に特許
出願している。その出願番号は特願昭55―082799
号（特開昭57―8436号）と特願昭55―132263号
（特開昭57―57240号）である。
後者の特許出願に係る発明は要旨次の通りであ
る。
る。
１ 薄層クロマトグラフイ基板それ自体を収容可
能な光―音響セルを有し、その薄層クロマトグ
ラフイ面への照光を入力としてこれによつて生
じる音響を光―音響信号として出力するように
した光―音響ユニツトを用いて、該セルに薄層
クロマトグラフイの生成された基板を収め；適
宜の光をその波長域を変えずに薄層クロマトグ
ラフイ面の所定領域内で局部的に掃引照射し；
得られた光―音響信号の経時強度変化を測定
し；そしてその測定値を用いて薄層クロマトグ
ラフイの顕在或いは潜在スポツト群の成分の定
量を分析する光―音響測定法において、試料液
の基板上の展開方向をＹ軸方向とし、これに直
角な方向をＸ軸方向としたときに、光―音響信
号を発するマークをＹ軸に平行な各試料液展開
線とＸ軸に平行な１つの直線との交点に設定
し、該マークを光が照光したときに発生する光
―音響信号を検出し、該検出情報に基いて該光
を、該マークを始点として、Ｙ軸方向に掃引さ
せることを特徴とする光―音響測定のための光
掃引方法。
能な光―音響セルを有し、その薄層クロマトグ
ラフイ面への照光を入力としてこれによつて生
じる音響を光―音響信号として出力するように
した光―音響ユニツトを用いて、該セルに薄層
クロマトグラフイの生成された基板を収め；適
宜の光をその波長域を変えずに薄層クロマトグ
ラフイ面の所定領域内で局部的に掃引照射し；
得られた光―音響信号の経時強度変化を測定
し；そしてその測定値を用いて薄層クロマトグ
ラフイの顕在或いは潜在スポツト群の成分の定
量を分析する光―音響測定法において、試料液
の基板上の展開方向をＹ軸方向とし、これに直
角な方向をＸ軸方向としたときに、光―音響信
号を発するマークをＹ軸に平行な各試料液展開
線とＸ軸に平行な１つの直線との交点に設定
し、該マークを光が照光したときに発生する光
―音響信号を検出し、該検出情報に基いて該光
を、該マークを始点として、Ｙ軸方向に掃引さ
せることを特徴とする光―音響測定のための光
掃引方法。
２ 特許請求の範囲第１項の方法において、Ｘ軸
に平行な１つの直線上に各試料液をスポツテイ
ングし次いで液展開処理をした後にスポツテイ
ング個所に残る液滴下痕を該マークとして使用
することを特徴とする光―音響測定のための光
掃引方法。
に平行な１つの直線上に各試料液をスポツテイ
ングし次いで液展開処理をした後にスポツテイ
ング個所に残る液滴下痕を該マークとして使用
することを特徴とする光―音響測定のための光
掃引方法。
ところで、薄層クロマトグラフイに用いる試料
展開板（TLC板）は近年その性能が著しく向上
しており、これを用いると小面積で短時間の試料
分離が行なえるようになつた。しかし、試料溶液
をTLC板上にスポツトするとき、その滴下量が
多い場合や、TLC板固定相に僅かなむらがある
とき、或いは展開槽内に展開液蒸気が飽和してい
ないときは、試料の展開スポツトがTLC板上で
一直線に展開せず、斜めにずれたり、班点（スポ
ツト）の形が歪む場合がしばしばある。しかも、
飽和させていても必らずしも一直線にならないの
が実情である。従つて、市販のTLCスキヤナを
用いると、展開スポツトが光による掃引軸からず
れている場合にはこれを読み飛ばした後に掃引位
置を目視によつて修正し、改めて走査せざるを得
ない。
展開板（TLC板）は近年その性能が著しく向上
しており、これを用いると小面積で短時間の試料
分離が行なえるようになつた。しかし、試料溶液
をTLC板上にスポツトするとき、その滴下量が
多い場合や、TLC板固定相に僅かなむらがある
とき、或いは展開槽内に展開液蒸気が飽和してい
ないときは、試料の展開スポツトがTLC板上で
一直線に展開せず、斜めにずれたり、班点（スポ
ツト）の形が歪む場合がしばしばある。しかも、
飽和させていても必らずしも一直線にならないの
が実情である。従つて、市販のTLCスキヤナを
