JPH02218110A - 光学結像装置及び方法 - Google Patents

光学結像装置及び方法

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Publication number
JPH02218110A
JPH02218110A JP1039621A JP3962189A JPH02218110A JP H02218110 A JPH02218110 A JP H02218110A JP 1039621 A JP1039621 A JP 1039621A JP 3962189 A JP3962189 A JP 3962189A JP H02218110 A JPH02218110 A JP H02218110A
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JP
Japan
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lens
pattern
image
focal point
source
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Application number
JP1039621A
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English (en)
Inventor
Minoru Takubo
田久保 稔
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NSK Ltd
Original Assignee
NSK Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、例えば光源からの照射光によってパターン
源の投影パターンを被露光部材に露光する縮小投影露光
装置等の光学結像装置及び方法の改良に関する。
〔従来の技術〕
従来の異形のパターンを被露光部材に描画するパターン
描画方法としては、可変アパーチャを備えたパターンジ
ェネレータを使用するのが一般的である。このパターン
ジェネレータは、通常可変アパーチャを構成する2組の
対向ブレードを使用して細長い矩形パターンを形成し、
これを光学レンズ系を介して順次被露光部材上に連続的
に照射することにより、近似円、近似三角形、方形等の
任意の露光パターンを形成することができる。
このパターンジェネレータを使用する場合には、矩形パ
ターンの集合によって所定の露光パターンを形成するの
で、被露光部材に一回の露光で任意のパターンを露光す
ることができず、矩形パターンの寸法を指令すると共に
、被露光部材を2次元的に移動させて、任意パターンを
形成する必要があり、描画時間が掛かるという課題があ
った。
この課題を解決するために、本出願人は、先に特願昭6
3−246296号に開示したように、光源からの照射
光をパターン源に照射し、その投影像を光学レンズ系を
介して被露光部材結像させると共に、パターン源及び被
露光部材の少なくとも一方を光軸方向に移動させるか、
又は前記パターン源及び光学レンズ系間に倍率補正レン
ズを介挿し、前記パターン源及び倍率補正レンズの少な
くとも一方を光軸方向に移動させた後、倍率補正レンズ
の結像位置が所定位置となるようにパターン源及び倍率
補正レンズを移動状態を保持しながら移動させることに
より、投影パターンの被露光部材上での倍率を無段階に
変化させるパターン描画方法及び装置を提案した。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上記従来のパターン描画方法及び装置に
あっては、パターン源に形成した投影パターンと被露光
部材上の投影パターンとの倍率を任意に変更することが
できるが、この倍率を変更するために、パターン源、被
露光部材、倍率補正レンズの何れかを光軸方向に移動さ
せなければならず、それぞれの移動に応じて被露光部材
側の投影パターンの結像位置がずれるので、これを補正
する必要があり、倍率変更を行うための調整が複雑とな
ると共に、被露光部材上での投影パターンの解像度が低
下するという未解決の課題があった。
そこで、この発明は、上記従来例の未解決の課題に着目
してなされたものであり、パターン源及びそのパターン
が投影される被照射部材の位置を固定した状態で、光学
レンズ系の特定のレンズを可変焦点とすることにより、
倍率を解像度が低下することなく無段階に変更可能な光
