JPS613006A - 平面形状測定装置 - Google Patents
平面形状測定装置Info
- Publication number
- JPS613006A JPS613006A JP12470684A JP12470684A JPS613006A JP S613006 A JPS613006 A JP S613006A JP 12470684 A JP12470684 A JP 12470684A JP 12470684 A JP12470684 A JP 12470684A JP S613006 A JPS613006 A JP S613006A
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- mirror
- light
- parabolic
- mirrors
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は光源よりＸ方向およびＹ方向ポリゴンミラーを
介して被測定物に光を照射し、各ポリゴンミラーの回転
により被測定物の表面を光走査して被測定物の形状測定
を行なう平面形状測定装置に関する。
介して被測定物に光を照射し、各ポリゴンミラーの回転
により被測定物の表面を光走査して被測定物の形状測定
を行なう平面形状測定装置に関する。
［発明の技術的背景］
被測定物の表面を走査する手段としては、光軸上にＸ方
向およびＹ方向ポリゴンミラーを配置して各ポリゴンミ
ラーの回転により光軸をＸ、Ｙ方向に移動するもの、並
びに被測定物を移動台上に設置してその移動台をＸ、Ｙ
方向に移動でるものがある。
向およびＹ方向ポリゴンミラーを配置して各ポリゴンミ
ラーの回転により光軸をＸ、Ｙ方向に移動するもの、並
びに被測定物を移動台上に設置してその移動台をＸ、Ｙ
方向に移動でるものがある。
［背景技術の問題点］
前者の手段によると、高速走査ができる利点があるが、
被測定物に対して照射する光線の照射角度か変化するた
め平面パターンの像にゆがみを生じ、高精度な形状測定
が行なえない欠点があった。
被測定物に対して照射する光線の照射角度か変化するた
め平面パターンの像にゆがみを生じ、高精度な形状測定
が行なえない欠点があった。
また、後者の手段によると移動台の移動速度に限度があ
ることから高速走査が行なえない欠点かあった。
ることから高速走査が行なえない欠点かあった。
［発明の目的１
本発明はこのような事情にもとづいてなされたもので、
その目的は、光走査により高速走査ができるとともに、
高精度な形状測定が可能な平面形状測定装置を提供する
ことにある。
その目的は、光走査により高速走査ができるとともに、
高精度な形状測定が可能な平面形状測定装置を提供する
ことにある。
［発明の概要］
以上の目的達成のため、本発明は、光源から被測定物に
至る光軸上にＸ方向ポリゴンミラーおよびＹ方向ホリゴ
ンミラーを配置し、これら各ホリゴ〉・ミラーの回転に
より被測定物の表面をＸ、Ｙ方向に光走査して被測定物
の形状測定を行なう平面形状測定装置において、上記Ｘ
方向およびＹ方向小すゴンミラーと被測定物との間の光
軸上に、Ｘ方向およびＹ方向の角度変化を伴う光を入射
してＹ方向に対する直交面上の投影か常に平行となる反
射光を得るＸ方向放物面ミラーと、Ｙ方向の角度変化を
伴う光を入射して常に平行な反射光を得るＹ方向放物面
ミラーとを順次配置したことを特徴とするものである。
至る光軸上にＸ方向ポリゴンミラーおよびＹ方向ホリゴ
ンミラーを配置し、これら各ホリゴ〉・ミラーの回転に
より被測定物の表面をＸ、Ｙ方向に光走査して被測定物
の形状測定を行なう平面形状測定装置において、上記Ｘ
方向およびＹ方向小すゴンミラーと被測定物との間の光
軸上に、Ｘ方向およびＹ方向の角度変化を伴う光を入射
してＹ方向に対する直交面上の投影か常に平行となる反
射光を得るＸ方向放物面ミラーと、Ｙ方向の角度変化を
伴う光を入射して常に平行な反射光を得るＹ方向放物面
ミラーとを順次配置したことを特徴とするものである。
［発明の実施例〕
第１図は本発明の一実施例における平面形状測定装置の
概略構成を示すもので、図中１は光源、２．３はそれぞ
れＸ方向およびＹ方向小すゴンミラーであり、４，５は
それぞれＸ方向、Ｙ方向放物面ミラーである。また図中