用いると、展開スポツトが光による掃引軸からず
れている場合にはこれを読み飛ばした後に掃引位
置を目視によつて修正し、改めて走査せざるを得
ない。
展開スポツトそれ自体の形が非対称な場合に
は、光掃引による測定精度が低下し、定量性が失
われる危険がある。これに対しては、光による掃
引軸の左右一定の範囲内をジグザグ状に掃引する
方法が考案され既に実用化されている。しかし、
この方法も、しよせん掃引方向が一方向に固定さ
れているから、スポツト系列が掃引軸からずれて
いる場合にはこれを追尾することは出来ない。
は、光掃引による測定精度が低下し、定量性が失
われる危険がある。これに対しては、光による掃
引軸の左右一定の範囲内をジグザグ状に掃引する
方法が考案され既に実用化されている。しかし、
この方法も、しよせん掃引方向が一方向に固定さ
れているから、スポツト系列が掃引軸からずれて
いる場合にはこれを追尾することは出来ない。
然るに本発明の目的は、上記欠点を解消するた
めに、各スポツト系列上のスポツト群が左右に一
直線からずれていても、又スポツト自体の形が歪
んで非対称であつても、各スポツトを正しい位置
で捕えて光掃引する自動追尾光掃引方法を実現す
ることにある。
めに、各スポツト系列上のスポツト群が左右に一
直線からずれていても、又スポツト自体の形が歪
んで非対称であつても、各スポツトを正しい位置
で捕えて光掃引する自動追尾光掃引方法を実現す
ることにある。
要するに、本発明によれば：
薄層クロマトグラフイ基板に対し、該基板上に
展開した試料スポツト群の展開方向をＹ軸とし、
これに直角な方向をＸ軸とし、Ｘ軸とＹ軸の方向
に駆動可能な光掃引手段を用いて、該基板面を特
定の光で以つて光掃引し、該光に反応して該試料
スポツトから生じた信号を検出し、そして該検出
情報に基いて展開試料の定量を行う方法におい
て、該光掃引手段として：スポツト定量用の第１
の光照射端；と該第１照射端のＹ軸方向の中心線
に対しその両側に、Ｘ軸方向に平行に並置され且
つ該第１照射端に対しＹ軸方向の前方に配位した
実質的に等しい強度の光を照射する第２と第３の
スポツト追尾用の光照射端；を具備したものを用
い任意の１つの試料スポツトに関し、該第２、第
３の光照射端からの光によつて当該試料スポツト
から生じた信号の強度差を検出し、該検出情報に
基いて強度差がゼロになるように該光掃引手段を
Ｘ軸方向に駆動制御することにより当該試料スポ
ツトの濃度中心を該第１光照射端の前記中心線上
に変位させ、この位置において該光掃引手段をＹ
軸方向に駆動制御して該第１光照射端からの光に
よつて当該試料スポツトを光掃引することを特徴
とする薄層クロマトグラフイ基板の光掃引方法が
提供される。
展開した試料スポツト群の展開方向をＹ軸とし、
これに直角な方向をＸ軸とし、Ｘ軸とＹ軸の方向
に駆動可能な光掃引手段を用いて、該基板面を特
定の光で以つて光掃引し、該光に反応して該試料
スポツトから生じた信号を検出し、そして該検出
情報に基いて展開試料の定量を行う方法におい
て、該光掃引手段として：スポツト定量用の第１
の光照射端；と該第１照射端のＹ軸方向の中心線
に対しその両側に、Ｘ軸方向に平行に並置され且
つ該第１照射端に対しＹ軸方向の前方に配位した
実質的に等しい強度の光を照射する第２と第３の
スポツト追尾用の光照射端；を具備したものを用
い任意の１つの試料スポツトに関し、該第２、第
３の光照射端からの光によつて当該試料スポツト
から生じた信号の強度差を検出し、該検出情報に
基いて強度差がゼロになるように該光掃引手段を
Ｘ軸方向に駆動制御することにより当該試料スポ
ツトの濃度中心を該第１光照射端の前記中心線上
に変位させ、この位置において該光掃引手段をＹ
軸方向に駆動制御して該第１光照射端からの光に
よつて当該試料スポツトを光掃引することを特徴
とする薄層クロマトグラフイ基板の光掃引方法が
提供される。
前記試料スポツトからの信号は光―音響信号で
あつてもよいし、スポツトからの反射又は透過し
た光信号であつてもよい。