学結像装置及び方法を提供することを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために、請求項(1)に係る光学結
像装置は、光源からの照射光を投影パターンを有するパ
ターン源を介挿した光学系を介して被照射部材に照射し
て前記投影パターンを被照射部材に結像させる光学結像
装置において、前記光学系は、物空間焦点を光源像位置
とし、像空間焦点を前記パターン源位置とする第1のレ
ンズと、焦点を基準焦点に対して変位可能で且つ物空間
焦点を前記パターン源位置とする第2のレンズと、該第
2のレンズを透過したパターン像を入射させ、像空間焦
点に結像する第3のレンズと、該第3のレンズのパター
ン像を被照射部材に結像する投影レンズとを備えている
ことを特徴としている。
また、請求項(2)に係る光学結像装置は、請求項(1
)に係る光学結像装置において、前記第2のレンズの焦
点が基準焦点にある状態で、当該第2のレンズの像空間
焦点の光源像が縮小レンズの入射瞳位置に結像するよう
に第3のレンズの像空間焦点と投影レンズの入射瞳位置
との間隔が選定されていることを特徴とする。
さらに、請求項(3)に係る光学結像装置は、請求項(
1)又は(2)に係る光学結像装置において、前記第2
のレンズと第3のレンズとの間にパターン像を分岐する
光分岐手段を介挿し、該光分岐手段で分岐したパターン
像を像検出装置に入射するようにしたことを特徴として
いる。
またさらに、請求項(4)に係る光学結像方法は、光源
からの照射光を投影パターンを有するパターン源を介挿
した光学系を介して被照射部材に照射して前記投影パタ
ーンを被照射部材に結像させる光学結像方法において、
光源からの照射光を第1のレンズを介して、その像空間
焦点に配設したパターン源に照射し、その透過光を焦点
位置を基準位置に対して変位可能な可変焦点とし且つ物
空間焦点を前記パターン源位置とした第2のレンズに入
射させて、その像空間焦点に光源像を結像させ、この光
源像を第3のレンズに入射して、その像空間焦点に前記
パターン源の投影パターン像を結像させ、この投影パタ
ーン像を投影レンズを介して被照射部材に結像させるよ
うにしたことを特徴としている。
〔作用] 請求項(1)及び(4)の光学結像装置及び方法におい
ては、第1のレンズの像空間焦点と、可変焦点とした第
2のレンズの物空間焦点とを光軸上で一致させ、この位
置に投影パターンを有するパターン源を配置しているの
で、第2のレンズの焦点を変化させることにより、第3
のレンズに入射するパターン像の倍率を変化させること
ができ、倍率を変更する際に、パターン源及び被照射部
材を移動させる必要がなく、その調整を容易に且つ高精
度で行うことができる。
また、請求項(2)の光学結像装置においては、光源像
を投影レンズの入射瞳位置に結像させるので、光源から
の照射光を全て縮小レンズに取り入れることができ、解
像度が高く且つムラの少ないパターン像を被照射部材に
投影することができる。
さらに、請求項(3)の光学結像装置においては、第2
のレンズ及び第3のレンズ間に介挿した光分岐手段によ
って、パターン像を分岐して像検出手段で検出すること
ができるので、パターン像の不良判定及びパターン像の
形状の判定を行うことができる。
〔実施例] 以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図はこの発明を縮小投影露光装置に適用した場合の
第1実施例を示す概略構成図である。
図中、1はシャドウマスク用原版等の被露光部材2を保
持してXYZ方向に移動可能なXYZステージであって
、このXYZステージ1の上方にアパーチャ3を含む光
学レンズ系4が固定配置され、この光学レンズ系4の上
方位置にキセノンランプ5a及びフライアイレンズ5b
を有する光源5が配設され、光源5からの露光光線が光
学レンズ系4を介してxYZステージ1上の被露光部材
2に照射され、光学レンズ系4に含まれるアパーチャ3
に形成された投影パターンを被露光部材2上に縮小投影
露光する。
XYZステージlは、上面に右下がりに傾斜した傾斜案
内面1aを形成した基台1bと、下面に基台1bの傾斜
案内面1aに係合する傾斜面1cを上面に水平面1dを
形成し、駆動モータ、ボールねじ等で構成される直線駆
動機構1eによって左右方向に移動されるZ方向テーブ
ル1fと、この2方向テーブルIf上にボール等の転動
体1gを介して左右方向に摺動自在に配設されたX方向
テーブル1hと、このX方向テーブル1g上に前後方向