６ｔま平面ミラー、７は光検出器、８はハーフミラ−で
ある。
概略構成を示すもので、図中１は光源、２．３はそれぞ
れＸ方向およびＹ方向小すゴンミラーであり、４，５は
それぞれＸ方向、Ｙ方向放物面ミラーである。また図中
６ｔま平面ミラー、７は光検出器、８はハーフミラ−で
ある。
光源１より照射された光はハーフミラ−８を通過してＸ
方向ポリゴンミラ−２、Ｙ方向ポリゴンミラー３、Ｘ方
向放物面ミラー４、平面ミラー６、Ｘ方向放物面ミラー
５で順次反則して、固定部９に設置された被測定物１０
に照射される。
方向ポリゴンミラ−２、Ｙ方向ポリゴンミラー３、Ｘ方
向放物面ミラー４、平面ミラー６、Ｘ方向放物面ミラー
５で順次反則して、固定部９に設置された被測定物１０
に照射される。
また被測定物１０からの反射光は、逆の軽路により）′
方向放物面ミラー５、平面ミラー６、×１ｊ向敢物面ミ
ラー４、Ｙ方向ポリゴンミラー３、Ｘ方向ポリゴンミラ
ー２、ハーフミラ−８で順次反則して光検出器７に至る
。そして光検出器７からの検出出力は図示しない検出回
路へ入力され、これにもとづき被測定物１０の平面形状
が測定される。
方向放物面ミラー５、平面ミラー６、×１ｊ向敢物面ミ
ラー４、Ｙ方向ポリゴンミラー３、Ｘ方向ポリゴンミラ
ー２、ハーフミラ−８で順次反則して光検出器７に至る
。そして光検出器７からの検出出力は図示しない検出回
路へ入力され、これにもとづき被測定物１０の平面形状
が測定される。
図中２８は前記Ｘ方向ポリゴンミラー２の回転軸、図中
３８はＹ方向ホリゴンミラ−３の回転軸であり、Ｙ方向
ホリゴンミラ−３はＸ方向ポリゴンミラー２より低速で
回転する。なお両輪 ２ａ。
３８はＹ方向ホリゴンミラ−３の回転軸であり、Ｙ方向
ホリゴンミラ−３はＸ方向ポリゴンミラー２より低速で
回転する。なお両輪 ２ａ。
３ａの関係は、一方の軸２ａが他方の軸３ａに対プる直
交面に平行となるものである。
交面に平行となるものである。
前記Ｘ方向放物面ミラー４には光源１からの光がＸ方向
ポリゴンミラー２およびＹ方向ホリゴンミラ−３を介し
て入射するが、Ｘ方向放物面ミラー４への入射光は、Ｘ
方向ポリゴンミラー２ｒ！３よびＹ方向ポリゴンミラー
３の回転によりＸ方向およびＹ方向の角度変化を伴う。
ポリゴンミラー２およびＹ方向ホリゴンミラ−３を介し
て入射するが、Ｘ方向放物面ミラー４への入射光は、Ｘ
方向ポリゴンミラー２ｒ！３よびＹ方向ポリゴンミラー
３の回転によりＸ方向およびＹ方向の角度変化を伴う。
しかしながら、Ｘ方向放物面ミラー４の位置および放物
面形状は、第２図に示すように、Ｙ方向に対する直交面
上の投影では、入射光が常に焦点位置より入射する如く
設定されており、このためＸ方向およびＹ方向の角度変
化を伴う光が入射しても、Ｘ方向放物面ミラー４からの
反射光は、Ｙ方向に対づる直交面上の投影が常に平行に
なるものである。
面形状は、第２図に示すように、Ｙ方向に対する直交面
上の投影では、入射光が常に焦点位置より入射する如く
設定されており、このためＸ方向およびＹ方向の角度変
化を伴う光が入射しても、Ｘ方向放物面ミラー４からの
反射光は、Ｙ方向に対づる直交面上の投影が常に平行に
なるものである。
他方、前記Ｙ方向放物面ミラー５には光源１からの光が
小すゴンミラ−２，３、Ｘ方向放物面ミラー４および平
面ミラー６を介して入射する。ここて、Ｙ方向放物面ミ
ラー５に入射する光は・、Ｘ方向放物面ミラー４て既に
Ｙ方向に対する直交面上の投影が平行になるように補正
されている。またＹ方向放物面ミラー５は、第３図に示
づよう（こ、Ｘ方向に対する直交面上の投影では、入射
光が常に焦点位置より入射する如く、その位置および形
状が設定されており、このため反射光の、Ｙ方向への角
度変化はこのＹ方向放物面ミラー５で補正される。した
がって、光源１より一定方向へ照射された光は、Ｘ方向
ポリゴンミラ−２で反射して、このＸ方向ポリゴンミラ
ー２の回転に伴いＸ方向に角度変化する光となり、ざら
にＹ方向ホリゴンミラ−３で反射して、このＹ方向ポリ
ゴンミラー３の回転に伴いＹ方向にも角度変化する光と
なるが、両数物面ミラー４．５を通過することにより角
度補正されて常に平行な光どなり、前記被測定？ｉ１０
の表面には常に一定の方向Ｊ、り照射されることとなる
。
小すゴンミラ−２，３、Ｘ方向放物面ミラー４および平