あつてもよいし、スポツトからの反射又は透過し
た光信号であつてもよい。
以下、本発明を添付の第１図〜第５図を参照し
て、前述の光―音響測定法に適用した１例によつ
て具体的に説明する。
て、前述の光―音響測定法に適用した１例によつ
て具体的に説明する。
第１図は試料が展開された状態のTLC板の概
念図である。図において、ａは試料溶液を系列毎
に滴下した位置を示しており、ｂはこの液が展開
液によつて展開されて点在する試料スポツト群を
示している。このようなTLC板において、試料
スポツトｂを掃引するスリツト状の光点が各系列
の一直線上を直進するとき、試料スポツトが光の
照射面から一部分でも外れていると試料測定濃度
の定量性が失われる。
念図である。図において、ａは試料溶液を系列毎
に滴下した位置を示しており、ｂはこの液が展開
液によつて展開されて点在する試料スポツト群を
示している。このようなTLC板において、試料
スポツトｂを掃引するスリツト状の光点が各系列
の一直線上を直進するとき、試料スポツトが光の
照射面から一部分でも外れていると試料測定濃度
の定量性が失われる。
第２図は、本発明に係る光掃引器と試料スポツ
トとの相対的関係を模式的に示したものである。
図において、Ａはスポツト系列毎に掃引を開始す
る位置を検出するためのトリガーマークであり、
これには、既述した本出願人の出願に係る発明に
よつて、試料溶液をスポツトした班痕（第１図上
のａ）を使用するのが好ましい。Ｂ，Ｃ，Ｄは１
系列上の試料の展開スポツト群、Ｓは本発明に係
る光掃引器である。１，２はスポツト追尾用の光
照射端、３は試料スポツトの濃度定量用の光照射
端を示している。光は掃引器Ｓにオプテイカル・
フアイバー又はレンズ、鏡を用いて導き、光束は
スリツト、レンズなどで整形してTLC板面を照
射する。照射端１，２から出る光束は照射面積が
等しく、夫々の光束が中央で完全に接するか、又
は互いに少量のオーバー・ラツプがあるように配
置し、光の強さはほぼ等しくなるように設定され
ている。この掃引器Ｓの構造については、第５図
に詳細に示しており、後述する。
トとの相対的関係を模式的に示したものである。
図において、Ａはスポツト系列毎に掃引を開始す
る位置を検出するためのトリガーマークであり、
これには、既述した本出願人の出願に係る発明に
よつて、試料溶液をスポツトした班痕（第１図上
のａ）を使用するのが好ましい。Ｂ，Ｃ，Ｄは１
系列上の試料の展開スポツト群、Ｓは本発明に係
る光掃引器である。１，２はスポツト追尾用の光
照射端、３は試料スポツトの濃度定量用の光照射
端を示している。光は掃引器Ｓにオプテイカル・
フアイバー又はレンズ、鏡を用いて導き、光束は
スリツト、レンズなどで整形してTLC板面を照
射する。照射端１，２から出る光束は照射面積が
等しく、夫々の光束が中央で完全に接するか、又
は互いに少量のオーバー・ラツプがあるように配
置し、光の強さはほぼ等しくなるように設定され
ている。この掃引器Ｓの構造については、第５図
に詳細に示しており、後述する。
第２図において、掃引器ＳはTLC板上を縦
（Ｙ軸）、横（Ｘ軸）の方向にサーボ・モータ等を
用いたＸ―Ｙ駆動制御機構によつて移動させられ
る。掃引器ＳがスポツトＡから出発してＹ方向に
移動を始め、照射端２の光束がスポツトＢの端を
照射すると、この光に基いて光―音響信号が発生
する。この状態では照射端１の光束によつては未
だ何らの光―音響信号は発せられないか、発生し
てもその強度は小さい。そこで、照射端１と２か
らの光束、即ち追尾用光束１ａ，２ａによつて発
する信号の強度を比較して、光束２ａからの信号
が大きければ、掃引器ＳがＸ軸方向へ移動させる
モータMXを駆動し、光束１ａと２ａからの光―
音響信号の強度が等しくなるようにする。それに
よつて照射端３からの定量用の光束３ａがスポツ
トの中心線上に位置することになる。スポツトの
濃度分布が不均一のときは、その最大濃度を呈す
る位置を探し、その位置に移動する。
（Ｙ軸）、横（Ｘ軸）の方向にサーボ・モータ等を
用いたＸ―Ｙ駆動制御機構によつて移動させられ