に摺動自在に配設されたY方向移動テーブル11とを備
えており、直線駆動機構16を作動させて、Z方向テー
ブル1fを傾斜面1aに沿って左右方向に摺動させるこ
とにより、Y方向移動テーブル11上に載置された被露
光部材2が光軸6方向に移動される。
光学レンズ系4は、物空間焦点F、を光源5のフライア
イレンズ5bの出射端に一致させた凸レンズで構成され
る第1のレンズL1と、この第1のレンズL1の像空間
焦点F、′に固定配設されたアパーチャ3と、このアパ
ーチャ3位置に物空間焦点F2を一致させた焦点を基準
焦点を中心として変化可能な可変焦点の第2のレンズL
2と、この第2のレンズL2の像空間焦点71’2/に
対して所定距離Sだけ離間した位置に物空間焦点F3を
一致させた第3のレンズL、と、この第3のレンズL、
の像空間焦点F、/に対して所定距離lだけ離間した位
置に入射瞳が配置されるように固定配設された投影レン
ズとしての縮小レンズRLとを備え、これらが光軸6上
に直列に配設されている共に、第2のレンズL2の像空
間焦点Ft及び第3のレンズL、の物空間焦点F1間に
介挿された短波長領域光線を透過させ、長波長領域の赤
外光を反射するバイパスフィルタHFが配設されている
アパーチャ3は、第2図に示すように、同一円上に投影
パターンを形成する同一径の円に内接する多角形、円形
、楕円形等の異なる形状の透孔3aを形成した円板3b
と、この円板3bを回転駆動する駆動モータ3cとを備
えており、透孔3aの内周面がナイフェツジに形成され
ていると共に、円板3bの透孔3aを結ぶ円が光軸6と
一致するように配設されている。
第2のレンズL2は、第3図に示すように、光軸6の方
向に移動自在に配設された単一レンズ又は複合レンズの
組み合わせからなる2群のレンズLa、Lbによって構
成され、両レンズLa、LbがレンズLaの像空間焦点
F %内にレンズLbO物空間焦点Fbが配置される関
係をもって近接配置されている。ここで、2群のレンズ
La。
Lbによって可変焦点レンズを構成することができる理
由は、両レンズLa、Lbの焦点距離をそれぞれf、、
fbとし、両しンズLa、Lb間の距離を41両レンズ
La、Lbの焦点のオーバーラツプ長をΔとしたとき、
オーバーラツプ長Δは、下記(1)式で表すことができ
、レンズLa及びLbの合成焦点距離f2は下記(2)
式で表すことができる。
Δ=f、 +fb −d    ・・・・・・・・・・
・・(1)fz=f−・rb/Δ  ・・・・・団・・
・・(2)そして、オーバーラツプ長Δの微小変化が合
成書店路Mrzに及ぼす影響は、上記(2)式をオーバ
ーラツプ長Δについて微分した下記(3)式を変形した
下記(4)式で示すように、オーバーラツプ長Δを微小
変化させることにより、合成焦点距離ftが逆比例関係
で微小変化することになり、両レンズ1、a、Lb間の
距離dを基準距離から変化させることにより、焦点距離
f2を変化させて、光学レンズ系4の倍率を変更するこ
とができる。
この焦点距離f2を変化させるために、各レンズLa、
Lbに直線駆動機構8a、8bが配設されている。これ
ら直線駆動機構8a、8bのそれぞれは、駆動モータ9
によって回転駆動されて光軸方向に延長するねじ軸10
と、このねじ軸10に螺合するポールナツト11とで構
成され、ポールナツト11が各レンズ8a、8bを保持
する保持枠12に固定されている。
そして、アパーチャ3の駆動モータ3c及び第2のレン
ズLxにおける直線駆動機構8a、8bの駆動モータ9
がパターン制御装置15によって駆動制御される。
このパターン制御装置15は、入出力インタフェース回
路16a、演算処理装置16b及び記憶装置16cを少
なくとも有するマイクロコンピュータ16と、その入出
力インタフェース回路16aの出力側及び駆動モータ3
c及び9間に介挿されたモータ駆動回路17a、17b
及び17cと、マイクロコンピュータ16に対してパタ
ーン形状及び倍率を入力するパターン選定入力装置1B
とを備えている。
マイクロコンピュータ16の演算処理装置16bは、パ
ターン選定入力装置18からパターン形状設定データが
入力されると、これに基づいて予め記憶装置16cに格
納されている記憶テーブルを参照して、アパーチャ3に
おける円板3b上の該当する形状の透孔3a位置を算出
し、これと現在位置とを比較してその差に応じたモータ
駆動指令をモータ駆動回路17aに出力して、アパチャ
3の円板3bを駆動して目的とする形状の透孔3aを光
軸6位置に移動させると共に、パターン選定入力装置1
8から倍率設定データが入力されると、これに基づいて
