JPH05332918A - クロマトスキャナ - Google Patents

クロマトスキャナ

Info

Publication number
JPH05332918A
JPH05332918A JP4163499A JP16349992A JPH05332918A JP H05332918 A JPH05332918 A JP H05332918A JP 4163499 A JP4163499 A JP 4163499A JP 16349992 A JP16349992 A JP 16349992A JP H05332918 A JPH05332918 A JP H05332918A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
stage
scale
plate
component
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4163499A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyoshi Wada
潔 和田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP4163499A priority Critical patent/JPH05332918A/ja
Publication of JPH05332918A publication Critical patent/JPH05332918A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 プレート上に展開された試料成分を分光分析
するクロマトスキャナにおいて、プレート上の試料成分
スポットを試料ステージの所定の位置に容易正確にセッ
トできるようにすることを目的とする。 【構成】 クロマトスキャナとして、試料ステージ上に
縦横の座標スケールを投影する投影手段を、その光軸を
試料照射光束の中心位置における光軸と一致させて設け
るようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電気泳動法とか薄膜ク
ロマトグラフ等により、プレート上に展開された試料成
分スポットの定性及び定量分析を紫外・可視・赤外・蛍
光等を用いて行う装置に関する。
【0002】
【従来の技術】プレート上に展開された試料成分の各ス
ポットについて定量を行う場合、試料のプレートをクロ
マトスキャナの試料ステージに置いて、光スポットを照
射し、光スポットを左右に振りながら、試料ステージを
光スポットの往復移動方向と直角な方向に送って、試料
成分のスポットを光の照射点でジグザグにスキャンし、
透過光等を測光する。所で、プレートを試料ステージに
セットする時、ステージ端に描かれた座標を目安にし
て、目視により適当にプレートを固定していたが、試料
プレートの形は不規則なので、プレート上に展開された
試料成分スポットの位置をプレートに対し定量的に把握
することが難しく、試料成分が分布している領域をスキ
ャンさせる場合、光学系のスキャン範囲の中央に、試料
成分のスポットを位置させることが困難であった。ま
た、プレート上に展開された多くの試料成分を連続して
測定する時に、展開されている試料成分スポットを順次
所定位置に設置することが難しかった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、プレート上
に展開された試料成分に赤外光等を集光させて、その反
射光或は透過光により測定する装置において、試料成分
が展開されているプレートの試料成分スポットを試料ス
テージの所定の位置に容易正確にセットできるようにす
ること、また、試料成分のスキャン領域を正確に掴める
ようにすることを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】クロマトスキャナとし
て、試料ステージ上に縦横の座標スケールを投影する投
影手段を、その光軸を試料照射光束の中心位置における
光軸と一致させて設けるようにした。
【0005】
【作用】本発明は、ステージ上に縦横座標スケールを投