る。掃引器ＳがスポツトＡから出発してＹ方向に
移動を始め、照射端２の光束がスポツトＢの端を
照射すると、この光に基いて光―音響信号が発生
する。この状態では照射端１の光束によつては未
だ何らの光―音響信号は発せられないか、発生し
てもその強度は小さい。そこで、照射端１と２か
らの光束、即ち追尾用光束１ａ，２ａによつて発
する信号の強度を比較して、光束２ａからの信号
が大きければ、掃引器ＳがＸ軸方向へ移動させる
モータMXを駆動し、光束１ａと２ａからの光―
音響信号の強度が等しくなるようにする。それに
よつて照射端３からの定量用の光束３ａがスポツ
トの中心線上に位置することになる。スポツトの
濃度分布が不均一のときは、その最大濃度を呈す
る位置を探し、その位置に移動する。
照射光は照射端１，２，３のいずれからも出て
いるわけであるが、照射端は第２図に示すように
照射端１，２より手端（Ｙ軸負方向）にあり、試
料スポツトＢを最初に照射しない。照射端１，２
と照射端３との間隔（Ｙ軸方向の）は２mm〜８mm
が好ましく、この間で予め距離を設定する。光束
１ａ，２ａは光束３ａとオーバラツプするとスポ
ツト中心線検出精度が低下したり、濃度定量に悪
影響を与えるので、光束３ａと光束１ａ，２ａと
の間に遮光板を設けるのが好ましい。
いるわけであるが、照射端は第２図に示すように
照射端１，２より手端（Ｙ軸負方向）にあり、試
料スポツトＢを最初に照射しない。照射端１，２
と照射端３との間隔（Ｙ軸方向の）は２mm〜８mm
が好ましく、この間で予め距離を設定する。光束
１ａ，２ａは光束３ａとオーバラツプするとスポ
ツト中心線検出精度が低下したり、濃度定量に悪
影響を与えるので、光束３ａと光束１ａ，２ａと
の間に遮光板を設けるのが好ましい。
次に光―音響信号の識別方法について述べる。
光―音響効果検知素子（例えばマイクロホン）
としては通常１個を使用する。従つて、光束１
ａ，２ａ，３ａに基づく３種の信号はこの１個の
検知素子で受信される。しかし、試料スポツトの
濃度定量、即ち濃度測定に必要な光―音響信号は
光束３ａからだけである。従つて、本発明によれ
ば、照射端１，２，３から出る照射光を掃引器Ａ
へ導く前に光チヨツパで断続光として時分割して
おき、このチヨツピングと同期させたゲート回路
で音響検知素子から出力する電気信号を時分割し
てスポツトの追尾と濃度定量とを分けて行う。
としては通常１個を使用する。従つて、光束１
ａ，２ａ，３ａに基づく３種の信号はこの１個の
検知素子で受信される。しかし、試料スポツトの
濃度定量、即ち濃度測定に必要な光―音響信号は
光束３ａからだけである。従つて、本発明によれ
ば、照射端１，２，３から出る照射光を掃引器Ａ
へ導く前に光チヨツパで断続光として時分割して
おき、このチヨツピングと同期させたゲート回路
で音響検知素子から出力する電気信号を時分割し
てスポツトの追尾と濃度定量とを分けて行う。
第３図と第４図は上記操作に係る自動追尾光掃
引方法を示すブロツク・ダイヤグラムと信号のタ
イムチアートである。
引方法を示すブロツク・ダイヤグラムと信号のタ
イムチアートである。
図において、光源１０から出た光を回転円盤２
０でチヨツピングし、一定周波数の断続光とす
る。これを３本のオプテイカル・フアイバー１
１，１２，１３で第４図に示す光束，，と
して夫夫光―音響セル３０にへ導く。フアイバー
の先端に掃引器（第２図中のＳ）が接続されてい
て、この掃引器Ｓが既述のようにセル内のTLC
板の面上をＸ―Ｙ駆動機構によつて移動させられ
る。掃引の開始はトリガー・マーク検出回路（図
示省略）の動作によつて行われ、先ず試料スポツ
トＢ（第２図）から光束１ａ，２ａ（第４図の，
）に基づく光―音響信号が発生する。これらの
信号は第４図に，で以つて示すものである
が、これは前置増巾器４０を経て、それからの出
力信号が第１ゲート５１、第２ゲート５２を通
り、更に主増巾器６１，６２を通つてロツクイン
増巾される。勿論光束３ａに基づく信号（第４図
にで示す）も増巾器４０を経て第３ゲート５３
を通り、更に対応する主増巾器６３を通つてロツ