予め記憶装置16cに格納された記憶テーブルを参照し
て、倍率に対応する第2のレンズLtを構成する単レン
ズLa、Lbの移動量を算出し、これらと単レンズLa
、Lbの現在位置との差に応じた移動指令をモータ駆動
回路17b、17cに出力して、直線駆動機構8a。
8bを駆動することにより、倍率を設定する。
また、縮小レンズRLを保持する固定筒体21の被露光
部材2に対向する下端部には、露光光線を透過する透孔
22と、その周囲に等角間隔で形成された4つの空気吹
き出しノズル23とが設けられている。各ノズル23は
、共通の空気供給源24に絞り25を介して接続されて
いると共に、共通の差圧変換器26の一方の入力側に接
続されている。差圧変換器26の他方の入力側は、絞り
27を介して前記空気供給源24に接続されていると共
に、大気に連通されている。これらノズル23、空気供
給源24.絞り25.27及び差圧変換器26で空気マ
イクロメータ28が構成されている。
そして、差圧変換器26の検出信号がステージ制御装置
30に供給され、この制御装置30で目標値設定器30
aで予め設定した所定の目標値と比較してその差値であ
る偏差信号が増幅器等で構成される駆動回路30bに供
給され、これにより、モータ等のアクチュエータを作動
させる駆動出力を形成し、これをXYZステージlの直
線駆動機構1eに供給してこれを駆動し、ノズル23と
被露光部材2との間の間隔を適正値に調節する。
また、XYZステージ1のXY力方向移動は、被露光部
材2に形成された原点マーク(図示せず)を光学的に読
取り、これに基づいて制御原点を設定してから、パター
ンの露光間隔に応じてXY力方向絶対距離を検出する例
えばレーザ測長機等の検出器32からの測定値フィード
バック信号に基づいて順次ステップアンドリピート動作
される。
さらに、第3のレンズL、と、縮小レンズRLとの位置
関係は、第3のレンズL3の像空間焦点F3′と縮小レ
ンズRLの入射瞳との距離lが入射瞳位置で光源5のフ
ライアイレンズ5bから出射端での光源像が結像するよ
うに選定されている。
また、光学レンズ系4のバイパスフィルタHFに対向し
て、像検出装置35が配設されている。
この像検出装置35は、バイパスフィルタHFで反射さ
れた赤外光がレンズ35aを介して入射される2次元イ
メージセンサ35bを有し、このイメージセンサ35b
の光電変換出力がCRTデイスプレィ等の表示装置35
cに供給することにより、アパーチャ3の透孔3aの位
置ずれ及び第2のレンズL2の焦点ずれ等を検出するこ
とができる。
次に、上記実施例の動作を説明する。今、アパーチャ3
の所望の形状を有する透孔3aが選択されてその中心が
光軸6に一致しており、且つ第2のレンズLtの焦点が
基準焦点に設定されているものとする。この状態で、光
源5のフライアイレンズ5bの出射端から露光光線を出
射すると、その露光光線が第1のレンズによって、その
像空間焦点F1即ちアパーテャ3の透孔3a位置に集光
し、透孔3aを透過した露光光線は、第2のレンズL2
に人!1−11.てその像空間焦点Ft′に光源像を結
像し1次いで第3のレンズL、に入射されてその像空間
焦点F、/にアパーチャ3の透孔3aの形状を所定の倍
率変化させた投影パターン像を結像し、この投影パター
ン像が縮小レンズRLで縮小されてXYZステージlに
載置された被露光部材2の露光される。このように、ア
パーチャ3の透孔3aのパターンが第3のレンズL、の
像空間焦点F、/に結像されることから、この像空間焦
点Fコ′にアパーチャ3を配置したことと等価となり、
第1〜第3のレンズL1〜L、があたかも一枚のコンデ
ンサレンズの役割を果たす。
この状態で、第2のレンズL2を構成するレンズLa、
Lbの焦点をパターン制御装置15によって変更するこ
とにより、第3のレンズL、の像空間焦点F3/に結像
する投影パターンの倍率を変更することができる。
この第2のレンズLtの焦点を可変することにより投影
パターンの倍率を変更できる原理を、第5図について説
明する。
各レンズL、(i=1.2.3)の焦点距離をfief
!′とし、第2のレンズL2の像空間焦点F、/ と第
3のレンズL、の物空間焦点F、との距離をSとし、ア
パーチャ3の透孔3aで形成されるパターンの長さをA
、第3のレンズL、の像空間焦点F、′に結像されるパ
ターン像の長さをB、第3のレンズL、の光心を通る面
内の仮想像の長さをC1第3のレンズL、の物空間焦点
F。
における仮想像の長さをDとすると、 rz   :  (s+rz ) =A: c    