面ミラー６を介して入射する。ここて、Ｙ方向放物面ミ
ラー５に入射する光は・、Ｘ方向放物面ミラー４て既に
Ｙ方向に対する直交面上の投影が平行になるように補正
されている。またＹ方向放物面ミラー５は、第３図に示
づよう（こ、Ｘ方向に対する直交面上の投影では、入射
光が常に焦点位置より入射する如く、その位置および形
状が設定されており、このため反射光の、Ｙ方向への角
度変化はこのＹ方向放物面ミラー５で補正される。した
がって、光源１より一定方向へ照射された光は、Ｘ方向
ポリゴンミラ−２で反射して、このＸ方向ポリゴンミラ
ー２の回転に伴いＸ方向に角度変化する光となり、ざら
にＹ方向ホリゴンミラ−３で反射して、このＹ方向ポリ
ゴンミラー３の回転に伴いＹ方向にも角度変化する光と
なるが、両数物面ミラー４．５を通過することにより角
度補正されて常に平行な光どなり、前記被測定？ｉ１０
の表面には常に一定の方向Ｊ、り照射されることとなる
。
以上のような構成では、Ｘ方向およびＹ方向ホリゴンミ
ラ−２，３の回転により被測定物１０へ照射される光軸
位置をＸ、Ｙ方向へ高速移動、して高速走査することが
できる。しかもＸ方向およびＹ方向放物面ミラー４．５
により被測定物１０に照射される光が平行光となるので
、平面パターンの像にゆがみを生じることなく高精度な
形状測定を行なうことができる。
ラ−２，３の回転により被測定物１０へ照射される光軸
位置をＸ、Ｙ方向へ高速移動、して高速走査することが
できる。しかもＸ方向およびＹ方向放物面ミラー４．５
により被測定物１０に照射される光が平行光となるので
、平面パターンの像にゆがみを生じることなく高精度な
形状測定を行なうことができる。
［発明の効果」
以上、本発明によれば、光走査により高速走査ができる
とともに、高精度な形状測定が可能な平面形状測定′ｉ
Ａ置を提供することができる。
とともに、高精度な形状測定が可能な平面形状測定′ｉ
Ａ置を提供することができる。
図面は本発明の一実施例を示すもので、第１図は平面形
状測定装置の概略構成図、第２図は光源、Ｘ方向ホリゴ
ンミラー、Ｙ方向ホリゴンミラーおよびＸ方向放物面ミ
ラーの関係を示ず平面図、第３図はＸ方向放物面ミラー
、平面ミラーおよびＹ方向放物面ミラーの関係を示す平
面図である。 １・・・光源、２・・・Ｘ方向ホリゴンミラー、３・・
・Ｙ方向ホリゴンミラー、４・・・Ｘ方向放物面ミラー
、５・・・Ｙ方向放物面ミラー、１０・・・被測定物。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 図面の浄書（内容に変更なし） 第１図 第２図 第３図
状測定装置の概略構成図、第２図は光源、Ｘ方向ホリゴ
ンミラー、Ｙ方向ホリゴンミラーおよびＸ方向放物面ミ
ラーの関係を示ず平面図、第３図はＸ方向放物面ミラー
、平面ミラーおよびＹ方向放物面ミラーの関係を示す平
面図である。 １・・・光源、２・・・Ｘ方向ホリゴンミラー、３・・
・Ｙ方向ホリゴンミラー、４・・・Ｘ方向放物面ミラー
、５・・・Ｙ方向放物面ミラー、１０・・・被測定物。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 図面の浄書（内容に変更なし） 第１図 第２図 第３図
Claims (1)
- 光源から被測定物に至る光軸上にＸ方向ポリゴンミラー
およびＹ方向ポリゴンミラーを配置し、これら各ポリゴ
ンミラーの回転により被測定物の表面をＸ、Ｙ方向に光
走査して被測定物の形状測定を行なう平面形状測定装置
において、上記Ｘ方向およびＹ方向ポリゴンミラーと被
測定物との間の光軸上に、Ｘ方向およびＹ方向の角度変
化を伴う光を入射してＹ方向に対する直交面上の投影か
常に平行となる反射光を得るＸ方向放物面ミラーと、Ｙ
方向の角度変化を伴う光を入射して常に平行な反射光を
得るＹ方向放物面ミラーとを順次配置したことを特徴と
する平面形状測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12470684A JPS613006A (ja) | 1984-06-18 | 1984-06-18 | 平面形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12470684A JPS613006A (ja) | 1984-06-18 | 1984-06-18 | 平面形状測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS613006A true JPS613006A (ja) | 1986-01-09 |