影する光学系を設け、その光軸を左右に振る試料照明光
束の中心位置における光軸とを一致させたので、ステー
ジ上に投影されたスケールの原点は照明光束の中心位置
と一致しており、従って、試料成分のスポットの中心と
投影されたスケールの原点に合わせるようにしてプレー
トをステージにセットすればよく、プレート上に展開さ
れた試料成分のスキャン領域は投影されたスケールによ
って正確に読取ることができる。
【0006】
【実施例】図1に本発明の一実施例を示す。図におい
て、1はスケール投影光学系の光源で、2は集光レン
ズ、3は透明板にスケールを描いたスケール板、4は投
影レンズで、これらによってスケール投影光学系Pが構
成されている。5は分光器或は他の適当な単色光源6か
らの単色光を反射させて試料に照射させるミラーで、試
料成分を測定する時は、投影光学系Pの光軸上(実線で
示す位置)に配置されるが、測定しない時、例えば、ス
ケール投影光学系Pで試料成分のスキャン領域に試料を
セットする時等では、投影光学系Pの光軸上から外し
て、点線で示す位置等に位置させる。7は試料のプレー
トで、表面上に薄膜クロマトグラフ法等により試料成分
が展開されている。8はステージで、X,Y軸方向に駆
動して、プレート7の任意の試料成分スポットを所望の
位置に位置させたり、試料成分のスキャン領域をX軸方
向にスキャンしたりする。9は試料ステージに固定させ
た目盛付スケール位置決め枠で、形が決まっているプレ
ート7をステージ8の所定の位置に配置させるために用
いられる。10は検出器で、分光器6から試料成分に照
射された光が、試料成分を透過した光量を測定する。照
射光束のY軸方向の往復スキャンは、ミラー5の図1実
線位置において、ミラー5を図のQ点(投影光学系と分
光器出射光の光軸との交点)を中心に図の紙面に垂直な
軸周りに往復揺動させることによって行う。
【0007】図3は装置の外観を示した図である。Pが
スケール投影光学系で、Bは試料ステージのX,Y方向
駆動機構及び測光系を内蔵した台で、Cは台B上に投影
光学系Pを保持する支柱である。この支柱Cから腕Aが
前方に突設され、この腕Aにミラー5の揺動軸が軸支さ
せてある。この図で、紙面に垂直の方向がX軸方向で、
ミラー5の揺動軸はX軸と平行である。図では見えない
が、腕Aの向こう側にミラー5の揺動駆動機構が設けら
れている。測定光束は支柱Cを貫通して、図右方より光
軸Lに沿って入射せしめられる。ミラー5は揺動軸に固
定された枠Fに、下辺が蝶番で取付けられて、図鎖線の
ように枠Fから起こすことができるようになっている。
【0008】次に、測定動作について説明を行う。先
ず、ステージ8を基準位置に位置させ、ミラー5を光軸
上から外した状態で、光源1を点灯すると、ステージ8
上にスケール板3に描かれたスケール(図2参照)が投
影される。投影された座標スケールの原点は試料照射光
束の左右の振りの中心位置における試料照射点と一致し
ているので、その座標原点を基準としてプレート7をス
テージ8上に固定する。ステージ8を駆動し、プレート
7上に展開している試料成分の1つを測定開始位置に位
置させ、測定する試料成分の測定(スキャン)領域をス
ケールで確認し、ミラー5を光軸上に戻し、分光器6か
ら測定光を投光し、試料成分を照射し、上記で確認した
試料成分の測定領域をミラー5及びステージ8を駆動し
てスキャンしながら、透過光を検出器10で検出し、そ
の検出信号のピーク領域を積分し、試料成分の量を測定
する。
【0009】
【発明の効果】本発明によれば、投影されたスケールに
よって、プレートの位置や試料成分の測定領域が正確に
把握できるようになったことで、スケールを試料ステー
ジの所定位置に容易にセットできるようになり、また、
試料成分のスキャン領域も正確にしかも簡単に設定でき
るようになった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の説明図
【図2】上記実施例におけるスケール例の平面図
【図3】上記実施例の全体側面図
【符号の説明】
1 光源 2 レンズ 3 スケール板 4 レンズ 5 ミラー 7 プレート 8 ステージ 9 目盛付スケール位置決め枠 10 検出器 P スケール投影光学系