−−(s)S:D=f、   :A         
・−・・・(6)C−D=B            
 ・・・・・・(7)の関係が成り立つので、上記(5
)式及び(6)式を変形すると、 A (S+f3 )=Cfz        ・・・・
・・(8)As−D f、           ’ 
  ・・・・・・(9)となり、上記(8)式の左辺及
び右辺から(9)式の左辺及び右辺を減算すると、 (CD) f z’ =A(S + f 3)  A 
S  ・・・・・・(10)となり、この00式に(7
)式を代入して整理すると、Bf%=Af3     
      ・・・・・・01)となる。
一方、アパーチャ3のパターンとレンズL、の像空間焦
点F、′に結像したパターンとの倍率mは、m = B
 / Aで表されるので、これに00式を代入すると、 となる。
したがって、第2のレンズL2の焦点距Mr2の微小変
化に対する倍率mの微小変化は、上記0b式を焦点距離
f2について微分して、 dfz    rz” を得、これを変形すると、 「 − となり、この041式において、第3のレンズL、の焦
点距離r、は一定値、第2のレンズL2の焦点距離[2
は基準焦点距離とすることができるから、右辺の(f 
3/ f t”)は一定値となり、倍率mの微小変化i
1dmとレンズL2の焦点距離f2の微小変化量dft
とは逆比例関係となり、焦点距離f2を基準焦点距離に
対して変化させることにより、倍率mを変化させること
ができる。
したがって、前記04)式に(2)式及び(4)式を代
入して倍率mと焦点距離f2との関係を求めると、f、
・ 【。
となり、この00式の右辺における第3のレンズL。
の焦点距離f、及び第2のレンズL2を構成するレンズ
La、Lbの焦点距離r、、rbは一定値であるので、
レンズLa、Lb間の距離dを測定することにより、前
記(1)式に基づいてオーバーラツプ長Δを算出でき、
このオーバーラツプ長Δを基準長さから変化させること
により、倍率mを変化させることができる。
このため、パターン制御装置15の記憶装置16cに予
めレンズ開路#Bdを変化させたときの倍率変化量を測
定しておき、これを記憶テーブルとして記憶しておくこ
とにより、演算処理装置16bで倍率設定データが入力
されたときに、その倍率に対応するレンズLa、Lbの
移動量を算出することができ、これに基づいて直線移動
機構8a。
8bを駆動して倍率調整を行うことができると共に、前
記(2)式によって合成焦点距離r2を演算し、これに
基づいて第2のレンズL2の物空間焦点F3をアパーチ
ャ3の透孔3a位置に一致させることができる。
また、光学レンズ系4にアパーチャ3を介挿しない状態
即ち光源5のフライアイレンズ5bから出射される露光
光線が第1のレンズL、から第2のレンズL2に直接入
射される場合を考えると、第6図に示すように、フライ
アイレンズ5bの中心を通る最外周のレンズ部5C及び
5dから出射される露光光線は、それぞれ第1のレンズ
L+ の主平面上に直径りの範囲で拡散して到達し、こ
の拡散光が第1のレンズL1によってその主光線が像空
間焦点F1′を通る平行光として屈折され、この平行光
が第2のレンズLtによってその像空間焦点F2位置で
一旦集光して結像してから第3のレンズL、の主平面に
直径り、の範囲で到達し、この第3のレンズL、でその
主光線が像空間焦点F、′を通る収斂光として屈折され
、像空間焦点F、′から距離lだけ離れた物点03’位
置で結像する。したがって、この物点Q、/に縮小レン
ズRLの入射瞳が配設されているので、光源5から出射
される露光光線の全てが縮小レンズRLの入射瞳に入射
されることになり、ムラのない良好な照明を行うことが
でき、アパーチャ3を配置した場合の投影パターンの解
像度を向上させることができる。
ここで、第3のレンズL3の像空間焦点F。
とその物点Q、/ との距離2は、以下述べるように算
出することができる。
今、第6図に示すように、光源5のフライアイレンズ5
bの最外周のレンズ部5bA及び5b。
から出射された露光光線BA及びB、が第3のレンズL
、で屈折された露光光線について考えると、これら露光
光線の主光線B NA+  B mlは第3のレンズL
3の像空間焦点F、′を通って縮小レンズRLに入射し
、外側光線B。An  Bogは第3のレンズし、の主
平面の主平面と物空間焦点F、を含む光軸6と垂直な面
との接点から光軸6と平行に引いた平行線との交点P+
から第3のレンズL、の像空間焦点F、′を通る直線と