クイン増巾される。
０でチヨツピングし、一定周波数の断続光とす
る。これを３本のオプテイカル・フアイバー１
１，１２，１３で第４図に示す光束，，と
して夫夫光―音響セル３０にへ導く。フアイバー
の先端に掃引器（第２図中のＳ）が接続されてい
て、この掃引器Ｓが既述のようにセル内のTLC
板の面上をＸ―Ｙ駆動機構によつて移動させられ
る。掃引の開始はトリガー・マーク検出回路（図
示省略）の動作によつて行われ、先ず試料スポツ
トＢ（第２図）から光束１ａ，２ａ（第４図の，
）に基づく光―音響信号が発生する。これらの
信号は第４図に，で以つて示すものである
が、これは前置増巾器４０を経て、それからの出
力信号が第１ゲート５１、第２ゲート５２を通
り、更に主増巾器６１，６２を通つてロツクイン
増巾される。勿論光束３ａに基づく信号（第４図
にで示す）も増巾器４０を経て第３ゲート５３
を通り、更に対応する主増巾器６３を通つてロツ
クイン増巾される。
ゲート５１，５２，５３の制御は光チヨツパか
ら断続光と同一の周波数で送られる時分割同期信
号によつて行う。この同期信号は同時にロツクイ
ン増巾器６１，６２，６３にも送られる。ロツク
イン増巾された夫々の信号は次に対応する位相判
別器（PSD）７１，７２，７３に夫々入り、そ
こで位相判別検波が行われ、光―音響信号に含ま
れる雑音除去と信号の整流化が行われる。
ら断続光と同一の周波数で送られる時分割同期信
号によつて行う。この同期信号は同時にロツクイ
ン増巾器６１，６２，６３にも送られる。ロツク
イン増巾された夫々の信号は次に対応する位相判
別器（PSD）７１，７２，７３に夫々入り、そ
こで位相判別検波が行われ、光―音響信号に含ま
れる雑音除去と信号の整流化が行われる。
位相判別器７１，７２からの出力は夫々光束１
ａ，２ａによる光―音響信号に比例し、試料スポ
ツト中心からの偏位に相当している。この二つの
出力信号は差動増巾器８０に入り、更にゲート９
１を通つて得られた差動増巾された出力信号がＸ
軸方向に駆動するサーボモータMXを駆動する信
号となる。この駆動によつて最初の試料スポツト
Ｂの濃度中心線上に光束３ａを移動させる。ゲー
ト９１，９２によつてＸ軸方向に掃引器Ｓが移動
中はＹ軸方向への移動を停止させ、且つゲート９
３により測定出力がないように制御する。この過
程のゲート９１の出力（ａ−ｂ）は第４図の９に
示すように経時変化し、その間ゲート９３の出力
は１０で示すようにゼロである。
ａ，２ａによる光―音響信号に比例し、試料スポ
ツト中心からの偏位に相当している。この二つの
出力信号は差動増巾器８０に入り、更にゲート９
１を通つて得られた差動増巾された出力信号がＸ
軸方向に駆動するサーボモータMXを駆動する信
号となる。この駆動によつて最初の試料スポツト
Ｂの濃度中心線上に光束３ａを移動させる。ゲー
ト９１，９２によつてＸ軸方向に掃引器Ｓが移動
中はＹ軸方向への移動を停止させ、且つゲート９
３により測定出力がないように制御する。この過
程のゲート９１の出力（ａ−ｂ）は第４図の９に
示すように経時変化し、その間ゲート９３の出力
は１０で示すようにゼロである。
以上の経過で、光束３ａが試料スポツトＢの中
心線上に停止すると、ゲート９２，９３が動作し
て、Ｙ軸方向への駆動するサーボモータMYが駆
動させられ、掃引器ＳがＹ軸上、即ち前記中心線
上の掃引を開始する。そして位相判別器７３から
の光―音響信号がゲート９３を介して測定出力と
して得られる。試料スポツトＢの光掃引が終り、
Ｙ軸方向へ移動を続けて次のスポツトＣ（第２図）
を光束１ａ又は２ａが捕捉すると、ゲート９２，
９３が夫々反転して測定出力を止め、次に試料ス
ポツトＣの濃度中心を探索する。
心線上に停止すると、ゲート９２，９３が動作し
て、Ｙ軸方向への駆動するサーボモータMYが駆
動させられ、掃引器ＳがＹ軸上、即ち前記中心線
上の掃引を開始する。そして位相判別器７３から
の光―音響信号がゲート９３を介して測定出力と
して得られる。試料スポツトＢの光掃引が終り、
Ｙ軸方向へ移動を続けて次のスポツトＣ（第２図）