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】試料ステージ上に縦横の座標スケールを投
    影する投影手段を、その光軸を試料照射光束の中心位置
    における光軸と一致させて設けたことを特徴とするクロ
    マトスキャナ。
JP4163499A 1992-05-29 1992-05-29 クロマトスキャナ Pending JPH05332918A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4163499A JPH05332918A (ja) 1992-05-29 1992-05-29 クロマトスキャナ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4163499A JPH05332918A (ja) 1992-05-29 1992-05-29 クロマトスキャナ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05332918A true JPH05332918A (ja) 1993-12-17

Family

ID=15775029

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4163499A Pending JPH05332918A (ja) 1992-05-29 1992-05-29 クロマトスキャナ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05332918A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002025253A1 (en) * 2000-09-25 2002-03-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Device for chromatographic quantitative measurement
JP2011158485A (ja) * 2011-05-13 2011-08-18 Panasonic Corp クロマトグラフィー定量測定方法
JP2011158484A (ja) * 2011-05-13 2011-08-18 Panasonic Corp クロマトグラフィー定量測定方法
JP2011191314A (ja) * 2011-05-13 2011-09-29 Panasonic Corp クロマトグラフィー定量測定方法
JP2011191317A (ja) * 2011-05-30 2011-09-29 Panasonic Corp クロマトグラフィー定量測定装置
JP2019078580A (ja) * 2017-10-23 2019-05-23 株式会社Ihi 透過光測定装置、および、光学装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002025253A1 (en) * 2000-09-25 2002-03-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Device for chromatographic quantitative measurement
US7678566B2 (en) 2000-09-25 2010-03-16 Panasonic Corporation Device for chromatographic quantitative measurement
US8722425B2 (en) 2000-09-25 2014-05-13 Panasonic Corporation Chromatography quantitative measuring apparatus
US8722424B2 (en) 2000-09-25 2014-05-13 Panasonic Corporation Chromatography quantitative measuring apparatus
US8778698B2 (en) 2000-09-25 2014-07-15 Panasonic Healthcare Co., Ltd. Chromatography quantitative measuring apparatus
US8822230B2 (en) 2000-09-25 2014-09-02 Panasonic Healthcare Co., Ltd. Chromatography quantitative measuring apparatus
JP2011158485A (ja) * 2011-05-13 2011-08-18 Panasonic Corp クロマトグラフィー定量測定方法
JP2011158484A (ja) * 2011-05-13 2011-08-18 Panasonic Corp クロマトグラフィー定量測定方法
JP2011191314A (ja) * 2011-05-13 2011-09-29 Panasonic Corp クロマトグラフィー定量測定方法
JP2011191317A (ja) * 2011-05-30 2011-09-29 Panasonic Corp クロマトグラフィー定量測定装置
JP2019078580A (ja) * 2017-10-23 2019-05-23 株式会社Ihi 透過光測定装置、および、光学装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4285597A (en) Goniophotometer for measuring the gloss and/or light diffusion of surfaces
JPS60244839A (ja) 材料試験装置
JP2005506543A5 (ja)
ES2031085T3 (es) Dispositivo para verificar una pieza de ensayo transparente en lo referente a defectos superficiales e inclusiones.
JPH05332918A (ja) クロマトスキャナ
JPH1130508A (ja) ゴルフボールの表面形状測定方法及び装置
JPS6140101B2 (ja)
WO2008001731A1 (fr) Appareil d'examen de surface et procédé d'examen de surface
JPH0961319A (ja) 吸引式試料台
JP2002296020A (ja) 表面形状測定装置
JPH05223533A (ja) 高さ測定装置
JP2002207009A (ja) 走査型蛍光測定装置
JPH0795040B2 (ja) 微小異物検査装置
TWI844611B (zh) 厚度測量裝置
JPH07190735A (ja) 光学式測定装置およびその測定方法
JPS613006A (ja) 平面形状測定装置
JPS63169506A (ja) 光学式測定装置
JP2948353B2 (ja) ガラス板の表面欠陥検査方法および検査装置
JPH06281432A (ja) 微小角度調整装置
JPH05322694A (ja) レンズ検査装置
JPS59197811A (ja) 光切断法に於ける形状測定装置
JPH0344504A (ja) 表面三次元形状測定方法及びその装置
JPH0335106A (ja) 光学式測定装置
JPH02103446A (ja) 濃度パターン解析装置
JPH10318883A (ja) レンズの測定装置及び測定方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050316

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050426

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050614

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20050628

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050629

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050719

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Effective date: 20050721

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090729

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090729

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100729

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110729

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 6

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110729

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120729

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 7

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120729

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120729

Year of fee payment: 7

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120729

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130729

Year of fee payment: 8