Family
ID=14892081
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12470684A Pending JPS613006A (ja) | 1984-06-18 | 1984-06-18 | 平面形状測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS613006A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS643317A (en) * | 1987-06-23 | 1989-01-09 | Nippon Seiko Kk | Bearing device |
| US7258355B2 (en) | 2004-02-13 | 2007-08-21 | Honda Motor Co., Ltd. | Vehicular rear suspension system |
| JP2009244119A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Dkk Toa Corp | 反射率検出装置 |
| JP2013190442A (ja) * | 2013-06-20 | 2013-09-26 | Dkk Toa Corp | 回転多面鏡及びこれを用いた油膜検出装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5126050A (ja) * | 1974-08-27 | 1976-03-03 | Olympus Optical Co | |
| JPS51114944A (en) * | 1975-04-02 | 1976-10-09 | Oki Electric Ind Co Ltd | 2 dimensional optical polarizer |
| JPS5863915A (ja) * | 1981-10-12 | 1983-04-16 | Fujitsu Ltd | 光走査装置 |
-
1984
- 1984-06-18 JP JP12470684A patent/JPS613006A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5126050A (ja) * | 1974-08-27 | 1976-03-03 | Olympus Optical Co | |
| JPS51114944A (en) * | 1975-04-02 | 1976-10-09 | Oki Electric Ind Co Ltd | 2 dimensional optical polarizer |
| JPS5863915A (ja) * | 1981-10-12 | 1983-04-16 | Fujitsu Ltd | 光走査装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS643317A (en) * | 1987-06-23 | 1989-01-09 | Nippon Seiko Kk | Bearing device |
| US7258355B2 (en) | 2004-02-13 | 2007-08-21 | Honda Motor Co., Ltd. | Vehicular rear suspension system |
| JP2009244119A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Dkk Toa Corp | 反射率検出装置 |
| JP2013190442A (ja) * | 2013-06-20 | 2013-09-26 | Dkk Toa Corp | 回転多面鏡及びこれを用いた油膜検出装置 |
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