を光束１ａ又は２ａが捕捉すると、ゲート９２，
９３が夫々反転して測定出力を止め、次に試料ス
ポツトＣの濃度中心を探索する。
自動追尾回路の動作を解放すれば、トリガー・
マークＡによるＹ軸掃引位置の自動検出回路のみ
が動作するようになつている（この回路は既述の
本出願人の出願に開示されている。）。この動作に
よつて従来の市販TLCスキヤナと同様にＹ軸方
向直進掃引を行う。
マークＡによるＹ軸掃引位置の自動検出回路のみ
が動作するようになつている（この回路は既述の
本出願人の出願に開示されている。）。この動作に
よつて従来の市販TLCスキヤナと同様にＹ軸方
向直進掃引を行う。
以上述べた本発明例は光―音響効果法による
TLCデンシメトリに関するものであつたが、本
発明は市販のTLCスキヤナに用いられる可視光
の反射あるいは透過光量、又は螢光量を光電増倍
管で検知する方式にも適用することができる。
TLCデンシメトリに関するものであつたが、本
発明は市販のTLCスキヤナに用いられる可視光
の反射あるいは透過光量、又は螢光量を光電増倍
管で検知する方式にも適用することができる。
第５図Ａ，Ｂは上記例の光掃引器Ｓに関する二
種の例を示す斜視説明図であり、第５図Ｃは第５
図Ｂの掃引器例の断面説明図である。
種の例を示す斜視説明図であり、第５図Ｃは第５
図Ｂの掃引器例の断面説明図である。
図において、オプテイカルフアイバー１１，１
２，１３の先端には夫々マイクロレンズ１１′，
１２′，１３′を取付けてもよい（第５図Ｂ，Ｃ）
がフアイバー束を照射端において平坦に配列させ
て、レンズの使用を省略することもできる。スポ
ツト検出用の光束照射端１，２とスポツト濃度定
量用の光束照射端３は、フアイバーを保持する板
体７を固定するネジ５の調節によつてある範囲に
おいて適当にその間隔を調整することができる。
４は前述したように、照射端１，２と照射端３の
間に配置した遮光板である。
２，１３の先端には夫々マイクロレンズ１１′，
１２′，１３′を取付けてもよい（第５図Ｂ，Ｃ）
がフアイバー束を照射端において平坦に配列させ
て、レンズの使用を省略することもできる。スポ
ツト検出用の光束照射端１，２とスポツト濃度定
量用の光束照射端３は、フアイバーを保持する板
体７を固定するネジ５の調節によつてある範囲に
おいて適当にその間隔を調整することができる。
４は前述したように、照射端１，２と照射端３の
間に配置した遮光板である。
本発明には上記形態の掃引器に限らず、種々の
形態のものが採り得る。
形態のものが採り得る。
第１図はTLC板の展開した試料スポツトの形
態を示す平面説明図、第２図は本発明に係る離散
試料スポツト自動追尾光掃引方法を示す平面説明
図、第３図は第２図の方法を実施する自動追尾光
掃引回路のブロツク・ダイヤグラム、第４図は前
記回路上の信号のタイム・チアート、及び第５図
Ａ，Ｂ，Ｃは本発明方法で使用する光掃引器の二
種の例を示す斜視説明図と断面説明図である。 図において、Ａはトリガー・マーク、Ｂ，Ｃ，
Ｄは試料スポツト、１，２はスポツト検出用の光
照射端、３はスポツト濃度定量用の光照射端及び
Ｓは光掃引器を示す。
態を示す平面説明図、第２図は本発明に係る離散
試料スポツト自動追尾光掃引方法を示す平面説明
図、第３図は第２図の方法を実施する自動追尾光
掃引回路のブロツク・ダイヤグラム、第４図は前
記回路上の信号のタイム・チアート、及び第５図
Ａ，Ｂ，Ｃは本発明方法で使用する光掃引器の二
種の例を示す斜視説明図と断面説明図である。 図において、Ａはトリガー・マーク、Ｂ，Ｃ，
Ｄは試料スポツト、１，２はスポツト検出用の光
照射端、３はスポツト濃度定量用の光照射端及び
Ｓは光掃引器を示す。
Claims (1)
- １ 薄層クロマトグラフイ基板に対し、該基板上
に展開した試料スポツト群の展開方向をＹ軸と
し、これに直角な方向をＸ軸とし、Ｘ軸とＹ軸の
方向に駆動可能な光掃引手段を用いて該基板面を
特定の光で以つて光掃引し、該光に反応して該試
料スポツトから生じた信号を検出し、そして該検