平行な直線となり、同様に内側光線B IA+  B 
Illも第3のレンズL、の主平面と物空間焦点F、を
含む光軸6と垂直な面との接点から光軸6と平行に引い
た平行線との交点Ptから第3のレンズL、の像空間焦
点F。
を通る直線と平行な直線となる。
したがって、第3のレンズL3の主平面における外側光
線B。An  Boaと内側光線B IA+  B 1
1との長さをり、とし、第3のレンズL、の主平面にお
ける交点P、と外側光線B。A、  Ba1lの交点と
の長さをha、交点P2と内側光線B IA+  B 
11の交点との長さをhb(=ha)と、第3のレンズ
L3から出射される屈折された外側光線B。An  8
01と主平面とのなす角をα、内側光線BIA、  B
INと主平面とのなす角をβ、主光線B MA+  B
 Mlと主平面とのなす角をγとすると、光軸6をX軸
、第3のレンズL、の像空間焦点)il、/を通る光軸
6と直交する軸をY軸としたとき、例えば光源5のレン
ズ部5bAから出射された光線の主光線BMA、外側光
線BOA及び内側光線BIAの方程式は、それぞれ下記
00〜G8)式で表すことができる。
これら直線の交点即ち光源5がら出射された露光光線の
結像位置におけるX座標即ち距離2は、X座標は等しい
ので、上記0ω式をθ″r)式及び08)式に代入する
ことにより、下記09)式で表すことができる。
tanα−tanγ また、長さhaは、 h a = (h+   hz ) / 2  ””1
2Gで表され、 h、及びh2はそれぞれ り、= (S+f3 )h/fz  ・・−・−・<2
1>h z = S h / f z       ”
’ ・・” (22)で表されるので、(21)式及び
(22)式をQIID式に代入して整理すると、長さh
aは、 h a = f z  h/ 2 f z      
・・・”・(23)で表すことができる。
したがって、第1のレンズL1に入射する露光光線の長
さh、第2のレンズL2の基準焦点距離f2及び第3の
レンズL、の焦点距離f3を定めることにより、第3の
レンズL3の像空間焦点F3′と物点0.′との距離l
を算出することができ、パターン像の倍率mを変更する
場合の第2のレンズL2の焦点距離f2を変化させたと
きの距@1.の変化を小さくするためには、第2のレン
ズL2の基準焦点距離を長くして変化量小さくすること
が好ましい。
なお、第6図の例では、 f s’ + 1 =(H++ h t/2)tanc
r= HItan 7 = (H+  h +/2) tanβ ・・・・・・
(24)となる。
以上の光学レンズ系4の冨周整の際に、アパーチャ3の
投影パターンを形成する透孔3aを透過した光線の内バ
イパスフィルタHFによって選択反射された長波長の赤
外光がレンズ35aを介してイメージセンサ35bに入
射されるので、このイメージセンサ35bからパターン
像に対応した光電変換出力が得られ、この光電変換出力
をCRTデイスプレィ35cに供給することにより、パ
ターン像を表示することができ、アパーチャ3のパター
ンずれ、第2のレンズの調整ずれによるパターンぼけ等
を検出することができ、これに基づいてアパーチャ3又
は第2のレンズの位置調整を行うことにより、高精度の
位置調整を行うことができる。しかも、バイパスフィル
タHFによって長波長領域の赤外光を反射して像検出装
置35に入射させるようにしているので、イメージセン
サ35bの感度低下を補償することができる。
以上のようにして、光学系4の調整を完了した後、縮小
レンズRLと被露光部材2との焦点調整を行う。この焦
点調整は、XYZステージ1を光軸方向に移動させるこ
とにより行い、目標値すから縮小レンズ3の光心と固定
筒体8の下端面との間の距#kが一定であることから、
先ず目標値すから距離kを減算した値を目標値として目
標値設定器30aに設定し、この状態で空気供給源25
から圧力空気を絞り26を介してノズル24に供給して
空気マイクロメータ29を作動状態とし、この状態で制
御装置30を作動状態とする。
このように焦点調整制御装置30が作動状態となると、
目標値設定器30aで予め設定された目標値と、差圧変
換器27から出力される差圧検出信号との差値でなる偏
差信号が駆動回路30bに供給され、この駆動回路30
bから直線駆動機構31にXYZステージ1をZ軸方向
に移動させる駆動信号が出力され、XYZステージ1が
偏差信号が零となるようにZ軸方向に上下動されて位置
調整が行われる。
そして、焦点調整が終了すると、XYZステージ1をX
Y力方向適宜移動させて、被露光部材2を所定のパター
