JP2005506543A5 - - Google Patents
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Claims (10)
- 可動な部材(5,8)を基体(1)に接続する、長さが可変の支持体(3,11)と、
それにより支持体(3,11)が基体(1)内の支点(D2)を中心にして旋回可能に支承されているリンク機構(2)と
支持体(3,11)に沿って、基体(1)に対して可動な部材(5,8)の間隔を測定する長さ測定装置(6)と、
光源(7.1)と検出器(7.2)との間の光路内において少なくとも一つの光源(7.1)と一つの検出器(7.2)と一つの格子(7.3)とを有する、可動な部材(5,8)と基体(1)との間の角度を測定する角度測定装置(7)とを備えた基体(1)に対して可動な部材(5)の空間的位置を捕捉する位置測定装置において、
角度を測定するための光路(L)が、可動な部材(5,8)と基体(1)との間にあり、この光路内において、光源(7.1)を使用して格子(7.3)を照射することにより、強度パターンMが得られ、検出器(7.2)に対してこの強度パターンの位置が、角度に関する尺度であることを特徴とする位置測定装置。 - 支持体(3)と可動な部材(5)との間に、他のリンク機構(4)が設けられており、このリンク機構により可動な部材(5)が、支点(D4)を中心にして支持体(3)に旋回可能に支承されていることを特徴とする請求項2記載の方法。
- 支点(D2)において、光源(7.1)あるいは検出器(7.2)の感光性部材の重心が存在していることを特徴とする請求項2記載の方法。
- 一方の支点(D2,D4)内には光源(7.1)が、もう一方の支点(D4,D2)内には検出器(7.2)の感光性部材の重心が存在していることを特徴とする請求項3記載の方法。
- 一方の支点内に光源が設けられ、かつ検出器の感光性部材の重心が存在しており、もう一方の支点内に再帰性反射部材が設けられていることを特徴とする請求項3記載の方法。
- 支持体(3)がテレスコープ式に形成され、角度測定装置(7)用のカバーが形成されており、かつ一方のテレスコープ部(3.1)にスケール(6.1)が、もう一方のテレスコープ部(3.2)に長さ測定装置(6)のスケール(6.1)を走査するスキャナユニット(6.2)が固定されていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載の装置。
- 長さ測定装置が干渉計(60)であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載の装置。
- 共通の光源(64)の光が、角度を測定しかつ長さを測定するために、二つの部分光線束(L1,L2)に分割されるように構成されていることを特徴とする請求項7記載の装置。
- 格子(7.3)が二次元の強度パターンMを形成する二次元の交差格子であり、検出器(7.2)に対してこの強度パターンの位置が角度に関する尺度であることを特徴とする請求項1〜8のいずれか一つに記載の装置。
- 可動な部材(5)がプログラム制御された機械部分(5‘)で固定されていて、かつ基体(1)が機械の基礎部分(1’)で固定されていることにより、この位置測定装置が、プログラム制御された機械部分(5‘)の位置精度を検査するために使用されるように構成されていることを特徴とする請求項1〜9のいずれか一つに記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10151563A DE10151563A1 (de) | 2001-10-23 | 2001-10-23 | Positionsmessgerät |
PCT/EP2002/011544 WO2003036226A1 (de) | 2001-10-23 | 2002-10-16 | Positionsmessgerät |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005506543A JP2005506543A (ja) | 2005-03-03 |
JP2005506543A5 true JP2005506543A5 (ja) | 2008-02-21 |
JP4377229B2 JP4377229B2 (ja) | 2009-12-02 |
Family
ID=7702992
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003538681A Expired - Fee Related JP4377229B2 (ja) | 2001-10-23 | 2002-10-16 | 位置測定装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7274464B2 (ja) |
EP (1) | EP1442269B1 (ja) |
JP (1) | JP4377229B2 (ja) |
DE (1) | DE10151563A1 (ja) |
WO (1) | WO2003036226A1 (ja) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004056726B4 (de) * | 2004-11-19 | 2014-12-24 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der räumlichen Lage eines ersten Objektes bezüglich eines zweiten Objektes |
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EP2032940B1 (en) * | 2006-06-16 | 2010-05-05 | Renishaw PLC | Extendable leg assembly for position measurement apparatus |
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DE102015009393B4 (de) | 2015-07-15 | 2019-07-04 | Gerhard Pfeifer | Wegaufnehmeranordnung sowie Crashtest-Dummy |
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CN110487158B (zh) * | 2019-09-02 | 2021-06-29 | 太原科技大学 | 一种联轴器对中检测装置 |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
2001
- 2001-10-23 DE DE10151563A patent/DE10151563A1/de not_active Withdrawn
-
2002
- 2002-10-16 JP JP2003538681A patent/JP4377229B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2002-10-16 WO PCT/EP2002/011544 patent/WO2003036226A1/de active Application Filing
- 2002-10-16 EP EP02782919.1A patent/EP1442269B1/de not_active Expired - Lifetime
- 2002-10-16 US US10/493,153 patent/US7274464B2/en not_active Expired - Lifetime
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