出情報に基いて展開試料の定量を行う方法におい
て、該光掃引手段として；スポツト定量用の第１
の光照射端；と該第１照射端のＹ軸方向の中心線
に対しその両側に、Ｘ軸方向に平行に並置され且
つ該第１照射端に対しＹ軸方向の前方に配位した
実質的に等しい強度の光を照射する第２と第３の
スポツト追尾用の光照射端；を具備したものを用
い、任意の１つの試料スポツトに関し、該第２、
第３の光照射端からの光によつて当該試料スポツ
トから生じた信号の強度差を検出し、該検出情報
に基いて強度差がゼロになるように該光掃引手段
をＸ軸方向に駆動制御することにより当該試料ス
ポツトの濃度中心を該第１光照射端の前記中心線
上に変位させ、この位置において該光掃引手段を
Ｙ軸方向に駆動制御して該第１光照射端からの光
によつて当該試料スポツトを光掃引することを特
徴とする薄層クロマトグラフイ基板の光掃引方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56024213A JPS57139646A (en) | 1981-02-23 | 1981-02-23 | Method for sweeping light of thin layer chromatography substrate |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56024213A JPS57139646A (en) | 1981-02-23 | 1981-02-23 | Method for sweeping light of thin layer chromatography substrate |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57139646A JPS57139646A (en) | 1982-08-28 |
| JPS6367645B2 true JPS6367645B2 (ja) | 1988-12-27 |
Family
ID=12132011
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56024213A Granted JPS57139646A (en) | 1981-02-23 | 1981-02-23 | Method for sweeping light of thin layer chromatography substrate |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57139646A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009115830A (ja) * | 2009-03-06 | 2009-05-28 | Toshiba Corp | レーザ超音波検査装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2508069B2 (ja) * | 1987-03-30 | 1996-06-19 | 株式会社島津製作所 | クロマトスキヤナの走査方法 |
-
1981
- 1981-02-23 JP JP56024213A patent/JPS57139646A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009115830A (ja) * | 2009-03-06 | 2009-05-28 | Toshiba Corp | レーザ超音波検査装置 |
| JP4621781B2 (ja) * | 2009-03-06 | 2011-01-26 | 株式会社東芝 | レーザ超音波検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57139646A (en) | 1982-08-28 |
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