ン露光位置にセットし、次いで所定パターンを露光して
から、再度XYZステージlをXY力方向移動させて、
被露光部材2を新たなパターン露光位置に移動させ、再
度露光を行うステップアンドリピートを繰り返し、全て
の露光位置での露光を終了すると、XYZステージ1か
ら被露光部材2を取り出して、新たな被露光部材2をX
Yzステージ1に載置して同様の処理を実行する。
そして、被露光部材2に露光する投影パターンを変更す
る場合には、パターン制御装置15のパターン入力設定
装置18に所望のパターン形状のデータを入力すること
により、駆動モータ19が回転駆動されて該当する形状
のアパーチャ3の透孔3aが選択されてその中心が光軸
6と一敗するようにセットされる。
また、被露光部材2に露光する投影パターンの倍率mを
変更する場合には、パターン制御装置15のパターン人
力設定装置18に所望の倍率データを入力することによ
り、直線移動機構8a、8bの駆動モータ9が駆動され
て第2のレンズL2を構成する2枚のレンズLa、Lb
間の距XI dを変更すると共に、両レンズLa、Lb
の位置を変更された焦点距離f2に対応するレンズ位置
に調整する。
このように、上記実施例によると、可変焦点に構成され
た第2のレンズLzの焦点距離f、を基準焦点距離から
変化させることにより、アパーチャ3の投影パターン像
と第3のレンズL、の像空間焦点F3′に結像する投影
パターン像との倍率mを無段階に変更することができ、
このとき第3のレンズL、の像空間焦点F、/は固定で
あるので、縮小レンズRL及び被露光部材2の光軸方向
の位置調整を行う必要がないと共に、第2のレンズLx
を基準焦点距離に設定した状態で、第3のレンズL、に
よって結像される光源像が縮小レンズRLの入射瞳位置
となるように、第3のレンズL3の像空間焦点F、 と
縮小レンズRLの入射瞳との距離lが設定されているの
で、第2のレンズL3が基準焦点距離に設定されている
状態で光源5から出射される露光光線の全てが縮小レン
ズRLに入射されることになり、パターン像の照明を効
果的に行うことが可能となり、被露光部材2に露光、す
る投影パターンの露光ムラを防止して高解像度を得るこ
とができる。
なお、上記実施例においては、第2のレンズL2を光軸
方向移動制御される2枚の凸レンズLa。
Lbで構成した場合について説明したが、これに限定さ
れるものではなく、3枚以上の単レンズ又は複合レンズ
を組み合わせるようにしてもよいことは勿論である。
また、上記実施例においては、パターン源として、複数
のパターン形状を有する透孔3aを穿設したアパーチャ
3を適用した場合について説明したが、これに限定され
るものではなく、パターンジェネレータの可変アパーチ
ャを適用することもでき、この場合には可変アパーチャ
によってもパターンサイズの変更が可能となるので、よ
り広範囲に亘るパターンサイズの変更が可能となる利点
があり、また被露光部材2に対する投影パターンの形状
が一定であるときには投影パターンとなる所定形状の透
孔を有する固定板を採用することもでき、その他任意の
パターン源を適用し得る。
さらに、上記各実施例においては、この発明を縮小投影
露光装置に適用した場合について説明したが、これに限
定されるものではなく、パターンジェネレータ等のパタ
ーン源のパターンを光学レンズを介して被露光部材に描
画するパターン描画装置、その他の光学結像装置にも適
用することができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、請求項(1)に係る光学結像装置
及び請求項(4)に係る光学結像方法によれば、第1〜
第3のレンズで構成される光学レンズ系の第1のレンズ
の像空間焦点及び第2のレンズの物空間焦点を一致させ
、その位置に投影パターンを形成するパターン源を配置
し、このパターン源の投影パターンを第3のレンズの像
空間焦点に投影パターン像を結像させ、このパターン像
を投影レンズを介して被照射部材に投影するようにした
ので、そのパターン像の大きさを第2のレンズの焦点距
離を可変することによって無段階に変更することができ
、このとき第3のレンズの結像位置となる像空間焦点が
移動することがないので、被照射部材のセット位置を変
更する必要がなく、投影パターンの大きさを高精度で容
易に変更することができる効果が得られる。
また、請求項(2)に係る光学結像装置によれば、光学
レンズ系の第3のレンズの像空間焦点と投影レンズとの
距離を、第2のレンズが基準焦点距離に設定されている
状態で、第3のレンズによる光源像の結像位置に投影レ
ンズの入射瞳位置となるように設定したので、光源から
出射される照射光の全てを投影レンズの入射瞳に入射す
ることができ、高解像度でムラのないパターン像を被照
射部材に投影することができる。
さらに、請求項(3)の光学結像装置によれば、光学レ
ンズ系の第2のレンズ及び第3のレンズ間に光分岐手段
を設け、この光分岐手段で分岐された照射光を像検出手
段に供給するようにしたので、この像検出手段で、第1
のレンズ及び第2のレンズ間に介挿したパターン源の位
置ずれ、第2のレンズの焦点不整合等を検出することが
でき、これに基づいて位置調整を行うことにより、光学
レンズ系による誤差を極力減少させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す概略構成図、第2図
はアパーチャを示す平面図、第3図は光学レンズ系の具
体的構成を示す系統図、第4図〜第6図はこの発明の詳
細な説明に供する光学系の模式図である。 図中、lはXYZステージ、1eは直線駆動機構、1f
はZ方向テーブル、2は被露光部材、3はアパーチャ(
パターン源)、4は光学レンズ系、5は光源、6は光軸
、Llは第1のレンズ、L2は第2のレンズ、L、は第
3のレンズ、RLは縮小レンズ(投影レンズ)、La、
Lbは第2のレンズを構成する単レンズ、8a、8bは
直線移動機構、15はパターン制御装置、30はステー
ジ制御装置、35は像検出装置である。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光源からの照射光を投影パターンを有するパター
    ン源を介挿した光学系を介して被照射部材に照射して前
    記投影パターンを被照射部材に結像させる光学結像装置
    において、前記光学系は、物空間焦点を光源像位置とし
    、像空間焦点を前記パターン源位置とする第1のレンズ
    と、焦点を基準焦点に対して変位可能で且つ物空間焦点
    を前記パターン源位置とする第2のレンズと、該第2の
    レンズを透過したパターン像を入射させ、像空間焦点に
    結像する第3のレンズと、該第3のレンズのパターン像
    を被照射部材に結像する投影レンズとを備えていること
    を特徴とする光学結像装置。
  2. (2)前記第2のレンズの焦点が基準焦点にある状態で
    、当該第2のレンズの像空間焦点の光源像が縮小レンズ
    の入射瞳位置に結像するように第3のレンズの像空間焦
    点と投影レンズの入射瞳位置との間隔が選定されている
    請求項(1)記載の光学結像装置。
  3. (3)前記第2のレンズと第3のレンズとの間にパター
    ン像を分岐する光分岐手段を介挿し、該光分岐手段で分
    岐したパターン像を像検出装置に入射するようにした請
    求項(1)又は(2)記載の光学結像装置。
  4. (4)光源からの照射光を投影パターンを有するパター
    ン源を介挿した光学系を介して被照射部材に照射して前
    記投影パターンを被照射部材に結像させる光学結像方法
    において、光源からの照射光を第1のレンズを介して、
    その像空間焦点に配設したパターン源に照射し、その透
    過光を焦点位置を基準位置に対して変位可能な可変焦点
    とし且つ物空間焦点を前記パターン源位置とした第2の
    レンズに入射させて、その像空間焦点に光源像を結像さ
    せ、この光源像を第3のレンズに入射して、その像空間
    焦点に前記パターン源の投影パターン像を結像させ、こ
    の投影パターン像を投影レンズを介して被照射部材に結
    像させるようにしたことを特徴とする光学結像方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5812310A (en) * 1996-10-16 1998-09-22 Applied Precision, Inc. Orthogonal high accuracy microscope stage
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KR100877863B1 (ko) * 2001-07-24 2009-01-13 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 화상 표시 장치

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